CN105242218A - 一种直流电源全覆盖自动化测试*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种直流电源全覆盖自动化测试***,所述测试***包括测试主板、可编程直流电源、可编程电子负载、示波器、PC,其中可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电;可编程直流电源的电压转换芯片输出端连接至可编程电子负载;示波器通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源的电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的Power?Good信号;可编程电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程电子负载、示波器和可编程直流电源。
Description
技术领域
本发明涉及直流电源测试领域和电压转换技术领域,具体涉及一种直流电源全覆盖自动化测试***。
背景技术
随着超大规模集成电路工艺的发展,芯片工作电压越来越低,而工作速度越来越快,功耗越来越大,单板的密度也越来越高。因此,对电源供应***在整个工作频带内的稳定性提出了更高的要求。电源供应***的测试更是成为现阶段电源工程师越来越关注的问题。而电源测试的数据则直接反应了设计初期该组电源是否满足工作需求,针对电源供应***的各个测试项目成为判断电源稳定性的重要指标。目前,在各个实验室中针对直流电源的测试项目及测试方法比较统一。
其中,测试项目主要包括:效率测试、纹波测试、动态响应测试、电压过冲和下冲测试、上电和掉电时序测试、输出电压和输入电压稳定性测试、伯德图测试、短路保护测试、过流保护测试、过压保护测试和欠压保护测试等。
针对这些测试项目的测试方法比较单一且繁琐。例如,对于纹波测试,测试平台搭建后,需要多次手动调节可编程直流电子负载进行不同负载下测试,每次拉载时都需要手动抓取示波器上的波形;然后,将测试数据和测试波形拷贝至PC内的报告中;最后,再去判断测试结果是否满足测试标准。每一项测试均需进行此动作,测试过程繁琐,效率低下,容易让工程师产生疲惫,进而影响测试精准度和测试效率。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:为解决该问题,本发明提出一种直流电源全覆盖自动化测试***。通过该***可实现直流电源测试项目的自动化测试,其中,包括:纹波测试、动态响应测试、电压过冲和下冲测试、上电和掉电时序测试、短路保护测试和过流保护测试。通过此***可实现直流电源多数测试项目的全自动化,极大的简化测试流程,避免了传统测试过程的繁琐,提高了测试效率,减少了测试工程师的工作量。
本发明所采用的技术方案为:
一种直流电源全覆盖自动化测试***,所述测试***包括测试主板、可编程直流电源、可编程电子负载、示波器、PC,其中可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电;可编程直流电源的电压转换芯片输出端连接至可编程电子负载;示波器四个通道依次连接至所要抓取信号,通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源的电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的PowerGood信号;可编程电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程电子负载、示波器和可编程直流电源。
所述方法操作步骤如下:
1)准备测试主板,直流电源电压转换芯片设置于测试主板,将可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电,将所要测试的可编程直流电源输出端连接至可编程直流电子负载,将示波器四个通道依次连接至所要抓取信号,通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的PowerGood信号;
2)将可编程直流电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程直流电子负载、示波器和可编程直流电源;
3)开始测试后,运行PC内程式,PC内程式会通过GPIB总线控制可编程直流电源为测试主板供电,供电电压已提前写入程式内;整个测试***将依次进行纹波测试、动态响应测试、电压过冲和下冲测试、上电和掉电时序测试、短路保护测试和过流保护测试,并在每个测试过程中抓取测试数据和测试波形,将测试结果呈现在测试报告中。
将存入测试报告中的测试数据将和报告中已有的测试标准进行对比,若满足测试标准,***将自动进行下一项测试;若不满足测试标准,***将自动卸载,并自动打开测试报告,将测试结果展现。
本发明的有益效果为:
本发明可实现直流电源多数测试项目的全自动化,极大的简化测试流程,避免了传统测试过程的繁琐,提高了测试效率,减少了测试工程师的工作量。
附图说明
图1为本发明***框图;
图2为本发明测试流程图;
图3为详细测试过程分解流程图。
具体实施方式
下面根据说明书附图,结合具体实施方式对本发明进一步说明:
实施例1:
如图1所示,一种直流电源全覆盖自动化测试***,所述测试***包括测试主板、可编程直流电源、可编程电子负载、示波器、PC(即:PersonalComputer),其中可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电;可编程直流电源的电压转换芯片输出端连接至可编程电子负载;示波器四个通道依次连接至所要抓取信号,通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源的电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的PowerGood信号;可编程电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程电子负载、示波器和可编程直流电源。
实施例2:
如图2所示,在实施例1的基础上,本实施例所述方法操作步骤如下:
1)准备测试主板,直流电源电压转换芯片设置于测试主板,将可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电,将所要测试的可编程直流电源输出端连接至可编程直流电子负载,将示波器四个通道依次连接至所要抓取信号,通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的PowerGood信号;
2)将可编程直流电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程直流电子负载、示波器和可编程直流电源;
3)开始测试后,运行PC内程式,PC内程式会通过GPIB总线控制可编程直流电源为测试主板供电,供电电压已提前写入程式内;整个测试***将依次进行纹波测试、动态响应测试、电压过冲和下冲测试、上电和掉电时序测试、短路保护测试和过流保护测试,并在每个测试过程中抓取测试数据和测试波形,将测试结果呈现在测试报告中。
实施例3:
如图3所示,在实施例1的基础上,本实施例将存入测试报告中的测试数据将和报告中已有的测试标准进行对比,若满足测试标准,***将自动进行下一项测试;若不满足测试标准,***将自动卸载,并自动打开测试报告,将测试结果展现。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
Claims (3)
1.一种直流电源全覆盖自动化测试***,其特征在于:所述测试***包括测试主板、可编程直流电源、可编程电子负载、示波器、PC,其中可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电;可编程直流电源的电压转换芯片输出端连接至可编程电子负载;示波器通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源的电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的PowerGood信号;可编程电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程电子负载、示波器和可编程直流电源。
2.根据权利要求1所述的一种直流电源全覆盖自动化测试方法,其特征在于,所述方法操作步骤如下:
1)准备测试主板,直流电源电压转换芯片设置于测试主板,将可编程直流电源输出端接入测试主板,为主板供电,将所要测试的可编程直流电源输出端连接至可编程直流电子负载,将示波器通道1接可编程直流电源电压转换前的输入电压端,通道2接可编程直流电源电压转换芯片的使能信号,通道3接可编程直流电源的电压输出端,通道4接可编程直流电源的PowerGood信号;
2)将可编程直流电子负载、示波器和可编程直流电源分别通过GPIB总线连接至PC,PC内有写好的程式,用来控制可编程直流电子负载、示波器和可编程直流电源;
3)开始测试后,运行PC内程式,PC内程式会通过GPIB总线控制可编程直流电源为测试主板供电,供电电压已提前写入程式内;整个测试***将依次进行纹波测试、动态响应测试、电压过冲和下冲测试、上电和掉电时序测试、短路保护测试和过流保护测试,并在每个测试过程中抓取测试数据和测试波形,将测试结果呈现在测试报告中。
3.根据权利要求2所述的一种直流电源全覆盖自动化测试方法,其特征在于:将存入测试报告中的测试数据将和报告中已有的测试标准进行对比,若满足测试标准,***将自动进行下一项测试;若不满足测试标准,***将自动卸载,并自动打开测试报告,将测试结果展现。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160113 |