CN211505748U

CN211505748U - 显示模组的检测装置

Info

Publication number: CN211505748U
Application number: CN201922484188.2U
Authority: CN
Inventors: 芮志强
Original assignee: Suzhou HYC Technology Co Ltd
Current assignee: Suzhou HYC Technology Co Ltd
Priority date: 2019-12-30
Filing date: 2019-12-30
Publication date: 2020-09-15
Anticipated expiration: 2029-12-30

Abstract

本实用新型公开了一种显示模组的检测装置。该显示模组的检测装置包括操作盒、PG测试模块和基板；基板包括存储单元和产品连接器，存储单元用于存储基板对应的显示模组测试参数；产品连接器用于与待检测显示模组连接；操作盒包括控制单元和连接接口，控制单元通过连接接口与PG测试模块连接，PG测试模块通过背板连接器与基板连接，存储单元通过PG测试模块与控制单元连接，控制单元根据显示模组测试参数输出控制信号至PG测试模块；PG测试模块用于根据控制信号形成测试信号，并通过背板连接器输出至基板；基板用于将测试信号输出至待检测显示模组。不仅提高了检测效率，而且降低了检测显示模组的难度。

Description

显示模组的检测装置

技术领域

本实用新型实施例涉及检测技术领域，尤其涉及一种显示模组的检测装置。

背景技术

现有的显示模组的检测设备都是针对工厂流水线生产显示模组定制化的检测设备。检测不同类型的显示模组时需要通过不同的接口与检测设备连接，从而实现不同类型的显示模组的检测。由于显示模组的类型众多，显示模组的检测设备设置的接口也比较多，且接口不统一。在检测显示模组时，需要根据显示模组的类型选取对应的接口，显示模组与检测设备连接比较复杂。另外，不同类型的显示模组对应不同的测试参数，在检测显示模组时，需要根据显示模组的类型设置其对应的测试参数，不仅繁琐，而且需要熟悉检测设备的专业人士设置才能保证测试参数与显示模组的匹配正确率，加大了检测显示模组的难度。

实用新型内容

本实用新型提供一种显示模组的检测装置，以提高显示模组的检测装置的检测效率，降低了检测难度。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种显示模组的检测装置，包括操作盒、PG测试模块和基板；

所述基板包括存储单元和产品连接器，所述存储单元用于存储所述基板对应的显示模组测试参数；所述产品连接器用于与待检测显示模组连接；

所述操作盒包括控制单元和连接接口，所述控制单元通过所述连接接口与所述PG测试模块连接，所述PG测试模块通过背板连接器与所述基板连接，所述存储单元通过所述PG测试模块与所述控制单元连接，所述控制单元根据所述显示模组测试参数输出控制信号至所述PG测试模块；所述PG测试模块用于根据所述控制信号形成测试信号，并通过所述背板连接器输出至所述基板；所述基板用于将所述测试信号输出至所述待检测显示模组。

可选地，所述存储单元为电子抹除式可复写只读存储器。

可选地，所述控制单元包括：

参数读取子单元，所述参数读取子单元通过所述PG测试模块与所述基板通信连接，用于读取所述基板上的存储单元中的显示模组测试参数；

参数输出子单元，所述参数输出子单元与所述参数读取子单元和所述PG测试模块连接，用于根据所述参数读取子单元获取的显示模组测试参数形成控制信号，并输出所述控制信号至所述PG测试模块。

可选地，所述控制单元为中央处理器。

可选地，所述操作盒还包括显示单元；

所述显示单元与所述参数读取子单元连接，用于显示所述参数读取子单元读取的显示模组测试参数。

可选地，所述操作盒还包括输入单元；

所述输入单元与所述参数输出子单元和所述显示单元连接，所述输入单元用于输入预设参数；所述参数输出子单元根据所述预设参数形成控制信号；所述显示单元用于显示所述输入单元输入的预设参数。

可选地，所述输入单元通过所述PG测试模块与所述存储单元连接，所述存储单元用于存储所述预设参数。

可选地，所述输入单元包括按键输入子单元和/或触控输入子单元。

可选地，检测装置还包括扩展模块；所述连接接口为type-C接口；所述type-C接口包括至少两个；其中一个所述type-C接口与所述PG测试模块连接，其余所述type-C接口与所述扩展模块连接。

可选地，所述PG测试模块还包括电池和电源适配器，所述电池用于为所述PG测试模块提供电源；所述电源适配器与所述电池连接，用于为所述电池充电。

本实用新型实施例的技术方案，操作盒包括控制单元和连接接口，基板包括存储单元和产品连接器。控制单元通过连接接口与PG测试模块连接，PG测试模块通过背板连接器与基板连接，存储单元通过PG测试模块与控制单元连接。控制单元可以直接读取存储单元存储的待检测显示模组的测试参数，因此无需根据待检测显示模组的类型设置其对应的测试参数，不仅可以节约设置对应的测试参数的繁琐过程，提高了检测效率，而且降低了设置对应的测试参数的专业要求，降低了检测显示模组的难度。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种显示模组的检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型提供的一种操作盒的结构示意图；

图3为本实用新型提供的另一种显示模组的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

图1为本实用新型实施例提供的一种显示模组的检测装置的结构示意图。如图1所示，该检测装置包括操作盒110、PG测试模块120和基板140；基板140包括存储单元141和产品连接器142，存储单元142用于存储基板140对应的显示模组测试参数；产品连接器142用于与待检测显示模组150连接；操作盒110包括控制单元111和连接接口112，控制单元111通过连接接口112与PG测试模块120连接，PG测试模块120通过背板连接器130与基板140连接，存储单元141通过PG测试模块120与控制单元111连接，控制单元111根据显示模组测试参数输出控制信号至PG测试模块120；PG测试模块120用于根据控制信号形成测试信号，并通过背板连接器130输出至基板140；基板140用于将测试信号输出至待检测显示模组150。

具体地，PG测试模块120是基于一种操作***的检测PG，例如可以为ARM linx操作***。PG测试模块120可以输出测试信号。例如，当检测小尺寸的显示模组时，PG测试模块120可以输出MIPI信号及其MIPI信号对应的电源信号和功能引脚信号。其中，电源信号可以包括VCI，VDDI，VSP，VSN，AVDD及背光，功能引脚信号可以包括位，I²C，SPI等IO引脚信号。PG测试模块120输出的测试信号通过背板连接器130输出至基板140。

基板140与待检测显示模组150之间可以通过柔性扁平电缆(Flexible FlatCable，FFC)连接器，或柔性印刷电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)连接器直接压扣连接。基板140与待检测显示模组150的类型一一对应。即不同的待检测显示模组150对应不同类型的基板140。当检测待检测显示模组150时，选取与其对应的基板140，从而实现基板140上的产品连接器142与待检测显示模组150连接。基板140上的存储单元141存储有与基板140对应的显示模组测试参数，即为待检测显示模组150的测试参数。当检测待检测显示模组150时，控制单元111通过PG测试模块120获取存储单元141中的测试参数，并根据测试参数形成控制信号通过连接接口112传输至PG测试模块120，PG测试模块根据控制信号形成对应测试参数的测试信号，从而可以直接对待检测显示模组150进行测试。

在上述过程中，操作盒110中的控制单元111可以直接读取存储单元141存储的待检测显示模组150的测试参数，因此无需根据待检测显示模组150的类型设置其对应的测试参数，不仅可以节约设置对应的测试参数的繁琐过程，提高了检测效率，而且降低了设置对应的测试参数的专业要求，降低了检测显示模组的难度。另一方面，操作盒110与PG测试模块120之间采用的连接接口112可以为具有高速传输功能的接口，例如为type-C接口或USB3.0接口，提高操作盒110与PG测试模块120之间的信号传输速率。

需要说明的是，为了保证背板连接器130的信号传输速率，可以选用TE高速背板连接器。另外，PG测试模块120还可以包括USB接口，USB接口可以为USB3.0接口，其可以与存储介质和上位机等连接。操作盒110上还可以设置其他备用接口，例如网络接口和调试接口。网络接口可以与网络线连接，用于为检测装置提供网络信号。调试接口用于接入调试信号，从而实现对操作盒110的调试。

本实施例的技术方案，操作盒包括控制单元和连接接口，基板包括存储单元和产品连接器。控制单元通过连接接口与PG测试模块连接，PG测试模块通过背板连接器与基板连接，存储单元通过PG测试模块与控制单元连接。控制单元可以直接读取存储单元存储的待检测显示模组的测试参数，因此无需根据待检测显示模组的类型设置其对应的测试参数，不仅可以节约设置对应的测试参数的繁琐过程，提高了检测效率，而且降低了设置对应的测试参数的专业要求，降低了检测显示模组的难度。

在上述技术方案的基础上，检测装置还包括扩展模块。连接接口为type-C接口，type-C接口包括至少两个；其中一个type-C接口与PG测试模块连接，其余type-C接口与扩展模块连接。

具体地，type-C接口不仅可以实现正反插，降低操作盒110与PG测试模块120之间的连接难度，而且type-C接口能够实现高速传输功能及转换其他类型接口，如DP，VGA，232，DB9等，因此可以适应更多类型接口的连接，进而可以减少检测装置上接口的设置，降低了检测装置的连接难度。另外，通过设置type-C接口包括至少两个，其中一个type-C接口与PG测试模块连接，用于实现检测装置的基本测试功能，其余type-C接口可以实现外扩接口，例如DP，VGA，USB等，从而通过外扩接口与扩展模块连接，增加检测装置的功能。

在上述各技术方案的基础上，控制单元包括：

参数读取子单元，参数读取子单元通过PG测试模块与基板通信连接，用于读取基板上的存储单元中的显示模组测试参数。

参数输出子单元，参数输出子单元与参数读取子单元和PG测试模块连接，用于根据参数读取子单元获取的显示模组测试参数形成控制信号，并输出控制信号至PG测试模块。

具体地，在检测过程中，PG测试模块上电后通过连接接口与操作盒连接，操作盒中的参数读取子单元通过PG测试模块读取基板上存储单元上存储的待检测显示模组的测试参数，并将测试参数传输至参数输出子单元。参数输出子单元根据测试参数形成控制信号，并通过连接接口传输至PG测试模块。PG测试模块根据控制信号形成与待检测显示模组对应的测试信号，例如为检测画面信号。并通过背板连接器输出至基板，通过基板上的产品连接器输出至待检测显示模组，待检测显示模组根据测试信号进行显示，从而实现待检测显示模组的检测。在检测结束后，可以对PG测试模块进行关电结束测试。在上述检测过程中，操作盒直接读取基板上待检测显示模组的测试参数，无需根据待检测显示模组的类型设置对应的测试参数，不仅可以节约设置对应的测试参数的繁琐过程，提高了检测效率，而且降低了设置对应的测试参数的专业要求，降低了检测显示模组的难度。

需要说明的是，测试信号可以包括多幅检测画面，在不同的检测画面切换过程中，可以选择手动切换，也可以选择自动切换。

示例性地，控制单元为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。

图2为本实用新型提供的一种操作盒的结构示意图。如图2所示，操作盒包括控制单元111和连接接口112，还包括显示单元113。显示单元113与参数读取子单元114连接，用于显示参数读取子单元114读取的显示模组测试参数。

具体地，显示单元113可以为显示器。显示单元113与参数读取子单元114连接，参数读取子单元114获取待检测显示模组的测试参数后，将待检测显示模组的测试参数输出至显示单元113，显示单元113显示待检测显示模组的测试参数，从而便于检测人员核查测试参数与待检测显示模组是否匹配。

继续参考图2，操作盒还包括输入单元115；输入单元115与参数输出子单元116和显示单元113连接，输入单元115用于输入预设参数；参数输出子单元116根据预设参数形成控制信号；显示单元113用于显示输入单元115输入的预设参数。

具体地，当待检测显示模组为新类型的显示模组时，与其对应的基板的存储单元中没有对应的测试参数。此时可以通过输入单元115编辑测试参数进行检测。预设参数为待检测显示模组的测试参数。具体过程为：PG测试模块上电后通过连接接口与操作盒连接，操作盒的显示单元113进入上位机界面，通过输入单元115输入待检测显示模组的测试参数，并传输至控制单元111的参数输出子单元116，参数输出子单元116根据测试参数形成控制信号，并通过连接接口输出至PG测试模块。PG测试模块根据控制信号形成与待检测显示模组对应的测试信号，并通过背板连接器输出至基板，通过基板上的产品连接器输出至待检测显示模组，待检测显示模组根据测试信号进行显示，从而实现待检测显示模组的检测。

在上述技术方案的基础上，输入单元通过PG测试模块与存储单元连接，存储单元用于存储预设参数。

具体地，在输入单元输入待检测显示模组的测试信号后，可以将测试信号通过PG测试模块传输至基板上的存储单元中进行存储。当再次检测相同类型的显示模组时，控制单元可以通过PG测试模块直接读取基板上存储单元存储的预设参数，并根据该预设参数形成控制信号，控制PG测试模块形成与显示模组匹配的测试信号，对显示模组进行检测。

由上述过程可知，通过存储单元存储预设参数，形成与新类型显示模组匹配的基板。当再次检测相同类型的显示模组时，操作盒可以直接读取基板上的测试参数，无需根据待检测显示模组的类型设置对应的测试参数，不仅可以节约设置对应的测试参数的繁琐过程，提高了检测效率，而且降低了设置对应的测试参数的专业要求，降低了检测显示模组的难度。

另外，存储单元为电子抹除式可复写只读存储器。

具体地，电子抹除式可复写只读存储器(Electrically-Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EEPROM)是可以通过电子方式多次复写的半导体存储设备，可以擦除已有信息，重新编辑。在检测过程中，当待检测显示模组的测试参数发生变化时，可以通过操作盒的输入单元输入相应的测试参数，对存储单元中已有的测试参数重新编辑，从而可以对待检测显示模组的测试参数进行更新。并在后续使用中可以直接进行读取，实现了检测过程的灵活操作。

在上述技术方案的基础上，输入单元可以包括按键输入子单元和/或触控输入子单元。其中，按键输入子单元可以为键盘等输入设备，触控输入子单元可以为触控显示面板等设备。按键输入子单元可以与显示单元通信连接，触控输入子单元可以集成在显示单元上。

另外，输入单元可以包括按键输入子单元或触控输入子单元，输入单元可以同时包括按键输入子单元和触控输入子单元。当输入单元包括触控输入子单元时，显示单元具有触控功能。

操作盒还可以包括电池，用于为操作盒提供电源。当操作盒与主机连接时，操作盒也可以通过PG测试模块获取主机电源，为操作盒提供电源。

图3为本实用新型提供的另一种显示模组的检测装置的结构示意图。如图3所示，PG测试模块120还包括电池121和电源适配器122，电池121用于为PG测试模块120提供电源；电源适配器122与电池121连接，用于为电池121充电。

具体地，在没有外部电源时，电池121可以为PG测试模块120提供电源，方便断电后进行显示模组的检测，并可以实现外带检测。另外，PG测试模块120还包括电源适配器122，电源适配器122与电池121连接。当电源适配器122与外部电源连接时，外部电源可以通过电源适配器122为电池121充电。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims

1.一种显示模组的检测装置，其特征在于，包括操作盒、PG测试模块和基板；

2.根据权利要求1所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述存储单元为电子抹除式可复写只读存储器。

3.根据权利要求1所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述控制单元包括：

4.根据权利要求3所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述控制单元为中央处理器。

5.根据权利要求3所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述操作盒还包括显示单元；

6.根据权利要求5所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述操作盒还包括输入单元；

7.根据权利要求6所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述输入单元通过所述PG测试模块与所述存储单元连接，所述存储单元用于存储所述预设参数。

8.根据权利要求6所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述输入单元包括按键输入子单元和/或触控输入子单元。

9.根据权利要求1所述的显示模组的检测装置，其特征在于，还包括扩展模块；所述连接接口为type-C接口；所述type-C接口包括至少两个；其中一个所述type-C接口与所述PG测试模块连接，其余所述type-C接口与所述扩展模块连接。

10.根据权利要求1所述的显示模组的检测装置，其特征在于，所述PG测试模块还包括电池和电源适配器，所述电池用于为所述PG测试模块提供电源；所述电源适配器与所述电池连接，用于为所述电池充电。