CN102326199A - 光盘装置、光盘控制方法以及集成电路 - Google Patents

光盘装置、光盘控制方法以及集成电路 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，能够通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记的光盘装置、光盘控制方法以及集成电路。数据再生控制部(103)在再生凹凸坑时，对盘旋转速度切换部(108)设定第一旋转速度，并且对激光功率切换部(107)设定第一激光功率，标记记录控制部(104)在追加写入追记标记时，对盘旋转速度切换部(108)设定低于第一旋转速度并且也低于能够再生凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应发光时机对激光功率切换部(107)设定大于第一激光功率的第二激光功率。

Description

光盘装置、光盘控制方法以及集成电路
技术领域
本发明涉及种对通过凹凸坑(concave-convex pits)记录有主信息的光盘追加写入固有的追记标记(recordable mark)并且检测追加写入的追记标记的光盘装置、光盘控制方法以及集成电路。
背景技术
作为记录数字内容数据的介质，DVD-ROM或BD-ROM等光盘得到广泛利用。在DVD-ROM中，单层盘具有4.7GB(千兆字节)的记录容量，有两层记录层的双层盘具有8.5GB的记录容量。而且，在BD-ROM中，单层盘具有25GB的记录容量，双层盘具有50GB的记录容量。因此，光盘作为数字数据的分发介质得到广泛普及。尤其是，能够大量地记录数据的BD-ROM作为能够容易地分发高清晰度的影像内容数据等的光盘得到有效利用。
这样，光盘的记录容量增大，一张光盘中保存的内容信息的容量增加，每张光盘的价值增高，与此相伴，希望将通过凹凸坑记录有内容信息的光盘按每张盘进行区别管理的要求也变得更高。
但是，对于一般利用凹凸坑记录内容信息的光盘而言，其特征在于通过制作称为母盘(stamper)的原盘，能够一次复制多张光盘，但另一方面，由于从同一原盘进行复制这一特性，从原盘复制的光盘具有完全相同的坑形状。因此，不能逐张区别各光盘。
对此，作为识别从母盘复制的光盘的每张盘的技术，公开有在光盘的内周部设置称为BCA(burst cutting area，烧录区)的特殊区域，通过利用称为YAG激光器的高输出激光器在半径方向上以条形码形状记录长标记，从而记录盘固有的ID的技术(例如参照专利文献1)。
或者，公开有在形成于光盘上的指定长度以上的坑(pit)或岸(land)的中央附近进行信道时钟单位宽度非常短的脉冲记录，使反射率局部地发生变化，从而记录盘识别信息的技术(例如参照专利文献2)。
或者，公开有将光盘的区域分割为数据区域和识别区域，在识别区域中反复记录调制后的模式分别被预先决定的多个坑和多个岸，对该反复记录的坑及岸照射气体激光使反射膜发生变化，从变化的反射膜检测再生信号的技术(例如参照专利文献3)。
或者，公开有沿着记录了作为随机排列的主信息的内容信息的凹凸标记(凹凸坑)，以信道比特长的整数倍，照射连续或间歇的激光以使反射膜的反射率发生变化，从而记录副信息的技术(例如参照专利文献4)。
但是，在专利文献1公开的发明中，如该文献的第0035段所述的那样，为了将光盘的反射膜熔融成狭缝状，记录需要较大的能量，如果不使用YAG激光器这样的比较大型并且高输出的工业用脉冲激光器，则无法进行记录。即，专利文献1的记录装置必须是像在工厂设置的那样的大规模装置，在仅搭载了较低输出的半导体激光光源的一般的个人计算机用光盘驱动器中，无法熔融铝的反射膜以记录光盘识别用的ID。
另外，在专利文献2公开的发明中，如该文献的第0017段所述的那样，在记录标记时需要使用在工厂作为精加工装置的特殊装置，以光盘再生信号的信道比特(channel bit)为单位正确地同步，来记录光盘识别信息。为了不损坏坑中本来写入的信息的再生信号质量，光盘识别信息的记录脉冲宽度必须充分短于坑长。在专利文献2的例子中，记录脉冲宽度为1信道比特。通常，如上所述，为了在热传导率较好的反射膜上，将能够通过再生装置进行稳定检测的陡峭的脉冲记录到高精度的位置，需要具有与记录型光盘装置同等以上精度的激光驱动电路和输出比较大的激光功率的激光光源。
另外，在专利文献3公开的发明中，如该文献的第0027段所述的那样，作为激光源需要氩激光器或He-Cd激光器等气体激光器，与专利文献1及专利文献2同样，使用由工厂管理的特殊记录装置。在本专利文献3公开的发明中，必须在光盘的指定区域中准备预先决定的多个坑及岸的模式(pattern)。在专利文献3的图11A及图11B中，公开了3信道比特(3T)长的坑及岸的反复模式。另外，在专利文献3中，在对反射膜照射气体激光使反射膜的特性发生了变化的情况下，并未具体公开什么物理特性如何变化，使用再生装置进行什么样的检测。
另外，在专利文献4公开的发明中，对一定区域的凹凸坑照射激光，使光盘的反射率在某种程度的广范围发生变化。专利文献4公开的发明的特征在于，由于使反射率在某种程度的广范围发生变化，因此在反射率变化量较少的情况下也容易取得检测灵敏度。但是，在专利文献4中，虽然涉及了对凹凸坑照射激光以记录标记，但并未提及具体的记录装置的结构。
专利文献1：日本专利公开公报特许第3089599号
专利文献2：日本专利公开公报特许第3454410号
专利文献3：日本专利公开公报特许第4211395号
专利文献4：国际公开第2007/139077号
发明内容
本发明是为了解决上述技术所存在的问题，其目的在于提供一种光盘装置、光盘控制方法以及集成电路，不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，就能够对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记(recordable mark)。
本发明所提供的一种光盘装置对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记，包括：拾光器；RF信号处理部，基于所述拾光器的输出取得RF信号；基准位置检测部，解调所述RF信号并检测基准位置信号；旋转速度控制部，将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度；发光时机生成部，按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机；激光功率控制部，在所述发光时机增加从所述拾光器照射的激光的激光功率；反射率变化量检测部，从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量；凹凸坑再生控制部，当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，在所述旋转速度控制部设定第一旋转速度，并且在所述激光功率控制部设定第一激光功率；以及追记标记记录控制部，当对所述光盘追加写入所述追记标记时，在所述旋转速度控制部设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机对所述激光功率控制部设定大于所述第一激光功率的第二激光功率。
根据该结构，基于拾光器的输出取得RF信号，解调RF信号并检测基准位置信号。由旋转速度控制部将光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度，由发光时机生成部按照基准位置信号在预先决定的位置生成从拾光器照射的激光的发光时机，由激光功率控制部在发光时机增加从拾光器照射的激光的激光功率。由反射率变化量检测部从RF信号中检测光盘的反射光的反射率变化量。并且，当再生形成在光盘上的凹凸坑时，在旋转速度控制部设定第一旋转速度，并且在激光功率控制部设定第一激光功率。另外，当对光盘追加写入追记标记时，在旋转速度控制部设定低于第一旋转速度并且也低于能够再生凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应发光时机对激光功率控制部设定大于第一激光功率的第二激光功率。
根据本发明，不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，便能够对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记。
通过以下详细的说明和附图，使本发明的目的、特征和优点更加明确。
附图说明
图1是表示本发明实施方式1的光盘装置的结构的方框图。
图2是用于说明本发明实施方式1的光盘装置中使用的光盘的数据格式的模式图。
图3是表示本发明实施方式1中的标记记录动作的时间图(timing chart)。
图4是表示再生通过凹凸坑记录的内容数据的数据再生动作的流程图。
图5是表示记录追记标记的标记记录动作的流程图。
图6是表示在本发明实施方式1中旋转速度与记录所需的激光功率的关系的图。
图7是表示检测记录在光盘中的追记标记的标记检测动作的流程图。
图8是表示本发明实施方式1中的标记检测处理的时间图。
图9是用于说明本发明实施方式1中的其他追记标记检测方法的时间图。
图10是用于更详细地说明本发明实施方式1中的标记检测处理的流程图。
图11是用于说明本发明实施方式2中的时机生成部的动作的时间图。
图12是用于说明本发明实施方式3中的时机生成部的动作的时间图。
图13是用于说明本发明实施方式4中的时机生成部的动作的时间图。
图14是用于说明本发明实施方式5中的标记记录控制部以及时机生成部的动作的标记记录动作的时间图。
图15是表示本发明实施方式6中的时机生成部的详细结构的方框图。
图16是用于说明本发明实施方式6中的时机生成部的动作的时间图。
图17是表示本发明实施方式7中的时机生成部的详细结构的方框图。
图18是用于说明本发明实施方式7中的时机生成部的动作的时间图。
图19是用于说明本发明实施方式8中的时机生成部的追记标记记录动作的时间图。
图20是表示本发明实施方式9的光盘装置的结构的方框图。
图21是用于说明本发明实施方式9中的时机生成部的追记标记记录动作的时间图。
图22是用于说明本发明实施方式10中的时机生成部的追记标记记录动作以及追记标记检测动作的时间图。
图23是用于说明本发明实施方式11中的时机生成部的追记标记记录动作的时间图。
具体实施方式
以下，参照适当附图对本发明的实施方式进行说明。另外，以下实施方式是将本发明具体化的一例，其性质并非为限定本发明的技术范围。
(实施方式1)
图1是表示本发明实施方式1的光盘装置的结构的方框图。在图1中，光盘装置100包括输入输出部101、CPU(中央运算处理装置)102、时机生成部106、激光功率切换部107、盘旋转速度切换部108、拾光器109、盘马达110、RF信号处理部111、聚焦及追踪控制部(focus and tracking controller)112、解调电路(demodulating circuit)113、纠错部114以及标记检测部115。图1的虚线内的模块(block)作为半导体集成电路124而被汇集安装到一个芯片上。
光盘装置100对通过凹凸坑记录有主信息的光盘1，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记。另外，光盘装置100再生通过凹凸坑而被记录的主信息，并且再生被追加写入的追记标记。
盘马达110使光盘1以一定速度旋转。拾光器109从光盘1中读取利用凹凸坑记录的主信息。拾光器109对光盘1照射激光，并且接收来自光盘1的反射光，输出拾光器输出信号P0。
RF信号处理部111基于来自拾光器109的拾光器输出信号P0取得RF信号RFS。聚焦及追踪控制部112在聚焦方向及追踪方向上驱动拾光器109，以使拾光器109照射的光束正确地跟踪光盘1上的凹凸坑。作为追踪控制方式，通常，在再生由凹凸坑构成的内容信息时使用相位差检测方式。即，聚焦及追踪控制部112以相位差检测方式进行追踪控制。解调电路113解调RF信号RFS，并输出解调后的数字信号DS。而且，解调电路113还检测包含在RF信号RFS中的同步码，产生基准位置信号SY。
纠错部114对包含在被解调电路113解调的数字信号DS中的随机错误(random error)以及突发错误(burst error)进行纠正，并作为数字再生信号RD传送到输入输出部101。
输入输出部101是使得光盘装置100从例如外部的个人计算机等接收再生指令的接口(interface)。输入输出部101将从外部输入的数据再生、标记记录以及标记检测等动作命令输出到CPU102。另外，输入输出部101还接收由纠错部114进行了纠错的数字再生信号RD以及标记检测部115的标记检测结果MDR，并输出到外部。
CPU102控制光盘装置100整体，包括数据再生控制部103、标记记录控制部104、以及标记检测控制部105。
标记检测部115检测通过使反射膜的反射率发生变化而被记录的追记标记。标记检测部115从RF信号RFS中检测光盘1的反射光的反射率的变化量。时机生成部106接收来自CPU102的指令，与从解调电路113接收的基准位置信号SY同步地生成发光区间信号EZ。时机生成部106按照基准位置信号SY，在预先决定的位置生成从拾光器109照射的激光的发光时机。
激光功率切换部107切换激光功率。激光功率切换部107在由时机生成部106生成的发光时机，增加从拾光器109照射的激光的激光功率。盘旋转速度切换部108切换光盘1的旋转速度。盘旋转速度切换部108将光盘1的旋转速度切换为至少两种旋转速度。
数据再生控制部103，当再生形成在光盘1上的凹凸坑时，在盘旋转速度切换部108设定第一旋转速度，并且在激光功率切换部107设定第一激光功率。
标记记录控制部104当对光盘1追加写入追记标记时，对盘旋转速度切换部108设定低于第一旋转速度并且也低于能够再生凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应发光时机在激光功率切换部107设定大于第一激光功率的第二激光功率。
标记检测控制部105在检测形成在光盘1上的追记标记时，执行基于由标记检测部115检测出的反射率的变化量来检测追记标记的控制。
此外，在本实施方式中，RF信号处理部111相当于RF信号处理部的一例，解调电路113相当于基准位置检测部的一例，盘旋转速度切换部108相当于旋转速度控制部的一例，时机生成部106相当于发光时机生成部的一例，激光功率切换部107相当于激光功率控制部的一例，标记检测部115相当于反射率变化量检测部的一例，数据再生控制部103相当于凹凸坑再生控制部的一例，标记记录控制部104相当于追记标记记录控制部的一例，标记检测控制部105相当于追记标记检测控制部的一例，聚焦及追踪控制部112相当于追踪控制部的一例。
图2是用于说明本发明实施方式1的光盘装置中使用的光盘的数据格式的模式图。在图2中，ECC(Error Collection(应为Correction)Code，纠错码)块2表示能够对从光盘1再生的数字信号DS进行纠错的最小单位。帧3表示附加有同步码的调制数据的最小单位。通常，一个ECC块包含数百个帧。进一步，帧3包含同步码4和调制数据5。同步码4是为了进行光盘上的再生数据的定位而被附加的信号，通常使用不会出现在调制数据中的独特的模式。解调电路113通过检测同步码4产生基准位置信号SY。
解调电路113能够连续输出基准位置信号SY，也能够构成为在解调电路113内部具有地址解调电路，与指定的开始地址同步地从地址解调电路输出基准位置信号SY。
图3是表示本发明实施方式1中的标记记录动作的时间图(timing chart)。时机生成部106基于基准位置信号SY输出发光区间信号EZ。激光功率切换部107在发光区间信号EZ为Low时，使搭载在拾光器109中的激光光源以第一激光功率级(level)11发光。另外，激光功率切换部107在发光区间信号EZ为High时，使搭载在拾光器109中的激光光源以大于第一激光功率级11的第二激光功率级10发光。在激光功率为第二激光功率级10的区间中，追记标记8沿着光盘盘面上的凹凸坑7形成在光盘盘面上。
为了稳定地检测追记标记8，需要在与凹凸坑7的解调信号不同的频带中记录追记标记8，否则，有可能无法在RF信号RFS中区别追记标记8与凹凸坑7。因此，追记标记8的长度最好为凹凸坑7的最短坑长的10倍以上。即，以第二激光功率照射激光的发光区间为凹凸坑的最短坑长的10倍以上较为理想。
在使用价格低的半导体激光光源的情况下，无法将第二激光功率级10设定得明显较高。从激光光源的寿命的观点出发，第二激光功率与第一激光功率相比为5倍以上、10倍以下较为理想。
接着，用图4、图5及图7的流程图、以及图6的说明图更为详细地说明作为本发明实施方式1的特征的、接收到CPU102的指令时标记检测部115、时机生成部106、激光功率切换部107以及盘旋转速度切换部108的动作。
图4是表示再生利用凹凸坑记录的内容数据的数据再生动作的流程图。
首先，输入输出部101对数据再生控制部103输出用于再生利用凹凸坑记录的内容数据的数据再生命令(步骤S11)。数据再生控制部103接收从输入输出部101输入的数据再生命令，并为了再生光盘1以读取内容数据而输出用于设定光盘1的旋转速度的盘旋转速度设定信号DRS、用于设定从拾光器109射出的激光的激光功率的激光功率设定信号LPS、以及用于设定激光的发光时机的发光时机设定信号EZC。
接着，数据再生控制部103将盘旋转速度设定信号DRS输出到盘旋转速度切换部108，设定盘旋转速度切换部108，以便通过盘马达110使光盘1以第一旋转速度即再生内容数据时的旋转速度旋转(步骤S12)。
接着，数据再生控制部103将激光功率设定信号LPS输出到激光功率切换部107，设定激光功率切换部107，以便使激光光源以内容数据再生时使用的第一激光功率发光(步骤S13)。
接着，数据再生控制部103将发光时机设定信号EZC输出到时机生成部106，设定时机生成部106，以便输出使激光光源始终以第一激光功率发光的发光区间信号EZ、即不输出以第二激光功率发光的发光区间信号EZ(步骤S14)。
在光盘1的内容数据的再生开始后，RF信号RFS经由拾光器109及RF信号处理部111被输入到解调电路113。接着，解调电路113解调RF信号RFS，开始再生数字信号DS(步骤S15)。接着，纠错部114进行数字信号DS的纠错，将数字再生信号RD输出到输入输出部101(步骤S16)。
此外，在再生数据时，由聚焦及追踪控制部112进行的聚焦控制及追踪控制、或者拾光器109的位置控制等也是必需的，但这些功能是一般的光盘装置普遍具备的功能，此处省略说明。
图5是表示记录追记标记的标记记录动作的流程图。
首先，输入输出部101对标记记录控制部104输出用于记录追记标记的标记记录命令(步骤S21)。标记记录控制部104接收从输入输出部101输入的标记记录命令，并为了记录追记标记而输出用于设定从拾光器109射出的激光的激光功率的激光功率设定信号LPS、用于设定光盘1的旋转速度的盘旋转速度设定信号DRS、以及用于设定激光的发光时机的发光时机设定信号EZC。
接着，标记记录控制部104将激光功率设定信号LPS输出到激光功率切换部107，设定激光功率切换部107，以便使激光光源以第二激光功率发光(步骤S22)。
接着，标记记录控制部104将盘旋转速度设定信号DRS输出到盘旋转速度切换部108，设定盘旋转速度切换部108，以便通过盘马达110使光盘1以第二旋转速度旋转(步骤S23)。
接着，标记记录控制部104将发光时机设定信号EZC输出到时机生成部106，设定时机生成部106，以便输出使激光光源以第二激光功率发光的发光区间信号EZ(步骤S24)。在图3所示的时间图的例子中，标记记录控制部104设定发光时机，以便在基准位置信号SY之后生成一定区间宽度的脉冲。
如果光盘上的再生位置到达同步码的位置，则从解调电路113输出基准位置信号SY。标记记录控制部104判断基准位置信号SY是否为记录开始位置(步骤S25)。此处，如果判断出基准位置信号SY不是记录开始位置(在步骤S25为“否”)，则反复进行步骤S25的判断处理，直到基准位置信号SY达到记录开始位置为止。
另一方面，如果判断出基准位置信号SY是记录开始位置(在步骤S25为“是”)，时机生成部106基于基准位置信号SY生成表示使激光发光的区间的发光区间信号EZ(步骤S26)。激光功率切换部107在发光区间信号EZ所表示的发光区间，将激光光源的发光功率从第一激光功率切换为第二激光功率(步骤S27)。
接着，标记记录控制部104判断基准位置信号SY是否为最终记录地址(步骤S28)。此处，如果判断出基准位置信号SY不是最终记录地址(在步骤S28为“否”)，返回步骤S26的处理。另一方面，如果判断出基准位置信号SY是最终记录地址(在步骤S28为“是”)，结束标记记录动作。以上的步骤S26至步骤S28的动作在基准位置信号SY达到最终记录地址之前被反复执行，从而记录追记标记。
在以上说明中，当光盘上的再生位置到达指定位置时，基准位置信号SY被输出，但也可以是基准位置信号SY始终在同步码的位置被输出，并且与基准位置信号SY同时，地址信息从解调电路113被输出到时机生成部106，时机生成部106基于地址信息判断指定位置。
图6是表示在本发明实施方式1中旋转速度与记录所需的激光功率的关系的图。当在形成有凹凸坑的光盘1上记录追记标记时，通过照射激光将一定的热能提供给反射膜，使反射膜产生物理以及光学变化。光盘1的线速度即旋转速度越快，对反射膜的每单位长度提供的热量越少，如果不从拾光器109以较大的激光功率照射激光，便无法使反射膜产生变化。
在图6的功率曲线12中，假设以第一旋转速度x1以及激光功率A能够使反射膜产生物理以及光学变化。此时，为了以低于第一旋转速度x1的低速的第二旋转速度x2使反射膜产生与以第一旋转速度x1旋转时相同的物理以及光学变化所需要的激光功率为激光功率B，激光功率B为低于激光功率A的值。
第二旋转速度为能够再生凹凸坑的最低旋转速度的1/2以下较为理想。在本发明的实施方式1中，能够通过将第二旋转速度x2设定成再生通常光盘装置所具有的内容数据时所需要的最低旋转速度x3的例如一半以下，从而以充分低的激光功率使反射膜产生物理以及光学变化。
另外，第二旋转速度为第一旋转速度的1/10以下较为理想。一般而言，光盘装置通常被设计成能够高速进行内容数据的再生，但通过使第二旋转速度为第一旋转速度的1/10以下，能够以充分低的激光功率使反射膜产生物理以及光学变化。
图7是表示检测记录在光盘中的追记标记的标记检测动作的流程图。
首先，输入输出部101对标记检测控制部105输出用于检测记录在光盘1中的追记标记的标记检测命令(步骤S31)。标记检测控制部105从输入输出部101接收标记检测命令，并为了检测记录在光盘1中的追记标记而输出用于设定激光的发光时机的发光时机设定信号EZC、用于设定从拾光器109射出的激光的激光功率的激光功率设定信号LPS、以及用于设定光盘1的旋转速度的盘旋转速度设定信号DRS。
接着，标记检测控制部105将激光功率设定信号LPS输出到激光功率切换部107，设定激光功率切换部107，以便使激光光源以内容数据再生时使用的第一激光功率发光(步骤S32)。
接着，标记检测控制部105将盘旋转速度设定信号DRS输出到盘旋转速度切换部108，设定盘旋转速度切换部108，以便通过盘马达110使光盘1以第一旋转速度旋转(步骤S33)。
接着，标记检测控制部105将发光时机设定信号EZC输出到时机生成部106，设定时机生成部106，以便输出使激光光源以第一激光功率发光的发光区间信号EZ，即不输出以第二激光功率发光的发光区间信号EZ(步骤S34)。
在光盘1的内容数据的再生开始后，RF信号RFS经由拾光器109及RF信号处理部111被输入到解调电路113。接着，解调电路113解调RF信号RFS，输出基准位置信号SY(步骤S35)。
接着，标记检测部115判断基准位置信号SY是否为最终记录地址(步骤S36)。此处，如果判断出基准位置信号SY是最终记录地址(在步骤S36为“是”)，标记检测部115将标记检测结果MDR输出到输入输出部101，标记检测动作结束(步骤S37)。另一方面，在基准位置信号SY到达最终记录地址之前，即如果判断出基准位置信号SY不是最终记录地址(在步骤S36为“否”)，标记检测部115执行后述的标记检测处理(步骤S38)。
在本实施方式中，标记检测动作时的盘旋转速度为第一旋转速度，但也能够以第二旋转速度检测追记标记。一般而言，盘马达的旋转速度的切换需要应答时间，切换所需的应答时间对数据再生动作、标记记录动作以及标记检测动作整体的所需时间产生影响。因此，较为理想的是，考虑内容数据的再生、追记标记的记录以及追记标记的再生的各动作顺序，决定旋转速度以使整体的处理时间达到最短较为理想的。
图8是用于说明本发明实施方式1中的标记检测处理的时间图。在图8中，ECC块2、帧3、凹凸坑7、以及追记标记8与图2相同。
图8所示的RF信号13作为模拟波形表示从RF信号处理部111输出的RF信号RFS。在RF信号RFS的前头具有同步码部，接着，按照规定的调制规则的表面上随机的坑列作为数据排列。用虚线表示的RF信号14表示记录了追记标记后的RF信号，用实线表示的RF信号15表示记录追记标记前的RF信号，RF信号14表示相对于RF信号15存在反射率的变化。用点划线表示的记录了追记标记后的RF信号的平均值17与用双点划线表示的记录追记标记前的RF信号的平均值16相比有所增加。即，能够将追记标记的有无作为不存在追记标记时的RF信号的平均值与存在追记标记时的RF信号的平均值的差18来检测。标记检测部115测量RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的振幅平均值的变动量检测反射率变化量。
另外，标记检测部115也可以对记录追记标记的标记追加写入部的RF信号波形进行积分，基于积分量的变化来检测追记标记。即，标记检测部115也可以分别检测激光以第二激光功率照射的发光区间内的RF信号的积分值，以及激光以第二激光功率照射的发光区间以外的长度与发光区间相同的区间内的RF信号的积分值，通过求出检测出的两个积分值的差来检测反射率变化量。
另外，标记检测部115也可以从解调电路113取得与坑长有关的信息，仅将一定长度以上的坑或岸的中央部附近的值用于平均值的计算。即，标记检测部115仅检测在检测出的坑长为一定长度以上的凹凸坑的中央部的反射率变化量。由此，能够降低由于凹凸坑长短不一地随机排列而造成的振幅平均值计算时的误差。另外，标记检测部115也可以仅将相同长度的坑或岸用于平均值计算。
另外，标记检测部115也可以将由追记标记的记录引起的反射率变化作为RF信号的微小波动来检测。例如，在图8中可知，与记录追记标记前的RF信号15相比，记录了追记标记后的RF信号14由于追记标记的影响在时间轴上发生微小变化(偏差)。标记检测部115通过对RF信号在时间轴上的微小变化进行指定的统计处理，能够检测追记标记的有无。统计处理例如是通常的导出抖动值的处理。即，能够根据抖动值的不同检测追记标记的有无。
另外，也可以使用图9所示的追记标记检测方法。图9是用于说明本发明实施方式1中的其他追记标记检测方法的时间图。
在图9中，时机生成部106为了在追记标记检测时检测在事先已知的追记标记记录区间中是否记录了追记标记，在应当记录追记标记的区间向标记检测部115输出检测区间信号DZ。在检测区间信号DZ的输出区间，当光盘1的再生变得不稳定时，标记检测部115判断记录有追记标记。
例如，标记检测部115在检测区间信号DZ的输出区间检测到PLL(Phase Lock Loop，锁相环)电路的锁定发生了偏离。PLL电路的锁定发生了偏离意味着频率偏离了指定基准值以上。
此外，在由前面所述的标记检测部115检测追记标记时，通过不让为了将再生信号质量保持恒定而在光盘装置中通常具备的指定的信号处理功能，例如，调整RF信号振幅的中心的基线控制功能(baseline control function)、调整振幅保持恒定幅度的AGC功能、或者保持频率恒定的PLL功能工作，从而能够提高追记标记检测灵敏度。这些信号处理功能通常是为了修正RF信号的变化而工作。因此，如果这些信号处理功能工作，则导致由追记标记产生的RF信号的变动减小，因此追记标记的检测灵敏度变差。
图10是用于更详细地说明本发明实施方式1中的标记检测处理的流程图。使用图10说明标记检测部115的详细动作。
标记检测处理一旦开始，标记检测部115计算各指定区间的RF信号波形的信号电平(signal level)的平均值(步骤S41)。接着，标记检测部115判断识别区域的RF信号波形的取得是否结束(步骤S42)。此处，如果判断出识别区域的RF信号波形的取得未结束(在步骤S42为“否”)，则返回步骤S41的处理。
另一方面，如果判断出识别区域的RF信号波形的取得已结束(在步骤S42为“是”)，标记检测部115判断是否存在RF信号波形的信号电平的平均值比其他区间高指定值以上的区间(步骤S43)。此处，如果判断出存在RF信号波形的信号电平的平均值比其他区间高指定值以上的区间(在步骤S43为“是”)，标记检测部115判定在该区间中存在追记标记(步骤S44)。另一方面，如果判断出不存在RF信号波形的信号电平的平均值比其他区间高指定值以上的区间(在步骤S43为“否”)，标记检测部115判定在该区间中不存在追记标记(步骤S45)。
这样，不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，便能够对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记。
另外，不需要1信道比特宽度等高精度的脉冲记录，能够通过例如帧长的整数倍等频带较低的激光功率控制实现追记标记的记录，因而不需要记录型光盘中使用的高速并且高精度的激光驱动电路，能够廉价地构成光盘装置。
另外，由于追记标记并不是通过放大镜等可目视的条状标记，因此用户难以确定追记标记的存在，从而能够提高利用追记标记记录的信息的安全性。
另外，不存在必须在同步码模式(synchronization code pattern)上形成追记标记的限制，作为记录追记标记的衬底的凹凸坑的调制模式(modulation pattern)无需是预先决定的固定模式。因此，追记标记的记录位置能够设定在光盘上的任意位置，具有应用上的灵活性较高的优点。
(实施方式2)
接着，对实施方式2的光盘装置进行说明。此外，实施方式2的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
在本发明中，通过对时机生成部106的动作进行改进，考虑多种追记标记的形成方法。图11是用于说明本发明实施方式2中的时机生成部的动作的时间图。实施方式2的光盘装置的结构要素与图1相同，因而省略说明，仅对与实施方式1不同的时机生成部的动作进行说明。
在实施方式2中，时机生成部106使追记标记的记录区间为基准位置信号SY的整数倍。即，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度为凹凸坑的帧间隔的整数倍较为理想。通过以此方式构成，具有能够以帧为单位构成追记标记的起始端以及结束端的优点。
另外，也可以以从某个ECC块的前头帧输出的基准位置信号SY至从下一个ECC块的前头帧输出的基准位置信号SY的长度来记录追记标记的长度。通过采用这种方式，能够以ECC块为单位容易地管理追记标记的起始端以及结束端。
另外，通常，在光盘装置中，ECC块与由凹凸坑记录的物理地址信息关联起来加以管理。因此，使追记标记的记录长为ECC块的整数倍，也能够比较容易地管理记录的开始点与结束点。
即，光盘1上由凹凸坑记录的主信息以对一定单位的用户数据附加纠错信息的纠错块(error correction block)为单位构成。标记记录控制部104以纠错块为单位，控制由时机生成部106生成的以第二激光功率发光的发光区间。此时，由时机生成部106生成的以第二激光功率发出激光的发光区间为纠错块的单位长度的整数倍。
在这种长期间中将激光功率切换为第二激光功率的情况下，能够在该发光区间切换光检测器的灵敏度，并且在第二激光功率发光时也进行相位差伺服。即，聚焦及追踪控制部112在以第二激光功率发光的发光区间内也进行追踪控制。
另外，在检测如上所述那样追加写入的追记标记时，由于追记标记的长度较长，因而RF信号的平均值稳定，具有追记标记的检测结果不易受到介质的伤痕或污迹等干扰的影响的特征。另外，由于记录区间较长，因而能够不基于RF 信号的平均值检测追记标记，而是基于与RF信号的变化量成比例的参数，例如主信息的调制编码的再生抖动的恶化，或者非对称性的变化来检测追记标记。
(实施方式3)
接着，对实施方式3的光盘装置进行说明。此外，实施方式3的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图12是用于说明本发明实施方式3中的时机生成部的动作的时间图。实施方式3的光盘装置的结构要素与图1相同，因而省略说明，仅对与实施方式1及2不同的时机生成部的动作进行说明。在本实施方式3中，追记标记21例如以4帧为间隔被记录。
在将激光功率切换为通常的再生功率以上的第二激光功率并记录追记标记21的发光区间22中，有时拾光器109的光检测器会发生饱和，无法输出正常的拾光器输出信号P0。在这种情况下，聚焦及追踪控制部112中也不会被输入正常的信号，因此拾光器109暂时无法进行追踪控制。
于是，在实施方式3中，将为了记录追记标记21而以第二激光功率发光的发光区间22设为1帧长以下，使聚焦及追踪控制部112在发光区间22内暂停(hold)基于相位差信号的追踪伺服。然后，聚焦及追踪控制部112在相邻的追记标记21之间的3帧长以上的区间23中进行追踪控制的恢复。
即，聚焦及追踪控制部112在以第二激光功率照射激光时暂停追踪控制。另外，凹凸坑包含同步码，在将同步码间的距离设为1帧长时，激光以第二激光功率照射的发光区间22的长度为1帧长以下，并且到下一个发光区间22为止的间隔为3帧长以上。
此外，较为理想的是，在解调电路113内置自动增益控制(AGC)电路或PLL电路的情况下，这些电路也暂停工作，以便不对基于第二激光功率的拾光器输出信号P0的变动进行应答。即，解调电路113在以第二激光功率照射激光时暂停PLL电路的频率比较功能或相位比较功能。
(实施方式4)
接着，对实施方式4的光盘装置进行说明。此外，实施方式4的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图13是用于说明本发明实施方式4中的时机生成部的动作的时间图。在图13中，每4帧记录追记标记的动作与实施方式3相同，但在本实施方式4中，具有两种记录模式。时机生成部106在纠错块内，以等间隔生成多个以第二激光功率发光的发光时机。
如图13所示，在使具有第二激光功率的激光在周期为4帧的第一相位发光的情况下，第一追记标记24在光盘1上形成。另外，在使具有第二激光功率的激光在与第一相位错开1帧的周期为4帧的第二相位发光的情况下，第二追记标记25在光盘1上形成。标记记录控制部104指示时机生成部106在第一相位及第二相位的其中之一相位进行记录。
时机生成部106生成事先被决定的在光盘1上不会相互重合的第一发光时机和第二发光时机的其中之一。标记记录控制部104指示时机生成部106选择第一发光时机和第二发光时机的其中之一发光时机。
即，在检测追记标记时，通过检测记录的相位，能够记录并识别两种信息。能够使两种信息与例如二进制数据(binary data)的“0”及“1”对应。如果相邻的追记标记以4帧为间隔，则通过使各相位分别错开一帧，能够记录最多四种信息，能够与二进制数据的“00”、“01”、“10”、以及“11”等对应。在此情况下，标记检测部115需要具有多个检测电路，在与各自相位对应的区间进行检测处理。
标记检测部115检测在事先决定的第一发光时机的反射率变化量以及在第二发光时机的反射率变化量，并检测在第一发光时机检测出反射率变化量时赋予值“0”、在第二发光时机检测出反射率变化量时赋予值“1”的二进制数据。
(实施方式5)
接着，对实施方式5的光盘装置进行说明。此外，实施方式5的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图14是用于说明本发明实施方式5中的标记记录控制部及时机生成部的动作的时间图。
在实施方式5中，标记记录控制部104进一步准备两种第二激光功率，根据记录追记标记的帧，分别使用第三激光功率和大于第三激光功率的第四激光功率这两种激光功率。
追记标记26是通过照射第三激光功率的激光而被追加写入的追记标记。追记标记27是通过照射第四激光功率的激光而被追加写入的追记标记。追记标记28是通过在照射第三激光功率的激光之后，进一步照射第四激光功率的激光而被追加写入的追记标记。
在实施方式5中，通过分别使用多个激光功率，在光盘1上形成多个不同种类的追记标记。通过使第三激光功率与第四激光功率不同，在图8中说明的标记检测部115检测出的RF信号的平均值的差分18不同。在实施方式5中，标记检测部115检测与追记标记26对应的RF信号的平均值、与追记标记27对应的RF信号的平均值、与追记标记28对应的RF信号的平均值、以及与不存在追记标记的部分29对应的RF信号的平均值这四种值。因此，这些值与实施方式4同样能够作为2比特的二进制数据使用。
另外，也能够用于在追加写入了一次的追记标记的记录由于光盘的污迹等某些原因而不充分的情况下，将激光功率从第三激光功率增大至第四激光功率，以重新形成追记标记。追记标记是否充分地形成能够根据图4所示的RF信号的平均值的变化量来推定。
(实施方式6)
接着，对实施方式6的光盘装置进行说明。此外，实施方式6的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图15是表示本发明实施方式6中的时机生成部的详细结构的方框图。光盘装置100具备时机生成部116以取代时机生成部106。在图15中，时机生成部116包括地址区域识别部117、标记间隔生成器118、以及标记宽度生成器119。地址区域识别部117识别指定帧中是否包含地址信息。此处，地址区域识别部117从解调电路113取得为识别包含有地址信息的地址区域(帧)所需要的地址检测信息。标记间隔生成器118决定发光区间信号EZ的周期。标记宽度生成器119生成具有事先决定的宽度的发光区间信号EZ。
接着，用图16所示的时间图，对实施方式6的追记标记记录动作进行说明。图16是用于说明本发明实施方式6中的时机生成部的动作的时间图。
在图16中，ECC块2包含不存在地址信息的帧30和存在地址信息的帧31。实施方式6中的时机生成部116在存在地址信息的帧31的区间不输出发光区间信号EZ。其结果，激光以第二激光功率发光的发光区间仅是与不存在地址信息的帧30对应的区间。因此，在不存在地址信息的帧30中记录追记标记32，而在存在地址信息的帧31中，由于激光功率未被切换成第二激光功率所以不形成追记标记32。
即，在光盘1上由凹凸坑记录的主信息包含表示光盘1内的物理位置的地址信息。时机生成部116生成发光时机，以便避开记录有地址信息的区域以第二激光功率照射激光。
在实施方式3中，例示了在激光以第二激光功率发光的发光区间中，拾光器109的光检测器发生饱和的情况，由于光检测器发生饱和，即使在进行伺服控制的聚焦及追踪控制部112以外的RF信号处理部111中有时也无法进行正常的信号处理。当在该发光区间中RF信号处理部111所具有的AGC电路或PLL电路暂停工作时，在暂停的区间中，不对后续的解调电路113输出正常信号，由此无法解调地址信息。
在实施方式6中，如图16所示，通过避开包含地址信息的区间(帧)形成追记标记，即使在形成多个追记标记的情况下，也不会在记录有地址信息的帧中将激光功率切换为第二激光功率。因此，能够进行伺服控制及解调处理，也能检测地址信息。因此，例如解调电路113或标记记录控制部104能够监视解调的地址信息的连续性，能够检测由介质的伤痕或干扰造成的跳轨(skipping of track)。
(实施方式7)
接着，对实施方式7的光盘装置进行说明。此外，实施方式7的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图17是表示本发明实施方式7中的时机生成部的详细结构的方框图。光盘装置100具备时机生成部120以取代时机生成部106。在图17中，时机生成部120包括随机数发生器121、标记间隔生成器122、以及标记宽度发生器123。随机数发生器121产生随机数。标记间隔生成器122基于随机数发生器121产生的随机数，随机生成发光区间信号EZ的周期。标记宽度发生器123生成具有事先决定的宽度的发光区间信号EZ。
即，时机生成部120产生随机数，并基于产生的随机数随机地改变以第二激光功率发光的发光时机的周期。
接着，用图18的时间图，对实施方式7的追记标记的记录动作进行说明。图18是用于说明本发明实施方式7中的时机生成部的动作的时间图。在图18中，追记标记36的间隔33、34、35通过随机数而随机变化。
在实施方式7中，追记标记36的记录位置是随机的。因此，在检测标记时，标记检测部115必须正确把握记录追记标记36的位置，生成检测时机。但是，通过适当地更换随机数发生器121的随机数序列，能够以多个记录模式记录追记标记。
(实施方式8)
接着，对实施方式8的光盘装置进行说明。此外，实施方式8的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图19是用于说明本发明实施方式8中的时机生成部的追记标记记录动作的时间图。在图19中，在基准位置信号SY之间的一帧内记录多个追记标记。
时机生成部106与由解调电路113生成的信道时钟同步地生成以第二激光功率发出激光的发光区间信号EZ。在实施方式8中，基准位置信号SY与追记标记的记录开始的时机不同。因此，在检测追记标记时，标记检测部115必须正确把握记录的标记位置，生成检测时机。但是，由于生成发光区间信号EZ以便在一帧内记录多个追记标记，因此能够增加追记标记的记录信息量。
此外，激光以第二激光功率发光的发光区间为凹凸坑的最短坑长的10倍以上较为理想。
(实施方式9)
接着，对实施方式9的光盘装置进行说明。图20是表示本发明实施方式9的光盘装置的结构的方框图。此外，在实施方式9的光盘装置100’中，对与图1所示的实施方式1的光盘装置100相同的结构标注相同的符号，并省略说明。光盘装置100’进一步包括移位控制部125。
CPU102的标记记录控制部104输出移位控制设定信号SS，设定移位控制部125，使记录追记标记时激光照射位置在光盘的半径方向上移动事先决定的微小距离。移位控制部125向聚焦及追踪控制部112输出追踪控制信号，以便按照移位控制设定信号SS，与时机生成部106输出的发光区间信号EZ的时机同步地使拾光器109相对于光盘的半径方向移动事先决定的微小距离。
图21是用于说明本发明实施方式9中的时机生成部的追记标记记录动作的时间图。在图21中，追记标记41a、41b通过从记录凹凸坑40的位置在光盘的半径方向上移动微小距离而被记录。
移位控制部125生成用于使光盘半径方向的追记标记的中心从坑的中心向内周侧或外周侧移动微小距离来记录追记标记的第一追记标记移位信号，以及用于使追记标记的中心向与第一追记标记移位信号相反的方向移动微小距离来记录追记标记的第二追记标记移位信号。
移位控制部125在由时机生成部106生成的以第二激光功率发出激光的发光时机，使拾光器109射出的激光从光盘半径方向的凹凸坑的中心向内周方向或外周方向移动指定的距离。
在由移位控制部125输出第一追记标记移位信号的区间中，追记标记41a通过使光盘半径方向的追记标记的中心从凹凸坑40的中心向内周侧或外周侧移动微小距离而被记录。另外，在由移位控制部125输出第二追记标记移位信号的区间中，追记标记41b通过使追记标记的中心向与第一追记标记移位信号相反的方向移动微小距离而被记录。
例如，如图21所示，追记标记41a的中心线42相对于凹凸坑40的中心线43向内周侧移动，追记标记41b的中心线44相对于凹凸坑40的中心线43向外周侧移动。
在实施方式8的标记检测时，拾光器109检测反射光的反射率的非对称性，不仅检测出记录了追记标记，还检测出追记标记向内周方向或外周方向移位。
即，标记检测部115检测出来自追记标记的反射光的分布相对于光盘半径方向的凹凸坑的中心非对称，测量非对称的反射光的RF信号的振幅平均值，并通过监视测量的振幅平均值的变动量来检测反射率变化量。
在本实施方式8中，通过使追记标记在光盘半径方向上移动微小距离，能够增加可记录的信息量。
(实施方式10)
接着，对实施方式10的光盘装置进行说明。此外，实施方式10的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图22是用于说明本发明实施方式10中的时机生成部的追记标记记录动作以及追记标记检测动作的时间图。在图22所示的实施方式10中，以不同的振幅输出激光，取得在检测追记标记时消除了凹凸坑55的影响的、矩形以外形状的RF信号波形。
激光功率切换部107在记录追记标记时，使拾光器109输出的激光的振幅根据例如事先决定的模式或者基于随机数序列的随机模式(random pattern)而发生变化，来记录追记标记59。由此，在一个追记标记59中，包含有反射率不同的多个区域56、57、58。即，在由时机生成部106生成的以第二激光功率发出激光的发光时机，激光功率切换部107进行控制，以便第二激光功率按照事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式而被变更为多个值。
另外，在图22中，示出记录追记标记前的RF信号51、记录了追记标记后的RF信号52、记录追记标记前的RF信号51与记录了追记标记后的RF信号52的差53、以及记录追记标记前的RF信号51与记录了追记标记后的RF信号52的理想的差54。
在实施方式8中，标记检测部115在检测追记标记时，比较再生的RF信号的由追记标记产生的差53与再生的RF信号的由追记标记产生的理想的差54。标记检测部115在检测追记标记时，判断再生的RF信号的由追记标记产生的差53与再生的RF信号的由追记标记产生的理想的差54是否一致。
即，标记检测部115在由时机生成部106生成的以第二激光功率发出激光的发光时机，将激光照射前的RF信号的波形和激光照射后的RF信号的波形的差值与事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式进行比较，当差值与模式一致时判断为追记标记被正常记录，当差值与模式不一致时判断为追记标记未被正常地记录。
由此，例如能够将追记标记的检测作为密钥认证加以利用。标记检测部115在正确的记录位置未检测出与RF信号的理想的差44(应为54)一致的RF信号的差43(应为53)时，认为事先没有将正确的密钥作为追记标记进行记录，从而禁止光盘1上利用凹凸坑记录的内容数据的再生。
(实施方式11)
接着，对实施方式11的光盘装置进行说明。此外，实施方式11的光盘装置的结构与实施方式1的光盘装置100的结构相同，因而省略说明，仅对与光盘装置100的不同之处进行说明。
图23是用于说明本发明实施方式11中的时机生成部的追记标记记录动作的时间图。
在图23中，追记标记61的记录区间与未记录区间的周期均不固定，例如通过随机数使记录区间与未记录区间随机地发生变化。即，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度由随机数序列决定。时机生成部106产生随机数，由产生的随机数决定激光以第二激光功率照射的发光区间的长度以及相邻发光区间的间隔。
在此情况下，由于追记标记61的记录位置随机发生变化，因此必须正确把握基于随机数记录的位置，生成检测时机。但是，通过适当地更换随机数序列，能够以多个记录模式记录追记标记。
此外，在上述具体的实施方式中主要包括具有以下结构的发明。
本发明所提供的一种光盘装置对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记，包括：拾光器；RF信号处理部，基于所述拾光器的输出取得RF信号；基准位置检测部，解调所述RF信号并检测基准位置信号；旋转速度控制部，将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度；发光时机生成部，按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机；激光功率控制部，在所述发光时机增加从所述拾光器照射的激光的激光功率；反射率变化量检测部，从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量；凹凸坑再生控制部，当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，在所述旋转速度控制部设定第一旋转速度，并且在所述激光功率控制部设定第一激光功率；以及追记标记记录控制部，当对所述光盘上追加写入所述追记标记时，在所述旋转速度控制部设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机对所述激光功率控制部设定大于所述第一激光功率的第二激光功率。
根据该结构，基于拾光器的输出取得RF信号，解调RF信号并检测基准位置信号。由旋转速度控制部将光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度，由发光时机生成部按照基准位置信号在预先决定的位置生成从拾光器照射的激光的发光时机，由激光功率控制部在发光时机增加从拾光器照射的激光的激光功率。由反射率变化量检测部从RF信号中检测光盘的反射光的反射率变化量。并且，当再生形成在光盘上的凹凸坑时，对旋转速度控制部设定第一旋转速度，并且在激光功率控制部设定第一激光功率。另外，当对光盘追加写入追记标记时，在旋转速度控制部设定低于第一旋转速度并且也低于能够再生凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应发光时机在激光功率控制部设定大于第一激光功率的第二激光功率。
因此，不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，便能够对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记。
另外，较为理想的是，上述光盘装置还包括在检测形成在所述光盘上的所述追记标记时，执行基于由所述反射率变化量检测部检测出的所述反射率变化量来检测所述追记标记的控制的追记标记检测控制部。
根据该结构，在检测形成在光盘上的追记标记时，能够基于由反射率变化量检测部检测出的反射率的变化量检测追记标记。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述第二旋转速度为所述最低旋转速度的1/2以下。根据该结构，能够以最低旋转速度的1/2以下的第二旋转速度，对光盘追加写入追记标记。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述第二旋转速度为所述第旋转速度的1/10以下。根据该结构，能够以第一旋转速度的1/10以下的第二旋转速度，对光盘追加写入追记标记。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述第二激光功率是所述第一激光功率的5倍以上且10倍以下。根据该结构，能够以第一激光功率的5倍以上且10倍以下的第二激光功率，对光盘追加写入追记标记。
另外，较为理想的是，上述光盘装置还包括，控制对所述拾光器的追踪的追踪控制部，所述追踪控制部以相位差检测方式进行追踪控制。根据该结构，能够以相位差检测方式进行追踪控制。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述激光以所述第二激光功率照射的发光区间为所述凹凸坑的最短坑长的10倍以上。
根据该结构，由于激光以第二激光功率照射的发光区间为凹凸坑的最短坑长的10倍以上，因此，在RF信号中能够明确地区分追记标记与凹凸坑。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述基准位置检测部至少利用PLL电路解调所述RF信号，在以所述第二激光功率照射激光时，暂停所述PLL电路的频率比较功能或相位比较功能。
根据该结构，至少利用PLL电路解调RF信号，在以第二激光功率照射激光时，暂停PLL电路的频率比较功能或相位比较功能，因此，PLL电路的频率比较功能或相位比较功能不会对由第二激光功率产生的拾光器输出信号的变动发生应答，从而能够正常地解调RF信号。
另外，较为理想的是，上述光盘装置还包括，控制对所述拾光器的追踪的追踪控制部，所述追踪控制部在以所述第二激光功率照射激光时，暂停追踪控制。
根据该结构，由于在以第二激光功率照射激光时，暂停追踪控制，因此，追踪控制不会对由第二激光功率产生的拾光器输出信号的变动发生应答，从而能够正常地进行追踪控制。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述凹凸坑包含同步码，在将所述同步码间的距离设为1帧长时，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度为1帧长以下，并且到下一个发光区间为止的间隔为3帧长以上。
根据该结构，由于在将同步码间的距离设为1帧长时，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度为1帧长以下，并且到下一个发光区间为止的间隔为3帧长以上，因此，能够在发光区间内暂停追踪控制，在相邻的追记标记间的3帧长以上的区间中进行追踪控制的恢复。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述凹凸坑包含同步码，在将所述同步码间的距离设为1帧长时，激光以所述第二激光功率照射的发光区间的长度为所述凹凸坑的帧间隔的整数倍。
根据该结构，由于在将同步码间的距离设为1帧长时，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度为凹凸坑的帧间隔的整数倍，因此，能够以频带较低的激光功率控制实现追记标记的追加写入，因而不需要记录型光盘所使用的高速并且高精度的激光驱动电路，从而能够廉价地制造光盘装置。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述光盘上由所述凹凸坑记录的所述主信息包含表示所述光盘内的物理位置的地址信息，所述发光时机生成部生成所述发光时机，以便避开记录有所述地址信息的区域以所述第二激光功率照射所述激光。
根据该结构，生成发光时机以便避开记录有地址信息的区域以第二激光功率照射激光。因此，即使在形成多个追记标记的情况下，也不会在记录有地址信息的区域中将激光功率切换为第二激光功率，因此能够进行该区域中的伺服控制以及解调处理，从而能够正常地检测地址信息。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述光盘上由所述凹凸坑记录的所述主信息以对一定单位的用户数据附加纠错信息的纠错块为单位构成，所述追记标记记录控制部以所述纠错块为单位，控制由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发光的发光区间。
根据该结构，光盘上由凹凸坑记录的主信息以对一定单位的用户数据附加纠错信息的纠错块为单位构成。并且，以纠错块为单位控制以第二激光功率发光的发光区间，因而能够比较容易地管理追记标记的记录的开始点与结束点。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光区间为所述纠错块的单位长度的整数倍。
根据该结构，激光以第二激光功率发光的发光区间为纠错块的单位长度的整数倍，因而能够比较容易地管理追记标记的记录的开始点与结束点。
另外，较为理想的是，上述光盘装置还包括，控制对所述拾光器的追踪的追踪控制部，所述追踪控制部在以所述第二激光功率发光的发光区间内进行追踪控制。根据该结构，在以第二激光功率发光的发光区间内，能够进行追踪控制。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述发光时机生成部在所述纠错块内，以等间隔生成多个以第二激光功率发光的发光时机。
根据该结构，由于在纠错块内以等间隔生成多个以第二激光功率发光的发光时机，因而能够比较容易地管理追记标记的记录的开始点与结束点。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述发光时机生成部产生随机数，基于产生的随机数随机地改变以第二激光功率发光的发光时机的周期。
根据该结构，由于产生随机数，并基于产生的随机数随机地改变以第二激光功率发光的发光时机的周期，因此，能够以多个记录模式记录追记标记，从而能够使追记标记的复制较为困难。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述发光时机生成部生成事先被决定的在光盘上不会相互重合的第一发光时机和第二发光时机的其中之一，所述追记标记记录控制部指示所述发光时机生成部选择所述第一发光时机和所述第二发光时机的其中之一发光时机。
根据该结构，生成事先决定的在光盘上不会相互重合的第一发光时机和第二发光时机的其中之一，并且指示选择第一发光时机和第二发光时机的其中之一发光时机。因此，由于指示选择事先被决定的在光盘上不会相互重合的第一发光时机和第二发光时机的其中之一，所以能够利用追记标记追加写入多种信息。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述反射率变化量检测部检测在事先决定的所述第一发光时机的反射率变化量以及在所述第二发光时机的反射率变化量，并检测在所述第一发光时机检测出反射率变化量时赋予值“0”、在所述第二发光时机检测出反射率变化量时赋予值“1”的二进制数据。
根据该结构，检测在事先决定的第一发光时机的反射率变化量以及在第二发光时机的反射率变化量，并检测在第一发光时机检测出反射率变化量时赋予值“0”、在第二发光时机检测出反射率变化量时赋予值“1的二进制数据。因此，能够利用追记标记追加写入多种信息。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述反射率变化量检测部测量所述RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的所述振幅平均值的变动量来检测所述反射率变化量。
根据该结构，测量RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的振幅平均值的变动量来检测反射率变化量。因此，能够通过检测反射率变化量来检测追记标记的有无。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述基准位置检测部检测所述凹凸坑的坑长，所述反射率变化量检测部仅检测在检测出的所述坑长为一定长度以上的所述凹凸坑的中央部的所述反射率变化量。
根据该结构，由于检测凹凸坑的坑长，并仅检测在检测出的坑长为一定长度以上的凹凸坑的中央部的反射率变化量，因此，能够降低由于凹凸坑长短不一地随机排列而产生的振幅平均值计算时的误差。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述反射率变化量检测部分别检测激光以所述第二激光功率照射的发光区间内的RF信号的积分值，以及激光以所述第二激光功率照射的发光区间以外且与所述发光区间具有相同长度的区间内的RF信号的积分值，通过求出检测出的两个积分值的差来检测所述反射率变化量。
根据该结构，分别检测激光以第二激光功率照射的发光区间内的RF信号的积分值，以及激光以第二激光功率照射的发光区间以外且与发光区间具有相同长度的区间内的RF信号的积分值，通过求出检测出的两个积分值的差来检测反射率变化量。因此，能够通过检测反射率变化量来检测追记标记的有无。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述发光时机生成部与信道时钟同步地生成以所述第二激光功率发出激光的发光时机，激光以所述第二激光功率发光的发光区间为所述凹凸坑的最短坑长的10倍以上。
根据该结构，与信道时钟同步地生成以第二激光功率发出激光的发光时机，激光以第二激光功率发光的发光区间为凹凸坑的最短坑长的10倍以上。因此，由于生成发光时机以便在一帧内记录多个追记标记，所以能够增加追记标记的记录信息量。
另外，较为理想的是，上述光盘装置还包括，在由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光时机，使所述拾光器射出的激光从所述光盘的半径方向的所述凹凸坑的中心向内周方向或外周方向移动指定距离的移位控制部。
根据该结构，在以第二激光功率发出激光的发光时机，使拾光器射出的激光从光盘半径方向的凹凸坑的中心向内周方向或外周方向移动指定的距离。
因此，由于追记标记从光盘半径方向的凹凸坑的中心向内周方向或外周方向移动指定的距离而被追加写入，所以能够增加利用追记标记可记录的信息量。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述反射率变化量检测部检测出来自所述追记标记的反射光的分布相对于所述光盘的半径方向的所述凹凸坑的中心非对称，测量非对称的所述反射光的所述RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的所述振幅平均值的变动量来检测所述反射率变化量。
根据结构，检测出来自追记标记的反射光的分布相对于光盘半径方的凹凸坑的中心非对称，测量非对称的反射光的RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的振幅平均值的变动量检测反射率变化量。
因此，能够检测从光盘半径方向的凹凸坑的中心向内周方向或外周方向移动指定距离而被追加写入的追记标记，从而能够增加利用追记标记可记录的信息量。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述激光功率控制部，在由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光时机，进行控制以便所述第二激光功率按照事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式而被变更为多个值。
根据该结构，在以第二激光功率发出激光的发光时机，进行控制以便第二激光功率按照事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式而被变更为多个值。因此，能够追加写入包含反射率不同的多个区域的追记标记。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述反射率变化量检测部在由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光时机，将激光照射前的RF信号的波形和激光照射后的RF信号的波形的差值与事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式进行比较，当所述差值与所述模式一致时判断为所述追记标记被正常记录，当所述差值与所述模式不一致时判断为所述追记标记未被正常地记录。
根据该结构，在以第二激光功率发出激光的发光时机，将激光照射前的RF信号的波形和激光照射后的RF信号的波形的差值与事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式进行比较。并且，在差值与模式一致时判断为追记标记被正常记录，在差值与模式不一致时断为追记标记未被正常地记录。因此，能够将追记标记的检测作为密钥认证加以利用。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述激光以所述第二激光功率照射的发光区间的长度由随机数序列决定。
根据该结构，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度由随机数序列决定。因此，追记标记的记录位置随机发生变化，因此必须正确把握基于随机数记录的位置，生成检测时机，通过适当地更换随机数序列，能够以多个记录模式记录追记标记。
本发明所提供的一种集成电路被设在对由凹凸坑记录主信息的光盘、通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记的光盘装置中，包括：RF信号处理电路，基于拾光器的输出取得RF信号；基准位置检测电路，解调RF信号并检测基准位置信号；旋转速度控制电路，将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度；发光时机生成电路，按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机；激光功率控制电路，在所述发光时机增加从所述拾光器射的激光的激光功率；反射率变化量检测电路，从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量；凹凸坑再生控制电路，当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，对所述旋转速度控制电路设定第一旋转速度，并且对所述激光功率控制电路设定第一激光功率；以及追记标记记录控制电路，当对所述光盘追加写入所述追记标记时，对所述旋转速度控制电路设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机对所述激光功率控制电路设定大于所述第一激光功率的第二激光功率。
根据该结构，基于拾光器的输出取得RF信号，解调RF信号并检测基准位置信号。由旋转速度控制电路将光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度，由发光时机生成电路按照基准位置信号在预先决定的位置生成从拾光器照射的激光的发光时机，由激光功率控制电路在发光时机增加从拾光器照射的激光的激光功率。由反射率变化量检测电路从RF信号中检测光盘的反射光的反射率变化量。并且，当再生形成在光盘上的凹凸坑时，对旋转速度控制电路设定第一旋转速度，并且对激光功率控制电路设定第一激光功率。另外，当对光盘追加写入追记标记时，对旋转速度控制电路设定低于第一旋转速度并且也低于能够再生凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应发光时机对激光功率控制电路设定大于第一激光功率的第二激光功率。
因此，不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，便能够对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记。
另外，较为理想的是，上述集成电路还包括，在检测形成在所述光盘上的所述追记标记时，执行基于由所述反射率变化量检测电路检测出的所述反射率变化量来检测所述追记标记的控制的追记标记检测控制电路。
根据该结构，在检测形成在光盘上的追记标记时，能够基于由反射率变化量检测电路检测出的反射率的变化量来检测追记标记。
本发明所提供的一种光盘控制方法用于对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记，包括：基于拾光器的输出取得RF信号的RF信号处理步骤；解调所述RF信号并检测基准位置信号的基准位置检测步骤；将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度的旋转速度控制步骤；按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机的发光时机生成步骤；在所述发光时机增加从所述拾光器照射的激光的激光功率的激光功率控制步骤；从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量的反射率变化量检测步骤；当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，在所述旋转速度控制步骤中设定第一旋转速度，并且在所述激光功率控制步骤中设定第一激光功率的凹凸坑再生控制步骤；以及当对所述光盘追加写入所述追记标记时，在所述旋转速度控制步骤中设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机在所述激光功率控制步骤中设定大于所述第一激光功率的第二激光功率的追记标记记录控制步骤。
根据该方法，基于拾光器的输出取得RF信号，解调RF信号并检测基准位置信号。在旋转速度控制步骤中将光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度，在发光时机生成步骤中按照基准位置信号在预先决定的位置生成从拾光器照射的激光的发光时机，在激光功率控制步骤中在发光时机增加从拾光器照射的激光的激光功率。在反射率变化量检测步骤中从RF信号中检测光盘的反射光的反射率变化量。并且，在再生形成在光盘上的凹凸坑时，在旋转速度控制步骤中设定第一旋转速度，并且在激光功率控制步骤中设定第一激光功率。另外，当在光盘上追加写入追记标记时，在旋转速度控制步骤中设定低于第一旋转速度并且也低于能够再生凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应发光时机在激光功率控制步骤中设定大于第一激光功率的第二激光功率。
因此，不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，便能够对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记。
另外，较为理想的是，上述光盘控制方法还包括，在检测形成在所述光盘上的所述追记标记时，执行基于在所述反射率变化量检测步骤中检测出的所述反射率变化量来检测所述追记标记的控制的追记标记检测控制步骤。
根据该结构，在检测形成在光盘上的追记标记时，能够基于在反射率变化量检测步骤中检测出的反射率的变化量来检测追记标记。
此外，在用于实施发明的方式的项目中描述的具体实施方式或实施例只是为了明确本发明的技术内容，不应仅限定于这样的具体例而狭义解释，在本发明的精神和权利要求项的范围内，能够进行各种变更并实施。
产业上的可利用性
本发明所涉及的光盘装置、光盘控制方法以及集成电路可用于不必使用工厂内的特殊装置或高输出的激光光源，只需利用价格较低并且低输出的激光光源，便能够对由凹凸坑记录主信息的光盘通过使形成在凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记的光盘装置、光盘控制方法以及集成电路。

Claims (32)

1.一种光盘装置，对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记，其特征在于包括：
拾光器；
RF信号处理部，基于所述拾光器的输出取得RF信号；
基准位置检测部，解调所述RF信号并检测基准位置信号；
旋转速度控制部，将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度；
发光时机生成部，按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机；
激光功率控制部，在所述发光时机增加从所述拾光器照射的激光的激光功率；
反射率变化量检测部，从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量；
凹凸坑再生控制部，当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，对所述旋转速度控制部设定第一旋转速度，对所述激光功率控制部设定第一激光功率；以及
追记标记记录控制部，当对所述光盘追加写入所述追记标记时，对所述旋转速度控制部设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机，对所述激光功率控制部设定大于所述第一激光功率的第二激光功率。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于还包括：
追记标记检测控制部，在检测形成在所述光盘上的所述追记标记时，执行基于由所述反射率变化量检测部检测出的所述反射率变化量来检测所述追记标记的控制。
3.根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于：所述第二旋转速度为所述最低旋转速度的1/2以下。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述第二旋转速度为所述第一旋转速度的1/10以下。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述第二激光功率为所述第一激光功率的5倍以上且10倍以下。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的光盘装置，其特征在于还包括：控制对所述拾光器的追踪的追踪控制部，其中，
所述追踪控制部以相位差检测方式进行追踪控制。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述激光以所述第二激光功率照射的发光区间为所述凹凸坑的最短坑长的10倍以上。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述基准位置检测部至少利用PLL电路解调所述RF信号，在以所述第二激光功率照射激光时，暂停所述PLL电路的频率比较功能或相位比较功能。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的光盘装置，其特征在于还包括：控制对所述拾光器的追踪的追踪控制部，其中，
所述追踪控制部，在以所述第二激光功率照射激光时，暂停追踪控制。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的光盘装置，其特征在于：
所述凹凸坑包含同步码，
在将所述同步码间的距离设为1帧长时，激光以第二激光功率照射的发光区间的长度为1帧长以下，并且到下一个发光区间为止的间隔为3帧长以上。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的光盘装置，其特征在于：
所述凹凸坑包含同步码，
在将所述同步码间的距离设为1帧长时，激光以所述第二激光功率照射的发光区间的长度为所述凹凸坑的帧间隔的整数倍。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的光盘装置，其特征在于：
所述光盘上由所述凹凸坑记录的所述主信息包含表示所述光盘内的物理位置的地址信息，
所述发光时机生成部生成所述发光时机，以便避开记录有所述地址信息的区域来以所述第二激光功率照射所述激光。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的光盘装置，其特征在于：
所述光盘上由所述凹凸坑记录的所述主信息，以对一定单位的用户数据附加纠错信息的纠错块为单位构成，
所述追记标记记录控制部，以所述纠错块为单位，控制由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发光的发光区间。
14.根据权利要求13所述的光盘装置，其特征在于：由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光区间为所述纠错块的单位长度的整数倍。
15.根据权利要求1至14中任一项所述的光盘装置，其特征在于还包括：控制对所述拾光器的追踪的追踪控制部，其中，
所述追踪控制部在以所述第二激光功率发光的发光区间内进行追踪控制。
16.根据权利要求13或14所述的光盘装置，其特征在于：所述发光时机生成部在所述纠错块内，以等间隔生成多个以第二激光功率发光的发光时机。
17.根据权利要求1至16中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述发光时机生成部产生随机数，基于产生的随机数随机地改变以第二激光功率发光的发光时机的周期。
18.根据权利要求1至17中任一项所述的光盘装置，其特征在于：
所述发光时机生成部，生成被事先决定的在光盘上不会相互重合的第一发光时机和第二发光时机的其中之一，
所述追记标记记录控制部，指示所述发光时机生成部选择所述第一发光时机和所述第二发光时机的其中之一的发光时机。
19.根据权利要求18所述的光盘装置，其特征在于：所述反射率变化量检测部检测事先决定的所述第一发光时机的反射率变化量以及在所述第二发光时机的反射率变化量，并检测在所述第一发光时机检测出反射率变化量时赋予值“0”、在所述第二发光时机检测出反射率变化量时赋予值“1”的二进制数据。
20.根据权利要求1至19中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述反射率变化量检测部测量所述RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的所述振幅平均值的变动量来检测所述反射率变化量。
21.根据权利要求20所述的光盘装置，其特征在于：
所述基准位置检测部，检测所述凹凸坑的坑长，
所述反射率变化量检测部，仅检测在检测出的所述坑长为一定长度以上的所述凹凸坑的中央部的所述反射率变化量。
22.根据权利要求1至19中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述反射率变化量检测部，分别检测激光以所述第二激光功率照射的发光区间内的RF信号的积分值，以及激光以所述第二激光功率照射的发光区间以外且与所述发光区间具有相同长度的区间内的RF信号的积分值，通过求出检测出的两个积分值的差来检测所述反射率变化量。
23.根据权利要求1至22中任一项所述的光盘装置，其特征在于：
所述发光时机生成部与信道时钟同步地生成以所述第二激光功率发出激光的发光时机，
激光以所述第二激光功率发光的发光区间为所述凹凸坑的最短坑长的10倍以上。
24.根据权利要求1至23中任一项所述的光盘装置，其特征在于还包括：
移位控制部，在由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光时机，使所述拾光器射出的激光从所述光盘的半径方向的所述凹凸坑的中心向内周方向或外周方向移动指定的距离。
25.根据权利要求24所述的光盘装置，其特征在于：所述反射率变化量检测部，检测出来自所述追记标记的反射光的分布相对于所述光盘的半径方向的所述凹凸坑的中心非对称，测量非对称的所述反射光的所述RF信号的振幅平均值，通过监视测量到的所述振幅平均值的变动量来检测所述反射率变化量。
26.根据权利要求1至25中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述激光功率控制部，在由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光时机，进行控制以便所述第二激光功率按照事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式而被变更为多个值。
27.根据权利要求26所述的光盘装置，其特征在于：所述反射率变化量检测部，在由所述发光时机生成部生成的以所述第二激光功率发出激光的发光时机，将激光照射前的RF信号的波形和激光照射后的RF信号的波形的差值与事先决定的模式或者由随机数序列决定的随机模式进行比较，当所述差值与所述模式一致时判断所述追记标记被正常记录，当所述差值与所述模式不一致时判断所述追记标记未被正常记录。
28.根据权利要求1至27中任一项所述的光盘装置，其特征在于：所述激光以所述第二激光功率照射的发光区间的长度由随机数序列决定。
29.一种集成电路，被设置在光盘装置中，所述光盘装置为对由凹凸坑记录主信息的光盘、通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记的光盘装置，其特征在于包括：
RF信号处理电路，基于拾光器的输出取得RF信号；
基准位置检测电路，解调RF信号并检测基准位置信号；
旋转速度控制电路，将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度；
发光时机生成电路，按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机；
激光功率控制电路，在所述发光时机增加从所述拾光器照射的激光的激光功率；
反射率变化量检测电路，从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量；
凹凸坑再生控制电路，当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，对所述旋转速度控制电路设定第一旋转速度，并对所述激光功率控制电路设定第一激光功率；以及
追记标记记录控制电路，当对所述光盘追加写入所述追记标记时，对所述旋转速度控制电路设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机，对所述激光功率控制电路设定大于所述第一激光功率的第二激光功率。
30.根据权利要求29所述的集成电路，其特征在于还包括：
追记标记检测控制电路，在检测形成在所述光盘上的所述追记标记时，执行基于由所述反射率变化量检测电路检测出的所述反射率变化量来检测所述追记标记的控制。
31.一种光盘控制方法，用于对由凹凸坑记录主信息的光盘，通过使形成在所述凹凸坑上的反射膜的反射率发生变化来追加写入追记标记，其特征在于包括：
RF信号处理步骤，基于拾光器的输出取得RF信号；
基准位置检测步骤，解调所述RF信号并检测基准位置信号；
旋转速度控制步骤，将所述光盘的旋转速度切换为至少两种旋转速度；
发光时机生成步骤，按照所述基准位置信号，在预先决定的位置生成从所述拾光器照射的激光的发光时机；
激光功率控制步骤，在所述发光时机增加从所述拾光器照射的激光的激光功率；
反射率变化量检测步骤，从所述RF信号中检测所述光盘的反射光的反射率变化量；
凹凸坑再生控制步骤，当再生形成在所述光盘上的所述凹凸坑时，在所述旋转速度控制步骤中设定第一旋转速度，并且在所述激光功率控制步骤中设定第一激光功率；以及
追记标记记录控制步骤，当对所述光盘追加写入所述追记标记时，在所述旋转速度控制步骤中设定低于所述第一旋转速度并且也低于能够再生所述凹凸坑的最低旋转速度的第二旋转速度，并且响应所述发光时机，在所述激光功率控制步骤中设定大于所述第一激光功率的第二激光功率。
32.根据权利要求31所述的光盘控制方法，其特征在于还包括：
追记标记检测控制步骤，在检测形成在所述光盘上的所述追记标记时，执行基于在所述反射率变化量检测步骤中检测出的所述反射率变化量来检测所述追记标记的控制。
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