WO2020062138A1 - 一种适配器测试装置、方法及计算机存储介质 - Google Patents

一种适配器测试装置、方法及计算机存储介质 Download PDF

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WO2020062138A1
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    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
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    • G01R31/2846—Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
    • G01R31/2848—Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms using simulation
    • G—PHYSICS
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    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
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    • G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC

Definitions

  • the controlling the adapter to be tested in a target output state according to the simulated battery voltage value includes:
  • the controlling the adapter to be tested in a target output state according to the control instruction includes:
  • an embodiment of the present application provides an adapter testing device.
  • the adapter testing device includes a test module, an electronic load, and a host computer.
  • the test module integrates a first processor and stores a first processor and a second processor.
  • an embodiment of the present application provides a computer storage medium.
  • the computer storage medium stores an adapter test program, and the adapter test program implements any of the fourth aspects when executed by the first processor and the second processor. Steps of a method
  • FIG. 4 is a schematic flowchart of an adapter test method according to an embodiment of the present application.
  • VOOC flash charging is a fast charging technology. Compared with the ordinary 5V / 1A power charging technology, it can increase the charging speed, for example, increase the charging speed by at least 4 times.
  • the mobile terminal is equipped with a proprietary adapter to achieve fast charging of the mobile terminal. Among them, when using VOOC charging, when the adapter enters the constant current mode, as the battery voltage increases, the output voltage of the adapter also increases.
  • the embodiment of the present application provides an adapter test device, which uses a test module and an electronic load to simulate the working state of an electronic device. In this way, during the adapter test, not only the security of the adapter test can be guaranteed, but also the efficiency of the adapter test can be improved. .
  • the embodiments of the present application will be described in detail below with reference to the drawings.
  • the test module 101 is connected to the electronic load 102 and is used to simulate the working state of the electronic device to obtain an analog battery voltage value corresponding to the working state;
  • the test module 101 is connected to the adapter 104 to be tested, and is configured to control the adapter 104 to be tested in a target output state according to the simulated battery voltage value;
  • the test module 101 is connected to the upper computer 103, and is configured to detect a target output state of the adapter 104 to be tested and send the detected output information of the adapter 104 to be tested to the upper computer 103;
  • the adapter to be tested 104 has a charging function, and the adapter to be tested 104 can charge an electronic device (including a battery); according to the working state of the electronic device, a battery voltage value corresponding to the working state can be obtained.
  • the adapter testing device 100 is required to test the adapter 104 to be tested.
  • the adapter test device 100, the electronic load 102 and the host computer 103 shown in FIG. 1 may be partially integrated in the adapter test device 100, or may be fully integrated in the adapter test device 100, and even the electronic load may be integrated. 102 and the host computer 103 are placed separately and are not integrated into the adapter test device 100; this embodiment of the present application does not specifically limit this.
  • the electronic load 102 has a voltage adjustment function for receiving a load adjustment instruction. According to the load adjustment instruction and the test module 101, different operating states of the electronic device can be simulated, wherein the operating state and the simulated battery voltage value are different. There is a corresponding relationship between them.
  • the test module 101 since the test module 101 is connected to the host computer 103, the test module 101 is further configured to send the simulated battery voltage value to the host computer 103; the host computer 103 is further configured to output control according to the simulated battery voltage value And sending the control instruction to the test module 101; the test module 101 is configured to control the adapter 104 to be tested in a target output state according to the control instruction.
  • the test module 101 is specifically configured to control the adapter 104 to be tested in a constant voltage mode according to the control instruction when the analog battery voltage value is greater than a first preset threshold.
  • the constant voltage mode includes that the output voltage of the adapter 104 to be tested is maintained within a rated output voltage range, and when the analog battery voltage value increases, the output current of the adapter 104 to be tested decreases.
  • the under-voltage protection mode includes that the adapter under test 104 disconnects the output to have no output voltage, or the adapter under test 104 has the output voltage again after a preset period of time without the output voltage.
  • the first preset threshold is a voltage judgment value that indicates that the adapter 104 to be tested is in a constant voltage mode, for example, the first preset threshold may be 5.5V; the second preset threshold is that the adapter 104 to be tested is under voltage.
  • the voltage judgment value of the protection mode for example, the second preset threshold may be 3V; the preset time period indicates that when the adapter to be tested 104 is in the undervoltage mode, the time between the disconnection of the output of the adapter to be tested 104 and the re-output of the output
  • the remaining reset time period for example, the preset time period may be 1s; here, the first preset threshold and the second preset threshold are different, and the first preset threshold is greater than the second preset threshold; for the first preset
  • the values of the threshold and the second preset threshold are related to the maximum output capability of the adapter to be tested, which is not specifically limited in this embodiment of the present application.
  • the test module 101 controls the target output state of the adapter 104 to be tested according to the control instruction, which is mainly related to the obtained analog battery voltage value.
  • the control instruction which is mainly related to the obtained analog battery voltage value.
  • different simulated battery voltage values can be obtained.
  • the specific instructions in the control instruction generated by the host computer 103 according to the different simulated battery voltage values are different, and then the test module 101 according to the control instruction
  • the specific instruction content in the command controls the adapter 104 to be tested in a target output state.
  • the host computer 103 issues a control instruction according to the currently obtained analog battery voltage value.
  • the control instruction includes a first instruction content.
  • the test module 101 can control the output voltage of the adapter 104 to be tested to gradually increase; when the obtained analog battery voltage value is increased to be greater than a first preset threshold, such as when the obtained analog battery voltage value is greater than 5.5V
  • the host computer 103 will also issue a control instruction according to the current analog battery voltage value.
  • the control instruction includes a second instruction content.
  • the test module 101 can control the adapter 104 to be tested in a constant voltage mode, that is, That is, the adapter 104 to be tested enters an overvoltage protection process. At this time, the output voltage of the adapter 104 to be tested is maintained within the rated output voltage range. At the same time, as the analog battery voltage value increases, the output current of the adapter 104 to be tested Is gradually decreasing; but when the obtained analog battery voltage value drops to less than When the preset threshold value is set, for example, when the obtained analog battery voltage value drops to less than 3V, the host computer 103 will continue to issue a control instruction according to the current analog battery voltage value.
  • the control instruction includes a third instruction content.
  • the test module 101 can control the adapter 104 to be tested in the under voltage protection mode, that is, the adapter 104 to be tested enters the under voltage protection process. At this time, the adapter 104 to be tested can disconnect the output (that is, the adapter 104 to be tested has no output). Voltage), or the adapter 104 to be tested can also be reset and restarted (ie, after a preset period of time without output voltage, such as within 1 s, the adapter to be tested 104 has an output voltage again).
  • the upper computer 103 is specifically configured to compare the output information of the adapter 104 to be tested with the target output information of the adapter 104 to be tested; As a result of the comparison, a test result of the adapter to be tested 104 is output; wherein a target relationship between the target output information of the adapter 104 to be tested and the target output state of the adapter 104 to be tested.
  • the upper computer 103 since the upper computer 103 also obtains target output information corresponding to the target output state in the process of generating the control instruction; when the test module 101 obtains the output information of the adapter 104 to be tested, the test module 101 will It is sent to the upper computer 103; the output information of the adapter 104 to be tested is compared with the target output information of the adapter 104 to be tested by the upper computer 103; according to the comparison result, the test result of the adapter 104 to be tested can be obtained.
  • the target output state of the adapter 104 to be tested is the constant voltage mode, that is, The target output information of the test adapter 104 is that the output voltage is maintained at 5.5V, and the output current decreases as the analog battery voltage value increases; if the output voltage of the adapter 104 to be tested is 5.5V, and the output current varies with It decreases with the increase of the simulated battery voltage value, that is, the output information of the adapter 104 to be tested matches the target output information of the adapter 104 to be tested.
  • the test result of the adapter 104 to be tested meets the requirements. If the output voltage of the output information of the adapter 104 to be tested is 5.8V, or the output current increases with the increase of the analog battery voltage value, that is, the output information of the adapter 104 to be tested is different from that of the adapter 104 to be tested The target output information does not match. At this time, it means that the test result of the adapter to be tested 104 does not meet the requirements, and the developer needs to locate the fault. Analysis and quality improvement, in order to achieve the purpose of improving the quality of the product to be tested adapters.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a specific hardware structure of the test module 101 in FIG. 1; as shown in FIG. 2, the test module 101 includes a test board 201 and an external power supply 202, wherein the external The power supply 202 is used to provide external power to the test board 201.
  • the test single board 201 includes at least a Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor (MOSFET) component 2011 and a Microcontroller Unit (MCU) component 2012; wherein, the test The single board 201 cooperates with the electronic load 102 and is used to simulate the working state of the electronic device to implement the test of the adapter 104 to be tested.
  • MOSFET Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
  • MCU Microcontroller Unit
  • test module 101 may be an integrated component, unit or module, and may include more or fewer components than shown, or some components may be combined, or different component arrangements.
  • test single board 201 may also be an integrated component, unit or module, and may also include more or fewer components than shown, or some components may be combined, or different component arrangements; here, the test single board 201
  • the external power supply 202 can be used to provide external power supply, or the internal power supply can be provided by the power supply circuit included in the test board, which is not specifically limited in the embodiment of the present application.
  • the voltage between VBUS and GND is actually the output voltage of the adapter 104 to be tested and needs to be connected to the positive and negative poles of the power cord of the adapter 104 to be tested; the test module 101 and the adapter 104 to be tested The communication between them is actually performed by the MCU component 2012 on the test board 201 and the adapter 104 to be tested for communication signals.
  • the communication between the test module 101 and the host computer 103 is actually performed by the test board 201
  • the MCU component 2012 on the upper computer 103 interacts with the communication signal of the host computer 103;
  • the MOSFET component 2011 on the test board 201 is mainly used for testing the module 101 and the electronic load 102 to simulate the working state of the electronic device; because according to the test module and The electronic load simulates the working state of the electronic equipment, which can effectively avoid the test inconvenience caused by using the electronic equipment as the real load to test the test adapter and endanger the personal safety of the tester.
  • the test module is connected to the electronic load and is used to simulate the working state of the electronic device to obtain the analog battery voltage value corresponding to the working state;
  • the test module is connected to the adapter to be tested and is used to control the adapter to be tested in the target output state according to the simulated battery voltage value;
  • the test module is connected to the host computer and is used to target the adapter to be tested Detecting the output status and sending the detected output information of the adapter to be tested to the upper computer;
  • the upper computer is configured to output the test result of the adapter to be tested according to the output information of the adapter to be tested .
  • the test inconvenience caused by using the electronic device as a load to test the test adapter is avoided, and the problem of endangering the personal safety of the tester is avoided, thereby ensuring the safety of the test of the adapter.
  • Improve the test efficiency of the adapter at the same time, through the test of the adapter protection function, the product quality of the adapter is also improved, thereby improving the security of the use of the adapter.
  • the adapter test system 300 includes an adapter to be tested 104 and an adapter test device 100;
  • the test device 100 is connected to the adapter 104 to be tested.
  • the adapter test device 100 is used to test the adapter 104 to be tested, so as to improve the product quality of the adapter 104 to be tested.
  • the adapter test device 100 in the embodiment of the present application can also ensure the adapter.
  • the security of the test improves the test efficiency of the adapter; at the same time, the test of the protection function of the adapter also improves the product quality of the adapter, thereby improving the security of the use of the adapter.
  • FIG. 4 shows a schematic flowchart of an adapter test method provided by an embodiment of the present application.
  • the method can be applied to an adapter test device including a test module, an electronic load, and a host computer.
  • the method may include:
  • S401 Obtain the simulated battery voltage value corresponding to the working state through the test module and the electronic load to simulate the working state of the electronic device;
  • S402 Control the adapter to be tested in a target output state according to the simulated battery voltage value
  • S403 Detect a target output state of the adapter to be tested, and obtain detected output information of the adapter to be tested;
  • S404 Output the test result of the adapter to be tested according to the output information of the adapter to be tested.
  • the adapter test device includes a test module, an electronic load, and a host computer.
  • the electronic load and the host computer can be partially integrated in the adapter test device, or they can be fully integrated in the adapter test device, and even the electronic load can be integrated. It is placed separately from the host computer and is not integrated into the adapter test device; this embodiment of the present application does not specifically limit this.
  • the adapter test device is used to test the adapter to be tested; the working state of the electronic device is simulated by the test module and the electronic load, and the simulated battery voltage value corresponding to the working state is obtained; the actual use of the electronic device is effectively avoided
  • the battery is used as a load to test the adapter to be tested and the test inconvenience and endanger the personal safety of the tester, thereby ensuring the safety of the adapter test; according to the simulated battery voltage value, the test module controls the adapter to be tested at the target Output status; detecting the target output status of the adapter to be tested, and sending the detected output information of the adapter to be tested to the upper computer, and the upper computer outputting the test result of the adapter to be tested; especially for the protection of the adapter to be tested Testing of functions (such as constant-voltage mode and under-voltage protection mode) can achieve the purpose of improving the product quality of the adapter under test, thereby improving the use safety of the adapter under test; throughout the entire testing process, according to the test module
  • the simulating a working state of an electronic device through the test module and the electronic load to obtain an analog battery voltage value corresponding to the working state includes:
  • the simulated battery voltage value corresponding to the working state is obtained.
  • the electronic load has a voltage adjustment function.
  • the electronic load receives the load adjustment instruction and cooperates with the test module to simulate different working states of the electronic device. For different working states, different simulated battery voltage values can be obtained.
  • the adapter to be tested is tested according to different working states of the simulated electronic equipment, which not only ensures the comprehensiveness of the adapter test, but also improves the product quality of the adapter. In addition, it also avoids the test inconvenience caused by using electronic equipment as a real load to test the test adapter and endangers the safety of the tester, thereby ensuring the safety of the test of the adapter and improving the test efficiency of the adapter.
  • the controlling the adapter to be tested in a target output state according to the simulated battery voltage value includes:
  • the test module sends the simulated battery voltage value to the host computer;
  • a control instruction is output by the host computer according to the simulated battery voltage value
  • the test module sends the simulated battery voltage value to the host computer; the host computer generates a control instruction according to the simulated battery voltage value, and the control instruction is used to indicate
  • the test module controls the output state of the test adapter. For example, the host computer wants the adapter to be tested in the target output state. At this time, the host computer generates a control instruction, and then sends the control instruction to the test module, and the test module makes the adapter to be tested in the target output state according to the control instruction.
  • controlling the adapter under test to enter a target output state according to the control instruction includes:
  • controlling the adapter under test to enter a target output state according to the control instruction includes:
  • the adapter to be tested is controlled in an under-voltage protection mode according to the control instruction.
  • the first preset threshold is a voltage judgment value indicating that the adapter to be tested is in a constant voltage mode, for example, the first preset threshold may be 5.5V; the second preset threshold is to indicate that the adapter to be tested is in an undervoltage protection mode.
  • the second preset threshold may be 3V.
  • the first preset threshold and the second preset threshold are different, and the first preset threshold is greater than the second preset threshold.
  • the values of the threshold and the second preset threshold are related to the maximum output capability of the adapter to be tested, which is not specifically limited in this embodiment of the present application.
  • the test module controls the target output state of the adapter to be tested according to the control instruction, which is mainly related to the simulated battery voltage value.
  • the control instruction which is mainly related to the simulated battery voltage value.
  • the output information of the adapter under test includes the output voltage of the adapter under test and the output current of the adapter under test.
  • controlling the adapter to be tested in a target output state according to the control instruction includes:
  • controlling the adapter to be tested in a target output state according to the control instruction includes:
  • the preset time period indicates that the reset time period reserved between the disconnection of the output of the test adapter and the re-output of the output of the test adapter when the adapter under test is in the undervoltage mode, for example, the preset time period may be For 1s.
  • the output information of the adapter to be tested is detected by the test module. For the test of the adapter to be tested, it is mainly to check whether the output voltage and output current meet the preset requirements of the target output state.
  • the adapter to be tested is in a charging state to charge the test module and the electronic device simulated by the electronic load; usually, The adapter to be tested is first in constant current mode; at this time, with the adjustment of the electronic load, the analog battery voltage value continues to increase.
  • the host computer will issue a control instruction according to the current analog battery voltage value.
  • the control instruction includes the first instruction content.
  • the test module can control the output voltage of the adapter to be tested to gradually increase; when the analog battery voltage value is increased to be greater than the first preset threshold, such as when the obtained analog battery voltage value is greater than 5.5V, the upper level
  • the machine will also issue a control instruction according to the current analog battery voltage value.
  • the control instruction includes a second instruction content.
  • the test module can control the adapter to be tested in the constant voltage mode, that is, the adapter to be tested enters Overvoltage protection process, at this time the output power of the adapter to be tested It remains within the rated output voltage range, and as the analog battery voltage value increases, the output current of the adapter to be tested gradually decreases; but when the analog battery voltage value drops below a second preset threshold, For example, when the obtained analog battery voltage value drops to less than 3V, the host computer will continue to issue a control instruction according to the current analog battery voltage value.
  • the control instruction includes a third instruction content. According to the third instruction content, the test module can control the standby status.
  • the test adapter is in undervoltage protection mode, that is, the adapter under test enters the undervoltage protection process, at which time the adapter under test disconnects the output (that is, the adapter under test has no output voltage), or the adapter under test is reset and restarted (that is, in the After a preset time period without output voltage, such as within 1s, the adapter to be tested will have output voltage again; due to the overvoltage protection test and undervoltage protection test of the adapter to be tested, the product quality of the adapter to be tested can be improved; and Is to simulate the working state of electronic equipment according to the test module and the electronic load, It effectively avoids the harm caused by battery explosion caused by battery overvoltage or undervoltage, which can ensure the safety of adapter testing and improve the testing efficiency of adapters.
  • the outputting a test result of the adapter to be tested according to output information of the adapter to be tested includes:
  • a test result of the adapter to be tested is output; wherein the target output information of the adapter to be tested has a corresponding relationship with the target output state of the adapter to be tested.
  • the upper computer since the upper computer also obtains the target output information corresponding to the target output state in the process of generating the control instruction; when the test module obtains the output information of the adapter to be tested, the test module sends it to the upper computer. Then, the output information of the adapter to be tested by the host computer is compared with the target output information of the adapter to be tested; according to the comparison result, the test result of the adapter to be tested can be obtained.
  • the target output state of the adapter 104 to be tested is the constant voltage mode. That is, the target output information of the adapter 104 to be tested is that the output voltage is maintained at 5.5V, and the output current decreases as the analog battery voltage value increases; if the output voltage of the adapter 104 to be tested is 5.5V, and the output The current decreases with the increase of the analog battery voltage value, that is, the output information of the adapter under test matches the target output information of the adapter under test. At this time, it indicates that the test result of the adapter under test meets the requirements.
  • the output voltage of the output information of the adapter 104 to be tested is 5.8V, or the output current increases as the analog battery voltage value increases, that is, the output information of the adapter to be tested and the target output information of the adapter to be tested Mismatch, at this time, it means that the test result of the adapter to be tested does not meet the requirements, and the developer needs to analyze and locate the fault. Quality improvement, in order to achieve the purpose of improving the quality of the product to be tested adapter.
  • This embodiment provides an adapter test method.
  • the method is applied to an adapter test device including a test module, an electronic load, and a host computer.
  • the test module and the electronic load simulate the working state of an electronic device to obtain the work.
  • the simulated battery voltage value corresponding to the state; controlling the adapter to be tested in the target output state according to the simulated battery voltage value; detecting the target output state of the adapter to be tested, and obtaining the detected output of the adapter to be tested Information; and outputting a test result of the adapter to be tested according to output information of the adapter to be tested.
  • the test inconvenience caused by using the electronic device as a load to test the test adapter is avoided, and the problem of endangering the personal safety of the tester is avoided, thereby ensuring the safety of the test of the adapter.
  • Improve the test efficiency of the adapter at the same time, through the test of the adapter protection function, the product quality of the adapter is also improved, thereby improving the security of the use of the adapter.
  • each component or module in the foregoing technical solution shown in FIG. 1 may be integrated into one processing unit, or each module may exist separately physically, or two or more modules may be integrated into one unit.
  • the above integrated unit may be implemented in the form of hardware or in the form of software functional modules.
  • the technical solution of this embodiment is essentially or A part that contributes to the existing technology or all or part of the technical solution may be embodied in the form of a software product.
  • the computer software product is stored in a storage medium and includes several instructions for making a computer device (which can be A personal computer, a server, or a network device) or a processor executes all or part of the steps of the method described in this embodiment.
  • the foregoing storage media include: U disks, mobile hard disks, read-only memory (ROM), random access memory (RAM), magnetic disks, or optical disks, which can store program codes.
  • an embodiment of the present application provides a computer storage medium.
  • the computer storage medium stores an adapter test program, and when the adapter test program is executed by at least one processor, the implementation of the method described in the foregoing technical solution shown in FIG. 4 is implemented. Method steps.
  • the test module 101 includes a first network interface 501, a first The processor 502 and a first memory 503 storing a computer program capable of running on the first processor 501; the first network interface 501, the first processor 502, and the first memory 503 are coupled together through a first bus system 504;
  • the host computer 103 includes a second network interface 505, a second processor 506, and a second memory 507 storing a computer program capable of running on the second processor 506.
  • the second network interface 505, the second processor 506, and the second The memories 507 are coupled together by a second bus system 508.
  • the first processor 502 when the computer program is running, the first processor 502 is configured to simulate a working state of an electronic device through the test module and the electronic load, and obtain an analog battery voltage corresponding to the working state And controlling the adapter to be tested in a target output state according to the simulated battery voltage value; and detecting the target output state of the adapter to be tested, and acquiring the detected output information of the adapter to be tested;
  • second The processor 506 is configured to output a test result of the adapter to be tested according to output information of the adapter to be tested.
  • the first memory 503 may be a volatile memory or a non-volatile memory, or may include both volatile and non-volatile memories.
  • the non-volatile memory may be a read-only memory (ROM), a programmable read-only memory (PROM), an erasable programmable read-only memory (EPROM), and an electronic memory. Erase programmable read-only memory (EPROM, EEPROM) or flash memory.
  • the volatile memory may be Random Access Memory (RAM), which is used as an external cache.
  • RAM Static Random Access Memory
  • DRAM Dynamic Random Access Memory
  • Synchronous Dynamic Random Access Memory Synchronous Dynamic Random Access Memory
  • SDRAM double data rate synchronous dynamic random access memory
  • Double Data Rate SDRAM DDRSDRAM
  • enhanced SDRAM ESDRAM
  • Synch-link DRAM SLDRAM
  • Direct RAMbus RAM Direct RAMbus RAM
  • the first processor 502 may be an integrated circuit chip with signal processing capabilities. In the implementation process, each step of the foregoing method may be completed by using an integrated logic circuit of hardware or instructions in a form of software in the first processor 502.
  • the above-mentioned first processor 502 may be a general-purpose processor, a digital signal processor (DSP), an application specific integrated circuit (ASIC), and a ready-made programmable gate array (Field Programmable Gate Array, FPGA). Or other programmable logic devices, discrete gate or transistor logic devices, discrete hardware components.
  • DSP digital signal processor
  • ASIC application specific integrated circuit
  • FPGA ready-made programmable gate array
  • FPGA Field Programmable Gate Array
  • a general-purpose processor may be a microprocessor or the processor may be any conventional processor or the like.
  • the steps of the method disclosed in combination with the embodiments of the present application may be directly implemented by a hardware decoding processor, or may be performed by using a combination of hardware and software modules in the decoding processor.
  • the software module may be located in a mature storage medium such as a random access memory, a flash memory, a read-only memory, a programmable read-only memory, or an electrically erasable programmable memory, a register, and the like.
  • the storage medium is located in the first memory 503, and the first processor 502 reads information in the first memory 503 and completes the steps of the foregoing method in combination with its hardware.
  • the hardware functions of the second memory 507 and the first memory 503 are similar, and the hardware functions of the second processor 506 and the first processor 502 are similar, and details are not described herein again.
  • the embodiments described herein may be implemented in hardware, software, firmware, middleware, microcode, or a combination thereof.
  • the processing unit can be implemented in one or more application-specific integrated circuits (ASICs), digital signal processors (DSP), digital signal processing devices (DSPD), programmable Logic device (Programmable Logic Device, PLD), Field Programmable Gate Array (FPGA), general purpose processor, controller, microcontroller, microprocessor, other for performing the functions described in this application Electronic unit or combination thereof.
  • ASICs application-specific integrated circuits
  • DSP digital signal processors
  • DSPD digital signal processing devices
  • PLD programmable Logic Device
  • FPGA Field Programmable Gate Array
  • controller microcontroller
  • microprocessor other for performing the functions described in this application Electronic unit or combination thereof.
  • the techniques described herein can be implemented through modules (e.g., procedures, functions, etc.) that perform the functions described herein.
  • Software codes may be stored in a memory and executed by a processor.
  • the memory may be implemented in the processor or external to the processor.
  • the adapter testing device includes a test module, a host computer, and an electronic load; the test module and the electronic load are used to simulate the working state of the electronic device, and the simulated battery voltage value corresponding to the working state is obtained;
  • the test module controls the standby
  • the test adapter is in the target output state; the target output state of the adapter to be tested is detected, and the detected output information of the adapter to be tested is sent to the host computer, and the host computer outputs the test result of the adapter to be tested;
  • the test of the protection function of the test adapter (such as constant voltage mode and undervoltage protection mode) can achieve the purpose of improving the quality of the product of the test adapter, thereby improving the safety of the test adapter; during the entire test process, according to the test module And electron

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Abstract

一种适配器测试装置（100）、方法及计算机存储介质，所述适配器测试装置(100)包括测试模块(101)、上位机(103)和电子负载(102)；其中，所述测试模块(101)与所述电子负载(102)连接，用于模拟电子设备的工作状态以获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；所述测试模块(101)与待测试适配器(104)连接，用于根据所述模拟电池电压值控制所述待测试适配器(104)处于目标输出状态；所述测试模块(101)与所述上位机(103)连接，用于对所述待测试适配器(104)的目标输出状态进行检测并将检测得到的所述待测试适配器(104)的输出信息发送给所述上位机(103)；所述上位机(103)，用于根据所述待测试适配器(104)的输出信息，输出所述待测试适配器(104)的测试结果。

Description

一种适配器测试装置、方法及计算机存储介质 技术领域
本申请实施例涉及测试技术领域，尤其涉及一种适配器测试装置、方法及计算机存储介质。
背景技术
随着用电设备种类的不断增多，电源适配器的应用也越来越广泛。为了确保电源适配器的产品品质，通常需要对其进行测试。
在测试中，现有的测试方案只是对电源适配器单体进行测试，使得电源适配器的测试不全面；然而，如果采用手机作为真实的工作负载进行测试，一方面需要设定合适的测试环境，测试很不方便；另一方面对于短路故障测试很容易造成手机炸机，危及测试人员人身安全。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例期望提供一种适配器测试装置、方法及计算机存储介质，可以保证适配器测试的安全性，提高了适配器的测试效率；同时通过对适配器保护功能的测试，还提升了适配器的产品质量，进而提升了适配器的使用安全性。
本申请实施例的技术方案可以如下实现：
第一方面，本申请实施例提供了一种适配器测试装置，所述适配器测试装置包括测试模块、上位机和电子负载；其中，
所述测试模块与所述电子负载连接，用于模拟电子设备的工作状态以获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；
所述测试模块与待测试适配器连接，用于根据所述模拟电池电压值控制所述待测试适配器处于目标输出状态；
所述测试模块与所述上位机连接，用于对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测并将检测得到的所述待测试适配器的输出信息发送给所述上位机；
所述上位机，用于根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。
在上述方案中，所述电子负载具有电压调节功能，用于接收负载调整指令，根据所述负载调整指令及所述测试模块模拟电子设备的不同工作状态；其中，工作状态与模拟电池电压值之间具有对应关系。
在上述方案中，所述测试模块还用于将所述模拟电池电压值发送给所 述上位机；
所述上位机，还用于根据所述模拟电池电压值输出控制指令并将所述控制指令发送给所述测试模块；
所述测试模块，用于根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于目标输出状态。
在上述方案中，所述测试模块，具体用于当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于恒压模式。
在上述方案中，所述测试模块，具体用于当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于欠压保护模式。
在上述方案中，所述待测试适配器的输出信息包括所述待测试适配器的输出电压和所述待测试适配器的输出电流。
在上述方案中，恒压模式包括所述待测试适配器的输出电压维持在额定输出电压范围之内，并且当所述模拟电池电压值增大时，所述待测试适配器的输出电流减小。
在上述方案中，欠压保护模式包括所述待测试适配器断开输出以无输出电压，或者所述待测试适配器在无输出电压的预设时间段之后重新具有输出电压。
在上述方案中，所述上位机，具体用于将所述待测试适配器的输出信息与所述待测试适配器的目标输出信息进行比较，基于所述比较的结果，输出所述待测试适配器的测试结果；其中，所述待测试适配器的目标输出信息与所述待测试适配器的目标输出状态之间具有对应关系。
在上述方案中，所述测试模块包括测试单板和外部供电电源，所述外部供电电源用于向所述测试单板提供电源。
第二方面，本申请实施例提供了一种测试单板，所述测试单板至少包括金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET部件和微控制单元MCU部件；所述测试单板与电子负载配合，用于模拟电子设备的工作状态以实现对待测试适配器的测试。
第三方面，本申请实施例提供了一种适配器测试***，所述适配器测试***包括待测试适配器和第一方面中任一项所述的适配器测试装置，所述适配器测试装置用于对所述待测试适配器进行测试。
第四方面，本申请实施例提供了一种适配器测试方法，所述方法应用于包括测试模块、电子负载和上位机的适配器测试装置，所述方法包括：
通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；
根据所述模拟电池电压值，控制待测试适配器处于目标输出状态；
对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且获取检测到的所述待测试适配器的输出信息；
根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。
在上述方案中，所述通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值，包括：
通过所述电子负载接收负载调整指令，根据所述负载调整指令及所述测试模块模拟电子设备的不同工作状态；其中，所述电子负载具有电压调节功能，工作状态与模拟电池电压值之间具有对应关系；
根据模拟的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值。
在上述方案中，所述根据所述模拟电池电压值，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
通过所述测试模块与所述上位机的连接，由所述测试模块将所述模拟电池电压值发送给所述上位机；
根据所述模拟电池电压值，由所述上位机输出控制指令；
根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态。
在上述方案中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于恒压模式。
在上述方案中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于欠压保护模式。
在上述方案中，所述待测试适配器的输出信息包括所述待测试适配器的输出电压和所述待测试适配器的输出电流。
在上述方案中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器的输出电压维持在额定输出电压范围之内，并且当所述模拟电池电压值增大时，减小所述待测试适配器的输出电流。
在上述方案中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器断开输出以无输出电压，或者根据所述控制指令控制所述待测试适配器在无输出电压的预设时间段之后重新具有输出电压。
在上述方案中，所述根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果，包括：
将所述待测试适配器的输出信息与所述待测试适配器的目标输出信息进行比较；
基于所述比较的结果，输出所述待测试适配器的测试结果；其中，所述待测试适配器的目标输出信息与所述待测试适配器的目标输出状态之间具有对应关系。
第五方面，本申请实施例提供了一种适配器测试装置，所述适配器测试装置包括测试模块、电子负载和上位机，所述测试模块中集成有第一处理器和存储有能够在所述第一处理器上运行的计算机程序的第一存储器，所述上位机中集成有第二处理器和存储有能够在所述第二处理器上运行的计算机程序的第二存储器；当所述计算机程序被运行时，所述第一处理器和所述第二处理器执行时实现第四方面中任一项所述的方法的步骤。
第六方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有适配器测试程序，所述适配器测试程序被第一处理器和第二处理器执行时实现第四方面中任一项所述的方法的步骤
本申请实施例提供了一种适配器测试装置、方法及计算机存储介质，所述适配器测试装置包括测试模块、上位机和电子负载；通过测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；有效避免了用电子设备中真实电池直接作为负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题，从而保证了适配器测试的安全性；根据所述模拟电池电压值，由测试模块控制待测试适配器处于目标输出状态；对待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且将检测到的待测试适配器的输出信息发送给上位机，由上位机输出所述待测试适配器的测试结果；特别是针对待测适配器的保护功能(比如恒压模式和欠压保护模式)的测试，可以达到提升待测试适配器产品质量的目的，进而提升了待测试适配器的使用安全性；在整个测试过程中，根据测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，还可以避免用电子设备直接作为负载需要设定合适的测试环境而造成测试困难及测试不便的问题，从而提高了适配器的测试效率。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种适配器测试装置的组成结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种测试模块101的具体硬件结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种适配器测试***的组成结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种适配器测试方法的流程示意图；
图5为本申请实施例提供的另一种适配器测试装置的组成结构示意图。
具体实施方式
为了能够更加详尽地了解本申请实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本申请实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用， 并非用来限定本申请实施例。
随着移动终端(比如智能手机、笔记本电脑、平板电脑、个人数字助理、可穿戴设备等)的应用功能不断增强，移动终端越来越受到消费者的青睐，但是移动终端耗电量大，经常需要适配器对其进行快速充电，比如VOOC闪充技术。这里，VOOC闪充是一种快速充电技术，相比于采用普通的5V/1A的功率进行充电的技术，可以将充电速度提升，例如，提升充电速度至少4倍以上。针对VOOC闪充技术，移动终端配套有专有适配器，以实现对移动终端的快速充电；其中，在使用VOOC充电时，适配器进入恒流模式时，随着电池电压的提升，适配器的输出电压也会随着升高；当适配器的输出电压达到适配器最大输出电压，则进入恒压模式；当适配器的输出电压低于适配器自身最低输出电压时，适配器则需要进入欠压保护模式，此时适配器会断开输出或者进入重启状态。
可以理解地，为了提升适配器的产品质量，在适配器投入市场使用之前，需要对其进行测试。然而，现有的测试方案只是对电源适配器单体进行测试，使得电源适配器的测试不全面；并且如果采用手机作为真实的工作负载进行测试，一方面需要设定合适的测试环境，测试很不方便；另一方面对于短路故障测试很容易造成手机炸机，危及测试人员人身安全。
本申请实施例提供了一种适配器测试装置，利用测试模块和电子负载来模拟电子设备的工作状态，这样在适配器测试过程中，不仅可以保证适配器测试的安全性，而且还可以提高适配器的测试效率。下面将结合附图对本申请实施例进行详细描述。
参见图1，其示出了本申请实施例提供的一种适配器测试装置的组成结构示意图。如图1所示，适配器测试装置100可以包括测试模块101、电子负载102和上位机103，适配器测试装置100通过测试模块101与待测试适配器104连接，用于对待测试适配器104进行测试，其中，
测试模块101与电子负载102连接，用于模拟电子设备的工作状态以获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；
测试模块101与待测试适配器104连接，用于根据所述模拟电池电压值控制所述待测试适配器104处于目标输出状态；
测试模块101与上位机103连接，用于对待测试适配器104的目标输出状态进行检测并将检测得到的待测试适配器104的输出信息发送给上位机103；
上位机103，用于根据待测试适配器104的输出信息，输出待测试适配器104的测试结果。
需要说明的是，模拟电池，是针对电子设备中真实电池的性能状态进行模拟，它是通过测试模块101和电子负载102的配合来模拟得到的，模拟电池的电压值和电流值与电子设备中真实电池的电压值和电流值，应具有相同的幅值和相角；也就是说，模拟电池是电子设备中真实电池的等效 电路，从而有效避免了在故障测试真实电池***所带来的人身危害。
还需要说明的是，待测试适配器104具有充电功能，待测试适配器104可以对电子设备(内含电池)进行充电；根据电子设备的工作状态可以获取到该工作状态对应的电池电压值。为了提升待测试适配器104的产品质量，则需要适配器测试装置100对待测试适配器104进行测试。
还需要说明的是，图1所示的适配器测试装置100，电子负载102和上位机103可以部分集成在适配器测试装置100内部，也可以全部集成在适配器测试装置100内部，甚至还可以将电子负载102和上位机103单独放置，并不集成到适配器测试装置100中；本申请实施例对此不作具体限定。
在一些实施例中，电子负载102具有电压调节功能，用于接收负载调整指令，根据所述负载调整指令及测试模块101可以模拟电子设备的不同工作状态，其中，工作状态与模拟电池电压值之间具有对应关系。
在一些实施例中，由于测试模块101与上位机103连接，测试模块101还用于将所述模拟电池电压值发送给上位机103；上位机103还用于根据所述模拟电池电压值输出控制指令并将所述控制指令发送给测试模块101；测试模块101用于根据所述控制指令控制待测试适配器104处于目标输出状态。
在一些实施例中，测试模块101，具体用于当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制待测试适配器104处于恒压模式。
在一些实施例中，测试模块101，具体用于当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制待测试适配器104处于欠压保护模式。
在一些实施例中，待测试适配器104的输出信息包括所述待测试适配器的输出电压和所述待测试适配器的输出电流。
在一些实施例中，恒压模式包括待测试适配器104的输出电压维持在额定输出电压范围之内，并且当所述模拟电池电压值增大时，待测试适配器104的输出电流减小。
在一些实施例中，欠压保护模式包括待测试适配器104断开输出以无输出电压，或者待测试适配器104在无输出电压的预设时间段之后重新具有输出电压。
需要说明的是，第一预设阈值是表征待测试适配器104处于恒压模式的电压判断值，比如第一预设阈值可以为5.5V；第二预设阈值是表征待测试适配器104处于欠压保护模式的电压判断值，比如第二预设阈值可以为3V；预设时间段是表征当待测试适配器104处于欠压模式时，从待测试适配器104断开输出到重新具有输出之间所预留的复位时间段，比如预设时间段可以为1s；这里，第一预设阈值和第二预设阈值是不同的，而且第一预设阈值大于第二预设阈值；针对第一预设阈值和第二预设阈值的取值，与待测试适配器的最大输出能力有关，本申请实施例对此不作具体限定。
还需要说明的是，测试模块101根据控制指令来控制待测试适配器104的目标输出状态，主要是和所获取的模拟电池电压值有关。通过电子负载102接收负载调整指令，可以得到不同的模拟电池电压值，上位机103根据不同的模拟电池电压值所生成的控制指令中具体指示内容是有区别的，然后由测试模块101根据控制指令中的具体指示内容来控制待测试适配器104处于目标输出状态。
例如，随着负载调整指令对电子负载102的调整，使得模拟电池电压值可以不断提高，上位机103根据当前获取的模拟电池电压值会下发控制指令，该控制指令中包括第一指示内容，根据第一指示内容测试模块101可以控制待测试适配器104的输出电压也逐渐提高；当所获取的模拟电池电压值提高到大于第一预设阈值时，比如当所获的模拟电池电压值大于5.5V时，上位机103根据当前的模拟电池电压值也会下发控制指令，该控制指令中包括第二指示内容，根据第二指示内容测试模块101可以控制待测试适配器104处于恒压模式，也就是说，待测试适配器104进入过压保护过程，此时待测试适配器104的输出电压维持在额定输出电压范围之内，同时随着所述模拟电池电压值的增大，待测试适配器104的输出电流呈逐渐减小趋势；但是当所获取的模拟电池电压值下降到小于第二预设阈值时，比如当所获取的模拟电池电压值下降到小于3V时，上位机103根据当前的模拟电池电压值会继续下发控制指令，该控制指令中包括第三指示内容，根据第三指示内容测试模块101可以控制待测试适配器104处于欠压保护模式，也就是说，待测试适配器104进入欠压保护过程，此时待测试适配器104可以断开输出(即，待测试适配器104无输出电压)，或者待测试适配器104也可以复位重启(即，在经过无输出电压的预设时间段后，比如1s以内，待测试适配器104重新具有输出电压)。
在一些实施例中，在上位机103接收到待测试适配器104的输出信息之后，上位机103具体用于将待测试适配器104的输出信息与待测试适配器104的目标输出信息进行比较；基于所述比较的结果，输出待测试适配器104的测试结果；其中，待测试适配器104的目标输出信息与待测试适配器104的目标输出状态之间具有对应关系。
需要说明的是，由于上位机103在生成控制指令的过程中，也会获取到目标输出状态对应的目标输出信息；当测试模块101获取到待测试适配器104的输出信息后，测试模块101会将其发送到上位机103；然后由上位机103对待测试适配器104的输出信息与待测试适配器104的目标输出信息进行比较；根据比较的结果，从而就可以得到待测试适配器104的测试结果。
例如，以恒压模式为例，假定第一预设阈值为5.5V，若获取到的模拟电池电压值为5.8V，则可以得出待测试适配器104的目标输出状态为恒压模式，即待测试适配器104的目标输出信息为输出电压维持在5.5V，且输 出电流随着模拟电池电压值的增大而减小；如果待测试适配器104的输出信息中输出电压为5.5V，且输出电流随着模拟电池电压值的增大而减小，也就是说，待测试适配器104的输出信息与待测试适配器104的目标输出信息相匹配，此时则说明了待测试适配器104的测试结果是满足要求的；如果待测试适配器104的输出信息中输出电压为5.8V，或者输出电流随着模拟电池电压值的增大而增大，也就是说，待测试适配器104的输出信息与待测试适配器104的目标输出信息不匹配，此时则说明了待测试适配器104的测试结果是不满足要求的，需要由开发人员进行故障定位分析并进行质量改进，以达到提高待测试适配器产品质量的目的。
在一些实施例中，参见图2，图2是图1中测试模块101的具体硬件结构示意图；如图2所示，测试模块101包括测试单板201和外部供电电源202，其中，所述外部供电电源202用于向测试单板201提供外部电源。
在一些实施例中，测试单板201至少包括金属氧化物半导体场效应晶体管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor，MOSFET)部件2011和微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)部件2012；其中，测试单板201与电子负载102配合，用于模拟电子设备的工作状态以实现对待测试适配器104的测试。
需要说明的是，测试模块101可以是集成的一个部件、单元或者模块，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。另外，测试单板201也可以是集成的一个部件、单元或者模块，也可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置；这里，测试单板201可以采用外部供电电源202提供外部电源供电，也可以由测试单板内含的供电电路提供内部电源供电，本申请实施例不作具体限定。
例如，如图2所示，VBUS与GND之间的电压，实际上是待测试适配器104的输出电压，需要和待测试适配器104的电源线正负极相连接；测试模块101与待测试适配器104之间进行通信，实际是由测试单板201上的MCU部件2012与待测试适配器104进行通信信号的交互；相应地，测试模块101与上位机103之间进行通信，实际是由测试单板201上的MCU部件2012与上位机103进行通信信号的交互；测试单板201上的MOSFET部件2011主要是用于测试模块101与电子负载102相互配合来模拟电子设备的工作状态；由于根据测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，可以有效避免用电子设备直接作为真实负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题。
由此可以看出，本实施例提供的适配器测试装置，其中，所述测试模块与所述电子负载连接，用于模拟电子设备的工作状态以获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；所述测试模块与待测试适配器连接，用于根据所述模拟电池电压值控制所述待测试适配器处于目标输出状态；所述测试 模块与所述上位机连接，用于对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测并将检测得到的所述待测试适配器的输出信息发送给所述上位机；所述上位机，用于根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。由于根据测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，避免了用电子设备直接作为负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题，从而保证了适配器测试的安全性，提高了适配器的测试效率；同时通过对适配器保护功能的测试，还提升了适配器的产品质量，进而提升了适配器的使用安全性。
参见图3，其示出了本申请实施例提供的一种适配器测试***的组成结构示意图；如图3所示，所述适配器测试***300包括待测试适配器104和适配器测试装置100；其中，适配器测试装置100与待测试适配器104连接，适配器测试装置100用于对待测试适配器104进行测试，以提高待测试适配器104的产品质量；而且利用本申请实施例中的适配器测试装置100，还可以保证适配器测试的安全性，提高了适配器的测试效率；同时通过对适配器保护功能的测试，还提升了适配器的产品质量，进而提升了适配器的使用安全性。
基于前述实施例相同的发明构思，参见图4，其示出了本申请实施例提供的一种适配器测试方法的流程示意图，该方法可以应用于包括测试模块、电子负载和上位机的适配器测试装置，该方法可以包括：
S401：通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；
S402：根据所述模拟电池电压值，控制待测试适配器处于目标输出状态；
S403：对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且获取检测到的所述待测试适配器的输出信息；
S404：根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。
需要说明的是，适配器测试装置包括测试模块、电子负载和上位机，其中，电子负载和上位机可以部分集成在适配器测试装置内部，也可以全部集成在适配器测试装置内部，甚至还可以将电子负载和上位机单独放置，并不集成到适配器测试装置中；本申请实施例对此不作具体限定。
还需要说明的是，适配器测试装置用于对待测试适配器进行测试；通过测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；有效避免了用电子设备中真实电池直接作为负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题，从而保证了适配器测试的安全性；根据所述模拟电池电压值，由测试模块控制待测试适配器处于目标输出状态；对待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且将检测到的待测试适配器的输出信息发送给上位机，由上位 机输出所述待测试适配器的测试结果；特别是针对待测适配器的保护功能(比如恒压模式和欠压保护模式)的测试，可以达到提升待测试适配器产品质量的目的，进而提升了待测试适配器的使用安全性；在整个测试过程中，根据测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，还可以避免用电子设备直接作为负载需要设定合适的测试环境而造成测试困难及测试不便的问题，从而提高了适配器的测试效率。
在一些实施例中，所述通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值，包括：
通过所述电子负载接收负载调整指令，根据所述负载调整指令及所述测试模块模拟电子设备的不同工作状态；其中，所述电子负载具有电压调节功能，工作状态与模拟电池电压值之间具有对应关系；
根据模拟的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值。
需要说明的是，电子负载具有电压调节功能，通过电子负载接收负载调整指令，与测试模块相配合可以模拟电子设备的不同工作状态；针对不同的工作状态，可以得到不同的模拟电池电压值；这样，在本申请实施例中，在待测试适配器与适配器测试装置连接之后，根据所模拟的电子设备的不同工作状态对待测试适配器进行测试，不仅保证了适配器测试的全面性，可以提高适配器的产品质量；而且还避免了用电子设备直接作为真实负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题，从而保证了适配器测试的安全性，同时还提高了适配器的测试效率。
在一些实施例中，所述根据所述模拟电池电压值，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
通过所述测试模块与所述上位机的连接，由所述测试模块将所述模拟电池电压值发送给所述上位机；
根据所述模拟电池电压值，由所述上位机输出控制指令；
根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态。
需要说明的是，在所述测试模块获取到模拟电池电压值之后，测试模块会将该模拟电池电压值发送给上位机；上位机会根据该模拟电池电压值生成控制指令，该控制指令用于指示测试模块对待测试适配器的输出状态进行控制。例如，上位机希望待测试适配器处于目标输出状态，此时上位机会生成控制指令，然后将该控制指令发送给测试模块，由测试模块根据该控制指令来使待测试适配器处于目标输出状态。
可选地，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器进入目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于恒压模式。
可选地，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器进入目标输 出状态，包括：
当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于欠压保护模式。
需要说明的是，第一预设阈值是表征待测试适配器处于恒压模式的电压判断值，比如第一预设阈值可以为5.5V；第二预设阈值是表征待测试适配器处于欠压保护模式的电压判断值，比如第二预设阈值可以为3V；这里，第一预设阈值和第二预设阈值是不同的，而且第一预设阈值大于第二预设阈值；针对第一预设阈值和第二预设阈值的取值，与待测试适配器的最大输出能力有关，本申请实施例对此不作具体限定。
还需要说明的是，测试模块根据控制指令来控制待测试适配器的目标输出状态，主要是和模拟电池电压值有关。通过电子负载接收负载调整指令，可以得到不同的模拟电池电压值，上位机根据不同的模拟电池电压值所生成的控制指令中具体指示内容是有区别的，然后由测试模块根据控制指令中的具体指示内容来控制待测试适配器处于目标输出状态。
在一些实施例中，所述待测试适配器的输出信息包括所述待测试适配器的输出电压和所述待测试适配器的输出电流。
可选地，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器的输出电压维持在额定输出电压范围之内，并且当所述模拟电池电压值增大时，减小所述待测试适配器的输出电流。
可选地，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器断开输出以无输出电压，或者根据所述控制指令控制所述待测试适配器在无输出电压的预设时间段之后重新具有输出电压。
需要说明的是，预设时间段是表征当所述待测试适配器处于欠压模式时，从待测试适配器断开输出到重新具有输出之间所预留的复位时间段，比如预设时间段可以为1s。另外，待测试适配器的输出信息是由测试模块进行检测得到的；针对待测试适配器的测试，主要是检测输出电压和输出电流是否符合目标输出状态的预设要求。
举例来说，结合图1所示的适配器测试装置，当待测试适配器与适配器测试装置连接之后，假定待测试适配器处于充电状态，为测试模块与电子负载所模拟的电子设备充电；通常情况下，待测试适配器首先处于恒流模式；此时随着电子负载的调整，使得模拟电池电压值不断提高，上位机根据当前的模拟电池电压值会下发控制指令，该控制指令中包括第一指示内容，根据第一指示内容测试模块可以控制待测试适配器的输出电压也逐渐提高；当模拟电池电压值提高到大于第一预设阈值时，比如当所获的模 拟电池电压值大于5.5V时，上位机根据当前的模拟电池电压值也会下发控制指令，该控制指令中包括第二指示内容，根据第二指示内容测试模块可以控制待测试适配器处于恒压模式，也就是说，待测试适配器进入过压保护过程，此时待测试适配器的输出电压维持在额定输出电压范围之内，同时随着所述模拟电池电压值的增大，待测试适配器的输出电流呈逐渐减小趋势；但是当模拟电池电压值下降到小于第二预设阈值时，比如当所获取的模拟电池电压值下降到小于3V时，上位机根据当前的模拟电池电压值会继续下发控制指令，该控制指令中包括第三指示内容，根据第三指示内容测试模块可以控制待测试适配器处于欠压保护模式，也就是说，待测试适配器进入欠压保护过程，此时待测试适配器断开输出(即，待测试适配器无输出电压)，或者待测试适配器复位重启(即，在经过无输出电压的预设时间段后，比如1s以内，待测试适配器会重新具有输出电压)；由于对待测试适配器进行过压保护测试和欠压保护测试，可以提高待测试适配器的产品质量；而且是根据测试模块和电子负载来模拟电子设备的工作状态，有效避免了电池过压或者欠压导致电池***所带来的危害，可以保证适配器测试的安全性，以及提高了适配器的测试效率。
在一些实施例中，所述根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果，包括：
将所述待测试适配器的输出信息与所述待测试适配器的目标输出信息进行比较；
基于所述比较的结果，输出所述待测试适配器的测试结果；其中，所述待测试适配器的目标输出信息与所述待测试适配器的目标输出状态之间具有对应关系。
需要说明的是，由于上位机在生成控制指令的过程中，也会获取到目标输出状态对应的目标输出信息；当测试模块获取到待测试适配器的输出信息后，测试模块会将其发送到上位机；然后由上位机对待测试适配器的输出信息与待测试适配器的目标输出信息进行比较；根据比较的结果，可以得到待测试适配器的测试结果。
举例来说，以恒压模式为例，假定第一预设阈值为5.5V，若获取到的模拟电池电压值为5.8V，则可以得出待测试适配器104的目标输出状态为恒压模式，即待测试适配器104的目标输出信息为输出电压维持在5.5V，且输出电流随着模拟电池电压值的增大而减小；如果待测试适配器104的输出信息中输出电压为5.5V，且输出电流随着模拟电池电压值的增大而减小，也就是说，待测试适配器的输出信息与待测试适配器的目标输出信息相匹配，此时则说明了待测试适配器的测试结果是满足要求的；如果待测试适配器104的输出信息中输出电压为5.8V，或者输出电流随着模拟电池电压值的增大而增大，也就是说，待测试适配器的输出信息与待测试适配器的目标输出信息不匹配，此时则说明了待测试适配器的测试结果是不满 足要求的，需要由开发人员进行故障定位分析并进行质量改进，以达到提高待测试适配器产品质量的目的。
本实施例提供了一种适配器测试方法，该方法应用于包括测试模块、电子负载和上位机的适配器测试装置，通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；根据所述模拟电池电压值，控制待测试适配器处于目标输出状态；对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且获取检测到的所述待测试适配器的输出信息；根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。由于根据测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，避免了用电子设备直接作为负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题，从而保证了适配器测试的安全性，提高了适配器的测试效率；同时通过对适配器保护功能的测试，还提升了适配器的产品质量，进而提升了适配器的使用安全性。
可以理解地，前述图1所示的技术方案中的各组成部件或者模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并非作为独立的产品进行销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中，基于这样的理解，本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
因此，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质存储有适配器测试程序，所述适配器测试程序被至少一个处理器执行时实现如前述图4所示的技术方案中所述的方法的步骤。
基于上述适配器测试装置100以及计算机存储介质，参见图5，其示出了本申请实施例提供的另一种适配器测试装置100的组成结构，其中，测试模块101包括第一网络接口501、第一处理器502和存储有能够在第一处理器501上运行的计算机程序的第一存储器503，第一网络接口501、第一处理器502和第一存储器503通过第一总线***504耦合在一起；上位机103包括第二网络接口505、第二处理器506和存储有能够在第二处理器506上运行的计算机程序的第二存储器507，第二网络接口505、第二处理器506和第二存储器507通过第二总线***508耦合在一起。
进一步地，在本申请实施例中，在运行计算机程序时，第一处理器502 用于通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；以及根据所述模拟电池电压值，控制待测试适配器处于目标输出状态；以及对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且获取检测到的所述待测试适配器的输出信息；第二处理器506用于根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。
可以理解地，本申请实施例中第一存储器503可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data Rate SDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synch-link DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(Direct Rambus RAM，DRRAM)。本文描述的***和方法的第一存储器503旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
而第一处理器502可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过第一处理器502中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的第一处理器502可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于第一存储器503，第一处理器502读取第一存储器503中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
可以理解地，第二存储器507与第一存储器503的硬件功能类似、第二处理器506与第一处理器502的硬件功能类似，这里不再赘述。
可以理解的是，本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中 间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、数字信号处理器(Digital Signal Processing，DSP)、数字信号处理设备(DSP Device，DSPD)、可编程逻辑设备(Programmable Logic Device，PLD)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本申请所述功能的其它电子单元或其组合中。
对于软件实现，可通过执行本文所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现本文所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
可选地，作为另一个实施例，运行所述计算机程序时，第一处理器502和第二处理器506执行时实现如前述图4所示的技术方案中所述方法的步骤，这里不再进行赘述。
需要说明的是：本申请实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
工业实用性
本申请实施例中，所述适配器测试装置包括测试模块、上位机和电子负载；通过测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；有效避免了用电子设备中真实电池直接作为负载对待测试适配器进行测试所带来的测试不便及危及测试人员人身安全的问题，从而保证了适配器测试的安全性；根据所述模拟电池电压值，由测试模块控制待测试适配器处于目标输出状态；对待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且将检测到的待测试适配器的输出信息发送给上位机，由上位机输出所述待测试适配器的测试结果；特别是针对待测适配器的保护功能(比如恒压模式和欠压保护模式)的测试，可以达到提升待测试适配器产品质量的目的，进而提升了待测试适配器的使用安全性；在整个测试过程中，根据测试模块和电子负载模拟电子设备的工作状态，还可以避免用电子设备直接作为负载需要设定合适的测试环境而造成测试困难及测试不便的问题，从而提高了适配器的测试效率。

Claims (23)

  1. 一种适配器测试装置，其中，所述适配器测试装置包括测试模块、上位机和电子负载；
    所述测试模块与所述电子负载连接，用于模拟电子设备的工作状态以获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；
    所述测试模块与待测试适配器连接，用于根据所述模拟电池电压值控制所述待测试适配器处于目标输出状态；
    所述测试模块与所述上位机连接，用于对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测并将检测得到的所述待测试适配器的输出信息发送给所述上位机；
    所述上位机，用于根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。
  2. 根据权利要求1所述的适配器测试装置，其中，所述电子负载具有电压调节功能，用于接收负载调整指令，根据所述负载调整指令及所述测试模块模拟电子设备的不同工作状态；其中，工作状态与模拟电池电压值之间具有对应关系。
  3. 根据权利要求1所述的适配器测试装置，其中，所述测试模块还用于将所述模拟电池电压值发送给所述上位机；
    所述上位机，还用于根据所述模拟电池电压值输出控制指令并将所述控制指令发送给所述测试模块；
    所述测试模块，用于根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于目标输出状态。
  4. 根据权利要求3所述的适配器测试装置，其中，所述测试模块，具体用于当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于恒压模式。
  5. 根据权利要求3所述的适配器测试装置，其中，所述测试模块，具体用于当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于欠压保护模式。
  6. 根据权利要求1所述的适配器测试装置，其中，所述待测试适配器的输出信息包括所述待测试适配器的输出电压和所述待测试适配器的输出电流。
  7. 根据权利要求6所述的适配器测试装置，其中，恒压模式包括所述待测试适配器的输出电压维持在额定输出电压范围之内，并且当所述模拟电池电压值增大时，所述待测试适配器的输出电流减小。
  8. 根据权利要求6所述的适配器测试装置，其中，欠压保护模式包括所述待测试适配器断开输出以无输出电压，或者所述待测试适配器在无输 出电压的预设时间段之后重新具有输出电压。
  9. 根据权利要求1所述的适配器测试装置，其中，所述上位机，具体用于将所述待测试适配器的输出信息与所述待测试适配器的目标输出信息进行比较，基于所述比较的结果，输出所述待测试适配器的测试结果；其中，所述待测试适配器的目标输出信息与所述待测试适配器的目标输出状态之间具有对应关系。
  10. 根据权利要求1至9任一项所述的适配器测试装置，其中，所述测试模块包括测试单板和外部供电电源，所述外部供电电源用于向所述测试单板提供电源。
  11. 一种测试单板，其中，所述测试单板至少包括金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET部件和微控制单元MCU部件；所述测试单板与电子负载配合，用于模拟电子设备的工作状态以实现对待测试适配器的测试。
  12. 一种适配器测试***，其中，所述适配器测试***包括待测试适配器和如权利要求1至10任一项所述的适配器测试装置，所述适配器测试装置用于对所述待测试适配器进行测试。
  13. 一种适配器测试方法，其中，所述方法应用于包括测试模块、电子负载和上位机的适配器测试装置，所述方法包括：
    通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值；
    根据所述模拟电池电压值，控制待测试适配器处于目标输出状态；
    对所述待测试适配器的目标输出状态进行检测，并且获取检测到的所述待测试适配器的输出信息；
    根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果。
  14. 根据权利要求13所述的适配器测试方法，其中，所述通过所述测试模块和所述电子负载模拟电子设备的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值，包括：
    通过所述电子负载接收负载调整指令，根据所述负载调整指令及所述测试模块模拟电子设备的不同工作状态；其中，所述电子负载具有电压调节功能，工作状态与模拟电池电压值之间具有对应关系；
    根据模拟的工作状态，获取所述工作状态对应的模拟电池电压值。
  15. 根据权利要求13所述的适配器测试方法，其中，所述根据所述模拟电池电压值，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
    通过所述测试模块与所述上位机的连接，由所述测试模块将所述模拟电池电压值发送给所述上位机；
    根据所述模拟电池电压值，由所述上位机输出控制指令；
    根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态。
  16. 根据权利要求15所述的适配器测试方法，其中，所述根据所述控 制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
    当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于恒压模式。
  17. 根据权利要求15所述的适配器测试方法，其中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
    当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器处于欠压保护模式。
  18. 根据权利要求13所述的适配器测试方法，其中，所述待测试适配器的输出信息包括所述待测试适配器的输出电压和所述待测试适配器的输出电流。
  19. 根据权利要求18所述的适配器测试方法，其中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
    当所述模拟电池电压值大于第一预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器的输出电压维持在额定输出电压范围之内，并且当所述模拟电池电压值增大时，减小所述待测试适配器的输出电流。
  20. 根据权利要求18所述的适配器测试方法，其中，所述根据所述控制指令，控制所述待测试适配器处于目标输出状态，包括：
    当所述模拟电池电压值小于第二预设阈值时，根据所述控制指令控制所述待测试适配器断开输出以无输出电压，或者根据所述控制指令控制所述待测试适配器在无输出电压的预设时间段之后重新具有输出电压。
  21. 根据权利要求13至20任一项所述的适配器测试方法，其中，所述根据所述待测试适配器的输出信息，输出所述待测试适配器的测试结果，包括：
    将所述待测试适配器的输出信息与所述待测试适配器的目标输出信息进行比较；
    基于所述比较的结果，输出所述待测试适配器的测试结果；其中，所述待测试适配器的目标输出信息与所述待测试适配器的目标输出状态之间具有对应关系。
  22. 一种适配器测试装置，其中，所述适配器测试装置包括测试模块、电子负载和上位机，所述测试模块中集成有第一处理器和存储有能够在所述第一处理器上运行的计算机程序的第一存储器，所述上位机中集成有第二处理器和存储有能够在所述第二处理器上运行的计算机程序的第二存储器；当所述计算机程序被运行时，所述第一处理器和所述第二处理器执行时实现如权利要求13至21任一项所述的方法的步骤。
  23. 一种计算机存储介质，其中，所述计算机存储介质存储有适配器测试程序，所述适配器测试程序被第一处理器和第二处理器执行时实现如权利要求13至21任一项所述的方法的步骤。
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