CN102854195B - 彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，涉及工业检测领域。所述方法包括步骤：捕捉彩色滤光片的图像；对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。所述方法具有以下优势：省略了显微镜读取Mark的步骤，通过图像处理建立坐标系并输出缺陷坐标数据，既减少了设备的工作周期，提高了检测效率，又提高了对缺陷坐标的检测精度。
Description
技术领域
本发明涉及工业检测技术领域，特别涉及一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法。
背景技术
现有技术中，对于彩色滤光片上缺陷坐标的检测步骤大致如下：当彩色滤光片进入AOI（Automatic Optic Inspection，自动光学检测）设备内后，有显微镜进行移动读取Mark（标记），识别出Mark，确立坐标系；TDI CCD（时间延迟积分电荷耦合元件）再对彩色滤光片进行扫描，通过图像处理与显微镜读取Mark确立的坐标系进行匹配，输出缺陷坐标。图1是AOI设备示意图，如图1所示，所述AOI设备1包括：显微镜和TDI CCD，并且显微镜设置在显微镜龙门架11上，TDI CCD设置在TDI CCD龙门架12上。
现有检测方法存在以下缺陷：彩色滤光片进入AOI设备内后，先由显微镜进行移动读取AOI Mark，再由TDI CCD进行图像扫描，读取AOI Mark与TDI CCD扫描分为两个步骤，导致检测步骤多，检测周期比较长，并且造成设备发生故障的频率上升，影响设备的稳定性；显微镜龙门架与TDI CCD龙门架属于两个不同的龙门架，他们之间存在着坐标上的误差，而TDI CCD所输出的缺陷坐标是以显微镜计算的数据为基础，这样缺陷坐标的误差就会很大，不能准确地对缺陷进行处理，影响产品的品质。
发明内容
（一）要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是：如何提供一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，以简化检测步骤，提高检测精度。
（二）技术方案
一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，其包括步骤：
A：捕捉彩色滤光片的图像；
B：对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；
C：根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；
D：根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。
其中，所述步骤A中，通过时间延迟积分电荷耦合元件捕捉彩色滤光片的图像。
其中，所述步骤B具体包括步骤：
B1：对所述图像进行合成；
B2：对合成后的图像进行灰阶处理，获取所述彩色滤光片上各个像素的灰阶值；
B3：根据所述灰阶值的变化情况，找到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点。
其中，所述标记为多个，呈十字形，分别设置在所述彩色滤光片的拐角处。
其中，在所述步骤D之后还包括步骤E：修补设备根据所述缺陷坐标对所述彩色滤光片进行修补。
（三）有益效果
本发明所述彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法具有以下优势：省略了显微镜读取Mark的步骤，通过图像处理建立坐标系并输出缺陷坐标数据，既减少了设备的工作周期，提高了检测效率，又提高了对缺陷坐标的检测精度；避免了由于显微镜或者显微镜的龙门架出现故障，而影响TDI CCD工作的情况，提高了检测设备的稳定性；由检测设备输出的缺陷坐标更加精确，从而使下游的修补设备能够更准确地找出缺陷位置进行修补，提升了产品质量。
附图说明
图1是AOI设备示意图；
图2是本发明实施例所述彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法的流程图；
图3是所述步骤B的流程图；
图4是所述标记在彩色滤光片上的位置示意图；
图5是所述标记所对应的临界点示意图；
图6是根据临界点捕捉到的所述标记的示意图；
图7是根据临界点捕捉到的所述彩色滤光片的边缘示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
图2是本发明实施例所述彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法的流程图，如图2所示，所述方法包括步骤：
A：捕捉彩色滤光片的图像。
本步骤中，通过时间延迟积分电荷耦合元件（即TDI CCD）捕捉彩色滤光片的图像，所述图像具有较高的分辨率。TDI CCD适用于对一些高速移动的物体成像，其优势是同一景物对多行线阵像元信号相加成像，与普通线阵CCD(尤其是面阵CCD)相比较减小了像元之间响应的不均匀性。
B：对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点。
图3是所述步骤B的流程图，如图3所示，所述步骤B具体包括步骤：
B1：对所述图像进行合成。
由于彩色滤光片处于运动状态，TDI CCD所捕捉原始图像并不能反映完整的彩色滤光片，因此，需要首先对所述图像进行合成，以得到能够反映完整的彩色滤光片的图像，以便后续处理。
B2：对合成后的图像进行灰阶处理，获取所述彩色滤光片上各个像素的灰阶值。
B3：根据所述灰阶值的变化情况，找到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点。
灰阶值代表了图像中像素由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别，当图像中包含标记（即Mark）时，会在标记与背景图像的交界处出现灰阶值跳变的现象。同理，在所述彩色滤光片的边缘处，也会出现灰阶值跳变的现象。这种灰阶值跳变的现象对应于一系列灰阶变化的临界点，而根据这些临界点可以捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘。
C：根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘。
图4是所述标记在彩色滤光片上的位置示意图，如图4所示，本实施例中，所述标记为四个，呈十字形，分别设置在所述彩色滤光片的四个拐角处。所述标记可以用于后续建立所述彩色滤光片的坐标系，考虑到建立坐标系的需要，其数量还可以是3个、5个等等。
图5是所述标记所对应的临界点示意图；图6是根据临界点捕捉到的所述标记的示意图。如图5和图6所示，根据所述标记所对应的临界点可以清晰地捕捉到所述彩色滤光片上的标记，在获得所述标记的过程中，并未如传统方法那样用到显微镜，从而简化了处理步骤，提高了检测效率。
图7是根据临界点捕捉到的所述彩色滤光片的边缘示意图，如图7所示，基于与捕捉所述标记相同的原理，可以捕捉得到所述彩色滤光片的边缘。
D：根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。
首先以所述标记为例进行说明，参见图4，根据图4中至少三个标记，可以建立一个对应所述彩色滤光片的直角坐标系，并且确定坐标原点。比如，将左下角标记的中心记作点O，将左上角标记的中心记作点Y，将右下角标记的中心记作点X，则可建立一个以O点为原点，以O、X所在直线为x轴，以O、Y所在直线为y轴的直角坐标系，根据该直角坐标系可以为所述彩色滤光片上每个点赋予一个坐标，从而可以根据该直角坐标系输出缺陷坐标。
当根据所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系时，可以选择两个相互垂直的边缘建立一个与上述直角坐标系相类似的直角坐标系，比如，以左侧边缘和下侧边缘的交点为原点，以左侧边缘所在直线为y轴，以下侧边缘所在直线为x轴建立直角坐标系，然后根据该直角坐标系输出缺陷坐标。
由于所述彩色滤光片的边缘并不一定标准，所以依据所述标记确定的直角坐标系相比依据所述彩色滤光片的边缘所确定的直角坐标系具有更高的精度，所得到的缺陷坐标也相应地更加精确。
在得到所述缺陷坐标后，可以采用修补设备根据所述缺陷坐标对所述彩色滤光片进行修补，以保证所述彩色滤光片的质量可靠。
本发明实施例所述彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法具有以下优势：省略了显微镜读取Mark的步骤，通过图像处理建立坐标系并输出缺陷坐标数据，既减少了设备的工作周期，提高了检测效率，又提高了对缺陷坐标的检测精度；避免了由于显微镜或者显微镜的龙门架出现故障，而影响TDI CCD工作的情况，提高了检测设备的稳定性；由检测设备输出的缺陷坐标更加精确，从而使下游的修补设备能够更准确地找出缺陷位置进行修补，提升了产品质量。
以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
Claims (4)
1.一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，其特征在于，包括步骤：
A：捕捉彩色滤光片的图像；
B：对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；
C：根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；
D：根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标；
步骤B具体包括步骤：
B1：对所述图像进行合成；
B2：对合成后的图像进行灰阶处理，获取所述彩色滤光片上各个像素的灰阶值；
B3：根据所述灰阶值的变化情况，找到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A中，通过时间延迟积分电荷耦合元件捕捉彩色滤光片的图像。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标记为多个，呈十字形，分别设置在所述彩色滤光片的拐角处。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤D之后还包括步骤E：修补设备根据所述缺陷坐标对所述彩色滤光片进行修补。
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