CN103257025A - 跌落测试机 - Google Patents

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余国俊
胡永兵
程功水
李俊
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Abstract

一种跌落测试机，用以测试待测物品的耐冲击性能，该跌落测试机包括落球装置、承载组件以及电连接至所述落球装置以及承载组件的电控箱，所述承载组件用以承载待测物品，所述落球装置用以将一具有一定重量的冲击球砸到待测物品上而提供一预设的冲击力至待测物品的测试点，该电控箱控制落球装置调节所述冲击球跌落的竖直高度，并控制承载组件调节待测物品的水平位置，从而将该冲击球依次对准待测物品的各测试点砸下，以依次对该各测试点进行耐冲击性能测试。

Description

跌落测试机
技术领域
本发明涉及一种电子产品测试装置，尤其涉及一种用以测试电子产品的耐冲击性能的跌落测试机。
背景技术
手机、数码相机、MP3播放器、个人数字助理器(Personal Digital Assistant, 简称PDA)等小型消费性电子产品一般需进行跌落测试，以对该等电子产品的耐冲击性能进行检测。跌落测试的方法一般是将待测物品放置在预定位置，用冲击铅球从预设的高度自由跌落下来冲击该待测物品，通过待测物品的损坏状况检测该待测物品的耐冲击性能。
现有的跌落测试机通常包括一基座、设置于基座上用以承载待测产品的承载台、垂直承载台设置于基座上的滑杆以及设置于滑杆上且平行承载台设置的落球装置，通过调节所述落球装置于滑杆上滑动以将落球装置上的冲击球(通常为一铅球)调节到预设高度，然后将所述冲击球放开，令其自由跌落下来砸到承载台上的待测物，从而进行耐冲击性能测试。
然而，在使用上述跌落测试机的测试操作中，当待测物品上具有多个需要分别进行耐冲击性能测试的测试点时，一般需手动调节承载台上的待测物品的位置，再人工判断待测点是否对准待跌落的冲击球并根据判断结果对待测物品的位置加以调整。该等对准及调整的操作费时费力且一般精度较低。
发明内容
鉴于上述状况，有必要提供一种精确度较高的跌落测试机。
一种跌落测试机，用以测试待测物品的耐冲击性能，该跌落测试机包括落球装置、承载组件以及电连接至所述落球装置以及承载组件的电控箱，所述承载组件用以承载待测物品，所述落球装置用以将一具有一定重量的冲击球砸到待测物品上而提供一预设的冲击力至待测物品的测试点，该电控箱控制落球装置调节所述冲击球跌落的竖直高度，并控制承载组件调节待测物品的水平位置，从而将该冲击球依次对准待测物品的各测试点砸下，以依次对该各测试点进行耐冲击性能测试。
所述跌落测试机在需要依次对待测物品上的多个测试点进行耐冲击性能测试测试时，可自动将待测物品的测试点依次对准冲击球，而无需手动调节待测物品的位置，效率及精度均较高。
附图说明
图1是本发明的跌落测试机的立体图。
图2是图1所示的跌落测试机的立体分解图。
图3是图2所示的跌落测试机的承载组件的放大分解立体图。
图4是图2所示的跌落测试机的承载组件的另一视角的放大分解立体图。
图5是图2所示的跌落测试机的落球装置的放大分解立体图。
主要元件符号说明
跌落测试机 100
电控箱 10
承载组件 30
第一调节模组 31
第一气缸 311
第一滑轨 313
支撑板 315
第二调节模组 33
第二气缸 331
第二滑轨 333
承载板 335
对位模组 35
对位件 351
对位气缸 3511
抵持块 3513
落球装置 50
立柱 51
滑架 53
导向轨 531
滑板 533
滑接块 5331
连接板 535
连接槽 5351
连接块 5353
传动机构 55
马达 551
带轮 553
传动带 555
落球板 57
落球孔 571
控制装置 70
待测物品 200
冲击球 300
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1及图2，本发明较佳实施方式的跌落测试机100包括一个电控箱10、一个承载组件30、一个落球装置50以及一个控制装置70。所述电控箱10承载并电性连接至所述承载组件30、落球装置50以及控制装置70，并在控制装置70的控制下调节所述落球装置50的竖直高度以及承载组件30上的待测物品200的水平位置，使具有一定重量的测试用冲击球300能通过落球装置50自由落下并依次砸到待测物品200的各个测试点，从而对各个测试点施加预定的冲击力以进行耐冲击性能测试。于本实施方式中，所述待测物品200为一电子产品，冲击球300通常为一铅球。
所述承载组件30包括叠设于电控箱10顶部的第一调节模组31以及叠设于第一调节模组31上的第二调节模组33，所述待测物品200放置于第二调节模组33的顶部。所述第一调节模组31用以调节待测物品200沿图1所示的该跌落测试机100的X轴方向的位置，所述第二调节模组33用以调节该待测物品200沿该等跌落测试机100的Y轴方向的位置。
请一并参阅图3及图4，具体的，所述第一调节模组31包括第一气缸311、两个第一滑轨313以及支撑板315。所述第一气缸311固定于电控箱10的顶部，并连接至支撑板315。所述两个第一滑轨313平行该跌落测试机100的X轴方向的固定于电控箱10的顶部，并可相对滑动的固定所述支撑板315，使所述支撑板315可在第一气缸311的带动下于第一滑轨313上沿X轴方向往复移动。所述第二调节模组33与第一调节模组31的结构相似，包括一个第二气缸331、两个第二滑轨333以及承载板335。所述第二气缸331固定于支撑板315上，并连接至所述承载板335。所述两个第二滑轨333平行于该跌落测试机100的Y轴方向的固定于所述支撑板315上，并滑动的装设所述承载板335于其上。如此，所述承载板335即可在第二气缸331的带动下于所述第二滑轨333上沿所述Y轴方向往复移动。
于本发明实施方式中，所述承载组件30还包括设置于承载板335上的对位模组35，用以将待测物品200调节至初始位置后再进行跌落测试，使待测物品200的各个测试点均能对准冲击球300跌落的方向。具体的，于本实施方式中，所述待测物品200为触摸屏等矩形体，所述对位模组35包括分别对应待测物品200的两相对斜角设置的对位件351以及分别对应待测物品200的两相对侧边设置的止挡部353，使该两对位件351以及止挡部353环绕待测物品200设置。所述每一对位件351均包括对位气缸3511以及朝向待测物品200设置于对位气缸3511末端的抵持块3513，所述抵持块3513的形状与对应的待测物品200的角部的形状相匹配，本实施方式中为L形。所述两抵持块3513在对位气缸3511的带动下同时相对伸向待测物品200的角部，使待测物品200夹持于两抵持块3513之间而处于初始位置。所述两止挡部353成L形，且其底部与待测物品200相间隔设置，末端则弯折延伸于所述待测物品200上方。如此，当需进行跌落测试时，所述对位气缸3511将带动抵持块3513释放待测物品200，使待测物品200处于自由状态进行跌落测试，此时与待测物品200相间隔设置的止挡部353以及抵持块3513则可防止待测物品200在冲击球300的冲击下从承载组件30上滑落。
请一并参阅图5，所述落球装置50包括立柱51、滑架53、传动机构55以及落球板57。所述立柱51沿该跌落测试机100的Z轴方向设置于电控箱10顶部，并承载所述滑架53以及传动机构55于其上。所述落球板57装设于滑架53上，传动机构55连接至滑架53，用以带动滑架53上的落球板57沿所述Z轴方向滑动而调节从落球板57上掉落的冲击球300的竖直高度。
所述滑架53包括两导向轨531、滑动设置于导向轨531上的滑板533以及固定于滑板533上的连接板535。所述两导向轨531均沿所述Z轴方向平行设置于立柱51的相对两侧，并设置于立柱51朝向承载组件30的表面。所述滑板533的一侧表面上对应所述两条导向轨531设置有两滑接块5331，用以将该滑板533可相对滑动的装设于所述导向轨531上。该滑板533背离滑接块5331的另一侧表面则固定所述连接板535于其上。所述连接板535固定所述落球板57，并连接至传动机构55，以在传动机构55的带动下通过滑板533沿导向轨531滑动，实现调节落球板57的竖直高度。于本发明实施方式中，所述连接板535大致呈矩形板状，其固定落球板57的一侧表面凹陷形成一连接槽5351，对应于所述连接槽5351底部形成一连接块5353，该连接板535通过该连接块5353连接至传动机构55。
所述传动机构55包括马达551、带轮553以及传动带555。所述马达551与带轮553分别设置于立柱51的相对两端，并夹设所述滑架53于该马达551与带轮553之间，使串接于该马达551与带轮553上的传动带555可连接至二者之间的连接板535上的连接块5353。如此，当所述马达551带动传动带555传动时，传动带555将带动连接板535及其上的落球板57沿所述Z轴方向运动，即可调节落球板57上跌落的冲击球300的竖直高度。于本发明实施方式中，所述马达551固定于电控箱10的表面，带轮553则装设于立柱51顶部，且通过对所述马达551的行程的设定使所述滑板533的运动行程限于所述导向轨531上。
落球板57大致呈L形，其平行所述XY平面的末端开设有一落球孔571。所述落球孔571的直径较冲击球300的直径稍大，使所述冲击球300能穿过落球孔571跌落至承载组件30上的待测物品200上。
所述控制装置70用以提供一人机交互界面，从而供测试人员输入测试的高度、待测产品的测试点的位置等，然后控制装置70将发送信号控制所述电控箱10控制所述第一气缸311、第二气缸331以及马达551运动，以调节所述承载组件30上的待测物品200于XY平面的位置以及落球板57与待测物品200的高度差，使所述待测物品200的待测点对准落球孔571的中心，待测物品200与落球板57之间的高度差为预设的高度。
使用该跌落测试机100对待测物品200进行跌落测试时，包括以下步骤：首先，将待测物品200放置于承载板335上，使所述对位件351以及止挡部353环绕待测物品200。其次，通过控制装置70设定待测物品200的测试点以及所需要的冲击高度等参数。所述电控箱10将控制对位件351将待测物品200调节至初始位置，同时传动机构55将落球板57调节至预设的高度，第一调节模组31以及第二调节模组33将承载板335上的待测物品200的第一个测试点调节至对准落球孔571的中心。然后，待所述第一调节模组31与第二调节模组33调整完成后，所述对位件351释放待测物品200，使待测物品200处于自由状态，即可将冲击球300从落球孔571自动跌落进行耐冲击性能测试。可以理解，所述冲击球300可以采用是手动操作的方式从落球板57上跌落，也可以采用其他机构实现自动跌落。该测试点的测试结束后，所述对位件351将待测物品200回复至初始位置，然后第一调节模组31以及第二调节模组33将待测物品200的下一个测试点对准落球孔571的中心后，对位件351再释放待测物品200，使处于自由状态下的待测物品200进行该测试点下的跌落测试，如此反复，直到所有测试点都测试完成为止。
可见，当需要依次对待测物品200上的多个测试点进行耐冲击性能测试时，本发明的跌落测试机100可自动将待测物品200的测试点依次对准冲击球300，而无需手动调节待测物品200的位置，效率及精度均较高。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围内。

Claims (9)

1.一种跌落测试机，用以测试待测物品的耐冲击性能，该跌落测试机包括落球装置以及承载组件，所述承载组件用以承载待测物品，所述落球装置用以将一具有一定重量的冲击球砸到待测物品上而提供一预设的冲击力至待测物品的测试点，其特征在于：所述跌落测试机还包括电连接至所述落球装置以及承载组件的电控箱，该电控箱控制落球装置调节所述冲击球跌落的竖直高度，并控制承载组件调节待测物品的水平位置，从而将该冲击球依次对准待测物品的各测试点砸下，以依次对该各测试点进行耐冲击性能测试。
2.如权利要求1所述的跌落测试机，其特征在于：所述跌落测试机还包括电性连接至所述电控箱的控制装置，所述控制装置用以提供一人机交互界面，以供测试人员设定所述冲击球跌落的高度、待测产品的各测试点等参数，然后该控制装置再控制所述电控箱调节所述承载组件的位置以及落球装置的高度。
3.如权利要求1所述的跌落测试机，其特征在于：所述承载组件包括第一调节模组以及设置于第一调节模组的顶部的第二调节模组，所述待测物品放置于第二调节模组的顶部，所述第一调节模组用以带动第二调节模组及待测物品沿水平方向内的第一方向移动，所述第二调节模组用以带动顶部的待测物品沿该水平方向内的第二方向移动。
4.如权利要求3所述的跌落测试机，其特征在于：所述第一调节模组包括第一气缸、两个第一滑轨以及支撑板，所述两个第一滑轨平行所述第一方向的固定于电控箱的顶部，所述支撑板可相对滑动的装设于两第一滑轨上，并连接至第一气缸，并在第一气缸的带动下于第一滑轨上沿该第一方向往复滑动。
5.如权利要求4所述的跌落测试机，其特征在于：所述第二调节模组包括一个第二气缸、两个第二滑轨以及承载板，所述两个第二滑轨平行所述第二方向的固定于支撑板上，所述承载板可相对滑动的固定于该第二滑轨上，并连接至所述第二气缸，所述第二调节模组通过承载板承载该待测物品，该承载板在第二气缸的带动下于第二滑轨上沿该第二方向往复滑动。
6.如权利要求3所述的跌落测试机，其特征在于：所述承载组件还包括一对位模组，所述对位模组包括对应待测物品的两相对斜角设置的两对位件，所述每一对位件包括对位气缸以及设置于对位气缸末端的抵持块，所述抵持块在该对位气缸的带动下伸出而将待测物品固定至一初始位置，该抵持块在对位气缸的带动下回缩而释放所述待测物品。
7.如权利要求6所述的跌落测试机，其特征在于：所述对位模组还包括两止挡部，所述止挡部与定位件一起环绕所述待测物品设置，并与处于初始位置的待测物品相间隔设置。
8.如权利要求1所述的跌落测试机，其特征在于：所述落球装置包括立柱、滑架、传动机构以及落球板，所述滑架在传动机构的带动下沿竖直方向可相对滑动的装设于立柱上，落球板固定于滑架上，并随着滑架往复滑动而相应调节该落球板于竖直方向的高度。
9.如权利要求8所述的跌落测试机，其特征在于：所述落球板平行水平方向的一端对应所述球开设有一落球孔，所述落球孔的直径较该冲击球的直径大，该冲击球通过落球孔跌落而砸到至待测物品的测试点上。
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PB01 Publication
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