CN103676236A - 一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 - Google Patents
一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103676236A CN103676236A CN201310700535.5A CN201310700535A CN103676236A CN 103676236 A CN103676236 A CN 103676236A CN 201310700535 A CN201310700535 A CN 201310700535A CN 103676236 A CN103676236 A CN 103676236A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- coordinate
- pixel
- defect pixel
- brightness
- hand edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
本发明公开了一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板,其中方法包括:对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标;根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。该方法能够定位到显示模板上存在的亮点的缺陷像素的中心坐标,实现准确定位,之后根据所得的中心坐标对缺陷像素进行修复,用自动进行的中心坐标定位代替原有的人工对位操作,不仅加快对缺陷像素的修复速度,还能提高修复效率,提高设备的整体效率及产能,同时还能避免由于人工操作产生误差带来的修复不成功的问题,进行自动的中心定位可以提高修复的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种修复缺陷像素的方法、一种修复缺陷像素的***以及一种基于修复缺陷像素的方法进行修复得到的显示面板。
背景技术
在液晶面板的制作工艺过程中,由于线路不良会产生点瑕疵和线瑕疵,在液晶面板制造期间,还会由于灰尘、有机物、金属等杂质被吸附到液晶面板上靠近某些滤色器的区域时,造成相应于这些滤色器的像素会发射出比其余正常像素的亮度明亮得多的光,这称为漏光现象,也就是亮点像素瑕疵。现在正在研究使用激光修复这样的亮点像素瑕疵的方法。
对于亮点像素瑕疵,现有技术采用将像素周边黑矩阵粉碎扩散进而通过物理性挡光的维修方法进行像素瑕疵的修复,设备维修方法为设备定位到缺陷像素,人员手动将黑矩阵扩散激光精确对位至像素区域进行激光照射,激光照射到配向膜使得该配向膜被损坏,以削弱液晶的排列特性的方法降低液晶的透光率,从而消除漏光现象。进行激光照射的同时还在维修过程中进行光亮调节,以便进行维修效果确认。
但是上述方法进行激光对位过程中需要人工手动将激光精确对位到像素区域,光亮调节的过程也需要人工手动进行光亮调节,无法实现对亮点瑕疵像素的自动修复。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是如何实现对亮点瑕疵像素进行自动修复。
(二)技术方案
为解决上述技术问题,本发明提供了一种修复缺陷像素的方法,包括:
对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标;
根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。
进一步地,对所述缺陷像素进行修复之后还包括:
检测所述缺陷像素区域的亮度大小,得到预设亮度;
对所述缺陷像素进行修复之后,对所述缺陷像素未修复区域进行遮挡,以对所述缺陷像素的修复区域进行亮度检测,得到修复亮度;
根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。
进一步地,所述对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标之前还包括,进行缺陷像素定位,得到所述缺陷像素的像素坐标,且所述像素坐标和所述中心坐标不重合。
进一步地,得到所述缺陷像素的像素坐标之后,对缺陷像素进行中心定位具体包括:
以所述像素坐标为中心,向上、向下、向左和向右进行扫描,直到扫描到所述缺陷像素边缘线的上边缘、下边缘、左边缘和右边缘,以获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标;
根据所述上边缘坐标和所述下边缘坐标计算得到所述中心坐标的横坐标,根据所述左边缘坐标和所述右边缘坐标计算得到所述中心坐标的纵坐标,至此得到所述中心坐标。
进一步地,所述获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标具体包括:从所述像素坐标开始分别向上、下、左、右四个方向进行扫描,当扫描到所述像素坐标对应的灰度值发生变化时,则确定四个灰度值发生变化时的坐标分别作为所述上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
进一步地,所述根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定具体包括:当所述预设亮度与所述修复亮度的差值小于判定阈值则确定修复成功;否则再次执行根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复的步骤。
为解决上述技术问题,本发明还提供了一种修复缺陷像素的***,包括:中心定位单元和修复单元;
所述中心定位单元,用于对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标;
所述修复单元,用于根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。
进一步地,所述***还包括:修复监控单元,用于对修复结果进行监控,具体包括:
检测模块,用于在对缺陷像素修复之前和之后分别对所述缺陷像素区域进行检测得到预设亮度和修复亮度;
判定模块,用于根据所述预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。
进一步地,所述检测模块中具体包括:光源发射单元、反射光模块、棱镜组、相机和感光模块,所述光源发射单元位于显示面板的下方,用于向所述显示面板发射预设亮度的光,所述反射光模块位于所述显示面板的上方,用于将透过所述显示面板的光反射到所述棱镜组,经过所述棱镜组的反射分为两路,一路反射至所述相机以获取图像,另一路反射至所述感光模块;
感光模块用于根据所述反射光在修复之前对缺陷像素区域进行检测得到预设亮度,并在对所述缺陷像素进行修复之后,在所述缺陷像素未修复区域被遮挡的情况下对所述缺陷像素的修复区域再次进行亮度检测,得到修复亮度。
进一步地,所述中心定位单元包括:第一定位单元,用于对缺陷像素进行定位,得到所述缺陷像素的像素坐标;
第二定位单元,用于在所述像素坐标的基础上,进一步对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标,且所述像素坐标和所述中心坐标不重合。
进一步地,所述第一定位单元具体包括:
边缘确定单元,用于以所述像素坐标为中心,向上、向下、向左和向右进行扫描,直到扫描到所述缺陷像素边缘线的上边缘、下边缘、左边缘和右边缘,以获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标;
中心确定单元具体用于根据所述上边缘坐标和所述下边缘坐标计算得到所述中心坐标的横坐标,根据所述左边缘坐标和所述右边缘坐标计算得到所述中心坐标的纵坐标,至此得到所述中心坐标。
进一步地,所述边缘确定单元具体用于从所述像素坐标开始分别向上、下、左、右四个方向进行扫描,当扫描到所述像素坐标对应的灰度值发生变化时,则确定四个灰度值发生变化时的坐标分别作为所述上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
进一步地,所述判定模块具体用于当所述预设亮度与所述修复亮度的差值小于判定阈值则确定修复成功;否则返回修复单元再次根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。
为解决上述技术问题,本发明还提供了一种显示面板,所述显示面板为经过上述的修复缺陷像素的方法进行修复得到的显示面板。
(三)有益效果
本发明实施例提供的一种修复缺陷像素的方法,包括:对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标;根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。通过上述修复缺陷像素的方法能够定位到显示模板上存在的亮点的缺陷像素的中心坐标,实现准确定位,之后根据所得的中心坐标对缺陷像素进行修复,用自动进行的中心坐标定位代替原有的人工对位操作,不仅加快对缺陷像素的修复速度,还能提高修复效率,提高设备的整体效率及产能,同时还能避免由于人工操作产生误差带来的修复不成功的问题,进行自动的中心定位可以提高修复的准确性。另外,本发明还提供了基于上述方法的修复缺陷像素的***以及基于该方法进行缺陷像素修复得到的显示面板。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的一种修复缺陷像素的方法的步骤流程图;
图2是本发明实施例一中对缺陷像素进行像素坐标定位;
图3是本发明实施例一中对缺陷像素进行中心坐标定位;
图4是本发明实施例一提供的监控修复结果的步骤流程图;
图5是本发明实施例一中镜头定位在缺陷像素时的示意图;
图6是本发明实施例一中镜头定位在缺陷像素的中心坐标时的示意图;
图7是本发明实施例一中动调整亮度后的示意图;
图8为本发明实施例一中进行激光自动修复的示意图;
图9为本发明实施例一中对修复效果进行检测的示意图;
图10为本发明实施例二中提供的一种修复缺陷像素的***的组成示意图;
图11为本发明实施例二中提供的中心定位单元的组成示意图;
图12为本发明实施例二中提供的修复监控单元的组成示意图;
图13为本发明实施例二中提供的检测模块的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
实施例一
本发明实施例一提供了一种修复缺陷像素的方法,步骤流程图如图1所示,具体包括以下步骤:
步骤S1、对缺陷像素进行中心定位以获取缺陷像素的中心坐标;
步骤S2、根据中心坐标对缺陷像素进行修复。
基于上述修复缺陷像素的方法,通过对缺陷像素进行中心定位,而不仅仅定位到像素区域,而是定位更加精确的缺陷像素的中心坐标,之后根据该中心坐标对缺陷像素进行修复,由于无需人工对待修复的却像像素进行定位,可以提高修复的速度和准确性。
优选地,本实施例中步骤S1中对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标之前还包括,进行缺陷像素定位,得到该缺陷像素的像素坐标,且得到的像素坐标和中心坐标不重合。对于某一个缺陷像素,以图2中的缺陷像素为例,镜头画面的中心坐标如图中的十字形标记所示,也就是缺陷像素所在的像素区域内的一个像素坐标,并不在像素区域的中心位置,由图2中也可以看出像素区域的坐标Add(A,B)位于中心偏右的位置。对缺陷像素进行修复时,只能通过对齐和缺陷像素的像素坐标将镜头移动到缺陷像素的像素区域,移动精度只能保证是在像素区域范围内,但是在进行修复过程中还要进一步将激光精确定位到像素区域的具***置,而不仅仅是像素区域范围,所以黑矩阵扩散设备自动维修需要预先对像素区域的中心进行精确定位,即找到中心坐标,中心坐标位于缺陷像素的中心点上。
进一步地,本实施例中得到缺陷像素的像素坐标之后,对缺陷像素进行中心定位具体包括:
以像素坐标为中心,向上、向下、向左和向右四个方向分别进行扫描,直到扫描到缺陷像素边缘线的上边缘、下边缘、左边缘和右边缘,以获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标;
根据上边缘坐标和下边缘坐标计算得到中心坐标的横坐标,根据左边缘坐标和右边缘坐标计算得到中心坐标的纵坐标,至此得到中心坐标。对于上述获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标的步骤,具体包括:从像素坐标开始分别向上、下、左、右四个方向进行扫描,当扫描到像素坐标对应的灰度值发生变化时,则确定四个灰度值发生变化时的坐标分别作为上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
仍以图2为例,镜头画面的中心不在缺陷像素区域的中心,其坐标(也就是像素坐标)为Add(A,B),根据目标像素的颜色(本实施例中以绿色为例)向上方开始扫描,直至达到像素区域最上方的边缘,因为除了像素区域之外的区域都被黑矩阵覆盖,所以灰度值将发生变化,由原来的绿色灰度值变为黑色灰度值,因此确定缺陷像素区域的上边缘,即沿着像素坐标Add(A,B)向上扫描得到的上边缘坐标为Offset U。同理对于其它三个方向的边缘坐标进行确定,向下进行扫描,直到扫描到缺陷像素区域的下边缘,得到下边缘坐标OffsetD;向左进行扫描,直到扫描到缺陷像素区域的左边缘,得到左边缘坐标Offset L;向右进行扫描,直到扫描到缺陷像素区域的右边缘,得到右边缘坐标Offset R。确定四个方向的边缘坐标之后,根据上边缘坐标Offset U和下边缘坐标Offset D求平均值计算得到中心坐标的横坐标,根据左边缘坐标Offset L和右边缘坐标Offset R计算得到中心坐标的纵坐标,至此得到中心坐标Offset(X,Y),因此Offset(X,Y)=Offset((Offset L+Offset R)/2,(Offset U+Offset D)/2)。
确定缺陷像素的中心坐标之后,将镜头移动到中心坐标的位置,如图3所示,图3中的十字形标记就是中心坐标的位置。将激光对准缺陷像素的中心坐标,对其周边黑矩阵进行粉碎扩散,进而实现物理性遮光,实现对缺陷像素进行修复的效果。
优选地,本实施例步骤S2对缺陷像素进行修复之后还包括对修复结果进行监控的步骤,具体包括:
步骤S31、检测缺陷像素区域的亮度大小,得到预设亮度;
步骤S32、对缺陷像素进行修复之后,对缺陷像素未修复区域进行遮挡,以对缺陷像素的修复区域进行亮度检测,得到修复亮度;
步骤S33、根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。
上述步骤流程如图4所示。即对缺陷像素进行修复之后,需要将缺陷像素修复区域在修复前后的亮度进行比较,并以此确认像素覆盖效果是否符合要求。具体的,在黑矩阵(BM)扩散修复光路中增加感光测试模块,修复之前,检测缺陷像素区域的预设亮度大小为S,对该缺陷像素进行修复之后,对缺陷像素未修复区域进行遮挡,以对缺陷像素的修复区域进行亮度检测,得到此时的修复亮度大小为SA,并以进一步的根据S与SA的大小对修复效果是否合格进行监控以及判定,其标准为:
如果S-SA≥d,则判定修复合格;
如果S-SA<d,则判定修复不合格,
其中d为在预设亮度S下,修复覆盖合格像素区域亮度较修复前亮度减少的最小值,也就是判定阈值。
以对图2中的缺陷像素进行修复为例,采用上述修复方法的过程如下:
1)首先是镜头移动到缺陷像素的像素区域,定位在像素坐标Add(A,B)。如图5所示,镜头定位在缺陷像素所在的像素区域上,即像素坐标。假设该缺陷像素所在的是绿色像素所在的一列,向左一列为红色像素,向右一列为蓝色像素。
2)之后,以像素坐标为中心分别向上下左右四个方向进行扫描,直到像素边缘区域的边缘确定四个方向的边缘坐标,再根据边缘坐标计算得到却像像素的中心坐标。镜头定位在缺陷像素的中心坐标时,示意图如图6所示。
3)确定缺陷像素的中心坐标之后激光修复设备可根据中心坐标对缺陷像素成功进行修复,进行激光自动修复的示意图如图8所示。
4)修复完成之后还要对修复效果进行检测,具体的对缺陷像素未修复区域进行遮挡,以对缺陷像素的修复区域进行亮度检测,得到修复亮度;再根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定,其中的预设亮度是在进行修复之前通过检测缺陷像素区域的亮度大小得到的。对修复效果进行检测的示意图如图9所示。
因此通过实施例一提供的修复缺陷像素的方法,能够定位到显示模板上存在的亮点的缺陷像素的中心坐标,实现准确定位,之后根据所得的中心坐标对缺陷像素进行修复,用自动进行的中心坐标定位代替原有的人工对位操作,不仅加快对缺陷像素的修复速度,还能提高修复效率,提高设备的整体效率及产能,同时还能避免由于人工操作产生误差带来的修复不成功的问题,进行自动的中心定位可以提高修复的准确性。
实施例二
本发明实施例二中还提供了一种修复缺陷像素的***,组成示意图如图10所示,包括:
中心定位单元10,用于对缺陷像素进行中心定位以获取缺陷像素的中心坐标。
修复单元20,用于根据中心坐标对缺陷像素进行修复。
优选地,本实施例中的中心定位单元10的组成示意图如图11所示,包括第一定位单元11,用于对缺陷像素进行定位,得到缺陷像素的像素坐标。
还包括第二定位单元12,用于在像素坐标的基础上,进一步对缺陷像素进行中心定位以获取缺陷像素的中心坐标,且像素坐标和中心坐标不重合。
优选地,本实施例中的第一定位单元11具体包括:
边缘确定单元111,用于以像素坐标为中心,向上、向下、向左和向右进行扫描,直到扫描到缺陷像素边缘线的上边缘、下边缘、左边缘和右边缘,以获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
具体的,边缘确定单元具体用于从像素坐标开始分别向上、下、左、右四个方向进行扫描,当扫描到像素坐标对应的灰度值发生变化时,则确定四个灰度值发生变化时的坐标分别作为上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
中心确定单元112具体用于根据上边缘坐标和下边缘坐标计算得到中心坐标的横坐标,根据左边缘坐标和右边缘坐标计算得到中心坐标的纵坐标,至此得到中心坐标。根据上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标计算中心坐标的方法同上述实施例一中的计算方法,此处不再赘述。
找到中心坐标之后,修复单元20按照得到的最佳亮度发射激光,对准缺陷像素进行照射,实现对缺陷像素区域的黑矩阵进行粉碎扩散,实现穗缺陷处的物理性遮光性,完成修复。
修复完成之后,还要对其修复的结果进行监控给,因此该***还包括修复监控单元30,组成示意图如图12所示,用于对修复结果进行监控,具体包括:
检测模块31,用于在对缺陷像素修复之前和之后分别对所述缺陷像素区域进行检测得到预设亮度和修复亮度。
判定模块32,用于根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。其中判定模块32具体用于当预设亮度与修复亮度的差值小于判定阈值则确定修复成功;否则返回修复单元再次根据中心坐标对缺陷像素进行修复。
其中检测模块的组成结构如图13所示,具体包括:光源发射单元01、反射光模块02、棱镜组、相机04和感光模块05,光源发射单元01位于显示面板00的下方,用于向显示面板00发射预设亮度的光,反射光模块02位于显示面板的上方,用于将透过显示面板00的光反射到棱镜组,经过棱镜组的反射分为两路,一路反射至相机04以获取图像,另一路反射至感光模块05;
其中感光模块05用于根据反射光在修复之前对缺陷像素区域进行检测得到预设亮度,并在对缺陷像素进行修复之后,在缺陷像素未修复区域被遮挡的情况下对缺陷像素的修复区域再次进行亮度检测,得到修复亮度。
其中图13中的虚线表示激光的路径,对于棱镜组中各块棱镜的位置和角度等都是根据实际需要进行设置的。本实施例图13中提供的棱镜组中包括3块棱镜,其中第一块棱镜031的主要作用是接收反射光模块02反射来的激光,之后通过反射和折射分成两路,一路向水平方向,再经过第二块棱镜032的发射,使得位于其上方的相机获取图像;经过第二块棱镜032折射之后得到的另一路向垂直方向,再经过第三块棱镜033的反射,使得位于其水平方向上的感光模块能对光的亮度进行测量。
在对缺陷像素进行定位时,打开光源发射单元01,关闭反射光模块02,此时光源发射单元01相当于背光,光通过缺陷像素后可显示出相应的颜色,比如,红色、绿色或蓝色等,而黑矩阵遮挡的区域为黑色,因此,可方便根据缺陷像素的灰度值对缺陷像素进行中心定位。修复之前,打开光源发射单元01和反射光模块02,通过感光模块05检测缺陷像素区域的亮度大小,得到预设亮度S。对缺陷像素进行修复之后,对缺陷像素未修复区域进行遮挡,此时,光源发射单元01产生的光反射到棱镜组后其中有一路反射至感光模块,感光模块05可根据所述反射光,在缺陷像素未修复区域被遮挡的情况下对缺陷像素的修复区域再次进行亮度检测,得到修复亮度得到修复亮度SA,然后判定模块可通过修复亮度SA和预设亮度S的差值判定修复效果,即如果S-SA≥d,则判定修复合格;如果S-SA<d,则判定修复不合格,其中d为判定阈值。
优选地,本实施例中的相机04为CCD相机,即Charge-coupledDevice,电荷耦合元件,也可以成为图像传感器。
基于上述修复像素缺陷的***,能够定位到显示模板上存在的亮点的缺陷像素的中心坐标,实现准确定位,之后根据所得的中心坐标对缺陷像素进行修复,用自动进行的中心坐标定位代替原有的人工对位操作,不仅加快对缺陷像素的修复速度,还能提高修复效率,提高设备的整体效率及产能,同时还能避免由于人工操作产生误差带来的修复不成功的问题,进行自动的中心定位可以提高修复的准确性。
本实施例提供的***,在现有设备的基础上增加感光模块,能够在修复过程中自动对亮度进行调整,并通过修复前后的缺陷像素区域的亮度进行比较,能够确认修复的效果是否合格。该***不仅仅能够对缺陷像素进行修复,还能对修复的结果进行监控,可以提高产能。
实施例三
本发明实施例三还提供了一种显示面板,是基于上述实施例一提供的修复缺陷像素的方法进行修复得到的显示面板。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
Claims (14)
1.一种修复缺陷像素的方法,其特征在于,包括:
对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标;
根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述缺陷像素进行修复之后还包括:
检测所述缺陷像素区域的亮度大小,得到预设亮度;
对所述缺陷像素进行修复之后,对所述缺陷像素未修复区域进行遮挡,以对所述缺陷像素的修复区域进行亮度检测,得到修复亮度;
根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标之前还包括,进行缺陷像素定位,得到所述缺陷像素的像素坐标,且所述像素坐标和所述中心坐标不重合。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,得到所述缺陷像素的像素坐标之后,对缺陷像素进行中心定位具体包括:
以所述像素坐标为中心,向上、向下、向左和向右进行扫描,直到扫描到所述缺陷像素边缘线的上边缘、下边缘、左边缘和右边缘,以获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标;
根据所述上边缘坐标和所述下边缘坐标计算得到所述中心坐标的横坐标,根据所述左边缘坐标和所述右边缘坐标计算得到所述中心坐标的纵坐标,至此得到所述中心坐标。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标具体包括:从所述像素坐标开始分别向上、下、左、右四个方向进行扫描,当扫描到所述像素坐标对应的灰度值发生变化时,则确定四个灰度值发生变化时的坐标分别作为所述上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
6.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定具体包括:当所述预设亮度与所述修复亮度的差值小于判定阈值则确定修复成功;否则再次执行根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复的步骤。
7.一种修复缺陷像素的***,其特征在于,包括:中心定位单元和修复单元;
所述中心定位单元,用于对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标;
所述修复单元,用于根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。
8.如权利要求7所述的***,其特征在于,所述***还包括:修复监控单元,用于对修复结果进行监控,具体包括:
检测模块,用于在对缺陷像素修复之前和之后分别对所述缺陷像素区域进行检测得到预设亮度和修复亮度;
判定模块,用于根据所述预设亮度和修复亮度对修复效果进行判定。
9.如权利要求8所述的***,其特征在于,所述检测模块中具体包括:光源发射单元、反射光模块、棱镜组、相机和感光模块,所述光源发射单元位于显示面板的下方,用于向所述显示面板发射预设亮度的光,所述反射光模块位于所述显示面板的上方,用于将透过所述显示面板的光反射到所述棱镜组,经过所述棱镜组的反射分为两路,一路反射至所述相机以获取图像,另一路反射至所述感光模块;
感光模块用于根据所述反射光在修复之前对缺陷像素区域进行检测得到预设亮度,并在对所述缺陷像素进行修复之后,在所述缺陷像素未修复区域被遮挡的情况下对所述缺陷像素的修复区域再次进行亮度检测,得到修复亮度。
10.如权利要求7所述的***,其特征在于,所述中心定位单元包括:第一定位单元,用于对缺陷像素进行定位,得到所述缺陷像素的像素坐标;
第二定位单元,用于在所述像素坐标的基础上,进一步对缺陷像素进行中心定位以获取所述缺陷像素的中心坐标,且所述像素坐标和所述中心坐标不重合。
11.如权利要求10所述的***,其特征在于,所述第一定位单元具体包括:
边缘确定单元,用于以所述像素坐标为中心,向上、向下、向左和向右进行扫描,直到扫描到所述缺陷像素边缘线的上边缘、下边缘、左边缘和右边缘,以获取上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标;
中心确定单元具体用于根据所述上边缘坐标和所述下边缘坐标计算得到所述中心坐标的横坐标,根据所述左边缘坐标和所述右边缘坐标计算得到所述中心坐标的纵坐标,至此得到所述中心坐标。
12.如权利要求11所述的***,其特征在于,所述边缘确定单元具体用于从所述像素坐标开始分别向上、下、左、右四个方向进行扫描,当扫描到所述像素坐标对应的灰度值发生变化时,则确定四个灰度值发生变化时的坐标分别作为所述上边缘坐标、下边缘坐标、左边缘坐标和右边缘坐标。
13.如权利要求8所述的***,其特征在于,所述判定模块具体用于当所述预设亮度与所述修复亮度的差值小于判定阈值则确定修复成功;否则返回修复单元再次根据所述中心坐标对所述缺陷像素进行修复。
14.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板为经过权利要求1-6所述的修复缺陷像素的方法进行修复得到的显示面板。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310700535.5A CN103676236B (zh) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | 一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
PCT/CN2014/082564 WO2015090060A1 (zh) | 2013-12-18 | 2014-07-18 | 修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
US14/429,885 US9791725B2 (en) | 2013-12-18 | 2014-07-18 | Method and system for repairing defective pixel, and display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310700535.5A CN103676236B (zh) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | 一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103676236A true CN103676236A (zh) | 2014-03-26 |
CN103676236B CN103676236B (zh) | 2017-01-04 |
Family
ID=50314289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310700535.5A Active CN103676236B (zh) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | 一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9791725B2 (zh) |
CN (1) | CN103676236B (zh) |
WO (1) | WO2015090060A1 (zh) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015090060A1 (zh) * | 2013-12-18 | 2015-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
CN107544163A (zh) * | 2016-06-28 | 2018-01-05 | 帆宣***科技股份有限公司 | 彩色滤光片的自动修补方法 |
CN107979918A (zh) * | 2017-11-27 | 2018-05-01 | 合肥通彩自动化设备有限公司 | 一种玻璃板缺陷印刷电路修复检测***及方法 |
CN108469707A (zh) * | 2018-02-27 | 2018-08-31 | 昆山国显光电有限公司 | 一种显示面板的修复***及修复方法 |
CN110444157A (zh) * | 2019-08-15 | 2019-11-12 | 京东方科技集团股份有限公司 | 灰阶补偿关系及补偿值的获取方法、显示装置 |
CN110517616A (zh) * | 2019-09-10 | 2019-11-29 | 浙江晶鲸科技有限公司 | 一种oled显示屏坏点掩膜定位*** |
CN111179775A (zh) * | 2020-02-22 | 2020-05-19 | 禹创半导体(广州)有限公司 | 一种微型micro LED显示器 |
CN111933760A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-11-13 | 苏州科韵激光科技有限公司 | 微型led像素修复设备及微型led像素修复方法 |
CN112086048A (zh) * | 2020-08-31 | 2020-12-15 | 苏州迈为科技股份有限公司 | 一种oled屏幕暴亮点修复方法及装置 |
CN112599713A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-04-02 | 安徽熙泰智能科技有限公司 | 一种高分辨率微显示器缺陷修复方法 |
CN112904605A (zh) * | 2021-03-31 | 2021-06-04 | 长沙惠科光电有限公司 | 彩膜缺陷的测高方法、设备及介质 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107637068B (zh) * | 2016-11-30 | 2019-10-25 | Oppo广东移动通信有限公司 | 图像坏点补偿方法、装置和电子设备 |
TWI662638B (zh) * | 2017-04-21 | 2019-06-11 | 台灣愛司帝科技股份有限公司 | 半導體晶片修補方法以及半導體晶片修補裝置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006323032A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Sony Corp | フラットパネルディスプレイディバイスの欠陥画素リペア装置及びその欠陥画素リペア方法 |
JP4704168B2 (ja) * | 2005-09-20 | 2011-06-15 | シャープ株式会社 | 欠陥画素修復装置、欠陥画素修復システム及び欠陥画素修復方法 |
CN102202226A (zh) * | 2010-03-23 | 2011-09-28 | 夏普株式会社 | 校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 |
CN102654661A (zh) * | 2012-05-04 | 2012-09-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 液晶显示面板的修复方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4320292A (en) * | 1979-08-22 | 1982-03-16 | Nippon Telegraph And Telephone Public Corporation | Coordinate input apparatus |
US5420703A (en) * | 1990-02-01 | 1995-05-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Color image processing system having multi-image processing capabilities |
US5243332A (en) * | 1991-10-31 | 1993-09-07 | Massachusetts Institute Of Technology | Information entry and display |
US6035526A (en) * | 1997-11-18 | 2000-03-14 | Ntn Corporation | Method of repairing defect and apparatus for repairing defect |
JP4197217B2 (ja) * | 2000-05-08 | 2008-12-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 装置 |
JP4485087B2 (ja) * | 2001-03-01 | 2010-06-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の動作方法 |
JP2007136330A (ja) * | 2005-11-17 | 2007-06-07 | Sharp Corp | インク吐出装置及びインク吐出方法 |
KR101060472B1 (ko) * | 2007-11-30 | 2011-08-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시패널의 불량셀 리페어방법 |
WO2011001557A1 (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-06 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板の製造装置及び製造方法、並びに表示パネルの製造装置及び製造方法 |
CN102629043B (zh) * | 2011-05-27 | 2014-08-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 薄膜晶体管像素结构及其修复方法 |
CN103558698B (zh) * | 2013-11-05 | 2016-01-13 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 激光修复设备 |
CN103676236B (zh) * | 2013-12-18 | 2017-01-04 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
-
2013
- 2013-12-18 CN CN201310700535.5A patent/CN103676236B/zh active Active
-
2014
- 2014-07-18 US US14/429,885 patent/US9791725B2/en active Active
- 2014-07-18 WO PCT/CN2014/082564 patent/WO2015090060A1/zh active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006323032A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Sony Corp | フラットパネルディスプレイディバイスの欠陥画素リペア装置及びその欠陥画素リペア方法 |
JP4704168B2 (ja) * | 2005-09-20 | 2011-06-15 | シャープ株式会社 | 欠陥画素修復装置、欠陥画素修復システム及び欠陥画素修復方法 |
CN102202226A (zh) * | 2010-03-23 | 2011-09-28 | 夏普株式会社 | 校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 |
CN102654661A (zh) * | 2012-05-04 | 2012-09-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 液晶显示面板的修复方法 |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015090060A1 (zh) * | 2013-12-18 | 2015-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 修复缺陷像素的方法、***及显示面板 |
US9791725B2 (en) | 2013-12-18 | 2017-10-17 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Method and system for repairing defective pixel, and display panel |
CN107544163A (zh) * | 2016-06-28 | 2018-01-05 | 帆宣***科技股份有限公司 | 彩色滤光片的自动修补方法 |
CN107979918A (zh) * | 2017-11-27 | 2018-05-01 | 合肥通彩自动化设备有限公司 | 一种玻璃板缺陷印刷电路修复检测***及方法 |
CN108469707A (zh) * | 2018-02-27 | 2018-08-31 | 昆山国显光电有限公司 | 一种显示面板的修复***及修复方法 |
CN110444157B (zh) * | 2019-08-15 | 2020-12-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 灰阶补偿关系及补偿值的获取方法、显示装置 |
CN110444157A (zh) * | 2019-08-15 | 2019-11-12 | 京东方科技集团股份有限公司 | 灰阶补偿关系及补偿值的获取方法、显示装置 |
CN110517616A (zh) * | 2019-09-10 | 2019-11-29 | 浙江晶鲸科技有限公司 | 一种oled显示屏坏点掩膜定位*** |
CN111179775A (zh) * | 2020-02-22 | 2020-05-19 | 禹创半导体(广州)有限公司 | 一种微型micro LED显示器 |
CN112086048A (zh) * | 2020-08-31 | 2020-12-15 | 苏州迈为科技股份有限公司 | 一种oled屏幕暴亮点修复方法及装置 |
CN111933760A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-11-13 | 苏州科韵激光科技有限公司 | 微型led像素修复设备及微型led像素修复方法 |
CN111933760B (zh) * | 2020-09-28 | 2020-12-29 | 苏州科韵激光科技有限公司 | 微型led像素修复设备及微型led像素修复方法 |
CN112599713A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-04-02 | 安徽熙泰智能科技有限公司 | 一种高分辨率微显示器缺陷修复方法 |
CN112904605A (zh) * | 2021-03-31 | 2021-06-04 | 长沙惠科光电有限公司 | 彩膜缺陷的测高方法、设备及介质 |
CN112904605B (zh) * | 2021-03-31 | 2023-03-28 | 长沙惠科光电有限公司 | 彩膜缺陷的测高方法、设备及介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103676236B (zh) | 2017-01-04 |
US20160033796A1 (en) | 2016-02-04 |
WO2015090060A1 (zh) | 2015-06-25 |
US9791725B2 (en) | 2017-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103676236A (zh) | 一种修复缺陷像素的方法、***及显示面板 | |
CN105842885B (zh) | 一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置 | |
CN109001224B (zh) | 焊缝的检测方法及检测装置 | |
CN110261410A (zh) | 一种玻璃透镜缺陷的检测装置及方法 | |
CN104345481B (zh) | 一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备 | |
CN107764841B (zh) | 一种检测并区分透明玻璃盖板上下表面缺陷的装置及方法 | |
CN102901737A (zh) | 一种自动光学检测方法 | |
CN105092473A (zh) | 一种多晶硅薄膜的质量检测方法和*** | |
CN103792705A (zh) | 检测基板缺陷的检测方法及检测装置 | |
CN106803410A (zh) | Led显示模块检测设备 | |
CN206756711U (zh) | 一种光伏玻璃边角检测装置 | |
CN106770367A (zh) | 一种fpc焊点检测方法 | |
CN106023193A (zh) | 一种用于浑浊介质中结构表面检测的阵列相机观测方法 | |
CN105812789B (zh) | 一种摄像模组检测方法及装置 | |
CN110044926A (zh) | 一种透镜缺陷检测装置 | |
CN110286132A (zh) | 显示面板的光学检测方法及设备 | |
JP2010256053A (ja) | 形状欠損検査装置、形状モデリング装置および形状欠損検査プログラム | |
CN104101614B (zh) | 一种检测方法及装置 | |
CN106405894B (zh) | 一种液晶面板缺陷自动定位方法 | |
CN110428764B (zh) | 显示面板检测方法 | |
CN102980897A (zh) | 检测方法及检测装置 | |
JP6160255B2 (ja) | 太陽電池セル検査装置および太陽電池セル検査装置の画像位置補正方法 | |
CN107643611A (zh) | 一种液晶屏与背光源装配精度的自动检测*** | |
CN103217437A (zh) | 光学元件缺陷扫描装置 | |
KR101198406B1 (ko) | 패턴 검사 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |