CN101957536B - 手抖校正设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种手抖校正设备，所述设备包括：校正透镜，在由各自独立的第一轴和第二轴限定的平面内被驱动；成对的第一磁体，设置在校正透镜的相反侧且用于提供沿第一轴方向的驱动力；至少一个第二磁体，设置在校正透镜的至少一侧并用于提供沿第二轴方向的驱动力；驱动线圈，被设置成面对第一磁体和第二磁体，以施加在它们之间的电磁相互作用。在手抖校正设备中，最小化校正透镜的旋转，以改善控制特性。

Description

手抖校正设备

本申请要求于2009年7月17日递交到韩国知识产权局的第10-2009-0065479号韩国专利申请的利益，所述韩国专利申请的公开内容通过引用全部包含于此。

技术领域

本发明的各种实施例涉及一种手抖校正设备，更具体地说，涉及一种能够校正由用户的手抖导致的图像抖动。

背景技术

通常，数码相机捕获对象的图像，将捕获的图像转化成图像数据，并将图像数据记录为具有合适的格式的文件。如果捕获的图像受到用户手抖或外部振动的影响，则捕获的图像会模糊，从而具有低质量。

目前，已经发展了用于自动地校正照相机抖动的图像稳定技术。例如，已考虑了一种通过与照相机抖动对应地移动光学透镜来在图像传感器上固定图像形成位置的方法。对光学透镜的位置的控制通常依赖于光学透镜的平移驱动和光学透镜的位置检测。然而，光学透镜易受不期望的旋转的影响。即，如果不使用单独的旋转角度传感器，则光学透镜的旋转不会被精确地测量和校正。另外，可以应用机械地抑制旋转的引导件；然而，这样的旋转限制元件降低了致动器的加速性能和响应特性，从而使校正性能劣化。另外，如果存在诸如缠绕镜筒结构的空间限制，则通常不安装旋转限制元件。

发明内容

本发明的各个实施例提供一种通过最小化透镜的旋转而具有改善的控制特性的手抖校正设备。

根据实施例，提供了一种用于校正照相机抖动的手抖校正设备，所述设备包括：校正透镜，在由各自独立的第一轴和第二轴限定的平面内被驱动；成对的第一磁体，设置在校正透镜的相反侧且用于提供沿第一轴方向的驱动力；至少一个第二磁体，设置在校正透镜的至少一侧上并用于提供沿第二轴方向的驱动力；驱动线圈，被设置成面对第一磁体和第二磁体，以在驱动线圈与第一磁体和第二磁体之间施加电磁相互作用。

通过所述成对的第一磁体产生的相对于校正透镜的中心的旋转力矩可在互相抵消的方向中产生。

例如，所述成对的第一磁体可相对于校正透镜的中心对称地布置。在这种情况下，所述成对的第一磁体可具有相同的磁力。

例如，在所述成对的第一磁体中，具有相对高的磁力的一个磁体可被设置成相对更靠近校正透镜的中心，具有相对低的磁力的另一个磁体可被设置成远离校正透镜的中心。这里，成对的第一磁体中的每一个可通过与所述中心隔开一定的距离设置在校正透镜的相反侧，所述距离与磁体的磁力成反比。

所述至少一个第二磁体可设置在第二轴上，其中，第二轴经过校正透镜的中心。

例如，所述至少一个第二磁体可设置在校正透镜的相反侧。

例如，设置在校正透镜的相同侧的所述第一磁体中的一个磁体和所述至少一个第二磁体中的一个磁体可被形成为组合型磁体，所述组合型磁体具有沿第一轴方向设置的相反的极性且具有沿第二轴方向设置的相反的极性。

这里，第一磁体中的一个磁体可设置在校正透镜的一侧，包括第一磁体中的另一个磁体和所述至少一个第二磁体中的一个磁体的组合型磁体可设置在校正透镜的相反侧。

包括第一磁体中的一个磁体和所述至少一个第二磁体中的一个磁体的成对的组合型磁体可设置在校正透镜的相反侧。

手抖校正设备还可包括：透镜支撑板，校正透镜安装到所述透镜支撑板上，所述透镜支撑板在由第一轴和第二轴限定的平面内被驱动；基底，用于支撑透镜支撑板和透镜支撑板的运动。

这里，位于透镜支撑板的第一磁体和第二磁体以及位于基底的驱动线圈可被设置成彼此面对。另外，手抖校正设备还可包括设置成面向第一磁体和第二磁体的磁轭。

根据另一实施例，提供一种用于校正照相机抖动的手抖校正设备，所述设备包括：透镜支撑板，校正透镜安装到所述透镜支撑板上，所述透镜支撑板在由第一轴和第二轴限定的平面内被驱动；基底，用于支撑透镜支撑板和透镜支撑板的运动；磁体和驱动线圈，分别位于透镜支撑板和基底且被设置成彼此面对，

其中，所述磁体包括：成对的第一磁体，设置在校正透镜的相反侧且用于提供沿第一轴方向的驱动力；至少一个第二磁体，设置在校正透镜的至少一侧上并用于提供沿第二轴方向的驱动力。

通过所述成对的第一磁体产生的相对于校正透镜的中心的旋转力矩可在互相抵消的方向中产生。

例如，所述成对的第一磁体可相对于校正透镜的中心对称地布置。这里，所述成对的第一磁体可具有相同的磁力。

例如，在所述成对的第一磁体中，具有相对高的磁力的一个磁体可被设置成相对更靠近校正透镜的中心，具有相对低的磁力的另一个磁体可被设置成远离校正透镜的中心。

所述至少一个第二磁体可设置在第二轴上，其中，第二轴经过校正透镜的中心。

附图说明

通过参照附图对示例性实施例进行的描述，上述和其他特点和优点将会变得更加清楚，其中：

图1根据实施例的手抖校正设备的分解透视图；

图2是图1中示出的手抖校正设备的装配截面图；

图3是根据实施例的示出应用于此的磁体的布置的图1的手抖校正设备的俯视图；

图4到图8是示出应用于此的磁体的不同布置的根据其他实施例的手抖校正设备的俯视图。

具体实施方式

以下，将参照附图详细描述根据一个或多个实施例的手抖校正设备。图1是根据实施例的手抖校正设备100的分解透视图。图2图1中示出的手抖校正设备的装配截面图。手抖校正设备100包括校正透镜120、透镜支撑板130和用于支撑透镜支撑板130的基底150。

一对第一磁体131a和131b以及一对第二磁体132a和132b分别装配在透镜支撑板130的相对侧，驱动线圈155和磁轭160分别装配在基底150的上方和下方，以面对磁体131a、131b、132a和132b。例如，驱动线圈155和磁轭160可分别装配在基底150的顶表面和底表面上，以面对磁体131a、131b、132a和132b。

由于磁体131a、131b、132a和132b以及驱动线圈155被装配成彼此面对，所以在它们之间发生电磁相互作用，从而磁体131a、131b、132a和132b以及驱动线圈155形成了音圈电机(VCM)致动器。驱动线圈155中的每一个的相对端可连接到电路基板(未示出)，以施加控制信号。在由垂直于光轴(Z轴)的第一轴和第二轴限定的平面(X-Y轴平面)中驱动透镜支撑板130，并根据磁体131a、131b、132a和132b与驱动线圈155之间的电磁相互作用执行校正操作。

磁体131a、131b、132a和132b以及磁轭160被装配成彼此面对，并相对于彼此施加电磁力。因此，通过磁体131a、131b、132a和132b与磁轭160之间的电磁力使透镜支撑板130和基底150彼此靠近，当切断驱动力时，磁体131a、131b、132a和132b中的每一个的中心与磁轭160中的每一个的中心匹配，以使透镜支撑板130返回它的初始位置。此外，透镜支撑板130和基底150被布置成彼此面对并具有设置在它们之间的球轴承140(见图2)。因此，通过基底150经由球轴承140支撑的透镜支撑板130在由第一轴和第二轴限定的平面(X-Y轴平面)中移动。

盖110可设置在手抖校正设备100的顶部上。盖110装配在基底150上方，透镜支撑板130***在盖110和基底150之间。霍尔传感器115装配在盖110中，以检测校正透镜120的位置。霍尔传感器115被定位成面对磁体131a、131b、132a和132b并感测磁体131a、131b、132a和132b的磁场的变化，从而能够检测校正透镜120在与磁体131a、131b、132a和132b一起运动时的位移。

为了校正由手抖导致的图像抖动，校正透镜120在沿由第一轴和第二轴限定的平面(X-Y轴平面)运动时检测对象的图像形成位置的运动，并为了固定对象的图像形成位置执行校正操作。例如，由磁体131a、131b、132a和132b以及驱动线圈155构成的VCM致动器可被驱动信号控制，以将校正透镜120从由霍尔传感器115检测的当前位置移动到目标位置来抵消手抖。

图3是示出磁体131a、131b、132a和132b的布置的图1的手抖校正设备100的俯视图。参照图3，校正透镜120可被装配为透镜支撑板130的中心。一对第一磁体131a和131b提供沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb，并且可分别布置在校正透镜120的相反侧。另外，一对第二磁体132a和132b提供沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb，并且可分别布置在一对第一磁体131a和131b的外侧。第一磁体131a和131b以及第二磁体132a和132b通过与面对第一磁体131a和131b以及第二磁体132a和132b的驱动线圈155的电磁相互作用来提供驱动力FYa、FYb、FXa和FXb。第一磁体131a和131b具有沿第一轴方向布置的相反的极性，并提供沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb。第二磁体132a和132b具有沿第二轴方向布置的相反的极性，并提供沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb。

第一磁体131a和131b以及第二磁体132a和132b沿第一轴或第二轴方向各自独立地提供驱动力FYa、FYb、FXa和FXb。这里，术语“各自独立地”表示沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb使校正透镜120在由第一轴和第二轴限定的平面(X-Y轴平面)内沿第一轴方向(Y轴)移位而不使校正透镜120沿第二轴(X轴)方向移位。相反地，沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb使校正透镜120在由第一轴和第二轴限定的平面(X-Y轴平面)内沿第二轴(X轴)方向移位而不使校正透镜120沿第一轴(Y轴)方向移位。第一轴(Y轴)和第二轴(X轴)可互相垂直。

通过一对第一磁体131a和131b产生的沿第一轴(Y轴)方向的驱动力FYa和FYb沿互相平行的方向作用，并具有在校正透镜的相反侧上的作用点。因此，沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb互相协作以平移地移位，由于驱动力FYa和FYb而引起的沿各旋转方向的旋转力矩互相抵消。例如，驱动力FYa相对于校正透镜120的透镜中心C产生具有转臂La的沿一个旋转方向的旋转力矩，驱动力FYb相对于透镜中心C产生具有转臂Lb的沿相反旋转方向的旋转力矩。这里，假定驱动力FYa和FYb的大小彼此相同，一对第一磁体131a和131b被布置成相对于透镜中心C对称地布置(La＝Lb)，从而由沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb所引起的各旋转力矩彼此抵消，并可防止校正透镜120的旋转。

第二磁体132a和132b布置在第二轴(X轴)上，其中，第二轴(X轴)经过透镜中心C。第二磁体132a和132b还提供沿第二轴(X轴)方向的驱动力FXa和FXb。由第二磁体132a和132b产生的沿第二轴(X轴)方向的驱动力FXa和FXb不具有相对于透镜中心C的转臂，因此不产生旋转力矩。

如上所描述的，在第一磁体131a和131b以及第二磁体132a和132b的布置中防止了校正透镜120的旋转。因此，用于测量并校正旋转的单独的转角传感器可以不是必须的，校正透镜120的位置可被精确地控制，从而执行了精确的校正操作。

图4是示出第一磁体231a和231b以及第二磁体232的布置的根据另一实施例的手抖校正设备的俯视图。参照图4，一对第一磁体231a和231b提供沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb并分别被装配在校正透镜120的相反侧。另外，第二磁体232提供沿第二轴方向的驱动力FX并设置在校正透镜120的一侧。第一磁体231a和231b以及第二磁体232各自独立地通过利用面向第一磁体231a和231b以及第二磁体232的驱动线圈155的电磁相互作用，来提供沿第一轴方向的驱动力FYa、FYb和沿第二轴方向的FX。由于通过一对第一磁体231a和231b产生的沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb所引起的沿各旋转方向的旋转力矩彼此抵消。这里，一对第一磁体231a和231b相对于透镜中心C被对称地布置(La＝Lb)，从而由沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb引起的各旋转力矩彼此抵消，并且可防止校正透镜120的旋转。

第二磁体232设置在经过透镜中心C的第二轴(X轴)上。第二磁体232还提供了沿第二轴(X轴)方向的驱动力。由二磁体232产生的沿第二轴方向的驱动力FX不具有相对于透镜中心C的转臂并且不产生旋转力矩。在当前实施例中，第二磁体232仅仅布置在透镜中心C的一侧，从而可以简化包括第二磁体232的致动器的结构。

图5是示出第一磁体331a和331b以及第二磁体232的布置的根据另一实施例的手抖校正设备的俯视图。参照图5，一对第一磁体331a和331b提供沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb并分别被装配在校正透镜120的相反侧。另外，第二磁体332提供沿第二轴方向的驱动力FX并设置在校正透镜120的一侧。第一磁体331a和331b以及第二磁体332各自独立地通过利用面向第一磁体331a和331b以及第二磁体332的驱动线圈155的电磁相互作用来提供沿第一轴方向的驱动力FYa、FYb和沿第二轴方向的FX。由一对第一磁体331a和331b产生的沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb沿互相平行的方向作用，并具有在校正透镜120的相反侧上的作用点。因此，沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb互相协作以平移地移位，由于驱动力FYa和FYb而引起的沿各旋转方向的旋转力矩互相抵消。

假定由一对第一磁体331a和331b提供的驱动力FYa和FYb的大小彼此不同，则相对于透镜中心C到磁体331a的转臂La和相对于透镜中心C到磁体331b的转臂Lb根据驱动力FYa和FYb而不同，从而由于沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb所引起的各旋转力矩有效地彼此抵消。更具体地说，提供相对高的磁力的第一磁体331a的转臂La被设置成相对靠近透镜中心C，然而提供相对低磁力的第一磁体331b的转臂Lb被设置成离透镜中心C相对远，从而所述各旋转力矩可有效地彼此抵消。旋转力矩是沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb以及相对于透镜中心C的转臂La和Lb的长度的乘积，因此，根据从校正透镜120的相反侧产生的沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb的大小之间的差异，转臂La和Lb彼此不同(La＜Lb)。例如，距离La和Lb可与驱动力FYa和FYb的大小成反比地不同地设置。

第二磁体332设置在经过透镜中心C的第二轴(X轴)上。因此，由第二磁体332产生的沿第二轴方向的驱动力FX不具有相对于透镜中心C的扭力臂(torque arm)，从而不产生旋转力矩。

图6是示出一对第一磁体431a和431b以及一对第二磁体432a和432b的布置的根据另一实施例的手抖校正设备的俯视图。参照图6，一对第一磁体431a和431b提供沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb并分别被装配在透镜中心C的相反侧。另外，一对第二磁体432a和432b提供沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb并分别装配在透镜中心C的相反侧。假定一对第一磁体431a和431b的驱动力FYa和FYb的大小彼此不同，则相对于透镜中心C到第一磁体431a的转臂La和相对于透镜中心C到第一磁体431b的转臂Lb根据驱动力FYa和FYb的大小而不同(La＜Lb)，从而由于沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb所引起的各旋转力矩有效地彼此抵消。

第二磁体432a和432b布置在经过透镜中心C的第二轴(X轴)上，因此不具有相对于透镜中心C的转臂，从而不产生旋转力矩。在当前实施例中，一对第二磁体432a和432b设置在透镜中心C的相反侧，以通过使沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb的大小加倍来获得快速响应特性。另外，沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb基于透镜中心C平衡，从而可以改善第二轴(X轴)方向的控制特性。

图7是示出双轴驱动磁体533a和533b的布置的根据另一实施例的手抖校正设备的俯视图。参照图7，双轴驱动磁体533a和533b提供各自独立的沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb和沿第二轴方向的驱动力FXa和FXb，其中，驱动力FYa和FXa通过磁体533a一起提供，驱动力FYb和FXb通过磁体533b一起提供，双轴驱动磁体533a和533b分别装配在透镜中心C的相反侧。利用组合的磁体，双轴驱动磁体533a和533b可沿第一轴(Y轴)方向和第二轴(X轴)方向均具有相反的极性。即，利用沿第一轴(Y轴)方向设置的具有相反极性的第一磁性元件531a和531b，双轴驱动磁体533a和533b可被驱动到第一轴(Y轴)方向，且利用沿第二轴(X轴)方向设置的具有相反极性的第二磁性元件532a和532b，双轴驱动磁体533a和533b可被驱动到第二轴(X轴)方向。

假定第一磁性元件531a和531b的驱动力FYa和FYb的大小彼此相同，则第一磁性元件531a和531b相对于透镜中心C对称地布置(La＝Lb)，从而第一磁性元件531a和531b的驱动力FYa和FYb所引起的各旋转力矩可彼此抵消。另外，第二磁性元件532a和532b设置在经过透镜中心C的第二轴(X轴)上，因此不具有扭力臂，从而不产生旋转力矩。

图8是示出第一磁体631a和双轴驱动磁体633的布置的根据另一实施例的手抖校正设备的俯视图。参照图8，第一磁体631a提供沿第一轴方向的驱动力FYa并布置在校正透镜120的一侧，沿第一轴方向和第二轴方向提供驱动力FYb和FX的双轴驱动磁体633布置在校正透镜120的相反侧。利用一个组合的磁体，双轴驱动磁体633可沿第一轴(Y轴)方向和第二轴(X轴)方向均具有相反的极性。更具体地说，利用沿第一轴(Y轴)方向设置的具有相反极性的第一磁性元件631b，双轴驱动磁体633可被驱动到第一轴(Y轴)方向，利用沿第二轴(X轴)方向设置的具有相反极性的第二磁性元件632，双轴驱动磁体633可被驱动到第二轴(X轴)方向。

通过第一磁体631a和第一磁性元件631b产生的沿第一轴方向的驱动力FYb和FYa沿互相平行的方向作用，并具有相对于校正透镜120彼此相反的的作用点。因此，沿第一轴方向的驱动力FYa和FYb互相协作以平移地移位，沿旋转方向的各旋转力矩互相抵消。假定第一磁体631a和第一磁性元件631b的磁力FYa和FYb的大小彼此相同，则第一磁体631a和第一磁性元件631b相对于透镜中心C对称地布置，从而由于驱动力FYa和FYb所引起的各旋转力矩可彼此抵消。即，第一磁体631a和第一磁性元件631b分别被定位成距透镜中心C相同的距离(La＝Lb)。第二磁性元件632被设置在经过透镜中心C的第二轴(X轴)上，因此不具有转臂并且不产生旋转力矩。

手抖校正设备100可安装在包括突出型镜筒结构和缠绕型镜筒结构的镜筒结构中，镜筒组件在所述突出型镜筒结构中根据照相机的开关状态进入/露出该突出型镜筒结构，在缠绕型镜筒结构中包括布置成垂直于对象图像的入射方向的光学***，因此，可以不安装用于限制校正透镜120的旋转的单独的旋转限制元件。

根据上面所描述的手抖校正设备，改进VCM致动器中包括的磁体的布置，以有效地抵消使得校正透镜旋转的力矩并使校正透镜的旋转最小化。另外，防止了通常没有被控制的旋转，从而可以改善校正设备的控制特性并可改善校正操作的控制精度。另外，可以有效防止伴随错误的校正操作的校正失败，例如图像失真或离焦。具体地说，不需要用于强制地限制校正透镜的旋转的旋转限制元件或诸如旋转角传感器的附加元件，从而手抖校正设备可适用于具有空间限制的缠绕镜筒结构。

通过引用到相同的程度，即，如同每一个参考文献被个别地和特定地指出通过引用和阐述被全部包含于此，这里引用的包括出版物、专利申请和专利的所有参考文献据此被包含。

为了促进对本发明的原理的理解的目的，已对附图中示出的优选实施例做出了说明，使用了特定的语言来描述这些实施例。然而，该特定的语言并非意图限制本发明的范围，本发明应被解释成包括本领域普通技术人员通常想到的所有的实施例。

本发明可以用功能模块组件和各种工艺步骤的术语来描述。这样的功能模块可通过配置成执行特定功能的任意数量的组件来实现。这里示出和描述的特殊的执行是本发明的例证性的示例，另外不意图以任意方式限制本发明的范围。为简洁起见，可以不详细描述传统的电子装置、控制***和***的其他功能方面(以及***的单独操作组件的组件)。此外，在呈现的各幅附图中示出的连接线或连接器意图表现示例性功能关系和/或各种元件之间的物理的或逻辑的结合。应当注意到，在实际装置中可提出许多可选择的或附加的功能关系、物理连接或逻辑连接。此外，没有零件或组件对实施本发明是必不可少的，除非该元件被特定地描述为“必不可少的”或“关键的”。

“包含”、“包括”或“具有”以及它们的变型在这里的使用，意即包括其后列出的项和它们的等同物以及附加项。除非另外指定或限制，术语“安装”、“连接”、“支撑”和“结合”以及它们的变型被广泛地使用，并包括直接和间接地安装、连接、支撑和结合。进一步，不将“连接的”和“结合的”限制为物理的或机械的连接或结合。

单数形式和类似表述在描述本发明的上下文(尤其在权利要求书的上下文)中的使用应被解释成覆盖单数和复数形式。此外，除非这里另外指出，否则这里叙述的值的范围仅仅意图用作引用每一个落入该范围内的离散值的简略的方法，且每一个离散值就如同它单独地记载在这里一样地被包括到说明书中。最后，除非这里另外指出或者明显与上下文矛盾，否则这里描述的所有方法的步骤可以以任意合适的顺序来执行。任意的和所有的示例的使用或这里提供的示例性语言(例如，“诸如”)，意图仅仅更好地阐明本发明，而不是对本发明的范围造成限制，除非另外有要求。

意图一般地使用词语“机械装置”和“元件”，并非用来单独限制到机械的实施例。在不脱离本发明的精神和范围的情况下，许多变型和修改对本领域技术人员将是显而易见的。

Claims (13)

1.一种用于校正照相机抖动的手抖校正设备，所述设备包括：

校正透镜，在由各自独立的第一轴和第二轴限定的平面内被驱动；

成对的第一磁体，设置在校正透镜的相反侧且用于提供沿第一轴方向的驱动力；

至少一个第二磁体，设置在校正透镜的至少一侧上并用于提供沿第二轴方向的驱动力；

驱动线圈，被设置成面对第一磁体和第二磁体，以在驱动线圈与第一磁体和第二磁体之间施加电磁相互作用，

其中，所述成对的第一磁体以及所述至少一个第二磁体均被设置在第二轴上，其中，第二轴经过校正透镜的中心。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述成对的第一磁体产生的相对于校正透镜的中心的旋转力矩在互相抵消的方向中产生。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述成对的第一磁体相对于校正透镜的中心对称地布置。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述成对的第一磁体具有相同的磁力。

5.根据权利要求1所述的设备，其中，在所述成对的第一磁体中，具有相对高的磁力的一个磁体被设置成相对更靠近校正透镜的中心，具有相对低的磁力的另一个磁体被设置成远离校正透镜的中心。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，成对的第一磁体中的每一个通过与所述中心隔开一定的距离设置在校正透镜的相反侧，所述距离与磁体的磁力成反比。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个第二磁体为成对的第二磁体，所述成对的第二磁体设置在校正透镜的相反侧。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，设置在校正透镜的相同侧的所述第一磁体中的一个磁体和所述至少一个第二磁体中的一个磁体被形成为组合型磁体，所述组合型磁体具有沿第一轴方向设置的相反的极性且具有沿第二轴方向设置的相反的极性。

9.根据权利要求8所述的设备，其中，第一磁体中的一个磁体设置在校正透镜的一侧，包括第一磁体中的另一个磁体和所述至少一个第二磁体中的一个磁体的组合型磁体设置在校正透镜的相反侧。

10.根据权利要求8所述的设备，其中，包括第一磁体中的一个磁体和所述至少一个第二磁体中的一个磁体的成对的组合型磁体设置在校正透镜的相反侧。

11.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括：

透镜支撑板，校正透镜安装到所述透镜支撑板上，所述透镜支撑板在由第一轴和第二轴限定的平面内被驱动；

基底，用于支撑透镜支撑板和透镜支撑板的运动。

12.根据权利要求11所述的设备，其中，位于透镜支撑板的第一磁体和第二磁体以及位于基底的驱动线圈被设置成彼此面对。

13.根据权利要求11所述的设备，所述设备还包括设置成面向第一磁体和第二磁体的磁轭。