CN101853674A - 光拾取器装置和具有它的光盘装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的光盘装置，在光学头上设置具有多个区域的分割元件。分割元件可以将由光盘所反射的光束分割成射出方向不同的多个光束。构成分割元件的各区域与光检测器的受光部，以便在聚焦于光盘的目的信息记录层的情况下，来自目的信息记录层的反射光束对焦于光检测器的受光部上，来自目的信息记录层以外的信息记录层的反射光束不照射于光检测器的受光部。

Description

光拾取器装置和具有它的光盘装置
(本申请是2007年4月6日递交的发明名称为“光拾取器装置和具有它的光盘装置”的申请200710091083.X的分案申请)
技术领域
本发明涉及在光盘上进行信息的记录或再现的光盘装置以及其所使用的光拾取器装置，特别是涉及进行具有叠层的多个信息记录层的光盘上的信息的记录或再现的光盘装置以及其所使用的光拾取器装置。
背景技术
作为增加光盘的记录容量的方法，研究了叠层信息记录层的多层光盘的技术。在DVD(Digital Versatile Disc：数字通用盘)或BD(Blu-rayDisc：蓝光盘)、HD-DVD(High Density Digital Versatile Disc：高密度数字通用盘)的标准中以大约20～55μm的间隔叠层两层信息记录层的双层光盘正在产品化。此外作为更加大容量化技术还研究了三层以上的光盘。
在进行这种多层光盘的记录或再现时，为了使激光的焦点准确地对位于目的层，必须尽可能排除来自其他层的杂散光引起的聚焦误差信号或跟踪误差信号的偏差。
作为排除来自其他层的杂散光的影响的方法，例如，在“電子情報通信学会 技報CPM2005-149(2005-10)”中记载了将跟踪用光检波器配置于没有多层杂散光的区域。
发明内容
但是在“電子情報通信学会 技報CPM2005-149(2005-10)”中针对杂散光对聚焦误差信号的影响没有记载。
此外，在“電子情報通信学会 技報CPM2005-149(2005-10)”中因为必须将跟踪误差信号用的受光部配置于在聚焦误差信号用的受光部的周围产生的来自其他层的杂散光的外侧，故光检测器的尺寸加大。
而且，作为本光拾取器的背景技术，有例如日本专利特开平9-223321号公报。在该公报中，作为课题记载有“提供一种可以减少光学部件而简化装置的光学信息再现装置，并且提供一种可以根据光盘的特性调整跟踪误差信号的光学信息再现装置的调整方法”，作为解决方法记载有“光学信息再现装置具备：具有将光照射到光盘的物镜的光拾取器；对相当于轨道的方向大致垂直地分割来自光盘的射出光的光斑，将光斑对中心形成为端区域与中区域的第一分割模块；进一步对相当于光盘的轨道的方向大致平行地分割端区域和中区域的光斑的第二分割模块；具有接收由第一分割模块和上述第二分割模块所分割的光的多个受光单元的受光元件；进行接收由第二分割模块所分割的中区域的光的受光单元的输出彼此的运算，检测轨道与物镜的相对位移的跟踪误差生成模块；通过光斑错位信号检测模块的输出信号与跟踪误差生成模块的输出信号的运算，修正跟踪误差信号的偏差的偏差修正模块；在横切光盘的轨道的方向上驱动物镜的物镜驱动装置；驱动控制物镜驱动装置的跟踪控制机构；以及在存取时将跟踪控制模块的输入作为光斑错位信号检测模块的输出，在光盘的信息再现时将跟踪控制模块的输入，经由偏差修正模块，切换成跟踪误差生成模块的输出的切换模块”。
由于光拾取器装置一般来说确实地将光斑照射位于光盘内的规定的记录轨道上，故通过聚焦误差信号的检测在聚焦方向上使物镜位移，在聚焦方向上进行调整外，检测跟踪误差信号，使物镜向盘状记录介质的半径方向位移而进行跟踪调整。这些信号进行物镜的位置控制。
虽然这当中作为跟踪误差信号检测方法，推挽方式是公知的，但是存在着容易产生大于物镜的跟踪方向位移的直流变动(以下称为DC偏差)这样的问题。因此，能够降低该DC偏差的差动推挽方式被广泛运用。
差动推挽方式(DPP：Differential Push Pull)由衍射光栅将光束分割成主光束与副光束，使用半径方向的主光束的光斑与副光束的光斑减少DC偏差。
但是，由于在光盘上形成多个光斑，故主光束的光利用效率降低。该主光束不仅生成聚焦误差信号和跟踪误差信号，还有在记录用光盘上生成记录标记的作用。在记录于记录用光盘时，因为光盘上的主光束的光量越大则其记录速度越快，故从记录倍速的观点来看，在往路光学***中使用衍射光栅变得不利。
因此在JP-A-9-223321中在盘上形成一个光斑，通过将其反射光分到多个区域，即使物镜在跟踪方向上位移也检测出没有DC偏差的稳定的跟踪误差信号。通过这种构成而有光利用效率不降低，可以提高记录倍速的优点。(以下称为一光束方式)
但是，如果进行JP-A-9-223321这种检测器的分区，则在例如BD-RE、BD-R等记录型光盘中发生问题。在记录型光盘的情况下，存在着没有被记录的区域(以下称为未记录区域)和已经被记录的区域(以下称为记录区域)。成为无法降低在JP-A-9-223321这种分区中在盘上的未记录区域与记录区域的边界部处发生的跟踪误差信号的偏差的问题。
本发明目的在于提供一种光盘装置，其在多层光盘的记录再现中，可以得到稳定的伺服信号的光学头和具有它的光盘装置。
作为用于解决上述问题的一例，本发明的光学头具有：光源；用于将从上述光源射出的光束汇聚在上述光盘上的物镜；用于将由上述光盘反射的光束分割成多束光束的分割元件；用于汇聚由上述光盘反射的光束的聚光透镜；以及用于将由上述聚光透镜汇聚的光束由多个受光部接收而变换成电信号的光检测器，
上述分割元件具有：配置在大致中央的第一分割区域；被第一分割线区分，并且由沿着第一分割线的方向隔着上述第一分割区域而配置的四个区域构成的第二分割区域；以及被与上述第一分割线正交的第二分割线区分，并且由沿着上述第二分割线的方向隔着上述第一分割区域而配置的四个区域构成的第三分割区域，
上述第一至第三分割区域的各区域构成为：当在上述光盘的目的信息记录层对焦时，来自上述目的信息记录层的反射光束在上述光检测器的受光部上聚焦，来自上述目的信息记录层以外的记录再现层的反射光束不照射上述光检测器的上述受光部。
根据本发明，在一光束跟踪方式中可以得到稳定的聚焦误差信号与跟踪误差信号。
此外，在本发明中，改善作为上述一光束方式中的问题点的未记录区域与记录区域的边界部处发生的跟踪误差信号的偏差。具体地说提供一种用即使存在有未记录区域与记录区域的边界部的光盘也可以检测稳定后的跟踪误差信号的新的跟踪误差信号检测模块的光拾取器装置或光学信息再现装置或光学信息记录再现装置。
本发明目的在于提供一种可以检测稳定的跟踪误差信号的光拾取器装置和光学信息记录再现装置。
上述目的，作为其一个例子可以由权利要求书中所述的构成实现。
附图说明
图1是表示作为本发明的实施例的光学头的构成的示意图。
图2是表示本发明的实施例中偏振衍射光栅的形状的示意图。
图3是表示本发明的实施例中光检测器与光图案的形状的示意图。
图4A～4F是表示本发明的实施例中光图案变化的情形的示意图。
图5A～5E是表示本发明的实施例中光图案变化的情形的示意图。
图6A～6E是表示本发明的实施例中双层光盘中的光图案的形状的示意图。
图7是表示本发明中偏振衍射光栅的第二实施例的示意图。
图8是表示本发明中偏振衍射光栅的第二实施例中的光图案的形状的示意图。
图9是表示本发明中偏振衍射光栅的第三实施例的示意图。
图10是表示本发明中偏振衍射光栅的第三实施例中的光图案的形状的示意图。
图11是搭载本发明的光学头的光盘装置的概略图。
图12是说明实施例4中光盘装置与光盘的配置的示意图。
图13是说明实施例4中使用一光束方式的光拾取器装置的示意图。
图14是说明实施例4中本发明的受光部或衍射光栅面的示意图。
图15是说明使图12的物镜在内外周上位移时的DC偏差的示意图。
图16A～16C是示意地说明实施例4中一光束方式下的未记录区域与记录区域的边界处发生的偏差的示意图。
图17A、17B是将实施例4中未记录区域与记录区域的特性与JP-A-9-223321比较的示意图。
图18A、18B是说明实施例4中受光部或衍射光栅面的分割方法的不同引起的本发明的效果的示意图。
图19A、19B是表示实施例4中图14以外的衍射光栅面的示意图。
图20是说明实施例4中使用一光束方式的光拾取器装置的示意图。
图21是说明实施例5中受光部或衍射光栅面的示意图。
图22A、22B是将实施例5中未记录区域与记录区域的特性与JP-A-9-223321比较的示意图。
图23A、23B是表示实施例5中图19A、19B以外的受光部或衍射光栅面的示意图。
图24是说明实施例6中使用一光束方式的光拾取器装置的示意图。
图25A、25B是说明实施例6中受光部的示意图。
图26是说明实施例6中图24以外的使用一光束方式的光拾取器装置的示意图。
图27是说明实施例7中使用一光束方式的光拾取器装置的示意图。
图28是说明实施例7中衍射光栅面的示意图。
图29是说明实施例7中受光部的示意图。
图30是说明实施例8中光学再现装置的示意图。
图31是说明实施例9中光学信息再现装置的示意图。
具体实施方式
首先，说明本发明的光学头的实施例。
本发明的光学头，例如，通过分割元件将来自多层光盘的反射光分割成射出方向不同的多个反射光束，构成为所分割的光束聚焦于光检测器上的不同位置。而且，构成为在通过分割元件的反射光束中，使用通过不包含光束中心的区域的反射光束，由刀口法检测聚焦误差信号，使用通过不包含光束中心的区域的反射光束检测跟踪误差信号。进而，分割元件的各区域与受光部配置成当聚焦于目的层时，来自其他层的杂散光不进入光检测器的伺服信号用的受光部。
下面，参照图1至图5详细说明本发明的光学头和具有它的光盘装置的实施方式。
[实施例1]
图1是表示作为本发明的实施例的光学头的构成的示意图。
从半导体激光器1射出的激光2被偏振分光镜3反射，由准直透镜4变成平行光束。平行光束通过偏振衍射光栅5、1/4波长板6，被物镜7汇聚在光盘8上。在光盘8上设置有第一层9与第二层10两个记录再现层(信息记录层)，分别在箭头11的方向上形成有轨道(未图示)。
在聚焦于光盘的两个记录再现层的某一层时，由光盘8所反射的激光透过物镜7、1/4波长板6，由偏振衍射光栅5将光束分割到多个区域，分别在不同的方向上行进。然后，透过准直透镜4、偏振分光镜3而对焦于光检测器12。
在光检测器12上形成有多个受光部13，由偏振衍射光栅5所分割的光束照射于各个受光部13。根据照射于受光部13的光量而从光检测器12输出电信号，计算这些输出而生成聚焦误差信号和跟踪误差信号。
在以下的说明中，在用于记录或再现而使光学头对着光盘的情况下，将对光盘8的面成为垂直的方向定义成Z轴，将跟踪方向定义成Y轴，将与跟踪垂直的方向定义成X轴。Z轴与射出物镜1的光束的光轴大致平行。
图2表示图1中偏振衍射光栅5的形状。偏振衍射光栅5分割成多个区域，在图2中，实线表示区域的边界线。此外，在图2中，双点划线示意地表示激光光束的外形，斜线部示意地表示因光盘的轨道而产生的推挽图案。
在偏振衍射光栅5中通过光束中心14的Y轴方向上形成有分割线15，在X轴方向上形成有分割线16。此外，在偏振衍射光栅5上形成有：对光束中心14点对称，由包括光束中心14的四个区域(区域C1～C4)构成的分割区域(第一分割区域)；对光束中心14点对称，由不包括光束中心14，包括X轴方向的分割线16的一部分的四个区域(区域A1至A4)构成的分割区域(第二分割区域)；以及对光束中心14点对称，由不包括光束中心14，包括Y轴方向的分割线15的一部分的四个区域(区域B1至B4)构成的分割区域(第三分割区域)。
在记录时或再现时，使光学头对着光盘的表面的情况下，分割线15大致正交于光盘的轨道方向，分割线16大致平行于光盘的轨道方向。
区域A1至A4由通过光束中心14的X轴方向的分割线16、不通过光束中心14的Y轴方向的两条分割线17、不通过光束中心14的X轴方向的四条分割线18、以及以光束中心14为中心对Y轴方向成大约30度的角度的四条分割线19来分隔。X轴方向的四条分割线18的Y轴方向的间隔u设定成包含推挽图案，在实施例中设定成光束直径的大约55～70％的范围。
此外，区域A1至A4配置成隔着区域C1至C4。区域A1至A4形成为区域A1和A2分别与区域A4和A3相对于分割线15呈线对称。
而且，区域B1至B4也配置成隔着区域C1至C4。区域B1与区域B2相对于分割线16呈线对称，区域B4与区域B3相对于分割线16呈线对称。
在区域A包含推挽图案且根据光检测器12的受光部13的形状，在杂散光不进入受光部的条件内将Y轴方向的两条分割线17的间隔w设定得尽可能小，在实施例中设定成光束直径的大约25～30％的范围。对Y轴方向成大约30度的角度的分割线19设定成杂散光不进入受光部13。
此外，根据光检测器12的受光部13的形状，在杂散光不进入受光部13的条件内将区域B的与区域C的边界的X轴方向的两条分割线20的间隔v设定得尽可能小。
各区域上所形成的衍射光栅的形状，虽然对区域C1与C3、C2与C4分别是相同形状，但是它们以外的区域成为相互不同的形状。在各个衍射光栅中光束被分离成±1次的衍射光并照射于光检测器12。
图3表示光检测器12的受光部13的形状与照射于光检测器上的光图案的形状。图3仅表示来自记录再现层的反射光的光图案，未表示来自其他层的杂散光的光图案。
聚焦于记录再现层时，由记录再现层所反射的激光在光检测器12上汇聚成焦点21，它照射于在光检测器12上所形成的A至T的18个受光部13。
受光部M、N、O、P是用于通过双刀口法检测聚焦误差信号的受光部。如果将被区域A1衍射而照射于光检测器12上的±1次衍射光的光束表示为a1+、a1-，则光束a1-照射于受光部M与N的边界，光束a2-照射于受光部P与O的边界，光束a3-照射于受光部P与N的边界，光束a4-照射于受光部M与O的边界。如果分别用a至j表示从受光部A到J的输出，分别用m至t表达从受光部M到T的输出，则聚焦误差信号(FES)可以由
(FES)＝(m+p)-(n+o)
这样的运算式求得。
此外受光部E、F、G、H与受光部Q、R、S、T分别配置于受光部A、B、C、D与受光部M、N、O、P的外侧，光束a1+、a2+、a3+、a4+照射于受光部A、B、C、D，光束b1+、b2+、b3+、b4+照射于受光部E、F、G、H，光束b1-、b2-、b3-、b4-照射于受光部Q、R、S、T，这些用于跟踪误差信号的检测。分别令受光部Q、R、S、T的输出为q、r、s、t。
推挽法的跟踪误差信号(TES)可以由
(TES)＝((a+e+b+f)-(c+g+d+h))-K((q+r)-(s+t))
这样的运算式求得。K是常数，在物镜7因跟踪动作而在X轴方向上移动的情况下，确定K的值，使得不在(TES)中产生偏差。
此外，DPD法的跟踪误差信号(DPD)可以检测(a+e，c+g)与(b+f，d+h)的相位差而求得。
受光部I、J配置于受光部E、F、G、H的外侧，光束c1+、c3+照射于受光部I，光束c2+、c4+照射于受光部J。这些与其他信号配合而用于再现信号(RF)的检测，由
(RF)＝a+b+c+d+e+f+g+h+i+j
这样的运算式求得。
此外，光束c1-、c2-、c3-、c4-照射于没有受光部13的部位，这些在信号的检测中不被利用。
图4A～4F表示聚焦时照射于光检测器12上的各光束的光图案的变化的情形与聚焦误差信号(FES)的波形。图4A～4C、4E、4F对应于图4D的(a)～(e)。
以格子图样表示+1次衍射光22的光图案，以斜线表示-1次衍射光23的光图案。在合焦点位置(c)光图案聚焦于受光部M～P的边界线上，此时聚焦误差信号为0。伴随聚焦光图案加大，在(b)(d)时聚焦误差信号取得极大、极小值。进而在光图案加大的(a)(e)处光不照射于受光部13而聚焦误差信号为0。
伴随散焦光图案以(c)的聚光点为中心扩大，虽然此时的C1～C4区域的光图案也扩大，但是由于在受光部I、J的区域以外不包括区域C1～C4的光束中心附近的光图案，所以光图案脱离受光部13。在检测聚焦误差信号的受光部M至P中，根据区域B1至B4与区域C1至C4的光图案的扩大，光图案脱离受光部M至P。
参照图5A～5E详细地说明检测聚焦误差信号的受光部M～P处的光图案的变化。图5A～5E表示在合焦点时聚光于受光面O与P的边界的光束a2-的光图案25的变化。(b)(c)(d)与图4A～4F对应，(a’)(e’)分别表示(a)与(b)、(d)与(e)的中间的状态。在(c)中光束汇聚在相当于光束中心16的位置，光图案25随着进行散光而以(c)的聚光点(光束中心)为中心扩大。此时由于相当于照射在其他受光部的光束b2-与c2-的假想的光图案26、27扩大，所以光图案25脱离受光部M～P，在(a’)(e’)处成为完全脱离受光部M～P，照射不到的状态。
在图4A～4F中由于根据偏振衍射光栅5的分割线17的宽度w来确定散焦时的区域A1～A4的光图案的X轴方向的间隔Wp，所以在散焦时受光部13的形状与分割线17的宽度w的关系确定成光图案不照射在受光部13。
此外，由于将受光部13配置于间隔Wp之间，所以比起将受光部13配置于散焦时的光图案的外侧的情况来说，可就近配置受光部彼此，可以使光检测器小型化。
此外，在伴随进行散焦而光图案扩大时，受光部M～P以外的区域的光图案如果照射，则聚焦误差信号波形中产生扭曲而成为聚焦引入时的误差的原因。由与偏振衍射光栅5的Y轴方向成大约30度的角度的分割线19所形成的区域A的斜线部24设置成在照射于受光部A～D的光图案与散焦一起扩大时不入射到受光部M～P。通过受光部的配置，该斜线部可不需要。
图6A～E表示双层盘中的光检测器12上的光图案的形状与聚焦误差信号(FES)的波形。以格子图样表示来自第一层9的反射光的光图案28，以斜线表示来自第二层10的反射光的光图案29。图6B对应于图6A的(a)，图6C和D对应于图6A的(b)，图6E对应于图6A的(c)。
双层盘的聚焦误差信号波形(FE)可以作为在第一层9处所生成的聚焦误差信号波形(FE1)，与在第二层10处所生成的聚焦误差信号波形(FE2)的合成求得。图6B是聚焦于第一层9时的光图案28、29的情形，光图案28聚焦在检测器12上，此时光图案29(杂散光)照射于受光部13之外。
伴随焦点从第一层9移动到第二层10，光图案28变大并且光图案29变小，在第一层9与第二层10的中间点(b)处，如图6C和D所示，光图案28与光图案29的大小几乎相同而成为几乎不照射于受光部M～P的状态。在聚焦于第二层10的(c)处，如图6E所示，光图案29聚焦于光检测器12上，光图案28(杂散光)照射于受光部13之外。
虽然聚焦误差信号可以计算受光部M～P的输出而求得，但是在合焦点处由于杂散光不照射于受光部M～P，所以不产生杂散光引起的偏差，此外由于对激光2的强度分布的离散或受光部13与光图案的错位也不产生杂散光引起的偏差，所以可以得到稳定的聚焦误差信号。
进而虽然双层盘的聚焦误差信号波形(FE)在第一层9处所生成的波形(FE1)与第二层10处所生成的波形(FE2)的重叠越大越产生扭曲，产生聚焦引入误差，但是由于在本实施例中在第一层9与第二层10的中间点(b)附近处光图案几乎不照射于受光部M～P，所以(FE1)与(FE2)的输出小，聚焦误差信号波形(FE)的扭曲也小。
虽然同样跟踪误差信号也可以计算受光部A～H、Q～T的输出而求得，但是由于在合焦点中杂散光不照射于受光部A～H、Q～T，所以可以得到不产生杂散光引起的偏差的稳定的跟踪误差信号。
虽然因为受光部I、J包含光束的中心，故即使光图案加大光束的中心附近的光线也留在受光部上而成为杂散光，但是由于该部分在聚焦误差信号或跟踪误差信号的检测中不使用，仅用于再现信号的检测，所以即使有杂散光实用上也不成问题。
如上所述由于受杂散光的影响，所以可以改变在偏振衍射光栅5中所衍射的±1次衍射光的光量的平衡。通过增加+1次衍射光22的光量以便检测再现信号的受光部的光量增加，从而改善再现信号的SN是可能的，虽然此时-1次衍射光23的光量减少，但是由于通过光量减少杂散光引起的偏差不会变大，所以只要考虑电气上的制约即可。
在上述实施例中偏振衍射光栅5与1/4波长板可以一体地固定以便与物镜7一起运动，此外也可以分别固定以便不与物镜7一起运动。在与物镜7分别固定的情况下，虽然如果物镜7因跟踪动作而在X轴方向上移动，则图2中双点划线表示的光束的外形也在X方向上移动，从而分割线15从光束中心14错开，但是由于对应于分割线17的宽度w而在光检测器12上所显现的光图案的间隔Wp的位置与大小不变，所以此情况下杂散光也不照射于受光部13。由于光束的外形在X方向上移动，所以推挽法的跟踪误差信号(TES)的运算式中的K的值与一体固定的情况不同。
偏振衍射光栅5不限于上述实施例的形状。以下说明偏振衍射光栅的其他实施例。
[实施例2]
图7、图8表示偏振衍射光栅5的第二实施例的分割区域的形状，和此时照射于光检测器12上的光图案的形状。来自第一层9的反射光的光图案28聚焦于光检测器12上，此时的来自第二层10的反射光的光图案29(杂散光)以斜线表示。与第一实施例不同，区域C1～C4的X轴方向的宽度Wc窄。区域B1～B4因宽度变窄而扩大。区域A1～A4的形状与第一实施例相同。由于区域B1～B4扩大，所以虽然对于光检测器12的错位，杂散光变得容易进入受光部E～F、Q～T，但是可以期待增加跟踪误差信号的输出的效果。
[实施例3]
图9、图10表示偏振衍射光栅5的第三实施例的分割区域的形状，和此时照射于光检测器12上的光图案的形状。来自第一层9的反射光的光图案28聚焦于光检测器上，此时的来自第二层10的反射光的光图案29(杂散光)以斜线表示。
与第一实施例不同，没有不通过光束中心14的X轴方向的四条分割线18，以光束中心14为中心对Y轴方向成大约30度的角度的四条分割线19被延长。因此由于区域B1～B4的面积减小，所以受光部Q～T的输出q～t减小，推挽法的跟踪误差信号的运算式，(TES)＝((a+e+b+f)-(c+g+d+h))-K((q+r)-(s+t))中K的值虽然必须大，但是由于A1～A4的面积增加，所以可以期待增加跟踪误差信号的输出的效果。
虽然上述实施例中光束的分割元件使用偏振衍射光栅，配置于准直透镜与1/4波长板之间，但是也可以将通常的衍射光栅配置于偏振分光镜与光检测器之间。
可以期待向在光盘上进行信息的记录再现的光盘装置的利用。
在聚焦于光盘的目的层时，由于来自其他层的杂散光脱离光检测器的伺服信号用的受光部，所以仅接收目的层的反射光而得到伺服信号是可能的，可以得到不产生来自其他层的杂散光引起的偏差的稳定的聚焦误差信号与跟踪误差信号。
接下来，说明具有本发明的光学头的光盘装置。
图11是表示搭载有图1所示的光学头的光盘装置的具体例的概略图。图1所示的半导体激光器1、偏振分光镜3、偏振衍射光栅5、1/4波长板6、光检测器12、和图1中未图示的用于改变激光的方向的反射镜30粘接固定于壳体31。准直透镜4在通过移动机构32而沿着光轴能够移动的状态下固定于壳体31，在光盘8的第一层9上记录再现与在第二层10上记录再现的各情况下，可以移动到聚光于光盘8的激光2的球面像差成为最小的位置。
物镜7安装于线圈33所装入的支架34，与未图示的磁铁组合形成致动器而可以对光盘8的面抖动与偏心追踪物镜7。
此外，壳体31可通过电动机35与导螺杆36在光盘8的半径方向上移动。光盘8固定于主轴电动机37。
各构成部位的动作由***控制电路47控制，在进行记录再现时首先使主轴电动机驱动电路46动作而驱动主轴电动机37，旋转光盘8。
接着使激光器驱动电路动作而使半导体激光器1发光。
根据光检测器12的输出，由伺服信号生成电路43生成聚焦误差信号，基于该信号，由致动器驱动电路45驱动致动器而进行聚焦控制，以便使物镜7引起的激光2的聚光点对准记录再现层。
在使激光2的聚光点对准于第一层9的情况下，使准直透镜5移动到对应于第一层9的位置后，检测聚焦误差信号。由于聚焦误差信号可以得到图6所示的波形，所以在第一层合焦点位置处进行聚焦控制。
接着使访问控制电路44动作而使电动机35旋转，经由导螺杆36使壳体31移动到光盘8的内周或外周的期望位置。
然后，根据光检测器12的输出，基于由伺服信号生成电路43所生成的跟踪误差信号，由致动器驱动电路45驱动致动器而进行使激光2的聚光点追踪光盘8的轨道上的跟踪控制。
接着，根据光检测器12的输出，由信息信号再现电路42再现光盘8的轨道上的数据信号。
此外，在将信息记录于光盘8的情况下，由***控制电路47对应于记录信息使激光器驱动电路41动作，调制半导体激光器1的输出而在轨道上形成记录标记。
在使记录再现层从第一层9移动到第二层10的情况下，由***控制电路47停止跟踪控制后，在与停止聚焦控制的同时使致动器驱动电路45动作而使激光器2的聚光点向第二层移动。接着以检测聚焦误差信号的第二层合焦点位置的定时驱动致动器进行聚焦控制，以便激光的聚光点合于第二层。接着使准直透镜4移动到对应于第二层10的位置后，基于聚焦误差信号驱动致动器而进行使激光2的聚光点追踪轨道上的跟踪控制。在第二层10处的再现动作和记录动作与第一层9时同样地进行。
虽然在上述实施例中偏振衍射光栅5、1/4波长板6固定于壳体31，但是也可固定于与物镜7相同的支架34而与物镜7一起运动。
虽然以上对于本发明的光学头和具有它的光盘装置的实施方式更详细地说明了实施例，但是本发明不限于上述实施例，在不脱离本发明的精神的范围内也可以包含各种变形例和改良例。
例如，虽然在上述实施方式中，对于双层记录再现层(信息记录层)所叠层的光盘的记录或再现进行了说明，但是也可以将本发明运用于三层以上的记录再现层所叠层的光盘的记录或再现中。
此外，光检测器的受光部的配置图案也不限于上述例，在聚焦于光盘的目的信息记录层的情况下，只要是来自目的记录再现层以外的记录再现层的反射光束不照射于光检测器的受光部，受光部都可以任意地配置。
此外，虽然在上述式实施方式中，由C1至C4四个区域构成第一分割区域，但是本发明不限于此，可以由一个区域构成第一分割区域，也可以由两个区域构成，进而，也可以由四个以上区域构成。
[实施例4]
图12是表示本发明的第四实施例的光拾取器装置的一例的概略构成图。
如图12所示，光拾取器装置101构成为可通过驱动机构107在光盘100的半径方向上驱动。此外在光拾取器装置上的致动器105上搭载有物镜102，光从该物镜102照射到光盘上。从物镜102射出的光在光盘上形成光斑，从光盘反射。通过检测该反射光生成聚焦误差信号、跟踪误差信号。
在上述这种光盘装置中，图13表示光学***。虽然这里对BD进行说明，但是也可以是HD DVD或其他记录方式。
从半导体激光器50，作为发散光射出波长大致405nm的光束。从半导体激光器50射出的光束通过准直透镜51变换成大致平行的光束。透过准直透镜51的光束被分光镜52反射。而且一部分光束透过分光镜52而入射到前置监视器53。一般来说在将信息记录于BD-RE、BD-R等记录型的光盘的情况下，因为规定的光量照射于光盘的记录面，故有必要高精度地控制半导体激光器的光量。因此，前置监视器53在将信号记录于记录型的光盘时，检测半导体激光器50的光量的变化，反馈到半导体激光器50的驱动电路(未图示)。由此监视光盘上的光量成为可能。
分光镜52反射的光束入射到光束扩展器54。光束扩展器54通过改变光束的发散、收敛状态，用于补偿光盘100的覆盖层的厚度误差引起的球面像差。射出光束扩展器54的光束被竖立反射镜55反射，透过1/4波长板56后，由搭载于致动器105的物镜102汇聚在光盘100上。
由光盘100反射的光束透过物镜102、1/4波长板56、竖立反射镜55、光束扩展器54、分光镜52。透过光束扩展器52的光束分支成透过分光镜57的光束与反射的光束。
通过刀口法检测分光镜57反射的光束聚焦误差信号。此外，虽然这里在聚焦检测方式中用刀口法，但不限于此。此外因为刀口方式是公知的故省略其说明。透过分光镜56的光束入射到检测器108。通过该检测器108检测光盘上的信号和跟踪误差信号。
图14表示本发明的受光部图案。受光部108具有区域I(区域1)、区域J(区域2)、区域G(区域3)、区域H(区域4)四个区域，区域I(区域1)和区域G(区域3)与区域J(区域2)和区域H(区域4)对受光部的中心线线对称。此外，区域I(区域1)与区域J(区域2)特征在于随着从中心轴(或中心线)500在大致垂直方向上离开中心轴500方向的宽度收窄。
这里，参照图14对一光束方式的跟踪误差信号检测原理进行说明。在检测器面上发生由盘衍射的0次衍射光与±1次衍射光干涉的区域。由于该区域的干涉的状态因轨道上的光斑位置而不同，故可以利用它将光斑配置于期望的轨道位置。实际上，通过计算在0次衍射光、+1次衍射光的干涉区域Z1中所得到的信号与0次衍射光、-1次衍射光的干涉区域Z2中所得到的信号的差生成推挽信号。此外，该干涉区域以外几乎不因轨道上的光斑位置而变化。一光束方式利用此特性。
下面详细地进行说明。在受光部上光束随着物镜的位移在图14的箭头方向上位移。与此同时强度分布中心也在同一方向上位移。因这两种影响，(I-J)信号中发生DC偏差。此外，在(G-H)信号中也发生DC偏差。图15表示对物镜位移的(I-J)信号与(G-H)信号的偏差量。根据此图，可知(I-J)信号与(G-H)信号的偏差量发生对物镜的位移几乎线性的DC偏差。因此，可知如果进行以下的运算则可以检测DC偏差被抑制的跟踪误差信号。
(跟踪误差信号)＝(I-J)-k·(G-H)  (式1)
这里k是修正(I-J)信号的DC偏差与(G-H)信号的DC偏差的系数。这样，一光束方式检测抑制偏差的跟踪误差信号成为可能。
接下来，对盘上的未记录区域与记录区域的边界部处发生的跟踪误差信号的偏差进行说明。图16A～16C是示意地表示未记录区域与记录区域的边界处的一光束方式的跟踪误差信号波形的示意图。图16A表示无法抑制偏差的情况，图16B表示因过度修正而在相反侧发生偏差的情况。而且，图16C是抑制偏差的跟踪误差信号。
在图16A、16B那样的跟踪误差信号波形中，跟踪误差信号因离散等与原点位置不交叉的可能性加大。如果跟踪误差信号不交叉，则伺服控制上成为问题。(跟踪控制在此原点位置进行伺服控制。)因此，可知优选图16C那样的波形。
这里，作为跟踪误差信号的偏差的指标考虑底部的比率、顶部的比率。所谓底部的比率取为图16A～16C所示的(a-c)/(c+d)。将其取为记录区域处的跟踪误差信号底部值和未记录区域与记录区域的边界处的跟踪误差信号底部值之差，被记录区域的跟踪误差信号振幅除，也就是说在与记录区域的跟踪误差信号振幅比较的情况下表示任何底部全都处于下侧。
与此相反，顶部的比率取为(b-d)/(c+d)。这成为记录区域处的跟踪误差信号底部值和未记录区域与记录区域的边界处的跟踪误差信号底部值之差，被记录区域处的跟踪误差信号振幅除，也就是说在与记录区域的跟踪误差信号振幅比较的情况下表示任何顶部全都处于上侧。
由于可知如果这两个指标为正的值，则如图16C那样即使光斑从未记录区域移动到记录区域，跟踪误差信号振幅也慢慢地变化，故伺服控制稳定。但是在两个指标为正的值、负的值的关系的情况下，由于无法抑制偏差而成问题。
此外，跟踪误差信号的偏差在物镜在跟踪方向上位移的情况下也发生DC偏差。因此，有必要同时抑制未记录区域、记录区域的边界与物镜位移引起的偏差。
下面进行原来物镜位移的情况下的未记录区域、记录区域的边界部处发生的跟踪误差信号的偏差的评价。这里，仿真上的计算条件如下。
波长：405nm
物镜NA：0.85
轨道间距：0.32μm
物镜焦距：1.41mm
图17A表示使用本发明与JP-A-9-223321的受光部而物镜在轨道方向上位移时的顶部的比率，图17B表示底部的比率。作为本发明的受光部的条件，对于入射到检测器的光束直径的区域I(区域1)与区域J(区域2)的间隔的比率t1取为t1＝d2/d1＝0.19，对于入射到检测器的光束直径的区域I(区域1)与区域J(区域2)的中心轴方向的最大宽度的比率t2取为t2＝d3/d1＝0.5，对于垂直于区域I(区域1)与区域J(区域2)的中心轴方向，区域的外形的倾斜角度θ取为θ＝10deg。
图17A、17B的JP-A-9-223321在顶部的比率中大部分的物镜位移量处成为负的值。而且，可知底部的比率成为正的值，偏差发生。
与此相反，可知本发明的顶部的比率、底部的比率、物镜的位移量在几乎所有范围内为正，可以抑制未记录区域与记录区域的边界的偏差。
接下来对使区域I、区域J的分割线倾斜的效果进行说明。图18A、18B是对未倾斜的情况与倾斜的情况进行仿真的结果，图18A表示顶部的比率，图18B表示底部的比率。而且，作为受光部的条件，取为t1＝0.19，t2＝0.5，θ＝10deg与t1＝0.19，t2＝0.5，θ＝0deg。
在顶部的比率中，在物镜的位移的几乎所有的区域中是正的值，此外，底部的比率在物镜位移为负的区域中大为改善。这样，使分割线倾斜的情况可以抑制未记录区域与记录区域的边界的偏差。特别是在θ为0度＜θ＜15度，t1、t2对于入射到检测器10的受光部的光束，在直径0＜t1＜0.35，0＜t2＜0.70的条件下可以得到DC偏差和未记录区域与记录区域的边界的偏差抑制中大的改善效果。
如果单纯地考虑，则如果如图14那样随着区域I与区域J从中心轴500在大致垂直方向上离开，中心轴500方向的宽度收窄，对于物镜位移，可以认为由于物镜位移方向的受光部区域(区域I或区域J)的检测的干涉区域(干涉区域Z1或干涉区域Z2)的面积减小，故跟踪误差信号振幅极端地减少。但是，实际上，与物镜位移同时，在物镜位移方向上物镜位移量的两倍、光束的强度分布位移。因此，在物镜位移方向的受光部区域(区域I或区域J)上，虽然面积减小但是强度增强。此外，在与物镜位移方向相反的受光部区域(区域J或区域I)上，强度减弱而面积加大。由此跟踪误差信号振幅难以减少，成为DC偏差修正也容易的构成。进而，因为未记录区域与记录区域的边界的偏差在干涉区域(干涉区域Z1或干涉区域Z2)附近显著地发生，故对于物镜的位移，使干涉区域的外侧入射到DC偏差检测侧的受光部，在未记录区域与记录区域的边界的偏差抑制上是有效的。
虽然图14表示检测器内侧的分割线可以是对轨道大致平行的直线，和从它具有别的角度的直线，但是也可以如图19A那样，受光部内侧的分割线是圆弧，如图19B那样是直线也没有问题。
此外，虽然这里表示成受光部的图案，但是当然即使如图20的光学***那样配置与受光部的图案同一图案的衍射光栅61，改变各自的区域内的衍射方向、角度在检测器上的多个受光部处检测信号也有同样的效果。
[实施例5]
图21表示本发明的第五实施例的与实施例4不同的受光部的图案。与实施例4的不同在于设置有中央区域Y(区域5)。中央区域对入射于检测器108的受光部的光束直径中央轴方向的长度的比率为t3，垂直于中央轴的方向的长度的比率为t4。该受光部如果进行以下的运算则可以生成跟踪误差信号。
(跟踪误差信号)＝(C-D)-k·{(A-B)+(E-F)}(式2)
图22A表示使用本发明与JP-A-9-223321的受光部而物镜在轨道方向上位移时的顶部的比率，图22B表示底部的比率。作为本发明的受光部的条件取为t1＝0.19，t2＝0.54，t3＝0.19，t4＝0.19，θ＝10deg进行计算。
根据图22A、22B，JP-A-9-223321的跟踪误差信号，未记录区域与记录区域的边界的特性随着物镜的位移变化很大。与此相反，本发明的跟踪误差信号与物镜的位移无关。因此，不需要对物镜的位移进行特别的控制。此外，可知物镜的位移量在几乎所有的范围内为正，可以抑制未记录区域与记录区域的边界的偏差。
由此，通过取为本发明的这种检测器图案即使物镜位移也可以进行稳定的跟踪控制。特别是在θ为0度＜θ＜15度，t1、t2、t3、t4对入射于检测器10的受光部的光束直径为0＜t1＜0.35，0＜t2＜0.70，0＜t3＜0.35，0＜t4＜0.35的条件下在DC偏差和未记录区域与记录区域的边界的偏差抑制上得到改善效果。
在实施例4中也如上所述，由于未记录区域与记录区域的边界的偏差在干涉区域(干涉区域Z1或干涉区域Z2)附近显著地发生，故检测面的中央部不容易影响。进而，因为通过不作为跟踪误差信号检测该区域可以将系数k取为适当的值，故作为结果提高未记录区域与记录区域的边界的偏差抑制效果成为可能。
虽然图21表示检测器内侧的分割线可以是对轨道大致平行的直线，和从它具有别的角度的直线，但是也可以如图23A那样受光部内侧的分割线是圆弧，如图23B那样是直线也没有问题。
此外，虽然这里表示成受光部的图案，但是当然即使如实施例4那样配置与受光部的图案同一图案的衍射光栅61，在检测器上的多个受光部处检测信号也有同样的效果。
[实施例6]
图24表示本发明的第六实施例的光拾取器装置的光学***。对与图13所示的本发明实施例4相同的光学部件赋予同一标号。虽然这里对BD进行说明，但是也可以是HD DVD或其他记录方式。
从半导体激光器50，作为发散光射出波长大致405nm的光束。从半导体激光器50射出的光束被分光镜52反射。此外一部分的光束透过分光镜52入射于前置监视器53。被分光镜52反射的光束由准直透镜51变换成大致平行的光束。透过准直透镜51的光束入射到光束扩展器54。射出光束扩展器54的光束被竖立反射镜55反射，透过1/4波长板56后，由搭载于致动器5的物镜102汇聚在光盘100上。
由光盘100反射的光束透过物镜2、1/4波长板56、竖立反射镜55、光束扩展器54、准直透镜51、分光镜52。
透过分光镜52的光束，由衍射光栅63分支成生成聚焦误差信号(0次衍射光)的光束与生成跟踪误差信号(+1次衍射光或-1次衍射光)的光束。这里，虽然在实施例4的图14的衍射光栅中进行了说明，但是即使是实施例1的图19A或图19B或者实施例5的图21或图23A或图23B的衍射光栅也没有问题。
由衍射光栅63所分支的光束入射到检测透镜。在检测透镜处，光束透过时给出规定的像散，用于聚焦误差信号检测。此外，因为生成跟踪误差信号的光束被衍射光栅63衍射时给出像散、球面像差，故透过检测透镜59的光束汇聚在受光部上。
图25A、25B表示检测器64与所检测的光束。检测器64分成焦点检测用的区域40～43与跟踪误差信号区域44～47。由于关于聚焦误差信号是公知的，故省略其说明。被衍射光栅63衍射的光束由于在各自的区域处衍射方向不同，故图12的区域G所衍射的光束入射到图25A、25B的区域45，被区域H衍射的光束入射到区域46，被区域I衍射的光束入射到区域44，被区域J衍射的光束入射到区域47。由此生成跟踪误差信号。这里RF信号通过取聚焦误差信号之和或跟踪误差信号之和或聚焦误差信号与跟踪误差信号之和而能够检测。此外，对DVD-ROM等中所采用的跟踪误差信号检测方式的DPD(DifferentialPhase Ditection：差分相位检测)而言也是使用聚焦误差用的区域40～43的检测信号即能够对应。
通过取为这种光学***构成，不仅可得到跟踪误差信号而且还可得到其他信号。虽然这里将衍射光栅63配置在检测侧，但是如图26那样使用偏振衍射光栅65而配置在接近于物镜处也没有问题。
[实施例7]
图27表示本发明的第七实施例的光拾取器装置的光学***。对与图13所示的本发明实施例4相同的光学部件赋予同一标号。虽然这里对BD进行说明，但是也可以是HD DVD或其他记录方式。
从半导体激光器90，波长大致405nm的光束作为发散光射出P偏振光的光束。从半导体激光器90射出的光束透过分光镜91，被反射镜92反射。其中有效直径外的一部分光束入射到前置监视器93。被反射镜92反射的光束入射到辅助透镜94、准直透镜95。因为由驱动装置(未图示)能够在光轴的方向上驱动准直透镜95，故通过改变光束的发散、收敛状态可以补偿光盘100的覆盖层的厚度误差引起的球面像差。
透过准直透镜95的P偏振光的光束入射到本发明的偏振衍射光栅66。入射到偏振衍射光栅66的P偏振光的光束照原样透过，被竖立反射镜96反射，透过1/4波长板97后成为圆偏振光。成为圆偏振光的光束由搭载于致动器105的物镜102汇聚在光盘100上。
由光盘100反射的光束透过物镜102、1/4波长板97。圆偏振光的光束通过1/4波长板97成为S偏振光。S偏振光的光束被竖立反射镜96反射，入射到偏振衍射光栅66。入射的S偏振光由偏振衍射光栅66分成多个光束。透过偏振衍射光栅66的光束经由准直透镜95、辅助透镜94、反射镜92，被分光镜91反射，入射到检测器67。
图28、29表示不仅考虑跟踪误差信号而且考虑到聚焦误差信号的偏振衍射光栅66的图案(图28)、检测器67(图29)。偏振衍射光栅66是仅衍射±1次光的衍射光栅，衍射的光束在各自的区域处衍射方向和衍射角不同。为简单起见，在图29中，以区域的文字表示从图28所示的偏振衍射光栅的各自的区域衍射的光束。此外，该文字的下标文字为+由表示+1次衍射光，为-则表示-1次衍射光。例如图28偏振衍射光栅66的区域L的+1次衍射光入射到图29检测器67的区域74，-1次衍射光入射到区域83。
聚焦误差信号检测方式为刀口方式，利用由偏振衍射光栅66的区域N、P、Q、O衍射的-1次衍射光进行检测。因为刀口方式是公知的，故省略其说明。跟踪误差信号检测用区域70～79、区域81～84的检测信号通过进行以下运算求得。
(跟踪误差信号)＝{(N++L+)+(P++R+)-(O++M+)+(Q++S+)}-k·{(L-+R-)+(M-+S-)}        (式3)
偏振衍射光栅66为了聚焦检测等而被分割成多个区域，从跟踪误差信号的观点来说是与实施例2的图21同样的检测方式。
进而RF信号检测使用区域70～79的检测信号通过进行以下的运算求得。
(RF信号)＝N++P++Q++O++L++R++S++M++T++U+ (式4)
此外DPD信号检测用区域70～77的检测信号通过进行以下的运算求得。
(DPD信号)＝{(N++L+)+(Q++S+)}-((P++R+)+(O+M+))  (式5)
通过取为这种光学***构成不仅跟踪误差信号而且还得到其他信号成为可能。
[实施例8]
在实施例8中，对搭载有光拾取器装置1的光学再现装置进行说明。图30是光学再现装置的概略构成。光拾取器装置101设置有可沿着光盘100的半径方向驱动的机构，根据来自存取控制电路172的访问控制信号进行位置控制。
从激光器点亮电路177将规定的激光器驱动电流供给到光拾取器装置101内的半导体激光器，从半导体激光器根据再现以规定的光量射出激光。此外，激光器点亮电路177也可以装入光拾取器装置101内。
从光拾取器装置101内的光检测器输出的信号发送到伺服信号生成电路174和信息信号再现电路175。在伺服信号生成电路174中基于来自上述光检测器的信号生成聚焦误差信号、跟踪误差信号以及倾斜控制信号等伺服信号，基于这些经由致动器驱动电路173驱动光拾取器装置101内的致动器，进行物镜的位置控制。
在上述信息信号再现电路175中，基于来自上述光检测器的信号再现记录在光盘100中的信息信号。
在上述伺服信号生成电路174和信息信号再现电路175中所得到的信号的一部分发送到控制电路176。在该控制电路176上连接有主轴电动机驱动电路171、存取控制电路172、伺服信号生成电路174、激光器点亮电路177、球面像差修正元件驱动电路179等，进行使光盘100旋转的主轴电动机180的旋转控制、存取方向和存取位置的控制、物镜的伺服控制、光拾取器装置101内的半导体激光器发光光量的控制、盘基板厚度的不同引起的球面像差的修正等。
[实施例9]
在实施例9中，对搭载有光拾取器装置101的光学记录再现装置进行说明。图31是光学记录再现装置的概略构成。在该装置中与上述图30中说明的光学信息再现装置的不同之处在于，在控制电路176与激光器点亮电路177之间设置有信息信号记录电路178，基于来自信息信号记录电路178的记录控制信号进行激光器点亮电路177的点亮控制，附加向光盘100写入期望的信息的功能。

Claims (8)

1.一种光拾取器装置，其特征在于，具有：
射出激光的半导体激光器；
将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；以及
接收从光盘反射的光束的光检测器，
其中，所述光检测器包括具有区域1、区域2、区域3、区域4等四个区域的受光部，
所述受光部的区域1和区域3与区域2和区域4相对于所述受光部的中心线线对称，
所述受光部的区域1与区域2随着离开所述中心线而宽度变窄，
输出由所述受光部的区域1、区域2、区域3、区域4检测到的信号。
2.一种光拾取器装置，其特征在于，具有：
射出激光的半导体激光器；
将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；
使从光盘反射的光束分支的衍射光栅；以及
接收由所述衍射光栅分支的光束的光检测器，
其中，所述衍射光栅具有区域1、区域2、区域3、区域4的四个区域，
所述衍射光栅的区域1和区域3与区域2和区域4相对于所述衍射光栅的中心线线对称，
所述衍射光栅的区域1与区域2随着离开所述中心线而宽度变窄，
输出根据所述衍射光栅的区域1、区域2、区域3、区域4的衍射光检测到的信号。
3.一种光拾取器装置，其特征在于，具有：
射出激光的半导体激光器；
将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；以及
接收从光盘反射的光束的光检测器，
其中，所述光检测器包括具有区域1、区域2、区域3、区域4、区域5等五个区域的受光部，
所述受光部的区域1和区域3与区域2和区域4相对于所述受光部的中心线线对称，
所述受光部的区域5形成在所述中心线上且相对于所述中心线线对称，
所述受光部的区域1与区域2随着离开所述中心线而宽度变窄，
输出由所述受光部的区域1、区域2、区域3、区域4检测到的信号。
4.一种光拾取器装置，其特征在于，具有：
射出激光的半导体激光器；
将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；
使从光盘反射的光束分支的衍射光栅；以及
接收由所述衍射光栅分支的光束的光检测器，
其中，所述衍射光栅具有区域1、区域2、区域3、区域4、区域5的五个区域，
所述衍射光栅的区域1和区域3与区域2和区域4相对于所述衍射光栅的中心线线对称，
所述衍射光栅的区域5形成在所述中心线上且相对于所述中心线线对称，
所述衍射光栅的区域1与区域2随着离开所述中心线而宽度变窄，
输出根据所述衍射光栅的区域1、区域2、区域3、区域4的衍射光检测到的信号。
5.一种光拾取器装置，其特征在于，具有：
射出激光的半导体激光器；
将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；以及
接收从光盘反射的光束的光检测器，
其中，所述光检测器包括具有区域1、区域2、区域3、区域4、区域5、区域6、区域7的受光部，
所述受光部的区域1和区域3和区域6与区域2和区域4和区域7相对于所述受光部的中心线线对称，
所述受光部的区域5进一步细分成区域8、区域9、区域10、区域11的四个区域，区域8和区域10与区域9和区域11形成为相对于所述中心线线对称，
所述受光部的区域1与区域2随着离开所述中心线而宽度变窄，并且区域1与区域2进一步在与所述中心线垂直的方向上一分为二，
输出由所述受光部的区域1、区域2、区域3、区域4、区域5、区域6、区域7检测到的信号。
6.一种光拾取器装置，其特征在于，具有：
射出激光的半导体激光器；
将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜；
使从光盘反射的光束分支的衍射光栅；以及
接收由所述衍射光栅分支的光束的光检测器，
其中，所述衍射光栅具有区域1、区域2、区域3、区域4、区域5、区域6、区域7，
所述衍射光栅的区域1和区域3和区域6与区域2和区域4和区域7相对于所述衍射光栅的中心线线对称，
所述衍射光栅的区域5进一步细分成区域8、区域9、区域10、区域11的四个区域，区域8和区域10与区域9和区域11形成为相对于所述中心线线对称，
所述衍射光栅的区域1与区域2随着离开所述中心线而宽度变窄，并且区域1与区域2进一步在与所述中心线垂直的方向上一分为二，
输出根据所述衍射光栅的区域1、区域2、区域3、区域4、区域5、区域6、区域7的衍射光检测到的信号。
7.如权利要求1～6中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：
所述区域1与区域2的区域外形具有相对于与所述中心线垂直的方向具有倾斜角度θ的边，
所述倾斜角度θ为0度＜θ＜15度。
8.一种光盘装置，其特征在于，具有：
权利要求1～6中任一项所述的光拾取器装置；和
使用从所述光拾取器装置输出的信号，生成跟踪误差信号的伺服信号生成电路，
所述伺服信号生成电路以式(A1-A2)-k×(A3-A4)生成跟踪误差信号，其中，设定：
入射到所述区域1，由所述检测器检测的信号为A1；
入射到所述区域2，由所述检测器检测的信号为A2；
入射到所述区域3，由所述检测器检测的信号为A3；
入射到所述区域4，由所述检测器检测的信号为A4；
修正所述区域1、区域2与区域3、区域4的光量的系数为k。
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