CN103364650A - 测试***和测试方法 - Google Patents

测试***和测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103364650A
CN103364650A CN2012100987781A CN201210098778A CN103364650A CN 103364650 A CN103364650 A CN 103364650A CN 2012100987781 A CN2012100987781 A CN 2012100987781A CN 201210098778 A CN201210098778 A CN 201210098778A CN 103364650 A CN103364650 A CN 103364650A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
tested
switching
shutting down
testing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2012100987781A
Other languages
English (en)
Inventor
袁才进
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2012100987781A priority Critical patent/CN103364650A/zh
Priority to TW101112886A priority patent/TW201342041A/zh
Priority to US13/479,306 priority patent/US20130268218A1/en
Priority to JP2013076628A priority patent/JP2013218682A/ja
Publication of CN103364650A publication Critical patent/CN103364650A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

本发明提供一种开关机测试***和测试方法。该开关机测试方法包括步骤：自动依据设定的测试参数发出一开机命令；使一单片机控制一开关机治具送电给一被测试装置，使该被测试装置开机；读取被测试装置的信息并测试，并对测试结果进行记录；自动依据设定的测试参数发出一关机命令；使单片机控制开关机治具给被测试装置断电，使该被测试装置关机；及判断被测试装置是否成功关机，并记录测试结果。本发明开关机测试***和测试方法，使被测试装置的每次开机及信息读取都被侦测成功后再执行关机，并使被测试装置实际的开关机次数与显示达成一致。

Description

测试***和测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试***和测试方法，特别涉及一种开关机测试***和测试方法。
背景技术
存储设备是由一片或多片PCM(Processor Control Module)外接一个或多个JBOD存储装置所构成，目前有SAS JBOD、FC JBOD等。JBOD(Just a Bunch Of Disks，磁盘簇)是在一个底板上安装的带有多个磁盘驱动器的存储装置。这些存储装置都系将多颗硬盘放在同一台存储设备上，且本身并不一定具备操作***。这些存储设备可以由另一台具备操作***的计算器通过HBA(Host Bus Adapter)卡连接，达到将数据读取及存储的目的。
为了确保存储设备能够顺利开机并保证其开关机次数的可靠，需要执行开关机测试。已知的开关机测试方法是通过在一个开关机治具上设定参数如开关机间隔时间，由开关机治具送电给存储设备，由另一台有操作***的计算机通过软件(如Putty或者Hyper-terminate)读取存储设备的信息并显示。
但是，这种开关机测试技术的缺点有：第一，由于开关机治具不和计算机连接，开关机治具只按照设定的开关机间隔时间送电及断电给存储设备，因此不能保证存储设备上所有的硬盘在存储设备每次开关机时完全被侦测到；第二，虽然有的开关机治具虽然可以做到显示开关机的执行次数，但是常常会因为讯号传送到计算机的时间和开关机治具本身的秒数计算有误差，而造成计算机上显示的次数和开关机治具不一样，测试人员需要花费许多时间确定是计算机软件或是开关机治具的问题，不仅浪费人力及设备成本，也会影响测试的可靠度。
发明内容
本发明提供一种开关机测试***和测试方法。
一种开关机测试***，连接于一被测试装置，该***包括：一开关机治具，与被测试装置连接，用于送电及断电给被测试装置；一计算机；及一单片机，连接所述开关机治具及计算机，用于接收计算机的开关机命令控制开关机治具送电及断电给被测试装置。其中，所述计算机同时与被测试装置连接，用于依据设定的测试参数对单片机发出开机指令，对被测试装置执行开机测试，在开机测试过程中读取被测试装置的信息并测试，对测试结果进行记录，并在侦测开机及信息读取不成功时使测试结束，在侦测开机及信息读取成功时对单片机发出关机指令，对被测试装置执行关机测试。
一种开关机测试方法包括步骤：自动依据设定的测试参数发出一开机命令；使一单片机控制一开关机治具送电给一被测试装置，使该被测试装置开机；读取被测试装置的信息并测试，对测试结果进行记录，并在侦测开关机及信息读取不成功时使测试结束；在侦测开关机及信息读取成功时自动依据设定的测试参数发出一关机命令；使单片机控制开关机治具给被测试装置断电，使该被测试装置关机；及判断被测试装置是否成功关机，并记录测试结果。
本发明开关机测试***和测试方法，使被测试装置的每次开机及信息读取都被侦测成功后再执行关机，并使被测试装置实际的开关机次数与显示达成一致。
附图说明
图1是本发明开关机测试***在较佳实施方式下的方框图。
图2是图1中的计算机在较佳实施方式下的方框图。
图3是本发明开关机测试方法在较佳实施方式下的流程图。
主要元件符号说明
  开关机测试***   10
  被测试装置   20
  开关机治具   100
  单片机   300
  计算机   500
  输入设定模块   5001
  开关机模块   5003
  开关机测试模块   5005
  参数判断模块   5007
  输出模块   5009
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
图1是本发明开关机测试***的较佳实施方式下的方框图。该开关机测试***10连接于一被测试装置20，可对被测试装置20进行开关机测试。所述被测试装置20可为存储设备，如SAS JBOD(Just a BunchOf Disks，磁盘簇)、FC JBOD，或为服务器，以下将以存储设备为例进行说明。
所述开关机测试***10包括一开关机治具100、一单片机300及一计算机500。开关机治具100与存储设备20连接，用于送电及断电给存储设备20。所述单片机300连接所述开关机治具100及计算机500，用于接收计算机500的开关机命令控制开关机治具100送电及断电给存储设备20。
所述计算机500同时与存储设备20通过一HBA(Host BusAdapter)卡连接。该HBA(Host Bus Adapter)卡用于读取存储设备20的信息，如存储设备20内的硬盘数量、配置、及是否每个硬盘都能被读取等等。所述计算机500上安装有一软体程序，请参阅图2，该软体程序包括：一输入设定模块5001、一开关机模块5003、一开关机测试模块5005、一参数判断模块5007以及一输出模块5009。
所述输入设定模块5001在开关机测试***10与存储设备20连接后，接收用户输入设定开关机测试的测试参数，如开关机测试的次数及开关机间隔时间等。例如，可设定开关机测试模块5001需要执行的开关机次数为500次，开关机间隔时间为1分钟。
所述开关机模块5003自动依据设定的测试参数对单片机300发出开关机指令。
所述开关机测试模块5005用于对存储设备执行开机测试，在开机测试过程中读取存储设备20的信息并测试，对测试结果进行记录，并在侦测开机及信息读取不成功时使测试结束，在侦测开机及信息读取成功时对存储设备执行关机测试。记录的测试结果可为每次开关机测试是否均可在设定时间间隔内正常开机及关机，及在开机成功后控制所述HBA卡读取的存储设备20的信息是否完全等。
所述参数判断模块5007用于判断开关机测试次数是否达到设定的测试参数，如开关机测试的次数500次。具体为：参数判断模块5007可包括一计数器，在成功开关机一次时自动累加1次，并将累加后的次数与设定的开关机次数进行比较，从而判断累加后的次数是否达到设定的开关机次数。
所述输出模块5009用于将开关机测试模块5005记录的测试结果输出，如打印输出或通过显示器显示。
图3是本发明开关机测试方法的较佳实施方式的流程图。
步骤S21中，所述输入设定模块5001在开关机测试***10与存储设备20连接后，接收用户输入设定开关机测试的测试参数，包括开关机次数及开关机间隔时间。
步骤S22中，所述开关机模块5003对单片机300发出开机指令。
步骤S23中，所述单片机300接收计算机500的开机命令，控制开关机治具100送电给存储设备20，使存储设备20开机。
步骤S24中，所述开关机测试模块5005控制所述HBA卡读取存储设备20的信息。
步骤S25中，所述开关机测试模块5005测试读取的存储设备20的信息，判断是否在设定的开关机间隔时间内成功开机并将存储设备20的信息读取完全，并记录测试结果。若是，流程转至步骤S26，若否，测试流程结束。
步骤S26中，所述开关机模块5003对单片机300发出关机指令。
步骤S27中，所述单片机300接收计算机500的关机命令，控制开关机治具100给存储设备20断电，使存储设备20关机。
步骤S28中，所述开关机测试模块5005判断是否成功关机，并记录测试结果。若是，流程转至步骤S29，若否，测试流程结束。
步骤S29中，所述参数判断模块5007用于判断是否达到设定的开关机次数。若是，流程结束，若否，流程跳转至步骤S22。
步骤S30中，所述输出模块5009将开关机测试模块5005记录的测试数据输出。
通过以上方法，本发明开关机测试***10通过计算机500控制开关机治具100送电及断电给测试装置20，可以使被测试装置20每次的开机测试及信息读取测试都成功后再执行关机测试，并使被测试装置20实际的测试开关机次数与计算机500的显示达成一致。

Claims (10)

1.一种开关机测试***，连接于一被测试装置，该***包括：
一开关机治具，与被测试装置连接，用于送电及断电给被测试装置；及一计算机，其特征在于，
该***还包括一单片机，连接所述开关机治具及计算机，用于接收计算机的开关机命令控制开关机治具送电及断电给被测试装置；
其中，所述计算机同时与被测试装置连接，用于依据设定的测试参数对单片机发出开机指令，对被测试装置执行开机测试，在开机测试过程中读取被测试装置的信息并测试，对测试结果进行记录，并在侦测开机及信息读取不成功时使测试结束，在侦测开机及信息读取成功时对单片机发出关机指令，对被测试装置执行关机测试。
2.如权利要求1所述的开关机测试***，其特征在于，所述计算机还用于接收用户输入设定开关机测试的测试参数。
3.如权利要求1所述的开关机测试***，其特征在于，所述计算机还用于判断开关机测试的次数是否达到设定的测试参数。
4.如权利要求1所述的开关机测试***，其特征在于，所述计算机还用于将记录的测试结果输出。
5.如权利要求1所述的开关机测试***，其特征在于，所述记录的测试结果为每次开关机测试是否均可在设定时间间隔内正常开机及关机，及在开机成功后读取的被测试装置的信息是否完全。
6.如权利要求1所述的开关机测试***，其特征在于，所述被测试装置为JBOD(Just a Bunch Of Disks，磁盘簇)。
7.一种开关机测试方法，该方法包括步骤：
自动依据设定的测试参数发出一开机命令；
使一单片机控制一开关机治具送电给一被测试装置，使该被测试装置开机；
读取被测试装置的信息并测试，对测试结果进行记录，并在侦测开关机及信息读取不成功时使测试结束；
在侦测开关机及信息读取成功时自动依据设定的测试参数发出一关机命令；
使单片机控制开关机治具给被测试装置断电，使该被测试装置关机；及
判断被测试装置是否成功关机，并记录测试结果。
8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：接收用户输入设定开关机测试的测试参数。
9.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：判断开关机测试的次数是否达到设定的测试参数，在达到时结束测试，在未达到时重复执行全部步骤。
10.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括步骤：将记录的测试结果输出。
CN2012100987781A 2012-04-06 2012-04-06 测试***和测试方法 Pending CN103364650A (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012100987781A CN103364650A (zh) 2012-04-06 2012-04-06 测试***和测试方法
TW101112886A TW201342041A (zh) 2012-04-06 2012-04-11 測試系統和測試方法
US13/479,306 US20130268218A1 (en) 2012-04-06 2012-05-24 Testing system and method
JP2013076628A JP2013218682A (ja) 2012-04-06 2013-04-02 パワーオン／オフテストシステム及びテスト方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012100987781A CN103364650A (zh) 2012-04-06 2012-04-06 测试***和测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103364650A true CN103364650A (zh) 2013-10-23

Family

ID=49292992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012100987781A Pending CN103364650A (zh) 2012-04-06 2012-04-06 测试***和测试方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20130268218A1 (zh)
JP (1) JP2013218682A (zh)
CN (1) CN103364650A (zh)
TW (1) TW201342041A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103577291A (zh) * 2013-11-12 2014-02-12 福建联迪商用设备有限公司 嵌入式***的掉电测试***及方法
CN105807155A (zh) * 2016-03-04 2016-07-27 太仓市同维电子有限公司 一种电子设备断电启动测试的装置及其测试方法
CN108051728A (zh) * 2017-11-28 2018-05-18 郑州云海信息技术有限公司 一种基于moc板卡硬件ac测试方法与***
CN108063855A (zh) * 2017-12-27 2018-05-22 上海传英信息技术有限公司 关机闹钟的测试方法和测试端
CN109656771A (zh) * 2018-12-19 2019-04-19 广东浪潮大数据研究有限公司 一种jbod存储设备测试的方法、***及服务器
CN109817272A (zh) * 2019-01-22 2019-05-28 山东华芯半导体有限公司 一种基于主板的***盘ssd断电测试方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103559128B (zh) * 2013-10-28 2016-05-25 深圳市宏电技术股份有限公司 一种上下电测试电路及上下电测试装置
CN106649018B (zh) * 2017-01-09 2019-08-02 郑州云海信息技术有限公司 一种带扩展柜的存储***稳定性的测试方法
CN106980561B (zh) * 2017-05-27 2021-01-29 苏州浪潮智能科技有限公司 一种上下电测试***及其方法
CN107391324B (zh) * 2017-06-30 2020-02-07 郑州云海信息技术有限公司 一种存储***的测试控制装置及方法
CN113342584A (zh) * 2021-06-11 2021-09-03 深圳市视美泰技术股份有限公司 设备异常检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN114942871A (zh) * 2022-07-19 2022-08-26 北京紫光青藤微***有限公司 一种nfc芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050204243A1 (en) * 2004-01-21 2005-09-15 Meihong Hu Method and testing system for storage devices under test
TWI386672B (zh) * 2006-12-01 2013-02-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電源迴路測試方法
CN101750588B (zh) * 2008-11-28 2013-04-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 检测装置
CN101901178A (zh) * 2009-05-31 2010-12-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电脑***开关机测试装置及方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103577291A (zh) * 2013-11-12 2014-02-12 福建联迪商用设备有限公司 嵌入式***的掉电测试***及方法
CN103577291B (zh) * 2013-11-12 2017-01-11 福建联迪商用设备有限公司 嵌入式***的掉电测试***及方法
CN105807155A (zh) * 2016-03-04 2016-07-27 太仓市同维电子有限公司 一种电子设备断电启动测试的装置及其测试方法
CN108051728A (zh) * 2017-11-28 2018-05-18 郑州云海信息技术有限公司 一种基于moc板卡硬件ac测试方法与***
CN108063855A (zh) * 2017-12-27 2018-05-22 上海传英信息技术有限公司 关机闹钟的测试方法和测试端
CN108063855B (zh) * 2017-12-27 2020-10-30 上海传英信息技术有限公司 关机闹钟的测试方法和测试端
CN109656771A (zh) * 2018-12-19 2019-04-19 广东浪潮大数据研究有限公司 一种jbod存储设备测试的方法、***及服务器
CN109817272A (zh) * 2019-01-22 2019-05-28 山东华芯半导体有限公司 一种基于主板的***盘ssd断电测试方法
CN109817272B (zh) * 2019-01-22 2021-04-30 山东华芯半导体有限公司 一种基于主板的***盘ssd断电测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013218682A (ja) 2013-10-24
US20130268218A1 (en) 2013-10-10
TW201342041A (zh) 2013-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103364650A (zh) 测试***和测试方法
CN102568522B (zh) 硬盘性能的测试方法和装置
CN101738550B (zh) 电子装置测试装置及测试方法
CN102567171B (zh) 一种测试刀片服务器主板的方法
CN102662701A (zh) Cpld在线升级方法、装置及业务单板
CN103778038A (zh) 云端测试及远端监控集成电路装置的验证的方法及其***
CN102541704B (zh) Raid卡的测试方法
CN103744824A (zh) 一种出厂测试方法和测试***
CN101210952A (zh) 多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法
CN111104275A (zh) 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置
CN104660471A (zh) 一种Linux下自动测试PCIE-SSD传输速率和带宽的方法
CN111258830A (zh) 一种服务器功耗对比测试***及方法
CN102541711A (zh) 一种测试x86架构服务器主板的方法
CN104731678A (zh) Raid储存模式测试***、方法及电子装置
CN112256499A (zh) 掉电监测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
CN117251333A (zh) 一种硬盘信息获取方法、装置、设备及存储介质
CN111048138A (zh) 一种硬盘的故障检测方法及相关装置
CN104239174A (zh) Bmc远程调试***及方法
CN105573872A (zh) 数据存储***的硬盘维护方法和装置
CN116560985B (zh) 芯片设备测试控制方法、上位机、设备及介质
CN110297735B (zh) 基于固态硬盘的通用复判测试***
CN108399116A (zh) 一种服务器上电状态监测***及方法
CN112463472B (zh) 磁盘阵列的自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN117116333B (zh) 一种企业级固态硬盘vpd信息的测试方法和测试装置
CN112579366A (zh) 硬盘在位检测***

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20131023