CN104713469A - 运用于软性显示面板的挠曲传感器及相关感测方法与*** - Google Patents
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Abstract
一种运用于软性显示面板的挠曲传感器及相关感测方法与***，该挠曲传感器包含：多个检测电极，配置在一触控显示面板上，且该触控显示面板搭配在该软性显示面板，其中，这些检测电极根据一电场或一磁场的变化对应地产生多个检测信号；以及一控制电路，接收这些检测信号，并据以判断该软性显示面板的一挠曲状态。
Description
技术领域
本揭露涉及一种感测装置与感测方法，且特别涉及一种运用于软性显示面板的挠曲传感器及相关感测***与方法。
背景技术
由于信息科技的进步，当重量轻、体积小且携带方便的智能手机以及平板计算机问世后，消费者逐渐舍弃重量与体积相对较大的笔记型计算机来上网浏览资料。如今，随处可以看到使用者利用智能手机或者平板计算机来上网浏览资料、观赏影像资料、执行软件程序、或者通话。然而，受限于智能手机以及平板计算机的先天条件，尺寸越小的智能手机或者平板计算机，其显示面板尺寸也会越小。因此，显示面板上可同时呈现的信息就会越少。
由于具有软性显示面板的智能手机或者平板计算机的问世，软性显示面板不再受限于传统显示面板的刚性特性。因此，当软性面板的智能手机或者平板计算机在展开其显示面板后，可在显示面板上同时呈现更多的信息。因此，具有软性显示面板的电子装置的优势在于，具备体积小、大显示尺寸的特点。
然而，对于软性显示面板而言，其折迭处是使用最频繁的，并且容易造成软性显示面板画质的偏差，造成使用者体验的观感不佳。
为了要获得软性显示面板上折迭处的状况，可通过折迭曲率与折迭频率等参数来估算。而上述的折迭曲率与折迭频率的参数可通过各种类型的挠曲检测器来获得。
一般来说，现今的挠曲检测器配置在软性显示面板背面，挠曲传感器的种类包括：光纤传导的挠曲传感器，红外线的挠曲传感器，力回馈型的挠曲传感器、或者压电式挠曲传感器。如果以成本与实用性考虑，最常用的是压电式挠曲传感器。
然而，压电式挠曲传感器根据自身所受到的应力大小改变自身的电阻值，并据以决定软性显示面板的弯曲程度。一般来说，由于压电式挠曲传感器本身的贴合应力不一，且无方向性、不透明等特性，易引发潜在的整合风险，以及局限显示装置的使用模式。
故此，提出一种全新架构的挠曲传感器及其感测方法即为本揭露最主要的目的。
发明内容
本揭露的目的在于提出一种运用于软性显示面板的挠曲传感器与挠曲感测方法。通过软性显示面板在挠曲(bending)的过程所造成的电场或磁场的变化，进而感应其挠曲状态，并且决定软性显示面板的挠曲方向以及挠曲角度。
本揭露提出一种运用于软性显示面板的挠曲传感器，包含：多个检测电极，配置在一触控显示面板上，且该触控显示面板搭配在该软性显示面板，其中，这些检测电极根据一电场或一磁场的变化对应地产生多个检测信号；以及一控制电路，接收这些检测信号，并据以判断该软性显示面板的一挠曲状态。
本揭露提出一种运用于软性显示面板的挠曲感测方法，该软性显示面板搭配一触控式面板，且该触控式面板上具有多个检测电极，可因应一电场或一磁场改变产生多个检测信号，该挠曲感测方法包含下列步骤：(a)根据这些检测信号产生一状态变化事件；(b)判断这些检测信号之间的关系以决定为一挠曲事件；以及(c)进行对应的一控制动作。
一种运用于软性显示面板的挠曲感测***，包含：一触控显示面板，搭配在该软性显示面板，其中，该触控显示面板上包括多个检测电极，这些检测电极根据一电场或一磁场的变化对应地产生多个检测信号；以及一控制电路，接收这些检测信号，并根据这些检测信号产生一状态变化事件；其中，在产生该状态变化事件时，该控制电路根据这些检测信号之间的关系，决定为一挠曲事件。
为了对本揭露的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举优选实施例，并配合附图，作详细说明如下：
附图说明
图1A与图1B所绘示为电容式触控式面板即其相关信号示意图。
图2所绘示为本揭露触控式面板第一实施例示意图。
图3A至图3E为本揭露第一实施例的各种使用情况及其相关信号示意图。
图4A至图4C所绘示为本揭露运用于软性显示面板的挠曲感测方法。
图5A所绘示为方向/角度对照表示意图。
图5B所绘示***闭回路电路示意图。
图6A至图6D所绘示为本揭露触控式面板的第二实施例以及相关检测信号示意图。
图7A至图7D所绘示为本揭露触控式面板的其他检测电极配置示意图。
图8为本揭露控制电路的示意图。
图9为依据本揭露图7D搭配图8控制电路而运用于软性显示面板的挠曲感测方法。
【符号说明】
Dt：触控检测区域
Df：挠曲检测区域
Rx：接收层
Tx：传输层
Sd：遮蔽层
x：检测电极x
y：检测电极y
Sx：第x位置检测信号
Sy：第y位置检测信号
e1：第一检测电极
e2：第二检测电极
e3：第三检测电极
e4：第四检测电极
e5：第五检测电极
Se1：第一检测信号
Se2：第二检测信号
Se3：第三检测信号
Se4：第四检测信号
Se5：第五检测信号
210、610：控制电路
505：参考模型
515：控制单元
525：参数调整器
535：卷积单元
810：记忆模块
820：控制处理模块
830：信号处理模块
840：判断模块
S410～S438、S910～S928：步骤流程
具体实施方式
请参照图1A与图1B，其所绘示为电容式触控式面板及其相关信号示意图。触控式面板包括接收层(Rx)、传输层(Tx)、以及遮蔽层(shielding layer，Sd)连接至接地电压(GND)。其中，接收层(Rx)上的触控检测区域(Dt)包括多个检测电极(detecting electrode)，其材料可为透明的铟锡氧化膜(ITO film)。当使用者在面板上的触控检测区域(Dt)产生触控点时，触控点位置所在的检测电极及其周围的电场或磁场会改变，进而改变该检测电极的互容值(mutualcapacitance)以及对应的检测信号(detecting signal)。当然，除了铟锡氧化膜之外，检测电极的材料也可为铜箔、纳米银线、或者硅材料的半导体材料。
如图1B所示，假设触控点在检测电极x上，则会造成检测电极x附近的电场或磁场改变。由于检测电极x的互容值改变，所以检测电极x所对应的第x位置检测信号Sx的强度(Intensity)也会改变。因此，当传输层(Tx)将所有检测电极的检测信号传递至后端的控制电路(未绘示)时，控制电路即可判断所有的检测信号来得知第x位置检测信号Sx的强度变化，并确定触控点位在检测电极x处。一般来说，检测信号的强度变化，可为电压振幅的变化或者电场强度或者磁场强度的变化。
本揭露在上述触控式面板上更增加多个检测电极作为挠曲传感器并运用于软性显示面板。在软性显示面板在挠曲的过程，根据检测电极附近的电场或磁场变化，进而产生检测信号。再者，后端的控制电路(未绘示)会接收检测信号，据以决定使用者产生触控事件(touch event)或者挠曲事件(bendingevent)。以下的说明在软性显示面板上搭配触控式面板，亦即当软性显示面板挠曲时，触控式面板也会被挠曲。再者，在触控式面板上配置的检测电极可同时用于触控检测及挠曲检测。为了简化说明，触控式面板以接收层(Rx)为例来进行说明。
请参照图2，其所绘示为本揭露触控式面板第一实施例示意图，该触控式面板搭配在软性显示面板上。该触控式面板上包括一触控检测区域(Dt)以及一挠曲检测区域(Df)。其中，触控检测区域(Dt)位在触控式面板的中央区域，挠曲检测区域(Df)位在触控式面板的***区域。再者，触控检测区域(Dt)中包括多个检测电极，而挠曲检测区域(Df)中包括四个检测电极e1～e4，检测电极的材料可为透明的铟锡氧化膜(ITO film)。其中，挠曲检测区域中的这些检测电极作为挠曲传感器，并且该触控式面板可搭配软性显示面板，以A1-A2方向为轴心进行挠曲，或者以B1-B2方向为轴心进行挠曲。
当使用者在面板上的触控检测区域(Dt)产生触控点时，触控点位置所在的检测电极及其周围的电场或磁场会改变，进而改变该检测电极的互容值以及对应的检测信号。当然，使用者产生触控点时，由于检测电极周围的电场或磁场改变，也会一并造成挠曲检测区域(Df)中四个检测电极e1～e4的检测信号改变。而本揭露即利用后端的控制电路210接收所有的检测信号，并据以决定使用者产生触控事件或者挠曲事件。
以下图3A至图3E为本揭露第一实施例的各种使用情况及其相关信号示意图。如图3A所示，当面板未产生触控点且未挠曲。触控检测区域(Dt)以及挠曲检测区域(Df)中的检测电极并未感受到电场或磁场的变化，因此触控检测区域(Dt)的检测信号以及挠曲检测区域(Df)的检测信号Se1～Se4的强度很小。
如图3B所示，当面板作为触控用途。且假设触控点在检测电极x上，则会造成检测电极x附近的电场或磁场改变。所以检测电极x所对应的第x位置检测信号Sx的强度会改变。同时，由于触控点位置接近第二检测电极e2且远离第一检测电极e1，所以第二检测信号Se2的强度会大于第一检测信号Se1的强度。再者，触控点与第三检测电极e3的距离，触控点与第四检测电极e4的距离约略相等，所以第三检测信号Se3与第四检测信号Se4的强度几乎相等。
如图3C所示，当面板作为触控用途。且假设触控点在检测电极y上，则会造成检测电极y附近的电场或磁场改变。所以检测电极y所对应的第y位置检测信号Sy的强度会改变。同时，由于触控点位置接近第二检测电极e2以及第三检测电极e3，所以第二检测信号Se2与第三检测信号Se3的强度会较大。再者，第一检测信号Se1与第四检测信号Se4的强度较小。
由以上的说明可知，当使用者在触控检测区域(Dt)上产生触控点，对应的触控位置上的检测信号强度较大，并且根据触控点的位置会造成检测信号Se1～Se4的强度不相同，此时，挠曲检测区域(Df)中的检测电极e1～e3可作为定位触控点的辅助。
如图3D所示，当面板沿着A1-A2的方向为轴心挠曲且曲率半径较大时。由于没有触控点产生，触控检测区域(Dt)中所有的检测信号的强度会较小且约略相等。同时，由于曲率半径较大，面板弯曲不严重，而电场或磁场强度的改变所造成检测信号的强度变化量亦较小。如图所示，由于第一检测电极e1与第二检测电极e2经挠曲后，电极之间的相对距离并无显著改变，所以第一检测信号Se1与第二检测信号Se2的强度改变较小且约略相等。同理，由于第三检测电极e3与第四检测电极e4经挠曲后，第三检测电极e3与第四检测电极e4的相对距离变小，所以第三检测信号Se3与第四检测信号Se4的强度会增强且因挠曲位置为中央线，故第三检测信号Se3与第四检测信号Se4强度约略相等。因此，第一检测信号Se1及第二检测信号Se2的强度小于第三检测信号Se3及第四检测信号Se4的强度。
如图3E所示，当面板沿着A1-A2的方向为轴心挠曲且曲率半径较小时。由于没有触控点产生，触控检测区域(Dt)中所有的检测信号的强度会较小且约略相等。同时，由于曲率半径较小，面板弯曲严重，第三检测电极e3与第四检测电极e4相对距离相较图3D更近，因此电场或磁场强度的改变所造成检测信号的强度变化量较大。如图所示，由于第一检测电极e1与第二检测电极e2和其他检测电极彼此的相对距离无显著改变，所以第一检测信号Se1与第二检测信号Se2的强度约略相等。同理，由于第三检测电极e3与第四检测电极e4的相对距离变小，所以第三检测信号Se3与第四检测信号Se4的强度会增强且因挠曲位置为中央线，故第三检测信号Se3与第四检测信号Se4强度约略相等。
同理，当面板沿着B1-B2的方向为轴心挠曲时，由于B1-B2位于面板中央，所以相对应的检测信号也会相等。再者，当面板沿着B1-B2的方向为轴心挠曲时，第一检测信号Se1的强度会大于第三检测信号Se3的强度。
由上述的说明可知，在第一实施例中，当面板作为触控用途并且未挠曲且产生触控点时，触控检测区域(Dt)中会有特定位置上的检测信号的强度变化量增加，且挠曲检测区域(Df)中的检测信号Se1～Se4未具备成对对称的信号关系。再者，当面板未作为触控用途并而被挠曲时，触控检测区域(Dt)中的所有检测信号的强度较小，而挠曲检测区域(Df)中的检测信号Se1～Se4会具备成对对称的信号关系。
请参照图4A至图4C，其所绘示为本揭露运用于软性显示面板的挠曲感测方法。此挠曲感测方法可运用于本揭露图2的触控式面板，并且此方法由控制电路210根据检测信号来据以决定使用者产生触控事件或者挠曲事件。如图4A所示，控制电路210根据据检测信号产生一状态变化事件(步骤S410)。接着，控制电路210判断检测信号之间的关系为一触控事件或者一挠曲事件(步骤S420)，接着，控制电路210即可进行对应的控制动作(步骤S430)，之后回到步骤S410继续进行检测与判断步骤。
请参照图4C，在步骤S430中，还包括当控制电路210判断为触控事件(步骤432)时，即触发触控事件(步骤434)，例如根据这些检测信号的强度决定一触控点位置。当控制电路210判断为挠曲事件(步骤432)时，控制电路210触发挠曲事件(步骤S436)，并得知软性显示面板的挠曲状态，进一步将一挠曲计数器(bending counter)的数值加1(步骤438)。其中，该挠曲计数器可内建于控制电路210中，或者控制电路210之外的一个独立的计数器。
控制电路210为动态检测面板状态，在步骤S410中，将检测信号进行归一化(Normalized)(步骤S412)。接着，判断是否产生状态变化事件(S414)。当未产生状态变化事件时，回到步骤S414；反之，产生状态变化事件(步骤S416)。其中，上述归一化即是将检测信号进行初始化或者正规化的意思。
在上述步骤S420与步骤S430中，控制电路210可以根据图3A至图3E中所揭露的检测信号之间的关系来判断触控式面板发生触控事件或者挠曲事件。当然，控制电路210也可以仅利用挠曲检测区域(Df)的检测信号之间的关系来判断触控式面板的挠曲状态，此处不再赘述。
举例来说，当触控检测区域(Dt)中的第x位置检测信号Sx的强度变化量增加，且挠曲检测区域(Df)中的检测信号Se1～Se4未具备成对对称的信号关系时，控制电路210判定发生触控事件，并根据所有的检测信号获得触控点位置在触控检测区域(Dt)中的检测电极x。或者，当触控检测区域(Dt)中的所有检测信号的强度皆小于一第一临限值，而挠曲检测区域(Df)中的检测信号Se1～Se4皆大于一第二临限值且具备成对对称的信号关系时，可控制电路210判定发生挠曲事件。因此，控制电路210将挠曲计数器的数值加1用以统计软性显示面板的挠曲次数。当然，当触控检测区域(Dt)中所有检测信号的强度皆小于第一临限值，且挠曲检测区域(Df)中的检测信号Se1～Se4皆小于第二临限值时，则判断面板未产生触控点且未挠曲。
当然，控制电路210还可以根据二对检测信号Se1、Se2以及Se3、Se4之间的关系来决定软性显示面板的挠曲方向。例如，当第一检测信号Se1的强度小于第三检测信号Se3的强度时，控制电路210判断软性显示面板沿着A1-A2的方向为轴心挠曲。当第一检测信号Se1的强度会大于第三检测信号Se3的强度时，控制电路210判断软性显示面板沿着B1-B2的方向为轴心挠曲。
当然，除了上述方式，判断步骤S430也可以利用其他方式来实现，例如直接利对照表(look up table)来进行挠曲方向以及挠曲角度θ的判断。请参照图5A，其所绘示为方向/角度对照表示意图。其中，信号Sdt可为触控检测区域(Dt)中的任何一个检测信号的强度，或者控检测区域(Dt)中检测信号的平均强度。换句话说，根据照表中所提供的对应关系，即可据以将这些检测信号对应至该挠曲方向或者该挠曲角度。
根据本揭露的实施例，在控制电路210中预先建立一方向/角度对照表，供控制电路210判断软性显示面板的挠曲方向以及挠曲角度。如图5A所示，当第一检测信号Se1、第二检测信号Se2、第三检测信号Se3、第四检测信号Se4与检测信号Sdt的强度为I(0，0)、I(0，1)、I(0，2)、I(0，3)、I(0，4)时，判断显示面板的挠曲方向为D1方向且挠曲角度为θ0。再者，当第一检测信号Se1、第二检测信号Se2、第三检测信号Se3、第四检测信号Se4与检测信号Sdt的强度为I(12，0)、I(12，1)、I(12，2)、I(12，3)、I(12，4)时，判断显示面板的挠曲方向为D2方向且挠曲角度为θ2。当然，其他的挠曲方向以及挠曲角度的判断相同于上述的方式，此处不再赘述。
换句话说，控制控制电路210可根据方向/角度对照表所提供的对应关系，由触控检测区域(Dt)中的检测信号强度以及挠曲检测区域(Df)中检测信号Se1～Se4的强度直接决定软性显示面板的挠曲方向以及挠曲角度。
除了图5A的对照表之外，也可以利用于***闭回路电路来取代对照表，并获得软性显示面板的挠曲方向以及挠曲角度。请参照图5B，其所绘示***闭回路电路示意图。其包括：一参考模型(reference model)505、一控制单元(control unit)515、一参数调整器(parameter tuning device)525、卷积单元(convolution unit)535。其中，参考模型505用来规划***闭回路的性能，以达到理想输出的响应元件，其将***的挠曲特征全部规划在参考模型505内，并利用匹配事先规划好的挠曲特征，来进行反馈控制。再者，控制单元515为具有可调控制参数的反馈控制元件。再者，参数调整器525是根据***输出与参考模型之间的追踪误差来调整控制器中的控制参数，使***参数即使在未知情况下，仍能收敛到零。
如图5B所示，检测电极的所有检测信号I输入参考模型505以产生参考模型输出信号Ym，并且输入控制单元515以产生控制单元输出信号Yn。卷积单元535接收参考模型输出信号Ym与控制单元输出信号Yn后即产生决定信号f(I，θ)以及反馈信号f(I，θ，e)。再者，参数调整器525根据反馈信号f(I，θ，e)来调整控制单元515中的控制参数，并更新控制单元输出信号Yn。因此，***闭回路电路所输出的决定信号f(I，θ)即可代表软性显示面板的挠曲方向以及挠曲角度。
当然，除了图2中二个方向挠曲的触控式面板之外，本揭露也可以有更多方向挠曲的触控式面板。请参照图6A至图6D，其所绘示为本揭露触控式面板的第二实施例以及相关检测信号示意图，该触控式面板搭配软性显示面板。如图6A所示，该触控式面板上包括多个检测电极e1～e5，检测电极的材料可为透明的铟锡氧化膜(ITO film)。其中，第一检测电极e1至第四检测电极e4相同于第一实施例，差异在于增加一个第五检测电极e5，其为对角线的配置。
再者，第二实施例的触控式面板除了以A1-A2方向或以B1-B2方向为轴心进行挠曲之外，还可以C1-C2方向或以D1-D2方向为轴心进行挠曲。换句话说，本揭露的第二实施例可以检测对角线的挠曲。而以下仅说明以C1-C2方向为轴心进行挠曲以及以D1-D2方向为轴心进行挠曲时，相关检测信号的变化，其他方向的挠曲则不再赘述。
以下图6B至图6D为本揭露第二实施例的相关信号示意图。如图6B所示，当面板未产生触控点且未挠曲时，检测电极e1～e5并未感受到电场或磁场的变化，因此检测信号Se1～Se5的强度很小。
如图6C所示，当面板沿着D1-D2的方向为轴心挠曲时，第一检测电极e1接近第三检测电极e3，且第二检测电极e2接近与第四检测电极e4，因此第一检测信号Se1至第四检测信号Se4的强度约略相等。再者，第五检测电极e5在挠曲的过程，受到电场或磁场的影响较大，会产生强度较大的第五检测信号Se5。
如图6D所示，当面板沿着C1-C2的方向为轴心挠曲时，第一检测电极e1接近第四检测电极e4，且第二检测电极e2接近与第三检测电极e3，因此第一检测信号Se1至第四检测信号Se4的强度约略相等。再者，第五检测电极e5在挠曲的过程，受到电场或磁场的影响较小，会产生强度较小的第五检测信号Se5。
由以上的说明可知，第二实施例的触控式面板在挠曲的过程中，可以根据五个检测信号Se1-Se5的关系来判断触控式面板是否发生一挠曲事件，并且判断出触控式面板的挠曲方向。当然，第二实施例的触控式面板也可以利用图5A对照表所提供的对应关系来进行挠曲方向以及挠曲角度θ的判断，或者图5B的***闭回路电路来进行挠曲方向以及挠曲角度θ的判断。其实现方式相同于第一实施例，此处不再赘述。
除了前述两个实施例的检测电极配置方式外，本揭露也可以有更多方向挠曲的触控式面板，请参照图7A至图7D，其所绘示为本揭露触控式面板的其他检测电极配置示意图。
如图7A所示，检测电极可仅配置在挠曲面板转轴附近的区域，当面板沿A1-A2方向挠曲时，检测电极e3及e4会受到较大的电场或磁场变化，而产生较强的检测信号Se3、Se4。其操作与判断机制如前所述，在此不再赘述。
此外，中央区域的检测电极的配置除了如图7A所示的棋盘格外，也可如图7B所示的菱格状，或可仅以检测电极e1～e4作为挠曲传感器，本揭露并不以此为限。同理，如前述第一实施例，其中央区域的检测电极的配置也可如图7C所示，为菱格状的配置。
再者，挠曲式显示面板(foldable display panel)具有固定可挠曲的轴心，而软性显示面板(flexible display panel)整面皆可随意挠曲，为提高判断挠曲的方向与角度的精准度，本揭露更提出另一种检测电极配置，如图7D所示。请参照图7D，检测电极布满整个软性显示面板区域，在本实施例中，一组检测电极的区域范围大于一个像素区域，此配置可视***所需判断精准度来配置，本揭露并不以为限。
图8为本揭露控制电路210的示意图，控制电路210中包括一记忆模块810、一控制处理模块820、一信号处理模块830、与一判断模块840。该控制电路210可以运用于图4A至图4C的挠曲感测方法。当然，控制电路210还可以运用于本揭露的软性显示面板及其挠曲感测方法。
图9为依据本揭露图7D搭配图8控制电路而运用于软性显示面板的挠曲感测方法。首先，***启动后，控制电路210执行校正对照表的程序(步骤S910)，对照表存储于记忆模块810中，对照表可先离线测试后存储于记忆模块810中，并在软性显示面板启动时，进行校正动作，以去除环境噪声影响，然而此步骤也可略过，直接采用原存在记忆模块810中的对照表。
接着，控制处理模块820根据检测信号产生状态变化事件(步骤S912)，经由信号处理模块830处理由检测电极接收到的检测信号，例如将检测电极接收到的模拟信号转为数字信号，并将信号做归一化处理。
接着，判断模块820判断检测信号之间的关系(步骤S914)。在此步骤中，将处理后的检测信号与对照表比对，以决定检测信号之间的关系为挠曲事件或触控事件(步骤S916)。
当判断模块820确定为挠曲事件时，将触发挠曲事件并传送至控制处理模块820(步骤S918)，此时判断模块840同时将挠曲方向及角度等信息传送给控制处理模块820，供控制处理模块820做后续相关动作。
反之，当判断模块820确定为触控事件时，将触发触控事件信号传送至控制处理模块820(步骤S920)，此时判断模块840同时将触控点位置相关信息传送给控制处理模块820，供控制处理模块820做后续相关动作。
接着，控制处理模块820将目前的检测信号更新为参考信号(步骤S922)并存储在记忆模块810
接着，控制处理模块820继续接收检测信号(步骤S924)，而判断模块840持续判断参考信号与检测信号是否相同(步骤926)。当参考信号与检测信号相同时，回到步骤S924并持续进行动态检测；反之，当参考信号与检测信号不相同时，则产生状态变化事件(步骤S928)，并且回到步骤S914。
本揭露的特点在于提出一种运用于软性显示面板的挠曲传感器与挠曲感测方法。在触控式面板上设计多个检测电极作为挠曲传感器。当触控式面板搭配软性显示面板并进行挠曲的过程时，将造成成触控式面板上的电场或磁场变化，使得多个检测电极产生多个检测信号。而根据多个检测信号，后端控制电路即可据以决定软性显示面板的挠曲状态。此挠曲状态可为挠曲方向或者挠曲角度。
综上所述，虽然本揭露已以优选实施例公开如上，然其并非用以限定本揭露。本揭露所属技术领域的技术人员，在不脱离本揭露的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本揭露的保护范围当视所附权利要求书界定范围为准。
Claims (31)
1.一种运用于软性显示面板的挠曲传感器，包含：
多个检测电极，配置在一触控显示面板上，且该触控显示面板搭配在该软性显示面板，其中，该些检测电极根据一电场或一磁场的变化对应地产生多个检测信号；以及
一控制电路，接收该些检测信号，并据以判断该软性显示面板的一挠曲状态。
2.如权利要求1所述的挠曲传感器，其中该些检测电极的材料为铟锡氧化膜、铜箔、纳米银线、半导体材料。
3.如权利要求1所述的挠曲传感器，其中该控制电路接收该些检测信号，进而判断该触控显示面板发生一触控事件或者一挠曲事件。
4.如权利要求3所述的挠曲传感器，其中该控制电路判断发生该触控事件时，根据该些检测信号决定一触控点位置。
5.如权利要求3所述的挠曲传感器，其中该控制电路判断发生该挠曲事件时，将一挠曲计数器的数值加1。
6.如权利要求3所述的挠曲传感器，其中该控制电路根据该些检测信号，决定该软性显示面板的一挠曲方向或者一挠曲角度。
7.如权利要求6所述的挠曲传感器，其中该控制电路利用一对应关系，并据以将该些检测信号对应至该挠曲方向或者该挠曲角度。
8.如权利要求7所述的挠曲传感器，其中该对应关系由一对照表来实现。
9.如权利要求7所述的挠曲传感器，其中该对应关系由一***闭回路电路来实现。
10.如权利要求9所述的挠曲传感器，其中该***闭回路电路包括：
一参考模型，接收该些检测信号，以产生一参考模型输出信号；
一控制单元，接收该些检测信号，以产生控制单元输出信号Yn；
一卷积单元，接收该考模型输出信号与该控制单元输出信号，产生一决定信号与一反馈信号；以及
一参数调整器，接收该反馈信号来调整该控制单元中的多个控制参数，并更新该控制单元输出信号；
其中，该决定信号表示该挠曲方向或者该挠曲角度。
11.一种运用于软性显示面板的挠曲感测方法，该软性显示面上具有多个检测电极，可因应一电场或一磁场改变产生多个检测信号，该挠曲感测方法包含下列步骤：
(a)根据该些检测信号产生一状态变化事件；
(b)判断该些检测信号之间的关系以决定为一挠曲事件；以及
(c)进行对应的一控制动作。
12.如权利要求11所述的挠曲感测方法，其中步骤(a)还包括下列步骤：
(a1)将该些检测信号进行归一化；
(a2)判断是否产生该状态变化事件；以及
(a3)如果否，则回到步骤(a2)；如果是，则产生该状态变化事件。
13.如权利要求11所述的挠曲感测方法，其中步骤(c)还包括下列步骤：
(c1)在确定为该挠曲事件时，触发该挠曲事件；以及
(c2)在确定为该触控事件时，触发该触控事件。
14.如权利要求11所述的挠曲感测方法，其中在确定为该挠曲事件时还将一挠曲计数器的数值加1。
15.如权利要求14所述的挠曲感测方法，其中根据该挠曲计数器的数值更新该软性显示面板的一显示参数或者一感测参数。
16.如权利要求11所述的挠曲感测方法，其中步骤(b)中还包括：判断该些检测信号之间的关系以决定为一触控事件，且在触发该触控事件时，根据该些检测信号决定一触控点位置。
17.如权利要求11所述的挠曲感测方法，其中在触发该挠曲事件时，根据该些检测信号，决定该软性显示面板的一挠曲方向或者一挠曲角度。
18.如权利要求17所述的挠曲感测方法，其中还包括：根据一对应关系，将该些检测信号对应至该挠曲方向或者该挠曲角度。
19.如权利要求18所述的挠曲感测方法，其中该对应关系由一对照表来实现。
20.如权利要求18所述的挠曲感测方法，其中该对应关系由一***闭回路电路来实现。
21.如权利要求20所述的挠曲感测方法，其中该***闭回路电路包括：
一参考模型，接收该些检测信号，以产生一参考模型输出信号；
一控制单元，接收该些检测信号，以产生控制单元输出信号Yn；
一卷积单元，接收该考模型输出信号与该控制单元输出信号，产生一决定信号与一反馈信号；以及
一参数调整器，接收该反馈信号来调整该控制单元中的多个控制参数，并更新该控制单元输出信号；
其中，该决定信号表示该挠曲方向或者该挠曲角度。
22.一种运用于软性显示面板的挠曲感测***，包含：
一触控显示面板，搭配在该软性显示面板，其中，该触控显示面板上包括多个检测电极，该些检测电极根据一电场或一磁场的变化对应地产生多个检测信号；以及
一控制电路，接收该些检测信号，并根据该些检测信号产生一状态变化事件；
其中，在产生该状态变化事件时，该控制电路根据该些检测信号之间的关系，决定为一挠曲事件。
23.如权利要求22所述的挠曲感测***，其中该控制电路包括一记忆模块、一控制处理模块、一信号处理模块、以及一判断模块。
24.如权利要求23所述的挠曲感测***，其中该记忆模块中存储一对应关系，使得该判断模块据以将该些检测信号对应至该挠曲事件或一触控事件。
25.如权利要求24所述的挠曲感测***，其中该控制处理模块根据该些检测信号产生该状态变化事件，并将该些检测信号做归一化处理。
26.如权利要求25所述的挠曲感测***，其中该控制电路在确定为该挠曲事件时，触发该挠曲事件；以及在确定为该触控事件时，触发该触控事件。
27.如权利要求26所述的挠曲感测***，其中该控制电路在触发该挠曲事件以及触发该触控事件后，将该些检测信号更新为一参考信号。
28.如权利要求27所述的挠曲感测***，其中该控制电路还将该些参考信号比对于新接收的该些检测信号；并且在该些参考信号与新接收的该些检测信号有异时，产生该状态变化事件。
29.如权利要求24所述的挠曲感测***，其中该控制电路判断发生该触控事件时，根据该些检测信号决定一触控点位置。
30.如权利要求24所述的挠曲感测***，其中该控制电路判断发生该挠曲事件时，将一挠曲计数器的数值加1。
31.如权利要求24所述的挠曲感测***，其中该控制电路根据该些检测信号，决定该软性显示面板的一挠曲方向或者一挠曲角度。
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