CN100377102C - 主机板功能测试板 - Google Patents
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Abstract
一种主机板功能测试板,用来对主机板功能进行在线自动全面的测试,包括:一VGA和AGP转换电路,通过一触发信号激活初始测试,并且通过一信号自动切换电路实现在AGP和VGA间的自动切换;一Audio测试电路,通过控制由一测试信号转换模块输出的一第一和一第二信号,分别同被测主机板音源组成测试回路,实现对主机板音源电路的全面测试;一电池测试电路,通过将被测主机板电池与一电池标准值相比较,筛选出电量值低于标准值的不良品;一FrontPanel测试电路,其可分别对被测试主机板的机壳型号、硬盘显示以及电源显示实行自动监控与检测,其测试结果可直接由显示屏上直接显示出来。本发明主机板功能测试板可对待测试主机板进行较为全面的测试,操作便捷。
Description
【技术领域】
本发明是关于一种主机板功能测试装置,特别是指一种可对被测试主机板的多种功能进行全面测试的主机板功能测试板。
【技术背景】
主机板在组配完成之后,需要经过全面的功能测试来确定其是否为优良品,而主机板测试主要是针对该主机板上的各种错误,例如,开路、短路及非正确接触的零件等状况加以检测,即结合测试机台所产生的错误信号数据,以及待测主机板由计算机辅助设计所产生的布线数据,令检修员迅速由屏幕上找出被测电路板的不良原因所在,从而节省检修不良品的时间。
现有的主机板功能测试机是将一待测试的主机板插接在一测试板上,然后通过若干连接于测试机上的排线以人工插拔的方式连接到待测试的连接器的插槽及芯片引脚中,将测试信号引导出来,但是,待测试的主机板上通常会有很多元器件,一一插拔此类连接到组件的插槽及芯片引脚的排线需耗费大量人工与时间,且工人在长时间操作过程中,容易出现因疲劳或误操作夹伤手指等状况。
后业界改进了以上的作业模式,该改进方式是利用一探针固定板将待测主机板元器件的测试信号通过若干探针接引接到一转接板上,该转接板是电连接于测试治具上,其可对待测试的主机板上的CPU(中央处理器)、硬盘及PCI(Peripheral Component Interface,***设备接口)插槽等主要组件及接口进行一般性测试,而关于音频测试、电源等组件的测试则无法顾及,而音频及电源等组件的品质不良同样会影响到整个主机板的品质良率,会给用户使用带来一定的困扰,例如,如果电源的电压值低于标准电压值,会影响主板上CMOS值的设置,从而造成预设密码值无法保存等故障。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种操作便捷并且可以对待测试的主机板进行较为全面测试的主机板功能测试板。
本发明的主机板功能测试板上包括一VGA(Video Graphic Array,视频图形数组)和AGP(Accelerated Graphics Port,图形加速端口)转换电路、一Audio(音频)测试电路、一电池测试电路、一Serial Port(串行端口)测试回路、一FrontPanel(面板)测试电路、一IDE2(Integrated Drive Electronics,集成电路设备)接口、一PCI,IDE1,SATA(Serial Advanced Technology Attachment,硬盘接口),Floppy(软盘机),USB(Universal Serial Bus通用串行总线)转接口以及一网卡测试回路。其中,该VGA和AGP转换电路通过一触发信号激活初始测试,并且通过一信号自动切换电路实现在AGP和VGA间的自动切换;该Audio测试电路是通过控制一CPLD(Complex programmable Logic Device,复杂式可编程逻辑电路)Out0(输出)和一CPLD Out2信号,并分别同被测主机板音源组成测试回路,实现对主机板音源电路的全面测试;该电池测试电路是通过将被测主机板电池与一电池标准值相比较,筛选出电量值低于标准值的不良品,确保出品的主机板的电源良率;该Front Panel测试电路分别对被测试主机板的机壳型号、硬盘显示以及电源显示实行自动监控与检测,其测试结果可直接由显示屏上直接显示出来,而无需人工观测控制。
本发明的优点在于对所测试的主机板的功能有一较全面的检测,提升了出品主机板的良率,且该测试功能的达成全部通过电路自动完成,节约了人力,提高了工作效率。
【附图说明】
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。
图1是本发明主机板功能测试板的测试示意图。
图2是本发明主机板功能测试板的结构示意图。
图3(A)是本发明主机板功能测试板的测试信号转换模块。
图3(B)是本发明主机板功能测试板的测试信号转换模块的另一实施例。
图4是本发明主机板功能测试板的VGA & AGP转换电路图。
图5是本发明主机板功能测试板的Front Panel测试原理图。
图6是本发明主机板功能测试板的Audio测试电路图。
图7是本发明主机板功能测试板的电池测试电路图。
【具体实施方式】
请参照图1,该主机板功能测试板10通过一探针固定板12对一待测试主机板14进行各种功能的测试。在测试的时候,首先将待测试主机板14放置在该探针固定板12上,通过该探针固定板12上的探针(图未标示)将待测试主机板14上的信号转接到该主机板功能测试板10上,该主机板功能测试板10的另一面连接有若干测试治具16,该测试治具16是一些显示测试状态及结果的仪表、显示屏等,可以对由该主机板功能测试板10转接过来的信号进行分析及显示等处理。
请共同参照图2,该主机板功能测试板10上包括一VGA & AGP转换电路20、一Audio测试电路30、一电池测试电路40、一Serial Port测试回路50、一Front Panel测试电路60、一测试信号转换模块70、一PCI,IDE1,SATA,Floppy,USB转接口80以及一网卡测试回路90。其中,该Serial Port测试回路50、PCI,IDE1,SATA,Floppy,USB转接口80以及网卡测试回路90是对主机板的主要接插口等性能进行测试。该IDE2接口72是负责将该主机板功能测试板10上所转接的来自待测试主机板的信号输出,并通过该CPLD转换为I/O控制信号724将CPLD转换为I/O控制信号,输出到该VGA&AGp转换电路20、该Audio测试电路30、该电池测试电路40以及该Front Panel测试回路60,作为***测试信号。
请参照图3(A),该测试信号转换模块70的功能是将由该主机板功能测试板上转接来的待测试主机板信号转化为测试***方便处理的I/O控制信号。该测试信号转换模块70包括一控制芯片725,该控制芯片725的一输入端连接至该IDE2接口70上,接收来自该待测试主机板的测试信号,该控制芯片725将该测试信号由CPLD转换为测试测试***便于兼容及处理的I/O控制信号,同时,该控制芯片725的另一输入端接收一设备信号722,该设备信号722可以监测该控制芯片725输出的信号的状态,确保该控制芯片725输出的I/O控制信号处于正确的状态,从而确保整个测试流程的顺利进行。当然,该模块的信号转换功能也可由其它方式实现,但凡可将被测试信号输出并转换为测试***易于兼容接受的控制信号的模块均可实现该操作,如图3(B)所示测信号转换模块70’,该测试信号转换模块70’通过该待测试主机板上的打印机接口72’将待测试信号输出的一控制芯片725’,同时,该控制芯片725’的另一输入端也连接一设备信号722’,该设备信号722’是用于监测由该控制芯片725’输出的信号的状态是否准确,从而确保整个测试流程的顺利进行。本发明的下文所述内容仅以图3(A)测试信号转换模块70为实现测试信号转换功能的模块。
请继续参照图4,该VGA & AGP转换电路20包括一AGP显示电路100、一触发AGP_RST(Reset复位)信号端120、一信号自动切换电路140、一控制电路160、一CPLD Out5控制信号端170以及一VGA显示电路180。该电路是由该AGP_RST信号120决定显示的优先权问题,若该AGP_RST信号120为高电平时,该AGP显示电路100激活,若该AGp_RST信号120为低电平时,该VGA显示电路180有效。该电路接通后默认该AGP_RST信号120为高电平,即先接通该AGP显示电路100,若待测主机板上集成有显卡,则禁止该AGP显示电路100,该AGP_RST信号120转变为低电平;若待测主机板上未集成显卡,则先执行对插接AGP显卡的AGP插槽(图未示)进行测试,完成测试之后,该触发AGP_RST信号120变为低电平,该AGP显示电路100被禁止,同时,经由该测试信号转换模块72转换过的该CPLD Out5控制信号170被输送至该控制电路160中,激活该控制电路160,并将CPLD Out5所携带的测试信息输出至该信号自动切换电路140,激活切换流程,完成由AGP显示到VGA显示的切换,该VGA显示电路180有效,***对该VGA显示电路180进行测试。
请共同参照图5,该Front Panel测试电路可完成对Chassis ID(机箱种类)、HDD LED(硬盘显示)以及Power LED(电源显示)的测试。该电路是由一FrontPanel设备600分别连接到一Chassis ID 610、一HDD LED620以及一PowerLED 640上,该Chassis ID610负责采集被测主机板的型号,然后输出至一控制电路611,该控制电路611通过一低电平有效的写I/O控制口613来激活,该写I/O控制口613的端口输入信息来自该测试信号转换模块72,其输出端与一读主机板寄存器615相连接,通过读取预先存储于该读主机板寄存器615中的主机板型号参数及与之匹配的机箱型号,在显示屏上显示出与该被测主机板匹配的机箱类型;该HDD LED 620是由一IDE1HDD LED控制信号623控制激活,***通过该测试信号转换模块72对该低电平有效的写I/O控制口621信号给定一输入值后,输送至该IDE1HDD LED控制信号623,该IDE1HDD LED控制信号623接收该写I/O控制口621信号后,激活HDD LED信号620显示,接着由HDD LED信号620输出到一控制电路625中,经由该控制电路625测试比对处理后,又传送至一电平侦测电路627,该电平侦测电路627为低电平有效,即若测试结果为低电平时,则表明该HDD LED 620显示正常,若测试结果为高电平时,则表明该HDD LED 620显示异常,存在故障,需要进一步检测排除该故障。该Power LED 640是通过一写主机板寄存器641来触发激活。当检测执行到该步骤时,***通过该测试信号测试模块72给出该写主机板寄存器641测试输入信号,该输入信号传送至PowerLED 640后,经过控制比较电路643处理后,将比较结果输送至电平侦测电路645中,该电平侦测电路645也是低电平有效。
请参照图6,该Audio测试电路的输入端包括一第一信号(CPLD Out0信号)300、一第二信号(CPLD Out2信号)330以及一被测主机板音源320,该CPLD Out0信号300及该CPLD Out2信号330均来自于该测试信号转换模块72。当CPLD Out0信号300为低电平时,其可以与被测主机板音源320构成一Line Out(输入)/HP(Headphone耳机)-Line In(输出)回路340,对被测试主机板音源320进行耳机音频输入/输出品质方面的测试;当CPLD Out0信号300为高电平时,其可与被测主机板音源320构成一MIC(Microphone扩音器)-Line In回路350,对扩音器输入品质进行检验。无论该CPLD Out0信号300为低电平或是高电平,只要该CPLD Out2信号330处于低电平时,***将会优先处理该CPLD Out2信号330。当该CPLD Out2信号330为低电平时,其将与该被测主机板音频320构成一CD(Compact Disk光盘)_In-Speaker回路360。当***开始测试时,该CPLD Out2信号330初始状态为高电平,***首先将该CPLD Out0信号300设置为低电平,使其与该被测主机板音源320构成Line Out/HP-Line In回路340,然后***采集进行测试所需的各项参数,由该Line Out/HP-Line In回路340输出到一测试回路380进行功能测试。而后,***将该CPLD Out0信号300的设置更改为高电平,使其与该被测主机板音源320构成该MIC-Line In回路350,随后***也将采集进行测试所需的各项参数,由该MIC-Line In回路350输出到该测试回路380进行功能测试。对CPLD Out0信号300处理完之后,***将该CPLD Out2信号330的电平由高转变为低,屏蔽该CPLD Out0信号300,从而使其与该被测试主机板音源320构成该CD_In-Speaker回路360,其输出端也连接到该测试回路380进行功能测试。
请参照图7,该电池测试电路是根据将被测主机板电池与***予设标准值进行比对,筛选出电压值低于标准值的不良品,达到测试的目的。该电池测试电路主要包括一电池标准值控制电路400、一被测主机板电池410、一CPLD Output1(输出)控制信号430、一控制电路450、一标准值与真实值比较电路470以及一CPLD Input(输入)侦测电路490,测试时,该被测主机板电池410的输出端连接于该控制电路450,该CPLD Output1控制信号430来自于该测试信号转换模块72,其作为该控制电路450的激活信号在低电平的状态才有效,该控制电路450激活之后将采集的该被测主机板电池410的量值输送至该标准值与真实值比较电路470,同时,该标准值与真实值比较电路470也将从该电池标准值控制电路400处接收标准电压值,然后将标准值与真实值比较后输送至该CPLD Input侦测电路490中,若该比较值为低电平,该CPLD Input侦测电路490的表示结果将会显示为“Pass”(通过),若该比较值为高电平,该CPLD Input侦测电路490的表示结果将会显示为“Fail”(未通过)。
Claims (9)
1.一种主机板功能测试板,用来对主机板的功能进行在线测试,其特征在于:所述主机板功能测试板包括一VGA和AGP转换电路、一Front Panel测试电路、一Audio测试电路、一测试信号转换模块及一电池测试电路,所述VGA和AGP转换电路包括一信号自动切换电路,所述VGA和AGP转换电路是通过一触发信号激活初始测试,并且通过所述信号自动切换电路实现在AGP和VGA间的自动切换;所述Front Panel测试电路可分别对被测试主机板的机壳型号、硬盘显示以及电源显示实行自动监控与检测,其测试结果可直接由显示屏上直接显示出来;所述Audio测试电路是通过控制由所述测试信号转换模块输出的一第一信号和一第二信号,分别同被测主机板音源组成测试回路,实现对主机板音源电路的全面测试;所述电池测试电路是通过将被测主机板电池与一电池标准值相比较,筛选出电量值低于标准值的不良品。
2.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述VGA和AGP转换电路进一步包括分别连接所述信号自动切换电路的一AGP显示电路、一VGA显示电路、一控制电路及一与所述控制电路相连的控制信号端。
3.如权利要求2所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述触发信号是用来决定所述AGP显示电路与所述VGA显示电路的优先权问题,如果所述触发信号为高电平状态,优先激活所述AGP显示电路;如果所述触发信号为低电平状态,则仅仅激活所述VGA显示电路。
4.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述Front Panel测试电路还包括若干用于检测硬盘显示及电源显示是否正常的电平侦测电路,若所述电平侦测电路检测到一低电平信号输入时,则表明硬盘显示及电源显示正常;若所述电平侦测电路检测到一高电平信号时,则表明硬盘显示及电源显示异常。
5.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述Audio测试电路中所述第二信号在低电平状态下优先处理第二信号,高电平状态下优先处理第一信号。
6.如权利要求5所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述第二信号为低电平时,与被测主机板音源组成一光盘输入测试及扬声器输出测试回路,所述第一信号为低电平时,与被测主机板音源组成一音源输出及耳机输入回路。
7.如权利要求5所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述第二信号为低电平时,与被测主机板音源组成一光盘输入测试及扬声器输出测试回路,所述第一信号为高电平时,与被测主机板音源组成一扩音器输入回路。
8.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述电池测试电路包括一提供标准电压值的电池标准值控制电路,一连接于所述电池标准控制电路的标准值与真实值比较电路以及一连接于所述比较电路用于显示标准值与真实值的比较结果的侦测电路。
9.如权利要求8所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述侦测电路接收来自所述标准值与真实值比较电路的比较值,如果比较值为低电平表示,所述侦测电路的显示结果为“Pass”;如果比较值为高电平表示,所述侦测电路的显示结果为“Fail”。
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Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100438453C (zh) * | 2005-11-08 | 2008-11-26 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 网卡测试***及方法 |
US20070197100A1 (en) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Robert Tsao | Type of hard disk interface device |
CN101276304A (zh) * | 2007-03-30 | 2008-10-01 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Pcie 测试卡 |
CN101750588B (zh) * | 2008-11-28 | 2013-04-24 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 检测装置 |
CN102750208B (zh) * | 2011-04-19 | 2016-08-24 | 中山市云创知识产权服务有限公司 | 测试装置及利用其测试嵌入式***设备多路串口的方法 |
TWI432755B (zh) * | 2012-01-13 | 2014-04-01 | Wistron Corp | 測試系統及印刷電路板組件之測試方法 |
CN103513176B (zh) * | 2012-06-21 | 2016-06-01 | 和硕联合科技股份有限公司 | 测试主板的屏蔽电路及其屏蔽方法 |
CN102779471B (zh) * | 2012-07-30 | 2015-06-17 | 四川长虹电器股份有限公司 | 一种pdp模组x驱动板或y驱动板测试设备及其工作方法 |
CN103677969B (zh) * | 2012-09-20 | 2017-03-15 | 昆达电脑科技(昆山)有限公司 | 多显卡***的显示器点亮方法 |
CN103913692A (zh) * | 2012-12-29 | 2014-07-09 | 北京谊安医疗***股份有限公司 | 一种用于测试的信号调理装置 |
CN104660369A (zh) * | 2013-11-25 | 2015-05-27 | 北京卓越信通电子股份有限公司 | 工业串口光纤收发器速率自适应的一种方法 |
CN105004986A (zh) * | 2015-07-14 | 2015-10-28 | 佰电科技(苏州)有限公司 | 一种rsg电路主板功能测试***及其测试方法 |
WO2019104480A1 (zh) * | 2017-11-28 | 2019-06-06 | 福建联迪商用设备有限公司 | 通讯模块的音频管脚测试方法及测试装置 |
TWI709851B (zh) * | 2018-05-14 | 2020-11-11 | 技嘉科技股份有限公司 | Usb連接埠測試系統及動態測試usb連接埠之方法 |
TWI682182B (zh) * | 2019-03-07 | 2020-01-11 | 緯創資通股份有限公司 | 檢測設備及其檢測方法 |
US11221360B1 (en) * | 2020-06-12 | 2022-01-11 | Lat Enterprises, Inc. | Multiple circuit board tester |
CN111913095B (zh) * | 2020-08-06 | 2022-12-23 | 易佰特新能源科技有限公司 | 一种锂电池自动化成设备主板故障检测和维修的方法 |
CN113900011A (zh) * | 2021-10-09 | 2022-01-07 | 深圳市燕麦科技股份有限公司 | 一种电路板通用测试*** |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0351911A1 (en) * | 1988-07-20 | 1990-01-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for testing multiple power supply connections of an integrated circuit on a printed-circuit board |
US6442712B1 (en) * | 1997-05-15 | 2002-08-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method utilized to automatically test a computer |
CN1369797A (zh) * | 2001-02-14 | 2002-09-18 | 英业达股份有限公司 | 在dos方式下测试图形卡加速引擎的方法 |
CN2570871Y (zh) * | 2002-06-18 | 2003-09-03 | 威盛电子股份有限公司 | 计算机主机板开关机测试装置 |
CN2594869Y (zh) * | 2002-12-11 | 2003-12-24 | 技嘉科技股份有限公司 | 加速图形接口插槽与内建视频处理接口的可切换测试装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3240916C2 (de) * | 1982-11-05 | 1985-10-31 | Luther, Erich, Ing.(Grad.), 3003 Ronnenberg | Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten |
US5502397A (en) * | 1992-11-12 | 1996-03-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | Integrated circuit testing apparatus and method |
US5418470A (en) * | 1993-10-22 | 1995-05-23 | Tektronix, Inc. | Analog multi-channel probe system |
-
2004
- 2004-02-21 CN CNB2004100154576A patent/CN100377102C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-02-01 US US11/048,242 patent/US7015714B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0351911A1 (en) * | 1988-07-20 | 1990-01-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for testing multiple power supply connections of an integrated circuit on a printed-circuit board |
US6442712B1 (en) * | 1997-05-15 | 2002-08-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method utilized to automatically test a computer |
CN1369797A (zh) * | 2001-02-14 | 2002-09-18 | 英业达股份有限公司 | 在dos方式下测试图形卡加速引擎的方法 |
CN2570871Y (zh) * | 2002-06-18 | 2003-09-03 | 威盛电子股份有限公司 | 计算机主机板开关机测试装置 |
CN2594869Y (zh) * | 2002-12-11 | 2003-12-24 | 技嘉科技股份有限公司 | 加速图形接口插槽与内建视频处理接口的可切换测试装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050184750A1 (en) | 2005-08-25 |
CN1658164A (zh) | 2005-08-24 |
US7015714B2 (en) | 2006-03-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20080326 |