CN114038365B - 显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质。该检测方法，依次包括画面驱动模式和关断驱动模式；关断驱动模式包括：停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号；向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；第一控制信号用于控制像素驱动电路将第一驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路处于导通状态；第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿。本申请实施例在检测的关断驱动模式中分别延长像素驱动电路和像素电路处于导通状态的时间，以利于显示面板内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

Description

显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体而言，本申请涉及一种显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

氧化物材料由于其高电子迁移率大、低漏电流等特性，适合制作高端TFT(ThinFilm Transistor，薄膜晶体管)-LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示)产品，对于小尺寸窄边框产品中具有优势。

但由于氧化物材料的工艺要求严格且固有的TFT特性，在开发小尺寸产品，特别是开发小尺寸产品的过程中，检测时容易发生在检测画面下的可见类似群辉点的不良现象，从而影响产品的画面品质及降低产品的良率。

在这检查画面的电信号波形下，虽会检出群辉点不良，但是这些屏在其他正常画面下显示都是正常的，且经过RA(Reliability,可靠性)测试结果也是正常的。故，现有针对采用氧化物材料的LCD产品的检测方法容易造成检测结果的过判，导致产品良率的牺牲。

发明内容

本申请针对现有方式的缺点，提出一种显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质，用以解决现有技术中针对采用氧化物材料的LCD产品的检测方法容易造成检测结果的过判的技术问题。

第一个方面，本申请实施例提供了一种显示面板的检测方法，依次包括画面驱动模式和关断驱动模式；关断驱动模式包括：

停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号；

向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；第一控制信号用于控制像素驱动电路将第一驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路处于导通状态；第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿。

在一个实施例中，第一控制信号的下降沿的坡度小于第一驱动信号的下降沿的坡度。

在一个实施例中，关断驱动模式还包括：在第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，向显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制像素驱动电路处于导通状态。

在一个实施例中，第一驱动信号的维持时间不小于第一设定时长，第一设定时长不小于10微秒且不大于500微秒。

在一个实施例中，第一控制信号的维持时间比第一驱动信号的维持时间多第二设定时长，第二设定时长不小于500微秒。

在一个实施例中，第二控制信号的维持时间不小于第三设定时长，所述第三设定时长不小于4个脉冲宽度。

在一个实施例中，第一驱动信号包括：时钟控制信号、下拉维持关闭的信号和下拉维持单元的使能信号中的至少一种。

在一个实施例中，关断驱动模式还包括：向与显示面板电连接的放电器发送接地控制信号，以控制放电器导通且接地。

在一个实施例中，画面驱动模式依次包括：第一驱动模式和第二驱动模式；

第一驱动模式包括：向显示面板中的像素电路发送第一画面使能信号和第一数据信号；向显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；第三控制信号用于控制像素驱动电路将第二驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路根据第一画面使能信号和第一数据信号展示第一画面；

第二驱动模式包括：向显示面板中的像素电路发送第二画面使能信号和第二数据信号；向显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；第三控制信号用于控制像素驱动电路将第二驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路根据第二画面使能信号和第二数据信号展示第二画面；

其中，第一数据信号与第二数据信号的至少部分相位相反。

第二个方面，本申请实施例提供了一种显示面板的检测装置，包括：

画面使能模块，用于在关断驱动模式下，停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号；

像素驱动模块，用于在关断驱动模式下，向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；第一控制信号用于控制像素驱动电路将第一驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路处于导通状态；第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿。

第三个方面，本申请实施例提供了一种检测设备，包括：

处理器，用于与显示面板的像素电路和像素驱动电路分别电连接；

存储器，与处理器电连接，配置用于存储机器可读指令，指令在由处理器执行时，实现如第一个方面提出的显示面板的检测方法。

在一个实施例中，检测设备还包括：与处理器电连接的放电器；

放电器用于在处理器的控制下将显示面板的像素电路和像素驱动电路分别接地。

第四个方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机存储介质用于存储计算机指令，当计算机指令在计算机上运行时，实现如第一个方面提出的显示面板的检测方法。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益技术效果包括：在检测的关断驱动模式中分别延长像素驱动电路和像素电路处于导通状态的时间，以利于显示面板的包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

其中，第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿，可利于在像素电路充分释放残存电荷之前，像素驱动电路能够驱动像素电路保持导通状态，以使得包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷能够充分释放。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本申请实施例提供的一种检测设备与显示面板电连接的结构框架示意图；

图2为本申请实施例提供的另一种检测设备的结构框架示意图；

图3为本申请实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图5为本申请实施例提供的一种检测装置的结构框架示意图；

图6为本申请实施例提供的一种具体的显示面板的检测方法的时序图。

图中：

100-检测设备；110-处理器；120-存储器；130-放电器；140-总线；150-收发器；160-输入单元；170-输出单元；

200-检测装置；210-画面使能模块；220-像素驱动模块；230-接地驱动模块；

300-显示面板；310-像素电路；320-像素驱动电路。

具体实施方式

下面详细描述本申请，本申请的实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。此外，如果已知技术的详细描述对于示出的本申请的特征是不必要的，则将其省略。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。

本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。

本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。

首先对本申请涉及的几个名词进行介绍和解释：

像素电路：用于驱动显示器件工作并展示显示画面的电路。

像素驱动电路：用于驱动像素电路的开闭的电路。

画面使能信号和数据信号：用于驱动显示器件展示显示画面的信号。

控制信号：用于驱动像素驱动电路开闭的信号。

驱动信号：用于驱动像素电路开闭的信号。

接地控制信号：用于驱动放电器开闭的信号。

本申请的发明人进行研究发现，氧化物材料具有高电子迁移率、低漏电流等特性，同时也具有不够稳定的特性，容易导致电荷残留。特别是小尺寸采用氧化物材料的LCD产品，更容易导入静电，而静电残留导致液晶极化，从而在检测过程中会因为该静电残留而表现可见类似群辉点的虚假不良现象，该虚假不良的发生率高，直接影响对常规不良的过度判定，导致产品良率的牺牲。因此在使用原点灯检测画面后将静电减小甚至消除是十分必须的。

本申请提供的显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术的如上技术问题。

下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。

本申请实施例提供了一种显示面板的检测设备100，该检测设备100的结构示意图如图1所示，包括：处理器110和存储器120。

处理器110用于与显示面板300的像素电路310和像素驱动电路320分别电连接；

存储器120与处理器110电连接，配置用于存储机器可读指令，指令在由处理器110执行时，实现如下文记载的任一种显示面板300的检测方法。该检测方法将在下文详细说明，在此不赘述。

在本实施例中，处理器110可以向显示面板300的像素电路310和像素驱动电路320分别发送相关信号，以实现检测状态下的画面驱动模式和关断驱动模式。

其中，在检测的关断驱动模式中分别延长像素驱动电路320和像素电路310处于导通状态的时间，以利于显示面板300的包括像素驱动电路320内和像素电路310内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

并且，第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿，可利于在像素电路310充分释放残存电荷之前，像素驱动电路320能够驱动像素电路310保持导通状态，以使得包括像素驱动电路320内和像素电路310内的残存电荷能够充分释放。

在一些可能的实施方式中，检测设备100还包括：与处理器110电连接的放电器130；放电器130用于在处理器110的控制下将显示面板300的像素电路310和像素驱动电路320分别接地。

本申请在一个可选实施例中提供了一种检测设备100，如图2所示，检测设备100包括：处理器110和存储器120。其中，处理器110和存储器120相电连接，如通过总线140相连。

处理器110可以是CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，通用处理器，DSP(Digital Signal Processor，数据信号处理器)，ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路)，FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器110也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。

总线140可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线140可以是PCI(Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准)总线或EISA(ExtendedIndustry Standard Architecture，扩展工业标准结构)总线等。总线140可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图2中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

存储器120可以是ROM(Read-Only Memory，只读存储器)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM(random accessmemory，随机存取存储器)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read OnlyMemory，电可擦可编程只读存储器)、CD-ROM(Compact DiscRead-OnlyMemory，只读光盘)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。

可选地，检测设备还可以包括收发器150。收发器150可用于信号的接收和发送。收发器150可以允许检测设备与其他设备进行无线或有线通信以交换数据。需要说明的是，实际应用中收发器150不限于一个。

可选地，检测设备还可以包括输入单元160。输入单元160可用于接收输入的数字、字符、图像和/或声音信息，或者产生与检测设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输入单元160可以包括但不限于触摸屏、物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆、拍摄装置、拾音器等中的一种或多种。

可选地，检测设备还可以包括输出单元170。输出单元170可用于输出或展示经过处理器110处理的信息。输出单元170可以包括但不限于显示装置、扬声器、振动装置等中的一种或多种。

可选的，存储器120用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器110来控制执行。处理器110用于执行存储器120中存储的应用程序代码，以实现本申请实施例提供的任一种显示面板的检测方法。

本技术领域技术人员可以理解，本申请的前述各实施例提供的检测设备可以为所需的目的而专门设计和制造，或者也可以包括通用计算机中的已知设备。这些设备具有存储在其内的计算机程序，这些计算机程序选择性地激活或重构。这样的计算机程序可以被存储在设备(例如，计算机)可读介质中或者存储在适于存储电子指令并分别耦联到总线的任何类型的介质中。

基于同一发明构思，本申请实施例提供了一种显示面板的检测方法，依次包括画面驱动模式和关断驱动模式。该检测方法中关断驱动模式的流程示意图如图3所示，包括如下步骤S101-S102：

S101：停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号。

S102：向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；第一控制信号用于控制像素驱动电路将第一驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路处于导通状态；第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿。

在本实施例中，经过步骤S101和S102，分别延长了像素驱动电路和像素电路处于导通状态的时间，以利于显示面板的包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

其中，第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿，可利于在像素电路充分释放残存电荷之前，像素驱动电路能够驱动像素电路保持导通状态，以使得包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷能够充分释放。

基于同一发明构思，本申请实施例提供了另一种显示面板的检测方法，该检测方法中关断驱动模式的流程示意图如图4所示，包括如下步骤S201-S204：

S201：停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号。

在本步骤S201中，可以通过检测设备中的处理器停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号，以停止向显示面板输出主要供电。

S202：向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；第一控制信号用于控制像素驱动电路将第一驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路处于导通状态；第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿。

在本步骤S202中，可以通过检测设备中的处理器向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号，实现关断驱动模式下的释放残留电荷。

在一些可能的实施方式中，第一控制信号的下降沿的坡度小于第一驱动信号的下降沿的坡度。以利于在像素电路充分释放残存电荷之前，像素驱动电路能够驱动像素电路保持导通状态，使得包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷能够充分释放。

在一些可能的实施方式中，第一驱动信号的维持时间不小于第一设定时长，该第一设定时长不小于10微秒且不大于500微秒，以利于保证像素电路有足够的导通时间，进而充分释放像素电路内的残存电荷。

在一些可能的实施方式中，第一控制信号的维持时间比第一驱动信号的维持时间多第二设定时长，该第二设定时长不小于500微秒，以利于在像素电路充分释放残存电荷后，保证像素驱动电路仍保持导通状态持续足够的时间，进而充分释放像素驱动电路内的残存电荷。

在一些可能的实施方式中，第一驱动信号包括：时钟控制信号、下拉维持关闭的信号和下拉维持单元的使能信号中的至少一种。

可以理解的是，第一驱动信号还可以根据所选用的像素驱动电路的具体型号而包括其他可用于驱动像素电路开闭的信号。

S203：在第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，向显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制像素驱动电路处于导通状态。

在本步骤S203中，可以在第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，通过检测设备中的处理器向显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制像素驱动电路处于导通状态。这样能够控制像素驱动电路实现补偿式导通，以利于像素驱动电路内各节点可能的残留电荷充分释放。

在一些可能的实施方式中，第二控制信号的维持时间大于第三设定时长，该第三设定时长不小于4H微秒，这里的H是一个单位的控制信号开启宽度(脉冲宽度)。第二控制信号的维持时间采用4H微秒，使得像素驱动电路内各节点可能残留的电荷充分能够得到释放即可，无需占用过多的时间，以利于提高整个检测效率。

在一个示例中，可以令1H为6微秒，则前述4H微秒即为24微秒。

S204：向与显示面板电连接的放电器发送接地控制信号，以控制放电器导通且接地。

在本步骤S204中，可以通过检测设备中的处理器向与显示面板电连接的放电器发送接地控制信号，以控制放电器导通且接地，进而利于显示面板的包括像素电路和像素驱动电路内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

基于本申请前述各实施例提供的任一种显示面板的检测方法，在一些可能的实施方式中，画面驱动模式依次包括：第一驱动模式和第二驱动模式。

所述第一驱动模式包括：向显示面板中的像素电路发送第一画面使能信号和第一数据信号；向所述显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；所述第三控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第二驱动信号输送到所述像素电路，以控制所述像素电路根据所述第一画面使能信号和所述第一数据信号展示第一画面；

所述第二驱动模式包括：向显示面板中的像素电路发送第二画面使能信号和第二数据信号；向所述显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；所述第三控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第二驱动信号输送到所述像素电路，以控制所述像素电路根据所述第二画面使能信号和所述第二数据信号展示第二画面；

其中，所述第一数据信号与所述第二数据信号的至少部分相位相反。

在本实施例中，画面驱动模式中的第一驱动模式和第二驱动模式分别用于驱动显示面板进行画面检测，其中第一数据信号与第二数据信号的至少部分相位相反，有利于在画面检测阶段降低液晶分子发生极化概率或被极化的程度，也可以降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

基于同一发明构思，本申请实施例提供的一种显示面板的检测装置200，该检测装置200的结构框架示意图如图5所示，包括：画面使能模块210和像素驱动模块220。

画面使能模块210用于在关断驱动模式下，停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号。

像素驱动模块220用于在关断驱动模式下，向显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；第一控制信号用于控制像素驱动电路将第一驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路处于导通状态；第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿。

本实施例的显示面板的检测装置200可执行本申请前述各实施例提供的任一种显示面板的检测方法，其实现原理相类似，此处不再赘述。

在一些可能的实施方式中，像素驱动模块220用于在关断驱动模式下，在第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，向显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制像素驱动电路处于导通状态。

在一些可能的实施方式中，检测装置200还包括：接地驱动模块230。该接地驱动模块230用于在关断驱动模式下，向与显示面板电连接的放电器发送接地控制信号，以控制放电器导通且接地。

在一些可能的实施方式中，画面使能模块210还用于在画面驱动模式的第一驱动模式下，向显示面板中的像素电路发送第一画面使能信号和第一数据信号；向显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；第三控制信号用于控制像素驱动电路将第二驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路根据第一画面使能信号和第一数据信号展示第一画面。

在一些可能的实施方式中，画面使能模块210还用于在画面驱动模式的第二驱动模式下，向显示面板中的像素电路发送第二画面使能信号和第二数据信号；向显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；第三控制信号用于控制像素驱动电路将第二驱动信号输送到像素电路，以控制像素电路根据第二画面使能信号和第二数据信号展示第二画面。其中，第一数据信号与第二数据信号的至少部分相位相反。

基于同一的发明构思，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机存储介质用于存储计算机指令，当计算机指令在计算机上运行时，实现如前述各实施例提供的任一种显示面板的检测方法。

本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质适用于上述任一种显示面板的检测方法的各种可选实施方式。在此不再赘述。

下面结合一个具体实施例对本申请上文记载的技术方案进行说明。

一种显示面板的检测方法，如图6所示，包括：第一驱动模式、第二驱动模式和关断驱动模式等3个阶段。其中：

SW：是switch开关信号，即放电器的接地控制信号，Vsh表示为高电位，一般约为30V(伏特)。

STV：一帧的开始使能信号，即画面使能信号，Vgh表示为高电位，一般约为20～30V。

CK：像素驱动电路(例如GOA电路)部分的各时钟控制信号，Vgh表示为高电位(一般约为20～30V)。

TRST：一帧的复位使能信号，即第一控制信号和第二控制信号，Vgh表示为高电位，一般约为20～30V。

VGL/LVGL：GOA电路的下拉维持关闭的信号，可以作为像素电路的驱动信号；Vgh表示为高电位，一般约为20～30V)；Vgm表示为中电位，用于卡控TFT的阈值电压Vth，一般约为5V；Vgl表示为低电位，一般约为-10V。

VDDO/VDDE：一帧的下拉维持单元的使能信号，一般交替使用，可以作为像素电路的驱动信号，Vgh表示为高电位，一般约为20～30V。

VCOM：面板内部像素显示的公共电压信号，一般约为0V。

R/G/B：面板内部像素显示的数据信号；Vdh表示为高电位，一般约为0～10V)；Vdl表示为低电位，一般约为-10～0V。

各阶段的关键信号维持时间可以为：

t1＞第四设定时长，该第四设定时长不大于500μs(微秒)；

t2>第五设定时长，该第五设定时长不小于100μs且不大于1000μs；

t1＜t3＜t1+第四设定时长；

t2＜t4<t2+第四设定时长；

t5>第一设定时长，该第一设定时长不小于10μs且不大于500微秒；

t6>t5+第二设定时长，该第二设定时长不小于500μs；

t7为TRST时间，清掉GOA区域内节点电荷，t7>第三设定时长，该第三设定时长≥4Hμs。其中，TRST的掉电slope(坡度)要比CK或VGL/LVGL缓慢。

应用本申请实施例，至少能够实现如下有益效果：

1、在检测的关断驱动模式中分别延长像素驱动电路和像素电路处于导通状态的时间，以利于显示面板的包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

2、第一控制信号的下降沿晚于第一驱动信号的下降沿，可利于在像素电路充分释放残存电荷之前，像素驱动电路能够驱动像素电路保持导通状态，以使得包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷能够充分释放。

3、第一控制信号的下降沿的坡度小于第一驱动信号的下降沿的坡度。以利于在像素电路充分释放残存电荷之前，像素驱动电路能够驱动像素电路保持导通状态，使得包括像素驱动电路内和像素电路内的残存电荷能够充分释放。

4、第一驱动信号的维持时间不小于第一设定时长，以利于保证像素电路有足够的导通时间，进而充分释放像素电路内的残存电荷。

5、第一控制信号的维持时间比第一驱动信号的维持时间多第二设定时长，以利于在像素电路充分释放残存电荷后，保证像素驱动电路仍保持导通状态持续足够的时间，进而充分释放像素驱动电路内的残存电荷。

6、在第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，向显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制像素驱动电路处于导通状态，这样能够控制像素驱动电路实现补偿式导通，以利于像素驱动电路内各节点可能的残留电荷充分释放。

7、第二控制信号的维持时间不小于4H微秒，使得像素驱动电路内各节点可能残留的电荷充分能够得到释放即可，无需占用过多的时间，以利于提高整个检测效率。

8、向与显示面板电连接的放电器发送接地控制信号，以控制放电器导通且接地，进而利于显示面板的包括像素电路和像素驱动电路内的残存电荷向外释放，降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

9、在画面驱动模式中，第一驱动模式和第二驱动模式分别用于驱动显示面板进行画面检测，其中第一数据信号与第二数据信号的至少部分相位相反，有利于在画面检测阶段降低液晶分子发生极化概率或被极化的程度，也可以降低电荷残留导致的液晶极化现象，从而减少电荷残留对判定检测结果的干扰，提升检测准确度。

本技术领域技术人员可以理解，本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本申请中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本说明书的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

以上所述仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，依次包括画面驱动模式和关断驱动模式；所述关断驱动模式包括：

停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号；

向所述显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；所述第一控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第一驱动信号输送到所述像素电路，以控制所述像素电路处于导通状态；所述第一控制信号的下降沿晚于所述第一驱动信号的下降沿；

所述关断驱动模式还包括：

在所述第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，向所述显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制所述像素驱动电路处于导通状态。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一控制信号的下降沿的坡度小于所述第一驱动信号的下降沿的坡度。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一驱动信号的维持时间不小于第一设定时长，所述第一设定时长不小于10微秒且不大于500微秒；

和/或，所述第一控制信号的维持时间比所述第一驱动信号的维持时间多第二设定时长，所述第二设定时长不小于500微秒；

和/或，所述第二控制信号的维持时间大于第三设定时长，所述第三设定时长不小于4个脉冲宽度。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一驱动信号包括：时钟控制信号、下拉维持关闭的信号和下拉维持单元的使能信号中的至少一种。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述关断驱动模式还包括：

向与所述显示面板电连接的放电器发送接地控制信号，以控制所述放电器导通且接地。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的检测方法，其特征在于，所述画面驱动模式依次包括：第一驱动模式和第二驱动模式；

所述第一驱动模式包括：向显示面板中的像素电路发送第一画面使能信号和第一数据信号；向所述显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；所述第三控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第二驱动信号输送到所述像素电路，以控制所述像素电路根据所述第一画面使能信号和所述第一数据信号展示第一画面；

所述第二驱动模式包括：向显示面板中的像素电路发送第二画面使能信号和第二数据信号；向所述显示面板中的像素驱动电路发送第三控制信号和第二驱动信号；所述第三控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第二驱动信号输送到所述像素电路，以控制所述像素电路根据所述第二画面使能信号和所述第二数据信号展示第二画面；

其中，所述第一数据信号与所述第二数据信号的至少部分相位相反。

7.一种显示面板的检测装置，其特征在于，包括：

画面使能模块，用于在关断驱动模式下，停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号；

像素驱动模块，用于在关断驱动模式下，向所述显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号；所述第一控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第一驱动信号输送到所述像素电路，以控制所述像素电路处于导通状态；所述第一控制信号的下降沿晚于所述第一驱动信号的下降沿；

所述关断驱动模式还包括：

在所述第一控制信号的下降沿间隔设定时段后，向所述显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号，以控制所述像素驱动电路处于导通状态。

8.一种检测设备，其特征在于，包括：

处理器，用于与显示面板的像素电路和像素驱动电路分别电连接；

存储器，与所述处理器电连接，配置用于存储机器可读指令，所述指令在由所述处理器执行时，实现如权利要求1-6中任一项所述显示面板的检测方法。

9.根据权利要求8所述的检测设备，其特征在于，所述检测设备还包括：与所述处理器电连接的放电器；

所述放电器用于在所述处理器的控制下将所述显示面板的像素电路和像素驱动电路分别接地。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质用于存储计算机指令，当所述计算机指令在计算机上运行时，实现如上述权利要求1-6中任一项所述显示面板的检测方法。