CN101471977A - 智能手机的键盘测试***及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种智能手机的键盘测试***及其测试方法，该智能手机的键盘测试***包括：一电脑；通过异步串行接口与该电脑连接的测试板和通过异步串行接口连接测试工装装配的手机主板；手机主板上的键盘接口通过测试工装连接至测试板上的复数个模拟开关；测试板上的ARM通过I2C总线与该测试板上的复数个模拟开关相连。本发明智能手机的键盘测试***及其测试方法采用电脑在手机主板表面贴装技术(SMT)后对智能手机的键盘进行测试，可以为工厂生产工人提供简单的操作，提供简单的判断依据，就能得到正确的检测结果，可以降低生产人数，降低生产成本，可以提高生产效率，提高产品质量。

Description

智能手机的键盘测试***及其测试方法
技术领域
本发明涉及一种智能手机的键盘测试***及其测试方法，特别涉及在手机主板表面贴装技术(SMT)后对智能手机的键盘测试***及其测试方法。
背景技术
目前在手机激烈的竞争市场中，要求快速的响应客户需求，除了要在产品的性价比、外观等方面的竞争、还有供货周期的压力，在保证生产产品质量的前提下，尽可能地要提高日产能。提高日产能就必须有一个高效率的测试方法。一要智能化；二要高效率化；三要操作简单化。目前有的大规模产量的手机厂家还在使用人工按键操作，通过手机显示屏是否有正确显示判断的方法来检测。耗时耗力，不但生产成本高，要求多工位，及生产效率低，测试单台手机主板时间长，而且有人为误操作、少操作等缺点，难以保证批量生产时产品质量和产品的一致性。
在手机工厂生产线中，提倡尽量少的人操作，多一些智能设备的操作，如通过电脑软件、相配套测试硬件及测试工装来检测被测试的手机主板，提供简单的操作，提供简单的判断依据，就能得到正确的检测结果。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种智能手机的键盘测试***及其测试方法，该智能手机的键盘测试***及其测试方法测试质量高，误差小。
为达到上述目的，本发明提供一种智能手机的键盘测试***，其包括：一电脑；通过异步串行接口与该电脑连接的测试板；通过异步串行接口连接测试工装装配的手机主板；手机主板上的键盘接口通过测试工装连接至测试板上的复数个模拟开关；测试板上的ARM通过I2C总线与该测试板上的复数个模拟开关相连.
优选地，所述电脑上安装有一测试界面软件。
优选地，所述测试板包括ARM芯片、RS232电平转换芯片、模拟开关、电源部分。
优选地，所述测试工装是为安装被测试手机主板，并提供被测试接口。
本发明的另一技术方案是提供一种智能手机的测试方法，其实质性特点在于，其包括以下步骤：
步骤1：电脑发按键命令至测试板中的ARM芯片要求打开一模拟开关并要求闭合对应的模拟开关，即打开一按键；
步骤2：电脑发按键命令至手机主板，并通知打开该按键；
步骤3：手机主板收到按键命令后，运行键盘测试模式，等待按键中断；
步骤4：测试板中的ARM芯片接受到命令后，通过两条I2C总线选择地址及相应闭合模拟开关；
步骤5：手机主板接收到按键中断，跳到键盘中断服务程序，并启动按键扫描，扫描程序会判断是否有按键按下，扫描是哪个按键；如果键值是是按键信息，并与2条已知命令信息比较，如果相同，上报给电脑“OK”，否则为“FAIL”；
步骤6：电脑发命令至测试板中的ARM芯片，要求关闭一模拟开关、打开对应模拟开关；
步骤7：电脑发按键弹起命令至手机主板；
步骤8：测试板中的ARM芯片接受到命令后，通过I2C总线选择地址及相应打开模拟开关，表明本次按键操作结束；
步骤9：手机主板接受到按键弹起命令后，认为本次按键操作结束，并上报电脑按键弹起应答，即上报给电脑“OK”，否则为“FAIL”；
步骤10：电脑根据步骤5和步骤9中的手机主板上报信息，如果均为“OK”，则显示打印显示对应按键，否则为“FAIL”；
步骤11：重复1-10步骤进行操作，分别测试其它各个按键；
步骤12：如果所有测试手机主板上报信息均为“OK”，则打印键盘测试结果“PASS”，否则为“FAIL”。
本发明由于采用了上述的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：本发明智能手机的键盘测试***及其测试方法采用电脑在手机主板表面贴装技术(SMT)后对智能手机的键盘进行测试，可以为工厂生产工人提供简单的操作，提供简单的判断依据，就能得到正确的检测结果，可以降低生产人数，降低生产成本，可以提高生产效率，提高产品质量。
附图说明
图1为本发明智能手机的键盘测试***原理示意图；
图2为键盘中八路模拟开关矩阵对应示意图。
具体实施方式
下面通过具体的实施例并结合附图对本发明智能手机的键盘测试***及其测试方法作进一步详细的描述。
图1为本发明智能手机的键盘测试***原理示意图，如图1所示，本发明智能手机的键盘测试***包括有一电脑1(PC)、一测试板3、一装配手机主板的测试工装4、测试工装4与测试板3通过连接器共享电源并将被测键盘接口相连，该测试板3包括ARM芯片、RS232电平转换芯片、模拟开关、电源部分。电脑1上安装有利用Visual C++工具做一测试界面软件，电脑1通过通用异步串行接口2与测试板3、测试工装4连接。电脑1通过异步串行接口2发命令给测试板3和测试工装4，测试板3中的ARM芯片收到命令后，通过两条I2C总线控制复数个模拟开关00-11地址及开关闭合、打开动作；测试工装4收到命令后，进入键盘测试模式，并响应按键中断和键盘扫描动作。最后电脑1通过测试工装4上报的信息，打印“PASS(合格)”；否则打印“FAIL(失败)”。
图2为键盘中八路模拟开关矩阵对应示意图，结合图2举例说明测试U00_S1按键的测试过程：
步骤1：电脑1发按键命令至测试板3中的ARM芯片要求打开地址为00的模拟开关、并要求闭合对应的模拟开关，即打开按键(U00_S1)。实际在检测行ROW0与列COL0交叉的键盘焊脚。
步骤2：电脑1发按键命令至测试工装4，并通知打开按键U00_S1。
步骤3：测试工装4收到按键命令后，运行键盘测试模式，等待按键中断。
步骤4：测试板3中的ARM芯片接受到命令后，通过两条I2C总线选择地址00及相应闭合模拟开关。
步骤5：测试工装4接收到按键中断，跳到键盘中断服务程序，并启动按键扫描，扫描程序会判断是否有按键按下，扫描是哪个按键。如果键值是行ROW0与列COL0的键，则认为是(U00_S1)信息，并与2条已知信息比较，如果相同，上报给电脑1“OK”，否则为“FAIL”。
步骤6：电脑1发命令至测试板3中的ARM芯片，要求关闭地址为00的模拟开关、打开对应的模拟开关。
步骤7：电脑1发按键弹起命令至测试工装4。
步骤8：测试板3中的ARM芯片接受到命令后，通过I2C总线选择地址00及相应打开模拟开关，表明本次按键操作结束。
步骤9：手机主板接受到按键弹起命令后，并确认ROW0变为高电平，认为本次按键操作结束，并上报电脑1按键弹起应答，即上报给电脑1“OK”，否则为“FAIL”。
步骤10：电脑1根据步骤5和步骤9中的测试工装4上报信息，如果均为“OK”，则显示打印显示“U00_S1”键”，否则为“FAIL”。
步骤11：重复1-10步骤进行操作，分别测试图2矩阵的每个按键。
步骤12：如果所有测试手机主板上报信息均为“OK”，则打印键盘测试结果“PASS”，否则为“FAIL”。
本发明智能手机的键盘测试***及其测试方法采用电脑在手机主板表面贴装技术(SMT)后对智能手机的键盘进行测试，可以为工厂生产工人提供简单的操作，提供简单的判断依据，就能得到正确的检测结果，可以降低生产人数，降低生产成本，可以提高生产效率，提高产品质量。
以上介绍的仅仅是基于本发明的较佳实施例，并不能以此来限定本发明的范围。任何对本发明作本技术领域内熟知的步骤的替换、组合、分立，以及对本发明实施步骤作本技术领域内熟知的等同改变或替换均不超出本发明的揭露以及保护范围。

Claims (4)

1.一种智能手机的键盘测试***，其特征在于，其包括：
一电脑；
通过异步串行接口与该电脑连接的测试板；
通过异步串行接口连接测试工装装配的手机主板；
手机主板上的键盘接口通过测试工装连接至测试板上的复数个模拟开关；
测试板上的ARM通过I2C总线与该测试板上的复数个模拟开关相连。
2.如权利要求1所述的智能手机的键盘测试***，其特征在于，所述电脑上安装有一测试界面软件。
3.如权利要求1所述的智能手机的键盘测试***，其特征在于，所述测试板包括ARM芯片、RS232电平转换芯片、模拟开关、电源部分。
4.一种智能手机的测试方法，其特征在于，其包括以下步骤：
步骤1：电脑发按键命令至测试板中的ARM芯片要求打开一模拟开关并要求闭合对应的模拟开关，即打开一按键；
步骤2：电脑发按键命令至手机主板，并通知打开该按键；
步骤3：手机主板收到按键命令后，运行键盘测试模式，等待按键中断；
步骤4：测试板中的ARM芯片接受到命令后，通过两条I2C总线选择地址及相应闭合模拟开关；
步骤5：手机主板接收到按键中断，跳到键盘中断服务程序，并启动按键扫描，扫描程序会判断是否有按键按下，扫描是哪个按键；如果键值是是按键信息，并与2条已知命令信息比较，如果相同，上报给电脑“OK”，否则为“FAIL”；
步骤6：电脑发命令至测试板中的ARM芯片，要求关闭一模拟开关、打开对应模拟开关；
步骤7：电脑发按键弹起命令至手机主板；
步骤8：测试板中的ARM芯片接受到命令后，通过I2C总线选择地址及相应打开模拟开关，表明本次按键操作结束；
步骤9：手机主板接受到按键弹起命令后，认为本次按键操作结束，并上报电脑按键弹起应答，即上报给电脑“OK”，否则为“FAIL”；
步骤10：电脑根据步骤5和步骤9中的手机主板上报信息，如果均为“OK”，则显示打印显示对应按键，否则为“FAIL”；
步骤11：重复1-10步骤进行操作，分别测试其它各个按键；
步骤12：如果测试手机主板所有的按键上报信息均为“OK”，则打印键盘测试结果“PASS”，否则为“FAIL”。
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