CN110470866A - 用于接触件***和保持测试的设备和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及用于接触件***和保持测试的设备和方法。该方法包括：手动地将接触件部分地***形成在电连接器内的孔(1)中；通过使用***尖端(41)将接触件沿着轴线推动来将接触件进一步***孔中，该***尖端与所述轴线对准并且在***期间沿着所述轴线在第一方向上移位；并且在将接触件进一步***孔中之后，通过使用测试探针(46)将接触件沿着所述轴线推动来对所述电连接器内的所述接触件进行保持测试，所述测试探针(46)与轴线对准并且在保持测试期间在与第一方向相反的第二方向上移位。测试探针对接触件施加的力小于指定接触件保持力。该方法还包括在测试探针在保持测试期间在第二方向上沿着轴线移位超过指定距离时生成警告信号。

Description

用于接触件***和保持测试的设备和方法
相关专利申请
本申请要求于2018年5月11日提交的美国临时申请No.62/670,343的权益，该美国临时申请的公开内容全部以引用方式并入本文中。
技术领域
本公开总体上涉及用于组装线束的***和方法，在线束中的每条线终止于相应的导电接触件。具体地，本公开涉及用于将这些接触件***电连接器中的***和方法。
背景技术
连接器通常被安装在诸如光纤、导电线等这样的多个导体的端部部分上。在一些实现方式中，连接器与另一连接器相配合，以将相应的导体束连接起来。在替代实现方式中，连接器连接到仪器等的插座。
方便的是每个连接器包括配合壳体，当使该连接器与另一连接器成操作关系时，配合壳体机械地连接到另一连接器的壳体。每个连接器还包括接触件接纳***件。***件通常由电介质材料制成并且呈板的形式，该板具有面对另一连接器的对应***件的内表面以及与内表面平行的相对的外表面。许多孔穿透该构件，孔的相对端部分别在***件的内表面和外表面处敞口。
在导体是导线的情形下，通过从导线的端部剥离电绝缘护套以便露出导电芯并将接触件压接到导体上来为附接到连接器而准备导线。该接触件是引脚或插座的形式。将接触件利用其外表面引入以上提到的***件中的孔中，并且在引脚的情况下，伸出***件的内表面。当所有导线都已经附接到相应的连接器并且使连接器处于配合关系时，接纳在一个***件的孔中的接触件与接纳在另一***件的孔中的接触件物理地接合。因此，除了在引入绝缘***件的孔中之前物理地附接到导线的引脚或插座之外的引脚或插座，连接器通常没有其他引脚或插座。
当将导线束等中的导体的束或分支附接到连接器时，必须确保导体定位在***件的适当孔中，因为原本当连接器联接到其配合连接器时不能完成适当电路。
其他问题在于，接触件可以不被完全***或者说不适当地安置在***件的孔中。如果接触件被不适当地安置，则当用足够的力拉动引脚或插座所附接的导线时或者当连接器例如因振动而晃动时，连接器内的保持夹具所施加的保持力不能足以保持引脚或插座与对应的插座或引脚接触。
尽管存在多种限制未安置的或未适当安置的接触件的出现的测试方法和机制，但是仍然难以识别接触件几乎没有接触但是仍然能够通过电气连续测试而在例如连接件受到晃动时将容易断开的情况。当前的导线连接安装机构主要是手动的，依靠操作者将导线适当地***连接器中时施加的力。如此，一致性是不可实现的，并且通常，要么施加太大的力达到致使连接器受损的程度，要么施加太小的力达到使薄弱连接处断开的程度。
类似地，对未安置的或未适当安置的接触件进行测试通常是手动的。在由技术人员或检查员执行手动操作期间，这个人可以要么拉动电线要么推动接触件，以进行保持测试。在手动保持测试期间，引起了与不一致结果相似的问题。由于操作者无法估计正施加的拉力或推力，因此太小的力会导致测试错误而太大的力会再次造成导线或连接器受损。
在电气行业的多个部门，需要适当地***导线，同时减少未安置的接触件的出现。在要处理线束的特定情况下，束的两端都需要解决方案。需要能够实现预定义的一致质量测试的解决方案，以解决线束组件中的未安置的接触件的问题。
发明内容
本文中公开的主题涉及用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件保持测试的设备和方法。该方法包括以下步骤：手动地将所述接触件部分地***形成在所述电连接器内的孔中；通过使用***尖端将所述接触件沿着轴线推动来将所述接触件进一步***所述孔中，所述***尖端与所述轴线对准并且在***期间沿着所述轴线在第一方向上移位；并且在将所述接触件进一步***所述孔中之后，通过使用测试探针将所述接触件沿着所述轴线推动来对所述电连接器内的所述接触件进行保持测试，所述测试探针与所述轴线对准并且在保持测试期间在与所述第一方向相反的第二方向上移位。所述测试探针对所述接触件施加的力小于指定接触件保持力。该方法还包括：如果在所述测试探针在保持测试期间沿着所述轴线在所述第二方向上移位超过指定距离，则生成警告信号。
尽管下面将详细地描述用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件进行保持测试的设备和方法的各种实施方式，但是这些实施方式中的一个或更多个的特征在于以下方面中的一个或更多个。
下面详细公开的主题的一方面是一种用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件进行保持测试的方法，该方法包括以下步骤：(a)将所述电连接器放置在***尖端下方和测试探针上方；(b)将所述接触件联接到所述***尖端；(c)将所述测试探针朝向所述电连接器移动，直到所述测试探针的端部处于起始位置；(d)启动第一线性致动器，以通过如下方式来将所述接触件进一步***所述电连接器中的孔中：将所述接触件在与第二方向相反的第一方向上移动足够距离，使得在所述***尖端和所述测试探针处于同一孔中的情况下，所述接触件的端部会接触所述起始位置处的所述测试探针的所述端部并接着将所述测试探针在所述第一方向上背离所述起始位置移位；(e)使用位置传感器检测所述步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置是否与所述起始位置分开至少第一距离；并且(f)如果步骤(e)检测到步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置与所述起始位置分开至少所述第一距离，则启动第二致动器，以通过施加等于或大于最小接触件保持力的力将所述测试探针在所述第二方向上朝向所述起始位置移动。至少步骤(d)和(f)在计算机的控制下进行。
下面详细公开的主题的另一方面是一种用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件进行保持测试的方法，该方法包括以下步骤：手动地将所述接触件部分地***形成在所述电连接器内的孔中；通过使用***尖端将所述接触件沿着轴线推动来将所述接触件进一步***所述孔中，所述***尖端与所述轴线对准并且在***期间沿着所述轴线在第一方向上移位；并且在将所述接触件进一步***所述孔中之后，通过使用测试探针将所述接触件沿着所述轴线推动来对所述电连接器内的所述接触件进行保持测试，所述测试探针与所述轴线对准并且在测试期间在与所述第一方向相反的第二方向上移位。在将所述接触件进一步***所述孔中期间，所述***尖端与所述接触件的一端接触，并且在保持测试期间，所述测试探针与所述接触件的另一端接触。该方法还包括在将所述接触件进一步***所述孔中之前将所述测试探针沿着所述轴线在所述第二方向上移位，在将所述接触件进一步***所述孔中之前将所述测试探针在所述第二方向上的移位是通过手动施加力来驱动的。
按照各种实施方式，前面段落中描述的该方法还包括以下步骤中的一个或更多个：如果在将所述接触件进一步***所述孔中期间所述测试探针没有沿着所述轴线在所述第一方向上移位至少指定距离，则生成电信号；如果在将所述接触件进一步***所述孔中期间所述测试探针没有沿着所述轴线在所述第一方向上移位至少指定距离，则致使所述***尖端振动；并且在将所述接触件进一步***所述孔中之后对所述测试探针施加迫使所述测试探针沿着所述轴线在所述第二方向上移位的力，其中，施加的所述力小于指定接触件保持力。
下面详细公开的主题的另一方面是一种用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件进行保持测试的设备，该设备包括：连接器保持器，该连接器保持器被配置为保持所述电连接器；***尖端，该***尖端被配置为接触被部分***所述电连接器中的孔中的所述接触件的一端，同时为末端是所述接触件的导线提供间隙；***尖端移位组件，该***尖端移位组件被配置为将所述***尖端沿着第一线性路径在第一方向上移位，以将所述***尖端进一步***所述电连接器中的所述孔中；测试探针，该测试探针被配置为在所述接触件已被进一步***所述孔中之后接触所述接触件的另一端；以及测试探针移位组件，该测试探针移位组件被配置为将所述测试探针沿着第二线性路径在第二方向上移位，其中，所述第二方向与所述第一方向相反，并且所述第一线性路径和所述第二线性路径部分交叠。
该设备还包括：控制器，所述控制器被配置为致使所述***尖端移位组件在时间周期的第一部分期间将所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位，然后致使所述测试探针移位组件在所述时间周期的第二部分期间将所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位；以及位置传感器，所述位置传感器感测所述测试探针的位置并将表示所述测试探针的所述位置的信号输出到所述控制器。
按照前面段落中描述的***的一个实施方式，所述控制器被进一步配置为：如果在所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位期间所述测试探针没有沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位至少指定距离，则生成错误信号。按照同一实施方式或不同实施方式，该设备还包括被安装到所述***尖端移位组件的振动器，在这种情况下，所述控制器被进一步配置为：如果在所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位期间所述测试探针没有沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位至少指定距离，则启动所述振动器。按照同一实施方式或不同实施方式，所述测试探针移位组件被配置为通过施加比指定接触件保持力小的力，迫使所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位，并且所述控制器被进一步配置为：如果在所述测试探针响应于所述测试探针移位组件施加力而沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位超过指定距离，则生成错误信号。
按照一些实施方式，所述***尖端移位组件包括：***缸，该***缸致使所述***尖端响应于所述***缸的启动而沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位；以及第一回程缸，该第一回程缸致使所述***尖端响应于所述第一回程缸的启动而沿着所述第一线性路径在所述第二方向上移位。另外，所述测试探针移位组件包括：测试缸，该测试缸致使所述测试探针响应于所述测试缸的启动而沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位；以及第二回程缸，该第二回程缸致使所述测试探针响应于所述第二回程缸的启动而沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位。
按照所提出的一个实现方式，所述测试探针移位组件还包括：可旋转轴；可手动操作的启动杆，该启动杆被固定地安装到所述可旋转轴的一端；小齿轮，该小齿轮被固定地安装到所述可旋转轴并包括多个齿；测试探针支撑架，该测试探针支撑架固定地安装有所述测试探针；以及齿条，该齿条被附连到所述测试探针支撑架并包括多个齿，所述齿条上的至少一个齿与所述小齿轮上的一对齿相互接合，其中，所述测试缸和所述测试探针支撑架被布置成使得在所述测试缸被启动时，所述测试探针支撑架与所述测试缸的活塞杆的一端接触并且在与所述第二方向平行的方向上移位，但是没有附接到所述测试缸的所述活塞杆的所述一端。在一个实现方式中，所述测试探针移位组件还包括回程块，所述回程块被固定地安装到所述可旋转轴并在所述测试探针支撑架已在所述测试缸的所述活塞杆的所述一端的作用下移位之后设置在所述第二回程缸的活塞杆的一端的路径中。在所述测试缸未活动时，通过手动旋转所述启动杆，能将所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位。
下面详细公开的主题的又一方面是一种用于将导电的接触件***电连接器中的孔中的方法，该方法包括以下步骤：(a)将所述电连接器放置在***尖端下方和测试探针上方；(b)将所述接触件联接到所述***尖端；(c)将所述测试探针朝向所述电连接器移动，直到所述测试探针的端部处于起始位置；(d)移动所述***尖端，以将所述接触件进一步***所述电连接器中的所述孔中；(e)使用位置传感器检测步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置是否与所述起始位置分开至少指定距离；以及(f)如果步骤(e)检测到步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置没有与所述起始位置分开至少所述指定距离，则在人机界面上显示指示所述接触件和所述测试探针没有处于同一孔中的符号(或发出/生成可听或其他可察觉信号)。
下面公开了用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件进行保持测试的设备和方法的其他方面。
附图说明
前面部分中讨论的特征、功能和优点可以在各种实施方式中独立地实现，或者可以在其他实施方式中进行组合。出于例示上述和其他方面的目的，下文中将参照附图来描述各种实施方式。本部分中简要描述的示意图均未按比例绘制。
图1是表示用于自动***和测试电接触件的设备的视图的示意图。电连接器被夹持在接触件***尖端下方的位置。
图2是表示图1中描绘的设备的视图的示意图，不同之处在于，导线的端部处的接触件已被手动地部分***被夹持的电连接器中的孔中。
图3是表示在去除连接器保持器组件而露出测试探针(与上方的***尖端分开大间隙)之后的图1中描绘的设备的一些部分和用于升高和降低测试探针的关联机构的视图的示意图。
图4是表示在去除连接器保持器组件而露出测试探针(与上方的***尖端分开小间隙)之后的图1中描绘的设备的一些部分和用于在测试探针向上移位之后升高和降低测试探针的关联机构的视图的示意图。
图5是表示图1中描绘的设备的人机界面的视图的示意图。
图6是表示图1中描绘的设备中包括的连接器保持器组件的视图的示意图。
图7是表示其中左侧盖敞开并且连接器保持器组件被去除的图1中描绘的设备的侧视图的示意图。
图8是表示在去除连接器保持器组件而露出测试探针(与上方的***尖端分开大间隙)之后的图1中描绘的设备的一些部分和用于升高和降低测试探针的关联机构的另一视图的示意图。
图9是表示其中右侧盖敞开并且连接器保持器组件被去除的图1中描绘的设备的一些部分的侧视图的示意图。
图10是表示处于***尖端和测试探针分开大间隙的状态下的设备的一些部分的视图的示意图。
图11是示出用于将接触件***电连接器中然后进行接触件保持测试的方法的步骤的流程图。
图12是示出在一个测试周期期间测试探针的各个竖直位置的示意图。
图13是示出图1中描绘的设备的一些部件的框图。
图14是表示按照替代实施方式的用于自动***和测试电接触件的设备的一些部件的视图的示意图。
图15是表示示出图14中描绘的设备的一些内部部件的剖视图的示意图。
图16是表示适用于图14中描绘的设备的部件的连接器保持器组件的视图的示意图。
图17是表示典型***尖端的三维视图的示意图。
图18是表示被压入形成在图17中描绘的***尖端中的凹槽中的导线的一部分的侧视图的示意图，其中，导线的端部上的接触件与***尖端的端面邻接。
图19是表示***电连接器中的引脚接触件的剖视图的示意图。
图19A是表示组件的在图19中标记为19A的椭圆内的那部分的放大视图的示意图。
图20是表示***电连接器中的插座接触件的剖视图的示意图。
图21A和图21B是分别表示按照一个实施方式的引脚型测试探针的侧视图和端视图的示意图。
图22A和图22B是分别表示按照一个实施方式的插座型测试探针的侧视图和端视图的示意图。
图23A至图23D是表示在图14中描绘的设备的人机界面上显示的相应示例屏幕截图的示意图。
下文中将参照附图，其中，不同附图中的相似元件带有相同的附图标记。
具体实施方式
下面详细地描述用于将导电的接触件***电连接器中和对该接触件进行保持测试的设备和方法的例示性实施方式。然而，本说明书中并未描述实际实现方式的所有特征。本领域的技术人员将理解，在任何此实际实施方式的开发中，必须做出众多实现方式特定决策，以实现将因实现方式不同而变化的开发者的特定目标(诸如，与***相关和商业相关约束兼容)。此外，应该理解，这种开发工作可能是复杂且耗时的，但是对于受益于本公开的本领域的普通技术人员而言仍然将会是常规任务。
下面详细地公开的设备和方法提供了对在接触件***期间没有适当安置在电连接器中的接触件的技术问题的技术解决方案。按照一个实施方式，在接触件***操作期间监视测试探针的位置，以检测其中被***的接触件没有正被用足够的保持力保持从而被认为在电连接器中锁定就位的情形。在***臂的保持被配置为推动接触件的一端的***尖端的向下冲程期间，机器将一个接触件(该接触件已被压接在导线的一端上)向下***电连接器内的多个孔中的一个孔中。在该自动化接触件***步骤之前，将测试探针移动至竖直位置，该竖直位置被计算成在电连接器的底面附近拦截向下移动的接触件，其中，测试探针的中心线轴线平行于***尖端的轴线。(测试探针的轴线与***尖端的轴线同轴。)如果接触件被***正确孔中，则向下移动的接触件将撞击测试探针(要么覆盖要么被部分***正确孔中)并迫使测试探针向下。通过位置传感器检测测试探针的该向下移动，以确认接触件被***正确孔中。
在替代情况下，接触件有可能已被仅部分***正确孔中，以致接触件未被适当安置并且没有在足够的接触件保持力下得以保持。换句话说，使用中的接触件可能被从孔中拉出，或者振动会致使接触件逐渐从孔中移出。如果接触件仅被部分***正确孔中，则向下移动的接触件将撞击测试探针(要么覆盖要么被部分***正确孔中)并迫使测试探针向下，但是达到比完全***小的程度。由位置传感器再次检测自动化接触件***期间测试探针的该缩短的向下移动，位置传感器将传感器数据发送到控制器，以致使控制器启动通过金属杆与***尖端联接的振动器。振动器产生振动，这些振动顺着金属杆传播并致使***尖端振动。如果被部分***的接触件被悬挂在电连接器内的硬边缘上，则振动会引起接触件向下移动经过硬边缘，进一步进入孔中，到达完全***位置。
如果位置传感器检测到测试探针的端部已向下移动至低于“启动振动”高程范围下限的竖直位置(指示接触件已被完全***)，则控制器启动自动化接触件保持测试，这再次涉及到测试探针。在传统的手动接触件保持测试期间，测试技术人员通过要么手动拉动导线要么使用工具推动接触件来测试由电连接器正施加在接触件上的保持力。本文中公开的自动化接触件保持测试方法反复进行后者，即推动接触件。
按照测试设备的一个实施方式，测试方法涉及在测试探针上施加力，该力推动测试探针沿着与***尖端的轴线共线的线性路径在向上方向上(即，在与***冲程期间***尖端的移动方向相反的方向上)移位。在这一点上应该注意，尽管本文中公开的设备实施方式被布置成使得***尖端和测试探针二者沿着大体竖直的线行进，但是本文中公开的方法可以适用于其中***尖端和测试探针二者沿着大体水平的线或竖直与水平之间的任何角度行进的设备。按照所提出的一个实现方式，气动地施加保持测试力。气动施加的力小于指定的接触件保持力。由于在保持测试开始时，测试探针在气动缸的活塞杆伸长时邻接接触件的远端，从而促使测试探针向上移动，接触件和测试探针将协力地向上移动，除非尽管施加了力，保持力也足以保持接触件。如果位置传感器指示测试探针已响应于所施加的力向上移位超过指定距离，则控制器生成电信号。响应于电信号，可以在人机界面上显示错误指示符或消息，从而警告操作者接触件***已失败的事实。在其他实施方式中，错误指示符是“声音”、“嘟嘟声”或发送到与其连接的另一机器的控制消息。
图1是表示用于自动***和测试电接触件的设备10的视图的示意图。观察到，电连接器2被夹持在***尖端41下方的位置。设备10包括以下部件：底座12；外壳14，其附接到底座12；一对升降限制臂16，其以悬臂梁的方式在一端附接到底座12；以及连接器保持器组件18，其保持电连接器2。升降限制臂16限制连接器保持器组件18竖直向上移动，但是连接器保持器组件18在接触件***期间能够水平滑动，从而允许电连接器2中的接触件接纳孔移动成最终与正***的接触件对准。连接器保持器组件18(稍后将参照图6和图16更详细地描述)包括：主板20，其装配在升降限制臂16下方的一对槽中并且能在任何方向上滑动以使连接器2中的特定孔与***尖端41对准(这包括用于将孔与正***的接触件对准的增量调节)；滑板28，其在主板20中形成的线性凹槽中线性地滑动并且电连接器2被夹持于滑板28；以及锁定柄82，其将滑板28相对于主板20锁定就位。
图6是表示连接器保持器组件18的视图的示意图。通过附接(例如，紧固)到主板20并配置为沿着其平行边缘部分覆在线性凹槽上的一对滑动臂24促成滑板28在形成在主板20中的线性凹槽中滑动，由此防止滑板28被向上抬离凹槽。如图6中所见，锁定柄82可旋转地安装到螺栓，该螺栓穿过形成在滑板28中的线性槽22并且螺纹联接到主板20。线性槽22防止在滑板28在线性凹槽中滑动时与螺栓的干涉。连接器保持器组件18还包括夹持件30，夹持件30包括固定地联接到主板20的第一夹爪32和固定地联接到滑板28的第二夹爪34。如图6中所见，电连接器2(带有连接到***一个孔中的接触件的导线6)被夹持在夹爪32和34之间。通过使滑板28朝向电连接器2移动直到第二夹爪34邻接电连接器2的壳体，能调节第二夹爪34的位置。然后，通过转动锁定柄8 2来将滑板28锁定就位，由此牢固地夹持电连接器2的壳体并将壳体保持在相对于主板20的固定位置。
再次参照图1，设备10还包括以下部件：***尖端41，其具有轴线和远端，该远端被配置为接触部分地***电连接器2中的孔中的接触件的一端，同时为末端是接触件的导线提供间隙；以及关联机构(在本文中被称为“***尖端移位组件”)，其用于将***尖端41沿着与***尖端41的轴线共线的第一线性路径(在该示例中，竖直线性路径)移位。***尖端移位组件包括***臂38，***臂38可相对于外壳14竖直移动并且穿过形成在外壳14中的竖直槽伸出。***尖端移位组件还包括：快速释放引脚42，其穿过***臂38的端部中的竖直孔；以及快速释放按钮39，其附接到***臂38并且将快速释放引脚42保持在相对于***臂38的固定竖直位置。***尖端移位组件还包括***尖端保持器40(例如，呈套环的形式)，***尖端保持器40保持***尖端41，使得在***臂38竖直移位期间***尖端41的轴线与电连接器2的壳体的中心线平行。用于驱动***臂38的竖直移位的部件(下面更详细地描述这些部件)被设置在壳体14内部并且在图1中不可见。图1中示出的设备10还包括振动模块44，振动模块44振动地联接到快速释放引脚42。振动模块44被配置为在快速释放引脚42中产生振动。当由设备控制器(图1中未示出)启动时，振动模块44产生振动，这些振动顺着快速释放引脚42传播并致使***尖端41振动。图1中描绘的该组件提供了快速附接和拆卸***尖端41的方法，提供了向***尖端41施加振动力以辅助进行***的能力，并且使***尖端41在被安装之后稍微旋转，以辅助操纵导线6进入***尖端41中。
图2是表示图1中描绘的设备10的视图的示意图，不同之处在于，导线6的端部处的电接触件已被手动地部分***被夹持的电连接器2中的孔中。振动模块44包括夹持在快速释放引脚42上的夹持件44a和安装到夹持件44a的振动电机44b。***尖端41通过***尖端保持器40固定地联接到快速释放引脚42的端部。
电连接器有多种尺寸和配置。本公开涉及接纳多个接触件的多孔电连接器，这些接触件的末端分别有构成线束的多条导线。电连接器组件通常包括插头和插座，插头和插座中的每个包含具有被保持在***件中的孔内的电接触件的电介质***件。组件的后部部分包含密封垫圈，连接到接触件的导线穿过该密封垫圈，并且该密封垫圈密封被包含在***件中的接触件，以防湿气影响。密封垫圈可用于各种电连接器组件中，其中，接触件被保持在电介质***件内，其中，通向所述接触件的导线穿过密封连接器以免湿气影响的垫圈。用于引脚型(即，凸)接触件的连接器组件的一半具有由电介质材料形成的接触件保持***件、被固定在***件的轴向孔内的多个引脚型接触件、界面密封件、前保持环、连接器壳体、保持螺母和后保持螺母，其中，密封垫圈被设置成防止环境中的湿气触及接触件。电介质***件具有与密封垫圈接触的面和相对面，该相对面面对用于引脚型接触件的前面的界面密封件。导线从接触件穿过密封垫圈引出。密封垫圈通常由诸如硅橡胶或氯丁橡胶这样的橡胶型材料形成，具有前面和后面，有多个轴向通道贯穿其中，所述轴向通道与电介质***件的轴向孔协作并对准。每个接触件占据形成在密封垫圈中的单个轴向通道。
图17是表示典型***尖端41的三维视图的示意图。***尖端41具有圆柱形部分41a，圆柱形部分41a由***尖端保持器40(图17中未示出，但参见图2)保持。***尖端41还具有横截面为C形的带槽部分41b。带槽部分41b的半径被选定为装配在电连接器2的孔(图17中未示出，但参见图2)内。***尖端41的带槽部分41b具有C形或半圆形的端面45，端面45在***电连接器2中期间邻接电接触件的一部分。
图18是表示被压入形成在图17中描绘的***尖端41中的凹槽43中的导线6的一部分的侧视图的示意图。导线6的未带套端部部分具有压接在其上的引脚型接触件4a(由金属制成)。引脚型接触件4a包括接触引脚27、锁定突片或肩部25(其将在保持器机构的作用下保持在电连接器2中的孔内)以及压接筒26，压接筒26具有凹口，在凹口处，压接筒26已被压接在导线6的未带套端部部分上。在图18中描绘的示例中，在***尖端41向下运动期间，端面45邻接压接筒26的相对的端面并将引脚型接触件4a推入电连接器2中的孔中。在其他情形下，***尖端41的端面45被配置为接合引脚型接触件4a的锁定突片或肩部25。
图19是表示***形成在刚性前绝缘体8中的孔以及形成在电连接器2的密封垫圈7中的轴向通道11中的典型引脚型接触件4a的剖视图的示意图。密封垫圈7和刚性前绝缘体9二者都被安置在电连接器2的壳体3内。如图19中所见，当引脚型接触件4a处于其最终位置时，引脚型触头4a从刚性前绝缘体8中的孔1中突出。在一些实现方式中，引脚型接触件4a在弹性指状物(图19中未示出)的作用下保持就位，弹性指状物闩锁在引脚型接触件4a的锁定突片或肩部25后方。
图19A是表示组件的在图19中标记为19A的椭圆内的那部分的放大视图的示意图。该组件包括密封垫圈7和刚性前绝缘体9，弹性前绝缘体8被夹在它们之间。密封垫圈7中的轴向通道11与前绝缘体中的孔1对准。每个轴向通道11的内表面具有弹性回旋部5，弹性回旋部5使得能够将密封垫圈7用于一系列线规，使得密封垫圈7可用在各种连接器组件中而不需要每个不同的线规有专用的垫圈，同时确保对接触件进行高效湿气密封。
图20是表示***电连接器2中的插座型接触件4b的剖视图的示意图。在一些实现方式中，用于接纳插座型接触件4b的电连接器具有与图19中所见的部件类似的部件。然而，如图20中所见，插座型接触件4b没有突出到形成在刚性前绝缘体9中的孔1的外部。
图3是表示去除连接器保持器组件18而露出测试探针46(与上方的***尖端41分开大间隙)之后的图1中描绘的设备10的一些部分和用于将测试探针46沿着第二线性路径竖直移位的关联机构(本文中被称为“测试探针移位组件”)的视图的示意图，第二线性路径与***尖端41的轴线共线并且与第一线性路径对准。由可编程的控制器76(参见图13)协调测试探针46和***尖端41的移动。当***尖端41在第一方向上(例如，向下)移位时***尖端41的远端引导***尖端41，并且当测试探针46在与第一方向相反的第二方向上(例如，向上)移位时测试探针46的远端引导测试探针46。测试探针46具有轴线和远端，所述远端被配置为在接触件4a或4b已在***尖端41的作用下进一步***电连接器2中的孔中之后接触接触件4a或4b的另一端的。
测试探针移位组件包括以下部件：可旋转轴52；一对可手动操作的启动杆80，其被固定地安装到轴52的相对端部；小齿轮54，其被固定地安装到轴52并包括多个齿；测试探针支撑架48，其可沿着直线轴承36竖直移动，并且测试探针46被固定地安装到测试探针支撑架48；齿条50，其被附连到测试探针支撑架48并包括多个齿，齿条45上的至少一个齿与小齿轮54上的一对齿相互接合；以及回程块56，其被固定地安装到轴52。齿条50和小齿轮54将轴52的旋转转换成测试探针支撑架48的线性移位。在手动旋转启动杆80期间，轴52发生旋转。因此，通过手动旋转启动杆80，测试探针46可在第二方向上沿着第二线性路径移位。如下所述，测试探针46也能在致使轴52旋转的一对气动缸的作用下上下竖直移位。图4是表示在测试探针46已向上移位之后的图3中描绘的设备的一些部分的视图的示意图。图4示出测试探针46与上方的***尖端41分开小间隙，这与图3相反，图3示出处于较低位置的测试探针46，其中测试探针46与***尖端41分开大间隙。
如图8中最佳所见，设备10还包括角位置传感器78(例如，旋转电位计)，其被配置且被安装用于检测轴52的角位置。由于测试探针46的竖直移位与轴52的旋转程度成正比，因此角位置传感器78输出表示测试探针46相对于底座12的参考系的竖直位置的电信号。角位置传感器78感测测试探针46的位置并将表示测试探针位置的信号输出到用于处理传感器数据的控制器76(参见图13)。
控制器76被配置为致使***尖端移位组件在时间周期的第一部分期间将***尖端41在第一方向上沿着第一线性路径移位，稍后致使测试探针移位组件在时间周期的第二部分期间将测试探针46在第二方向上沿着第二线性路径移位。该设备还被配置为基于从角位置传感器78接收到的轴角位置数据，将显示控制信号输出到指示错误状态或成功保持的人机界面74。响应于从控制器76接收到这样的显示控制信号，人机界面74向操作者显示指示错误状态或成功保持的符号。图5是表示图1中描绘的设备10的人机界面74的视图的示意图。人机界面74的这种实现方式是触摸屏液晶显示装置。
按照图13中描绘的所提出的一个实现方式，***尖端移位组件和测试探针移位组件二者都包括用于在任一方向上驱动相应移位的气动缸58、60、70和72。气动缸连接到电控气动阀66(例如，电磁阀)，电控气动阀66由控制器76选择性地启动，控制器76发送电气阀控制信号以控制气动阀66的状态。当任一气动阀被打开时，来自主空气源的压缩空气被提供到关联的气动缸，从而致使气动缸的活塞杆伸长。
仍然参照图13，***尖端移位组件包括以下附加部件：***缸70(具有连接到活塞杆90的活塞88)，其致使***臂38响应于***缸70的启动而在第一方向上移位，同时***尖端41沿着第一线性路径(在第一方向上)移位；以及第一回程缸72(具有连接到活塞杆94的活塞92)，其致使***臂38响应于第一回程缸72的启动而在第二方向上移位，同时***尖端41沿着第一线性路径(在第二方向上)移位。类似地，测试探针移位组件包括以下附加部件：测试缸58(具有连接到活塞杆86的活塞84)，其致使测试探针支撑架48响应于测试缸58的启动而在第二方向上移位，同时测试探针46沿着第二线性路径(在第二方向上)移位；以及第二回程缸60(具有连接到活塞杆64的活塞62)，其致使测试探针支撑架48响应于第二回程缸60的启动而在第一方向上移位，同时测试探针46沿着第二线性路径(在第一方向上)移位。因此，***尖端41的上下移动是分开的，如测试探针46的上下移动一样。此外，应该注意，测试缸58和测试探针支撑架48被布置成，使得在测试缸58被启动时，测试探针支撑架48与测试缸58的活塞杆86的一端接触并且在与第二方向平行的方向上移位，但是没有附接到测试缸58的活塞杆86的一端。测试探针支撑架48的这种向上竖直移位进而使附连到测试探针支撑架48的测试探针46升高。另外，在测试探针支撑架48已在测试缸58的活塞杆86的一端作用下向上移位之后，固定地安装到轴52的回程块56(在图3、图4和图8中所见)设置在第二回程缸60的活塞杆64的一端的路径中。
图7是表示其中左侧盖敞开而露出外壳14内的压力调节器和线规的图1中描绘的设备的侧视图的示意图。每个气动缸通过相应的气动阀和相应的柔性软管(图中未示出)可操作地联接到压力调节器66。压力调节器66调节(即，降低)经由管道从主空气源(图中未示出)供应的压缩空气的压力。
控制器76还控制振动模块44(参见图1和图7)的启动。控制器76响应于来自角位置传感器78的指示正***的接触件未被完全***的数据而启动振动模块44。更具体地，控制器76被配置为在***尖端41在第一方向上沿着第一线性路径移位期间测试探针46没有在第一方向上沿着第二线性路径移位至少指定距离时启动振动模块44。例如，如果接触件被***正确孔中而没有到达可以通过保持机构(例如，弹簧指状物或保持夹)将接触件保持在孔内所在的位置，则会出现这种情况。
在其他情况下，接触件4a或4b被***错误孔中，而测试探针46被***正确孔中。在这种情况下，当***尖端41在第一方向上移动时，测试探针46不会在第一方向上移动，因为被***尖端41向下推动的接触件没有撞击处于邻近孔中的测试探针46。控制器76被进一步配置为：如果在***尖端41沿着第一线性路径在第一方向上移位期间测试探针46没有沿着第二线性路径在第一方向上移位至少指定距离，则生成错误信号。
如先前提到的，控制器76被配置为致使测试探针移位组件在时间周期的第二部分期间将测试探针46沿着第二线性路径在第二方向上移位，以便测试被***的接触件的保持。在保持测试期间，测试探针移位组件(即，测试缸58)通过施加比指定接触件保持力小的力而迫使测试探针46沿着第二线性路径在第二方向上移位。控制器76被进一步配置为：如果在测试探针46响应于测试缸58施加力而沿着第二线性路径在第二方向上移位超过指定距离，则生成错误信号。向上移位超过指定距离指示引脚型接触件或插座型接触件(其正邻接测试探针46的远端)未被保持在电连接器2中的孔1内。
图21A和图21B是分别表示按照一个实施方式的引脚型测试探针46a(用于***图19中描绘的类型的引脚型接触件4a)的侧视图和端视图的示意图。引脚型测试探针46a具有柄部98和具有平坦端面23的远端96，平坦端面23被设计成邻接并推压引脚型接触件4a的端部。如图21B中所见，引脚型测试探针46a的远端96的直径小于柄部98的直径。
图22A和图22B是分别表示按照一个实施方式的插座型测试探针46b(用于***图20中描绘的类型的插座型接触件4b)的侧视图和端视图的示意图。插座型测试探针46b具有柄部98和具有平坦端面的圆形远端95，平坦端面被设计成部分地***插座型接触件4b的端部中并推压插座型接触件4b的端部。因此，平坦端面是圆形的，其直径小于插座型接触件4b中的开口的直径。
图9是表示其中右侧盖敞开并且连接器保持器组件18被去除的图1中描绘的设备10的一些部分的侧视图的示意图。该视图示出了设置在外壳内的线性导轨68。更具体地，线性导轨68竖直地设置并引导***臂38所附连的***臂移位板75进行竖直移位。该设备还包括直线轴承，直线轴承使得***臂移位板75能够响应于***缸70和第一回程缸72中的一个的启动而沿着导轨68平滑地行进。
位于图9中的线性导轨68的右侧的较小通道是线性移位换能器71，线性移位换能器71直接测量***臂38的竖直位置(高度)。更具体地，线性移位换能器71感测***尖端移位组件的具有相对于***尖端41的固定位置关系的部件(例如，***臂移位板75)的位置，并且将表示***尖端41的位置的信号输出到控制器76。
按照一个实现方式，线性移位换能器71用于解锁***臂38的“保持”功能，解锁是在完整周期结束时发生的。***臂38在周期结束时被升高并保持在那里，直到它被手动抬高到阈值位置上方。由此告诉控制器76致使第一回程缸72降低活塞杆94。这使操作者能够在***尖端41没有妨碍的情况下自由地装载接触件并操纵电连接器2。
线性移位换能器71可用于其他目的。例如，当工具相对于***时间***接触件时，通过留意***臂38的位置，在所提出的一个实现方式中，控制器76被配置为确定接触件是否正粘附并使用该信息来触发警告并同时开启振动***。另一个潜在的使用情况是创建移动与时间的“***曲线图”，该图显示在人机界面74的屏幕上并且被用作用于说明问题***周期的故障排除和反馈机制二者。另外，由线性移位换能器71提供的位置信息使得能够计算移动速度，以便校准机器以实现一致的操作并帮助检测维护问题。
图10是表示处于***尖端41和测试探针46分开大间隙的状态下的用于自动化***和测试电接触件的设备的一些部分的视图的示意图。在该示例中，测试探针是插座型测试探针46b。图10提供了测试探针移位组件的一些部件的更有利的视图，这些部件致使测试探针支撑架48本身响应于第二回程缸60的启动而向下移位。当启动第二回程缸60时，活塞杆64伸长。随着活塞杆64伸长，活塞杆64的端部推压回程块56，由此致使轴52旋转。同样地，固定地安装到轴52的小齿轮54旋转，由此致使齿条50竖直向下移动。附接到测试探针支撑架48的齿条50的这种向下运动使插座型测试探针46b降低。
图11是示出用于将接触件***电连接器中然后进行接触保持测试的方法100的步骤的流程图。角位置传感器78在接触件***和保持测试操作期间的任何时间监测测试探针46的位置。控制器76在这些操作期间接收来自角位置传感器78的反馈，然后将逻辑应用于传感器数据以触发某些动作。例如，控制器76确定是否已发生错误，或者在替代形式中，确定从用比测试探针46施加到接触件上的测试力大的保持力保持被***的接触件的意义上说，***是否成功。
参照图11，方法100包括以下步骤。将电连接器2装载在连接器保持器组件18中(步骤102)。然后，将连接器保持器组件18装载在升降限制臂16下方的槽中(步骤104)。可对主板20的位置进行粗调，使得电连接器2位于***尖端41下方。由操作者将接触件手动******尖端106中(步骤106)。然后，降低***臂38，直到接触件被部分***电连接器2中的选定孔1中(步骤108)。同样，可对主板20的位置进行微调，使得电连接器2中的选定孔1位于***尖端41所承载的接触件的正下方。然后，操作者旋转启动杆80(步骤110)，由此将测试探针46向上移动至起始位置。构成测试探针固定件和致动机构的机械部件提供足够的摩擦力以在工具启动期间将测试探针46的端面23保持在起始位置。该摩擦的主要来源是角位置传感器78(例如，旋转电位计)、轴52的相对端部上的实心衬套以及使得测试探针支撑架48能够竖直移位的直线轴承(图中未示出)。
图12是指示在一个测试周期期间测试探针46的端面23的各个竖直位置A至F的示意图。最下面的水平线表示当(例如，通过启动第二回程缸60)使机器复位时端面23的零位置F。最上面的水平线表示在测试探针46已在测试缸58的作用下竖直向上移位之后的起始位置A。下一条水平线表示与对准检查点对应的竖直位置B(下面更详细地说明)。下一条水平线表示与振动检查点对应的竖直位置C(下面更详细地说明)。下一条水平线表示与***失败点对应的竖直位置D(下面更详细地说明)。虚线水平线表示竖直位置E，竖直位置E对应于完全***的接触件的尖端的位置和测试探针46的邻接端面23的位置。
再次参照图11，在手动旋转启动杆80之后，控制器76接着基于正从角位置传感器78接收到的传感器反馈确定测试探针46的端面23是否处于起始位置A(参见图12)(步骤112)。一方面，如果控制器76在步骤112中确定测试探针46的端面23不处于起始位置A，则不启动自动循环并且由人机界面74显示指示操作者应排除问题然后再次进行尝试的错误消息(步骤114)。另一方面，如果控制器76在步骤112中确定测试探针46的端面23处于起始位置A，则控制器76启动***缸70，致使***臂向下移动，由此将接触件进一步***选定孔1中(步骤116)。
然后，控制器76基于正从角位置传感器78接收到的传感器反馈来确定测试探针46的端面23是否已移动至竖直位置B(参见图12)处的对准检查点下方(步骤118)。另一方面，如果控制器76在步骤118中确定测试探针46的端面23尚未移动至对准检查点下方，则通过启动第一回程缸72使机器复位并且用人机界面74显示向操作者指示接触件和测试探针46未处于同一孔中的错误消息(步骤120)。
另一方面，如果控制器76在步骤118中确定测试探针46的端面23已移动至对准检查点下方，则控制器76基于正从角位置传感器78接收到的传感器反馈确定测试探针46的端面23是否已移动至竖直位置C(参见图12)处的振动检查点下方(步骤122)。另一方面，如果控制器76在步骤122中确定测试探针46的端面23尚未移动至振动检查点下方，则启动振动电机44b(步骤124)并且用人机界面74显示错误消息，警告操作者在振动周期已结束时检查***引脚(步骤126)。
另一方面，如果控制器76在步骤122中确定测试探针46的端面23已移动至振动检查点下方，则控制器76停用***缸70以释放正施加在***尖端41上的向下力，然后通过启动测试缸58以施加将测试探针向上推动的力来启动保持测试(步骤128)，所施加的力小于指定用于接触件的最小保持力。
然后，控制器76基于正从角位置传感器78接收到的传感器反馈来确定测试探针46的端面23是否已从下方移动至竖直位置D(参见图12)处的***失败点的上方(步骤130)。另一方面，如果控制器76在步骤130中确定测试探针46的端面已移动至***失败点上方，则通过启动第一回程缸72使机器复位并且用人机界面74显示向操作者指示***接触件失败的错误消息(步骤132)。另一方面，如果控制器76在步骤130中确定测试探针46的端面尚未移动至***失败点上方，则控制器76指示人机界面74显示指示成功***接触件的消息，在成功***接触件时，保持测试周期自动结束。
图14是表示图1中所见的相同部件的视图的示意图，不同之处在于连接器保持器组件18已被去除。图14中的具有与图1中呈现的参考标号相同的参考标号的元件具有与图1中的对应元件相同的功能，以上已描述了该功能并且这里将不再进行重复。图15是表示示出图14中描绘的设备的一些内部部件的剖视图的示意图，所述内部部件包括呈齿条50和小齿轮54的形式的测试探针齿轮***49。
图16是表示按照替代实施方式的连接器保持器组件18的正视图的示意图。连接器保持器组件18包括夹持件30，夹持件30包括固定地联接到主板20的第一夹爪32和固定地联接到滑板28的第二夹爪34。如图16中所见，电连接器2被夹持在夹爪32和34之间。通过使滑板28朝向电连接器2移动直到第二夹爪34邻接电连接器2的壳体，能调节第二夹爪34的位置。一对滑动臂24附接到主板20，以防止滑板28被向上抬离供滑板28在其中滑动的凹槽。
图23A至图23D是表示在图1中描绘的设备10的人机界面74上显示的相应示例屏幕截图的示意图。图23A示出屏幕截图150，其中，操作者通过触摸名称为“SYSTEM START”的虚拟按钮来启动***。图23B示出主操作屏幕152。并非图23B中示出的所有字段都被同时显示。符号“？”是手动检查接触件的警告。仅在发生了相应事件时才出现警告。旁边的数据仅在数据显示模式下显示。图23C示出引脚/插座选择屏幕154。通过按下主虚拟按钮，操作者可以在选择用于引脚型接触件的程序和选择用于插座型接触件的程序之间进行切换。图23D示出用于调节测试值和错误值的典型维护屏幕156。
虽然已经参照各种实施方式描述了用于在电连接器中进行导电接触件的***和保持测试的设备和方法，但是本领域的技术人员将理解，在不脱离本文中的教导的范围的情况下，可以进行各种改变并且其要素可被等同物取代。另外，在不脱离本发明的范围的情况下，可进行许多修改，以使本文中的教导适于特定情况。因此，权利要求旨在不限于本文中公开的特定实施方式。
计算机数字控制(CNC)是借助计算机执行预编程的机器控制命令序列来实现机器的自动化。本文中描述的方法中的一些步骤可以被编码为在非暂态有形计算机可读存储介质中呈现的可执行指令，非暂态有形计算机可读存储介质包括而不限于存储装置和/或内存装置。这些指令在由CNC控制器执行时致使设备执行本文中描述的方法中的至少一部分。
如本文中使用的，术语“控制器”意指被配置为执行预编程的机器控制命令序列的计算机或处理器，这些机器控制命令用于控制本文中公开的接触件***和保持测试设备的受计算机控制的部件。
以上公开的实施方式使用一个或更多个处理或计算装置。这些装置通常包括处理器、处理装置或诸如通用中央处理单元、微控制器、精简指令集计算机处理器、ASIC、可编程逻辑电路、FGPA、数字信号处理器和/或任何其他电路这样的控制器或能够执行本文中描述的功能的处理装置。本文中描述的方法可被编码为在非暂态有形计算机可读存储介质中呈现的可执行指令，非暂态有形计算机可读存储介质包括而不限于存储装置和/或内存装置。这些指令在由处理装置执行时致使处理装置执行本文中描述的方法中的至少一部分。以上示例仅仅是示例性的，因此并不旨在以任何方式限制术语“处理器”和“计算装置”的定义和/或含义。
条款1.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中和对该接触件进行保持测试的方法，该方法包括以下步骤：
(a)将所述电连接器(2)放置在***尖端(41)下方和测试探针(46)上方；
(b)将所述接触件(4a、4b)联接到所述***尖端；
(c)将所述测试探针朝向所述电连接器移动，直到所述测试探针的端部处于起始位置；
(d)启动第一线性致动器(70)，以通过如下方式来将所述接触件进一步***所述电连接器中的孔中：将所述接触件在与第二方向相反的第一方向上移动足够距离，使得在所述***尖端和所述测试探针处于同一孔中的情况下，所述接触件的端部将接触所述起始位置处的所述测试探针的所述端部并接着将所述测试探针在所述第一方向上背离所述起始位置移位；
(e)使用位置传感器(78)检测步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置是否与所述起始位置分开至少第一距离；并且
(f)如果步骤(e)检测到步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置与所述起始位置分开至少所述第一距离，则启动第二致动器(58)，以通过施加等于或大于最小接触件保持力的力将所述测试探针在所述第二方向上朝向所述起始位置移动。
条款2.根据条款1所述的方法，该方法还包括以下步骤：
(g)使用所述位置传感器检测步骤(f)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置是否与所述起始位置分开不到第二距离，所述第二距离大于所述第一距离；并且
(h)如果所述步骤(g)检测到步骤(f)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置与所述起始位置分开不到所述第二距离，则在人机界面(74)上显示指示接触保持件测试失败的符号。
条款3.根据条款2所述的方法，其中，在计算机(76)的控制下执行至少步骤(d)、步骤(f)。
条款4.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中和对该接触件进行保持测试的方法，该方法包括以下步骤：
手动地将所述接触件(4a、4b)部分地***形成在所述电连接器(2)内的孔(1)中；
通过使用***尖端(41)将所述接触件沿着轴线推动来将所述接触件进一步***所述孔中，所述***尖端与所述轴线对准并且在***期间沿着所述轴线在第一方向上移位；并且
在将所述接触件进一步***所述孔中之后，通过使用测试探针(46)将所述接触件沿着所述轴线推动来对所述电连接器内的所述接触件进行保持测试，所述测试探针与所述轴线对准并且在测试期间在与所述第一方向相反的第二方向上移位。
条款5.根据条款4所述的方法，其中，在将所述接触件进一步***所述孔中期间，所述***尖端与所述接触件的一端接触，并且在保持测试期间，所述测试探针与所述接触件的另一端接触。
条款6.根据条款4或5所述的方法，该方法还包括在将所述接触件进一步***所述孔中之前将所述测试探针沿着所述轴线在所述第二方向上移位，在将所述接触件进一步***所述孔中之前将所述测试探针在所述第二方向上的移位是通过手动施加力来驱动的。
条款7.根据条款6所述的方法，其中，手动施加的所述力致使杆(80)旋转，该方法还包括将所述杆的旋转机械地转换成所述测试探针的移位。
条款8.根据条款6或7所述的方法，该方法还包括：如果在将所述接触件进一步***所述孔中期间所述测试探针没有沿着所述轴线在所述第一方向上移位至少指定距离，则生成电信号。
条款9.根据条款6、7或8所述的方法，该方法还包括：如果在将所述接触件进一步***所述孔中期间所述测试探针没有沿着所述轴线在所述第一方向上移位至少指定距离，则致使所述***尖端振动。
条款10.根据条款6至9中任一项所述的方法，该方法还包括在将所述接触件进一步***所述孔中之后对所述测试探针施加迫使所述测试探针沿着所述轴线在所述第二方向上移位的力，其中，施加的所述力小于指定接触件保持力。
条款11.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中和对该接触件进行保持测试的设备，该设备包括：
连接器保持器(18)，该连接器保持器(18)被配置为保持电连接器(2)；
***尖端(41)，该***尖端(41)被配置为接触被部分***所述电连接器中的孔(1)中的所述接触件(4a、4b)的一端，同时为末端是所述接触件的导线(6)提供间隙；
***尖端移位组件(38、68、75)，该***尖端移位组件(38、68、75)被配置为将所述***尖端沿着第一线性路径在第一方向上移位，以将所述***尖端进一步***所述电连接器中的所述孔中；
测试探针(46)，该测试探针(46)被配置为在所述接触件已被进一步***所述孔中之后接触所述接触件的另一端；以及
测试探针移位组件(48、50、52、54、56、80)，该测试探针移位组件(48、50、52、54、56、80)被配置为将所述测试探针沿着第二线性路径在第二方向上移位，
其中，所述第二方向与所述第一方向相反，并且所述第一线性路径和所述第二线性路径部分交叠。
条款12.根据条件11所述的设备，该设备还包括控制器(76)，所述控制器(76)被配置为致使所述***尖端移位组件在时间周期的第一部分期间将所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位，稍后致使所述测试探针移位组件在所述时间周期的第二部分期间将所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位。
条款13.根据条款12所述的设备，该设备还包括位置传感器(78)，所述位置传感器(78)感测所述测试探针的位置并将表示所述测试探针的位置的信号输出到所述控制器。
条款14.根据条款11、12或13所述的设备，该设备还包括线性移位换能器(71)，所述线性移位换能器(71)感测所述***尖端移位组件的具有相对于所述***尖端的固定位置关系的部件的位置并将表示所述***尖端的所述位置的信号输出到所述控制器。
条款15.根据条款14所述的设备，其中，所述控制器被进一步配置为：如果在所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位期间所述测试探针没有沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位至少指定距离，则生成错误信号。
条款16.根据条款14或15所述的设备，该设备还包括被安装到所述***尖端移位组件的振动器(44)，其中，所述控制器被进一步配置为：如果在所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位期间所述测试探针没有沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位至少指定距离，则启动所述振动器。
条款17.根据条款14、15或16所述的设备，其中，所述测试探针移位组件被配置为通过施加比指定接触件保持力小的力来迫使所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位，并且所述控制器被进一步配置为：如果在所述测试探针响应于所述测试探针移位组件施加力而沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位超过指定距离，则生成错误信号。
条款18.根据条款14至17中任一项所述的设备，其中，所述***尖端移位组件包括：***缸(70)，所述***缸(70)致使所述***尖端响应于所述***缸的启动而沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位；以及第一回程缸(72)，所述第一回程缸(72)致使所述***尖端响应于所述第一回程缸的启动而沿着所述第一线性路径在所述第二方向上移位。
条款19.根据条款11所述的设备，其中，所述测试探针移位组件包括：测试缸(58)，所述测试缸(58)致使所述测试探针响应于所述测试缸的启动而沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位；以及第二回程缸(60)，所述第二回程缸(60)致使所述测试探针响应于所述第二回程缸的启动而沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位。
条款20.根据条款19所述的设备，其中，所述测试探针移位组件还包括：
可旋转轴(52)；
可手动操作的启动杆(80)，该启动杆(80)被固定地安装到所述可旋转轴的一端；
小齿轮(54)，该小齿轮(54)被固定地安装到所述可旋转轴并包括多个齿；
测试探针支撑架(48)，所述测试探针被固定地安装至该测试探针支撑架(48)；以及
齿条(50)，该齿条(50)被附连到所述测试探针支撑架并包括多个齿，所述齿条上的至少一个齿与所述小齿轮上的一对齿相互接合，
其中，所述测试缸和所述测试探针支撑架被布置成使得在所述测试缸被启动时，所述测试探针支撑架与所述测试缸的活塞杆(86)的一端接触并且在与所述第二方向平行的方向上移位，但是没有附接到所述测试缸的所述活塞杆的所述一端。
条款21.根据条款20所述的设备，其中，所述测试探针移位组件还包括回程块(56)，所述回程块(56)被固定地安装到所述可旋转轴并在所述测试探针支撑架已在所述测试缸的所述活塞杆的所述一端的作用下移位之后设置在所述第二回程缸的活塞杆的一端的路径中。
条款22.根据条款21所述的设备，其中，在所述测试缸未活动时，通过手动旋转所述启动杆，能将所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位。
条款23.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中的孔(1)中的方法，该方法包括以下步骤：
(a)将所述电连接器(2)放置在***尖端(41)下方和测试探针(46)上方；
(b)将所述接触件(4a、4b)联接到所述***尖端；
(c)将所述测试探针朝向所述电连接器移动，直到所述测试探针的端部(23)处于起始位置；
(d)移动所述***尖端，以将所述接触件进一步***所述电连接器中的所述孔中；
(e)使用位置传感器(78)检测步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置是否与所述起始位置分开至少指定距离；以及
(f)如果步骤(e)检测到步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置没有与所述起始位置分开至少所述指定距离，则在人机界面(74)上显示指示所述接触件和所述测试探针没有处于同一孔中的符号。
下文阐述的方法权利要求书不应该被理解为需要本文中阐述的步骤按字母顺序(权利要求书中的任何字母排序仅仅是出于应用先前阐述的步骤的目的而使用的)或者按阐述它们的顺序来执行，除非权利要求的语言明确地指明或阐述了指示这些步骤中的一些或全部的特定执行顺序的条件。方法权利要求也不应该被解释为排除了同时或交替执行的两个或更多个步骤的任何部分，除非权利要求的语言明确规定排除了此解释的情况。

Claims (15)

1.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中和对该接触件进行保持测试的方法，该方法包括以下步骤：
(a)将所述电连接器(2)放置在***尖端(41)下方和测试探针(46)上方；
(b)将所述接触件(4a、4b)联接到所述***尖端；
(c)将所述测试探针朝向所述电连接器移动，直到所述测试探针的端部处于起始位置；
(d)启动第一线性致动器(70)，以通过如下方式来将所述接触件进一步***所述电连接器中的孔中：将所述接触件在与第二方向相反的第一方向上移动足够距离，使得在所述***尖端和所述测试探针处于同一孔中的情况下，所述接触件的端部会接触所述起始位置处的所述测试探针的所述端部并接着将所述测试探针在所述第一方向上背离所述起始位置移位；
(e)使用位置传感器(78)检测步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置是否与所述起始位置分开至少第一距离；并且
(f)如果步骤(e)检测到步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置与所述起始位置分开至少所述第一距离，则启动第二致动器(58)，以通过施加等于或大于最小接触件保持力的力将所述测试探针在所述第二方向上朝向所述起始位置移动。
2.根据权利要求1所述的方法，该方法还包括以下步骤：
(g)使用所述位置传感器检测步骤(f)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置是否与所述起始位置分开不到第二距离，所述第二距离大于所述第一距离；并且
(h)如果步骤(g)检测到步骤(f)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置与所述起始位置分开不到所述第二距离，则在人机界面(74)上显示指示接触件保持测试失败的符号。
3.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中和对该接触件进行保持测试的方法，该方法包括以下步骤：
手动地将所述接触件(4a、4b)部分地***形成在所述电连接器(2)内的孔(1)中；
通过使用***尖端(41)将所述接触件沿着轴线推动来将所述接触件进一步***所述孔中，所述***尖端与所述轴线对准并且在***期间沿着所述轴线在第一方向上移位；并且
在将所述接触件进一步***所述孔中之后，通过使用测试探针(46)将所述接触件沿着所述轴线推动来对所述电连接器内的所述接触件进行保持测试，所述测试探针与所述轴线对准并且在测试期间在与所述第一方向相反的第二方向上移位。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，在将所述接触件进一步***所述孔中期间，所述***尖端与所述接触件的一端接触，并且在保持测试期间，所述测试探针与所述接触件的另一端接触。
5.根据权利要求3或4所述的方法，该方法还包括：在将所述接触件进一步***所述孔中之前将所述测试探针沿着所述轴线在所述第二方向上移位，在将所述接触件进一步***所述孔中之前将所述测试探针在所述第二方向上移位是通过手动施加力来驱动的。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，手动施加的所述力致使杆(80)旋转，该方法还包括将所述杆的旋转机械地转换成所述测试探针的移位。
7.根据权利要求4、5或6所述的方法，该方法还包括：如果在将所述接触件进一步***所述孔中期间所述测试探针没有沿着所述轴线在所述第一方向上移位至少指定距离，则生成电信号。
8.根据权利要求4、5或6所述的方法，该方法还包括：如果在将所述接触件进一步***所述孔中期间所述测试探针没有沿着所述轴线在所述第一方向上移位至少指定距离，则致使所述***尖端振动。
9.根据权利要求6所述的方法，该方法还包括：在将所述接触件进一步***所述孔中之后对所述测试探针施加迫使所述测试探针沿着所述轴线在所述第二方向上移位的力，其中，施加的所述力小于指定接触件保持力。
10.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中和对该接触件进行保持测试的设备，该设备包括：
连接器保持器(18)，该连接器保持器(18)被配置为保持所述电连接器(2)；
***尖端(41)，该***尖端(41)被配置为接触被部分***所述电连接器中的孔(1)中的所述接触件(4a、4b)的一端，同时为末端是所述接触件的导线(6)提供间隙；
***尖端移位组件(38、68、75)，该***尖端移位组件(38、68、75)被配置为将所述***尖端沿着第一线性路径在第一方向上移位，以将所述***尖端进一步***所述电连接器中的所述孔中；
测试探针(46)，该测试探针(46)被配置为在所述接触件已被进一步***所述孔中之后接触所述接触件的另一端；以及
测试探针移位组件(48、50、52、54、56、80)，该测试探针移位组件(48、50、52、54、56、80)被配置为将所述测试探针沿着第二线性路径在第二方向上移位，
其中，所述第二方向与所述第一方向相反，并且所述第一线性路径和所述第二线性路径部分交叠。
11.根据权利要求10所述的设备，该设备还包括控制器(76)，所述控制器(76)被配置为致使所述***尖端移位组件在时间周期的第一部分期间将所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位，然后致使所述测试探针移位组件在所述时间周期的第二部分期间将所述测试探针沿着所述第二线性路径在所述第二方向上移位。
12.根据权利要求11所述的设备，该设备还包括位置传感器(78)，所述位置传感器(78)感测所述测试探针的位置并将表示所述测试探针的所述位置的信号输出到所述控制器。
13.根据权利要求11所述的设备，该设备还包括线性移位换能器(71)，所述线性移位换能器(71)感测所述***尖端移位组件的具有相对于所述***尖端的固定位置关系的部件的位置并将表示所述***尖端的所述位置的信号输出到所述控制器。
14.根据权利要求11所述的设备，其中，所述控制器被进一步配置为：如果在所述***尖端沿着所述第一线性路径在所述第一方向上移位期间所述测试探针没有沿着所述第二线性路径在所述第一方向上移位至少指定距离，则生成错误信号。
15.一种用于将导电的接触件(4a、4b)***电连接器(2)中的孔(1)中的方法，该方法包括以下步骤：
(a)将所述电连接器(2)放置在***尖端(41)下方和测试探针(46)上方；
(b)将所述接触件(4a、4b)联接到所述***尖端；
(c)将所述测试探针朝向所述电连接器移动，直到所述测试探针的端部(23)处于起始位置；
(d)移动所述***尖端，以将所述接触件进一步***所述电连接器中的所述孔中；
(e)使用位置传感器(78)检测步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的位置是否与所述起始位置分开至少指定距离；并且
(f)如果步骤(e)检测到步骤(d)结束时所述测试探针的所述端部的所述位置没有与所述起始位置分开至少所述指定距离，则在人机界面(74)上显示指示所述接触件和所述测试探针没有处于同一孔中的符号。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11128086B2 (en) * 2018-05-11 2021-09-21 The Boeing Company Apparatus for contact insertion and retention testing
EP3757536A1 (de) * 2019-06-25 2020-12-30 Kistler Holding AG Kontaktkraftmessvorrichtung und verfahren zum messen einer kontaktkraft mit einer solchen kontaktkraftmessvorrichtung
CN113588015B (zh) * 2021-09-29 2022-02-15 常州诺德电子股份有限公司 连接器端子装配防退针工装和方法
CN116298431B (zh) * 2023-05-19 2023-08-04 山东天鲲电力科技有限公司 一种sf6充气柜测试用压力可控式检测装置
CN117192190B (zh) * 2023-11-08 2024-01-12 深圳市力容电子有限公司 一种电容器电压检测设备和检测方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2731301A1 (fr) * 1995-03-03 1996-09-06 Amp France Machine pour inserer des bornes de conducteurs dans des boitiers de connecteurs
JP2004093192A (ja) * 2002-08-29 2004-03-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 測定用プローブ及び光学式測定装置
CN101656365A (zh) * 2009-08-28 2010-02-24 中航光电科技股份有限公司 一种方便测试的电连接器
CN102544797A (zh) * 2010-10-20 2012-07-04 日本航空电子工业株式会社 设有与接触件的梁部分一体的致动器的板连接器
CN106410570A (zh) * 2016-11-11 2017-02-15 深圳市顺科线束设备有限公司 连接器端子自动***胶壳设备及其加工方法
CN106468726A (zh) * 2015-08-19 2017-03-01 特克特朗尼克公司 具有可调节测试点接触的测试和测量探针
CN107069382A (zh) * 2016-01-29 2017-08-18 波音公司 用于自动化线***的振动托板***

Family Cites Families (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2292236A (en) * 1941-01-14 1942-08-04 Carl P Martin Prod
US2535988A (en) * 1949-10-18 1950-12-26 Jacob B Lew Tension testing apparatus for electric sockets and wire connections
JPS5318545Y2 (zh) * 1972-03-22 1978-05-17
US4241967A (en) 1979-08-31 1980-12-30 The Bendix Corporation Electrical connector assembly sealing grommet
JPH0620314Y2 (ja) 1987-08-10 1994-05-25 住友電装株式会社 端子挿入検査器
US5099572A (en) 1989-11-06 1992-03-31 The Boeing Company Method of assembling an electrical connector assembly
US4981446A (en) 1989-11-06 1991-01-01 The Boeing Company Modular, circular, environment resistant electrical connector assembly
US5183413A (en) 1989-12-21 1993-02-02 The Boeing Company Modular, circular, environment resistant electrical connector assembly having retention clips for manually or automatically loading of electrical contacts
JP2507480Y2 (ja) * 1991-07-23 1996-08-14 日本航空電子工業株式会社 コンタクト挿入装置
JP2575406Y2 (ja) * 1993-08-24 1998-06-25 住友電装株式会社 コネクタ検査装置
JP2797928B2 (ja) * 1993-10-15 1998-09-17 住友電装株式会社 コネクタ検査装置
US5614820A (en) * 1994-03-10 1997-03-25 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Connector examination device for determining a connection in a connector
JPH07333283A (ja) * 1994-06-13 1995-12-22 Sumitomo Wiring Syst Ltd 防水型コネクタの検査装置
JP3048116B2 (ja) * 1995-04-13 2000-06-05 矢崎総業株式会社 コネクタ端子検査器
US5989065A (en) 1995-05-05 1999-11-23 The Boeing Company High performance Mil-C-26500
US6048229A (en) 1995-05-05 2000-04-11 The Boeing Company Environmentally resistant EMI rectangular connector having modular and bayonet coupling property
JP3247031B2 (ja) * 1995-06-16 2002-01-15 矢崎総業株式会社 コネクタ試験器
JP3161351B2 (ja) * 1997-02-24 2001-04-25 住友電装株式会社 オートロック式導通検査ユニット
KR100277728B1 (ko) * 1997-03-13 2001-01-15 윤종용 인쇄회로기판 검사장치
US6359452B1 (en) * 1998-07-22 2002-03-19 Nortel Networks Limited Method and apparatus for testing an electronic assembly
DE60014679T2 (de) * 1999-07-28 2005-11-17 Sumitomo Wiring Systems, Ltd., Yokkaichi Inspektionsapparat und Inspektionsverfahren für die Drahtmontage
JP2002008762A (ja) * 2000-06-26 2002-01-11 Smk Corp 電源接続用コネクタ
US6731118B2 (en) * 2001-06-07 2004-05-04 Sumitomo Wiring System Ltd. Connector inspection apparatus
JP3750649B2 (ja) 2001-12-25 2006-03-01 住友電気工業株式会社 光通信装置
US7342402B2 (en) * 2003-04-10 2008-03-11 Formfactor, Inc. Method of probing a device using captured image of probe structure in which probe tips comprise alignment features
US7511505B1 (en) * 2003-12-17 2009-03-31 Heatcraft Refrigeration Products Llc Centralized connector module having component diagnostic capability, refrigeration unit incorporating the same and methods of assembling and troubleshooting a refrigeration unit
US7301356B2 (en) * 2004-10-28 2007-11-27 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Support for a receptacle block of a unit under test
US7128618B1 (en) * 2005-06-09 2006-10-31 Yazaki North America, Inc. Connector check fixture
KR100695816B1 (ko) * 2005-07-29 2007-03-19 삼성전자주식회사 이디에스 설비의 포고 핀 검사 장치
US7698809B2 (en) * 2006-05-12 2010-04-20 Tyco Electronics Corporation Apparatus and method for detecting a location of conductive pins with respect to a circuit board
US8375804B2 (en) * 2009-05-15 2013-02-19 VISWELL Technology Co., Ltd. Apparatus for testing bonding strength of electrical connections and frictionless calibration device for the same
US8096038B2 (en) 2007-05-11 2012-01-17 The Boeing Company Robotic end effector and clamping method
JP2009128216A (ja) * 2007-11-26 2009-06-11 Yazaki Corp 導通検査治具、該導通検査治具を備えた導通検査装置、及び導通検査方法
US8099857B2 (en) * 2008-02-09 2012-01-24 Cirris Systems Corporation Apparatus for electrical pin installation and retention confirmation
US7819035B2 (en) * 2008-04-14 2010-10-26 Ge Inspection Technologies, Lp Detachable, quick disconnect system for nondestructive testing components
DE102008048081B4 (de) * 2008-09-19 2015-06-18 Cascade Microtech, Inc. Verfahren zur Prüfung elektronischer Bauelemente einer Wiederholstruktur unter definierten thermischen Bedingungen
US8604801B2 (en) * 2009-04-21 2013-12-10 General Instrument Corporation Connector fitting test tool
JP5326893B2 (ja) 2009-07-15 2013-10-30 住友電装株式会社 端子挿入装置
JP5566212B2 (ja) * 2010-07-20 2014-08-06 矢崎総業株式会社 導通検査治具
US9395400B1 (en) * 2013-03-11 2016-07-19 Amazon Technologies, Inc. Test fixture to test device connectors
US9300104B1 (en) 2013-03-20 2016-03-29 The Boeing Company Electrical contact insertion tool
US9263840B1 (en) * 2013-03-20 2016-02-16 The Boeing Company Self-monitoring electrical contact insertion tool
JP2015053207A (ja) * 2013-09-09 2015-03-19 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 レバー式電気コネクタ、及び、嵌合システム
DE102013221996A1 (de) 2013-10-29 2015-05-21 Leoni Bordnetz-Systeme Gmbh Prüfvorrichtung sowie Verfahren zur Überprüfung der positionsrichtigen Belegung eines Kontaktträgers mit elektrischen Kontaktelementen
US9863996B2 (en) * 2013-12-12 2018-01-09 Carlos Gutierrez Martinez Apparatus and process for testing and improving electrical and/or mechanical characteristics of an electrical connection
US10082447B2 (en) * 2016-03-11 2018-09-25 The Boeing Company System and method to test a contact of a connector
US11128086B2 (en) * 2018-05-11 2021-09-21 The Boeing Company Apparatus for contact insertion and retention testing

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2731301A1 (fr) * 1995-03-03 1996-09-06 Amp France Machine pour inserer des bornes de conducteurs dans des boitiers de connecteurs
JP2004093192A (ja) * 2002-08-29 2004-03-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 測定用プローブ及び光学式測定装置
CN101656365A (zh) * 2009-08-28 2010-02-24 中航光电科技股份有限公司 一种方便测试的电连接器
CN102544797A (zh) * 2010-10-20 2012-07-04 日本航空电子工业株式会社 设有与接触件的梁部分一体的致动器的板连接器
CN106468726A (zh) * 2015-08-19 2017-03-01 特克特朗尼克公司 具有可调节测试点接触的测试和测量探针
CN107069382A (zh) * 2016-01-29 2017-08-18 波音公司 用于自动化线***的振动托板***
CN106410570A (zh) * 2016-11-11 2017-02-15 深圳市顺科线束设备有限公司 连接器端子自动***胶壳设备及其加工方法

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