CN100395718C - 主机板功能测试板 - Google Patents
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Abstract
一种主机板功能测试板,包括一测试信号转换模块和一Audio测试电路,所述测试信号转换模块包括一与待测试主机板相连的测试信号输出端口、一与所述测试信号输出端口相连的控制芯片,所述测试信号输出端口将待测试主机板的测试信号传输至所述控制芯片,所述控制芯片将所述测试信号转换成I/O控制信号,所述I/O控制信号包括被输出至所述Audio测试电路的一CPLD Out0信号和一CPLD Out2信号,所述Audio测试电路根据该CPLD Out0信号和该CPLD Out2信号的电平状态,分别同被测主机板音源组成一LineOut/HP-Line In回路、一MIC-Line In回路及一CD_In-Speaker回路,实现对主机板音源电路的全面测试。所述主机板功能测试板可对待测试主机板的音频电路进行全面的测试,操作便捷。
Description
【技术领域】
本发明是关于一种主机板功能测试装置,特别是指一种可对被测试主机板的多种功能进行全面测试的主机板功能测试板。
【技术背景】
主机板在组配完成之后,需要经过全面的功能测试来确定其是否为优良品,而主机板测试主要是针对该主机板上的各种错误,例如,开路、短路及非正确接触的零件等状况加以检测,即结合测试机台所产生的错误信号数据,以及待测主机板由计算机辅助设计所产生的布线数据,令检修员迅速由屏幕上找出被测电路板的不良原因所在,从而节省检修不良品的时间。
现有的主机板功能测试机是将一待测试的主机板插接在一测试板上,然后通过若干连接于测试机上的排线以人工插拔的方式连接到待测试的连接器的插槽及芯片引脚中,将测试信号引导出来,但是,待测试的主机板上通常会有很多元器件,一一插拔此类连接到组件的插槽及芯片引脚的排线需耗费大量人工与时间,且工人在长时间操作过程中,容易出现因疲劳或误操作夹伤手指等状况。
后来业界改进了以上的作业模式,该改进方式是利用一探针固定板将待测主机板元器件的测试信号通过若干探针接引接到一转接板上,该转接板电连接于测试治具上,其可对待测试的主机板上的CPU(中央处理器)、硬盘及PCI(Peripheral Component Interface,***设备接口)插槽等主要组件及接口进行一般性测试,而关于音频测试、电源等组件的测试则无法顾及,而音频及电源等组件的品质不良同样会影响到整个主机板的品质良率,会给用户使用带来一定的困扰,例如,如果电源的电压值低于标准电压值,会影响主板上CMOS值的设置,从而造成预设密码值无法保存等故障。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种操作便捷并且可以对待测试的主机板进行较全面测试的主机板功能测试板。
本发明主机板功能测试板包括一测试信号转换模块和一Audio测试电路,所述测试信号转换模块包括一与待测试主机板相连的测试信号输出端口、一与所述测试信号输出端口相连的控制芯片,所述测试信号输出端口将待测试主机板的测试信号传输至所述控制芯片,所述控制芯片将所述测试信号转换成I/O控制信号,所述I/O控制信号包括被输出至所述Audio测试电路的一CPLD Out0信号和一CPLD Out2信号,所述Audio测试电路根据该CPLD Out0信号和该CPLD Out2信号的电平状态,分别同被测主机板音源组成一LineOut/HP-Line In回路、一MIC-Line In回路及一CD In-Speaker回路,实现对主机板音源电路的全面测试。
本发明的优点在于对所测试的主机板的的音频电路有一较全面的检测,提升了出品主机板的良率,且该测试功能的实现全部通过电路自动完成,节约了人力,提高了工作效率。
【附图说明】
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。
图1是本发明主机板功能测试板的测试示意图。
图2是本发明主机板功能测试板的结构示意图。
图3(A)是本发明主机板功能测试板的测试信号转换模块。
图3(B)是本发明主机板功能测试板的测试信号转换模块的另一实施例。
图4是本发明主机板功能测试板的VGA&AGP转换电路图。
图5是本发明主机板功能测试板的Front Panel测试原理图。
图6是本发明主机板功能测试板的Audio测试电路图。
图7是本发明主机板功能测试板的电池测试电路图。
【具体实施方式】
请参照图1,该主机板功能测试板10通过一探针固定板12对一待测试主机板14进行各种功能的测试。在测试的时候,首先将待测试主机板14放置在该探针固定板12上,通过该探针固定板12上的探针(图未标示)将待测试主机板14上的信号转接到该主机板功能测试板10上,该主机板功能测试板10的另一面连接若干测试治具16,该测试治具16是一些显示测试状态及结果的仪表、显示屏等,可以对由该主机板功能测试板10转接过来的信号进行分析及显示等处理。
请继续参照图2,该主机板功能测试板10包括一VGA&AGP转换电路20、一Audio测试电路30、一电池测试电路40、一Serial Port测试回路50、一Front Panel测试电路60、一测试信号转换模块70、一PCI,IDE1,SATA,Floppy,USB转接口80以及一网卡测试回路90。其中,该Serial Port测试回路50、PCI,IDE1,SATA,Floppy,USB转接口80以及网卡测试回路90对主机板的主要接插口等性能进行测试。该IDE2接口72负责将该主机板功能测试板10上所转接的来自待测试主机板的信号输出,并通过该CPLD转换为I/O控制信号724将CPLD转换为I/O控制信号,输出到该VGA&AGP转换电路20、该Audio测试电路30、该电池测试电路40以及该Front Panel测试回路60,作为***测试信号。
请参照图3(A),该测试信号转换模块70将由该主机板功能测试板上转接来的待测试主机板信号转化为测试***方便处理的I/O控制信号。该测试信号转换模块70包括一控制芯片725,该控制芯片725的一输入端连接至该IDE2接口72上,接收来自该待测试主机板的测试信号,该控制芯片725将该测试信号由CPLD转换为测试测试***便于兼容及处理的I/O控制信号,同时,该控制芯片725的另一输入端接收一设备信号722,该设备信号722可以监测该控制芯片725输出的信号的状态,确保该控制芯片725输出的I/O控制信号处于正确的状态,从而确保整个测试流程的顺利进行。当然,该模块的信号转换功能也可由其它方式实现,但凡可将被测试信号输出并转换为测试***易于兼容接受的控制信号的模块均可实现该操作,如图3(B)所示测信号转换模块70’,该测试信号转换模块70’通过该待测试主机板上的打印机接口72’将待测试信号输出的一控制芯片725’,同时,该控制芯片725’的另一输入端也连接一设备信号722’,该设备信号722’是用于监测由该控制芯片725’输出的信号的状态是否准确,从而确保整个测试流程的顺利进行。本发明的下文所述内容仅以图3(A)测试信号转换模块70为实现测试信号转换功能的模块。
请继续参照图4,该VGA&AGP转换电路20包括一AGP显示100、一触发AGP_RST(Reset复位)信号120、一信号自动切换电路140、一控制电路160、一CPLD Out5控制信号170以及一VGA显示180。该电路是由该AGP_RST信号120决定显示的优先权问题,如果该AGP_RST信号120为高电平时,该AGP显示100激活,如果该AGP_RST信号120为低电平时,该VGA显示180有效。该电路接通后默认该AGP_RST信号120为高电平,即先接通该AGP显示100,如果待测主机板上集成有显卡,则禁止该AGP显示100,该AGP_RST信号120转变为低电平;如果待测主机板上未集成显卡,则先执行对插接AGP显卡的AGP插槽(图未示)进行测试,完成测试之后,该触发AGP_RST信号120变为低电平,该AGP显示100被禁止,同时,经由该测试信号转换模块70转换过的该CPLD Out5控制信号170被输送至该控制电路160中,激活该控制电路160,并将CPLD Out5所携带的测试信息输出至该信号自动切换电路140,激活切换流程,完成由AGP显示到VGA显示的切换,该VGA显示180有效,***对该VGA显示180进行测试。
请共同参照图5,该Front Panel测试电路可完成对Chassis ID(机箱种类)、HDD LED(硬盘显示)以及Power LED(电源显示)的测试。该电路是由一FrontPanel设备600分别连接到一Chassis ID 610、一HDD LCD 620以及一PowerLED 640上,该Chassis ID610负责采集被测主机板的型号,然后输出至一控制电路611,该控制电路611通过一低电平有效的写I/O控制口613来激活,该写I/O控制口613的端口输入信息来自该测试信号转换模块70,其输出端与一读主机板寄存器615相连接,通过读取预先存储于该读主机板寄存器615中的主机板型号参数及与之匹配的机箱型号,在显示屏上显示出与该被测主机板匹配的机箱类型。该HDD LED 620是由一IDE1 HDD LED控制信号623控制激活,***通过该测试信号转换模块70对该低电平有效的写I/O控制口621信号给定一输入值后,输送至该IDE1 HDD LED控制信号623。该IDE1HDD LED控制信号623接收该写I/O控制口621信号后,激活HDD LED信号620显示,接着由HDD LED信号620输出到一控制电路625中,经由该控制电路625测试比对处理后,又传送至一电平侦测电路627,该电平侦测电路627为低电平有效,即如果测试结果为低电平时,则表明该HDD LED 620显示正常,如果测试结果为高电平时,则表明该HDD LED 620显示异常,存在故障,需要进一步检测排除该故障。该power LED 640通过一写主机板寄存器641来触发激活。当检测执行到该步时,***通过该测试信号测试模块70给出该写主机板寄存器641测试输入信号,该输入信号传送至PowerLED 640后,经过控制比较电路643处理后,将比较结果输送至电平侦测电路645中,该电平侦测电路645也是低电平有效。
请参照图6,该Audio测试电路的输入端包括一CPLD Out0信号300、一CPLD Out2信号330以及一被测主机板音源320,该CPLD Out0信号300及该CPLD Out2信号330均来自于该测试信号转换模块70。当CPLD Out0信号300为低电平时,其可以与被测主机板音源320构成一Line Out(输入)/HP(Headphone耳机)-Line In(输出)回路340,对被测试主机板音源320进行耳机音频输入/输出品质方面的测试;当CPLD Out0信号300为高电平时,其可与被测主机板音源320构成一MIC(Microphone扩音器)-Line In回路350,对扩音器输入品质进行检验。无论该CPLD Out0信号300为低电平或是高电平,只要该CPLD Out2信号330处于低电平时,***将会优先处理该CPLDOut2信号330。当该CPLD Out2信号330为低电平时,其将与该被测主机板音频320构成一CD(Compact Disk光盘)In-Speaker回路360。当***开始测试时,该CPLD Out2信号330初始状态为高电平,***首先将该CPLD Out0信号300设置为低电平,使其与该被测主机板音源320构成Line Out/HP-LineIn回路340,然后***采集进行测试所需的各项参数,由该Line Out/HP-LineIn回路340输出到一测试回路380进行功能测试。然后,***将该CPLD Out0信号300的设置更改为高电平,使其与该被测主机板音源320构成该MIC-LineIn回路350,随后***也将采集进行测试所需的各项参数,由该MIC-Line In回路350输出到该测试回路380进行功能测试。对CPLD Out0信号300处理完之后,***将该CPLD Out2信号330的电平由高转变为低,屏蔽该CPLDOut0信号300,从而使其与该被测试主机板音源320构成该CD In-Speaker回路360,其输出端也连接到该测试回路380进行功能测试。
请参照图7,该电池测试电路根据将被测主机板电池与***预设标准值进行比对,筛选出电压值低于标准值的不良品,达到测试的目的。该电池测试电路主要包括一电池标准值控制电路400、一被测主机板电池410、一CPLDOutput1(输出)控制信号430、一控制电路450、一标准值与真实值比较电路470以及一CPLD Input(输入)侦测电路490,测试时,该被测主机板电池410的输出端连接于该控制电路450,该CPLD Output1控制信号430来自于该测试信号转换模块70,其作为该控制电路450的激活信号在低电平的状态才有效,该控制电路450激活之后将采集的该被测主机板电池410的量值输送至该标准值与真实值比较电路470,同时,该标准值与真实值比较电路470也将从该电池标准值控制电路400处接收标准电压值,然后将标准值与真实值比较后输送至该CPLD Input侦测电路490中,如果该比较值为低电平,该CPLDInput侦测电路490的表示结果将会显示为“Pass”(通过),如果该比较值为高电平,该CPLD Input侦测电路490的表示结果将会显示为“Fail”(未通过)。
Claims (6)
1.一种主机板功能测试板,包括一测试信号转换模块和一Audio测试电路,其特征在于:所述测试信号转换模块包括一与待测试主机板相连的测试信号输出端口、一与所述测试信号输出端口相连的控制芯片,所述测试信号输出端口将待测试主机板的测试信号传输至所述控制芯片,所述控制芯片将所述测试信号转换成I/O控制信号,所述I/O控制信号包括被输出至所述Audio测试电路的一CPLD Out0信号和一CPLD Out2信号,所述Audio测试电路根据该CPLD Out0信号和该CPLD Out2信号的电平状态,分别测试被测试主机板Line Out/HP-Line In端口的信号、MIC-Line In端口的信号或CD_In-Speaker端口的信号是否正常。
2.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述控制芯片输出的I/O控制信号是否处于正确的状态由一设备信号监测。
3.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述Audio测试电路中所述CPLD Out2信号的动作优先权高于所述CPLD Out0信号,并且所述CPLD Out2信号在低电平状态下有效,高电平状态下被禁止。
4.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述CPLD Out0信号为低电平时,与被测主机板音源组成用于测试所述Line Out/HP-Line In端口的信号的Line Out/HP-Line In回路。
5.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述CPLD Out0信号为高电平时,与被测主机板音源组成用于测试所述MIC-Line In端口的信号的MIC-Line In回路。
6.如权利要求1所述的主机板功能测试板,其特征在于:所述CPLD Out2信号为低电平时,与被测主机板音源组成用于测试所述CD_In-Speaker端口的信号的CD_In-Speaker回路。
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