CN101656365A - 一种方便测试的电连接器 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种方便测试的电连接器，包括连接器绝缘体，该连接器绝缘体内布设有接触件，所述接触件具有插接端和接线端，所述各接触件的接线端均导电连接有供测试设备的探针接触的测试接触片。本发明的方便测试的电连接器，是在接触件的接线端导电连接有供测试设备的探针接触的测试接触片。当接触件进行过焊接接线或压接接线并通过热缩管进行过绝缘处理后，与接触件导电连接的测试接触片仍位于热缩管的外侧，此时可以通过探针去接触测试接触片来对插合后的连接器的各线路进行导通情况的测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种电连接器，尤其是一种方便测试的电连接器。
背景技术
目前，在电连接器中，接触件的接线方式一般采用压接的形式或焊接的形式。为了方便压接或焊接，接触件的接线端一般都需要伸出到连接器绝缘体的外侧，在压接或焊接后，会在接线处采用热缩管来进行绝缘处理。在接线处采用热缩管来进行绝缘处理可以有效的防止相邻接触件之间出现短路的情况。但是，由于采用热缩管进行绝缘处理之后，接触件的接线端及导线的去皮段的导体均被包裹在热缩管内，这样就无法在连接器插合使用时对其线路的导通情况进行测试，可是，现在出现了这样一种使用情况，就是需要在连接器插合时对其各线路进行导通情况测试，显然现有的连接器不能满足此种使用的需要。
发明内容
本发明的目的是提供一种方便测试的电连接器，用以解决现有连接器不能在插合状态下来测试各线路导通情况的问题。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种方便测试的电连接器，包括连接器绝缘体，该连接器绝缘体内设有接触件，所述接触件具有插接端和接线端，所述接触件的接线端导电连接有供测试设备的探针接触的测试接触片。
所述连接器绝缘体上靠近接触件接线端的一侧设有测试接触片安装槽，所述测试接触片位于测试接触片安装槽内，且测试接触片低于测试接触片安装槽的槽口。
所述接触件的接线端套装有锁紧环，所述锁紧环的一端与测试接触片顶止配合另一端与接触件上设置的定位面顶止配合；所述锁紧环与测试接触片安装槽的内壁之间设有供测试设备的探针伸入到接触片处的空隙。
所述测试接触片过盈穿装于接触件上。
本发明的方便测试的电连接器，是在接触件的接线端导电连接有供测试设备的探针接触的测试接触片。当接触件进行过焊接接线或压接接线并通过热缩管进行过绝缘处理后，与接触件导电连接的测试接触片仍位于热缩管的外侧，此时可以通过探针去接触测试接触片来对插合后的连接器的各线路进行导通情况的测试。
本发明中，测试接触片设置在连接器绝缘体靠近接触件接线端一侧的测试接触片安装槽内，且测试接触片低于测试接触片安装槽的槽口，这样可以防止在使用时手指接触到测试接触片影响电路***的工作。
同时，在接触件的接线端套装有锁紧环，锁紧环一端顶止于测试接触片，另一端顶止于接触件上的定位面。这样使得测试接触片不会在连接器绝缘体内出现窜动，保证了其与接触件电接触连接的可靠性。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图2是图1的俯视图；
图3是图1的右视局部剖视图。
具体实施方式
图1、2、3所示，本发明的方便测试的电连接器，包括一个矩形的连接器绝缘体1，该连接器绝缘体1内安装有两排接触件4，接触件4具有一个插接端和一个接线端5，接线端5采用焊线杯结构且伸出于连接器绝缘体1的外侧。连接器绝缘体1的后端，也就是靠近接触件4接线端5的一侧对应于各个接触件位置处均开始有测试接触片安装槽8，各测试接触片安装槽8内均安装有测试接触片6，测试接触片6过盈穿装在接触件4上，这样可以保证接触件4与测试接触片6之间良好的导电性。在各个接触件4的接线端处均套装有一个锁紧环7，锁紧环7的一端与测试接触片6相抵，另一端与接触件4上设置的定位面9相抵。锁紧环7与测试接触片安装槽的内壁之间设有供测试设备的探针伸入到接触片处的空隙10。同时，连接器绝缘体的后端还设有两个安装螺柱2，安装螺柱2位于连接器绝缘体1横向的两端，两安装螺柱2上均螺接有螺母3。
Claims (4)
1.一种方便测试的电连接器，包括连接器绝缘体，该连接器绝缘体内布设有接触件，所述接触件具有插接端和接线端，其特征在于：所述各接触件的接线端均导电连接有供测试设备的探针接触的测试接触片。
2.根据权利要求1所述的方便测试的电连接器，其特征在于：所述连接器绝缘体上靠近接触件接线端的一侧设有测试接触片安装槽，所述测试接触片位于测试接触片安装槽内，且测试接触片低于测试接触片安装槽的槽口。
3.根据权利要求1或2所述的方便测试的电连接器，其特征在于：所述接触件的接线端套装有锁紧环，所述锁紧环的一端与测试接触片顶止配合另一端与接触件上设置的定位面顶止配合；所述锁紧环与测试接触片安装槽的内壁之间设有供测试设备的探针伸入到接触片处的空隙。
4.根据权利要求3所述的方便测试的电连接器，其特征在于：所述测试接触片过盈穿装于接触件上。
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2009
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Also Published As
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