CN101398467A - 内部集成电路总线接口测试***及方法 - Google Patents
内部集成电路总线接口测试***及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101398467A CN101398467A CNA2007102018565A CN200710201856A CN101398467A CN 101398467 A CN101398467 A CN 101398467A CN A2007102018565 A CNA2007102018565 A CN A2007102018565A CN 200710201856 A CN200710201856 A CN 200710201856A CN 101398467 A CN101398467 A CN 101398467A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- circuit bus
- integrate circuit
- main frame
- internal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Information Transfer Systems (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
一种内部集成电路总线接口测试方法,该方法包括如下步骤:启动主机中的通用串行总线控制器,使其产生通用串行总线信号;将所述通用串行总线信号通过通用串行总线接口传送给与主机相连的信号转换设备;信号转换设备将接收到的通用串行总线信号转换成内部集成电路总线信号;将该内部集成电路总线信号通过内部集成电路总线接口传送给主机中的串行存在探测芯片;判断所述内部集成电路总线信号是否能对串行存在探测芯片进行操作以确定内部集成电路总线接口测试是否通过。另外,本发明还提供一种内部集成电路总线接口测试***。
Description
技术领域
本发明涉及一种内部集成电路总线接口测试***及方法。
背景技术
提高和保证产品质量,是企业活动中的重要内容。为了提高和保证产品质量,企业必须对产品实施测试以获得产品及其制造过程的质量信息,按照这些信息对产品的制造过程实施控制——进行修正和补偿活动,使废次品与返修品率降到最低程度,最终保证产品质量形成过程的稳定性及其产出产品的一致性。
众所周知,由于内部集成电路总线(I2C:Inter—Integrated Circuit)简单性和有效性以及其接口直接在组件之上,I2C,总线占用的空间非常小,减少了电路板的空间和芯片管脚的数量,降低了互联成本。因此,在个人计算机(PC:Personal Computer)上安装有I2C接口越来越广泛。另外,由于通用串行总线(USB:Universal Serial Bus)允许外设在开机状态下热插拔,最多可串接127个外设,传输速度可达480MB/S,且向低压设备提供5伏电源,同时可以减少个人计算机(PC:Personal Computer)I/O接口数量,因此在PC上几乎都安装有USB接口。
目前,在对I2C接口进行测试时,都是单独对其进行测试,而不能在USB接口测试合格之后,通过USB接口发送的信号对I2C接口进行测试。如此既费时又耗资,测试成本增加。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种内部集成电路总线接口测试***,其可以通过通用串行总线接口发送的信号对内部集成电路总线接口进行测试。
鉴于以上内容,还有必要提供一种内部集成电路总线接口测试方法,其可以通过通用串行总线接口发送的信号对内部集成电路总线接口进行测试。
一种内部集成电路总线接口测试***,该***包括主机及信号转换设备,所述主机包括通用串行总线控制器、通用串行总线接口、串行存在探测芯片及内部集成电路总线接口,所述信号转换设备用于将通用串行总线信号转换成内部集成电路总线信号,所述主机还包括:启动模块,用于主机中的启动通用串行总线控制器,使其产生通用串行总线信号;传送模块,用于将上述产生的通用串行总线信号通过通用串行总线接口传送给与主机相连的信号转换设备;所述传送模块,还用于将信号转换设备转换成的内部集成电路总线信号通过内部集成电路总线接口传送给串行存在探测芯片;判断模块,用于判断所述内部集成电路总线的信号是否能对串行存在探测芯片进行操作以确定内部集成电路总线接口测试是否通过。
一种内部集成电路总线接口测试方法,该方法包括如下步骤:启动主机中的通用串行总线控制器,使其产生通用串行总线信号;将所述通用串行总线信号通过通用串行总线接口传送给与主机相连的信号转换设备;信号转换设备将接收到的通用串行总线信号转换成内部集成电路总线信号;将该内部集成电路总线信号通过内部集成电路总线接口传送给主机中的串行存在探测芯片;判断所述内部集成电路总线信号是否能对串行存在探测芯片进行操作以确定内部集成电路总线接口测试是否通过。
相较于现有技术,所述的内部集成电路总线接口测试***及方法,其可以在USB接口测试合格之后,通过USB接口发送的信号对I2C接口进行测试,节约测试成本及测试时间。
附图说明
图1是本发明内部集成电路总线接口测试***较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1中所示主机的功能模块图。
图3是本发明内部集成电路总线接口测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示,是本发明内部集成电路总线接口测试***较佳实施例的***架构图。该***主要包括主机1、信号转换设备6及显示设备7。所述主机1中包含有通用串行总线(USB:Universal Serial Bus)控制器2、通用串行总线接口3、串行存在探测(SPD:SerialPresence Detect)芯片4、内部集成电路总线(I2C:Inter—Integrated Circuit)接口5。所述USB控制器2通过USB接口3连接信号转换设备6,该信号转换设备6通过I2C接口5连接SPD芯片4。所述主机1还连接有显示设备7。
所述USB控制器2用于通过USB接口3发出信号,通常USB控制器2集成在主机1的南桥芯片上。
所述SPD芯片4用于保存内存模组的配置信息(速度、容量、电压与行、列地址带宽等参数信息),所述配置信息存放在一个容量为256字节的EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory,电擦除可编程只读存储器)中,并与I2C接口5相连。
所述主机1用于将USB控制器2发出的USB信号通过USB接口3传送给信号转换设备6。
所述信号转换设备6用于将接收到的USB信号转换成I2C的信号。
所述主机1还用于将信号转换设备6转换的I2C通过I2C接口5传送给SPD芯片4,通过转换的I2C信号是否能对SPD芯片4进行操作判断I2C接口5是否合格。
所述信号转换设备6用于将USB的信号转换成I2C的信号。
所述显示设备7用于显示测试的结果。所述的显示设备7可以是显示器,也可以是其它任意合适显示装置。
如图2所示,是图1中所示主机1的功能模块图。所述主机1包括启动模块210、传送模块211、判断模块212、显示模块213。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段,比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程,因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。
其中,所述启动模块210用于启动USB控制器2,使其产生USB信号。所述USB控制器用于对USB接口发出信号,通常USB控制器集成在主机1的南桥芯片上。
所述传送模块211用于将USB控制器2产生的USB信号通过USB接口3传送给信号转换设备6。该信号转换设备6将该USB的信号转换成I2C的信号。
所述传送模块211还用于将信号转换设备6转换成的I2C信号通过I2C接口5传送给SPD芯片4。
所述判断模块212用于判断所述I2C的信号是否能对SPD芯片4进行操作。所述的操作是指I2C的信号对SPD芯片4上的信息进行读取或者修改,例如:读取SPD芯片4上的电压。
所述显示模块213用于当所述I2C的信号能对SPD芯片4进行操作时,在与主机1相连的显示设备7上显示I2C接口5测试通过。具体而言,若USB控制器2发出是读取SPD芯片4上电压的USB信号,信号转换设备6转换该信号为I2C信号,之后通过I2C接口传给SPD芯片4,而经过转换的I2C信号能够读取SPD芯片4上的电压,表明通过I2C接口5进行信号传输正常,则所述的I2C接口5合格,显示设备7上显示I2C接口5测试“PASS”。
所述显示模块213还用于当所述I2C的信号不能对SPD芯片4进行操作时,在与主机1相连的显示设备7上显示I2C接口5测试异常。具体而言,若USB控制器2发出是读取SPD芯片4上电压的USB信号,信号转换设备6转换该信号为I2C信号,之后通过I2C接口5传给SPD芯片4,而经过转换的I2C信号不能够读取SPD芯片4上的电压,表明通过I2C接口5进行信号传输异常,则所述的I2C接口5不合格,显示设备7上显示I2C接口5测试“FAIL”。
如图3所示,是本发明内部集成电路总线接口测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S10,首先,启动模块210启动USB控制器2,使其产生USB信号。所述USB控制器2用于通过USB接口3发出信号,一般而言,USB控制器2集成在主机1的南桥芯片上。
步骤S11,传送模块211将USB控制器2产生的USB信号通过USB接口3传送给信号转换设备6。
步骤S12,信号转换设备6把接收到的USB信号转换成I2C信号。
步骤S13,传送模块211将信号转换设备6转换成的I2C信号通过I2C接口5传送给SPD芯片4。
步骤S14,判断模块212判断所述I2C的信号是否能对SPD芯片4进行操作。所述的操作是指I2C的信号对SPD芯片4上的信息进行读取或者修改,例如:读取SPD芯片4上的电压。
步骤S15,当所述I2C的信号能对SPD芯片4进行操作时,在与主机1相连的显示设备7上显示I2C接口5测试通过。具体而言,若USB控制器2发出是读取SPD芯片4上电压的USB信号,信号转换设备6转换该信号为I2C信号,之后通过I2C接口5传给SPD芯片4,而经过转换的I2C信号能够读取SPD芯片4上的电压,表明通过I2C接口5进行信号传输正常,则所述的I2C接口5合格,显示设备7上显示I2C接口测试“PASS”。
步骤S16,当所述I2C的信号不能对SPD芯片4进行操作时,在与主机1相连的显示设备7上显示I2C接口5测试异常。具体而言,若USB控制器2发出是读取SPD芯片4上电压的USB信号,信号转换设备6转换该信号为I2C信号,之后通过I2C接口5传给SPD芯片4,而经过转换的I2C信号不能够读取SPD芯片4上的电压,表明通过I2C接口5进行信号传输异常,则所述的I2C接口5不合格,显示设备7上显示I2C接口5测试“FAIL”。
本发明所述的内部集成电路总线接口测试***及方法利用依次连接的显示设备、主机、信号转换设备及主机上的通用串行总线控制器、通用串行总线接口、串行存在探测芯片判断主机上的内部集成电路总线接口是否合格,以达到测试内部集成电路总线接口的功能。
最后所应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照以上较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (6)
- 【权利要求1】一种内部集成电路总线接口测试***,该***包括主机及信号转换设备,所述主机包括通用串行总线控制器、通用串行总线接口、串行存在探测芯片及内部集成电路总线接口,所述信号转换设备用于将通用串行总线信号转换成内部集成电路总线信号,其特征在于,所述主机还包括:启动模块,用于主机中的启动通用串行总线控制器,使其产生通用串行总线信号;传送模块,用于将上述产生的通用串行总线信号通过通用串行总线接口传送给与主机相连的信号转换设备;所述传送模块,还用于将信号转换设备转换成的内部集成电路总线信号通过内部集成电路总线接口传送给串行存在探测芯片;及判断模块,用于判断所述内部集成电路总线的信号是否能对串行存在探测芯片进行操作以确定内部集成电路总线接口测试是否通过。
- 【权利要求2】如权利要求1所述的内部集成电路总线接口测试***,其特征在于,所述通用串行总线控制器集成在主机的南桥芯片上。
- 【权利要求3】如权利要求1所述的内部集成电路总线接口测试***,其特征在于,所述主机还包括显示模块,所述显示模块用于当所述内部集成电路总线的信号能对串行存在探测芯片进行操作时,在与主机相连的显示设备上显示内部集成电路总线接口测试通过,当所述内部集成电路总线的信号不能对串行存在探测芯片进行操作时,在与主机相连的显示设备上显示内部集成电路总线接口测试异常。
- 【权利要求4】一种内部集成电路总线接口测试方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:启动主机中的通用串行总线控制器,使其产生通用串行总线信号;将所述通用串行总线信号通过通用串行总线接口传送给与主机相连的信号转换设备;信号转换设备将接收到的通用串行总线信号转换成内部集成电路总线信号;将该内部集成电路总线信号通过内部集成电路总线接口传送给主机中的串行存在探测芯片;及判断所述内部集成电路总线信号是否能对串行存在探测芯片进行操作以确定内部集成电路总线接口测试是否通过。
- 【权利要求5】如权利要求4所述的内部集成电路总线接口测试方法,其特征在于,所述串行总线控制器集成在主机的南桥芯片上。
- 【权利要求6】如权利要求4所述的内部集成电路总线接口测试方法,其特征在于,该方法还包括步骤:当所述内部集成电路总线的信号能对串行存在探测芯片进行操作时,在与主机相连的显示设备上显示内部集成电路总线接口测试通过;当所述内部集成电路总线的信号不能对串行存在探测芯片进行操作时,在与主机相连的显示设备上显示内部集成电路总线接口测试异常。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2007102018565A CN101398467B (zh) | 2007-09-26 | 2007-09-26 | 内部集成电路总线接口测试***及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2007102018565A CN101398467B (zh) | 2007-09-26 | 2007-09-26 | 内部集成电路总线接口测试***及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101398467A true CN101398467A (zh) | 2009-04-01 |
CN101398467B CN101398467B (zh) | 2011-01-05 |
Family
ID=40517164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2007102018565A Expired - Fee Related CN101398467B (zh) | 2007-09-26 | 2007-09-26 | 内部集成电路总线接口测试***及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101398467B (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102608520A (zh) * | 2012-03-08 | 2012-07-25 | 无锡华大国奇科技有限公司 | 一种基于usb转iic协议的芯片测试*** |
CN102628921A (zh) * | 2012-03-01 | 2012-08-08 | 华为技术有限公司 | 一种集成电路及对集成电路中总线状态进行监控的方法 |
CN104076811A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-10-01 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 模拟iic芯片的测试设备和方法 |
CN109189619A (zh) * | 2018-08-13 | 2019-01-11 | 光梓信息科技(上海)有限公司 | I2c总线兼容性测试方法、***、存储介质及设备 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1290875A (zh) * | 1999-09-30 | 2001-04-11 | 台达电子工业股份有限公司 | I2c测试单体 |
US6829726B1 (en) * | 2000-03-06 | 2004-12-07 | Pc-Doctor, Inc. | Method and system for testing a universal serial bus within a computing device |
CN100573466C (zh) * | 2005-09-09 | 2009-12-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 主机接口的测试***及方法 |
CN1770883A (zh) * | 2005-09-16 | 2006-05-10 | 深圳创维-Rgb电子有限公司 | 一种实现对i2c器件特性参数进行调试的方法及装置 |
CN2888537Y (zh) * | 2006-04-19 | 2007-04-11 | 武汉电信器件有限公司 | 一种数字通信接口转换模块 |
-
2007
- 2007-09-26 CN CN2007102018565A patent/CN101398467B/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102628921A (zh) * | 2012-03-01 | 2012-08-08 | 华为技术有限公司 | 一种集成电路及对集成电路中总线状态进行监控的方法 |
CN102628921B (zh) * | 2012-03-01 | 2014-12-03 | 华为技术有限公司 | 一种集成电路及对集成电路中总线状态进行监控的方法 |
US9201753B2 (en) | 2012-03-01 | 2015-12-01 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Integrated circuit and method for monitoring bus status in integrated circuit |
CN102608520A (zh) * | 2012-03-08 | 2012-07-25 | 无锡华大国奇科技有限公司 | 一种基于usb转iic协议的芯片测试*** |
CN104076811A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-10-01 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 模拟iic芯片的测试设备和方法 |
CN104076811B (zh) * | 2014-06-12 | 2017-01-25 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 模拟iic芯片的测试设备和方法 |
CN109189619A (zh) * | 2018-08-13 | 2019-01-11 | 光梓信息科技(上海)有限公司 | I2c总线兼容性测试方法、***、存储介质及设备 |
CN109189619B (zh) * | 2018-08-13 | 2023-03-17 | 光梓信息科技(上海)有限公司 | I2c总线兼容性测试方法、***、存储介质及设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101398467B (zh) | 2011-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111063386A (zh) | Ddr芯片测试方法和装置 | |
US20120137027A1 (en) | System and method for monitoring input/output port status of peripheral devices | |
CN101398467B (zh) | 内部集成电路总线接口测试***及方法 | |
CN113778055B (zh) | 一种tbox的检测方法及检测*** | |
CN101599035A (zh) | Usb端口测试装置及方法 | |
US7917809B2 (en) | BIOS test system and test method thereof | |
CN102053898A (zh) | 针对主机pcie插槽上总线接口的测试方法及其读写测试方法 | |
CN101446913B (zh) | 设备故障的检测方法和装置 | |
US8102180B2 (en) | CPU voltage testing system and method thereof | |
CN101739322A (zh) | 嵌入式***的测试装置及方法 | |
CN109117299B (zh) | 服务器的侦错装置及其侦错方法 | |
CN102103536A (zh) | 板卡测试装置及方法 | |
CN101452417B (zh) | 监控方法及其监控装置 | |
CN110570897B (zh) | 存储器检测***、存储器检测方法及错误映射表建立方法 | |
CN101452415B (zh) | 嵌入式***测试的辅助装置及方法 | |
CN113160875B (zh) | 芯片测试***和测试方法 | |
CN109885437A (zh) | 基板管理控制器bmc、终端及上电状态诊断组件、方法 | |
CN113645088B (zh) | 网卡ncsi信号的自动调节方法、***、装置及介质 | |
CN111459730A (zh) | 一种Whitley平台下PCH端参数的调整方法及*** | |
CN113567834A (zh) | 小卡电路通路测试方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
CN102819473A (zh) | 一种检测计算机故障的方法、计算机和显示装置 | |
CN102221650A (zh) | 转接元件的测试模块 | |
CN113869108B (zh) | 一种识别硬盘背板连接的设备的方法及相关装置 | |
CN114373410B (zh) | 一种异常侦测方法、异常侦测装置和显示装置 | |
CN202067256U (zh) | Debug卡的连接结构 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20110105 Termination date: 20140926 |
|
EXPY | Termination of patent right or utility model |