CN101211297A - 自动分配测试机台各基座ip地址的方法及该机台 - Google Patents

Abstract

一种自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法及应用该方法的测试机台，测试机台即可依照此方法自动分配IP地址给各个分别的测试基座，其中各所述测试基座分别包括一供置放一待测电路组件/装置的测试电路板；一装设于该测试电路板且储存有一内码的网络接口装置；及一连接该测试电路板的记忆装置；藉此该测试机台可统一控制各测试基座，以避免IP地址被重复分配而造成人力的浪费，以及生产线因而停工造成的损失，本发明提供的方法及应用本方法的测试机台能有效解决上述技术问题。

Description

自动分配测试机台各基座IP地址的方法及该机台

技术领域：

本发明涉及一种分配IP地址的方法，尤其是一种自动分配测试机台的各测试基座IP地址的方法，及应用该方法的测试机台。

背景技术：

集成电路(IC)组件已经成为几乎所有电子设备中不可或缺的核心，IC的可靠度，也无疑成为决定电子设备可靠度的极重要环节。

目前用来测试IC的自动化测试机台，大致可分为由测试基座提供仿真信号，撷取各输出引脚输出信号的模拟测试；以及提供实际主机板与周边，空出待测IC位置，将待测IC置入实际使用环境中运作的实境测试。

模拟测试虽可具体获得被测IC完整的电气特性，但对于每一不同的IC，都需有针对性地撰写对应测试软件，设计提供仿真信号的硬件架构，不仅需耗费大量资源除错才能实际使用，而且当待测IC更新设计时，还需耐心等候测试软件与硬件臻于完善，所以建立测试环境的成本相当高，且无法立即跟随新产品问世而对应推出测试设备，通常会滞后一段时间。

实境测试恰恰相反，由于并不是以获得待测IC的完整电气特性为目的，因此无需获得完备的数据，而是在完全符合使用环境的测试环境中，单独留下待测IC的空缺，让受测IC填补受测位置，并以实际机台按照使用状态进行测试，虽然每次测试所需花费时间稍长，但可轻易获得该待测IC在实际使用环境下的反应状态，并得知该待测IC是否可供实际装机。

若所欲量测的IC为中央处理器，上述实境测试的测试电路板即为主机板，若所测IC为显示卡用的IC，即可以显示卡作为测试电路板，同理，根据实际需要也可采用网卡、PDA或手机的主板等作为测试电路板，这些产品皆为市面上常见产品，因此实境测试的环境营造没有任何困难。

如图1、2所示，以例如一中央控制模块90控制六组测试基座92为例，各测试基座92各分别包括一主机板920、一硬盘922、一网卡924和一连接于主机板的连接器926，测试程序储存于硬盘922中，中央控制模块90与各基座92间的信号则经由网卡924传输至主机板920，以控制各测试基座92，并获得来自各测试基座92的测试结果，据此判断受测IC是否合格。这种测试方法存在的缺点是：

一方面，每次启动生产线时，操作人员均需由中央控制模块90设定各测试基座92状态参数，更换生产线时也得如此，这样分别设定每一设备的参数、更新硬盘922的内容，无疑造成管理上的困难，还使测试效率难以提高。

另一方面，在频繁测试的开关机流程后，各测试基座92的硬盘922易于出现问题甚至损坏，无论是操作人员顺手将两测试基座92的硬盘922对调，还是更新损坏的硬盘922，都需要更新硬盘922的内容，稍有不慎，将造成测试程序与被测产品不一致或不对应的状况，影响更新后的测试结果正确性。若不慎将合格产品误测为不合格产品，损失的仅仅是一颗IC；反之，若误将不合格IC测为合格，安装于实际使用环境，无疑将损及电子设备整体的可靠性，不仅给后续的使用者造成诸多困扰，而且还会损害电子设备制造商的信誉并给其带来不必要的经济损失。

且如上述，由于工厂中生产线众多，在单一产品测试完毕后，也可能更换生产线上的测试产品；每次更换，操作人员又需逐一设定更改每一测试基座数据，一旦遗漏，也会造成上述不对应问题。况且，每位操作人员需同时关注多个(而不是一个)机台，更使得发生问题的机率以等比级数倍增。

若能自动化分配IP网址而进行测试，不仅降低测试发生错误的成本、提高测试精度与效率，还能有效增加测试机台的市场接受度，也增加使用此种机台的经济效益。

发明内容：

因此，本发明要解决的技术问题之一是，提供一种降低测试成本的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法。

本发明要解决的另一技术问题是，提供一种大幅减少人为处理疏失的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法。

本发明要解决的再一技术问题是，提供一种测试精度与效率大大提高的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法。

本发明要解决的又一技术问题是，提供一种可自动分配测试机台各测试基座IP地址的测试机台。

按照本发明提供的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法，供分辨多个供检测多个同型号待测电路组件/装置在一预定电路环境下的电气特性的测试基座，其中各该测试基座分别包括一供置放一待测电路组件/装置的测试电路板；一装设于该测试电路板且储存有一内码的网络接口装置；及一连接该测试电路板的记忆装置；该方法包括下列步骤：

a)单独致能其中一个所述测试基座，激活该测试基座的测试电路板、记忆装置及网络接口装置；

b)接收来自所述网络接口装置的请求，并读取其内码；

c)记忆所述内码，并分配一IP地址供该测试基座的所述记忆装置储存；及

d)停止致能该已分配IP地址的测试基座，并致能另一尚未分配IP地址的测试基座，其中所有分配IP地址不可重复，且重复上述步骤至所述测试基座均被分配有IP地址，藉此，该机台可清楚分辨各所述测试基座。

按照本发明提供的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法，还具有如下附属技术特征：

步骤d)还包括该机台中的一控制装置检验所有待测试基座是否均已被分配IP地址的次步骤。

在所述步骤b)及c)间，还包括一分析确认所述测试基座是否已经被分配IP地址的步骤e)，且当所述基座已被分配IP地址时，将该已被分配的IP地址再次分配。

按照本发明提供的测试机台，供检测多个同型号待测电路组件/装置在一预定电路环境下的电气特性，该机台包括：

多个测试基座，各所述测试基座分别包括：一用于置放一所述待测电路组件/装置的测试电路板；一装设于所述测试电路板、且储存有一内码的网络接口装置和一连接所述测试电路板的记忆装置；及

一连接、致能并控制各所述测试基座、供接收所述待测电路组件/装置电气特性、自动分配各测试基座IP地址的控制装置。

本发明通过测试机台统一控制各测试基座并分配各个不同的IP地址，无需人工分配，不仅降低了人力成本，而且减少人为操作疏失而产生的风险以及损失，提高检测效率和精度。

附图说明：

图1是现有室温环境自动化IC测试机台立体示意图，说明IC供应/输出装置与基座的关系；

图2是测试基座的示意图；

图3是本发明IC测试机台的结构方框示意图；

图4是本发明自动分配测试机台各测试基座IP地址方法优选实施例的流程图。

【主要组件符号说明】

1…控制装置              224…网络接口装置

21～26、92…基座         226、926…连接器

31～39…步骤             90…中央控制模块

220…电路板              920…主机板

222、922…硬盘           924…网卡

具体实施方式：

有关本发明的前述及其它技术内容、特点与功效，在以下配合附图给出的优选实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。

作为本发明的一种优选实施例，如图3所示，测试机台1包括一控制装置1、六组基座21、22、23、24、25和26。尽管本实施例的测试机台设置有六组基座，但并不限于此。

由于各基座结构相同，为简要起见，此处仅以测试基座22作为例予以说明。基座22包括：设置有连接器226供置放待测IC的测试电路板220、储存相关执行软件并连接该测试电路板作为记忆装置的硬盘222和内置于测试电路板220且储存有一内码的网络接口装置224。控制装置1与基座22电连接，控制测试电路板220的启动和关闭，并经由网络接口装置224进行与基座22的信息交流。

当测试机台开机或更换生产条件时，如图4所示，步骤31测试机台的控制装置1先致能例如未被分配IP地址的测试基座22，此时被致能的测试基座22于步骤32激活测试电路板220、记忆装置222及网络接口装置(即网络适配卡)224；被激活的网络接口装置224于步骤33将其内码传送给控制装置1，并向测试机台的控制装置1请求IP地址。

当测试机台的控制装置1收到IP地址的请求时，会先于步骤34分辨具有该内码的网络接口装置224是否已被分配IP地址，若为已分配IP地址的内码，则会于步骤38将原先已分配的IP地址再次分配，若为未分配IP地址的内码，则于步骤35由测试机台的控制装置1记忆该内码，并分配一IP地址供该测试基座22的记忆装置222储存，当该记忆装置222将分配的IP地址储存完毕后，再于步骤36由控制装置1停止致能该已分配IP地址的测试基座22。

步骤37时，测试机台检验所有待测试基座是否均已被分配IP地址完毕，若未分配完毕，则针对尚未分配IP地址的测试基座重复步骤31至步骤36执行IP地址的分配，直到所有待测试基座均被分配好IP地址，则至步骤39结束分配IP地址的动作。

依照上述的方法测试机台便可将IP地址自动分配给各个测试基座21、22、23、24、25和26，因为此分配方法完全自动化，可无需人力分配，不仅降低人力成本，而且还能大幅降低人为疏失的发生机率，进而减低生产线停摆的损失，更能有效提高测试的精度与效率，因此藉由本发明完全能解决本发明所欲解决的技术问题，达到本发明的技术效果。

上述优选实施例仅供说明本发明之用，而并非对本发明的限制。本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内指引下，还可做出各种变形和变换，因此所有等同技术方案皆属于本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法，供分辨多个用于检测多个同型号待测电路组件/装置在一预定电路环境下的电气特性的测试基座，其中各所述测试基座分别包括一供置放一待测电路组件/装置的测试电路板；一装设于该测试电路板且储存有一内码的网络接口装置；及一连接所述测试电路板的记忆装置；该方法包括下列步骤：

a)单独致能其中一个所述测试基座，激活该测试基座的测试电路板、记忆装置及网络接口装置；

b)接收来自所述网络接口装置的请求，并读取其内码；

c)记忆所述内码，并分配一IP地址供该测试基座的所述记忆装置储存；及

d)停止致能该已分配IP地址的测试基座，并致能另一尚未分配IP地址的测试基座，其中所有分配IP地址不可重复，且重复上述步骤至所述测试基座均被分配有IP地址，藉此，该机台可清楚分辨各所述测试基座。

2.根据权利要求1所述的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法，其特征在于：步骤d)还包括该机台中的一控制装置检验所有待测试基座是否均已被分配IP地址的次步骤。

3.根据权利要求1所述的自动分配测试机台各测试基座IP地址的方法，其特征在于：在所述步骤b)及c)间，还包括一分析确认所述测试基座是否已经被分配IP地址的步骤e)，且当所述基座已被分配IP地址时，将该已被分配的IP地址再次分配。

4.一种测试机台，供检测多个同型号待测电路组件/装置在一预定电路环境下的电气特性，该机台包括：

多个测试基座，各所述测试基座分别包括；

一用于置放一所述待测电路组件/装置的测试电路板；

一装设于所述测试电路板、且储存有一内码的网络接口装置；及

一连接所述测试电路板的记忆装置；及

一连接、致能并控制各所述测试基座、供接收所述待测电路组件/装置电气特性、自动分配各测试基座IP地址的控制装置。

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