WO2020100717A1 - スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール - Google Patents

スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール Download PDF

Info

Publication number
WO2020100717A1
WO2020100717A1 PCT/JP2019/043710 JP2019043710W WO2020100717A1 WO 2020100717 A1 WO2020100717 A1 WO 2020100717A1 JP 2019043710 W JP2019043710 W JP 2019043710W WO 2020100717 A1 WO2020100717 A1 WO 2020100717A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
thermoelectric conversion
layer
conversion element
stannide
bonding material
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/043710
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
坂本 達也
田口 豊
Original Assignee
株式会社 安永
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 安永 filed Critical 株式会社 安永
Priority to CN201980074811.7A priority Critical patent/CN113016082A/zh
Priority to KR1020217015989A priority patent/KR20210089686A/ko
Priority to EP19884997.8A priority patent/EP3882992A4/en
Priority to US17/309,072 priority patent/US20220020908A1/en
Publication of WO2020100717A1 publication Critical patent/WO2020100717A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/855Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising compounds containing boron, carbon, oxygen or nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/01Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/81Structural details of the junction
    • H10N10/817Structural details of the junction the junction being non-separable, e.g. being cemented, sintered or soldered
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/854Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising only metals

Definitions

  • the diffusion prevention layer is provided on the opposite side of the first adhesion layer between the first adhesion layer provided between the Mo layer and the thermoelectric conversion section and the Mo layer. It is preferable that the second adhesion layer is further included.
  • a Ti layer as the first adhesion layer 29 is formed on the other end surface 32b.
  • the Mo layer 27 is formed on the surface of the first adhesion layer 29.
  • a Ti layer as the second adhesion layer 31 is formed on the surface of the Mo layer 27. In this way, the second diffusion prevention layer 22 is formed.
  • the method for forming each of the layers forming the above-mentioned first diffusion prevention layer 18, first oxidation prevention layer 20, second diffusion prevention layer 22, and second oxidation prevention layer 24 is not particularly limited. Although not limited to this, it is preferable to use, for example, a sputtering method. In addition to the sputtering method, a vapor phase thin film deposition method such as a vacuum deposition method or a CVD method, or a liquid phase thin film deposition method such as a plating method may be used.
  • thermoelectric conversion module 4 was manufactured in the same manner as in Example 1 except that
  • a first aspect of the present invention is a composition represented by a general formula: Mg 2 Si 1-x Sn x (where, x satisfies a relationship of 0.5 ⁇ x ⁇ 1).
  • a stannide-based thermoelectric conversion element comprising: a thermoelectric conversion section containing the stannide-based compound; and a diffusion-prevention layer positioned on the surface of the thermoelectric conversion section, the diffusion-prevention layer including a Mo layer.
  • a second aspect of the present invention is the above-mentioned first aspect of the present invention, wherein the diffusion prevention layer is a first adhesion layer disposed between the Mo layer and the thermoelectric conversion unit, and The stannide thermoelectric conversion element further includes a second adhesion layer disposed on the opposite side of the first adhesion layer with the Mo layer interposed therebetween.

Abstract

スタナイド系熱電変換モジュール4は、熱電変換素子2と、熱電変換素子2に接合材6を介して接合されている電極材料8と、を備えており、熱電変換素子2は、一般式:MgSi1-xSn(ただし、式中、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)で表される組成を有するスタナイド系化合物を含む熱電変換部16と、熱電変換部16の表面に位置付けられた第1の拡散防止層18と、を備え、第1の拡散防止層18は、Mo層26を含んでいるスタナイド系熱電変換素子であり、接合材6は、流動性を有していない非流動性接合材6aである。

Description

スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール
 本発明は、スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュールに関する。
 熱を電気に変換する熱電変換素子は、各種機器の熱源部からの排熱を利用して発電を行う熱電変換に用いられている。熱電変換素子は、一対の電極材料間に配設され、これにより熱電変換モジュールが形成される。この熱電変換モジュールでは、熱電変換素子の一方の端部が各種機器の熱源部からの排熱により加熱されることにより、他方の端部との間で温度差が生じるので、この温度差に対応して起電力が発生するゼーベック効果を利用して熱エネルギーを電気エネルギーに直接変換する。
 このような熱電変換モジュールは、可動部が無く、構造がシンプルであることから汎用性に優れており、排熱を伴う機器等からその排熱を利用して電気エネルギーを手軽に得る手段として期待されている。
 上記したような熱電変換素子としては、例えば、Mg-Si系の熱電変換材料で形成されたMg-Si系熱電変換素子が知られている。
 このMg-Si系熱電変換素子は、一般的に500℃~600℃の温度範囲で熱電変換効率が良好となる。よって、Mg-Si系熱電変換素子を熱電変換効率が良好となる適正温度範囲で使用すれば、Mg-Si系熱電変換素子の性能が最も発揮される。
 通常、熱電変換素子を用いて熱電変換モジュールを製造する場合、熱電変換素子と、電極材料としての金属製部材、例えば、Cu製部材、Al製部材等とを接合する必要がある。この場合、AgペーストのようなAg系接合材を用いて接合することが考えられる。しかしながら、上記したMg-Si系熱電変換素子とAgとの間の反応性の度合いが比較的高いため、AgがMg-Si系熱電変換素子中に拡散していってしまい、Agが界面に残らず、良好な接合部を形成することができない。このため金属製部材と熱電変換素子とを接合することは難しい。
 そこで、通常は、熱電変換材料の表面に拡散防止層を設けて熱電変換素子を形成することが行われている。このような拡散防止層が設けられれば、Agが熱電変換材料中に拡散していくことを抑制でき、良好な接合部が得られ、熱電変換素子と金属製部材とが組み合わされた熱電変換モジュールを形成することができる。このような拡散防止層としては、Ni層が一般的に知られている。
 ところで、熱が放出される機器によっては、排熱温度が上記した温度範囲よりも低いものがある。例えば、自動車用のエンジンなどは、熱源から400℃~450℃の排熱が発生する。このような400℃~450℃の温度範囲の排熱を発生する機器は比較的多く、この温度範囲での排熱の利用が望まれている。
 この400℃~450℃の排熱を利用するためにMg-Si系熱電変換素子を使用することを試みた場合、Mg-Si系熱電変換素子の適正温度範囲を外れているため、効率良く発電することは難しい。
 そこで、400℃~450℃の温度範囲で熱電変換効率が最も良好となる熱電変換素子を使用することが検討されている。このように熱電変換効率が良好となる適正温度範囲が400℃~450℃である熱電変換素子としては、例えば、特許文献1に開示されているようなMg-Si-Sn系の熱電変換材料で形成されたMg-Si-Sn系熱電変換素子が挙げられ、特に、Siに対するSnの比率が高い、いわゆるスタナイド系熱電変換素子が挙げられる。
特開2016-157843号公報
 上記したようなスタナイド系熱電変換素子を用いて熱電変換モジュールを製造する場合においても、拡散防止層を設けることが必要である。しかしながら、Snが比較的多く含まれるスタナイド系熱電変換材料の表面に、上記したようなNi層を拡散防止層として形成すると、スタナイド系熱電変換材料中のSnとNiとが相互拡散し、NiとSnとの化合物が形成されてしまう。この場合、Niが消費されてNi層が部分的に消失し拡散防止層として機能しなくなるとともに熱電変換モジュール全体としての抵抗値が上昇してしまう。このため、熱電変換モジュールの発電性能が低下してしまうという問題が生じる。
 本発明は、上記の事情に基づいてなされたものであり、その目的とするところは、熱電変換モジュールの発電性能の低下を抑制することができるスタナイド系熱電変換素子及びこのスタナイド系熱電変換素子を用いたスタナイド系熱電変換モジュールを提供することにある。
 本発明によれば、一般式:MgSi1-xSn(ただし、式中、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)で表される組成を有するスタナイド系化合物を含む熱電変換部と、前記熱電変換部の表面に位置付けられた拡散防止層と、を備え、前記拡散防止層は、Mo層を含んでいる、スタナイド系熱電変換素子が提供される。
 また、前記拡散防止層は、前記Mo層と前記熱電変換部との間に配設された第1の密着層と、前記Mo層を挟んで前記第1の密着層とは反対側に配設された第2の密着層と、を更に含んでいる構成とすることが好ましい。
 また、前記第1の密着層及び前記第2の密着層は、Ti層を含む構成とすることが好ましい。
 また、前記熱電変換部の表面の面粗度は、Rzが0.1μm以上3μm以下である構成とすることが好ましい。
 また、前記拡散防止層を挟んで前記熱電変換部とは反対側に配設された酸化防止層を更に備えている構成とすることが好ましい。
 また、前記酸化防止層は、Au層、Ag層及びCu層のうちの少なくとも1つの金属層を含んでいる構成とすることが好ましい。
 更に、本発明によれば、熱電変換素子と、前記熱電変換素子に接合材を介して接合されている電極材料と、を備えており、前記熱電変換素子は、上記した何れかのスタナイド系熱電変換素子であり、前記接合材は、流動性を有していない非流動性接合材を含む、スタナイド系熱電変換モジュールが提供される。
 また、前記非流動性接合材は、Niのめっき層及びAuのめっき層のうち少なくとも一方を含む構成とすることが好ましい。
 また、前記非流動性接合材は、Ag製の箔を含む構成とすることが好ましい。
 更に、本発明によれば、熱電変換素子と、前記熱電変換素子に接合材を介さずに直接接合されている電極材料と、を備えており、前記熱電変換素子は、上記した何れかのスタナイド系熱電変換素子である、スタナイド系熱電変換モジュールが提供される。
 本発明のスタナイド系熱電変換素子は、一般式:MgSi1-xSn(ただし、式中、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)で表される組成を有するスタナイド系化合物を含む熱電変換部と、前記熱電変換部の表面に位置付けられた拡散防止層と、を備え、前記拡散防止層は、Mo層を含んでいる。Moはスタナイド系化合物中のSnと相互拡散しないため、Mo層が部分的に消失することはなく、拡散防止層として十分に機能する。このため、本発明に係るスタナイド系熱電変換素子を含むスタナイド系熱電変換モジュールは、全体としての抵抗値の上昇が抑制される。よって、本発明によれば、発電性能の低下が抑制されたスタナイド系熱電変換モジュールを提供することができる。
一実施形態に係るスタナイド系熱電変換モジュールの構成を概略的に示した斜視図である。 一実施形態に係るスタナイド系熱電変換素子の構成を概略的に示した斜視図である。 熱電変換素子の製造の手順を概略的に示した斜視図である。 熱電変換素子と電極材料とを直接接合する態様を概略的に示した側面図である。 熱電変換素子と電極材料とを金属箔を介して接合する態様を概略的に示した側面図である。 熱電変換素子と電極材料とを金属層を介して接合する態様を概略的に示した側面図である。 熱電変換素子と電極材料とを金属層及び流動性接合材を介して接合する態様を概略的に示した側面図である。
 本発明に係るスタナイド系熱電変換素子2(以下、熱電変換素子2という)を含むスタナイド系熱電変換モジュール4(以下、熱電変換モジュール4という)の一実施形態について図面を参照しながら以下に説明する。
 図1に示すように、熱電変換モジュール4は、熱電変換素子2と、この熱電変換素子2の一方端及び他方端に接合材6を介して接合された電極材料8とを備えている。
 熱電変換素子2の全体的な形状は、図2に示すように、横断面が四角形の四角柱状をなしている。詳しくは、正方形状をなす一方端面10、この一方端面10とは反対側に位置する正方形状の他方端面12、及び、一方端面10の周縁と他方端面12の周縁との間にそれぞれ延びる4つの長方形状の側面14を有している。なお、熱電変換素子2の形状は、特に限定されるものではなく、横断面が四角形の四角柱状のもの以外に、横断面が多角形の多角柱状、横断面が円形の円柱状等のものを採用しても構わない。
 このような熱電変換素子2は、ベースとなる熱電変換部16と、熱電変換部16の一方端側に形成された第1の拡散防止層18と、この第1の拡散防止層18の一方端側に形成された第1の酸化防止層20と、熱電変換部16の他方端側に形成された第2の拡散防止層22と、この第2の拡散防止層22の他方端側に形成された第2の酸化防止層24と、を備えている。
 熱電変換部16は、一般式:MgSi1-xSn(ただし、式中、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)で表される組成を有するスタナイド系化合物により形成されている。
 第1の拡散防止層18及び第1の酸化防止層20と、第2の拡散防止層22及び第2の酸化防止層24とは、熱電変換部16を挟んで対称な構造であるので、一方端側の第1の拡散防止層18及び第1の酸化防止層20についてのみ説明し、他方端面側の第2の拡散防止層22及び第2の酸化防止層24については詳細な説明は省略する。
 第1の拡散防止層18は、接合材6から熱電変換部16側への各種元素の拡散を防止するとともに熱電変換部16側からの各種元素の拡散を防止する働きをする。
 この第1の拡散防止層18には、Mo層26が含まれている。このMo層26は、熱電変換モジュール4を形成する際に必要に応じて用いられるAg系接合材中のAgが熱電変換部に拡散していくことを防止するとともに、熱電変換部16からのMgの拡散を防止する働きをする。特に、Mo層26は、従来のNiの拡散防止層のように、スタナイド系化合物中のSnと相互拡散することはないので、スタナイド系熱電変換素子の拡散防止層として最適である。
 ただし、上記したMo層26は、他の材料との接合性があまり良好ではない。このため、第1の拡散防止層18としては、Mo層26を挟むように、第1の密着層28と第2の密着層30とを更に含む態様とすることが好ましい。
 具体的には、熱電変換部16の一方端面とMo層26との間に第1の密着層28を形成することが好ましい。この第1の密着層28としては、Ti層を用いることが好ましい。このTi層は、熱電変換部16としてのスタナイド系化合物との接合性が良好であり、Mo層26との接合性も比較的良好である。このため、Mo層26と熱電変換部16との間の密着性の向上に寄与する。
 また、Mo層26を挟んで第1の密着層28とは反対側に、第2の密着層30を形成することが好ましい。この第2の密着層30としてもTi層を用いることが好ましい。
 ところで、Tiは活性な金属であるので酸化し易く、Ti層の表面には酸化膜が直ぐに形成されてしまう。このように酸化膜が形成されると、他の材料との接合に支障を来す場合がある。よって、第2の密着層30の表面、すなわち、第1の拡散防止層18の表面には、第2の密着層30の酸化を防止する第1の酸化防止層20を形成することが好ましい。この第1の酸化防止層20としては、Au層、Ag層及びCu層のうちの少なくとも1つの金属層を含む態様とすることが好ましい。
 ここで、図2中において、参照符号27は、第2の拡散防止層22におけるMo層を示し、参照符号29は、第2の拡散防止層22における第1の密着層を示し、参照符号31は、第2の拡散防止層22における第2の密着層を示し、参照符号24は、第2の密着層31の酸化を防止する第2の酸化防止層を示している。
 上記したような熱電変換素子2は、例えば、以下のようにして製造することができる。
 まず、組成がMgSi1-xSn(ただし、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)となるように、Mg、Si及びSnを計量し、所定量のMg、Si及びSnを混合して混合物を得る。得られた混合物を誘導溶解炉に投入した後、アルゴンガス雰囲気下で加熱し溶融する。その後、得られた溶融物を室温(25℃程度)まで冷却し、インゴットを作製する。得られたインゴットは、機械的に粉砕される。これにより所望粒径の粒子の集合体であるスタナイド系化合物の粉末が得られる。
 得られた粉末は、グラファイト製の焼結用治具内で、加圧圧縮焼結法により真空又は減圧雰囲気下で、所定の焼結圧力、所定の焼結温度で焼結され、図3の(a)に示すような円板状の焼結体32とされる。
 次いで、得られた焼結体32の両端面32a、32bを研磨する。この研磨の作業は、所定粒径のダイヤモンド粒子を含むダイヤモンドペーストを用いてバフ研磨装置により行うことが好ましい。
 研磨作業が終了した焼結体32には、その両端面32a、32bに、図3の(b)に示されるように、第1の拡散防止層18及び第2の拡散防止層22がそれぞれ形成される。詳しくは、焼結体32の一方の端面32aに、第1の密着層28としてのTi層を形成する。次いで、第1の密着層28の表面にMo層26を形成する。その後、Mo層26の表面に第2の密着層30としてのTi層を形成する。このようにして第1の拡散防止層18を形成する。
 次いで、第1の拡散防止層18の表面に第1の酸化防止層20を形成する。つまり、第1の拡散防止層18の表面にAu層、Ag層及びCu層のうちのいずれか、又は、これらの任意の層を組み合わせた複合層を形成する。このようにして、第1の酸化防止層20を形成する。
 その後、他方の端面32bに第1の密着層29としてのTi層を形成する。次いで、第1の密着層29の表面にMo層27を形成する。その後、Mo層27の表面に第2の密着層31としてのTi層を形成する。このようにして第2の拡散防止層22を形成する。
 次いで、第2の拡散防止層22の表面に第2の酸化防止層24を形成する。つまり、第2の拡散防止層22の表面にAu層、Ag層及びCu層のうちのいずれか、又は、これらの任意の層を組み合わせた複合層を形成する。このようにして、第2の酸化防止層24を形成する。
 ここで、上記した第1の拡散防止層18、第1の酸化防止層20、第2の拡散防止層22及び第2の酸化防止層24を構成する各層の形成方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、スパッタリング法を用いることが好ましい。なお、スパッタリング法以外に、真空蒸着法、CVD法といった気相からの薄膜堆積法、又は、めっき法をはじめとした液相からの薄膜堆積法等を用いても構わない。
 また、上記した研磨作業において、焼結体32の一方の端面32a及び他方の端面32b(熱電変換部16の一方の端面及び他方の端面)の面粗度は、Rzが0.1μm以上3μm以下とすることが好ましい。スパッタリングや真空蒸着等のドライコーティング(特に物理的な成膜方式)で拡散防止層、密着層等を形成する場合、Rzが0.1μm未満であると良好な薄膜を得ることが難しい。つまり、Rzが0.1μm以上の面粗さがないと、熱電変換部と拡散防止層、密着層等との密着性が維持できず、結果として良好な薄膜が得られなくなる。逆に、Rzが3μmを超えると、熱電変換部の表面が粗くなりすぎ、後述する電極材料との接合がし難くなる。このため、Rzの値は上記範囲内に設定することが好ましい。
 以上のようにして得られた、第1の拡散防止層18、第1の酸化防止層20、第2の拡散防止層22及び第2の酸化防止層24を有する焼結体32には、図3の(c)に示すように、格子状にワイヤーソーの刃(図示せず)が入れられて切断が行われ、図3(d)に示されるような熱電変換素子2が切り出される。このようにして、当該焼結体32から四角柱状の熱電変換素子2が複数個切り出される。なお、図3(c)において、参照符号34で示される格子状の模様はワイヤーソーの刃(図示せず)が入れられる予定箇所を示している。
 次に、以上のようにして得られた熱電変換素子2を含む熱電変換モジュール4について説明する。
 図1に示すように、熱電変換モジュール4は、熱電変換素子2と、この熱電変換素子2の一方端及び他方端にそれぞれ配設された電極材料8とを備えている。上記した一方端の電極材料8は、例えば、高温側電極40として機能する。また、上記した他方端の電極材料8は、例えば、低温側電極42として機能する。ここで、上記した電極材料8としては、Cu製部材やAl製部材をはじめとした金属製部材を用いることが好ましく、コストや生産性の面からはCu製部材を用いることがより好ましい。なお、電極材料に用いられる金属製部材(Cu製部材等)の形状としては、ブロック状、板状等の任意の形状をとり得る。
 熱電変換モジュール4においては、高温側電極40と低温側電極42との間で温度差が生じると電力を得ることができる。このような熱電変換モジュール4は、例えば、以下のようにして製造することができる。
 熱電変換素子2と電極材料8とを接合することにより熱電変換モジュール4が製造される。通常、熱電変換素子2と電極材料8との接合には、接合材6としてAgペーストが用いられる。しかしながら、本発明においては、熱電変換素子2と電極材料との接合には、Agペーストのような流動性がある接合材のみを使用して接合することは行わないことが好ましい。本発明に係る熱電変換素子2においては、Mo層26、27においてクラック等の隙間が生じている場合がある。斯かる隙間が生じている場合に、流動性のあるAgペーストを使用すると、斯かる隙間にAgペーストが入り込み、その部分からAgが熱電変換部16に拡散していく不具合が生じるおそれがある。このため、本発明においては、流動性のある接合材の使用は極力少なくして熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とを接合する。好ましくは、接合材6として、流動性を有していない非流動性接合材6aを採用して熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とを接合する。また、接合材6として、非流動性接合材6aと従来よりも少なめの流動性接合材6bとを組み合わせて熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とを接合してもよい。更に、より好ましくは、熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とを直接接合する態様を採用する。
 ここで、直接接合する態様としては、図4に示すように、熱電変換素子2の一方端及び他方端に電極材料8(Cu製部材)を直接接触させた状態で、矢印A1、A2で示すように、熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とが近付く方向に圧力をかけながらこれらを加熱する。これにより熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とを拡散接合させる。
 一方、非流動性接合材6aを使用する態様としては、各種金属箔を接合材として用いる方法、及び、電極材料8(Cu製部材)の表面に予め接合材としての金属層を形成しておく方法が挙げられる。
 上記した金属箔を用いる方法は、図5に示すように、熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)との間に金属箔44、46を配置し、その状態で、矢印A1、A2で示すように、熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とが近付く方向に圧力をかけながら、これらを加熱する。これにより、熱電変換素子2と金属箔44、46との間及び金属箔44、46と電極材料8(Cu製部材)との間で拡散接合がなされる。上記した金属箔44、46としては、Ag製の箔を用いることが好ましい。また、Au製の箔、Ni製の箔等を用いることもできる。
 また、電極材料8(Cu製部材)の表面に金属層を形成しておく方法では、図6に示すように、予め表面に金属層48、50を形成した電極材料8(Cu製部材)と熱電変換素子2とを接触させた状態で、矢印A1、A2で示すように、熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とが近付く方向に圧力をかけながら、これらを加熱する。これにより、熱電変換素子2と金属層48、50との間及び金属層48、50と電極材料8(Cu製部材)との間で拡散接合がなされる。電極材料8(Cu製部材)表面の金属層48、50としては、Ni及びAuのめっき層を用いることが好ましい。
 更に、非流動性接合材6aと流動性接合材6bを組み合わせて電極材料8(Cu製部材)と熱電変換素子2とを接合する態様は、図7に示すように、予め表面に金属層48、50を形成した電極材料8(Cu製部材)と熱電変換素子2との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト52、54を配設し、この状態で、矢印A1、A2で示すように、熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とが近付く方向に圧力をかけながら、これらを加熱する。これにより、熱電変換素子2とAgペースト52、54との間及びAgペースト52、54と金属層48、50との間で接合層が形成され接合がなされる。
 ここで、上記した電極材料8(Cu製部材)の表面に形成される金属層48、50としては、電極材料8(Cu製部材)における熱電変換素子2と対向する面に少なくとも形成されていればよいが、電極材料8(Cu製部材)の全体を覆っていても構わない。
 本発明に係る熱電変換素子2は、拡散防止層にMo層を含んでいる。Moは、Snと相互拡散しないので、Snを多く含むスタナイド系化合物で形成された熱電変換素子の拡散防止層として有効に機能する。このため、斯かる熱電変換素子2を含む熱電変換モジュール4は、発電性能の低下が抑制された優れた熱電変換モジュールとなる。
 なお、以上では、1個の熱電変換素子2のみで構成される熱電変換モジュール4を例に挙げて説明したが、複数の熱電変換素子2で構成される熱電変換モジュール、例えば、p型又はn型のいずれか一方の熱電変換素子2を直列に接続したユニレグ型熱電変換モジュール、若しくは、p型及びn型の熱電変換素子2を交互かつ直列に接続したπ型熱電変換モジュールでも構わない。
[実施例]
1.熱電変換モジュールの製造
 (実施例1)
 (1)熱電変換素子の製造
 組成がMgSi0.3Sn0.7となるように、Mg、Si及びSnを計量し、所定量のMg、Si及びSnを混合して混合物を得た。得られた混合物を誘導溶解炉に投入した後、アルゴンガス雰囲気下で加熱し溶融した。その後、得られた溶融物を室温(25℃程度)まで冷却し、インゴットを作製した。得られたインゴットは、機械的に粉砕し平均粒径が数十μmの粒子からなるMgSi0.3Sn0.7の粉末を得た。
 得られた粉末をグラファイト製の焼結用治具内に投入し、5×10-3Pa以下の減圧雰囲気下で、50MPaの焼結圧力、680℃の焼結温度で焼結した。その結果、図3の(a)に示すような円板状の焼結体32を得た。
 次いで、得られた焼結体32の両端面32a、32bをバフ研磨した。このとき、粒径が0.5μmのダイヤモンドの粒子を含むダイヤモンドペーストを用いた。上記したバフ研磨の作業により両端面32a、32bの面粗度(Rz)を1.5±0.1μmとした。つまり、熱電変換部16の一方端及び他方端の表面の面粗度(Rz)は1.5±0.1μmとなる。
 バフ研磨の作業が終了した焼結体32の両端面32a、32bには、第1の密着層28、29となるTi層をスパッタリング法により形成した。第1の密着層28、29の厚さは、3μmとした。
 次いで、第1の密着層28、29の上にMo層26、27をスパッタリング法により形成した。Mo層26、27の厚さは、3μmとした。
 次いで、Mo層26、27の上に第2の密着層30、31となるTi層をスパッタリング法により形成した。第2の密着層30、31の厚さは、0.2μmとした。
 以上のようにして、焼結体32の両端面32a、32bには、第1の密着層28、29、Mo層26、27、第2の密着層30、31を含む第1及び第2の拡散防止層18、22が形成された。
 次いで、第1及び第2の拡散防止層18、22における第2の密着層30、31の上に第1及び第2の酸化防止層20、24となるAg層をスパッタリング法により形成した。Ag層の厚さは、0.2μmとした。
 以上のようにして、焼結体32の両端面32a、32bには、図3の(b)に示すように第1及び第2の拡散防止層18、22及び第1及び第2の酸化防止層20、24が形成された。
 このようにして得られた第1及び第2の拡散防止層18、22及び第1及び第2の酸化防止層20、24を有する焼結体32には、図3の(c)に示すように、格子状にワイヤーソーの刃(図示せず)を入れて切断を行い、図3(d)に示されるような熱電変換素子2を切り出した。このようにして、当該焼結体32から四角柱状の熱電変換素子2を得た。
 (2)熱電変換モジュールの製造
 上記のようにして得られた熱電変換素子2と電極材料8(Cu製部材)とを接合装置にセットしてこれらの接合を行った。詳しくは、図4に示すように、熱電変換素子2の一方端面に第1のCu製部材60を接触させ、熱電変換素子2の他方端面に第2のCu製部材62を接触させた。つまり、第1のCu製部材60と第2のCu製部材62との間に熱電変換素子2を挟み込んだ状態とした。そして、第1のCu製部材60と第2のCu製部材62とが近付く方向(矢印A1及びA2で示す方向)に加圧しながらこれら第1のCu製部材60、第2のCu製部材62及び熱電変換素子2を350℃に加熱して15分間保持することにより、直接接合を行った。
 その後、第1のCu製部材60、第2のCu製部材62及び熱電変換素子2を含む接合体を接合装置から取り出した。
 次いで、接合装置から取り出された接合体を5×10-3Pa以下に減圧した真空炉の中に投入した。そして、当該接合体を450℃に加熱し、1時間保持することにより接合体に後熱処理を施した。1時間経過後、接合体を25℃の室温まで冷却した後真空炉から取り出した。これにより熱電変換モジュール4を得た。
 (実施例2)
 粒径が3μmのダイヤモンドの粒子を含むダイヤモンドペーストを用いて焼結体32の両端面32a、32bのバフ研磨を行ったこと、上記したバフ研磨の作業により両端面32a、32bの面粗度(Rz)を4.0±0.2μmとしたことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 (実施例3)
 熱電変換モジュールの製造に際し、図6に示すように、予め電極材料8(Cu製部材)の表面にNiのめっき層及びAuのめっき層からなる金属層としての複合めっき層を形成しておき、熱電変換素子2の一方端面と第1のCu製部材60との間及び熱電変換素子2の他方端面と第2のCu製部材62との間に金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)48、50が存在する状態で接合を行ったことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 つまり、実施例3は、非流動性接合材6aを用いた態様となる。
 なお、電極材料8(Cu製部材)の表面には、Niのめっき層を形成し、その後、Niのめっき層の上にAuのめっき層を形成した。このとき、Niのめっき層の厚さは、数μmとし、Auのめっき層の厚さは、数百nmとした。
 (実施例4)
 粒径が3μmのダイヤモンドの粒子を含むダイヤモンドペーストを用いて焼結体32の両端面32a、32bのバフ研磨を行ったこと、上記したバフ研磨の作業により両端面32a、32bの面粗度(Rz)を4.0±0.2μmとしたこと、熱電変換モジュールの製造に際し、図6に示すように、予め電極材料8(Cu製部材)の表面にNiのめっき層及びAuのめっき層からなる金属層としての複合めっき層を形成しておき、熱電変換素子2の一方端面と第1のCu製部材60との間及び熱電変換素子2の他方端面と第2のCu製部材62との間に金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)48、50が存在する状態で接合を行ったことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 つまり、実施例4は、非流動性接合材6aを用いた態様となる。
 なお、電極材料8(Cu製部材)の表面には、Niのめっき層を形成し、その後、Niのめっき層の上にAuのめっき層を形成した。このとき、Niのめっき層の厚さは、数μmとし、Auのめっき層の厚さは、数百nmとした。
 (比較例1)
 粒径が6μmのダイヤモンドの粒子を含むダイヤモンドペーストを用いて焼結体32の両端面32a、32bのバフ研磨を行ったこと、上記したバフ研磨の作業により両端面32a、32bの面粗度(Rz)を4.7±0.1μmとしたこと、第1の密着層としてのTi層の厚さを0.2μmとしたこと、Mo層の代わりに厚さ3μmのNi層をスパッタリング法により形成したこと、第2の密着層を形成しなかったこと、Niの上に酸化防止層として厚さ0.1μmのAu層を形成したこと、熱電変換モジュールの製造に際し、図6に示すように、予め電極材料8(Cu製部材)の表面にNiのめっき層及びAuのめっき層からなる金属層としての複合めっき層を形成しておき、熱電変換素子2の一方端面と第1のCu製部材60との間及び熱電変換素子2の他方端面と第2のCu製部材62との間に金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)48、50が存在する状態で接合を行ったことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 つまり、比較例1は、非流動性接合材6aを用いた態様となる。
 なお、電極材料8(Cu製部材)の表面には、Niのめっき層を形成し、その後、Niのめっき層の上にAuのめっき層を形成した。このとき、Niのめっき層の厚さは、数μmとし、Auのめっき層の厚さは、数百nmとした。
 (実施例5)
 熱電変換モジュールの製造に際し、図7に示すように、予め電極材料8(Cu製部材)の表面にNiのめっき層及びAuのめっき層からなる金属層としての複合めっき層を形成したこと、第1のCu製部材60に形成された金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)48と熱電変換素子2の一方端面との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト52を配設したこと、第2のCu製部材62に形成された金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)50と熱電変換素子2の他方端面との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト54を配設したことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 つまり、実施例5は、非流動性接合材6a及び流動性接合材6bを用いた態様となる。
 なお、電極材料8(Cu製部材)の表面には、Niのめっき層を形成し、その後、Niのめっき層の上にAuのめっき層を形成した。このとき、Niのめっき層の厚さは、数μmとし、Auのめっき層の厚さは、数百nmとした。
 (実施例6)
 粒径が3μmのダイヤモンドの粒子を含むダイヤモンドペーストを用いて焼結体32の両端面32a、32bのバフ研磨を行ったこと、上記したバフ研磨の作業により両端面32a、32bの面粗度(Rz)を4.0±0.2μmとしたこと、熱電変換モジュールの製造に際し、図7に示すように、予め電極材料8(Cu製部材)の表面にNiのめっき層及びAuのめっき層からなる金属層としての複合めっき層を形成したこと、第1のCu製部材60に形成された金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)48と熱電変換素子2の一方端面との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト52を配設したこと、第2のCu製部材62に形成された金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)50と熱電変換素子2の他方端面との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト54を配設したことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 つまり、実施例6は、非流動性接合材6a及び流動性接合材6bを用いた態様となる。
 なお、電極材料8(Cu製部材)の表面には、Niのめっき層を形成し、その後、Niのめっき層の上にAuのめっき層を形成した。このとき、Niのめっき層の厚さは、数μmとし、Auのめっき層の厚さは、数百nmとした。
 (比較例2)
 粒径が6μmのダイヤモンドの粒子を含むダイヤモンドペーストを用いて焼結体32の両端面32a、32bのバフ研磨を行ったこと、上記したバフ研磨の作業により両端面32a、32bの面粗度(Rz)を4.7±0.1μmとしたこと、第1の密着層としてのTi層の厚さを0.2μmとしたこと、Mo層の代わりに厚さ3μmのNi層をスパッタリング法により形成したこと、第2の密着層を形成しなかったこと、Niの上に酸化防止層として厚さ0.1μmのAu層を形成したこと、熱電変換モジュールの製造に際し、図7に示すように、予め電極材料8(Cu製部材)の表面にNiのめっき層及びAuのめっき層からなる金属層としての複合めっき層を形成したこと、第1のCu製部材60に形成された金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)48と熱電変換素子2の一方端面との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト52を配設したこと、第2のCu製部材62に形成された金属層(Niのめっき層及びAuのめっき層の複合めっき層)50と熱電変換素子2の他方端面との間に流動性接合材6bとしてのAgペースト54を配設したことを除いて、実施例1と同様にして、熱電変換モジュール4を製造した。
 つまり、比較例2は、非流動性接合材6a及び流動性接合材6bを用いた態様となる。
 なお、電極材料8(Cu製部材)の表面には、Niのめっき層を形成し、その後、Niのめっき層の上にAuのめっき層を形成した。このとき、Niのめっき層の厚さは、数μmとし、Auのめっき層の厚さは、数百nmとした。
 2.熱電変換モジュールの評価
 (1)熱耐久試験
 実施例1~6、比較例1、2の熱電変換モジュールに対し、25℃の環境下にて、抵抗測定装置を用いて全体抵抗値の測定を行った。この値を初期値とする。
 上記した、全体抵抗値とは、「熱電変換部の電気抵抗値」及び「熱電変換部と電極材料との間の界面電気抵抗値」を合算した電気抵抗値をいう。ここで、熱電変換部と電極材料との間に接合材(非流動性接合材、又は、非流動性接合材+流動性接合材)が用いられている場合は、「接合材自体の電気抵抗値」、「熱電変換部と接合材との間の界面電気抵抗値」、「接合材と電極材料との間の界面電気抵抗値」を上記した「熱電変換部と電極材料との間の界面電気抵抗値」に含める。
 次に、初期値の測定が終了した実施例1~6、比較例1、2の熱電変換モジュールを、真空炉の中に収容した。その後、当該真空炉内を5×10-3Pa以下に減圧するとともに450℃に加熱した。そして、この状態のまま100時間保持した。
 次に、100時間経過後に各熱電変換モジュールを25℃まで冷却するとともに真空炉から取り出した。そして、各熱電変換モジュールの全体抵抗値を測定した。このときの値を100時間経過後の全体抵抗値とした。
 次に、100時間経過後の全体抵抗値の測定が終了した各熱電変換モジュールを再度真空炉の中に収容した。その後、当該真空炉内を5×10-3Pa以下に減圧するとともに450℃に加熱した。そして、この状態のまま更に100時間保持した。
 次に、合計200時間経過後に各熱電変換モジュールを25℃まで冷却するとともに真空炉から取り出した。そして、各熱電変換モジュールの全体抵抗値を測定した。このときの値を200時間経過後の全体抵抗値とした。
 上記のようにして得られた100時間経過後の全体抵抗値及び200時間経過後の全体抵抗値については、初期値を100%とした場合の相対値を求め、得られた結果を100時間経過値及び200時間経過値として表1に示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 (2)考察
 (i)拡散防止層にMo層を含む実施例1~4については、全体抵抗値の大幅な上昇は見られなかった。これは、拡散防止層にMo層を含ませると、スタナイド系化合物中のSnと拡散防止層のMoとが反応せず、長時間加熱されても拡散防止層の機能が損なわれないためであると考えられる。
 なお、100時間経過後の全体抵抗値が初期値よりも低下しているものは、「熱電変換部と電極材料との間の界面電気抵抗値」が小さくなったためと考えられる。
 これに対し、拡散防止層にNi層を含む比較例1については、全体抵抗値が大幅に上昇した。これは、拡散防止層に含まれるNi層がスタナイド系化合物中のSnと反応してしまい、拡散防止層としての機能が損なわれたためであると考えられる。
 以上より、拡散防止層にMo層を含ませると、熱電変換モジュールの全体抵抗値の上昇を抑えることができ、耐久性に優れる熱電変換モジュールが得られるといえる。
 (ii)接合材として、Ni及びAuのめっき層(非流動性接合材)及びAgペースト(流動性接合材)を用いた実施例5、6、比較例2の結果より、以下のことがわかる。まず、実施例6の結果より、Agペーストを使用すると、Agペースト中のAg成分とスタナイド系化合物中のMg成分とが反応してしまい、全体抵抗値が上昇してしまう。しかしながら、実施例5のように、熱電変換部の表面の面粗度を実施例6よりも小さくすると、Agペーストを使用しても全体抵抗値の上昇を抑えることができることがわかる。また、比較例2のように、Agペーストを使用し、拡散防止層にNi層を含み、熱電変換部の表面の面粗度を4.7±0.1μmと比較的大きくすると、Agペースト中のAg成分とスタナイド系化合物中のMg成分とが反応し、更に、Ni層とスタナイド系化合物中のSn成分とが反応し、熱電変換モジュールの全体抵抗値が大幅に上昇してしまい、耐久性が低下することがわかる。
 よって、Agペーストを使用する場合は、拡散防止層としてMo層を含ませるとともに、熱電変換部の表面の面粗度はなるべく小さくすることが熱電変換モジュールの全体抵抗値の上昇を抑制することに有効であると言える。
 ここで、本発明の説明で参照した図面においては、各部の構成が分かり易くなるように、電極材料、各層及び熱電変換部の厚さや各部間の比率は誇張して描かれており、実際の厚さ及び比率とは異なっている。
 なお、本発明は、上記した実施形態及び実施例に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。上記した実施形態及び実施例では、熱電変換部の一方端側及び他方端側に拡散防止層及び酸化防止層を設けたが、この態様に限定されるものではなく、これら拡散防止層及び酸化防止層は、少なくとも高温にさらされる側に設けられていればよい。
 <本発明の態様>
 本発明の第1の態様は、一般式:MgSi1-xSn(ただし、式中、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)で表される組成を有するスタナイド系化合物を含む熱電変換部と、前記熱電変換部の表面に位置付けられた拡散防止層と、を備え、前記拡散防止層は、Mo層を含んでいる、スタナイド系熱電変換素子である。
 本発明の第2の態様は、上記した本発明の第1の態様において、前記拡散防止層は、前記Mo層と前記熱電変換部との間に配設された第1の密着層と、前記Mo層を挟んで前記第1の密着層とは反対側に配設された第2の密着層と、を更に含んでいる、スタナイド系熱電変換素子である。
 本発明の第3の態様は、上記した本発明の第2の態様において、前記第1の密着層及び前記第2の密着層は、Ti層を含む、スタナイド系熱電変換素子である。
 本発明の第4の態様は、上記した本発明の第1~第3の態様の何れかにおいて、前記熱電変換部の表面の面粗度は、Rzが0.1μm以上3μm以下である、スタナイド系熱電変換素子である。
 本発明の第5の態様は、上記した本発明の第1~第4の態様の何れかにおいて、前記拡散防止層を挟んで前記熱電変換部とは反対側に配設された酸化防止層を更に備えている、スタナイド系熱電変換素子である。
 本発明の第6の態様は、上記した本発明の第5の態様において、前記酸化防止層は、Au層、Ag層及びCu層のうちの少なくとも1つの金属層を含んでいる、スタナイド系熱電変換素子である。
 本発明の第7の態様は、熱電変換素子と、前記熱電変換素子に接合材を介して接合されている電極材料と、を備えており、前記熱電変換素子は、上記した本発明の第1~6の態様の何れかのスタナイド系熱電変換素子であり、前記接合材は、流動性を有していない非流動性接合材を含む、スタナイド系熱電変換モジュールである。
 本発明の第8の態様は、上記した本発明の第7の態様において、前記非流動性接合材は、Niのめっき層及びAuのめっき層のうち少なくとも一方を含む、スタナイド系熱電変換モジュールである。
 本発明の第9の態様は、上記した本発明の第7の態様において、前記非流動性接合材は、Ag製の箔を含む、スタナイド系熱電変換モジュールである。
 本発明の第10の態様は、熱電変換素子と、前記熱電変換素子に接合材を介さずに直接接合されている電極材料と、を備えており、前記熱電変換素子は、上記した本発明の第1~6の態様の何れかのスタナイド系熱電変換素子である、スタナイド系熱電変換モジュールである。
 2        スタナイド系熱電変換素子(熱電変換素子)
 4        スタナイド系熱電変換モジュール(熱電変換モジュール)
 6        接合材
 8        電極材料
16        熱電変換部
18        第1の拡散防止層
20        第1の酸化防止層
22        第2の拡散防止層
24        第2の酸化防止層
26、27     Mo層
28、29     第1の密着層
30、31     第2の密着層

 

Claims (10)

  1.  一般式:MgSi1-xSn(ただし、式中、xは、0.5<x<1の関係を満たしている。)で表される組成を有するスタナイド系化合物を含む熱電変換部と、
     前記熱電変換部の表面に位置付けられた拡散防止層と、を備え、
     前記拡散防止層は、Mo層を含んでいる、スタナイド系熱電変換素子。
  2.  前記拡散防止層は、
     前記Mo層と前記熱電変換部との間に配設された第1の密着層と、
     前記Mo層を挟んで前記第1の密着層とは反対側に配設された第2の密着層と、を更に含んでいる、請求項1に記載のスタナイド系熱電変換素子。
  3.  前記第1の密着層及び前記第2の密着層は、Ti層を含む、請求項2に記載のスタナイド系熱電変換素子。
  4.  前記熱電変換部の表面の面粗度は、Rzが0.1μm以上3μm以下である、請求項1~3の何れかに記載のスタナイド系熱電変換素子。
  5.  前記拡散防止層を挟んで前記熱電変換部とは反対側に配設された酸化防止層を更に備えている、請求項1~4の何れかに記載のスタナイド系熱電変換素子。
  6.  前記酸化防止層は、Au層、Ag層及びCu層のうちの少なくとも1つの金属層を含んでいる、請求項5に記載のスタナイド系熱電変換素子。
  7.  熱電変換素子と、
     前記熱電変換素子に接合材を介して接合されている電極材料と、を備えており、
     前記熱電変換素子は、請求項1~6の何れかに記載のスタナイド系熱電変換素子であり、
     前記接合材は、流動性を有していない非流動性接合材を含む、スタナイド系熱電変換モジュール。
  8.  前記非流動性接合材は、Niのめっき層及びAuのめっき層のうち少なくとも一方を含む、請求項7に記載のスタナイド系熱電変換モジュール。
  9.  前記非流動性接合材は、Ag製の箔を含む、請求項7に記載のスタナイド系熱電変換モジュール。
  10.  熱電変換素子と、
     前記熱電変換素子に接合材を介さずに直接接合されている電極材料と、を備えており、
     前記熱電変換素子は、請求項1~6の何れかに記載のスタナイド系熱電変換素子である、スタナイド系熱電変換モジュール。

     
PCT/JP2019/043710 2018-11-16 2019-11-07 スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール WO2020100717A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201980074811.7A CN113016082A (zh) 2018-11-16 2019-11-07 锡基热电转换元件以及锡基热电转换模块
KR1020217015989A KR20210089686A (ko) 2018-11-16 2019-11-07 스태나이드계 열전 변환 소자 및 스태나이드계 열전 변환 모듈
EP19884997.8A EP3882992A4 (en) 2018-11-16 2019-11-07 STANNIDE THERMOELECTRIC TRANSFORMATION ELEMENT AND STANNIDE THERMOELECTRIC TRANSFORMATION MODULE
US17/309,072 US20220020908A1 (en) 2018-11-16 2019-11-07 Stannide thermoelectric conversion element and stannide thermoelectric conversion module

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018215395A JP2020087997A (ja) 2018-11-16 2018-11-16 スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール
JP2018-215395 2018-11-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020100717A1 true WO2020100717A1 (ja) 2020-05-22

Family

ID=70731375

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2019/043710 WO2020100717A1 (ja) 2018-11-16 2019-11-07 スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20220020908A1 (ja)
EP (1) EP3882992A4 (ja)
JP (1) JP2020087997A (ja)
KR (1) KR20210089686A (ja)
CN (1) CN113016082A (ja)
WO (1) WO2020100717A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230019266A1 (en) * 2021-07-13 2023-01-19 Hyundai Motor Company Thermoelectric module and a vehicle including the same

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002124707A (ja) * 2000-10-16 2002-04-26 Matsushita Electric Works Ltd 熱電変換モジュールの製造方法
JP2003304006A (ja) * 2002-04-11 2003-10-24 Toshiba Corp 熱電変換モジュールおよびそれを用いた熱交換器
JP2006049736A (ja) * 2004-08-09 2006-02-16 Komatsu Ltd 熱電モジュール
JP2015050272A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 株式会社Kelk 熱電発電モジュール
JP2016157843A (ja) 2015-02-25 2016-09-01 株式会社リコー 熱電変換装置
JP2017050477A (ja) * 2015-09-04 2017-03-09 ヤマハ株式会社 熱電変換モジュール及びその製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3550390B2 (ja) * 2002-04-24 2004-08-04 京セラ株式会社 熱電変換素子及び熱電モジュール
JP5282593B2 (ja) * 2009-02-06 2013-09-04 宇部興産株式会社 熱電変換素子及びそれを用いた熱電変換モジュール
US20170250334A1 (en) * 2014-09-18 2017-08-31 Basf Se Thermo-compression bonding of thermoelectric materials
JP2016111091A (ja) * 2014-12-03 2016-06-20 株式会社安永 シリサイド系熱電発電素子
JP6567847B2 (ja) * 2015-03-19 2019-08-28 古河機械金属株式会社 熱電変換材料、熱電変換素子、熱電変換モジュール、熱電発電装置、熱電変換システム、および熱電変換材料の製造方法
WO2017136793A1 (en) * 2016-02-05 2017-08-10 Alphabet Energy, Inc. Electrode structure for magnesium silicide-based bulk materials to prevent elemental migration for long term reliability
JP2017168609A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 古河機械金属株式会社 熱電変換素子、熱電変換モジュール、および熱電変換システム
JP6404983B2 (ja) * 2017-04-05 2018-10-17 株式会社Kelk 熱電発電モジュール

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002124707A (ja) * 2000-10-16 2002-04-26 Matsushita Electric Works Ltd 熱電変換モジュールの製造方法
JP2003304006A (ja) * 2002-04-11 2003-10-24 Toshiba Corp 熱電変換モジュールおよびそれを用いた熱交換器
JP2006049736A (ja) * 2004-08-09 2006-02-16 Komatsu Ltd 熱電モジュール
JP2015050272A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 株式会社Kelk 熱電発電モジュール
JP2016157843A (ja) 2015-02-25 2016-09-01 株式会社リコー 熱電変換装置
JP2017050477A (ja) * 2015-09-04 2017-03-09 ヤマハ株式会社 熱電変換モジュール及びその製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3882992A4

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230019266A1 (en) * 2021-07-13 2023-01-19 Hyundai Motor Company Thermoelectric module and a vehicle including the same

Also Published As

Publication number Publication date
EP3882992A4 (en) 2022-08-03
CN113016082A (zh) 2021-06-22
JP2020087997A (ja) 2020-06-04
KR20210089686A (ko) 2021-07-16
EP3882992A1 (en) 2021-09-22
US20220020908A1 (en) 2022-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3352233B1 (en) Thermoelectric conversion module and thermoelectric conversion device
KR102422607B1 (ko) 접합체, 히트 싱크가 부착된 파워 모듈용 기판, 히트 싱크, 및 접합체의 제조 방법, 히트 싱크가 부착된 파워 모듈용 기판의 제조 방법, 히트 싱크의 제조 방법
EP2811513A1 (en) Substrate for power modules, substrate with heat sink for power modules, power module, method for producing substrate for power modules, and paste for bonding copper member
KR101782440B1 (ko) 열전 발전 모듈
US10224472B2 (en) Thermoelectric power module
WO2017098863A1 (ja) 熱電変換モジュールおよびその製造方法
JP2003309294A (ja) 熱電モジュール
US20080298024A1 (en) Heat spreader and method for manufacturing the same, and semiconductor device
JP2013201382A (ja) 熱電変換モジュール及びその製造方法
WO2020100717A1 (ja) スタナイド系熱電変換素子及びスタナイド系熱電変換モジュール
JP2011249442A (ja) 熱電素子およびその製造方法、ならびに熱電モジュール
WO2010007729A1 (ja) 熱発電デバイスの製造方法
JP7315377B2 (ja) 熱電モジュール
JP6850988B2 (ja) 熱電変換モジュール
WO2017047627A1 (ja) 熱電変換モジュール及び熱電変換装置
WO2016088762A2 (ja) シリサイド系熱電発電素子
CN108701659B (zh) 接合体、功率模块用基板、功率模块、接合体的制造方法及功率模块用基板的制造方法
EP4174934A1 (en) Bonding member for semiconductor devices
JP5514523B2 (ja) 熱電素子およびその製造方法、ならびに熱電モジュール
JP2016092277A (ja) 熱電素子および熱電モジュール
WO2021019891A1 (ja) 熱電モジュール及び熱電モジュールの製造方法
JP2008028295A (ja) パワー半導体モジュール及びその製造方法
WO2016167217A1 (ja) 接合体、ヒートシンク付パワーモジュール用基板、ヒートシンク、及び、接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、ヒートシンクの製造方法
JP2021165227A (ja) 銅/セラミックス接合体、及び、絶縁回路基板
JP2000286466A (ja) Si−Ge半導体素子およびその製造方法ならびに熱電変換モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19884997

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20217015989

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2019884997

Country of ref document: EP

Effective date: 20210616