WO2021075442A1

WO2021075442A1 - 導電性部材、プロセスカートリッジ並びに電子写真画像形成装置

Info

Publication number: WO2021075442A1
Application number: PCT/JP2020/038693
Authority: WO
Inventors: 翔太金子; 裕一菊池; 健二 ▲高▼嶋; 雅大倉地; 一浩山内; 悟西岡; 渡辺　宏暁
Original assignee: キヤノン株式会社
Priority date: 2019-10-18
Filing date: 2020-10-14
Publication date: 2021-04-22
Also published as: JP2021067940A; CN114730147B; CN114730147A; US20220229379A1

Abstract

導電性の外表面を有する支持体と、該支持体の外表面上に設けられた導電層を有する電子写真用の導電性部材であって、該導電層は、第１のゴム架橋物を含む、体積抵抗率は、１．０×１０^１２Ωｃｍよりも大きいマトリックスと、該マトリックス中に分散された複数個のドメインとを有し、該ドメインは、第２のゴム架橋物および電子導電剤を含み、該導電層は、導電性部材の外表面から深さ方向に該マトリックスの体積抵抗率が小さくなっている領域Ｔを有する電子写真用の導電性部材を用いる。

Description

導電性部材、プロセスカートリッジ並びに電子写真画像形成装置

　本開示は、電子写真用の導電性部材、プロセスカートリッジ並びに電子写真画像形成装置に関する。

　電子写真方式を採用した画像形成装置には、帯電部材や転写部材として導電性部材が使用されている。導電性部材は、導電性支持体から導電性部材表面まで電荷を輸送し、当接物体に対して、放電、あるいは摩擦帯電によって電荷を与える役割を担う。
　導電性部材の一つである帯電部材は、感光ドラムとの間に放電を発生させ、感光ドラム表面を帯電させる部材である。感光ドラム表面にピンホールの如き微小な欠陥が存在した場合、帯電部材の当接該当箇所に電界集中が生じやすくなり、過剰な電荷輸送、すなわち異常放電が起きやすくなる。
　異常放電が生じると、導電性部材の長手方向全体を放電、帯電するために導電性支持体から供給されるための電荷が、微小な欠陥に対する放電に集中する。このため、同時に放電すべき長手方向の同位相の領域において放電量が低減し、感光ドラムが帯電されないという現象が生じる。結果として微小な欠陥を含む、同時に放電すべき長手方向の同位相の領域は、帯電電位が減少し、トナーが過剰に現像され黒帯状の画像弊害、いわゆる“横黒帯画像”として現れる場合がある。

　特許文献１には、多層膜を有する導電性部材において、それぞれの層の体積抵抗率を制御し、上記の異常放電を抑制する手段が開示されている。

特開２００２－１０８０６３号公報

　特許文献１では、弾性層と表面層との多層膜（合わせて導電層ともいう）を有する導電性部材において、それぞれの層の体積抵抗率を設定して、前記の異常放電を抑制する技術が開示されている。このような構成の場合、電界集中による異常放電の抑制と帯電性能の両立が課題となる。
　すなわち、感光ドラムの欠陥において電界集中による過剰な電荷の流れ込みが起因して生じる異常放電の抑制と、過剰な電荷の流れ込みを抑制するための高抵抗化で生じる放電量不足の抑制との両立が困難であった。
　例えば、導電層全体の電気抵抗を適正範囲内とした上で、表面層の体積抵抗率が弾性層の体積抵抗率よりも小さい場合には、過剰な電荷輸送を抑制できず、前記異常放電による横黒帯が発生する場合がある。また別の例として、前記表面層の体積抵抗率が弾性層の体積抵抗率よりも大きい場合には、過剰な電荷輸送を抑制する機能は発現可能であるが、特に高速印刷時に、導電層外表面に十分な電荷供給が間に合わず、帯電量低下由来の画像不良が発生する場合がある。

　本開示の一態様は、電子写真用の帯電部材や転写部材に求められる高い放電性能を具備し、かつ、ピンホールの如き欠陥を有する感光ドラムに対しても異常放電、及び横黒帯画像を抑制し、同時に帯電量の低下を抑制する導電性部材の提供に向けたものである。
　又、本開示の別の態様は、高品位な電子写真画像の形成に資するプロセスカートリッジ及び高品位な電子写真画像を形成することのできる電子写真画像形成装置の提供に向けたものである。

　本開示の一態様によれば、
　導電性の外表面を有する支持体と、
　該支持体の外表面上に設けられた導電層を有する電子写真用の導電性部材であって、
該導電層は、第１のゴム架橋物を含む、体積抵抗率が、１．０×１０^１２Ωｃｍよりも大きいマトリックスと、該マトリックス中に分散された複数個のドメインとを有し、
　該ドメインは、第２のゴム架橋物および電子導電剤を含み、該導電層は、導電性部材の外表面から深さ方向に該マトリックスの体積抵抗率が小さくなっている領域Ｔを有する電子写真用の導電性部材が提供される。

　本開示の一態様によれば、高速化に対応するために印加電圧を大きくして長期間使用した場合でも、感光ドラムの傷のごとき欠陥において、電界集中による異常放電および横黒帯画像を抑制し、同時に、帯電不足による帯電横スジ画像などの画像不良の発生を抑制することの両立を可能とする導電性部材を提供できる。
　本開示の他の態様によれば、高品位な電子写真画像の形成に資するプロセスカートリッジを得ることができる。さらに本開示の他の態様によれば、高品位な電子写真画像を形成することのできる電子写真画像形成装置を得ることができる。

感光ドラムと帯電部材の当接部近傍の概念図である。本開示の一実施形態に係る導電性部材の長手方向に対して垂直な方向の断面図である。本開示の一実施形態に係る導電性部材の導電層の長手方向に対して垂直な方向の断面図である。断面切り出し方向の説明図である。断面切り出し方向の説明図である。プロセスカートリッジの概念図である。電子写真装置の概念図である。導電性部材の導電層の最表面から深さ方向にかけての電流値をプロットしたグラフである。感光ドラムと帯電部材の隙間に発生する放電光の観察を行うための装置の概念図である。

　本発明者らは、ピンホールの如き欠陥を有する感光ドラムの帯電工程において、当該欠陥への電界の集中による異常放電の発生の抑制と、帯電の不足による横スジの如き画像不良の発生の抑制との両立が困難である理由を以下のように推測している。
　感光ドラムは、帯電部材による帯電電位を維持するために、その表面には高抵抗な感光層を有する。感光ドラムは、電子写真画像形成装置（以下、電子写真装置ともいう）内において、現像部材、転写部材、清掃部材の如き他部材と当接している。そのため、電子写真画像の形成工程において、他部材との当接状態や、他部材との当接部における異物の影響によって、感光ドラムには、傷の如き微小な欠陥が発生する場合がある。このような欠陥は、電子写真装置のプロセススピードの高速化や長寿命化に伴ってより生じやすくなっている。

　また、感光層は、感光ドラムを電子写真装置本体の接地電極と接続するために、導電性の表面を有する基体上に形成されている。そして、当該欠陥が生じた部位は、感光層の厚さが、当該欠陥が生じた部位の周囲の、欠陥が生じていない部位に比べて薄いため、電気抵抗が低い。さらに、欠陥の平面方向のサイズや深さによっては、欠陥が生じている部位において感光層が抵抗体としては殆ど機能していない状態になり得る。

　その結果、感光ドラムの欠陥発生部位においては、分担電圧が大幅に低下する。すなわち、当該欠陥に対して放電を発生させ得る、帯電部材の領域内の導電経路においては、感光ドラムの欠陥の分担電圧が減少した分だけ、分担電圧が大きくなり、電界が大きくなる。なお、感光ドラムの欠陥が生じていない部位においては、導電性部材内の電荷の経路はいずれも均等な電界となる。

　一方、当該欠陥に対応する、帯電部材の挙動を下記に説明する。
　まず、帯電部材は、電源に接続された導電性支持体を経由して電荷が供給され、印加された電圧が形成する電界に従って、導電層表面まで電荷が導電層内部を経由して輸送され、感光ドラムとの微小空隙で放電が発生する。

　ここで、導電パス内の電荷は、運動方程式Ｆ＝ｍａと、加速度を与える静電引力Ｆ＝ｑＥから、ａ＝ｑＥ／ｍと表記できるため、電荷の加速度は印加される電界と比例する。したがって、感光ドラムの欠陥がある箇所（電界が大きくなっている箇所）は、周囲の非欠陥部と比較して、帯電部材表面から放電として空隙に放出される際の電荷の速度が大きい。

　さらに、従来の帯電部材は連続した導電性の表面を持ち、感光ドラムとの微小空隙の距離が等しい長手方向の領域（同時に放電が発生する領域）は、等電位面を形成している。したがって、帯電部材表面の当該欠陥に対応する位置からなる放電に対して、長手方向全域から、電界が強く印加される影響で、多くの電荷の流れ込みが発生する。通常、感光ドラムの傷のごとき欠陥のサイズが直径１ｍｍ以下であるのに対し、一般的な帯電部材の長手方向の寸法は２００ｍｍを超えるため、通常の２００倍以上の電荷量が流れ込むと考えられる。

　次いで、電荷が表面から放出することによって生じる放電は、電荷が空気中の分子や電極と衝突して電子と正イオンを生成する過程を繰り返しながら、指数関数的に増加する電子雪崩の拡散現象である。したがって、帯電部材表面における電荷の放出速度が大きいと、電子雪崩が大きくなりやすい。

　すなわち、当該欠陥への放電は、上記の説明から、電界集中によって帯電部材の表面からの電荷の放出速度が過大となり、かつ、長手方向からの過大な量の電荷が突入するため、空気中で放電電荷量が過大になりやすく、異常放電を招来しやすいと考えられる。

　その結果、感光ドラムとの微小空隙の距離が等しい長手方向の領域（同時に放電が発生する領域）のうち、欠陥部分以外の部分（非欠陥部分）は放電のために使える電荷が不十分となる。これにより、帯電電位が低下して、過剰な量のトナーが現像されることとなる。その結果、電子写真画像の当接部分に対応する位置に黒い横スジが現れる場合がある。

　異常放電を抑制する手段として、例えば、特許文献１のように、高抵抗の層を活用する手段が考えられる。例えば最表面層として高抵抗な層を設けた場合、感光ドラムの欠陥に対して電界集中が起きても、過剰な電荷移動を表面層でせき止めることができるため、異常放電を抑制できる。しかし、高速印刷時は、外表面への電荷の供給が追い付かない。

　ここで、図１は、感光ドラム１１と帯電部材１２との当接部１３近傍の概念図を示す。電荷の供給が追い付かないと、図１のように、感光ドラム１１と帯電部材１２との当接部１３に対して、上流側の空隙での放電１４が不十分となる。その結果、当接部１３に対して下流側の空隙でも微小な放電１５が発生する。この感光ドラム１１との当接部１３に対する下流側の放電は、微小な電位差で発生するため、非常にまばらな放電となりやすく、画像上でもまばらなスジとして発生する帯電横スジ画像となる。なお、図１中、矢印１０１は帯電部材１２の回転方向を示し、矢印１０３は、感光ドラムの回転方向を示す。

　また異常放電を抑制する別の手段として、多層膜を有する帯電部材において、最表面層以外の層を、最表面層よりも体積抵抗率が高い材料で形成することで、過剰な電荷移動を抑制する手段が挙げられる。しかし、放電量不足を抑制するため、表面層を低抵抗化した層の導入が必須となる。この場合、結局、感光ドラム表面の傷部に対応する帯電部材表面において、同時に放電が発生するべき、長手方向の等電位な領域で電荷の回り込みが発生し、電子写真画像に黒い横スジが発生する場合がある。

　上記のように、感光ドラムの傷のごとき欠陥に対して、帯電部材が電界集中による異常放電を抑制し、同時に、帯電不足による帯電横スジ画像などの画像不良の発生を抑制することの両立を可能とすることは容易ではない。
　そこで、本発明者らは鋭意検討の結果、上記の問題を解決するため、下記要件を満たすことで、欠陥に対する異常放電の抑制と、電荷量不足由来の帯電横スジ画像の発生の抑制を両立させる導電性部材を得られることを見出した。
　要件（１）
　導電層が、第１のゴム架橋物を含む、体積抵抗率が、１．０×１０^１２Ωｃｍよりも大きいマトリックスと、該マトリックス中に分散された複数個のドメインとを有し、該ドメインは、第２のゴム架橋物および電子導電剤を含むこと。
　要件（２）
　導電層が、導電性部材の外表面から深さ方向に該マトリックスの体積抵抗率が小さくなっている領域Ｔを有すること。

＜要件（１）＞
　まず要件（１）について説明する。
　上記で説明したように、欠陥に対する異常放電は、電荷が導電性支持体から導電層を経由して導電性部材表面に到達する過程において、電荷の速度が大きくなりすぎることで発生する。あるいは、表面における、感光ドラムとの微小空隙の距離が等しい長手方向の領域（同時に放電が発生する領域）で過大な量の電荷が流れ込んだりすることで発生する。導電性部材表面までに到達するまでの過程を、本発明者らは次のように考えている。支持体から導電層外表面にかけての電荷移動の加速は、運動方程式と、オームの法則から、下記式（Ａ）のように表記できる。該式（Ａ）においてＦは静電引力（Ｎ）、ｍは電荷の質量（ｇ）、ａは電荷の加速度（ｍ／ｓ^２）、ｑは電荷の電荷量（Ｃ）、Ｅは電界（Ｖ／ｍ）、Ｖは導電経路の分担電圧（Ｖ）、ｄは分担電圧が印加される導電経路の距離（ｍ）である。

　式（Ａ）は、電荷の加速度ａは導電経路の分担電圧Ｖに比例関係することを意味する。すなわち、導電部に印加される分担電圧Ｖが大きいほど、電荷移動はより加速度が大きくなる。
　導電層の体積抵抗率が支持体から導電層外表面にかけて一定であった場合、導電部にかかる分担電圧も支持体から導電層外表面にかけて一定であることから、加速度も一定である。加速度が一定ということは、支持体から導電層外表面にかけて電荷の移動速度が増加しつづけることを意味する。したがって、感光ドラムの傷のごとき欠陥が存在して、電界が過大に印加される状態が発生すると、加速度が大きくなり、電荷の最終的な到達速度が大きくなりやすい。
　この電荷の加速を抑制することは、導電性支持体から導電性部材表面まで連通した導電経路を有する導電層では、非常に難しい。連通している状態では、導電経路の体積抵抗によらず、加速し続けるからである。

　本発明者らは、電荷が加速し続けることを抑制するために、導電経路において、一定の加速がなされた後に、確実に電荷が一時的に停止するような構成であれば、電荷の加速を効果的に抑制できるものと考えた。
　そして、導電性のドメインと、絶縁性のマトリックス構造を有するマトリックス－ドメイン構造を有する導電層は、導電相であるドメイン内を電荷が移動した後に、絶縁相であるマトリックスに必ず衝突して、電荷の移動を一旦停止させることができるものと考えた。これにより、導電性のドメイン内に電荷がとどまりながら、電荷がドメイン間の受け渡しによって導電性部材表面に到達すると考えられる。

　さらに、分担電圧の観点から考察したとき、体積抵抗率が高い絶縁のマトリックスの分担電圧が大きく、導電のドメインの分担電圧は小さい。したがって、帯電バイアスの分担電圧そのままの分担電圧が印加される、連通した導電パスの構成に比べて、ドメイン内の電荷の加速が大幅に抑制される。
　具体的には、当該絶縁相のマトリックスが１．０×１０^１２Ωｃｍを超える体積抵抗率を有することが、マトリックス内を電荷が通過することを抑制できるため、電荷の一時停止の作用を発現するために必須である。
　同時に当該マトリックス－ドメイン構造では、当該帯電部材表面においても導電性のドメインが独立して、連通している部分がないために、表面の等電位面においても、電荷の流れ込みが発生しにくいと考えている。
　したがって、感光ドラムとの微小空隙の距離が等しい長手方向の領域（同時に放電が発生する領域）、つまり等電位面から感光ドラムの欠陥に対する電荷の流れ込みも抑制可能である。

　特許文献１のように、高抵抗な層によって電荷をせき止めるだけでは、上記のように、帯電量不足による帯電横スジ画像が発生する。しかし、当該マトリックス－ドメイン構造であれば、帯電横スジ画像も同時に抑制できることを本発明者らは見出した。
　当該マトリックス－ドメイン構造は、ドメインに電子導電材で導電性を発現させ、電荷の蓄積量を増大した上で、導電層全体にわたって、導電性のドメイン中に、潤沢に電荷を存在させた状態を達成できる。これにより、電荷がとどまりながらも、ドメイン内に電荷が潤沢に存在し、放電に関与できる電荷量を確保することができる。これにより、帯電部材としての使用時には感光ドラムとの当接部に対して上流で発生する放電量の低下を抑制できるため、当接部の下流でまばらな放電が発生する現象を抑制でき、その結果帯電横スジ画像を抑制可能となる。

＜要件（２）＞
　次に要件（２）について説明する。
　本発明者らは、鋭意検討の結果、近年の電子写真装置の高速化による、単位時間当たりの放電量の増大を目的として、帯電部材に印加される電圧が上昇される傾向に対しては、要件（１）のみでは、横黒帯画像の抑制できない場合がある認識を得た。本発明者らは、さらに、放電電荷量を直接支配する、電子雪崩の形成を制御するために、導電性部材から放出される際の最表面の電荷の速度を制御する必要があると考えた。
　その理由は、導電相内で、導電パスの分担電圧に比例して電荷が加速度を有し、最表面で最も電荷の速度が大きくなる。この到達速度は導電性部材表面における、電荷の放出、つまり放電と密接に相関するからである。

　上記でも説明したように、電荷が表面から放出してなされる放電は、電荷が空気中の分子や電極と衝突して電子と正イオンを生成する過程を繰り返しながら、指数関数的に増加する電子雪崩の拡散現象である。また、空気中においても電界に従って電荷の加速、輸送は行われ、空気中の分子との衝突周波数が大きくなり、電子雪崩の進展が大きくなりすぎると、放電電荷量が増大して、異常放電となる。したがって、放電中の電荷の初速度を抑制して、その後の電子雪崩の進展を極力低減するために、導電性部材最表面の電荷の加速を抑制することが必須である。
　導電性部材の最表面における電荷の加速を抑制するためには、導電性支持体から、徐々に加速しながら輸送される電荷が経由して到達する最表面の導電部において、さらに分担電圧を低減する手段を講じればよい。

　ここで、最表面の分担電圧を低減することを目的として、特許文献１のように、最表面に導電層を設ける手段では、要件（１）で説明した、最表面における表面方向の電荷の流れ込みが起こる。そのことにより、異常放電が発生し、加速は抑制できても、多量の電荷が放電に関与し、異常放電となる。
　本発明者らは、最表面の電荷の流れ込み抑制を鑑み、要件（１）に加え、導電性部材の外表面から深さ方向に該マトリックスの体積抵抗率が徐々に小さくなる領域Ｔを有する構成により、異常放電を高次のレベルで抑制できることを見出した。
　導電性部材の最表面において、マトリックスの体積抵抗率を、導電層最表面から内部に向かって徐々に小さくすることで、マトリックスの分担電圧は導電層最表面に向かって徐々に大きくなる一方、ドメインの分担電圧は徐々に小さくなる。これにより、最表面までのドメインを経由する電荷の供給能力を維持したまま、最表面で電荷の加速を低減することができる。
　さらに、最表面における電荷の加速を抑制できるだけでなく、表面において導電性のドメインとの体積抵抗率の差分が大きくなるため、電荷を一時停止させる作用も向上する。したがって、導電層外表面での感光ドラムの欠陥への電荷の周り込みの抑制効果の向上も果たす。同時に、最表面における導電性ドメイン内の電荷の蓄積効率も向上し、放電電荷量不足による帯電横スジ発生の抑制の効果をさらに高めることができる。

　以上のように、要件（１）と要件（２）を満たす導電層により、高速化のため印加電圧を大きくして長期間使用した場合でも、導電層内および最表面での電荷の加速を抑制できる。それと同時に、最表面の電荷の流れ込みを抑制することで、感光ドラムの欠陥への異常放電を抑制できる。また本構成においては、導電層内に潤沢な電荷の蓄積が可能であるため、放電電荷量の不足を生じさせにくく、帯電横スジ画像が発生しない導電性部材を提供できる。

　本態様に係る導電性部材について、ローラ形状を有する導電性部材（以降、導電性ローラ）を例に、図２を参照して説明する。図２は、導電性ローラの軸方向である長手方向に対して垂直な断面図である。導電性ローラ２１は、円柱状の導電性の支持体２２、支持体２２の外周、すなわち外表面上に形成された導電層２３を有している。

＜導電性の支持体＞
　導電性の支持体を構成する材料としては、電子写真用の導電性部材の分野で公知なものや、かかる導電性部材として利用できる材料から適宜選択して用いることができる。一例として、アルミニウム、ステンレス、導電性を有する合成樹脂、鉄、銅合金などの金属または合金が挙げられる。更に、これらに対して、酸化処理やクロム、ニッケルなどで鍍金処理を施しても良い。鍍金の種類としては電気鍍金、無電解鍍金のいずれも使用することができる。寸法安定性の観点から無電解鍍金が好ましい。ここで使用される無電解鍍金の種類としては、ニッケル鍍金、銅鍍金、金鍍金、その他各種合金鍍金を挙げることができる。鍍金厚さは、０．０５μｍ以上が好ましく、作業効率と防錆能力のバランスを考慮すると、鍍金厚さは０．１μｍ以上３０μｍ以下であることが好ましい。支持体の円柱状の形状は、中実の円柱状でも、中空の円柱状（円筒状）でもよい。この支持体の外径は、φ３ｍｍ以上φ１０ｍｍ以下の範囲が好ましい。
　支持体と導電層の間に、中抵抗層、あるいは絶縁層が存在すると、放電による電荷の消費後の電荷の供給を迅速にできなくなる。よって、導電層は、支持体に直接設けるか、あるいは、プライマーのごとき、薄膜、かつ、導電性の樹脂層からなる中間層のみを介して支持体の外周に導電層を設けることが好ましい。
　プライマーとしては、導電層形成用のゴム材料及び支持体の材質等に応じて公知のものを選択して用いることができる。プライマーの材料としては、例えば熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂が挙げられ、具体的には、フェノール系樹脂、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、エポキシ樹脂の如き材料を用い得る。

＜導電層＞
　前記要件（１）及び要件（２）を満たす導電性部材としては、例えば、導電層が、以下の構成（ｉ）～構成（ｉｉｉ）を満たす導電性部材が好ましい。
　構成（ｉ）該マトリックス中に分散された、複数個の電子導電材を含むドメインを有するマトリックス－ドメイン構造。
　構成（ｉｉ）該マトリックスの体積抵抗率が、１．０×１０^１２Ω・ｃｍより大きく１．０×１０^１７Ω・ｃｍ以下であること。
　構成（ｉｉｉ）外表面から深さ方向に、該マトリックスの体積抵抗率が徐々に小さくなる領域Ｔを有する。

　以下、上記（ｉ）～（ｉｉｉ）の要素について説明する。図３に、導電性ローラの長手方向に対して垂直な方向の導電層の部分断面図を示す。導電層は、マトリックス３ａとドメイン３ｂとを有するマトリックス－ドメイン構造を有する。そして、ドメイン３ｂは、電子導電剤としての導電性粒子３ｃを含む。このように電子導電剤を含むドメインがマトリックス中に分散されている導電層を具備する導電性部材に導電性支持体と被帯電体との間にバイアスが印加されたとする。そのときの導電層内において、電荷は以下のようにして導電層の導電性支持体側から反対側、すなわち、導電性部材の外表面側に移動すると考えられる。

　すなわち、電荷は、ドメイン中の分担電圧に従って加速、輸送された後、マトリックスとの界面近傍で停止される。そして、その電荷は、導電性支持体側に位置するドメインから、導電性支持体の側とは反対側に位置するドメインに順次受け渡されていき、導電層の導電性支持体の側とは反対側の表面（以降、「導電層の外表面」ともいう）に到達する。すなわち、ドメインにおいて蓄積された後、次のドメインへの授受が順次行われる。
　さらに、上記の電子導電剤を含むドメインによって、ドメイン内の電荷の蓄積が高効率に発生する。そのため、導電相内に、潤沢に電荷を有するドメインを常に多く配置することが可能なため、電荷が漸次停止しつつも、帯電不足由来の帯電横スジ画像の発生を抑制することが可能となる。
　さらにまた、ドメイン内の分担電圧を低減して電荷の加速を低減すること、それと同時に、導電性部材表面の等電位面から感光ドラム欠陥への電荷の過大な流れ込み抑制のために上記の構成（ｉ）～（ｉｉｉ）が必要である。

＜構成（ｉ）＞
＜マトリックス－ドメイン構造＞
　マトリックス－ドメイン構造は、導電層内の電荷をドメインとマトリックスの界面で停止させると同時に、マトリックスとドメインの体積抵抗率の違いによって、ドメイン内の電荷の加速を抑制するために必須である。さらに、この電荷がドメイン界面で停止する機能は、導電性部材表面における等電位面内において、感光ドラムの欠陥に向かって電荷が多量に流れ込む現象を抑制し、欠陥への放電電荷量を抑制することができる。
　また、高抵抗なマトリックスによって、電荷の加速を抑制するだけでなく、ドメインに含まれた電子導電剤によって、ドメイン内に潤沢な電荷を蓄積でき、帯電量不足由来の帯電横スジ画像の発生を抑制することも可能である。

＜マトリックス－ドメイン（Ｍ－Ｄ）構造の確認方法＞
　導電層中のマトリックス－ドメイン構造の存在は、導電層から薄片を作製して、薄片に形成した破断面の詳細観察により確認することができる。
　薄片化する手段としては、例えば、鋭利なカミソリや、ミクロトーム、ＦＩＢなどがあげられる。また、マトリックス－ドメイン構造のより正確な観察を実施するために、染色処理、蒸着処理など、導電相としてのドメインと絶縁相としてのマトリックスとのコントラストが好適に得られる前処理を観察用の薄片に施してもよい。
　破断面の形成、及び必要に応じて前処理を行った薄片に対して、レーザー顕微鏡、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）や透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）によって破断面を観察してマトリックスドメイン構造の存在を確認することができる。簡易的、かつ正確にマトリックス－ドメイン構造を確認できる手法として、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で観察することが好ましい。
　上記のような手法で導電層の薄片を取得し、当該薄片の表面を１０００倍以上１００００倍以下で観察して得られる画像を取得する。その後、画像ソフト（商品名：ＩｍａｇｅＰｒｏＰｌｕｓ、Ｍｅｄｉａ　Ｃｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）のような市販の画像処理ソフトを使用して、８ビットのグレースケール化を行い、２５６諧調のモノクロ画像を得る。次いで、破断面内のドメインが白くなるように、画像の白黒を反転処理し、２値化をして解析画像を取得する。ドメインおよびマトリックスを２値化によって区別する状態に画像処理した当該解析画像によって、マトリックス－ドメイン構造の有無を判断すればよい。
　当該解析画像に、図３のように、複数のドメインがマトリックス中に孤立した状態で存在する構造が含まれている場合に、導電層中でのマトリックス－ドメイン構造の存在を確認することができる。ドメインの孤立状態は、各ドメインが他のドメインと連結していない状態で配置され、かつ、マトリックスは画像内で連通し、ドメインがマトリックスによって分断されている状態であればよい。具体的には、当該解析画像内の５０μｍ四方内を解析領域としたとき、当該解析領域の枠線と接点を持たないドメイン群の総数に対して、上記のように孤立状態で存在するドメインの個数が、８０個数パーセント以上存在する状態を、マトリックス－ドメイン構造を有する状態とする。
　上記のような確認を、導電性部材の導電層を長手方向に均等に５等分し、周方向に均等に４等分する。それぞれの領域から任意に１点ずつ、合計２０点から当該切片を作製して上記測定を行うことにより、導電層中のマトリックス－ドメイン構造の存在を確認することができる。

＜マトリックス－ドメイン構造の形成方法＞
　本態様に係る導電性部材としては、例えば、ドメインを形成する導電性ゴム粒子をマトリックスゴムに混練する方法などが挙げられる。中でも、下記工程（ｉ）～（ｉｖ）を含む方法を経て形成する方法が好ましい。
　工程（ｉ）：カーボンブラックおよび第２のゴム架橋物を含む、ドメイン形成用ゴム組成物（以降、「ＣＭＢ」とも称する）を調製する工程；
　工程（ｉｉ）：第１のゴム架橋物を含むマトリックス形成用ゴム組成物（以降、「ＭＲＣ」とも称する）を調製する工程；
　工程（ｉｉｉ）：ＣＭＢとＭＲＣとを混練して、マトリックス－ドメイン構造を有するゴム組成物を調製する工程；
　工程（ｉｖ）：工程（ｉｉｉ）で調製したゴム組成物の層を、導電性支持体上に直接または他の層を介して形成し、該ゴム組成物の層を硬化（架橋）させて、本態様に係る導電層を形成する工程。

　構成（ｉ）に関して、マトリックスの体積抵抗率は、ＭＲＣの組成によって定まる。
　ＭＲＣに用いる第一のゴムとしては、導電性の低いゴムが好ましい。具体的には、例えば、天然ゴム、ブタジエンゴム、ブチルゴム、アクリロニトリルブタジエンゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、フッ素ゴム、イソプレンゴム、クロロプレンゴム、スチレンブタジエンゴム、エチレンプロピレンゴム、エチレンプロピレンジエンゴム、及びポリノルボルネンゴムからなる群から選択される少なくとも一が好ましい。
　第一のゴムが、ブチルゴム、スチレンブタジエンゴム、及びエチレンプロピレンジエンゴムからなる群から選択される少なくとも一がより好ましい。
　また、マトリックスの体積抵抗率が上記範囲内であれば、ＭＲＣには、必要に応じて、充填剤、加工助剤、架橋剤、架橋助剤、架橋促進剤、架橋促進助剤、架橋遅延剤、老化防止剤、軟化剤、分散剤、着色剤などを添加してもよい。一方、ＭＲＣには、マトリックスの体積抵抗率を上記範囲内とするために、カーボンブラックなどの電子導電剤は含有させないことが好ましい。

　さらに、構成（ｉ）に関しては、下記（ａ）～（ｄ）の４つを制御することが有効である。
　（ａ）ＣＭＢ、及びＭＲＣの各々の界面張力σの差；
　（ｂ）ＣＭＢの粘度（ηｄ）、及びＭＲＣの粘度（ηｍ）の比（ηｍ／ηｄ）；
　（ｃ）工程（ｉｉｉ）における、ＣＭＢとＭＲＣとの混練時のせん断速度（γ）、及びせん断時のエネルギー量（ＥＤＫ）；
　（ｄ）工程（ｉｉｉ）における、ＣＭＢとＭＲＣの混錬物に対するＣＭＢの体積分率。

（ａ）ＣＭＢとＭＲＣとの界面張力差
　一般的に二種の非相溶のゴムを混合した場合、相分離する。これは、異種高分子間の相互作用よりも、同一高分子間の相互作用が強いため、同一高分子同士で凝集し、自由エネルギーを低下させ安定化しようとするためである。
　相分離構造の界面は異種高分子と接触するため、同一分子同士の相互作用で安定化されている内部より、自由エネルギーが高くなる。その結果、界面の自由エネルギーを低減させるために、異種高分子と接触する面積を小さくしようとする界面張力が発生する。この界面張力が小さい場合、エントロピーを増大させるために異種高分子でもより均一に混合しようとする方向に向かう。均一に混合した状態とは溶解であり、溶解度の目安となるＳＰ値（溶解度パラメーター）と界面張力は相関する傾向にある。

　つまり、ＣＭＢとＭＲＣとの界面張力差は、各々が含むゴムのＳＰ値差と相関すると考えられる。ＭＲＣ中の第一のゴムの溶解度パラメーターＳＰ値と、ＣＭＢ中の第二のゴムのＳＰ値の絶対値の差が、好ましくは０．４（Ｊ／ｃｍ^３）^０．５以上５．０（Ｊ／ｃｍ^３）^０．５以下、より好ましくは０．４（Ｊ／ｃｍ^３）^０．５以上２．２（Ｊ／ｃｍ^３）^０．５以下となるようなゴムを選択することが好ましい。この範囲であれば安定した相分離構造を形成でき、また、ＣＭＢのドメイン径を小さくすることができる。ここで、ＣＭＢに用い得る第２のゴムの具体例としては、以下のとおりであり、これらの少なくとも１種を用いることができる。
　ここで、ＣＭＢに用い得る第二のゴムの具体例としては、例えば、天然ゴム（ＮＲ）、イソプレンゴム（ＩＲ）、ブタジエンゴム（ＢＲ）、アクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）、スチレンブタジエンゴム（ＳＢＲ）、ブチルゴム（ＩＩＲ）、エチレンプロピレンゴム（ＥＰＭ）、エチレンプロピレンジエンゴム（ＥＰＤＭ）、クルルプレンゴム（ＣＲ）、ニトリルゴム（ＮＢＲ）、水素添加ニトリルゴム（Ｈ－ＮＢＲ）、シリコーンゴム、及びウレタンゴム（Ｕ）からなる群から選択される少なくとも一が好ましい。
　第二のゴムが、スチレンブタジエンゴム（ＳＢＲ）、ブチルゴム（ＩＩＲ）、及びアクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）からなる群から選択される少なくとも一がより好ましく、スチレンブタジエンゴム（ＳＢＲ）、及びブチルゴム（ＩＩＲ）からなる群から選択される少なくとも一がさらに好ましい。

　導電層の厚みは、目的とする導電性部材の機能及び効果が得られるものであれば特に限定されない。導電層の厚みは、１．０ｍｍ以上４．５ｍｍ以下とすることが好ましい。
　ドメインとマトリクスとの質量比率（ドメイン：マトリックス）は、好ましくは５：９５～４０：６０であり、より好ましくは１０：９０～３０：７０であり、さらに好ましくは１３：８７～２５：７５である。

＜ＳＰ値の測定方法＞
　ＳＰ値は、ＳＰ値が既知の材料を用いて、検量線を作成することで、精度良く算出することが可能である。この既知のＳＰ値は、材料メーカーのカタログ値を用いることもできる。例えば、ＮＢＲ及びＳＢＲは、分子量に依存せず、アクリロニトリル及びスチレンの含有比率でＳＰ値がほぼ決定される。
　従って、マトリックス及びドメインを構成するゴムを、熱分解ガスクロマトグラフィー（Ｐｙ－ＧＣ）及び固体ＮＭＲ等の分析手法を用いて、アクリロニトリル又はスチレンの含有比率を解析する。それにより、ＳＰ値が既知の材料から得た検量線から、ＳＰ値を算出することができる。
　また、イソプレンゴムは、１，２－ポリイソプレン、１，３－ポリイソプレン、３，４－ポリイソプレン、及びｃｉｓ－１，４－ポリイソプレン、ｔｒａｎｓ－１，４－ポリイソプレンなどの、異性体構造でＳＰ値が決定される。従って、ＳＢＲ及びＮＢＲと同様にＰｙ－ＧＣ及び固体ＮＭＲ等で異性体含有比率を解析し、ＳＰ値が既知の材料から、ＳＰ値を算出することができる。
　ＳＰ値が既知の材料のＳＰ値は、Ｈａｎｓｅｎ球法で求めたものである。

（ｂ）ＣＭＢとＭＲＣとの粘度比
　ＣＭＢとＭＲＣとの粘度比（ＣＭＢ／ＭＲＣ）（ηｄ／ηｍ）は、１に近い程、ドメイン径を小さくできる。具体的には、粘度比は１．０以上２．０以下であることが好ましい。ＣＭＢとＭＲＣの粘度比は、ＣＭＢ及びＭＲＣに使用する原料ゴムのムーニー粘度の選択や、充填剤の種類や配合量によって調整が可能である。
　また、相分離構造の形成を妨げない程度に、パラフィンオイルなどの可塑剤を添加することでも調整が可能である。また混練時の温度を調整することで、粘度比の調整を行うことができる。
　なおドメイン形成用ゴム混合物やマトリックス形成用ゴム混合物の粘度は、ＪＩＳ　Ｋ６３００－１：２０１３に基づきムーニー粘度ＭＬ_{（１＋４）}を混練時のゴム温度で測定することで得られる。
　ムーニー粘度の測定装置としては、例えばムーニー粘度計（商品名：ＳＭＶ－３００ＲＴ、島津製作所社製）が挙げられる。

（ｃ）ＭＲＣとＣＭＢとの混練時のせん断速度、及びせん断時のエネルギー量
　ＭＲＣとＣＭＢとの混練時のせん断速度は速いほど、また、せん断時のエネルギー量は大きいほど、ドメイン間距離を小さくすることができる。
　せん断速度は、混練機のブレードやスクリュウといった撹拌部材の内径を大きくし、撹拌部材の端面から混練機内壁までの間隙を小さくすることや、回転数を大きくすることで上げることができる。また、せん断時のエネルギーを上げるには、撹拌部材の回転数を上げることや、ＣＭＢ中の第１のゴムとＭＲＣ中の第２のゴムの粘度を上げることで達成できる。

（ｄ）ドメインの体積分率ｐ（ＣＭＢとＭＲＣの混錬物に対するＣＭＢの体積分率ｐ）
　ＣＭＢとＭＲＣの混錬物に対するＣＭＢの体積分率ｐは、ＭＲＣに対するＣＭＢの衝突合体確率と相関する。具体的には、ＣＭＢとＭＲＣの混錬物に対するＣＭＢの体積分率を低減させると、ＣＭＢとＭＲＣの衝突合体確率が低下する。つまり必要な導電性を得られる範囲において、導電層中におけるドメインの体積分率を減らすことでドメイン間距離を小さくできる。そして、ドメインの体積分率ｐは、１５％以上４０％以下とすることが好ましい。

＜ドメイン径＞
　ドメインの円相当径（以降、単に「ドメイン径」ともいう）の算術平均値は、０．１μｍ以上、５．０μｍ以下とすることが好ましい。
　ドメイン径の平均値を、０．１０μｍ以上とすることで、導電層において、電荷の移動する経路をより効果的に限定することができる。より好ましくは０．１５μｍ以上であり、さらに好ましくは０．２０μｍ以上である。
　また、ドメイン径の平均値を５．０μｍ以下にすることで、ドメインの全体積に対する表面積の割合、すなわち、比表面積を指数関数的に大きくすることができ、ドメインからの電荷の放出効率を飛躍的に向上させ得る。ドメイン径の平均値は、上記の理由から、２．０μｍ以下、更には、１．０μｍ以下とすることが好ましい。ドメイン径の算出方法は後述する。

＜隣接するドメイン間の距離（以降、「ドメイン間距離」ともいう）＞
　ドメイン間距離の算術平均値は、０．２μｍ以上、４．０μｍ以下であることが好ましい。本開示のマトリックス中にドメインが分散されている導電層が、十分な電荷を導電性部材の外表面まで運び、放電させるためには、ドメイン間距離を４．０μｍ以下、特には、３．０μｍ以下とすることが好ましい。一方、ドメイン同士を絶縁領域であるマトリックスで確実に分断することで、十分な電荷をドメインに蓄積させると同時に、導電性部材に過度な電荷を長さないためには、ドメイン間距離を、０．２μｍ以上、特には、０．３μｍ以上とすることが好ましい。ドメイン間距離の算出方法は後述する。

＜ドメインの体積分率の測定方法＞
　ドメインの体積抵抗率は、例えば、導電層から、マトリクスドメイン構造が含まれている所定の厚さ（例えば、１μｍ）の薄片を切り出し、当該薄片中のドメインに走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）や原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）の微小探針を接触させることによって計測することができる。
　弾性層からの薄片の切り出しは、例えば、図４Ａに示したように、導電性部材の長手方向をＸ軸、導電層の厚み方向をＺ軸、周方向をＹ軸とした場合において、薄片が、ＸＺ平面と平湖な断面４２ａの少なくとも一部を含むように切り出す。または、図４Ｂに示すように、薄片が、導電性部材の軸方向に対して垂直なＹＺ平面（例えば、４３ａ、４３ｂ、４３ｃ）の少なくとも一部を含むように切り出す。例えば、鋭利なカミソリや、ミクロトーム、収束イオンビーム法（ＦＩＢ）などが挙げられる。
　体積抵抗率の測定は、導電層から切り出した薄片の片面を接地する。次いで、当該薄片の接地面とは反対側の面のドメインの部分に走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）や原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）の微小の微小探針を接触させ、１ＶのＤＣ電圧を５秒間印加し、接地電流値を５秒間測定した値から算術平均値を算出し、その算出した値で印加電圧を除することで電気抵抗値を算出する。最後に薄片の膜厚を用いて、抵抗値を体積抵抗率に変換する。このとき、ＳＰＭやＡＦＭは、抵抗値と同時に当該薄片の膜厚も計測できる。
　円柱状の帯電部材におけるドメインの体積抵抗率の値は、例えば、導電層を周方向に４分割、長手方向に５分割した領域のそれぞれから各１つずつ薄片サンプルを切り出し、上記の測定値を得た後に、合計２０サンプルの体積抵抗率の算術平均値を算出することによって求める。

＜構成（ｉｉ）＞
・マトリックスの体積抵抗率；
　マトリックスの体積抵抗率を、１．０×１０^１２Ω・ｃｍより大きく１．０×１０^１７Ω・ｃｍ以下とすることで、電荷が、ドメインを迂回してマトリックス内を移動することを抑制できる。すなわち、導電のドメインを輸送されたのち、マトリックスとの界面で電荷を一時的に停止させることができる。
　同時に、マトリックスの分担電圧が大きく、ドメインの分担電圧を低減できるために、ドメイン内の電荷の加速を抑制することができる。
　そして、マトリックスの体積抵抗率を上記したような高抵抗領域の範囲とすることで、各ドメインとの界面において、電荷が確実にとどまりながら伝達することで電荷の加速を抑制可能である。さらに、ドメインとの体積抵抗率の差分が大きくなることで、導電性部材表面において、感光ドラムの欠陥に対する電荷流れ込みを抑制することができる。これらにより、異常放電及び横黒帯を抑制できる。また更には、ドメインとの体積抵抗率の差が大きくなるために、十分な電荷をドメイン内に蓄積して帯電量の不足を抑制できるため、帯電に起因する黒い横スジの発生の抑制が可能となる。

・マトリックスの体積抵抗率の測定方法；
　マトリックスの体積抵抗率の測定は、前記＜ドメインの体積抵抗率の測定方法＞に対して、測定箇所をマトリックスに相当する場所に変更し、電流値の測定の際の印加電圧を５０Ｖに変更した以外は同様の方法で実施すればよい。

＜構成（ｉｉｉ）＞
　導電層内の電荷の加速を抑制し、導電性部材表面における電荷の流れ込みを抑制することに加え、導電性部材表面からの電荷放出速度を抑制して電子雪崩の進展を抑制することが必須である。導電性部材表面からの電荷放出速度を抑制するためには、外表面から深さ方向に、該マトリックスの体積抵抗率が徐々に小さくなる領域Ｔを有することが必要である。この領域Ｔにおいて、ドメインの体積抵抗率が、該外表面から深さ方向に向かって大きくなっていることによりマトリックスの分担電圧は導電層最表面に向かって徐々に大きくなる一方、ドメインの分担電圧は徐々に小さくなる点から好ましい。
　このような領域Ｔを有することに加えて、導電層の外表面から深さ５μｍ以上６μｍ以下の第１の厚み領域におけるマトリックスの体積抵抗率をＲ１（Ωｃｍ）、該第１の厚み領域に含まれるドメインの体積抵抗率をｒ１（Ωｃｍ）とし、該導電層の外表面から深さｔ－１μｍ以上ｔμｍ以下の第２の厚み領域におけるマトリックスの体積抵抗率をＲ２（Ωｃｍ）、該第２の領域に含まれるドメインの体積抵抗率をｒ２（Ωｃｍ）としたときに、
　下記式（１）を満たすことが好ましい。
　Ｒ１／ｒ１＞Ｒ２／ｒ２・・・・（１）

＜領域Ｔの確認方法＞
　構成（ｉｉｉ）（要件（２））における、表面領域Ｔの確認は、本開示の導電性部材の断面を、最表面部が含まれる状態の切片を切り出し、当該断面に対して深さ方向に電気抵抗値を２次元的にマッピングできる手段によって、確認すればよい。
　まず、導電性部材から、サンプルを取り出し、微小探針によって薄片サンプルの電気抵抗を計測することができる。薄片化する手段としては、例えば、鋭利なカミソリや、ミクロトーム、収束イオンビーム法（ＦＩＢ）などが挙げられる。これらの中でも、ミクロトームが好ましい。平滑な断面を形成し、微小探針での測定において表面形状の要因を極力排除できるからである。微小探針で計測する具体的な手段としては、例えば、微小なカンチレバーを用いて形状や電気抵抗値を計測できる、ＳＰＭやＡＦＭを使用することが好ましい。
　これらの方法は、切片の測定断面に対して、裏側の切片を接地電極と接続することで、測定断面に対して微小探針を介して電圧を印加し走査して電気抵抗値の分布を可視化することが可能である。
　さらに、測定断面の電気抵抗値の２次元分布画像によりマトリックスが最表面から深さ方向に対して体積抵抗率が小さくなることが計測できる。「Ｉｍａｇｅｐｒｏｐｌｕｓ」（商品名、Ｍｅｄｉａ　Ｃｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）のような市販の画像処理ソフトを使用し、体積抵抗率の変化に伴う画像濃度の変化を定量化し、最表面からの体積抵抗率の変化が飽和する点を表面領域Ｔの境界として設定すればよい。
　表面領域Ｔの厚みｔが２０μｍ以上２００μｍ以下であることが好ましい。表面領域Ｔの厚みｔは導電性部材表面における電荷の回り込みを抑制するために２０μｍ以上であることが好ましい。一方で、電荷の回り込みの抑制が過剰になり、帯電不足になることを抑制するために、表面領域Ｔの厚みｔは２００μｍ以下であることが好ましく、電界集中による過剰電流抑制のために１００μｍ以上であることがより好ましい。

＜領域Ｔの作製方法＞
　表面領域Ｔの作製方法としては、電荷放出面である導電層の外表面から深さ方向に向かって導電層の体積抵抗率が小さくなるように導電層を変質させられる方法であれば特に限定されない。
　具体的な方法としては、例えば、導電層の表面処理や、導電層の形成材料中に表面移行性の材料を添加する方法が挙げられる。
　具体的には、導電性部材で用いるゴム材料の架橋度を変化させることができる、電子線照射や熱処理が挙げられる。中でも、電子線照射および熱処理での表面処理が好ましい。これらの手段はゴムローラである導電性部材表面において、ゴム材料の架橋度を向上させる働きがある。ゴム材料の架橋度が向上することはすなわち、ゴム材料の高分子の自由体積が減少し、ごくわずかに体積が収縮することを意味する。この収縮は、導電性部材の外径などの測定でも確認することができる。

　ゴム材料の高分子の自由体積が減少して収縮した導電性部材の表面は、分子運動性が低下するために、電気抵抗値が高くなる。したがって、本開示に係る導電性部材においても、電子線照射や熱処理による架橋度を変化させる表面処理により、マトリックスはその体積抵抗率が大きくなる。
　一方で、本開示に係る導電層のドメインも同時に収縮および架橋度の増加が発生するが、ゴムの収縮に伴ってドメイン内の電子導電剤間の距離が近づくために、ドメインの体積抵抗率は低下する。
　つまり、ドメインが電子導電剤を有し、マトリックスに電子導電剤が存在しないドメインーマトリックス構造の構成を有する導電層に対して電子線照射や熱処理を施すことによって、本開示に係る表面領域Ｔを、より効果的に形成することができる。
　導電性部材表面の架橋度は例えばパルスＮＭＲで計測できるＴ２緩和時間に代表される、分子運動性を評価する手法で定量化することができる。
　このように、本開示に係る、電子導電剤を有する導電性ドメインと、絶縁性マトリックス構造による導電層を有する導電性部材表面に対して、ゴム材料の架橋度を向上させると、その表面はマトリックスの高抵抗化と、ドメインの低抵抗化が同時に発生する。
　上記のような表面処理の強度によって表面領域Ｔの厚みｔを制御することが可能である。電子線照射の強度を強くする、照射時間を延ばす、熱処理の温度を高くする、熱処理時間を延ばすことで、表面領域Ｔの厚みｔを大きくすることができる。

＜ドメインの体積抵抗率＞
　ドメインは導電相であり、ドメイン内の電荷の輸送を効果的に行う必要がある。また、ドメインに印加される分担電圧を低減するために、マトリックスの体積抵抗率との差分を大きくすることを目的に、ドメインの体積抵抗率ρｄは１．０×１０^１Ωｃｍ以上１．０×１０^４Ωｃｍ以下が好ましい。１．０×１０^１Ωｃｍ以上であれば、電荷の供給量の増大が抑制され、非導電性のマトリックスの電気抵抗により、過剰電流を抑制できる。一方で１．０×１０^４Ωｃｍ以下であれば、電荷の輸送速度が低下することを抑制できるために、放電および帯電に必要な電荷移動も抑制されず、電荷不足を抑えることができる。
　なお、前述のように、ドメイン内の電荷の蓄積の効率を向上させるために、電子導電剤を使用することが好ましい。

＜ドメインの体積抵抗率の測定方法＞
　ドメインの体積抵抗率の測定は上記のマトリックスの体積抵抗率の測定と同様の測定方法で測定すればよい。
　上記のような体積抵抗率の測定は、導電層を周方向に４分割、長手方向に５分割した領域のそれぞれから各１つずつ薄片サンプルを切り出し、上記の測定値を得た後に、合計２０サンプルの体積抵抗率の算術平均によって算出する。

＜ドメインの体積抵抗率の達成手段＞
　ドメインの体積抵抗率は、導電剤を適宜使用することによって、その導電性を所定の値にすることで調整することができる。またドメインの体積抵抗率は、導電剤の種類および使用量を適宜選択することによって調整することができる。
　ドメインは第２のゴム架橋物と電子導電剤を含んでいる。
　マトリックスは第１のゴム架橋物を主成分とし、カーボンブラック等の電子導電剤をほとんど含まず、ドメインよりも高い電気抵抗を有する。
　ドメインに配合される電子導電剤は、カーボンブラック、グラファイト等の炭素材料；酸化チタン、酸化錫等の導電性酸化物；Ｃｕ、Ａｇ等の金属；導電性酸化物または金属が表面に被覆され導電化された粒子等を例として挙げられる。また、必要に応じて、これらの電子導電剤の２種類以上を適宜量配合して使用してもよい。
　また、ドメインに配合される電子導電剤の配合量は、第２のゴムの１００質量部に対して、１０質量部以上２００質量部以下が好ましい。特に好ましくは、２０質量部以上１００質量部以下である。
　上記範囲にあることで、高速プロセス下においても、十分な電荷供給量を可能とするために好ましいドメインの体積抵抗値である１．０×１０^１Ω・ｃｍ以上１．０×１０^４Ω・ｃｍ以下の範囲に容易に制御することができる。
　以上の様な電子導電剤のうち、導電化効率が高い、ゴムとの親和性が大きい、電子導電剤間の距離の制御を容易とする等の理由により、導電性カーボンブラックを主成分とする電子導電剤が好ましい。ドメインに配合されるカーボンブラックの種類については、特に限定されるものではない。

　なお、電子導電剤として導電性カーボンブラックを使用する場合は、ドメインに配合される導電性カーボンブラックは、第２のゴムの１００質量部に対して、２０質量部以上１５０質量部以下が好ましい。特に好ましくは、５０質量部以上１００質量部以下である。この配合量は一般的な電子写真用の導電性部材としては、比較的多量に配合されていることを特徴とする。カーボンブラックの導電性は、カーボンとカーボンの間を流れるトンネル電流で形成される。このトンネル電流量のバラツキは、第２のゴムに占めるカーボンブラックの添加量や体積占有率に相関し、この比率が高くなるほどバラツキを抑制することができる。従って、上記範囲にあることで、放電ムラ、つまり感光体ドラムの電位のムラを効果的に抑制することができる。
　また、ドメインを形成する第２のゴムには、マトリックス同様に体積抵抗値を調整するために、ゴムの配合剤として一般に用いられている充填剤および増量剤を添加してもよい。充填剤および増量剤としては、マトリックスに用いたものを好適に用いることができる。また、ドメインに配合される充填剤および増量剤は、選択する第２のゴムの体積抵抗値にも依るが、第２のゴムの１００質量部に対して、０．１質量部以上６０質量部以下が好ましい。

　以上、前記要件（１）及び要件（２）を満たす好ましい導電性部材として、構成（ｉ）～構成（ｉｉｉ）を満たす導電性部材を説明したが、当該導電性部材は、さらに以下の構成（ｉｖ）を満たすことが好ましい。以下説明する。

＜構成（ｉｖ）＞
　導電層の長手方向の長さをＬとしたとき、導電層の長手方向の中央、及び導電層の両端から中央に向かってＬ／４の３か所における、導電層の厚さ方向の断面を決定する。それら断面の各々について、弾性層の外表面から深さ０．１Ｔ～０．９Ｔまでの厚み領域の任意の３か所に１５μｍ四方の観察領域を置く。そのときに、全９個の該観察領域の各々で観察されるドメインのうちの８０個数％以上が、ドメインの断面積に対する該ドメインが含む該電子導電剤粒子（導電性粒子ともいう）の断面積の割合が、２０％以上であること。
　上記構成（ｉｖ）は、該ドメインの該導電性粒子の含有量と定義できる。
　ドメインの内の導電性粒子の充填量が、上記であることで、ドメインに蓄積される電荷の効率を向上させることができ、帯電量不足由来の帯電横スジを効果的に抑制可能である。

＜ドメイン内の導電性粒子の含有量の測定方法＞
　まず、前述のマトリックスの体積抵抗率の測定における方法と同様の方法で切片を作製する。ただし、下記のように、導電性部材の長手方向に対して垂直な断面によって、切片を作製し、当該切片の破断面におけるドメインの形状を評価する必要がある。この理由を下記に述べる。
　図４Ａおよび４Ｂでは、導電性部材４１を、３軸、具体的にはＸ、Ｙ、Ｚ軸の３次元としてその形状を示した図を示す。図４Ａおよび４ＢにおいてＸ軸は導電性部材の長手方向（軸方向）と平行な方向、Ｙ軸、Ｚ軸は導電性部材の軸方向と垂直な方向を示す。
　図４Ａは、導電性部材に対して、ＸＺ平面４２と平行な断面４２ａで導電性部材を切り出すイメージ図を示す。ＸＺ平面は導電性部材の軸を中心として、３６０°回転することができる。導電性部材が感光体ドラムに対して当接されて回転し、感光ドラムとの隙間を通過する際に放電することを考慮すると、当該ＸＺ平面４２と平行な断面４２ａは、あるタイミングに同時に放電が起きる面を示していることになる。一定量の断面４２ａに相当する面が通過することによって、感光ドラムの表面電位が形成される。
　したがって、導電性部材内の電荷の蓄積量と相関する、ドメイン内の導電性粒子の充填量の評価のためには、以下の評価が必要である。すなわち、断面４２ａのようなある一瞬において同時に放電が発生する断面の解析ではなく、一定量の断面４２ａを含むドメイン形状の評価ができる導電性部材の軸方向と垂直な、図４Ｂに示す、ＹＺ平面４３と平行な断面４３ａでの評価が必要である。

　該導電層の長手方向の長さをＬとしたとき、導電層の長手方向の中央での断面４３ｂと、及び該導電層の両端から中央に向かってＬ／４の２か所の断面（４３ａ及び４３ｃ）の計３か所を選択する。
　また、当該断面４３ａ～４３ｃの観察位置に関しては、導電層の厚さをＴとしたとき、各切片のそれぞれ外表面から深さ０．１Ｔ以上０．９Ｔ以下までの厚み領域の任意の３か所を決める。決めた３か所で１５μｍ四方の観察領域を置いたときの、合計９か所の観察領域で測定を行えばよい。
　破断面は、例えば、凍結割断法、クロスポリッシャー法、収束イオンビーム法（ＦＩＢ）の如き方法で形成することができる。破断面の平滑性と、観察のための前処理を考慮すると、ＦＩＢ法が好ましい。また、マトリックスドメイン構造の観察を好適に実施するために、染色処理、蒸着処理など、導電相と絶縁相とのコントラストが好適に得られる前処理を施してもよい。
　破断面の形成、前処理を行った切片に対して、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）や透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）によってマトリックスドメイン構造を観察することができる。これらの中でも、ドメインの面積の定量化の正確性から、ＳＥＭで１０００倍～１０００００倍で観察を行うことが好ましい。

＜＜ドメイン内の導電性粒子の断面積割合μｒの測定方法＞＞
　ドメインの内の導電性粒子の断面積の割合μｒの測定は、上記で撮影画像を定量化することによって行うことができる。ＳＥＭでの観察により得られた破断面画像に対し、ＩｍａｇｅＰｒｏＰｌｕｓ（商品名、Ｍｅｄｉａ　Ｃｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）のような市販の画像処理を使用して、それぞれの観察位置で９枚の画像を得る。それらの画像から、それぞれ１５μｍ四方の解析領域を抽出し、８ビットのグレースケール化を行い、２５６諧調のモノクロ画像を得る。次いで、破断面内のドメインが白くなるように、画像の白黒を反転処理し、２値化して解析用の２値化画像を得ることができる。

　ドメイン内の導電性粒子の断面積割合の測定は、上記の２値化画像を定量化することによって行うことができる。２値化画像に対し、画像処理ソフト（商品名：ＩｍａｇｅＰｒｏＰｌｕｓ、Ｍｅｄｉａ　Ｃｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）内のカウント機能により、ドメインの断面積Ｓおよび、それぞれのドメイン内の導電剤からなる部分の断面積の総和Ｓｃを算出する。そして、Ｓｃ／Ｓの算術平均値μｒ（％）を算出する。
　円柱形状の帯電部材の場合では、導電層の長手方向の長さをＬ、導電層の厚さをＴとしたとき、導電層の長手方向の中央、及び導電層の両端から中央に向かってＬ／４の３か所における、図４Ｂに示されるような導電層の厚さ方向の断面を取得する。得られた断面の各々について、導電層の外表面から支持体方向への深さ０．１Ｔ～０．９Ｔまでの厚み領域の任意の３か所の１５μｍ四方の領域において、上記の測定を行い、合計９点の領域からの測定値の算術平均から算出する。

＜プロセスカートリッジ＞
　図５は本開示に係る導電性部材を帯電ローラとして具備している電子写真用のプロセスカートリッジの概略断面図である。このプロセスカートリッジは、現像装置と帯電装置とを一体化し、電子写真装置の本体に着脱可能に構成されたものである。現像装置は、少なくとも現像ローラ５３とトナー容器５６とを一体化したものであり、必要に応じてトナー供給ローラ５４、トナー５９、現像ブレード５８、攪拌羽５１０を備えていてもよい。帯電装置は、感光ドラム５１、クリーニングブレード５５、および帯電ローラ５２を少なくとも一体化したものであり、廃トナー容器５７を備えていてもよい。帯電ローラ５２、現像ローラ５３、トナー供給ローラ５４、および現像ブレード５８は、それぞれ電圧が印加されるようになっている。

＜電子写真装置＞
　図６は、本開示に係る導電性部材を帯電ローラとして用いた電子写真装置の概略構成図である。この電子写真装置は、四つの前記プロセスカートリッジが着脱可能に装着されたカラー電子写真装置である。各プロセスカートリッジには、ブラック、マゼンダ、イエロー、シアンの各色のトナーが使用されている。感光ドラム６１は矢印方向に回転し、帯電バイアス電源から電圧が印加された帯電ローラ６２によって一様に帯電され、露光光６１１により、その表面に静電潜像が形成される。一方トナー容器５６に収納されているトナー６９は、攪拌羽６１０によりトナー供給ローラ６４へと供給され、現像ローラ６３上に搬送される。そして現像ローラ６３と接触配置されている現像ブレード６８により、現像ローラ６３の表面上にトナー６９が均一にコーティングされると共に、摩擦帯電によりトナー６９へと電荷が与えられる。上記静電潜像は、感光ドラム６１に対して接触配置される現像ローラ６３によって搬送されるトナー５９が付与されて現像され、トナー像として可視化される。

　可視化された感光ドラム上のトナー像は、一次転写バイアス電源により電圧が印加された一次転写ローラ６１２によって、テンションローラ６１３と中間転写ベルト駆動ローラ６１４に支持、駆動される中間転写ベルト６１５に転写される。各色のトナー像が順次重畳されて、中間転写ベルト上にカラー像が形成される。
　転写材６１９は、給紙ローラにより装置内に給紙され、中間転写ベルト６１５と二次転写ローラ６１６の間に搬送される。二次転写ローラ６１６は、二次転写バイアス電源から電圧が印加され、中間転写ベルト６１５上のカラー像を、転写材６１９に転写する。カラー像が転写された転写材６１９は、定着器６１８により定着処理され、装置外に廃紙されプリント動作が終了する。
　一方、転写されずに感光ドラム上に残存したトナーは、クリーニングブレード６５により掻き取られて廃トナー収容容器６７に収納され、クリーニングされた感光ドラム６１は、上述の工程を繰り返し行う。また転写されずに一次転写ベルト上に残存したトナーもクリーニング装置６１７により掻き取られる。

＜実施例１＞
（１．未加硫ドメインゴム組成物の製造）
［１－１．未加硫ドメインゴム組成物の調製］
　表１に示す量の各材料を加圧式ニーダーで混合し未加硫ドメイン組成物を得た。混合機は、６リットル加圧ニーダー（製品名：ＴＤ６－１５ＭＤＸ、トーシン社製）を用いた。混合条件は、充填率７０ｖｏｌ％、ブレード回転数３０ｒｐｍ、２０分間とした。

［１－２．未加硫マトリックスゴム組成物の調製］
　表２に示す量の各材料を加圧式ニーダーで混合し未加硫マトリックスゴム組成物を得た。混合機は、６リットル加圧ニーダー（製品名：ＴＤ６－１５ＭＤＸ、トーシン社製）を用いた。混合条件は、充填率７０ｖｏｌ％、ブレード回転数３０ｒｐｍ、１６分間とした。

［１－３．導電層形成用ゴム組成物の調製］
　表３に示す配合量の各材料をオープンロールにて混合し導電層形成用のゴム組成物を調製した。混合機は、ロール径１２インチのオープンロールを用いた。混合条件は、前ロール回転数１０ｒｐｍ、後ロール回転数８ｒｐｍで、ロール間隙２ｍｍとして合計２０回左右の切り返しを行った後、ロール間隙を０．８ｍｍとして１０回薄通しを行った。

（２．導電性部材の作製）
［２－１．導電性の支持体の準備］
　支持体として、快削鋼の表面に無電解ニッケルメッキ処理を施した全長２５２ｍｍ、外径６ｍｍの丸棒を用意した。当該丸棒を、導電性の支持体として使用した。

［２－２．導電層の形成］
　導電性の支持体の供給機構、及び未加硫ゴムローラの排出機構を有するクロスヘッド押出機の先端に、内径１０・０ｍｍのダイスを取付け、押出機とクロスヘッドの温度を８０℃に、導電性の支持体の搬送速度を６０ｍｍ／ｓｅｃに調整した。この条件で、押出機より上記で得た導電層形成用ゴム組成物を供給して、クロスヘッド内にて導電性の支持体の外周部を導電層形成用ゴム組成物で被覆し、未加硫ゴムローラを得た。
　次に、１６０℃の熱風加硫炉中に前記未加硫ゴムローラを投入し、６０分間加熱することで導電層形成用ゴム組成物を加硫し、導電性の基体の外周部に導電層が形成されたローラを得た。その後、導電層の両端部を各１０ｍｍ切除して、導電層部の長手方向の長さを２３２ｍｍとした。
　最後に、上記で得られたゴムローラの表面について回転砥石を用いて研磨し、中央部から両端部側へ各９０ｍｍの位置における各直径が８．４４ｍｍ、中央部直径が８．５ｍｍのクラウン形状に成形した導電性ローラａ１を得た。

［２－３．導電性部材の表面処理］
　導電性ローラａ１を、温度２００℃に設定した熱風循環乾燥機中で６０分乾燥させて、ローラの外周面上を表面改質して電子写真用ローラＡ１を作製した。

（３．特性評価）
［３－１．マトリックス－ドメイン構造の確認］
　導電層におけるマトリックス－ドメイン構造の有無以下の方法によって確認した。
　カミソリを用いて導電層の長手方向と垂直な断面が観察できるように切片を切り出した。次いで、該切片の、該導電層の断面に相当する面に白金を蒸着した。白金蒸着面を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（商品名：Ｓ－４８００、（株）日立ハイテクノロジーズ製）を用いて１，０００倍で撮影し、ＳＥＭ画像を得た。得られたＳＥＭ画像において、複数個のドメインがマトリックス中に分散され、かつ、マトリックスが連通している構造が確認された場合にマトリックス－ドメイン構造が「有り」と判定した。電子写真用ローラＡ１については、図３に示したように、複数のドメイン３ｂがマトリックス３ａ中に分散されており、マトリックスが連通した構造を有していた。

［３－２．導電層の断面から観察されるドメイン径Ｄ（ドメインの円相当径）の測定］
　導電層の断面から観察されるドメイン径Ｄは以下のように測定した。
　導電層から、ミクロトーム（商品名：Ｌｅｉｃａ　ＥＭ　ＦＣＳ、ライカマイクロシステムズ社製）を用いて、切削温度－１００℃にて、１μｍの厚みを有する薄片を切り出した。この時、薄片は導電性の支持体の軸と垂直な面とした。導電層からの切り出し位置は、導電層の長手方向の長さをＬとして、長手方向の中央、及び導電層の両端から中央に向かってＬ／４の３か所とした。当該切片の、該導電層の断面に相当する面に白金を蒸着した。白金蒸着面を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（商品名：Ｓ－４８００、（株）日立ハイテクノロジーズ製）を用いて５０００倍で撮影し、ＳＥＭ画像を得た。次いで、得られたＳＥＭ画像に対して、画像処理ソフト（商品名：ＩｍａｇｅＰｒｏＰｌｕｓ、　Ｍｅｄｉａ　Ｃｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）を用いて８ビットのグレースケール変換し、２５６階調のモノクロ画像を得た。次いで、当該モノクロ画像内のドメインが白くなるように、画像の白黒を反転処理し、画像の輝度分布に対して大津の判別分析法のアルゴリズムに基づいて、２値化の閾値を設定し、２値化像を得た。得られた２値化像について、導電層の厚さをＴｈとしたときの該導電層の外表面（支持体と対向する面とは反対側の面）から深さ０．１Ｔｈ～０．９Ｔｈの厚み領域の任意の３か所に一辺が２０μｍの正方形の観察領域内を置き、各観察領域内に存在する任意に選択した５０個のドメインの各々について、上記画像処理ソフトのカウント機能を用いて、断面積Ｓを算出した。次いで、それぞれのドメインの断面積Ｓから、ドメイン径Ｄを算出した。具体的には、ドメインの面積Ｓを用いて、Ｄ＝（４Ｓ／π）^０．５を計算した。算出されたドメイン径Ｄの平均値Ｄａｖｅを評価対象である電子写真用ローラＡ１のドメイン径とした。

［３－３．ドメイン間距離］
　ドメイン間距離は、以下のようにして算出した。
　まず、上記３－２で得た３枚のＳＥＭ画像の各々に対し、画像解析装置（商品名：ＬＵＺＥＸ－ＡＰ、ニレコ社製）を用いて、８ビットのグレースケール化を行い、２５６諧調のモノクロ画像を得た。次いで、破断面内のドメインが白くなるように、画像の白黒を反転処理し、画像の輝度分布に対して大津の判別分析法のアルゴリズムに基づいて、２値化の閾値を設定し、２値化像を得た。該２値化像から、導電層の厚さをＴｈとしたときの該導電層の外表面（支持体と対向する面とは反対側の面）から深さ０．１Ｔｈ～０．９Ｔｈの厚み領域の任意の３か所に一辺が２０μｍの正方形の観察領域内を置き、上記画像形成装置に付属の画像処理ソフトを使用して、各観察領域のドメインの壁面間距離の算術平均値を算出した。さらに、９か所の算術平均値の平均値を算出して、評価対象である電子写真用ローラＡ１のドメイン間距離とした。

［３－４．マトリックスの体積抵抗率の測定］
　導電層に含まれるマトリックスの体積抵抗率の評価のために、下記の測定を行った。なお、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）（商品名：Ｑ－Ｓｃｏｐｅ２５０、ＱｕｅｓａｎｔＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔ　Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ社製）はコンタクトモードで操作した。
　まず、電子写真用ローラＡ１の導電層から、ミクロトーム（商品名：Ｌｅｉｃａ　ＥＭ　ＦＣＳ、ライカマイクロシステムズ社製）を用いて、切削温度－１００℃にて、１μｍの厚みの切片として切り出した。切片の切り出しに際しては、放電のために電荷が輸送される方向を踏まえ、導電性部材の長手方向と垂直な断面の方向とした。
　次に、温度２３℃、湿度５０％ＲＨ環境において、該切片を金属プレート上に、該切片の、該導電層の断面に相当する一方の面が、金属プレートの表面と接するように設置した。そして、該切片の、金属プレートの表面と接している側の面とは反対側の面のうち、マトリックスに該当する箇所をＳＰＭのカンチレバーを接触させ、５秒間、カンチレバーに５０Ｖの電圧を印加し、電流値を測定し、５秒間の算術平均値を算出した。
　当該ＳＰＭで当該切片の表面形状を観察して、得られる高さプロファイルから測定箇所の厚さを算出した。さらに、表面形状の観察結果から、カンチレバーの接触部の凹部面積を算出した。当該厚さと当該凹部面積とから体積抵抗率を算出し、マトリックスの体積抵抗率とした。
　導電層を長手方向に５等分し、周方向に４等分し、それぞれの領域内から任意に１点ずつ、合計２０点から当該切片を作製して上記測定を行った。その平均値を、評価対象である電子写真用ローラＡ１のマトリックスの体積抵抗率とした。

［３－５．ドメインの体積抵抗率の測定］
　ドメインの体積抵抗率は、上記３－４.においてカンチレバーの接触箇所を切片のドメインに該当する箇所とし、カンチレバーに印加する電圧を１Ｖとした以外は、マトリックスの体積抵抗率の測定方法と同様にして測定した。各測定点での値の平均値を、評価対象である電子写真用ローラＡ１のドメインの体積抵抗率とした。

［３－６．領域Ｔの厚さｔの測定］
　電子写真用ローラＡ１の導電層の最表面から深さ８００μｍまでの間を、ミクロトーム（商品名：Ｌｅｉｃａ　ＥＭ　ＦＣＳ、ライカマイクロシステムズ社製）を用いて、切削温度－１００℃にて、１μｍの厚みの切片として切り出した。
　次に、温度２３℃、湿度５０％ＲＨ環境において、当該切片を金属プレート上に、該導電層の断面に相当する一方の面が、金属プレートの表面と接するように設置した。次いで、該切片の、金属プレートの表面と接している側の面とは反対側の面に、電流測定機能を有するＳＰＭのカンチレバーを接触させ、該カンチレバーに電圧５０Ｖを印加した状態で、該カンチレバーを走査して電流マッピング画像を取得した。走査エリアは４００μｍ四方とした。得られた電流マッピング像を、画像処理ソフト（商品名：ＩｍａｇｅＰｒｏＰｌｕｓ、Ｍｅｄｉａ　Ｃｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）を使用して、８ビットのグレースケール化を行い、２５６諧調のモノクロ画像を得た。得られたモノクロ画像から、導電層の外表面から支持体方向に向かう深さ方向の輝度のラインプロファイルのデータを取得し、図７に示す矩形波を作成した。作成した矩形波の凸部の算術平均値を導電層の深さに対してプロットした際の傾きが０になった深さ位置をｔ（μｍ）とした。図７中、７０１がドメイン、７０３がマトリックスに対応する。また、図７における原点Ｏが、電子写真用ローラの外表面に対応する。縦軸は電流値、横軸は電子写真用ローラの外表面から深さ方向の距離を表す。

［３－７．領域Ｔのマトリックス－ドメイン構造の体積抵抗率の測定］
　［３－４．マトリックスの体積抵抗率の測定］と同様にしてマトリックス及びドメインの体積抵抗率を求めた。測定箇所は、電子写真用ローラの外表面から深さ５μｍ以上６μｍ以下の厚み領域に存在するマトリックス及びドメインに該当する箇所を選定した。得られたマトリックスの体積抵抗率をＲ１（Ωｃｍ）、ドメインの体積抵抗率をｒ１（Ωｃｍ）とした。次に、［３－６］で求めたｔを元に、導電層外表面から深さｔ－１μｍ以上ｔμｍ以下の厚み領域において、マトリックス及びドメインに該当する箇所の体積抵抗率を求めた。得られたマトリックスの体積抵抗率をＲ２（Ωｃｍ）、ドメインの体積抵抗率をｒ２（Ωｃｍ）とした。
　そして、下記関係式（１）が成り立つ場合には「Ｙ」と評価し、成り立たたない場合及び領域Ｔが存在しない場合は「Ｎ」と評価した。
　Ｒ１／ｒ１＞Ｒ２／ｒ２・・・・（１）

［３－８．ドメイン体積分率の測定］
　ドメインの体積分率はＦＩＢ－ＳＥＭを用いた３次元での導電層の計測により算出した。具体的には、ＦＩＢ－ＳＥＭ（エフイー・アイ社製）を使用して（詳細上述）、収束イオンビームによる断面だしとＳＥＭ観察を繰り返し、スライス画像群を取得した。　　
　次いで、得られたスライス画像群のデータから、３Ｄ可視化・解析ソフトウェア　Ａｖｉｚｏ（商品名、エフ・イー・アイ社製）を利用して、導電層の３次元画像を構築した。次に、当該解析ソフトウェアの２値化機能を用いてマトリックスとドメインとを区別した。次いで、当該３次元画像内の任意の、一辺が１０μｍの立方体形状１個のサンプル中に含まれるドメインの体積を算出した。上記ドメインの体積分率の測定は、導電性部材を周方向に４分割、長手方向に５分割した領域のそれぞれの任意の箇所において、各１つずつ薄片サンプルを切り出して上記の測定を行い、合計２０点の測定値の算術平均から算出した。

（４．画像評価）
［４－１．耐リーク性の評価　ピンホールの異常放電観察］
　導電性部材の耐リーク性の評価として、ピンホールを形成した感光ドラムに対する異常放電の抑制機能を下記のようにして評価した。まず、電子写真装置（商品名：Ｌａｓｅｒｊｅｔ　Ｍ６０８ｄｎ、ＨＰ社製）を用意し、プロセスカートリッジから感光ドラムを取り出し、直径が１ｍｍで金属の素管まで到達する貫通穴をあけ、評価用感光体ドラムを用意した。
　次いで、電子写真用ローラＡ１、評価用感光体ドラム、を測定環境にならす目的で、温度１５℃、湿度１０％ＲＨの環境に４８時間放置した。
　図８のように、当該評価用感光ドラム８２と帯電部材Ａ１　８１を当接可能して回転可能な治具を用意した。
　次に図８に示すように、外部からの光が遮断された容器８０３内に、高速度カメラ８３（ＦＡＳＴＣＡＭ　ＳＡ５　フォトロン製）およびイメージインテンシファイア８４（Ｃ９５４７－２　浜松ホトニクス製）を配置し、矢印８０１の方向から感光ドラム８２と帯電部材８１の隙間に発生する放電光の観察を行った。
　観察の条件は、高速度カメラ８３の画角が１０２４ピクセル×１０２４ピクセル、フレームレートが１０００ｆｐｓ、イメージインテンシファイア８４のゲインは８００で測定であった。
　さらに、評価用感光ドラム８２を２００ｒｐｍの速度で回転させつつ、高圧電源８５（Ｔｒｅｋ６１５－３　トレックジャパン社製）によって、帯電部材８１に直流電圧を―１０００Ｖをはじめとして１００Ｖずつ上昇させた。帯電部材８１は、感光ドラム８２に対して両端５００ｇ荷重の力で押圧されることにより、接触配置される。帯電部材８１は、感光ドラム８２の回転に従い従動回転される。その過程において、評価用感光ドラム８２と帯電部材８１の隙間に生じる放電を観察した。そして、ピンホール部で通常の放電よりも過大な光として観察される異常放電が発生する電圧を耐リーク電圧として計測した。

［４－２．耐リーク性の画像評価］
　電子写真装置として（商品名：Ｌａｓｅｒｊｅｔ　Ｍ６０８ｄｎ、ＨＰ社製）を用意した。当該電子写真装置に対して、高速プロセスにおける評価とするために、単位時間当たりの出力枚数が、オリジナルの出力枚数よりも多い、Ａ４サイズの用紙で、７５枚／分となるように改造した。
　まず、当該電子写真装置のプロセスカートリッジから感光ドラムを取り出し、直径が１ｍｍで金属の素管まで到達する貫通穴（ピンホール）を形成し、評価用感光体ドラムを用意した。
　電子写真用ローラＡ１、評価用感光体ドラム、電子写真装置、プロセスカートリッジを、測定環境にならす目的で、温度１５℃、湿度１０％ＲＨの環境に４８時間放置した。
　次いで、電子写真用ローラＡ１及び評価用感光体ドラムを、プロセスカートリッジの帯電ローラ及び感光ドラムとして組み込んだ。これを用いてハーフトーン画像を出力した。
　ピンホールでリークが発生した場合、当該ピンホール部に対して過剰電流が発生し、同時に放電すべき場所（長手方向）の放電が不足する。その結果、当該ピンホール部位置に対して軸方向に沿って、放電不足により濃度が濃くなった横スジが画像に発生する。
　本評価では、上記ハーフトーン画像を目視及びルーペを用いて観察し、当該ピンホールにおけるリークに起因する横スジの有無及びその状態を下記基準で評価した。
　ランクＡ：目視では横スジが観察されない。また、ルーペでの観察によってもドットの乱れが認められない。
　ランクＢ：目視では横スジは観察されない。一方、ルーペでの観察によって、ドットの乱れを確認できる。
　ランクＣ：目視で横スジ確認できるが、感光ドラムの周期毎には発生していない。
　ランクＤ：目視で横スジが確認でき、感光ドラムの周期ごとに発生している。

［４－３．帯電能力の放電光観察による評価］
　帯電能力の放電光観察による評価を次のようにして実施した。
　具体的には、感光ドラムの回転方向を逆転する以外は、［４－１．耐リーク性の評価　ピンホールの異常放電観察］と同様にして、当接部の出口で発生する、下流放電光の観察動画を得た。放電開始後１秒後から撮影を開始し、撮影時間は２秒間とした。
　当該観察動画に対して、Ｉｍａｇｅｐｒｏｐｌｕｓによって、観察動画の全２０００フレームに対する下流放電が観察できるフレームの個数割合を算出した。この個数割合が大きいほど耐電能力が不足し、帯電横スジのレベルが低いことを示す。

［４－４．帯電能力の評価］
　評価画像の形成には、上記の「耐リーク性の評価」において用いたレーザープリンタを使用した。なお、上記の「帯電能力の評価」と同様に、電子写真用ローラＡ１、レーザープリンタ、プロセスカートリッジを、測定環境にならす目的で、１５℃／１０％ＲＨ（相対湿度）の低温低湿環境（ＬＬ環境）に４８時間放置し、同じ環境下で評価画像の形成を行った。電子写真感光体（感光体ドラム）は未加工品を使用した。
　これを用いてＶｄ現像画像およびハーフトーン画像を出力し、評価を行った。
　ここでＶｄ現像画像とは、ベタ白画像を形成する画像出力条件に対して、露光によってドットを描画せずに、トナーを現像させた画像である。具体的には、外部電源（ｔｒｅｋ６１５－３　トレックジャパン社製）を利用して現像バイアスを制御して、露光せずに紙にトナーを現像させる手段である。本手段はドットを制御して形成するハーフトーン画像と比較して、帯電のムラをより細かく評価することができる画像である。
　帯電ローラの帯電能力の低下に起因する横スジ状の欠陥の発生の有無を下記の基準により評価した。評価結果を表８に示す。
　ランクＡ：Ｖｄ現像画像、ハーフトーン画像ともに横スジ状の画像欠陥が観察されない。
　ランクＢ：Ｖｄ現像画像の一部に横スジ状の画像欠陥が観察されるが、ハーフトーン画像では横スジ状の画像欠陥が観察されない。
　ランクＣ：Ｖｄ現像画像の全面に横スジ状の画像欠陥が観察され、ハーフトーン画像の一部に横スジ状の画像欠陥が観察される。
　ランクＤ：ハーフトーン画像の全面に横スジ状の画像欠陥が観察される。

＜実施例２～２０＞
　未加硫ドメインゴム組成物、未加硫マトリックスゴム組成物のゴム種、導電性粒子の種類、添加量を表４－１に示すように変更した以外は、実施例１に係る未加硫ドメインゴム組成物、未加硫マトリックスゴム組成物と同様にして各実施例に係る未加硫ドメインゴム組成物、未加硫マトリックスゴム組成物を調製した。表４－１には、第１のゴムと第２のゴムのＳＰ値差及び粘度比（（ηｄ／ηｍ）も併せて示した。
　また、得られた未加硫ドメインゴム組成物、未加硫マトリックスゴム組成物を表４に示す混合比率とし、加硫剤及び加硫促進剤の種類及び配合量を表４－１に示す通りとした以外は、実施例１に係る導電層形成用ゴム組成物と同様にして各実施例に係る導電層形成用ゴム組成物を調製した。なお表４中、加硫剤及び加硫促進剤の配合量(phr)は、未加硫マトリックスゴム組成物及び未加硫ドメインゴム組成物の混合物１００質量部に対する配合量である。
　得られた導電層形成用ゴム組成物を用いたこと、及び表面処理の温度及び時間を表４－２に示したようにした以外は実施例１と同様にして導電層を形成して、電子写真用ローラＡ２～Ａ２０を作製した。なお、表４－１中の略称に係る材料の詳細を表５に示す。
　実施例１～２０に係る導電性部材の評価結果を表６－１及び表６－２に示す。

＜比較例１＞
[導電層形成用ゴム組成物の調製]
　下記表７に記載の材料をオープンロールにて混合し、本比較例に係る導電層形成用ゴム組成物を調製した。この導電層形成用ゴム組成物を用いた以外は実施例１の導電性ローラａ１と同様にして導電性ローラＣａ１を作製した。

[表面層用塗工液ＣＳ１の調製]
　メラミン樹脂（商品名：アミディアＧ８２１－６０、ＤＩＣ株式会社製）とポリエステル（商品名：バイロン　３０ＳＳ、東洋紡社製）を質量比３５：６５で混合した樹脂混合物を用意した。
　当該樹脂混合物１００質量部に対して、フィラーとしてフッ素樹脂（商品名：ルブロンＬ－２、ダイキン工業株式会社製）を８質量部、及び導電剤としてカーボンブラック（商品名：ＦＷ２００、キャボットコーポレーション社製）を２５質量部添加して本比較例に係る表面層用塗工液ＣＳ１を調製した。

[電子写真用ローラＣＡ１の作製]
　表面層用塗工液ＣＳ１に、導電性ローラＣａ１を浸漬塗布し、３０分間、温度１６０℃で加熱して電子写真用ローラＣＡ１を作製した。
　得られた電子写真用ローラＣＡ１を実施例１と同様にして評価した。
　なお、電子写真用ローラＣＡ１は、導電層が明確なマトリックス－ドメイン構造を構成していなかったため、評価[３－２]、［３－３］、［３－５］、［３－８］は行わなかった。また、導電層の表面領域Ｔも存在しないため、評価［３－６］及び［３－７］に係る体積抵抗率の測定は行わなかった。
　本比較例に係る電子写真用ローラＣＡ１は、導電層が電子写真用ローラの外表面を構成していない点で、本開示に係る電子写真用ローラとは異なっている。本比較例に係る電子写真用ローラＣＡ１の評価［４－２］に係る画像評価ランクは、ランクＣであった。これは、電子写真用ローラＣＡ１の外表面における電荷の回り込みを抑制できなかったためであると考えられる。また、評価［４－４］に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、電子写真用ローラＣＡ１の外表面からの放電量が不足したためであると考えられる。

＜比較例２～５＞
［導電層形成用ゴム組成物Ｃａ２～Ｃａ５の調製］
　表８－１に記載の組成を有する未加硫ドメインゴム組成物（ＣＭＢ）及び未加硫マトリックスゴム組成物（ＭＲＣ）を実施例１の［１－１］及び［１－２］と同様にして調製した。
　得られたＣＭＢ、ＭＲＣ及び表８－１に記載の材料を表８－２の配合割合にて実施例１の［１－３］と同様にして導電層形成用ゴム組成物Ｃａ２～Ｃａ５を調製した。

　表８－２中、加硫剤及び加硫促進剤の配合割合（phr）量は、ＣＭＢ及びＭＲＣを混合したゴム１００質量部に対する配合割合である。

［導電性ローラＣａ２～Ｃａ５の作製］
　導電層形成用ゴム組成物Ｃａ２～Ｃａ５を用いた以外は比較例１と同様にして導電性ローラＣａ２～Ｃａ５を作製した。

[表面層用塗工液ＣＳ２の調製]
　表面層を形成するためのバインダー樹脂の塗工液を以下の手法で作製した。窒素雰囲気下、反応容器内でポリメリックＭＤＩ（商品名：ミリオネートＭＲ２００　日本ポリウレタン工業社製）２７質量部に対し、アクリルポリオール（ＤＣ２０１６　ダイセル化学工業社製）１００質量部を反応容器内の温度を６５℃に保持しつつ、徐々に滴下した。滴下終了後、温度６５℃で２時間反応させた。得られた反応混合物を室温まで冷却し、イソシアネート基含有量４．３％のイソシアネート基末端プレポリマーＰＣ－１を得た。
　イソシアネート基末端プレポリマーＰＣ１の４１質量部、イソシアネートＡ／イソシアネートＢ＝４／３（ベスタナートＢ１３７０　デグザ社製／デュラネートＴＰＡ－８８０Ｅ　旭化成ケミカルズ社製）５９質量部、イオン導電剤として四級アンモニウム塩（商品名：アデカサイザーＬＶ７０、ＡＤＥＫＡ社製）２０質量部をメチルエチルケトン（ＭＥＫ）に溶解し、固形分が２７質量％になるように調整した。内容量４５０ｍＬのガラス瓶内に、前記混合液２７０ｇと、平均粒径０．８ｍｍのガラスビーズ２００ｇを入れ、ペイントシェーカー分散機を用いて１２時間分散して、表面層用塗工液ＣＳ２を得た。

[表面層形成用塗工液ＣＳ３の調製]
　表面層塗工液ＣＳ２におけるイオン導電剤の配合量を１質量部とした以外は表面層塗工液ＣＳ２と同様にして表面層塗工液ＣＳ３を調製した。

[電子写真用ローラＣＡ２の作製]
　導電性ローラＣａ２を、温度２００℃で６０分間加熱して表面処理して比較例２に係る電子写真用ローラＣＡ２を作製した。得られた電子写真用ローラＣＡ２を実施例１と同様に評価した。
　電子写真用ローラＣＡ２は、表面処理を施しており、導電層の導電層の外表面から深さ方向への体積抵抗率の減少しており、領域Ｔの形成していた。しかし、マトリックスの体積抵抗率は１．０×１０^１２Ω・ｃｍよりも大幅に小さい。
　電子写真用ローラＣＡ２は、評価[４－２]に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、マトリックスの体積抵抗率は１．０×１０^１２Ω・ｃｍを下回るため、感光ドラムとの微小空隙の距離が等しい長手方向領域（同時に放電が発生する領域）表面の等電位面からの電荷の回り込みが発生したためであると考えられる。また、評価[４－４]に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、マトリックスの体積抵抗率は１．０×１０^１２Ω・ｃｍ以下であり、電荷がマトリックス中を移動したため、電荷の加速を抑制できなかったためであると考えられる。

[電子写真用ローラＣＡ３の作製]
　導電性ローラＣａ３を、その長手方向を鉛直方向にして、その上端部を把持して、表面層用塗工液ＣＳ２中に浸漬（ディッピング）して、引き上げた。ディッピングの際の浸漬時間は９秒間、ローラの引き上げ速度は、初期速度が３０ｍｍ／ｓｅｃ、最終速度が３ｍｍ／ｓｅｃになるように調整し、３０ｍｍ／ｓｅｃから３ｍｍ／ｓｅｃの間は、時間に対して直線的に速度を変化させた。
　浸漬塗布後、温度２３℃で３０分間風乾した。次いで、熱風循環乾燥機中で温度８０℃で１時間乾燥し、更に、温度１６０℃で１時間乾燥させて、表面層を形成して比較例３に係る電子写真用ローラＣＡ３を作製した。得られた電子写真用ローラＣＡ３を実施例１と同様にして評価した。本比較例に係る電子写真用ローラＣＡ３は、導電層が電子写真用ローラの外表面を構成しておらず、導電性の高い樹脂層を表面層として具備している点で本開示に係る電子写真用ローラとは異なっている。
　電子写真用ローラＣＡ３の評価[４－２]に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、電子写真用ローラＣＡ３の外表面が、体積抵抗率の低い表面層で構成されていたため、電荷の回り込みを抑制できなかったためであると考えられる。

[電子写真用ローラＣＡ４の作製]
　表面層用塗工液ＣＳ３を用いた以外は電子写真用ローラＣＡ３と同様にして比較例４に係る電子写真用ローラＣＡ４を作製した。得られた電子写真用ローラＣＡ４を実施例１と同様にして評価した。本比較例に係る電子写真用ローラＣＡ３４、導電層が電子写真用ローラの外表面を構成しておらず、導電性の低い樹脂層を表面層として具備している点で本開示に係る電子写真用ローラとは異なっている。電子写真用ローラＣＡ４の評価[４－４]に係る画像評価ランクがランクＤであった。これは、電子写真用ローラＣＡ４の外表面が、導電性の低い表面層で構成されており、当該外表面からの放電量が不足したためであると考えられる。

[電子写真用ローラＣＡ５の作製]
　導電性ローラＣａ３をそのまま比較例５に係る電子写真用ローラＣＡ５とし、実施例１同様の評価に供した。電子写真用ローラＣＡ５は、導電層の表面処理を行っていないため、導電層には領域Ｔが存在しないため、評価［３－６］及び［３－７］に係る体積抵抗率の測定は行わなかった。
　電子写真用ローラＣＡ５の評価[４－２]に係る画像評価ランクが、ランクＤであった。これは、電子写真用ローラＣＡ５の導電層が領域Ｔを有しておらず、ドメイン間を移動する電荷の加速を抑制できなかったためであると考えられる。

[電子写真用ローラＣＡ６の作製]
　導電性ローラＣａ４を用いた以外は、電子写真用ローラＣＡ２と同様にして比較例６に係る電子写真用ローラＣＡ６を作製した。得られた電子写真用ローラＣＡ６を実施例１と同様に評価した。表面処理を施しているものの、マトリックスに導電剤が含まれるため、導電層の外表面から深さ方向への体積抵抗率の増加が観察された。これは、表面処理時のマトリックスの架橋度の増加および収縮に伴い、表面の導電剤間の距離が近づいたためであると考えられる。
　そして、電子写真用ローラＣＡ６は、評価[４－２]に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、ドメイン間を移動する電荷の加速を抑制できなかったためであると考えられる。また、評価[４－４]に係る画像評価ランクが、ランクＤであった。これは、マトリックスの体積抵抗率が１．０×１０^１２Ω・ｃｍ以下であったため、ドメインに十分な電荷を蓄積できなかったためであると考えられる。

[電子写真用ローラＣＡ７の作製]
　電子写真用ローラＣａ５を用いた以外は、電子写真用ローラＣＡ２と同様にして比較例７に係る電子写真用ローラＣＡ７を作製した。得られた電子写真用ローラＣＡ７を実施例１と同様に評価した。
　電子写真用ローラＣＡ７の評価[４－２]に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、電子写真用ローラＣＡ７が、電子写真用ローラＣＡ６と同様に、マトリックスが導電剤を含み、電荷がマトリックス中を移動するため、電荷の加速を抑制できなかったためであると考えられる。また、電子写真用ローラＣＡ７の評価[４－４]に係る画像評価ランクは、ランクＤであった。これは、電子写真用ローラＣＡ７の導電層中のドメインが電子導電剤を含まないため、電子写真用ローラＣＡ７の外表面からの放電量が足りなかったためであると考えられる。
　比較例１～７に係る電子写真用ローラの構成、表面処理条件を表９にまとめた。
　また、比較例１～７に係る評価結果を表１０－１～１０－２に示す。

　本発明は上記実施の形態に制限されるものではなく、本発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、本発明の範囲を公にするために以下の請求項を添付する。

　本願は、２０１９年１０月１８日提出の日本国特許出願特願２０１９－１９１５２６を基礎として優先権を主張するものであり、その記載内容の全てをここに援用する。

２１　導電性部材
２２　支持体
２３　導電層
３ａ　マトリックス
３ｂ　ドメイン
３ｃ　電子導電剤
４１　導電性部材

Claims

　導電性の外表面を有する支持体と、
　該支持体の外表面上に設けられた導電層を有する電子写真用の導電性部材であって、
　該導電層は、第１のゴム架橋物を含む、体積抵抗率が、１．０×１０^１２Ωｃｍよりも大きいマトリックスと、該マトリックス中に分散された複数個のドメインとを有し、
　該ドメインは、第２のゴム架橋物および電子導電剤を含み、
　該導電層は、導電性部材の外表面から深さ方向に該マトリックスの体積抵抗率が小さくなっている領域Ｔを有する電子写真用の導電性部材。
　前記領域Ｔにおいて、前記ドメインの体積抵抗率が、該外表面から深さ方向に向かって大きくなっている請求項１に記載の導電性部材。
　前記領域Ｔの厚みｔが、２０μｍ以上２００μｍ以下である請求項１または２に記載の導電性部材。
　前記導電層の外表面から深さ５μｍ以上６μｍ以下の第１の厚み領域における前記マトリックスの体積抵抗率をＲ１（Ωｃｍ）、該第１の厚み領域に含まれる前記ドメインの体積抵抗率をｒ１（Ωｃｍ）とし、
　該導電層の前記外表面から深さｔ－１μｍ以上ｔμｍ以下の第２の厚み領域における該マトリックスの体積抵抗率をＲ２（Ωｃｍ）、該第２の領域に含まれる該ドメインの体積抵抗率をｒ２（Ωｃｍ）としたときに、
　下記式（１）を満たす請求項１～３のいずれか１項に記載の電子写真用の導電性部材：
　Ｒ１／ｒ１＞Ｒ２／ｒ２・・・・（１）。
　前記導電層中に存在するドメインの体積抵抗率ρｄが、１．０×１０^１Ωｃｍ以上１．０×１０^４Ωｃｍ以下である請求項１～４のいずれか１項に記載の導電性部材。
　前記導電層中に存在するドメインの体積分率ｐが、１５％以上４０％以下である請求項１～５のいずれか１項に記載の導電性部材。
　電子写真画像形成装置の本体に着脱可能に構成されているプロセスカートリッジであって、請求項１～６のいずれか１項に記載の導電性部材を具備することを特徴とする電子写真用のプロセスカートリッジ。
　請求項１～６のいずれか１項に記載の導電性部材を具備することを特徴とする電子写真画像形成装置。