CN102372500A - 激光脉冲沉积法制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及半导体薄膜材料制备方法。所制材料包括衬底,ZnO基层,扩散层。其扩散层为沉积Cu高温扩散掺杂进入ZnO基层形成的扩散层。薄膜采用脉冲激光沉积方法制备,衬底为(100)硅单晶,激光脉冲腔内真空度5×10-4Pa,沉积温度为450℃,激光频率4Hz,激光能量190kV,ZnO基薄膜溅射时间40分钟,在上述基础上加镀Cu层,沉积时间为2分钟,保温30分钟,所制备Cu扩散掺杂的ZnO基薄膜在腔体内自然冷却至室温而形成。本发明在制备掺杂ZnO基半导体薄膜时优于以往烧结靶材溅射镀膜工艺,在制备不同含量ZnO基半导体薄膜时较为方便。
Description
技术领域 本发明涉及一种利用脉冲激光沉积方法制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体薄膜的方法,属于半导体材料技术领域。
背景技术 ZnO是一种具有优异性能的宽禁带氧化物半导体材料,在电子和光电子器件应用方面具有很多优点,被认为是新一代的光电半导体材料,在光电子器件和信息材料中,具有广阔的应用前景。但制备掺杂ZnO基半导体薄膜一般采用烧结靶材溅射镀膜工艺,在制备不同含量ZnO基半导体薄膜时较为复杂。
发明内容 为了克服现有制备不同含量ZnO基半导体薄膜的复杂工艺,本发明提供一种利用脉冲激光沉积方法制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体薄膜的方法,能够较为简便的制备掺杂半导体。
本发明采用脉冲激光沉积方法制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体薄膜方法,所制材料包括衬底,ZnO基层,扩散层。其特征在于,所述的扩散层为沉积Cu高温扩散掺杂进入ZnO基层形成的扩散层。
本发明具有Cu扩散掺杂ZnO基半导体薄膜,采用脉冲激光沉积方法制备,衬底为(100)硅单晶,激光脉冲腔内真空度5×10-4Pa,沉积温度为450℃,激光频率4Hz,激光能量190kV,ZnO薄膜溅射时间40分钟,在上述基础上加镀Cu层,沉积时间为2分钟,450℃保温30分钟,制备Cu扩散掺杂的ZnO基薄膜。薄膜在腔体内自然冷却至室温而形成。
采用脉冲激光沉积制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体薄膜技术如下:
(1)本实验所采用的衬底为2英寸的单晶Si(100)衬底,单面抛光。将Si片浸没在丙酮中,置于超声波发生器中清洗一小时,无水乙醇超声清洗一小时,离子水超声清洗一小时,取出置于恒温干燥箱中烘干。
(2)将ZnO基靶、Cu靶靶材和衬底分别固定在相应的样品架上,调整衬底与靶材的距离为50mm,然后旋紧阀门,关闭真空室。
(3)打开分子泵冷却水,打开电源,开启机械泵,打开旁抽阀,数分钟后打开真空计。当***真空度达到2-3Pa时,关闭旁抽阀,打开隔断阀,并启动分子泵。
(4)设定衬底温度,当***真空度达到5×10-4Pa以上时先在低功率下预热炉丝3分钟,升温速率控制在15~20℃/分钟,升温至薄膜生长所需的温度。
(5)当衬底温度和反应室内压强达到预设值时,先溅射ZnO基靶在衬底上形成一层ZnO基薄膜(40分钟),再溅射Cu靶,通过控制溅射时间来控制薄膜中Cu的含量。450℃保温30分钟以确保Cu在ZnO基薄膜中扩散充分。
具体实施方式
(1)衬底清洗
本实验所采用的衬底为2英寸的单晶Si(100)衬底,单面抛光,其电阻率为1.9~2.6×103Ω/cm。首先将Si片浸没在丙酮中,置于超声波发生器中清洗一小时,无水乙醇超声清洗一小时,离子水超声清洗一小时,取出置于恒温干燥箱中烘干。
(2)靶材及衬底的安装
将ZnO基靶、Cu靶靶材和衬底分别固定在相应的样品架上,调整衬底与靶材的距离为50mm,然后旋紧阀门,关闭真空室。
(3)抽真空
首先打开分子泵冷却水,打开电源,开启机械泵,打开旁抽阀,数分钟后打开真空计;当***真空度达到2-3Pa时,关闭旁抽阀,打开隔断阀,并启动分子泵。
(4)衬底加热
设定衬底温度,当***真空度达到5×10-4Pa以上时先在低功率下预热炉丝3分钟,升温速率控制在15~20℃/分钟,升温至薄膜生长所需的温度。
(5)Cu扩散掺杂ZnO基样品的制备
当衬底温度和反应室内压强达到预设值时,先溅射ZnO基靶在衬底上形成一层ZnO基薄膜(40分钟),再溅射Cu靶,通过控制溅射时间来控制薄膜中Cu的含量。450℃保温30分钟以确保Cu在ZnO基薄膜中扩散充分。
Claims (2)
1.一种脉冲激光沉积法制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体的方法,其特征是:制备的扩散层为沉积Cu高温扩散掺杂进入ZnO基层形成的扩散层,所制材料包括衬底,ZnO基层,扩散层。
2.根据权利要求1所述的一种脉冲激光沉积法制备Cu扩散掺杂ZnO基半导体的方法,其特征是:衬底为(100)硅单晶,激光脉冲腔内真空度5×10-4Pa,沉积温度为450℃,激光频率4Hz,激光能量190kV,ZnO薄膜溅射时间40分钟,加镀Cu层,沉积时间为2分钟,450℃保温30分钟,制备Cu扩散掺杂的ZnO基薄膜,所制备Cu扩散掺杂的ZnO基薄膜在腔体内自然冷却至室温而形成。
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