CN104538501A - N型双面电池及其制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种N型双面电池及其制作方法,其中,制作方法包括如下步骤:S1.制绒处理;S2.通过旋涂或丝网印刷的方式在所述N型硅片的上表面均匀涂上硼源,并在炉管中进行硼扩散;S3.制作掩膜;S4.在N型硅片的下表面进行磷扩散,在下表面形成高低结结构;S5.去所述除磷硅玻璃,以及所述步骤S3中制作的掩膜;S6.在扩散硼的表面制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,在扩散磷的表面制作氮化硅钝化减反膜;S7.制作电极。本发明的N型双面电池的制作方法工艺简单,有效地提高了电池的效率。此外,本发明的N型双面电池的钝化层制作方法属于低温工艺,不会破坏PN结。
Description
技术领域
本发明涉及一种太阳能技术领域,具体地,涉及一种N型双面电池及其制作方法。
背景技术
N型电池和P型电池都属于太阳能电池,其中,N型电池N型电池相对于P型电池具有少子寿命高,电池效率更高,无光致衰减效应的优点。对于双面透光的N型电池,其背面也能吸收周围散射的光线,从而产生额外的电能,因此N型双面电池的发电量要远高于传统的P型单面电池。
目前,N型双面电池工艺中,采用气体携带三溴化硼蒸汽的方式进行扩散,为了保证硼源有足够的空间散布到硅片上,将会导致产能受到限制。且上述扩散方式中,在非扩硼面也会不可避免的沾染到硼源,形成PN结。从而,后期需要额外的清洗步骤去除,影响了生产加工的效率。
另外,对于P型表面(扩硼面)的钝化及减反射,主要通过制作氮化硅或氧化硅实现的。但是,其中,氮化硅的方式由于氮化硅带正电荷,对P型表面的钝化效果很差;氧化硅采用的是热氧化硅的方式,该方式是800℃以上的高温过程,能耗高且容易破坏已形成的PN结形貌,工艺较难把控。
因此,针对上述问题,有必要提出进一步的解决方案。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种N型双面电池及其制作方法,以克服现有技术中存在的不足。
为了实现上述目的,本发明提供的N型双面电的制作方法的技术方案如下:
一种N型双面电池的制作方法,其包括如下步骤:
S1.利用碱溶液对N型硅片的上、下表面进行处理;
S2.通过旋涂或丝网印刷的方式在所述N型硅片的上表面均匀涂上硼源,并在炉管中进行硼扩散;
S3.去除硼硅玻璃,并在扩散硼的表面制作掩膜;
S4.在N型硅片的下表面进行磷扩散,在下表面形成高低结结构;
S5.去所述除磷硅玻璃,以及所述步骤S3中制作的掩膜;
S6.在扩散硼的表面制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,在扩散磷的表面制作氮化硅钝化减反膜;
S7.分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作电极,获得所述N型双面电池。
作为本发明的N型双面电池的制作方法的改进,所述步骤S1中,利用NaOH溶液去除损伤层,并在N型硅片的上、下表面进行制绒处理。
作为本发明的N型双面电池的制作方法的改进,所述步骤S2中,在炉管中进行硼扩散是在氧气和氮气形成的混合气气氛下进行的,其中,氧气与氮气的体积比为1:5~1:20;
在炉管中进行硼扩散的条件为:扩散温度为850~1100℃,扩散时间为45min~2h,扩散方阻为40~100Ω。
作为本发明的N型双面电池的制作方法的改进,所述步骤S3中,采用HF溶液清洗去除硼硅玻璃,并采用PECVD法在扩散硼的表面制作氧化硅或氮化硅形成的掩膜。
作为本发明的N型双面电池的制作方法的改进,所述步骤S4中,进行磷扩散的条件为:扩散温度为800~900℃,扩散时间为30min~2h,扩散方阻为20~60Ω。
作为本发明的N型双面电池的制作方法的改进,所述步骤S6中,采用PECVD或ALD法制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,采用PECVD法制作氮化硅钝化减反膜。
作为本发明的N型双面电池的制作方法的改进,所述步骤S7中,采用丝网印刷的方式,分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作栅线状的电极,并烧结。
为了实现上述目的,本发明提供的N型双面电技术方案如下:
一种N型双面电池,其包括:N型硅片衬底、P型层、第一钝化减反膜、N+层、第二钝化减反膜、栅线电极;
所述P型层、第一钝化减反膜依次设置于所述N型硅片衬底的上表面,所述第一钝化减反膜包括氧化铝和氮化硅,所述氧化铝和氮化硅依次层叠设置于所述P型层上;
所述N+层、第二钝化减反膜依次设置于所述N型硅片衬底的下表面,所述第二钝化减反膜为氮化硅钝化减反膜;
所述栅线电极为若干条,所述栅线电极分别分布于所述第一钝化减反膜和第二钝化减反膜上,所述栅线电极包括主栅线电极和副栅线电极,位于第一钝化减反膜和第二钝化减反膜上的主栅线电极对称设置。
作为本发明的N型双面电池的改进,所述第一钝化减反膜的厚度为70~90nm,所述第一钝化减反膜中氧化铝的厚度为5~30nm,氮化硅的厚度为40~85nm。
作为本发明的N型双面电池的改进,所述栅线电极为若干条,所述栅线电极分别分布于所述第一钝化减反膜和第二钝化减反膜上,所述栅线电极包括主栅线电极和副栅线电极,位于第一钝化减反膜和第二钝化减反膜上的主栅线电极对称设置。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明的N型双面电池的制作方法工艺简单,有效地提高了电池的效率。其能够保证扩散的均匀性,且使得扩散时炉管的产能得到提高。同时,还能够有效控制硼源的涂布范围,在非扩散区域不会沾染到硼源,省去了后期的额外清洗步骤。
此外,此外,本发明的N型双面电池的钝化层制作方法属于低温工艺,不会破坏PN结。且其采用钝化效果更好的氧化铝与氮化硅叠层钝化的方式,其中,氧化铝起到钝化作用,氮化硅起到保护及调整光学参数,降低反射率的作用。
附图说明
图1为本发明的N型双面电池的制作过程中N型硅片的平面示意图;
图2为本发明的N型双面电池的制作过程中N型硅片上表面均匀涂上硼源后的平面示意图;
图3为本发明的N型双面电池的制作过程中N型硅片上表面形成P型层后的平面示意图;
图4为本发明的N型双面电池的制作过程中P型层上制作掩膜后的平面示意图;
图5为本发明的N型双面电池的制作过程中N型硅片下表面形成N+层后的平面示意图;
图6为本发明的N型双面电池的制作过程中去除掩膜后的平面示意图;
图7为本发明的N型双面电池的制作过程中在扩散硼的表面制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜后的平面示意图;
图8为图7中部分结构的放大示意图;
图9为本发明的N型双面电池的制作过程中扩散磷的表面制作氮化硅钝化减反膜后的平面示意图;
图10为本发明的N型双面电池的制作过程中制作电极后的平面示意图。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行详细的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的N型双面电池的制作方法包括如下步骤:
S1.利用碱溶液对N型硅片的上、下表面进行处理;
S2.通过旋涂或丝网印刷的方式在所述N型硅片的上表面均匀涂上硼源,并在炉管中进行硼扩散;
S3.去除硼硅玻璃,并在扩散硼的表面制作掩膜;
S4.在N型硅片的下表面进行磷扩散,在下表面形成高低结结构;
S5.去所述除磷硅玻璃,以及所述步骤S3中制作的掩膜;
S6.在扩散硼的表面制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,在扩散磷的表面制作氮化硅钝化减反膜;
S7.分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作电极,获得所述N型双面电池。
下面针对如上所述各个步骤进行详细说明。
如图1所示,S1.利用碱溶液对N型硅片的上、下表面进行处理。
其中,步骤S1的目的在于在N型硅片上进行制绒处理,以提高制作的N型双面电池陷光性以及对于太阳光的利用率。具体地,所述步骤S1中,利用NaOH溶液去除损伤层,并在N型硅片的上、下表面进行制绒处理。经过制绒处理,N型硅片的上、下表面上分别形成绒面,该绒面具有金字塔结构。
如图2、3所示,S2.通过旋涂或丝网印刷的方式在所述N型硅片的上表面均匀涂上硼源,并在炉管中进行硼扩散,从而在N型硅片的上表面形成P型层。
其中,由于采用旋涂或丝网印刷的方式,如此保证了每片硅片的相应表面上能够均匀覆盖等量硼源,保证了扩散的均匀性。同时,本实施方式中,当存在多个硅片时,多个硅片在炉管中进行硼扩散,各个硅片之间无需保留大量的空间,如此保证了所在炉管具有较高的产能。
进一步地,在炉管中进行硼扩散时,是在氧气和氮气形成的混合气气氛下进行的,其中,氧气与氮气的体积比为1:5~1:20。进一步地,在炉管中进行硼扩散的条件为:扩散温度为850~1100℃,扩散时间为45min~2h,扩散方阻为40~100Ω。
如图4所示,S3.去除硼硅玻璃,并在扩散硼的表面制作掩膜。
其中,硼硅玻璃是在进行硼扩散过程中形成的副产物,可采用HF溶液清洗去除硼硅玻璃。并采用PECVD法在扩散硼的表面制作氧化硅或氮化硅形成的掩膜,以对扩散硼的表面进行保护,防止后续制作步骤影响到扩散硼的表面。
如图5所示,S4.在N型硅片的下表面进行磷扩散,在下表面形成高低结结构。
其中,高低结结构为N型双面电池的N+层,进一步地,进行磷扩散采用液态三氯氧磷作为磷源。进行磷扩散的条件为:扩散温度为800~900℃,扩散时间为30min~2h,扩散方阻为20~60Ω。
如图6所示,S5.去所述除磷硅玻璃,以及所述步骤S3中制作的掩膜。
其中,磷硅玻璃是在进行磷扩散过程中形成的副产物,可采用HF溶液清洗去除硼硅玻璃。此外,在去除磷硅玻璃的同时,HF溶液将步骤S3中制作的掩膜也一同去除,从而暴露出制作的P型层。
如图7-9所示,S6.在扩散硼的表面制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,在扩散磷的表面制作氮化硅钝化减反膜。
其中,本实施方式采用氧化铝与氮化硅的叠层钝化的方式,其中,氧化铝起到钝化作用,氮化硅起到保护及调整光学参数,降低反射率的作用。具体地,可采用PECVD或ALD法制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,采用PECVD法制作氮化硅钝化减反膜。进一步地,氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜的厚度为70~90nm,其中氧化铝的厚度为5~30nm,氮化硅的厚度为40~85nm。
如图10所示,S7.分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作电极,获得所述N型双面电池。
其中,采用丝网印刷的方式,分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作栅线状的电极,并烧结。优选地,氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上的电极的位置相对设置。
进一步如图8、10所示,基于相同的技术构思,本发明还提供一种根据如上所述制作方法制作的N型双面电池,其包括:N型硅片衬底10、P型层20、第一钝化减反膜30、N+层40、第二钝化减反膜50、栅线电极60。
具体地,N型硅片衬底10的上下表面具有绒面,该绒面具有金字塔结构。
所述P型层20、第一钝化减反膜30依次设置于所述N型硅片衬底10的上表面,所述第一钝化减反膜30包括氧化铝31和氮化硅32,所述氧化铝31和氮化硅32依次层叠设置于所述P型层20上。氧化铝31和氮化硅32通过层叠方式形成的第一钝化减反膜30具有较好的钝化效果。本实施方式中,所述第一钝化减反膜30的厚度为70~90nm,所述第一钝化减反膜30中氧化铝31的厚度为5~30nm,氮化硅32的厚度为40~85nm。
所述N+层40、第二钝化减反膜50依次设置于所述N型硅片衬底10的下表面,也即述N型硅片衬底10的背面。且所述第二钝化减反膜50可以为氮化硅钝化减反膜。
所述栅线电极60为若干条,所述栅线电极60分别分布于所述第一钝化减反膜30和第二钝化减反膜50上,以便引出形成的电流。所述栅线电极60具体包括主栅线电极和副栅线电极优选地,位于第一钝化减反膜30和第二钝化减反膜50上的栅线电极60对称设置。其中,所述主栅线电极的根数为2~5根,宽度为0.5mm~2.5mm;所述副栅线电极的根数为50~150根,宽度为30um~150um。
综上所述,本发明的N型双面电池的制作方法工艺简单,有效地提高了电池的效率。其能够保证扩散的均匀性,且使得扩散时炉管的产能得到提高。同时,还能够有效控制硼源的涂布范围,在非扩散区域不会沾染到硼源,省去了后期的额外清洗步骤。
此外,此外,本发明的N型双面电池的钝化层制作方法属于低温工艺,不会破坏PN结。且其采用钝化效果更好的氧化铝与氮化硅叠层钝化的方式,其中,氧化铝起到钝化作用,氮化硅起到保护及调整光学参数,降低反射率的作用。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (10)
1.一种N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述N型双面电池的制作方法包括如下步骤:
S1.利用碱溶液对N型硅片的上、下表面进行处理;
S2.通过旋涂或丝网印刷的方式在所述N型硅片的上表面均匀涂上硼源,并在炉管中进行硼扩散;
S3.去除硼硅玻璃,并在扩散硼的表面制作掩膜;
S4.在N型硅片的下表面进行磷扩散,在下表面形成高低结结构;
S5.去所述除磷硅玻璃,以及所述步骤S3中制作的掩膜;
S6.在扩散硼的表面制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,在扩散磷的表面制作氮化硅钝化减反膜;
S7.分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作电极,获得所述N型双面电池。
2.根据权利要求1所述的N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述步骤S1中,利用NaOH溶液去除损伤层,并在N型硅片的上、下表面进行制绒处理。
3.根据权利要求1所述的N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述步骤S2中,在炉管中进行硼扩散是在氧气和氮气形成的混合气气氛下进行的,其中,氧气与氮气的体积比为1:5~1:20;
在炉管中进行硼扩散的条件为:扩散温度为850~1100℃,扩散时间为45min~2h,扩散方阻为40~100Ω。
4.根据权利要求1所述的N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述步骤S3中,采用HF溶液清洗去除硼硅玻璃,并采用PECVD法在扩散硼的表面制作氧化硅或氮化硅形成的掩膜。
5.根据权利要求1所述的N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述步骤S4中,进行磷扩散的条件为:扩散温度为800~900℃,扩散时间为30min~2h,扩散方阻为20~60Ω。
6.根据权利要求1所述的N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述步骤S6中,采用PECVD或ALD法制作氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜,采用PECVD法制作氮化硅钝化减反膜。
7.根据权利要求1所述的N型双面电池的制作方法,其特征在于,所述步骤S7中,采用丝网印刷的方式,分别在所述氧化铝和氮化硅形成的钝化减反膜以及氮化硅钝化减反膜上制作栅线状的电极,并烧结。
8.一种根据权利要求1~7任一项所述的制作方法制作的N型双面电池,其特征在于,所述N型双面电池包括:N型硅片衬底、P型层、第一钝化减反膜、N+层、第二钝化减反膜、栅线电极;
所述P型层、第一钝化减反膜依次设置于所述N型硅片衬底的上表面,所述第一钝化减反膜包括氧化铝和氮化硅,所述氧化铝和氮化硅依次层叠设置于所述P型层上;
所述N+层、第二钝化减反膜依次设置于所述N型硅片衬底的下表面,所述第二钝化减反膜为氮化硅钝化减反膜;
所述栅线电极为若干条,所述栅线电极分别分布于所述第一钝化减反膜和第二钝化减反膜上,所述栅线电极包括主栅线电极和副栅线电极,位于第一钝化减反膜和第二钝化减反膜上的主栅线电极对称设置。
9.根据权利要求8所述的N型双面电池,其特征在于,所述第一钝化减反膜的厚度为70~90nm,所述第一钝化减反膜中氧化铝的厚度为5~30nm,氮化硅的厚度为40~85nm。
10.根据权利要求8所述的N型双面电池,其特征在于,所述主栅线电极的根数为2~5根,宽度为0.5mm~2.5mm;所述副栅线电极的根数为50~150根,宽度为30um~150um。
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Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105047766A (zh) * | 2015-09-07 | 2015-11-11 | 中国东方电气集团有限公司 | 一种制备双面n型晶硅电池的掩膜扩散方法 |
CN105244412A (zh) * | 2015-09-07 | 2016-01-13 | 中国东方电气集团有限公司 | 一种n型晶硅电池硼发射极的钝化方法 |
CN105355711A (zh) * | 2015-10-28 | 2016-02-24 | 华东理工大学 | 一种n型晶体硅双面太阳能电池的制备方法 |
CN105609594A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-05-25 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | N型双面太阳能电池的制备方法 |
WO2016112757A1 (zh) * | 2015-01-15 | 2016-07-21 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种n型双面电池及其制作方法 |
CN105870221A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-08-17 | 浙江晶科能源有限公司 | N型双面电池及其制备方法 |
CN105914239A (zh) * | 2016-04-08 | 2016-08-31 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种n型双面电池的制备方法 |
CN105914255A (zh) * | 2016-04-19 | 2016-08-31 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种太阳能电池及其制作方法 |
CN106409989A (zh) * | 2016-12-16 | 2017-02-15 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种n型双面太阳电池及其制备方法 |
WO2017049801A1 (zh) * | 2015-09-23 | 2017-03-30 | 苏州腾晖光伏技术有限公司 | 硅片表面钝化方法及n型双面电池的制作方法 |
CN106876519A (zh) * | 2017-01-20 | 2017-06-20 | 广东爱康太阳能科技有限公司 | 一种三氧化二铝钝化n型双面晶硅太阳能电池制备方法 |
EP3188258A1 (en) * | 2015-12-28 | 2017-07-05 | Inventec Solar Energy Corporation | Method of forming a bifacial solar cell structure |
CN107068804A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-18 | 山东力诺太阳能电力股份有限公司 | 一种在n型硅衬底上制备太阳能电池的方法 |
WO2018040990A1 (zh) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | 东丽先端材料研究开发(中国)有限公司 | 聚硅氧烷、半导体用材料、半导体及太阳能电池制备方法 |
CN109308994A (zh) * | 2017-07-26 | 2019-02-05 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种采用丝网印刷技术进行硅片涂源工艺 |
CN109755116A (zh) * | 2017-11-01 | 2019-05-14 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种采用印刷工艺制作单向tvs芯片的方法 |
CN109755114A (zh) * | 2017-11-01 | 2019-05-14 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种双向tvs芯片玻钝前双面扩散工艺 |
CN109755118A (zh) * | 2017-11-01 | 2019-05-14 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种frgpp芯片玻钝前多重扩散工艺 |
CN109755117A (zh) * | 2017-11-01 | 2019-05-14 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种采用印刷工艺制作frgpp芯片的方法 |
CN112582620A (zh) * | 2020-12-14 | 2021-03-30 | 陕西科技大学 | 一种碳包覆硅纳米颗粒材料及其制备方法和应用 |
CN112599410A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-02 | 上海玻纳电子科技有限公司 | 提高n型单晶硅片硼扩散的方法 |
CN115125510A (zh) * | 2022-06-22 | 2022-09-30 | 中威新能源(成都)有限公司 | 化学气相沉积方法、载具、电池片及异质结电池 |
CN115274913A (zh) * | 2021-04-30 | 2022-11-01 | 泰州中来光电科技有限公司 | 一种带有钝化接触结构的ibc太阳电池的制备方法及电池、组件和*** |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107394006B (zh) * | 2017-07-19 | 2019-07-16 | 晶科能源有限公司 | 一种n型双面电池制备方法 |
CN110993722A (zh) * | 2019-10-12 | 2020-04-10 | 开封大学 | 一种晶体硅太阳电池的硼扩散背钝化工艺 |
CN113488384B (zh) * | 2021-06-28 | 2022-09-02 | 西安隆基乐叶光伏科技有限公司 | 一种太阳能电池及其制造方法 |
CN117038744A (zh) * | 2021-09-06 | 2023-11-10 | 上海晶科绿能企业管理有限公司 | 太阳能电池及光伏组件 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101692466A (zh) * | 2009-09-17 | 2010-04-07 | 中电电气(南京)光伏有限公司 | 基于丝网印刷工艺的制作高效双面n型晶体硅太阳电池的方法 |
CN102769069A (zh) * | 2012-07-16 | 2012-11-07 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 一种晶体硅太阳能电池的硼扩散方法 |
CN102766908A (zh) * | 2012-07-25 | 2012-11-07 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 晶体硅太阳能电池的硼扩散方法 |
CN103077984A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-05-01 | 浙江金贝能源科技有限公司 | 一种n型硅衬底的双pin结双面太阳能电池 |
CN103632933A (zh) * | 2013-11-29 | 2014-03-12 | 英利集团有限公司 | N型硅片的硼扩散方法、晶体硅太阳能电池及其制作方法 |
CN103632934A (zh) * | 2013-11-29 | 2014-03-12 | 英利集团有限公司 | N型硅片的硼扩散方法、晶体硅太阳能电池及其制作方法 |
CN103996721A (zh) * | 2014-05-16 | 2014-08-20 | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 | N型晶体硅双面电池及其制备方法 |
CN104157740A (zh) * | 2014-09-03 | 2014-11-19 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 一种n型双面太阳能电池的制备方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201699033U (zh) * | 2010-03-30 | 2011-01-05 | 杨乐 | 双面受光型晶体硅太阳能电池 |
CN103151427A (zh) * | 2013-03-25 | 2013-06-12 | 泰通(泰州)工业有限公司 | 一种双面电池的制备工艺 |
CN104009118B (zh) * | 2014-05-22 | 2016-08-17 | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 | 一种高效n型晶体硅刻槽埋栅电池的制备方法 |
CN104538501A (zh) * | 2015-01-15 | 2015-04-22 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | N型双面电池及其制作方法 |
-
2015
- 2015-01-15 CN CN201510020649.4A patent/CN104538501A/zh active Pending
- 2015-12-08 EP EP15877668.2A patent/EP3246954B1/en active Active
- 2015-12-08 WO PCT/CN2015/096630 patent/WO2016112757A1/zh active Application Filing
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101692466A (zh) * | 2009-09-17 | 2010-04-07 | 中电电气(南京)光伏有限公司 | 基于丝网印刷工艺的制作高效双面n型晶体硅太阳电池的方法 |
CN102769069A (zh) * | 2012-07-16 | 2012-11-07 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 一种晶体硅太阳能电池的硼扩散方法 |
CN102766908A (zh) * | 2012-07-25 | 2012-11-07 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 晶体硅太阳能电池的硼扩散方法 |
CN103077984A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-05-01 | 浙江金贝能源科技有限公司 | 一种n型硅衬底的双pin结双面太阳能电池 |
CN103632933A (zh) * | 2013-11-29 | 2014-03-12 | 英利集团有限公司 | N型硅片的硼扩散方法、晶体硅太阳能电池及其制作方法 |
CN103632934A (zh) * | 2013-11-29 | 2014-03-12 | 英利集团有限公司 | N型硅片的硼扩散方法、晶体硅太阳能电池及其制作方法 |
CN103996721A (zh) * | 2014-05-16 | 2014-08-20 | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 | N型晶体硅双面电池及其制备方法 |
CN104157740A (zh) * | 2014-09-03 | 2014-11-19 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 一种n型双面太阳能电池的制备方法 |
Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016112757A1 (zh) * | 2015-01-15 | 2016-07-21 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种n型双面电池及其制作方法 |
CN105244412B (zh) * | 2015-09-07 | 2017-05-31 | 中国东方电气集团有限公司 | 一种n型晶硅电池硼发射极的钝化方法 |
CN105244412A (zh) * | 2015-09-07 | 2016-01-13 | 中国东方电气集团有限公司 | 一种n型晶硅电池硼发射极的钝化方法 |
CN105047766A (zh) * | 2015-09-07 | 2015-11-11 | 中国东方电气集团有限公司 | 一种制备双面n型晶硅电池的掩膜扩散方法 |
WO2017049801A1 (zh) * | 2015-09-23 | 2017-03-30 | 苏州腾晖光伏技术有限公司 | 硅片表面钝化方法及n型双面电池的制作方法 |
CN105355711A (zh) * | 2015-10-28 | 2016-02-24 | 华东理工大学 | 一种n型晶体硅双面太阳能电池的制备方法 |
TWI607580B (zh) * | 2015-12-28 | 2017-12-01 | 英穩達科技股份有限公司 | 雙面型太陽能電池結構的製造方法 |
CN106997914A (zh) * | 2015-12-28 | 2017-08-01 | 英稳达科技股份有限公司 | 双面型太阳能电池结构的制造方法 |
JP2017120909A (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 英▲穏▼達科技股▲ふん▼有限公司Inventec Solar EnergyCorporation | 両面型太陽電池構造の製造方法 |
EP3188258A1 (en) * | 2015-12-28 | 2017-07-05 | Inventec Solar Energy Corporation | Method of forming a bifacial solar cell structure |
CN105609594B (zh) * | 2016-03-22 | 2017-08-15 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | N型双面太阳能电池的制备方法 |
CN105609594A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-05-25 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | N型双面太阳能电池的制备方法 |
CN105914239A (zh) * | 2016-04-08 | 2016-08-31 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种n型双面电池的制备方法 |
CN105914239B (zh) * | 2016-04-08 | 2018-03-06 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种n型双面电池的制备方法 |
CN105914255A (zh) * | 2016-04-19 | 2016-08-31 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种太阳能电池及其制作方法 |
CN105870221A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-08-17 | 浙江晶科能源有限公司 | N型双面电池及其制备方法 |
US10738218B2 (en) | 2016-08-31 | 2020-08-11 | Toray Industries, Inc. | Polysiloxane, material for semiconductor, and preparation method for semiconductor and solar cell |
WO2018040990A1 (zh) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | 东丽先端材料研究开发(中国)有限公司 | 聚硅氧烷、半导体用材料、半导体及太阳能电池制备方法 |
CN106409989A (zh) * | 2016-12-16 | 2017-02-15 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种n型双面太阳电池及其制备方法 |
CN106876519A (zh) * | 2017-01-20 | 2017-06-20 | 广东爱康太阳能科技有限公司 | 一种三氧化二铝钝化n型双面晶硅太阳能电池制备方法 |
CN107068804A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-18 | 山东力诺太阳能电力股份有限公司 | 一种在n型硅衬底上制备太阳能电池的方法 |
CN109308994A (zh) * | 2017-07-26 | 2019-02-05 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种采用丝网印刷技术进行硅片涂源工艺 |
CN109755116B (zh) * | 2017-11-01 | 2022-09-23 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种采用印刷工艺制作单向tvs芯片的方法 |
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CN109755118A (zh) * | 2017-11-01 | 2019-05-14 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种frgpp芯片玻钝前多重扩散工艺 |
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CN109755116A (zh) * | 2017-11-01 | 2019-05-14 | 天津环鑫科技发展有限公司 | 一种采用印刷工艺制作单向tvs芯片的方法 |
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