CN102236068B - 一种芯片测试的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种芯片测试的方法和装置，所述方法用于自动测试设备，包括如下步骤：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试，从而省去测试中所述没有实际输入或输出的管脚描述信息所占用的资源。本发明能够节省ATE的资源提高测试效率，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和资源，测试效率低下的技术问题。

Description

一种芯片测试的方法和装置
技术领域
本发明涉及芯片的自动测试设备，特别是涉及一种芯片测试的方法和装置。
背景技术
ATE(AutomaticTestEquipment，自动测试设备)，是一种通过计算机控制来进行器件、电路板和芯片测试的设备。其通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。
ATE可分为以下几种类型：数字测试***、线性器件测试***、模拟测试***、存储器测试***、板测试***、混合信号测试***、SOC(SystemonChip，在一个芯片内集成一个完整的***)测试***。
ATE的开发是从简单器件、低管脚数、低速测试***(10MHz，64pins)到中等数量管脚、中速测试***(40MHz，256pins)到高管脚数、高速(超过100MHz，1024pins)并最终过渡到现在的SoC测试***(1024pin，超过400MHz，并具备模拟、存储器测试能力)。未来的测试***测试速度将超过1.6GHz，时序精度在几百纳秒范围内，并将数字、模拟、存储器和RF测试能力集成于一台测试***。这样一台测试***的成本将非常高，因此需要使用一台或多台测试工作台进行并行的器件测试。为了降低测试成本，芯片中将加入自测试电路。同时基于减少测试***成本的考虑，模块化的测试***将取代通用的测试***。
一般的ATE可以由带一定内存深度的一组通道，一系列时序发生器及多个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚，ATE测试***每个管脚有独立的测试资源。测试时候，每个管脚有对应的输入或输出信号，并由这些信号构成测试向量，进行不同芯片功能的测试。
目前器件速度已经达到1.6GHz，管脚数达到1024，所有的电路都集成到单个芯片。因此由针对管脚的测试向量构成的测试向量源文件体积特别大，甚至超过数Gbytes，用普通文件编辑器来修改里面的参数时会力不从心，通常耗时巨大，因此，ATE在进行测试向量源文件的修改和配置时，耗费了大量的时间和资源，造成了测试效率低下。
发明内容
本发明的目的是提供一种芯片测试的方法和装置，能够节省ATE的资源提高测试效率，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和资源，测试效率低下的技术问题。
为了实现上述目的，一方面，提供了一种芯片测试的方法，用于自动测试设备，包括如下步骤：
读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；
保存修改后的测试向量源文件；
通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。
优选地，上述的方法中，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：
通过所述源文件编辑器的波形修改模块修改所述测试向量源文件的测试向量波形。
优选地，上述的方法中，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：
通过所述源文件编辑器的模式修改模块修改所述测试向量源文件的操作码模式。
优选地，上述的方法中，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：
如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行。
为了实现上述目的，本发明实施例还提供了一种芯片测试的装置，用于自动测试设备，包括：
读取和显示模块，用于：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
源文件编辑器，包括删除模块，所述删除模块用于：删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；
保存和执行模块，用于：保存修改后的测试向量源文件，并通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。
优选地，上述的装置中，所述源文件编辑器还包括：
波形修改模块，用于修改所述测试向量源文件的测试向量波形。
优选地，上述的装置中，所述源文件编辑器还包括：
模式修改模块，用于修改所述测试向量源文件的操作码模式。
优选地，上述的装置中，所述模式修改模块还用于：如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行。
本发明至少存在以下技术效果：
1)通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息，从而这些描述信息对应的管脚不再占用自动测试设备的测试资源，自动测试设备可以腾出更多的测试管脚资源，从而自动测试设备可以同时对更多的芯片进行测试，提高了测试效率。
2)删除没有实际输入或输出的管脚描述信息，大大压缩了测试向量源文件的大小，减少了运行测试向量源文件时的内存消耗，提高了运行速度；
3)可以通过波形修改模块根据用户输入的名称自动修改所述测试向量源文件的测试向量波形，从而使用户方便的修改这一重要参数；
4)可以通过模式修改模块，修改所述测试向量源文件的操作码模式，从而使用户方便的修改这一重要参数。
5)在操作码模式为普通模式时候，模式修改模块自动把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行，因为普通模式两行才可以组成一个完整波形周期，所以这种自动修改能避免出错。
6)本发明不但提高了自动测试设备的测试效率，还能让测试工程师对其中一些重要参数进行快速准确的修改，从而能够大大减少芯片样品的制作时间，缩短芯片测试程序的开发周期。
附图说明
图1为本发明实施例提供的方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例提供的编辑测试向量源文件的步骤流程图；
图3为本发明实施例提供的装置的结构图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对具体实施例进行详细描述。
图1为本发明实施例提供的方法的步骤流程图；如图所示，本发明实施例提供一种芯片测试的方法，用于自动测试设备，其中，包括如下步骤：
步骤101，读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
步骤102，通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；
步骤103，保存修改后的测试向量源文件，并通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试，从而省去测试中所述没有实际输入或输出的管脚描述信息所占用的资源。
所述步骤102之前还包括：通过所述源文件编辑器的波形修改模块修改所述测试向量源文件的测试向量波形；通过所述源文件编辑器的模式修改模块修改所述测试向量源文件的操作码模式。其中，如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行。
图2为本发明实施例提供的方法的编辑测试向量源文件的步骤流程图；如图所示，编辑测试向量源文件的过程如下：
步骤201，源文件编辑器等待修改数据；
步骤202，用户按下“保存”按键？是则执行步骤203，否则返回步骤201；
步骤203，用户修改测试向量源文件的tsetname(波形名称)，波形修改模块根据tsetname修改测试向量源文件的测试向量波形；
步骤204，用户修改测试向量源文件的opcodemode(操作码模式)，模式修改模块根据opcodemode修改所述测试向量源文件的操作码模式，其中如果opcodemode为normal(普通)模式，把测试矢量设置为偶数行；
步骤205，通过删除模块删除不需要的pin(管脚描述信息)，根据用户输入修改管脚的名称，并可以对管脚的排列顺序进行排列；
步骤206，修改后的测试向量源文件写入新文件，结束。
可见，本发明能够针对测试工程师关心的参数快速修改，其具有以下功能：
1)可以快速修改测试向量源文件的tsetname，opcodemode。
2)删除不需要的输出管脚，并且能阻止删除包含输入周期的管脚；
3)能对管脚的排列顺序进行排列；
4)修改管脚的名称
5)如果opcodemode为normal(普通)模式，把测试矢量设置为偶数行。
本发明实施例还提供一种芯片测试的装置，用于自动测试设备，其包括：
读取和显示模块310，用于：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
源文件编辑器320，包括删除模块321，所述删除模块用于：删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；
保存和执行模块330，用于：保存修改后的测试向量源文件，并通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试，从而省去测试中所述没有实际输入或输出的管脚描述信息所占用的资源。
所述源文件编辑器还包括：波形修改模块322，用于修改所述测试向量源文件的测试向量波形；模式修改模块323，用于修改所述测试向量源文件的操作码模式，如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行。
由上可知，本发明实施例具有以下优势：
1)通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息，从而这些描述信息对应的管脚不再占用自动测试设备的测试资源，自动测试设备可以腾出更多的测试管脚资源，从而自动测试设备可以同时对更多的芯片进行测试，提高了测试效率。
2)删除没有实际输入或输出的管脚描述信息，大大压缩了测试向量源文件的大小，减少了运行测试向量源文件时的内存消耗，提高了运行速度；
3)可以通过波形修改模块根据用户输入的名称自动修改所述测试向量源文件的测试向量波形，从而使用户方便的修改这一重要参数；
4)可以通过模式修改模块，修改所述测试向量源文件的操作码模式，从而使用户方便的修改这一重要参数。
5)在操作码模式为普通模式时候，模式修改模块自动把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行，因为普通模式两行才可以组成一个完整波形周期，所以这种自动修改能避免出错。
6)本发明不但提高了自动测试设备的测试效率，还能让测试工程师对其中一些重要参数进行快速准确的修改，从而能够大大减少芯片样品的制作时间，缩短芯片测试程序的开发周期。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种芯片测试的方法，用于自动测试设备，其特征在于，包括如下步骤：
读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；
保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：
通过所述源文件编辑器的波形修改模块修改所述测试向量源文件的测试向量波形。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：
通过所述源文件编辑器的模式修改模块修改所述测试向量源文件的操作码模式。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：
如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行。
5.一种芯片测试的装置，用于自动测试设备，其特征在于，包括：
读取和显示模块，用于：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
源文件编辑器，包括删除模块，所述删除模块用于：删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；
保存和执行模块，用于：保存修改后的测试向量源文件，并通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述源文件编辑器还包括：
波形修改模块，用于修改所述测试向量源文件的测试向量波形。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述源文件编辑器还包括：
模式修改模块，用于修改所述测试向量源文件的操作码模式。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述模式修改模块还用于：如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置为偶数行。
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