CN108427069A - 一种面板检测的测试电路 - Google Patents

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Abstract

一种面板检测的测试电路，包括第一检测端口、第二检测端口，所述第一检测端口与首级面板输出连接，第二检测端口与次级面板输出连接，所述第一检测端口还与再级面板输出连接。能够进行端口复用，能够引出多级的输出讯号的侦测，解决了多路GIP信号同时检测的问题。

Description

一种面板检测的测试电路
技术领域
本发明涉及GOA信号检测领域，尤其涉及一种将多级讯号同时引出的面板测试电路。
背景技术
在显示面板的门阵列Gate ON Array(GOA)电路中，由于具有减少工艺流程，节省COF成本等优势，是显示企业重点关注技术之一。LCD和OLED面板都有选择GOA技术。目前在手机面板等小尺寸涉及上，已被大量采用。同时，越来越多的大尺寸面板(电视)也采用GOA技术。但GOA技术由于采用非晶或多晶TFT结构做成逻辑电路，器件本身稳定性会造成GOA电路异常，从而会造成良率损失和产品质量等问题，因此GOA在cell test(又称P检)时检测是判断电路是否异常和产品是否进入下一道制程的重要检测节点。从而提前发现产品可能存在的问题，规避风险。同时通过GOA的输出的反馈讯号的状态可间接判断异常类型；从而从制程或者电路架构本身改善。但目前我们普遍的做法只是引出几级的GIP输出讯号侦测；得到讯号信息有限；不足以完全判断异常原因和类型。
发明内容
为此，需要提供一种能够进行端口复用，能够引出多级的输出讯号的侦测方法，
为实现上述目的，发明人提供了一种面板检测的测试电路，包括第一检测端口、第二检测端口，所述第一检测端口与首级面板输出连接，第二检测端口与次级面板输出连接，所述第一检测端口还与再级面板输出连接。
具体地，每级面板输出均包括第一开关管、第二开关管，所述第一开关管的源极、栅极与本级面板输出端连接，漏极与检测端口连接；
所述第二开关管的源极与检测端口连接，栅极与下一级面板输出端连接，漏极接关断电压。
进一步地，所述第一开关管、第二开关管为TFT薄膜晶体管。
优选地，各级面板输出端还与面板的活动区域连接。
可选地，所述第一检测端口、第二检测端口与检波器连接。
具体地，所述检波器包括自动检测中断模块，所述自动检测中断模块还用于控制各级面板的输出。
区别于现有技术，上述技术方案可间接检测每一级输出讯号，为GOA异常原因和类型提供了更充分的讯号检测方式，可诊断每一级GOA电路输出讯号，而一旦GOA输出讯号和预期的不一致时，即可诊断出哪一级电路异常和异常原因。
附图说明
图1为具体实施方式所述的传统的P检测试Gout讯号输出示意图；
图2为具体实施方式所述的本发明P检测试Gout讯号输出示意图；
图3为具体实施方式所述的本发明P检电路图时序。
具体实施方式
为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。
在展开介绍我们的新方法前，我们对传统技术有个简单介绍，在图1所示的传统技术所采用的实施例中，一般是将GOA电路的某级输出讯号引出到P检pad上或者直接引出到FPC上，用示波器探测该点讯号，判断是否正确或异常，采用该方法的主要弊端有以下两点：1.如果要探测某级GOA输出讯号，则必须将该级讯号引出；而如果要探测多级GOA讯号，则必须要有对应的引线和测试节点。2.探测某级讯号要引出某级，需要相应的拉线和探测节点，事实上我们不太可能探测很多级GOA输出电路，主要原因是每个引线和探测点位都会增加边框宽度；我们不大可能探测每一级，这样我们就无法确认每一级输出的具体情况，也无法判断电路异常的具体过程和原因。
请参阅图2，为本发明的一种具体实施例，为一种面板检测的测试电路，包括第一检测端口Gout_L、第二检测端口Gout_R，这里的检测端口与信号采集设备连接，可以是数字采集设备，也可以是模拟采集设备，一般来说我们可以将检测端口直接与检波器通信连接。所述第一检测端口与首级面板输出连接，第二检测端口与次级面板输出连接，所述第一检测端口还与再级面板输出连接。这里的首级面板输出可以为某一级的GIP(gate device inpanel)输出端口，输出端口之间有顺序关系，则第一检测端口、第二检测端口分别交替与首级面板输出、次级面板输出、再级面板输出……等等依次连接。在我们的实施例中，首级面板输出为G1输出、次级面板输出为G2输出、再级面板输出G3输出并按照单数编号在左、双数编号在右的规律依次连接。这样在进行P检的时候，依次控制面板输出的GIP信号进行输出，只需要在再级面板输出G3的信号开始输出前，G1的信号停止输出即可，保证了同一个检测端口的信号不会被不同的面板输出影响，而间隔设置的GIP信号也保证了同一个检测端口的不同工作时序之间具有一定的间隔，从而减少GIP信号之间的相互影响，从而更精确地达到检测端口检测面板输出的技术效果。
为了更好地避免检测面板输出的相互影响，在具体的实施例中如图1所示，我们在每级面板输出均设置第一开关管、第二开关管。以G1所在面板输出的GIP口为例，这里第一开关管标记为T1，第二开关管标记为T2。开关管可以选用类晶体管的开关如一般的三极管、二极管开关，还可以是MOS管等等。其中第一开关管用于控制GIP到检测端口的通路的导通，第二开关管用于与VGL关断电压连接，负责控制GIP通路与检测输出的连接的断路。在图2所示的具体实施例中，所述第一开关管、第二开关管为TFT薄膜晶体管。所述第一开关管的源极、栅极与本级面板输出端连接，漏极与检测端口连接；所述第二开关管的源极与检测端口连接，栅极与下一级面板输出端连接，漏极接关断电压。具体地当Gate为高电位时，T1才会打开，将P检讯号线的电位充高，而此时由于其它级GOA电路(如果电路正常)Gate为低电位，故其它级的T1是关闭的，这样不至于影响P检电位；当当前级Gate电位(假设当前级为第n级)变低时，T1关闭，此时T2会被打开(此时当前级的下一级的Gate n+1为高电位)，将P检讯号线电位重新拉低。等待Gn+2输出高电位，打开T1打开，P检讯号重新充高。GOA电路依次重叠，P检讯号依次被充高电位到拉到低电位这样的过程中。当开关管采用三极管或MOS管时，集电极发射极等连接方式根据上述功能自行调整连接即可。从而通过上述设计，可诊断每一级GOA电路输出讯号，而一旦GOA输出讯号和预期的不一致时，即可诊断出哪一级电路异常和异常原因。
在另一些优选的实施例中，各级面板输出端还与面板的活动区域连接，即每一级GIP输出讯号会引出一路输出到面板的AA(active area)区，驱动AA pixel电路。如果直接采取GIP信号输出到P检讯号的方式，在某种程度上也能够实现本发明方法，但若果没有接入到AA面板，相当于电路中没有负载，Gout检测到的信号可能会出现电平信号不稳、杂波信号干扰强、没有负载电平数值失真等，将GIP信号接入AA区，驱动Panel，进行显示，使得在面板正常工作时进行P检测试，避免上述负面问题。通过上述设计完善了本发明的功能，不影响面板的正常使用。
在其他一些具体的实施例中，我们用的检波器包括自动检测中断模块，所述自动检测中断模块可以按照设定检测输入的脉冲信号，一旦检测到脉冲信号异常(如幅值、周期、错峰)等等，可以自动中断各级面板的输出。具体地，自动检测中断模块的功能可以通过集成在检测端来实现，例如直接在检波器内集成包括上述功能的处理器。通过自动检测终端模块，能够提高P检的自动化水平，解放人工，提高本发明的使用效率。
需要说明的是，尽管在本文中已经对上述各实施例进行了描述，但并非因此限制本发明的专利保护范围。因此，基于本发明的创新理念，对本文所述实施例进行的变更和修改，或利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，直接或间接地将以上技术方案运用在其他相关的技术领域，均包括在本发明的专利保护范围之内。

Claims (6)

1.一种面板检测的测试电路，其特征在于，包括第一检测端口、第二检测端口，所述第一检测端口与首级面板输出连接，第二检测端口与次级面板输出连接，所述第一检测端口还与再级面板输出连接。
2.根据权利要求1所述的面板检测的测试电路，其特征在于，每级面板输出均包括第一开关管、第二开关管，所述第一开关管的源极、栅极与本级面板输出端连接，漏极与检测端口连接；
所述第二开关管的源极与检测端口连接，栅极与下一级面板输出端连接，漏极接关断电压。
3.根据权利要求2所述的面板检测的测试电路，其特征在于，所述第一开关管、第二开关管为TFT薄膜晶体管。
4.根据权利要求1所述的面板检测的测试电路，其特征在于，各级面板输出端还与面板的活动区域连接。
5.根据权利要求1所述的面板检测的测试电路，其特征在于，所述第一检测端口、第二检测端口与检波器连接。
6.根据权利要求5所述的面板检测的测试电路，其特征在于，所述检波器包括自动检测中断模块，所述自动检测中断模块还用于控制各级面板的输出。
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