CN103837715A - 夹具 - Google Patents
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Abstract
本发明的夹具包含一端与基板的电路图案接触,另一端与判断所述电路图案有无异常的***连接的探针及导引所述探针,设置在基台且所述基台在固定的状态下与所述探针垂直的方向改变位置,以所述改变位置将所述导引的所述探针位置改变成所述电路图案的目标位置的块体单位,因此根据基板电路图案的公差可容易改变探针的位置。
Description
技术领域
本发明涉及用于电路图案通电检查的夹具。
背景技术
在印刷电路板制造领域或半导体制造领域通常采用对基板进行测定、处理或检查等等。
对基板表面形成的电路图案进行精密的测定、处理、检查等时,要求基板电路图案的公差最小化。
然而,实际上很难完全排除治具的公差,基板材料的公差,图案的公差。由于这些公差,利用夹具对基板电路图案可能无法进行可靠的通电检查。
在韩国注册专利公报第0809648号揭示维持基板的平坦对电路图案进行检查的基板夹具。但并没有揭示由于公差使电路图案检查受限的相应对策。
先行技术文献
专利文献
韩国注册专利公报第0809648号
发明内容
发明需要解决的技术课题
本发明的目的是提供可靠地进行电路图案通电检查的夹具。
本发明的目的是达成如上所述的技术课题,但并不受限于所述技术课题,对没有提过的其它技术课题通过以下的记载可由在本发明技术领域具有通常知识的技术人员应该明确理解。
解决课题的技术方案
本发明的夹具可以包含其一端与基板的电路图案接触,另一端与判断所述电路图案有无异常的***连接的探针及导引所述探针,设置在基台且所述基台在固定的状态下与所述探针垂直的方向改变位置,以所述改变位置将所述导引的所述探针位置改变成所述电路图案的目标位置的块体单位。
本发明的效果如下。
本发明的夹具在固定基台的状态下改变块体单位的位置,根据基板电路图案的公差可容易改变探针的位置。
因此,可以可靠地防止跟着公差不能完成电路图案检查的问题。这种效果通过将导引探针的块体单位分成复数个块体并使各块体分别独立地改变位置可更加改进。
附图说明
图1是本发明夹具的示意图。
图2是本发明夹具的锁块体和底板块体的拆装结构示意图。
图3是构成本发明夹具的探针的截面示意图。
图中:
100-探针,111-第1探针,112-第2探针,113-弹性部,130-块体单位,131-锁块体,132-底板块体,133-第1槽,135-第2槽,139-连接部,150-基台,170-支持部,190-信号线,210-基板。
具体实施方式
以下,结合附图对本发明的实施例进行详细的说明。在此过程中附图上显示的构成因素的大小或形象等为了说明的明确性和方便性可以扩大显示。另外,考量本发明的构成及作用,特别定义的术语根据使用者、运行者的意图或惯例可以改变。对这些术语的定义必须根据本说明书全盘的内容下定义。
图1是本发明夹具的示意图。
在图1显示的夹具可以包含探针110和块体单位130。
探针110的一端与基板210的电路图案接触,另一端可与判断电路图案有无异常的***连接。在图1揭示将***和探针110以电气连接的电线等的信号线190与探针110的另一端连接的状态。
例如***为了判断电路图案有无异常,通过与测定的电路图案接触的探针可以施加信号且获得信号。若获得的信号在期待的范围之内判断状态正常,否则可以判断电路图案有异常。
探针110(probe)是测定检测对象电路图案状态的检测器具。探针100根据电路图案可以具有电气特性好的形象。例如一端具有尖锐的形态且根据电路图案的大小可以具有从数十微米单位到数百微米单位的粗细。近来根据各种电子器具小型化、高集成化的趋势基板210的电路图案也微细化的趋势很强。由此探针100的大小也具有像头发一样的粗细或更细的粗细。
电路基板210即使在同一***生产由于多种因素会具有公差。这种公差在微细的电路基板亦然产生。在微细的电路基板210存在公差时探针110可能接触不了初期设计位置的电路图案。这种问题随着电路图案持续的小型化/微细化的趋势以后可能会出现更大的问题。
块体单位130导引探针110。为了使具有多种粗细的复数个探针110接触电路图案利用块体130。在块体单位130上在对应电路图案的位置形成可以放置探针的槽、孔等。在块体单位130形成的槽或孔可以收容探针110。
为了反复的检查复数个基板210,块体单位130设置在固定的基台150上。设置在基台150的块体单位130也固定在同一位置。但是由于块体单位被固定很难对付基板210电路图案的公差。因此,构成本发明夹具的块体单位130在基台150被固定的情况下以垂直于探针的方向可以改变位置。以块体单位130的位置改变将块体单位130导引的探针110位置可以改变成电路图案的目标位置。
探针110以垂直电路图案的方向或是几乎垂直电路图案的方向可与电路图案接触。探针110是直接接触电路图案的因素,所以为了检查必须形成可靠的接触,同时在检查过程中不致使损伤电路图案的形成接触较好。为此探针110可以包含弹簧等的弹性部113。
弹性部113可以具有多种形态。例如在探针110可以设置弹簧,或探针110本身为弹性体。后者的情形可以利用直线或曲线形态的线(wire)探针110。
如前所述根据高集成化、小型化/微细化的电路图案的趋势,探针110要接触的电路图案的宽等以非常小的方向被设计生产。这种小型化/微细化使得在基板210的生产过程中无法控制地产生的公差达到在检查过程中成问题的水准。这种趋势往后更加加速化,因此考量公差需要配置探针110以便可靠地接触电路图案。探针110的配置可由导引探针110的块体单位130来决定。
尤其由于公差成为问题的部分是电路图案对探针110的轴方向具有垂直方向(图1的xy平面方向)公差的情形。因此,构成本发明夹具的块体单位130在与探针110的轴方向垂直的方向可以改变位置。作为以垂直于探针110的方向改变块体单位130位置的方案,可以改变设置块体单位130的基台150位置或直接改变块体单位130的位置。连接齿轮、皮带的基台150的位置改变由于齿轮、皮带等的连接具有公差不符合本发明的目的。
因此,探针110的位置改变通过块体单位130的位置改变来进行较好。块体单位130也可能具有公差,但相较于基台150可以进行更可靠的位置改变。
公差不会在电路基板210的所有电路以同样的方向、同样的数值产生。例如部分区段在原来的探针110位置检查较好,其它区段则考量公差在变更的探针110位置检查较好。由此,整个探针110以同一方向改变位置根据电路基板210的情况可能不太合适。为了对付这种情况将块体单位130分成复数个块体且各块体可以相互独立地改变位置。图1揭示块体单位130分成3个块体的状态。
探针110可以包含一端接触基板210的第1探针111、一端与第1探针111的另一端接触且另一端连接***的第2探针112。
块体单位130可以包含由第1探针111贯穿且以垂直第1探针111的方向能改变位置的锁块体131、收容第2探针且相对锁块体131固定的底板块体132。
在锁块体131形成由第1探针111贯穿的穿孔,在底板块体132形成由第2探针112贯穿的穿孔。这些穿孔决定相关电路图案的探针110位置。
为了对付多种电路图案分成第1探针111和第2探针112的,例如第2探针112配置在整个领域则与第1探针111的个数、位置无关的进行检查。即,只是交换设置有第1探针111的锁块体131就可以检查多种电路图案。
分别交换第1探针111比较困难,所以交换设置有第1探针111的锁块体131整个较好。为此锁块体131可以在底板块体132拆装。此时,底板块体132固定在基台150。在图1揭示底板块体132由支柱或棒形状的支持部170固定在基台150的状态。
锁块体131在固定于基台150的底板块体132以多种方法可以拆装。
例如,锁块体131可以包含在底板块体132相对的面形成的复数个第1拆装部。底板块体132可以包含在锁块体131相对的面形成的复数个第2拆装部。此时,第2拆装部与第1拆装部拆装。拆装锁块体131和底板块体132时不尽拆装所有第1拆装部和所有第2拆装部也无妨。例如在第1拆装部和第2拆装部分别选择相互对应的2个可以进行可靠的拆装。被选择的第1拆装部和第2拆装部的个数超过3个以上也无妨。只用1个拆装部时根据拆装结构以拆装部为轴锁块体131和底板块体132会在水平方向转动,故必须留意。
以选择的第1拆装部和选择的第2拆装部的位置可以决定锁块体131的改变位置。
图2是本发明夹具的锁块体131和底板块体132的拆装结构示意图。
如图2所示,锁块体131可以包含在底板块体132相对的面形成的复数个第1槽133,底板块体132可以包含在锁块体131相对的面形成的复数个第2槽135。
此时,第1槽133相当于第1拆装部,第2槽135相当于第2拆装部。由于夹入在第1槽133和第2槽135中选择的槽的连接部139,锁块体131在底板块体132可以安装或可以拆开。另外,根据夹入连接部139的槽的选择可以完成锁块体131的位置改变。
例如在图2在锁块体131和底板块体132的右侧有形成复数个槽。此时,以块体单位130的长度方向(图1的x轴方向)第1槽133之间的间隔是x1,第2槽135之间的间隔是x2时,x1和x2可以不相等。分别比较连接部139夹入于形成x1的左侧槽和右侧槽时,锁块体131以块体单位130的长度方向如x1和x2相差值的大小会完成位置改变。
同样的,以与块体单位130长度方向垂直的方向(图1的y轴方向)第1槽133之间的间隔是y1,第2槽135之间的间隔是y2时,y1和y2可以不相等。分别比较连接部139夹入于形成y1的上侧槽和下侧槽时,锁块体131以与块体单位130长度方向垂直的方向如y1和y2相差值的大小会完成位置改变。
以上在x1和x2相差值,y1和y2相差值中使至少一个对应公差形成第1槽133和第2槽135时可以解除由公差引起的问题。
锁块体131安装在底板块体132时,第1探针111和第2探针112会相互接触,若锁块体131的位置改变时第1探针111和第2探针112的位置错开不能相互接触。此种问题以下面的方案可以消除。
图3是构成本发明夹具的探针110的截面示意图。
图3的探针110可以包含设置在锁块体131的第1探针111和设置在底板块体132的第2探针112。
第1探针111是直接接触电路图案的因素。第2探针112是连接***的因素。为了电路图案的检查锁块体131和底板块体132在安装的状态下第1探针111的一端和第2探针112的一端要接触。但是,由于形成在各块体单位130的各个拆装部第1探针111和第2探针112中的一个可能会改变位置,即使位置改变必须准备第1探针111和第2探针112相互能接触的手段。
例如在图3与第1探针111端部接触的第2探针112端部的截面积大于第1探针111端部的截面积。
具体地说,第1探针111端部的粗细是w1,第2探针112端部的粗细是w2时,w2的形成大于w1。当然这两个可以相互交换。
w1和w2的相差如前所述可以根据x1和x2的相差,y1和y2的相差等来决定。
另外,在图3弹性部113虽然形成在第2探针112上,但形成在第1探针111或在第1探针111和第2探针112都形成也无妨。或是作为弹性部113不利用额外的弹簧可以利用探针111本身的弹性或探针112本身的弹性。
综合而言,接触第2探针112的第1探针111端部的截面积和接触第1探针111的第2探针112端部的截面积可以相互不相等。各截面积的相差必须考量电路图案的公差,所以各截面积相差可能与改变位置的探针110的改变距离有关。
以上对根据本发明的实施例进行了说明,但这只不过是例示而已,在本领域具有通常知识的技术人员应该理解由此可以实施多种变形及均等范围的实施例。因此,本发明的真正技术保护范围必须根据权利要求书来限定。
Claims (7)
1.一种夹具,其特征是包含:
一端与基板的电路图案接触,另一端与判断所述电路图案有无异常的***连接的探针;及
导引所述探针,设置在基台上且所述基台在固定的状态下,与所述探针垂直的方向改变位置,且以所述改变位置将所述导引的所述探针位置改变成所述电路图案的目标位置的块体单位。
2.根据权利要求1所述的夹具,其特征在于,
所述块体单位分成复数个块体,所述各块体分别独立地改变位置。
3.根据权利要求1所述的夹具,其特征在于,
所述探针包含一端接触所述基板的第1探针,一端与所述第1探针的另一端接触且另一端连接所述***的第2探针,
所述块体单位包含由所述第1探针贯穿且以垂直所述第1探针的方向能改变位置的锁块体,***述第2探针且相对所述锁块体固定的底板块体。
4.根据权利要求3所述的夹具,其特征在于,
所述锁块体在所述底板块体拆装。
5.根据权利要求3所述的夹具,其特征在于,
所述锁块体包含在所述底板块体相对的面形成的复数个第1拆装部,
所述底板块体包含形成在所述锁块体相对的面且在所述第1拆装部拆装的复数个第2拆装部,
被选择的第1拆装部的位置和被选择的第2拆装部的位置来决定所述锁块体的位置改变。
6.根据权利要求3所述的夹具,其特征在于,
所述锁块体包含在所述底板块体相对的面形成的复数个第1槽,
所述底板块体包含在所述锁块体相对的面形成的复数个第2槽,
由于夹入在所述第1槽和所述第2槽中选择的槽的连接部,所述锁块体安装在所述底板块体,决定所述锁块体的位置改变。
7.根据权利要求3所述的夹具,其特征在于,
接触所述第2探针的所述第1探针端部的截面积和接触所述第1探针的所述第2探针端部的截面积相互不相等。
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GR01 | Patent grant |