CN102608520A - 一种基于usb转iic协议的芯片测试*** - Google Patents

一种基于usb转iic协议的芯片测试*** Download PDF

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王茂海
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Abstract

本发明涉及一种基于USB转IIC协议的芯片测试***，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。

Description

一种基于USB转IIC协议的芯片测试***
技术领域
本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种基于USB转IIC协议的芯片测试***。
背景技术
数字集成电路设计(IC设计)一般有以下流程：
1.***功能设计阶段
设计人员产品的应用场合，设定一些诸如功能、操作速度、接口规格、环境温度及消耗功率等规格，以做为将来电路设计时的依据。更可进一步规划软件模块及硬件模块该如何划分。
2．设计描述和行为级验证
***功能设计完成后，可以依据功能将SOC划分为若干功能模块，并决定实现这些功能将要使用的IP核。此阶段将接影响了SOC内部的架构及各模块间互动的信号，及未来产品的可靠性。决定模块之后，可以用VHDL 或Verilog 等硬件描述语言实现各模块的设计。接着，利用VHDL 或Verilog 的电路仿真器，对设计进行功能验证。
3．逻辑综合
确定设计描述正确后，可以使用逻辑综合工具（synthesizer）进行综合。　　
4．门级验证
   门级功能验证是寄存器传输级验证。主要的工作是要确认经综合后的电路是否符合功能需求，该工作一般利用门电路级验证工具完成。
5．布局和布线
布局指将设计好的功能模块合理地安排在芯片上，规划好它们的位置。布线则指完成各模块之间互连的连线。
6. 流片测试
通过半导体工艺制造出所设计的芯片，用以测试。
7. 大规模量产。
发明内容
本发明应用于芯片流片成功后的板级测试阶段，在芯片大规模生产之前一般需要对其进行“试生产”也就是流片，对流片后的样品进行检测验证，用以检测集成电路设计是否成功，功能是否满足要求等，
为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种基于USB转IIC协议的芯片测试***，与外部测试芯片连接，其特征在于：包括上位机、测试板、IIC总线；
所述的上位机通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；
所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。
本发明的第一优选方案为，所述的USB接口为USB2.0接口。
本发明的第二优选方案为，所述的USB协议为USB2.0协议。
本发明的第三优选方案为，所述的内设测试软件为可视化界面。
本发明的第四优选方案为，所述的测试板包括芯片Cy68013。
本发明的技术优势在于：能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。
下面结合附图和具体实施方式对发明做进一步说明。
附图说明
图1为本实施例结构示意图。
具体实施方式
参考图1，一种基于USB转IIC协议的芯片测试***，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。USB接口为USB2.0接口。USB协议为USB2.0协议。内设测试软件为可视化界面。测试板包括芯片Cy68013。
具体实现方法包括以下步骤：
（1）     操作者通过可视化界面把数据输入上位机，上位机内部软件把数据格式化成USB2.0协议的数据，然后通过USB接口把数据发送出去；
（2）     上位机软件发送来的数据通过USB2.0接口进入到板级芯片Cy68013中，在Cy68013中完成USB2.0到IIC协议转化，最后IIC总线把数据发送出去。
（3）     IIC总线根据扇区地址把数据配送到各个寄存器、Memory等接口中。
（4）     各个接口、寄存器的接收数据，经过芯片功能逻辑运算后，再通过这个链路返回到PC端，显示。
上位机软件：
上位机内部软件包括read按钮、write按钮、对话框、根据芯片的模块划分成不同的功能页，功能页内包涵着对应的寄存器，使用寄存器ID对其进行排序，每个寄存器有读写两种操作，点击read按钮可以读取寄存器内的数据，并且返回到相应的窗体上；点击write按钮，可以把相应对话框中的数据写到寄存器中，如果读写正常会有相应的提示。
在最下端有记录操作的对话框。
b) USB到IIC协议转换
在测试版中搭载了Cypress公司的Cy68013芯片，芯片连接到PC机的USB接口端可以接受PC传输过来的数据，在Cy68013芯片中集成了8051单片机，使用8051的两个普通I/O口可的模拟出IIC总线协议，数据通过IIC总线发送出去。
c) IIC总线到芯片端
在IIC总线搭载的数据中包含了各个寄存器的扇区地址，各个寄存器通过扇区地址寻址找到相应的数据，数据进入相应的寄存器经过逻辑运算后重新返回IIC总线，根据原链路反送回去。

Claims (5)

1.一种基于USB转IIC协议的芯片测试***，与外部测试芯片连接，其特征在于：包括上位机、测试板、IIC总线；
所述的上位机通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；
所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。
2.一种基于USB转ICC协议的芯片测试***，其特征在于：所述的USB接口为USB2.0接口。
3.根据权利要求1或2所述的一种基于USB转ICC协议的芯片测试***，其特征在于：所述的USB协议为USB2.0协议。
4.根据权利要求1所述的一种基于USB转ICC协议的芯片测试***，其特征在于：所述的内设测试软件为可视化界面。
5.根据权利要求1所述的一种基于USB转ICC协议的芯片测试***，其特征在于：所述的测试板包括芯片Cy68013。
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