CN103185847B - 辅助测试装置 - Google Patents

Abstract

一种辅助测试装置，适于一待测物。辅助测试装置包括电源单元、储存单元与控制单元。电源单元用以提供多个电压，其中这些电压互不相同。储存单元用以储存对应待测物的电源时序表与模拟信号产生表。控制单元耦接储存单元与电源单元，用以依据电源时序表，提供多个电源时序控制信号，使电源单元依据这些电源时序控制信号，依序提供前述电压给待测物，并依据模拟信号产生表，提供对应待测物的模拟信号给待测物，且控制单元接收待测物回应于前述电压与模拟信号所产生的多个状态信号。

Description

辅助测试装置

技术领域

本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种辅助测试装置。

背景技术

一般来说，市面上的计算机***在出货前，通常都要对其各项性能指标进行测试。在某些机种设计为多模块(例如记忆体模块与中央处理器模块)且多层的架构下，需要整机组合后方可进行测试功能。

由于整机组合后的体积较大且受测试设备的限制，使得在进行电路内测试(In-CircuitTesting，ICT)测试时，而无法做到整机测试。因此，测试设备仅能支持单片单板做上电测试，也即将电源供应器直接连接至单一模块，通过电源供应器来改变或调整供应至单一模块的电源，这样的做法无法有效让前述各个模块可正常进行上电测试。

然而，利用前述单片单板的测试方法，并不能控制应有电源的启动时序以及单一模块所需的操作信号。并且，在没有考量待测物(例如主板)是否已允许上电启动以及没有对错误电源时序(incorrectpowersequence)的保护下，由于实际中存在供电不稳定的情况，电源供应器并不能有效控制输出至待测物的电源。如此一来，不仅造成待测物的元件损坏的潜在的机率增加，并且也额外提高生产的成本。

发明内容

鉴于以上的问题，本发明的目的在于提供一种辅助测试装置，藉以使待测物可依据正确的电源时序进行上电并给予待测物对应的模拟信号，以进行单一模块测试而无须将整机整合后测试，进而减少待测物的电路元件的损坏机率，并增加测试的便利性。

本发明的一种辅助测试装置，适于待测物。此辅助测试装置包括电源单元、储存单元与控制单元。电源单元用以提供多个电压，其中前述电压互不相同。储存单元用以储存对应待测物的电源时序表与模拟信号产生表。控制单元耦接储存单元与电源单元，用以依据电源时序表，提供多个电源时序控制信号，使电源单元依据前述电源时序控制信号，依序提供前述电压给待测物，并依据模拟信号产生表，提供对应待测物的模拟信号给待测物，且控制单元接收待测物回应于前述电压与模拟信号所产生的多个状态信号。

在一实施例中，前述辅助测试装置还包括更新单元。此更新单元耦接储存单元，用以接收并依据更新信号，以更新电源时序表与模拟信号产生表。

在一实施例中，前述辅助测试装置还包括显示单元。显示单元耦接控制单元，用以通过控制单元接收前述状态信号，以显示前述状态信号。

在一实施例中，前述储存单元更用储存对应待测物的另一电源时序表与另一模拟信号产生表，而辅助测试装置还包括检测单元。此检测单元耦接控制单元，用以检测待测物的类型，以产生检测信号。其中，控制单元用以接收并依据检测信号，而选用并依据电源时序表与模拟信号产生表或另一电源时序表与另一模拟信号产生表，提供前述电源时序信号以及模拟信号。

在一实施例中，前述控制单元与储存单元配置于复杂可程序逻辑装置(ComplexProgrammingLogicDevice，CPLD)中。

本发明的辅助测试装置，通过在辅助测试装置与待测物连接后，依据待测物所对应的电源时序，依序提供对应电源时序的工作电压，使得待测物可依据其正确的电源时序进行上电，并提供待测物对应的模拟信号。如此一来，可进行单一模块测试而无须将整机组合后测试，以减少待测物的电路元件的损坏机率，并增加测试的便利性。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明的辅助测试装置的方框图；

图2为本发明的另一辅助测试装置的方框图。

其中，附图标记

100、200辅助测试装置

110、210电源单元

120、220储存单元

130、230控制单元

180、280待测物

240显示单元

250检测单元

260更新单元

具体实施方式

下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：

请参考图1所示，其为本发明的辅助测试装置的方框图。本实施例的辅助测试装置100适于一待测物(unitundertest，UUT)180，其中此待测物180例如为记忆体模块(DIMMmodule)、中央处理器模块(CPUmodule)、主要输入输出板(MainI/Oboard)等的个体单板，但本发明不以此为限。

辅助测试装置100包括电源单元110、储存单元120与控制单元130。电源单元110用以提供多个电压，其中这些电压互不相同。其中，前述电压例如为3.3V、5V、12V等，但本发明不以此为限。储存单元120用以储存对应待测物180的电源时序表与模拟信号产生表。其中，电源时序表例如记录有待测物180由开机至正常运作的上电顺序，模拟信号产生表例如记录有待测物180初始程序前的电源良好(PowerGood)信号或是前置元件的信号。

控制单元130耦接储存单元120与电源单元110，用以依据电源时序表，提供多个电源时序控制信号，并将电源时序控制信号提供给电源单元110。假设，电源时序表记录的电压输出的顺序，例如12V、5V、3.3V，则控制单元130据此提供依序提供12V、5V、3.3V所对应的电源时序控制信号。

接着，电源单元110会依据电源时序控制信号，依序提供待测物180所需的工作电压给待测物180，以使待测物180可由开机阶段运行至正常运作阶段。也就是说，电源单元110会依据前述的电源时序控制信号，而依序提供前述12V、5V、3.3V的电压给待测物180，以确保待测物180可以正确的电源时序进行运作。

另外，控制单元130还会依据模拟信号产生表，提供模拟信号给待测物180。其中，模拟信号可以是前一阶段的电源良好(PowerGood)信号或是前置元件的信号，也即与待测物180相关的其他模块所提供的信号。举例来说，记忆体模块的初始则需要有中央处理器存在的确认信号。也就是说，假设待测物180为记忆体模块时，则控制单元130会提供中央处理器存在的确认信号，则待测物180才会进行初始程序。

控制单元130除了提供电源时序控制信号与模拟信号的外，还可接收待测物180回应于电压单元110提供的电压以及模拟信号而产生的多个状态信号。其中，前述状态信号例如为电源正确或错误状态信号以及初始程序正确或错误状态信号等。也就是说，当待测物180内的电路元件接收到12V的电压并进行运作后，会回传对应12V的电压的正确或错误状态信号给控制单元130；当待测物180内的电路元件接收到5V的电压并进行后，会回传对应此5V的正确或错误状态信号给控制单元130；其余则类推。也即，本实施例可通过控制单元130监控待测物180的上电时序与初始程序过程以及待测物180内的元件对应前述电压与模拟信号的运作状况。

另外，控制单元130例如可将前述状态信号储存至储存单元120。如此一来，使用者可通过读取储存单元120储存的信息，以得知待测物180是否已执行到正常运作状态，而据以使用主要测试装置对待测物180进行后续的测量。

在本实施例中，储存单元120与控制单元130可以一复杂可程序逻辑装置(ComplexProgrammingLogicDevice，CPLD)来实现。

本实施例的辅助测试装置100可提供对应待测物180应有的上电时序的电压以及模拟信号给待测物180，则待测物180无需组合其他模块的情况下，仍可具有所有模块组装后的上电程序与初使程序而进行操作，使得待测物180可以单一模块(记忆体模块或中央处理器模块)单独进行测试。如此一来，可减少待测物的电路元件的损坏机率，并增加测试的便利性。

请参考图2所示，其为本发明的另一辅助测试装置的方框图。本实施例的辅助测试装置200适于一待测物(unitundertest，UUT)280。辅助测试装置200包括电源单元210、储存单元220、控制单元230、显示单元240、检测单元250与更新单元260。

电源单元210用以提供多个电压，其中这些电压互不相同。其中，前述电压例如为3.3V、5V、12V等。储存单元220用以储存对应待测物280的电源时序表与另一电源时序表以及模拟信号产生表与另一模拟信号产生表。也就是说，储存单元220可储存两种不同类型的待测物280所需的电源时序表与模拟信号产生表。前述的电源时序表与模拟信号产生表仅以两个为例，但本发明不以此为限，使用者可视待测物280的类型，而调整储存单元220中的电源时序表与模拟信号产生表的数量。

控制单元230耦接储存单元220与电源单元210，用以依据电源时序表与模拟信号产生表或另一电源时序表与另一模拟信号产生表，提供多个电源时序控制信号与模拟信号。接着，电源单元210会依据前述的电源时序控制信号，依序提供电压给待测物280。并且，控制单元230还可依据模拟信号产生表，提供对应待测物280所需的模拟信号。控制单元230会接收待测物280回应于前述电压与模拟信号所产生的多个状态信号。

显示单元240耦接控制单元230，用以通过控制单元230接收待测物280所回传的状态信号，以显示状态信号。如此一来，使用者便可通过显示单元240所显示的状态而得知待测物280是否产生错误，进而对待测物280进行相应的处理。

检测单元250耦接控制单元230，用以检测待测物280的类型，以产生检测信号。举例来说，检测单元250可配置有多接脚的连接端口，以便于检测单元250通过连接端口与待测物280连接时，检测单元250可通过连接端口连接的针脚数量与位置，检测出待测物280的类型，例如记忆体模块或中央处理器模块。之后，检测单元250据此产生对应的检测信号，并传送给控制单元230。

接着，控制单元230可依据检测信号，于储存单元220中选用对应此检测信号的电源时序表与模拟信号产生表或另一电源时序表与另一模拟信号产生表，而据以提供相关的电源时序信号以及模拟信号。例如，记忆体模块对应电源时序表与模拟信号产生表，而中央处理器模块对应另一电源时序表与另一模拟信号产生表。

另外，更新单元260耦接储存单元220，用以接收并依据更新信号，以更新储存单元220中所储存的电源时序表与模拟信号产生表。也就是说，使用者可通过更新单元260更新储存单元220中所储存的电源时序表与模拟信号产生表的版本与数量。如此一来，可增加使用的便利性。在本实施例中，控制单元230与储存单元220可以复杂可程序逻辑装置来实现。

本发明的实施例的辅助测试装置，其通过在辅助测试装置与待测物连接后，依据待测物所对应的电源时序，产生对应的电源时序控制信号，以依序提供电压给待测物，使得待测物可依据其正确的电源时序进行上电，并提供待测物对应的模拟信号。藉此，可进行单一模块测试而无须整机组合后测试，以可减少待测物的电路元件的损坏机率。另外，辅助测试装置还可显示上电时序过程的状态，且依据待测物的类型提供对应待测物所需的电源时序的电压以及模拟信号，并可更新电源时序表的版本与数量，进而可增加测试的便利性。

当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (3)

1.一种辅助测试装置，适于一待测物，其特征在于，该辅助测试装置包括：

一电源单元，用以提供多个电压，其中该些电压互不相同；

一储存单元，用以储存对应该待测物的一电源时序表与一模拟信号产生表；

一控制单元，耦接该储存单元与该电源单元，用以依据该电源时序表，提供多个电源时序控制信号，使该电源单元依据该些电源时序控制信号，依序提供该些电压给该待测物，并依据该模拟信号产生表，提供对应该待测物的一模拟信号给该待测物，且该控制单元接收该待测物回应于该些电压与该模拟信号所产生的多个状态信号；

一更新单元，耦接该储存单元，用以接收并依据一更新信号，以更新该电源时序表与该模拟信号产生表；以及

一显示单元，耦接该控制单元，用以通过该控制单元接收该些状态信号，以显示该些状态信号。

2.根据权利要求1所述的辅助测试装置，其特征在于，该储存单元还用储存对应该待测物的一另一电源时序表与一另一模拟信号产生表，而该辅助测试装置还包括：

一检测单元，用以检测该待测物的类型，以产生一检测信号；

其中，该控制单元用以接收并依据该检测信号，而选用并依据该电源时序表与该模拟信号产生表或该另一电源时序表与该另一模拟信号产生表，提供该些电源时序信号以及该模拟信号。

3.根据权利要求1所述的辅助测试装置，其特征在于，该控制单元与该储存单元配置于一复杂可程序逻辑装置中。