WO2015072223A1 - 光沢評価方法および光沢評価装置 - Google Patents

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WO2015072223A1
WO2015072223A1 PCT/JP2014/074397 JP2014074397W WO2015072223A1 WO 2015072223 A1 WO2015072223 A1 WO 2015072223A1 JP 2014074397 W JP2014074397 W JP 2014074397W WO 2015072223 A1 WO2015072223 A1 WO 2015072223A1
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measurement object
spectral
intensity
gloss
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PCT/JP2014/074397
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利夫 河野
祐司 延本
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コニカミノルタ株式会社
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    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N21/57—Measuring gloss
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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    • G01N2021/556—Measuring separately scattering and specular

Definitions

  • the present invention relates to a technique for evaluating the gloss of an object.
  • a specular gloss measurement method JIS-Z8741
  • JIS-Z8741 a specular gloss measurement method
  • the specular gloss measurement method is an index indicating only the size of the reflected light beam in the regular reflection direction
  • the specular gloss measured by the specular gloss measurement method and the gloss by subjective evaluation by human vision The feeling does not necessarily match.
  • a gloss evaluation apparatus for evaluating the gloss of an object is manufactured and shipped so as to output the same evaluation value (measurement value) for the same object.
  • the gloss evaluation device may output different evaluation values as it continues to be used. For example, there is a case where a change with time occurs in a light source that emits light for measuring gloss or a light receiving element that receives reflected light. Further, there may be original individual differences in the characteristics of the light source and the light receiving element. Furthermore, the evaluation value may vary depending on the environment in which it is used, for example, the ambient temperature.
  • the present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is a gloss evaluation value when an object is measured with a gloss evaluation apparatus, and a reference gloss evaluation apparatus (master machine (reference machine)). It is to provide a gloss evaluation method and a gloss evaluation apparatus that reduce a difference (fluctuation) from a gloss evaluation value when measured by.
  • the first irradiation is performed from the intensity a of specular reflection light obtained by irradiating the measurement object with the first irradiation light having the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) of the machine.
  • the intensity b of the distributed reflected light obtained by irradiating the measurement object with light, and the spectral reflectance R of diffuse reflected light obtained by irradiating the measurement object with predetermined second irradiation light at different irradiation angles Based on ( ⁇ ), the intensity P of specular reflection light obtained by irradiating the measurement object with the irradiation light having the spectral irradiance L ( ⁇ ) of the reference machine is obtained. Therefore, the gloss evaluation method and the apparatus are different from the gloss evaluation value when measured with a reference gloss evaluation apparatus (master machine (reference machine)) as the gloss evaluation value when measuring the measurement object ( A gloss evaluation value with reduced fluctuation) can be obtained.
  • FIG. 1 is an overall schematic diagram illustrating an example of a gloss evaluation apparatus in an embodiment.
  • the gloss evaluation apparatus shown in FIG. 1 it is a figure for demonstrating the case where the 1st illumination part is irradiated. It is a figure for demonstrating the case where the 2nd illumination part is irradiated in the glossiness evaluation apparatus shown in FIG.
  • FIG. 1 shows an example of the spectral irradiance L ((lambda)) of the irradiation light of the 1st illumination part in the glossiness evaluation apparatus shown in FIG.
  • the gloss evaluation apparatus 100 calculates a gloss evaluation value when measured by a master machine determined as a reference machine, so that the difference between the gloss evaluation apparatus which is a so-called mass production machine, the measurement status (ambient temperature) Variation in evaluation values (measured values) due to changes in environment and light source over time) is reduced.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an example of the overall configuration of the gloss evaluation apparatus 100.
  • the master machine has the same configuration as that of the gloss evaluation apparatus 100.
  • 2 is a diagram for explaining a case where the first illumination unit 10 included in the gloss evaluation apparatus 100 is irradiated
  • FIG. 3 is a diagram for explaining a case where the second illumination unit 40 is irradiated.
  • FIG. 4 is a configuration diagram illustrating an example of the spectroscopic detection unit 22.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an example of the spectral irradiance L ( ⁇ ) of the irradiation light.
  • the horizontal axis in FIG. 5 indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the irradiance.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of the spectral sensitivity S ( ⁇ ) of the light receiving element.
  • the horizontal axis in FIG. 6 indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the sensitivity.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating an example of the spectral transmittance F ( ⁇ ) of the filter.
  • the horizontal axis in FIG. 7 indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the transmittance.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the standard spectral luminous efficiency V ( ⁇ ).
  • FIG. 9 is a diagram illustrating an example of the spectrum distribution Sc ( ⁇ ) of standard light.
  • the horizontal axis in FIG. 9 indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the irradiance.
  • the broken line is the spectral distribution of the colorimetric auxiliary illuminant C
  • the solid line is the spectral distribution of the D65 light
  • the alternate long and short dash line is the spectral distribution of the A light.
  • the gloss evaluation apparatus 100 includes a first illumination unit 10, a diffuse reflection light receiving unit 20, a regular reflection light receiving unit 30, a second illumination unit 40, and a calculation control unit 50.
  • Each of the first illumination unit 10, the diffuse reflection light receiving unit 20, the regular reflection light receiving unit 30, and the second illumination unit 40 is controlled by the calculation control unit 50, and outputs each measured value to the calculation control unit 50. .
  • the first illumination unit 10 includes a glossy light source 11 composed of a halogen lamp, an LED (light emitting diode), etc., a glossy light emitting circuit 12 that drives the glossy light source 11, and a glossy light source 11.
  • a light beam restricting plate 13 that restricts the output (radiated) light beam and a collimating lens 14 are provided.
  • the gloss light source 11 is a light source that emits predetermined light used for obtaining an evaluation value related to gloss, and is a predetermined angle (here, a normal line (measurement surface normal line) G on the measurement surface of the measurement object S). Is fixedly arranged at a position having 60 °.
  • the light flux restricting plate 13 is arranged so that the opening 13a thereof coincides with the focal position of the collimating lens 14, and the light flux (optical axis L1) from the glossy light source 11 that has passed through the opening 13a of the light flux restricting plate 13 is It is collimated (collimated) by the collimating lens 14 to be converted into a parallel light beam and guided to the measurement surface of the measurement object S.
  • the spectral irradiance of the irradiation light of the first illumination unit 10 is, for example, the spectral irradiance shown in FIG.
  • the spectral irradiance of the example shown in FIG. 5 generally has a maximum peak at a wavelength of about 463 nm and a second largest peak at a wavelength of about 550 nm.
  • the diffusely reflected light receiving unit 20 includes a light receiving optical system 21 that focuses a light beam (optical axis L2) reflected from the measurement object S and a spectral detection unit 22.
  • the spectroscopic detection unit 22 is disposed at the imaging position of the light receiving optical system 21 and measures the spectral intensity of the light transmitted through the light receiving optical system 21 and passed through the incident slit 22a.
  • the optical axis L2 of the diffusely reflected light receiving unit 20 and the measurement surface of the measurement object S are orthogonal to each other at an intersection A.
  • FIG. 4 is a configuration diagram illustrating an example of the spectroscopic detection unit 22.
  • the spectroscopic detection unit 22 includes a lens 22b, a diffraction grating 22c, and a light receiving sensor 22e in a case 22d of a box-shaped housing in which an entrance slit 22a is formed at an appropriate position.
  • the lens 22b converts the measured light that has passed through the incident slit 22a into parallel light and guides it to the diffraction grating 22c, and forms a dispersed image of the incident slit 22a dispersed by the diffraction grating 22c on the light receiving surface of the light receiving sensor 22e.
  • the diffraction grating 22c has a function of reflecting and dispersing incident measurement light at different angles depending on the wavelength, and forms a dispersion image of the entrance slit 22a on the light receiving sensor 22e.
  • the light receiving sensor 22e includes a plurality of light receiving channels (pixels) arranged at a predetermined interval, and is constituted by, for example, a silicon photodiode array in which silicon photodiodes are arranged in one line in one direction.
  • the dispersed light (incident slit dispersion image) incident on each light receiving channel of the light receiving sensor 22e is converted into a current by the photoelectric conversion action of each photodiode and is output to the control unit 50.
  • the second illumination unit 40 and the diffuse reflection light receiving unit 20 are arranged to have a predetermined geometry, for example, a 45 ° / 0 ° geometry.
  • the regular reflection light receiving unit 30 includes a filter 33 that filters (filters) the light beam reflected from the measurement object S, a light receiving optical system 31 that converges, and a gloss detector 32.
  • the gloss detector 32 is disposed at the image forming position of the light receiving optical system 31 and outputs the light amount (light intensity) of the light beam incident from the incident slit 32a that restricts the light transmitted through the light receiving optical system 31.
  • the gloss detector 32 has, for example, the spectral sensitivity S ( ⁇ ) shown in FIG.
  • the spectral sensitivity S ( ⁇ ) of the example shown in FIG. 6 gradually increases as the wavelength becomes longer, reaches a peak (maximum value) at a wavelength of about 880 nm, and then decreases to the removal.
  • the filter 33 only needs to be a filter that can transmit a desired wavelength band (for example, a bandpass filter, a cut-off filter, or the like), and is, for example, an absorption optical filter or an interference optical filter.
  • the spectral transmittance F ( ⁇ ) of the filter 33 is set so as to satisfy the following relational expression. That is, the multiplication result of the spectral irradiance L ( ⁇ ), the spectral sensitivity S ( ⁇ ), and the spectral transmittance F ( ⁇ ), the standard light spectral distribution Sc ( ⁇ ), and the standard spectral luminous efficiency V ( ⁇ ) There is a proportional relationship with the multiplication result of.
  • L ( ⁇ ) is the spectral irradiance of the glossy light source 11 of the first illumination unit 10
  • S ( ⁇ ) is the spectral sensitivity of the regular reflection light receiving unit 30
  • F ( ⁇ ) is This is the spectral transmittance of the filter 33.
  • Sc ( ⁇ ) is the spectral distribution of standard light
  • V ( ⁇ ) is the standard spectral luminous efficiency (sensitivity of the human eye) defined by JIS or the like.
  • the spectral transmittance F ( ⁇ ) of the filter 33 is obtained by converting the irradiation light of the first illumination unit 10 having the spectral irradiance L ( ⁇ ) that has passed through the filter 33 having the spectral transmittance F ( ⁇ ) to the spectral sensitivity S (
  • the response when the regular reflection light receiving unit 30 of [lambda] is received is set to be the sensitivity of human eyes.
  • the filter 33 has, for example, the spectral transmittance F ( ⁇ ) shown in FIG.
  • the spectral transmittance F ( ⁇ ) of the example shown in FIG. 7 has a peak at a wavelength of about 540 nm.
  • An example of the standard spectral luminous efficiency V ( ⁇ ) is shown in FIG.
  • the broken line graph shows the standard spectral luminous efficiency, and the solid line graph shows the response of the regular reflection light receiving unit 30.
  • An example of the spectrum distribution Sc ( ⁇ ) of the standard light is shown in FIG.
  • the color light source 41 of the second illumination unit 40 emits light having a spectral distribution of the colorimetric auxiliary illuminant C indicated by a broken line.
  • the continuous line of FIG. 9 shows the spectrum distribution of D65 light source prescribed
  • the regular reflection light receiving unit 30 is fixedly disposed at a position in the regular reflection direction (including a position near the regular reflection direction) that is a regular reflection angle with respect to the illumination angle ⁇ (irradiation angle ⁇ ) by the illumination system. That is, the regular reflection light receiving unit 30 has a reflection angle ⁇ (an angle formed between the normal line G and the reflected light beam) with respect to an incident angle ⁇ (an angle formed with respect to the normal line G where the incident light beam stands at the incident point).
  • the second illumination unit 40 includes a color light source 41 composed of a halogen lamp, an LED (light emitting diode), etc., a color light emission circuit 42 that drives the color light source 41, and a color light source 41.
  • a light flux restricting plate 43 that restricts the light flux output from the light source 41 and a collimating lens 44 are provided.
  • the color light source 41 is a light source that emits predetermined light used for obtaining an evaluation value related to gloss, and a position having a predetermined angle (here, 45 °) with respect to the measurement surface normal line G of the measurement object S. It is fixedly arranged.
  • the light flux restricting plate 43 is arranged so that its opening 43a coincides with the focal position of the collimating lens 44, and the light flux (optical axis L4) from the color light source 41 that has passed through the opening 43a of the light flux restricting plate 43 is The light is collimated by the collimator lens 44 to be converted into a parallel light beam and guided to the measurement surface of the measurement object S.
  • the arithmetic control unit 50 stores, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory) that stores a program that defines the operation of the CPU, and a RAM (Random Access Memory) that temporarily stores data.
  • the computer includes a control unit 51, a calculation unit 52, a storage unit 53, an input unit 54, and an output unit 55, and controls the operation of the gloss evaluation apparatus 100.
  • the control unit 51 controls the light emission (lighting and extinguishing) operations of the gloss light source 11 and the color light source 41, and controls the driving of the gloss light emitting circuit 12 and the color light emitting circuit 42 to perform this light emission operation. To control.
  • the control unit 51 controls the light receiving operation of the diffuse reflection light receiving unit 20 and the regular reflection light receiving unit 30.
  • the calculation unit 52 is based on the output signals from the diffuse reflection light receiving unit 20 and the regular reflection light receiving unit 30, and the reflection characteristic value of the measuring object S, that is, an evaluation value relating to gloss (hereinafter referred to as "gloss evaluation value"). ) Is calculated.
  • gloss evaluation value an evaluation value relating to gloss
  • the calculated gloss evaluation value is displayed on the output unit 55. Details of how to obtain the gloss evaluation value performed by the calculation unit 52 will be described later in the section ⁇ How to obtain the gloss evaluation value>.
  • the control unit 51 and the calculation unit 52 are functionally provided in the CPU.
  • the storage unit 53 uses the spectral irradiance L ( ⁇ ) of the first illuminating unit 10 of the master machine (reference machine) and the spectroscopic light of the regular reflected light receiving unit 30 that are used when the calculation unit 52 calculates the gloss evaluation value. Sensitivity S ( ⁇ ) is stored in advance.
  • the input unit 54 is a device that inputs various commands such as gloss evaluation start and various data to the gloss evaluation apparatus 100, and is, for example, a keyboard or a mouse.
  • the output unit 55 is a device that outputs a command and data input from the input unit 54, a calculation result of the gloss evaluation device 100, and the like.
  • a display device such as a CRT (Cathode Ray Tube) display or an LCD (Liquid Crystal Display)
  • a printing device such as a printer.
  • the gloss evaluation apparatus 100 uses the following equation (1) to measure irradiation light having a spectral irradiance L ( ⁇ ) when the measurement object S is measured by a master machine (reference machine). An index value I of specular reflection light intensity when irradiated is obtained.
  • the gloss evaluation apparatus 100 uses the equation (2) to measure the measurement object S with the gloss evaluation apparatus (the machine, the own machine) 100, that is, the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ). An index value I ′ of the specular reflection light intensity when the irradiation light is irradiated is obtained.
  • the gloss evaluation apparatus 100 calculates the coefficient K from the ratio between the index value I and the index value I ′, that is, using the following equation (3), and the regular reflection light using the equation (4).
  • the regular reflection light intensity a which is the output of the light receiving unit 30 is corrected to obtain the regular reflection light intensity P when measured by the master machine.
  • the gloss evaluation value is calculated based on the regular reflection light intensity P. For example, the gloss evaluation value is calculated by normalizing the regular reflection light intensity P with the output value of the calibration plate (standard sample).
  • I c ⁇ L ( ⁇ ) S ( ⁇ ) d ⁇ + b ⁇ L ( ⁇ ) R ( ⁇ ) S ( ⁇ ) d ⁇ (1)
  • I ′ c ⁇ L ′ ( ⁇ ) S ( ⁇ ) d ⁇ + b ⁇ L ′ ( ⁇ ) R ( ⁇ ) S ( ⁇ ) d ⁇ ...
  • K I ⁇ I '(3)
  • P K ⁇ a (4)
  • L ( ⁇ ) is the spectral irradiance of the gloss light source 11 of the first illumination unit 10 of the master machine
  • L ′ ( ⁇ ) is for the gloss of the first illumination unit 10 of the gloss evaluation apparatus 100.
  • This is the spectral irradiance of the light source 11.
  • S ( ⁇ ) is the spectral sensitivity of the gloss detector 32 of the regular reflection light receiving unit 30.
  • the spectral irradiance L ( ⁇ ) and spectral sensitivity S ( ⁇ ) are measured in advance and stored in the storage unit 53 when the gloss evaluation apparatus 100 is shipped. Note that the spectral sensitivity of the gloss detector 32 of the master machine and the gloss detector 32 of the gloss evaluation apparatus 100 are substantially equal.
  • the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) is measured using a diffuse reflection light receiving unit 20 with a white plate placed as the measurement object S.
  • the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) may be measured directly from the light source using the diffuse reflection light receiving unit 20.
  • Equation (4) is the light intensity obtained by measuring the specularly reflected light of the measuring object S with the gloss detector 32 when irradiated with the irradiation light from the first illumination unit 10 as shown in FIG. .
  • the spectral detection unit 22 measures the diffuse reflected light of the measurement object S when the irradiation light is irradiated from the first illumination unit 10. , The light intensity obtained by calculating the sum of the outputs.
  • the light intensity b is calculated by taking the sum of the outputs of the spectral detector 22, but the light intensity may be measured by providing a photodiode separately from the spectral detector 22. Further, the light intensity b may be used with an output of a certain wavelength as a representative value.
  • the c in the equations (1) and (2) is Fresnel reflection in the regular reflection component from the surface of the measuring object S when the irradiation light is irradiated from the first illumination unit 10 as shown in FIG. It is strength.
  • FIG. 10 is a diagram showing the intensity distribution of reflected light reflected by the measurement surface when the measurement surface of the measurement object S is illuminated by the first illumination unit 10 in terms of the distance from the intersection A.
  • the white arrow 10 indicates the irradiation direction (optical axis L1) of the irradiation light from the first illumination unit 10 in FIG. 2, the white arrow 20 indicates the dispersion reflection direction (optical axis L2), and the white arrow 30 indicates The regular reflection direction (optical axis L3) is shown.
  • the protruding portion indicates regular reflection light (regular reflection light component a), and the other portion indicates diffused light (regular reflection light component b).
  • d is an intensity ratio (known coefficient) between the specular reflection measurement angle intensity and the diffuse reflection measurement angle intensity of the cos characteristic.
  • the reflection angle ⁇ 60 degrees
  • R ( ⁇ ) is a spectral intensity (spectral reflectance) obtained by irradiating the irradiation light from the second illumination unit 40 and measuring the diffuse reflection light of the measurement object S by the spectral detection unit 22. .
  • the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) of the glossy light source 11 may vary depending on the light source having the same product number. For example, when a white LED is used as the light source, white is produced by combining blue excitation light and a yellow phosphor, and blue may shift in the wavelength direction. Individual differences may also occur due to changes over time, temperature of the use environment, and the like.
  • the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) By measuring the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) for each measurement, it is possible to correct the output fluctuation and change with time of the glossy light source 11 of the first illumination unit 10. Note that the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) may be corrected at appropriate times instead of every time. In this case, the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) is also stored in the storage unit 53.
  • the regular reflection light receiving unit 30 measures the regular reflection light that has passed through the filter 33, if the spectral transmittance F ( ⁇ ) of the filter 33 varies, the regular reflection light intensity a also varies. By performing the correction as described above, the variation can be reduced.
  • Table 1 shows a parameter table summarizing the parameters used in the above formulas (1) and (2).
  • the parameter table includes a “number” field, a “parameter content” field, a “parameter name” field, an “target machine” field, a “light source” field, an “irradiation target” field, a “measurement light” field, and “ It consists of a "detector” field.
  • parameter numbers “1” to “6” indicating parameters are set. That is, six parameters are registered in this parameter table.
  • the parameter content is set in the “parameter content” field of the number registered in the “number” field, and the “parameter name” field contains The names of parameters used in equations (1) and (2) are set.
  • the “target machine” field a device (master machine / correction target machine) that measures the parameter of this number is set.
  • the “light source” field a light source that emits light to measure the parameter of this number ( (For gloss / color) is set, and in the “irradiation target” field, a target to be irradiated with light (reference plate / no irradiation target / sample) is set in order to measure the parameter of this number.
  • measurement light In the “measurement light” field, light (diffuse reflection light / direct light source / specular reflection light) measured to measure the parameter of this number is set. In the “detector” field, “measurement light” is set. A device (for color / gloss) that measures light registered in the field is set.
  • Master machine set in the “target machine” field indicates a master machine that is a reference machine
  • correction target machine indicates a gloss evaluation apparatus 100 that is a so-called mass production machine.
  • Reference plate set in the “irradiation target” field indicates a white reference plate
  • no irradiation target indicates that there is no irradiation target
  • sample indicates the measurement object S.
  • the “diffuse reflected light” set in the “measurement light” field indicates diffuse reflected light from the white reference plate or the measuring object S
  • “direct light source” indicates direct irradiation light from the light source
  • “Specular reflection light” indicates regular reflection light from the white reference plate or the measuring object S.
  • “spectral irradiance of the glossy light source 11” is set in the “parameter contents” field of the parameter of parameter number “1”, and “L ( ⁇ )” is set in the “parameter name” field.
  • “Master machine” is set
  • “Glossy” is set in the “Light source” field
  • “Reference plate” and “No irradiation target” are set in the “Irradiation target” field.
  • ”Is set,“ diffuse reflected light ”and“ direct light source ” are set in the“ measurement light ”field, and“ for color ”is set in the“ detector ”field.
  • the parameter with parameter number “1” is the parameter “L ( ⁇ )” used in the equations (1) and (2), and the content is “spectral irradiance of the glossy light source 11”.
  • the "diffuse reflected light” measured by the "master machine” and irradiated by the "glossy” light source (second illumination unit 40) is applied to the "reference plate” and reflected by the reference plate, It is shown that the light is measured by the “for” detector (diffuse reflected light receiving unit 20), and the light emitted from the “glossy” light source (second illumination unit 40) directly detects “for color”. It shows that it is obtained by measuring with a measuring device (diffuse reflected light receiving unit 20).
  • FIG. 11 is a flowchart of the reference machine measurement process of the master machine
  • FIG. 12 is a flowchart of the gloss evaluation process of the gloss evaluation apparatus 100.
  • This reference machine measurement process is performed in the master machine that serves as a reference for the gloss evaluation value.
  • the spectral irradiance L ( ⁇ ) of the glossy light source 11 of the first illumination unit 10 in the master machine is measured (step S10).
  • the measurement method may be a method in which a white reference plate is set as the measurement object S and measurement is performed using the diffuse reflection light receiving unit 20, and the irradiation light from the gloss light source 11 is measured. May be.
  • step S11 the spectral sensitivity S ( ⁇ ) of the regular reflection light receiving unit 30 is measured.
  • the measured spectral irradiance L ( ⁇ ) and spectral sensitivity S ( ⁇ ) are stored in the storage unit 53 (step S12).
  • the stored spectral irradiance L ( ⁇ ) and spectral sensitivity S ( ⁇ ) are stored in the storage unit 53 of each gloss evaluation apparatus 100 before shipment.
  • the spectral irradiance L ( ⁇ ) and the spectral sensitivity S ( ⁇ ) in the master machine are stored in the storage unit 53. It shall be.
  • the measurer uses the input unit 54 to input a command or the like for instructing preparation for the gloss evaluation process.
  • the arithmetic control unit 50 that has detected that a command for instructing the preparation for the gloss evaluation process is input via the input unit 54 reads the spectral irradiance L ( ⁇ ) and the spectral sensitivity S ( ⁇ ) from the storage unit 53. And stored in the working memory (step S20).
  • the arithmetic control unit 50 energizes the first illuminating unit 10, the diffusely reflected light receiving unit 20, the regular reflected light receiving unit 30, and the second illuminating unit 40, and instructs the preparation necessary for the measurement. Make necessary preparations for measurement such as initial settings.
  • the measurer sets the measuring object S at a predetermined location and inputs a command for instructing the start of gloss measurement (step S21).
  • the calculation control unit 50 that has detected that a command instructing the start of gloss measurement is input instructs the control unit 51 to start the irradiation of the gloss light source 11.
  • control unit 51 drives the glossy light emitting circuit 12 to start irradiation of the glossy light source 11 (step S22).
  • the calculation control unit 50 receives the spectral intensity (spectral irradiance L ′ ( ⁇ )) from the spectral detection unit 22 (step S23), stores it in the work memory, and sums the output from the spectral detection unit 22.
  • the light intensity b is calculated (step S24) and stored in the work memory.
  • the calculation control unit 50 inputs the specular reflection light intensity a from the gloss detector 32 (step S25) and stores it in the work memory.
  • the calculation control unit 50 stops the irradiation of the glossy light source 11 and instructs the control unit 51 to start the irradiation of the color light emitting circuit 42.
  • control unit 51 drives the glossy light emitting circuit 12 to stop the irradiation of the glossy light source 11, and then drives the color light emitting circuit 42 to start the irradiation of the color light source 41. (Step S26).
  • the calculation control unit 50 receives the spectral intensity (spectral reflectance R ( ⁇ )) from the spectral detection unit 22 (step S27) and stores it in the work memory.
  • the calculation control unit 50 requests the calculation unit 52 to calculate a gloss evaluation value.
  • the calculation unit 52 that has received the request calculates the specular reflection light intensity P using the formulas (1) to (4) as described in the section ⁇ How to obtain the gloss evaluation value>, and the specular reflection light intensity P
  • the gloss evaluation value is calculated based on (Step S28).
  • the calculation unit 52 that has calculated the gloss evaluation value displays the calculated gloss evaluation value on the input unit 54 (step S29).
  • the measurer sets the measurement object S to be measured next, and inputs a measurement instruction to the input unit 54.
  • the calculation control unit 50 that has detected the measurement instruction starts the processing from step S22.
  • a gloss measurement method is a gloss evaluation method for obtaining an evaluation value related to the gloss of a measurement object based on specular reflection light and diffuse reflection light obtained from the measurement object, the spectral emission from a first light source. From the intensity a of the specularly reflected light obtained by irradiating the measurement object with the first irradiation light having the illuminance L ′ ( ⁇ ), the distributed reflected light obtained by irradiating the measurement object with the first irradiation light. Based on the intensity b and the spectral reflectance R ( ⁇ ) of diffusely reflected light obtained by irradiating the measurement object with predetermined second irradiation light at an irradiation angle different from that of the first light source from the second light source. The intensity P of specularly reflected light obtained by irradiating the measurement object with irradiation light having a spectral irradiance L ( ⁇ ) is obtained.
  • a gloss evaluation apparatus includes a first light source that irradiates a measurement object with light having spectral sensitivity L ′ ( ⁇ ), and irradiates the measurement object with an irradiation angle different from that of the first light source.
  • the measurement object is irradiated with the second irradiation light at an intensity b of the distributed reflected light obtained by irradiating the measurement object with the first irradiation light and an irradiation angle different from that of the first light source from the second light source.
  • the intensity P of the regular reflected light obtained when the first light source irradiates light with spectral sensitivity L ( ⁇ ) is calculated.
  • the gloss measurement method and the gloss evaluation apparatus calculate the intensity P of specularly reflected light at a constant spectral irradiance L ( ⁇ ) even if the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) varies from apparatus to apparatus.
  • the intensity of the specularly reflected light can be calculated. Since the gloss evaluation value is calculated based on the regular reflection light intensity P, it is possible to calculate a gloss evaluation value that does not vary due to machine differences.
  • the intensity P of the specular reflection light is equal to the intensity a of the specular reflection light, and the irradiation light having the spectral irradiance L ( ⁇ ) obtained by the above formula (1).
  • the measurement object is irradiated with the first irradiation light of the specular irradiance L ′ ( ⁇ ) obtained by the above-mentioned formula (2) and the index value I of the specular reflection light obtained by irradiating the measurement object with It is preferable to obtain by multiplying by a coefficient K which is a ratio to the index value I ′ of the regular reflection light obtained in this way.
  • the coefficient K is obtained from the ratio between the index value I when the spectral irradiance L ( ⁇ ) is irradiated and the index value I ′ when the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) is irradiated. Therefore, even when the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) of the light source varies, the intensity P of specularly reflected light at a constant spectral irradiance L ( ⁇ ) can be calculated.
  • the intensity a of the specularly reflected light is applied to the measurement object with first irradiation light having a spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) from a first light source. It is preferable that the specularly reflected light of the measurement object caused by the first irradiation light is received by a light receiving sensor having a light receiving sensitivity S ( ⁇ ) through a filter having a spectral transmittance F ( ⁇ ) and measured.
  • Such a gloss measurement method can calculate the intensity P of specularly reflected light at a constant spectral irradiance L ( ⁇ ) even if there is a difference in the spectral transmittance F ( ⁇ ) of the filter.
  • the spectral irradiance L ′ ( ⁇ ) is preferably measured every time the gloss evaluation value of the measurement object is obtained.
  • the spectral irradiance L ( ⁇ ) is preferably the spectral irradiance of the irradiation light irradiated from the first light source of the reference machine.
  • the evaluation value of the measurement object is preferably obtained by normalizing the intensity P of the regular reflection light with the evaluation value of the standard measurement object.
  • Such a gloss measurement method can calculate an evaluation value that reduces the difference from the gloss evaluation value when measured with a reference machine, regardless of which device is used to calculate the gloss evaluation value of the measurement object.
  • a gloss evaluation method and a gloss evaluation apparatus can be provided.

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Abstract

　本発明の光沢評価方法および該装置では、当該機の分光放射照度の第１照射光を測定対象物に照射して得られる正反射光の強度から、前記第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる分散反射光の強度と、異なる照射角で前記測定対象物に所定の第２照射光を照射して得られる拡散反射光の分光反射率とに基づいて、基準機の分光放射照度の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度Ｐが求められる。

Description

光沢評価方法および光沢評価装置
　本発明は、物体の光沢を評価する技術に関する。
　従来、物体表面の光沢を測定する方法として、光を表面に照射し正反射方向で反射光量を測定して光沢度を求める鏡面光沢度測定方法（ＪＩＳ－Ｚ８７４１）が広く知られている。このような鏡面光沢度測定方法は、正反射方向の反射光束の大きさのみを示す指標であるため、鏡面光沢度測定方法によって測定された鏡面光沢度と人間の視覚による主観的な評価による光沢感とは、必ずしも一致しない。
　そこで、複数の角度の反射光を測定することで、人間の主観的な評価値に近い評価値を求める方法が提案されている。例えば、物体から得られる正反射光に基づく光沢指標値と、拡散反射光に基づく明度および彩度に関する指標値とを参照して、物体の光沢に関する評価値を求める方法がある（特許文献１参照）。また、正反射光から得られる明度成分に基づく光沢変動評価値と、正反射光と拡散反射光の各明度成分に基づく光沢基準値と、正反射光と拡散反射光の色の変化量に関する色度変化量指標値とを参照して、物体の光沢感評価値を求める方法がある（特許文献２参照）。
　通常、物体の光沢を評価するための光沢評価装置は、同じ物体であれば、同じ評価値（測定値）を出力するように製造されて出荷される。
　しかし、光沢評価装置は、使用し続けることにより、互いに異なる評価値を出力するようになる場合がある。例えば、光沢を測定するための光を照射する光源や、反射光を受光する受光素子に経時変化が生じる場合等である。また、光源や受光素子の特性に元々の個体差がある場合もある。さらに、それを使用する環境、例えば、周囲の温度によっても、評価値がばらつくこともある。
特開２００４－３１７１３１号公報 特開２０１０－２４３３５３号公報
　本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、光沢評価装置で物体を測定した場合の光沢評価値と、基準となる光沢評価装置（マスター機（基準機））で測定した場合の光沢評価値との差（変動分）を低減する光沢評価方法および光沢評価装置を提供することである。
　本発明にかかる光沢評価方法および該装置では、当該機の分光放射照度Ｌ‘（λ）の第１照射光を測定対象物に照射して得られる正反射光の強度ａから、前記第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる分散反射光の強度ｂと、異なる照射角で前記測定対象物に所定の第２照射光を照射して得られる拡散反射光の分光反射率Ｒ（λ）とに基づいて、基準機の分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度Ｐが求められる。したがって、前記光沢評価方法および該装置は、測定対象物を測定した場合の光沢評価値として、基準となる光沢評価装置（マスター機（基準機））で測定した場合の光沢評価値との差（変動分）を低減した光沢評価値を求めることができる。
　上記並びにその他の本発明の目的、特徴および利点は、以下の詳細な記載と添付図面から明らかになるであろう。
実施形態における光沢評価装置の一例を示す全体の概略図である。 図１に示す光沢評価装置において、第１照明部を照射した場合を説明するための図である。 図１に示す光沢評価装置において、第２照明部を照射した場合を説明するための図である。 図１に示す光沢評価装置における分光検出部の一例を示す構成図である。 図１に示す光沢評価装置における第１照明部の照射光の分光放射照度Ｌ（λ）の一例を示す図である。 図１に示す光沢評価装置における光沢検出器の分光感度Ｓ（λ）の一例を示す図である。 図１に示す光沢評価装置におけるフィルタの分光透過率Ｆ（λ）の一例を示す図である。 標準分光視感効率Ｖ（λ）の一例を示す図である。 標準光のスペクトル分布Ｓｃ（λ）の一例を示す図である。 測定対象物の測定面で反射される反射光の強度分布の一例を示す図である。 基準機測定処理のフローチャートである。 光沢評価処理のフローチャートである。
　以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。
　実施形態における光沢評価装置１００は、基準機として定めたマスター機で測定したとした場合の光沢評価値を算出することで、いわゆる量産機である光沢評価装置の機差、測定状況（周囲の温度環境、光源の経時変化）による評価値（測定値）ばらつきを低減する。
　＜構成＞
　図１は、光沢評価装置１００の全体構成の一例を示す図である。なお、マスター機は、光沢評価装置１００と同様の構成を備える。図２は、光沢評価装置１００が備える第１照明部１０を照射した場合を説明するための図であり、図３は、第２照明部４０を照射した場合を説明するための図である。図４は、分光検出部２２の一例を示す構成図である。
　図５は、照射光の分光放射照度Ｌ（λ）の一例を示す図である。図５の横軸は、波長を示し、その縦軸は、放射照度を示す。図６は、受光素子の分光感度Ｓ（λ）の一例を示す図である。図６の横軸は、波長を示し、その縦軸は、感度を示す。図７は、フィルタの分光透過率Ｆ（λ）の一例を示す図である。図７の横軸は、波長を示し、その縦軸は、透過率を示す。図８は、標準分光視感効率Ｖ（λ）の一例を示す図である。図８の横軸は、波長を示し、その縦軸は、応答度を示す。また、図９は、標準光のスペクトル分布Ｓｃ（λ）の例を示す図である。図９の横軸は、波長を示し、その縦軸は、放射照度を示す。図９中、破線は、測色用補助イルミナントＣのスペクトル分布であり、実線は、Ｄ６５光のスペクトル分布であり、一点鎖線は、Ａ光のスペクトル分布である。
　光沢評価装置１００は、第１照明部１０、拡散反射光受光部２０、正反射光受光部３０、第２照明部４０および演算制御部５０を備える。第１照明部１０、拡散反射光受光部２０、正反射光受光部３０および第２照明部４０それぞれは、演算制御部５０によって制御され、それぞれ測定した各測定値を演算制御部５０へ出力する。
　第１照明部１０は、図２に示すように、ハロゲンランプやＬＥＤ（発光ダイオード）等からなる光沢用光源１１と、光沢用光源１１を駆動する光沢用発光回路１２と、光沢用光源１１から出力（放射）される光束を規制する光束規制板１３と、コリメートレンズ１４とを備える。光沢用光源１１は、光沢に関する評価値を求めるために用いられる所定の光を照射する光源であり、測定対象物Ｓの測定面における法線（測定面法線）Ｇに対して所定角度（ここでは６０°）を有する位置に固定配置されている。光束規制板１３は、その開口１３ａがコリメートレンズ１４の焦点位置に一致するように配置されており、光束規制板１３の開口１３ａを通過した光沢用光源１１からの光束（光軸Ｌ１）は、コリメートレンズ１４によってコリメート（平行化）されて平行光束となって測定対象物Ｓの測定面に導かれる。第１照明部１０の照射光の分光放射照度は、例えば、図５に示す分光放射照度である。この図５に示す一例の分光放射照度は、大略、波長約４６３ｎｍに最大のピークを持ち、そして、波長約５５０ｎｍに２番目に大きいピークを持っている。
　拡散反射光受光部２０は、測定対象物Ｓから反射された光束（光軸Ｌ２）を集束する受光光学系２１と、分光検出部２２とを備える。分光検出部２２は、この受光光学系２１の結像位置に配設され、受光光学系２１を透過し、入射スリット２２ａを通過した光の分光強度を測定する。拡散反射光受光部２０の光軸Ｌ２と測定対象物Ｓの測定面とは、交点Ａで直交している。
　ここで、図４は、分光検出部２２の一例を示す構成図である。同図に示すように、分光検出部２２は、入射スリット２２ａが適所に形成された箱形筐体のケース２２ｄ内に、レンズ２２ｂ、回折格子２２ｃおよび受光センサ２２ｅを備える。レンズ２２ｂは、入射スリット２２ａを通過した被測定光を平行光にして回折格子２２ｃへ導くとともに、回折格子２２ｃによって分散された入射スリット２２ａの分散像を受光センサ２２ｅの受光面に結像させる。回折格子２２ｃは、入射した測定光を波長に応じた異なる角度で反射および分散させる機能を有し、受光センサ２２ｅ上に入射スリット２２ａの分散像を結像させる。受光センサ２２ｅは、所定の間隔で配列された複数の受光チャンネル（画素）を備えてなり、例えばシリコンホトダイオードが一方向に１列に配列されたシリコンホトダイオードアレイにより構成される。受光センサ２２ｅの各受光チャンネルに入射した分散光（入射スリット分散像）は、各々のホトダイオードの光電変換作用によって電流に変換され、制御部５０に出力される。
　第２照明部４０と拡散反射光受光部２０とは、所定のジオメトリ、例えば、４５度／０度のジオメトリとなるように配置される。
　正反射光受光部３０は、図２に示すように、測定対象物Ｓから反射された光束をフィルタリング（ろ波）するフィルタ３３、集束する受光光学系３１、および、光沢検出器３２を備える。光沢検出器３２は、受光光学系３１の結像位置に配設され、受光光学系３１を透過した光を制限する入射スリット３２ａから入射した光束の光量（光強度）を出力する。光沢検出器３２は、例えば、図６の分光感度Ｓ（λ）を有する。この図６に示す一例の分光感度Ｓ（λ）は、大略、長波長になるに従って、徐々に増加し、波長約８８０ｎｍでピーク（最大値）となりその後、除除に低下する。
　フィルタ３３は、所望の波長帯を透過できるフィルタ（例えば、バンドパスフィルタ、カットオフフィルタ等）であればよく、例えば、吸収型光学フィルタおよび干渉型光学フィルタ等である。フィルタ３３の分光透過率Ｆ（λ）は、以下の関係式を満たすように設定される。すなわち、分光放射照度Ｌ（λ）と分光感度Ｓ（λ）と分光透過率Ｆ（λ）との乗算結果と、標準光のスペクトル分布Ｓｃ（λ）と標準分光視感効率Ｖ（λ）との乗算結果とは、比例する関係にある。
Ｌ（λ）×Ｓ（λ）×Ｆ（λ）∝Ｓｃ（λ）×Ｖ（λ）
ここで、Ｌ（λ）は、第１照明部１０の光沢用光源１１の分光放射照度であり、Ｓ（λ）は、正反射光受光部３０の分光感度であり、Ｆ（λ）は、フィルタ３３の分光透過率である。Ｓｃ（λ）は、標準光のスペクトル分布であり、Ｖ（λ）は、ＪＩＳ等で定められた標準分光視感効率（人間の眼の感度）である。つまり、フィルタ３３の分光透過率Ｆ（λ）は、分光透過率Ｆ（λ）のフィルタ３３を通過した、分光放射照度Ｌ（λ）の第１照明部１０の照射光を、分光感度Ｓ（λ）の正反射光受光部３０が受光した場合の応答度が、人間の眼の感度になるように設定されている。
　フィルタ３３は、例えば、図７の分光透過率Ｆ（λ）を有する。この図７に示す一例の分光透過率Ｆ（λ）は、波長約５４０ｎｍにピークを持つ。標準分光視感効率Ｖ（λ）の例は、図８に示される。破線のグラフが標準分光視感効率を示し、実線のグラフが、正反射光受光部３０の応答度を示す。標準光のスペクトル分布Ｓｃ（λ）の例は、図９に示される。第２照明部４０の色用光源４１は、破線で示す測色用補助イルミナントＣのスペクトル分布の光を放射する。なお、図９の実線は、国際照明委員会（ＣＩＥ）で規定されたＤ６５光源のスペクトル分布を示し、一点鎖線は、ＣＩＥで規定されたＡ光源のスペクトル分布を示す。
　正反射光受光部３０は、照明系による照明角α（照射角γ）に対して正反射角となる正反射方向の位置（正反射方向近傍の位置も含む）に固定配置されている。すなわち、正反射光受光部３０は、入射角α（入射光線が入射点に立てた法線Ｇに対してなす角）に対して反射角β（上記法線Ｇと反射光線とのなす角であって、入射角αと共通の平面内にあり且つ入射角に等しい角）が得られるような受光方向位置に固定配置されている（α＝β）。従って、第１照明部１０と正反射光受光部３０とは、例えば、６０度／６０度のジオメトリとなるように配置される。
　次に、図３に示すように、第２照明部４０は、ハロゲンランプやＬＥＤ（発光ダイオード）等からなる色用光源４１と、色用光源４１を駆動する色用発光回路４２と、色用光源４１から出力される光束を規制する光束規制板４３と、コリメートレンズ４４とを備える。色用光源４１は、光沢に関する評価値を求めるために用いられる所定の光を照射する光源であり、測定対象物Ｓの測定面法線Ｇに対して所定角度（ここでは４５°）を有する位置に固定配置されている。光束規制板４３は、その開口４３ａがコリメートレンズ４４の焦点位置に一致するように配置されており、光束規制板４３の開口４３ａを通過した色用光源４１からの光束（光軸Ｌ４）は、コリメートレンズ４４によってコリメートされて平行光束となって測定対象物Ｓの測定面に導かれる。
　演算制御部５０は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）や、そのＣＰＵの動作を規定するプログラムを格納するＲＯＭ（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）や一時的にデータを保管するＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）等の記憶部等を備えたコンピュータによって構成されており、制御部５１、演算部５２、記憶部５３、入力部５４および出力部５５を備え、光沢評価装置１００の動作を制御する。
　制御部５１は、光沢用光源１１および色用光源４１の発光（点灯、消灯）動作を制御するものであり、光沢用発光回路１２および色用発光回路４２の駆動を制御することでこの発光動作を制御する。制御部５１は、拡散反射光受光部２０および正反射光受光部３０の受光動作を制御する。
　演算部５２は、拡散反射光受光部２０および正反射光受光部３０からの出力信号に基づいて測定対象物Ｓの反射特性値、つまり、光沢に関する評価値（以下、「光沢評価値」という。）を求める演算処理を行う。算出された光沢評価値は、出力部５５に表示される。なお、演算部５２が行う光沢評価値の求め方の詳細は、＜光沢評価値の求め方＞の項で後述する。これら制御部５１および演算部５２は、本実施形態では、前記ＣＰＵに機能的に備えられる。
　記憶部５３は、演算部５２が光沢評価値を算出する際に用いる、マスター機（基準機）の第１照明部１０の分光放射照度Ｌ（λ）、および、正反射光受光部３０の分光感度Ｓ（λ）を予め記憶している。
　入力部５４は、光沢の評価開始等の各種コマンドや各種データを光沢評価装置１００に入力する機器であり、例えば、キーボードやマウス等である。
　出力部５５は、入力部５４から入力されたコマンドおよびデータや光沢評価装置１００の演算結果等を出力する機器であり、例えばＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ　Ｒａｙ　Ｔｕｂｅ）ディスプレイやＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ　Ｃｒｙｓｔａｌ　Ｄｉｓｐｌａｙ）等の表示装置、および、プリンタ等の印字装置等である。
　＜光沢評価値の求め方＞
　光沢評価装置１００は、まず、以下の式（１）を用いて、測定対象物Ｓをマスター機（基準機）で測定したとする場合の、つまり、分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を照射した場合の、正反射光強度の指標値Ｉを求める。次に、光沢評価装置１００は、式（２）を用いて、測定対象物Ｓを光沢評価装置（当該機、自機）１００で測定した場合の、つまり、分光放射照度Ｌ’（λ）の照射光を照射した場合の、正反射光強度の指標値Ｉ’を求める。
　そして、光沢評価装置１００は、指標値Ｉと指標値Ｉ’との比から、つまり、以下の式（３）を用いて、係数Ｋを算出し、式（４）を用いて、正反射光受光部３０の出力である正反射光強度ａを補正して、マスター機で測定した場合の正反射光強度Ｐを求める。光沢評価値は、正反射光強度Ｐに基づいて算出される。例えば、正反射光強度Ｐを、校正板（標準のサンプル）の出力値で規格化することによって光沢評価値が算出される。
Ｉ＝ｃ∫Ｌ（λ）Ｓ（λ）ｄλ＋ｂ∫Ｌ（λ）Ｒ（λ）Ｓ（λ）ｄλ　　　・・・（１）
Ｉ’＝ｃ∫Ｌ’（λ）Ｓ（λ）ｄλ＋ｂ∫Ｌ’（λ）Ｒ（λ）Ｓ（λ）ｄλ
・・・（２）
Ｋ＝Ｉ÷Ｉ’　　　　　　・・・（３）
Ｐ＝Ｋ×ａ　　　　　　　・・・（４）
　ここで、Ｌ（λ）は、マスター機の第１照明部１０の光沢用光源１１の分光放射照度であり、Ｌ’（λ）は、当該光沢評価装置１００の第１照明部１０の光沢用光源１１の分光放射照度である。Ｓ（λ）は、正反射光受光部３０の光沢検出器３２の分光感度である。この分光放射照度Ｌ（λ）および分光感度Ｓ（λ）は、予め測定されて、光沢評価装置１００の出荷時には、記憶部５３に記憶されている。なお、マスター機の光沢検出器３２と、光沢評価装置１００の光沢検出器３２との分光感度は、ほぼ等しいものとする。また、分光放射照度Ｌ’（λ）は、測定対象物Ｓとして白色板を置き、拡散反射光受光部２０を用いて測定される。なお、分光放射照度Ｌ’（λ）は、光源から直接、拡散反射光受光部２０を用いて測定されてもよい。
　式（４）の前記ａは、図２で示すように、第１照明部１０から照射光を照射した場合の、測定対象物Ｓの正反射光を光沢検出器３２で測定した光強度である。
　式（１）および（２）の前記ｂは、図２で示すように、第１照明部１０から照射光を照射した場合の、測定対象物Ｓの拡散反射光を分光検出部２２で測定し、その出力の和を算出した光強度である。実施形態では、分光検出部２２の出力の和を取ることによって光強度ｂが算出されているが、分光検出部２２とは別にホトダイオードを設けることによって光強度が測定されてもよい。また、光強度ｂは、或る波長の出力を代表値として用いられてもよい。
　式（１）および式（２）の前記ｃは、図２で示すように、第１照明部１０から照射光を照射した場合の、測定対象物Ｓの面からの正反射成分中のフレネル反射強度である。
　図１０は、第１照明部１０により測定対象物Ｓの測定面を照明したときに測定面で反射される反射光の強度分布を交点Ａからの距離の大小で示した図である。白抜き矢印１０が、図２の第１照明部１０からの照射光の照射方向（光軸Ｌ１）を示し、白抜き矢印２０が分散反射方向（光軸Ｌ２）を示し、白抜き矢印３０が正反射方向（光軸Ｌ３）を示す。
　図１０に示す強度分布において、突出した部分は、正反射光（正反射光成分ａ）を示し、他の部分は、拡散光（正反射光成分ｂ）を示す。したがって、フレネル反射強度ｃは、以下の式を用いて算出できる。
ｃ＝ａ－ｂ×ｄ
なお、ｄは、ｃｏｓ特性の正反射測定角度強度と拡散反射測定角度強度の強度比(既知係数)であり、反射角θが６０度の場合、ｄ＝ｃｏｓ６０度＝０．５である。
　Ｒ（λ）は、図３で示すように、第２照明部４０から照射光を照射し、測定対象物Ｓの拡散反射光を分光検出部２２で測定した分光強度（分光反射率）である。
　光沢用光源１１の分光放射照度Ｌ’（λ）は、製品品番が同一の光源であっても個体差が生じ得る。例えば、光源として白色ＬＥＤを用いた場合には、白色は、青色の励起光と黄色の蛍光体を合わせて作成され、青色が波長方向にシフトする場合が生じ得る等である。また、経時変化や、使用環境の温度等によっても、個体差が生じ得る。
　分光放射照度Ｌ’（λ）は、測定ごとに測定することで、第１照明部１０の光沢用光源１１の出力変動、経時変化を補正することが可能となる。なお、分光放射照度Ｌ’（λ）は、毎回ではなく、適時補正することとしてもよい。この場合は、分光放射照度Ｌ’（λ）も記憶部５３に記憶しておく。
　正反射光受光部３０は、フィルタ３３を通過した正反射光を測定するので、フィルタ３３の分光透過率Ｆ（λ）がばらついた場合には、正反射光強度ａもばらつくこととなるが、上述のような補正を行うことで、そのバラツキを軽減することが可能となる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　表１には、上記式（１）、（２）で用いるパラメータについてまとめたパラメータ表が示されている。このパラメータ表は、「番号」フィールド、「パラメータの内容」フィールド、「パラメータの名称」フィールド、「対象機」フィールド、「光源」フィールド、「照射対象」フィールド、「測定光」フィールド、および、「検出器」フィールドから構成される。
　「番号」フィールドには、パラメータを指し示すパラメータ番号「１」～「６」が設定されている。つまり、パラメータが６つ、このパラメータ表に登録されている。
　パラメータ番号が「１」～「６」の各パラメータについて、「番号」フィールドに登録された番号の「パラメータの内容」フィールドには、パラメータの内容が設定され、「パラメータの名称」フィールドには、式（１）、（２）で用いられているパラメータの名称が設定されている。「対象機」フィールドには、この番号のパラメータを測定する装置（マスター機／補正対象機）が設定され、「光源」フィールドには、この番号のパラメータを測定するために光を照射する光源（光沢用／色用）が設定され、「照射対象」フィールドには、この番号のパラメータを測定するために光を照射する対象（基準板／照射対象無し／サンプル）が設定されている。「測定光」フィールドには、この番号のパラメータを測定するために測定される光（拡散反射光／光源を直接／正反射光）が設定され、「検出器」フィールドには、「測定光」フィールドに登録された光を測定する機器（色用／光沢用）が設定されている。
　「対象機」フィールドに設定されている「マスター機」は、基準機であるマスター機を示し、「補正対象機」は、いわゆる量産機である光沢評価装置１００を示す。
　「光源」フィールドに設定されている「光沢用」は、正反射光受光部３０を示し、「色用」は、拡散反射光受光部２０を示す。
　「照射対象」フィールドに設定されている「基準板」は、白色基準板を示し、「照射対象無し」は、照射対象が無いことを意味し、「サンプル」は、測定対象物Ｓを示す。
　「測定光」フィールドに設定されている「拡散反射光」は、白色基準板または測定対象物Ｓからの拡散反射光を示し、「光源を直接」は、光源からの直接の照射光を示し、「正反射光」は、白色基準板または測定対象物Ｓからの正反射光を示す。
　「検出器」フィールドに設定されている「色用」は、拡散反射光受光部２０を示し、「光沢用」は、正反射光受光部３０を示す。
　例えば、パラメータ番号「１」のパラメータの「パラメータの内容」フィールドには、「光沢用光源１１の分光放射照度」が設定され、「パラメータの名称」フィールドには、「Ｌ（λ）」が設定され、「対象機」フィールドには、「マスター機」が設定され、「光源」フィールドには、「光沢用」が設定され、「照射対象」フィールドには、「基準板」、「照射対象無し」が設定され、「測定光」フィールドには、「拡散反射光」、「光源を直接」が設定され、「検出器」フィールドには、「色用」が設定されている。
　これは、パラメータ番号「１」のパラメータは、式（１）、（２）で用いられているパラメータ「Ｌ（λ）」であり、その内容は「光沢用光源１１の分光放射照度」であり、「マスター機」で測定され、「光沢用」の光源（第２照明部４０）による照射光が、「基準板」に照射され、基準板で反射された「拡散反射光」が、「色用」の検出器（拡散反射光受光部２０）で測定されて得られることを示し、また、「光沢用」の光源（第２照明部４０）による照射光が、直接「色用」の検出器（拡散反射光受光部２０）で測定されて得られることを示す。
　＜動作＞
　次に、本実施形態の動作について、図１１および図１２を用いて説明する。図１１は、マスター機の基準機測定処理のフローチャートであり、図１２は、光沢評価装置１００の光沢評価処理のフローチャートである。
　始めに、図１１を用いて、基準機測定処理について説明する。この基準機測定処理は、光沢評価値の基準となるマスター機において行われる。
　まず、マスター機における第１照明部１０の光沢用光源１１の分光放射照度Ｌ（λ）が測定される（ステップＳ１０）。測定方法は、測定対象物Ｓとして白色基準板をセットして拡散反射光受光部２０を用いて測定する方法であってもよく、また、光沢用光源１１からの照射光を測定する方法であってもよい。
　次に、正反射光受光部３０の分光感度Ｓ（λ）が測定される（ステップＳ１１）。
　測定された分光放射照度Ｌ（λ）および分光感度Ｓ（λ）は、記憶部５３に記憶される（ステップＳ１２）。この記憶された分光放射照度Ｌ（λ）および分光感度Ｓ（λ）は、出荷前に、各光沢評価装置１００の記憶部５３に記憶される。
　次に、図１２を用いて、光沢評価装置１００における光沢評価処理について説明する。
　測定者が、光沢評価装置１００を用いて光沢評価処理を開始する前、例えば、出荷時に、マスター機における分光放射照度Ｌ（λ）および分光感度Ｓ（λ）は、記憶部５３に記憶されているものとする。
　測定者は、入力部５４を用いて、光沢評価処理の準備を指示するコマンド等を入力する。
　入力部５４を介して、光沢評価処理の準備を指示するコマンドが入力されたことを検知した演算制御部５０は、記憶部５３から分光放射照度Ｌ（λ）および分光感度Ｓ（λ）を読み出し、作業メモリに記憶する（ステップＳ２０）。演算制御部５０は、第１照明部１０、拡散反射光受光部２０、正反射光受光部３０、および、第２照明部４０に通電し、測定に必要な準備を指示し、各機能部は、初期設定等の測定に必要な準備を行う。
　次に、測定者は、測定対象物Ｓを所定の場所にセットし、光沢測定の開始を指示するコマンドを入力する（ステップＳ２１）。光沢測定の開始が指示するコマンドが入力されたことを検知した演算制御部５０は、光沢用光源１１の照射の開始を、制御部５１に指示する。
　指示を受けた制御部５１は、光沢用発光回路１２を駆動して、光沢用光源１１の照射を開始させる（ステップＳ２２）。
　次に、演算制御部５０は、分光検出部２２から分光強度（分光放射照度Ｌ’（λ））を入力し（ステップＳ２３）、作業メモリに記憶し、分光検出部２２からの出力の和を取り光強度ｂを算出し（ステップＳ２４）、作業メモリに記憶する。
　次に、演算制御部５０は、光沢検出器３２から正反射光強度ａを入力し（ステップＳ２５）、作業メモリに記憶する。
　次に、演算制御部５０は、光沢用光源１１の照射を停止し、色用発光回路４２の照射の開始を、制御部５１に指示する。
　指示を受けた制御部５１は、光沢用発光回路１２を駆動して、光沢用光源１１の照射を停止させ、次に、色用発光回路４２を駆動して、色用光源４１の照射を開始させる（ステップＳ２６）。
　次に、演算制御部５０は、分光検出部２２から分光強度（分光反射率Ｒ（λ））を入力し（ステップＳ２７）、作業メモリに記憶する。
　次に、演算制御部５０は、演算部５２に光沢評価値の算出を依頼する。
　依頼を受けた演算部５２は、＜光沢評価値の求め方＞の項で説明したように、式（１）～（４）を用いて正反射光強度Ｐを算出し、正反射光強度Ｐに基づいて光沢評価値を算出する（ステップＳ２８）。
　光沢評価値を算出した演算部５２は、算出した光沢評価値を入力部５４に表示する（ステップＳ２９）。
　測定者は、次に測定する測定対象物Ｓをセットし、測定指示を入力部５４に入力する。測定指示を検知した演算制御部５０は、ステップＳ２２からの処理を開始する。
　このように、光沢用光源１１の分光放射照度Ｌ（λ）のバラツキや、フィルタ３３の分光透過率Ｆ（λ）のバラツキが生じたとしても、機差による評価値（測定値）のバラツキを軽減することが可能となる。
　本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。
　一態様にかかる光沢測定方法は、測定対象物から得られる正反射光と拡散反射光とに基づいて前記測定対象物の光沢に関する評価値を求める光沢評価方法であって、第１光源から分光放射照度Ｌ‘（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度ａから、前記第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる分散反射光の強度ｂと、第２光源から前記第１光源とは異なる照射角で前記測定対象物に所定の第２照射光を照射して得られる拡散反射光の分光反射率Ｒ（λ）とに基づいて、分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度Ｐを求めるものである。
　他の一態様にかかる光沢評価装置は、測定対象物に分光感度Ｌ‘（λ）の光を照射する第１光源と、前記第１光源とは異なる照射角で前記測定対象物に光を照射する第２光源と、前記測定対象物から得られる前記第１光源の正反射光の強度ａを検出する分光感度Ｓ（λ）の第１検出部と、前記測定対象物から得られる前記第２光源の拡散反射光の分光反射率Ｒ（λ）を検出する第２検出部と、前記測定対象物から得られる前記第１光源の拡散反射光の強度ｂを検出する第３検出部と、前記正反射光の強度ａから、前記分光反射率Ｒ（λ）と拡散反射光の強度ｂとに基づいて、第１光源が分光感度Ｌ（λ）の光を照射した場合に得られる正反射光の強度Ｐを算出する演算部とを備える。
　このような光沢測定方法および光沢評価装置によれば、第１光源から分光放射照度Ｌ‘（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度ａから、前記第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる分散反射光の強度ｂと、第２光源から前記第１光源とは異なる照射角で前記測定対象物に第２照射光を照射して得られる拡散反射光の分光反射率Ｒ（λ）とに基づいて、第１光源が分光感度Ｌ（λ）の光を照射した場合に得られる正反射光の強度Ｐが算出される。このため、前記光沢測定方法および光沢評価装置は、分光放射照度Ｌ’（λ）が装置によってばらついたとしても、一定の分光放射照度Ｌ（λ）での正反射光の強度Ｐを算出することが可能となる。つまり、機差や、経時変化によるバラツキ、温度等の使用環境により第１光源の分光放射照度Ｌ’（λ）にバラツキが生じた場合であっても、そのバラツキを軽減した正反射光の強度を算出することが可能となる。光沢評価値は、正反射光強度Ｐに基づいて算出されるので、機差によってばらつかない光沢評価値を算出することが可能となる。
　他の一態様では、上述の光沢測定方法において、前記正反射光の強度Ｐは、前記正反射光の強度ａに、上述の式（１）で求められる分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の指標値Ｉと、上述の式（２）で求められる分光放射照度Ｌ’（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の指標値Ｉ’との比である係数Ｋをかけて求めることが好ましい。
　このような光沢測定方法は、分光放射照度Ｌ（λ）を照射した場合の指標値Ｉと、分光放射照度Ｌ’（λ）を照射した場合の指標値Ｉ’との比から係数Ｋを求めるので、光源の分光放射照度Ｌ’（λ）がばらつく場合においても、一定の分光放射照度Ｌ（λ）での正反射光の強度Ｐを算出できる。
　他の一態様では、これら上述の光沢測定方法において、前記正反射光の強度ａは、第１光源から分光放射照度Ｌ‘（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射し、前記第１照射光に起因した前記測定対象物の正反射光を分光透過率Ｆ（λ）のフィルタを介して受光感度Ｓ（λ）の受光センサで受光して測定されることが好ましい。
　このような光沢測定方法は、フィルタの分光透過率Ｆ（λ）に機差が生じても、一定の分光放射照度Ｌ（λ）での正反射光の強度Ｐを算出できる。
　他の一態様では、これら上述の光沢測定方法において、分光放射照度Ｌ‘（λ）は、前記測定対象物の光沢評価値を求める都度、測定されることが好ましい。
　このような光沢測定方法は、測定の度に分光放射照度Ｌ’（λ）が更新されるので、経時変化の影響がより少ない正反射光の強度Ｐを算出できる。
　他の一態様では、これら上述の光沢測定方法において、分光放射照度Ｌ（λ）は、基準機の第１光源から照射される照射光の分光放射照度であることが好ましい。
　また、他の一態様では、これら上述の光沢測定方法において、前記測定対象物の前記評価値は、前記正反射光の強度Ｐを、標準測定対象物の評価値で規格化して求めることが好ましい。
　このような光沢測定方法は、いずれの装置で測定対象物の光沢評価値を算出しても、基準機で測定した場合の光沢評価値との差を軽減した評価値を算出できる。
　この出願は、２０１３年１１月１４日に出願された日本国特許出願特願２０１３－２３５９６７を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。
　本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および／または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。
　本発明によれば、光沢評価方法および光沢評価装置を提供できる。

Claims (7)

  1. 　測定対象物から得られる正反射光と拡散反射光とに基づいて前記測定対象物の光沢に関する評価値を求める光沢評価方法であって、
    　第１光源から分光放射照度Ｌ‘（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度ａから、前記第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる分散反射光の強度ｂと、第２光源から前記第１光源とは異なる照射角で前記測定対象物に所定の第２照射光を照射して得られる拡散反射光の分光反射率Ｒ（λ）とに基づいて、分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の強度Ｐを求める、
    　光沢評価方法。
  2. 　前記正反射光の強度Ｐは、前記正反射光の強度ａに、以下の式（１）で求められる分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の指標値Ｉと、以下の式（２）で求められる分光放射照度Ｌ’（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の指標値Ｉ’との比である係数Ｋをかけて求める、
    　請求項１の光沢評価方法。
    Ｉ＝ｃ∫Ｌ（λ）Ｓ（λ）ｄλ＋ｂ∫Ｌ（λ）Ｒ（λ）Ｓ（λ）ｄλ　　・・・（１）
    Ｉ’＝ｃ∫Ｌ’（λ）Ｓ（λ）ｄλ＋ｂ∫Ｌ’（λ）Ｒ（λ）Ｓ（λ）ｄλ　・・・（２）
    　Ｉ：分光放射照度Ｌ（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の指標値Ｉ
    　Ｉ’：分光放射照度Ｌ’（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光の指標値Ｉ’
    　Ｓ（λ）：前記測定対象物に照射して得られる正反射光を受光し、強度ａを測定する受光センサの受光感度
    　ｃ：分光放射照度Ｌ’（λ）の照射光を前記測定対象物に照射して得られる正反射光中のフレネル反射強度
  3. 　前記正反射光の強度ａは、第１光源から分光放射照度Ｌ‘（λ）の第１照射光を前記測定対象物に照射し、前記第１照射光に起因した前記測定対象物の正反射光を分光透過率Ｆ（λ）のフィルタを介して受光感度Ｓ（λ）の受光センサで受光して測定される、
    　請求項１または請求項２に記載の光沢評価方法。
  4. 　分光放射照度Ｌ‘（λ）は、前記測定対象物の光沢評価値を求める都度、測定される、
    　請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の光沢評価方法。
  5. 　分光放射照度Ｌ（λ）は、基準機の第１光源から照射される照射光の分光放射照度である、
    　請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の光沢評価方法。
  6. 　前記測定対象物の前記評価値は、前記正反射光の強度Ｐを、標準測定対象物の評価値で規格化して求める、
    　請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の光沢評価方法。
  7. 　測定対象物に分光感度Ｌ‘（λ）の光を照射する第１光源と、
    　前記第１光源とは異なる照射角で前記測定対象物に光を照射する第２光源と、
    　前記測定対象物から得られる前記第１光源の正反射光の強度ａを検出する分光感度Ｓ（λ）の第１検出部と、
    　前記測定対象物から得られる前記第２光源の拡散反射光の分光反射率Ｒ（λ）を検出する第２検出部と、
    　前記測定対象物から得られる前記第１光源の拡散反射光の強度ｂを検出する第３検出部と、
    　前記正反射光の強度ａから、前記分光反射率Ｒ（λ）と拡散反射光の強度ｂとに基づいて、第１光源が分光感度Ｌ（λ）の光を照射した場合に得られる正反射光の強度Ｐを算出する演算部とを備える、
    　光沢評価装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106990046B (zh) * 2017-04-21 2023-09-01 上海仪电物理光学仪器有限公司 一种多角度光泽度仪的光学***及其实现方法
JP7235039B2 (ja) * 2018-03-16 2023-03-08 コニカミノルタ株式会社 光沢色の色調定量化装置、光沢色の色調測定装置および光沢色の色調定量化方法
JP6867420B2 (ja) * 2019-01-21 2021-04-28 ファナック株式会社 工作機械、管理システムおよび工具劣化検出方法
DE102021113233A1 (de) 2021-05-21 2022-11-24 Byk-Gardner Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren von Oberflächen
DE102021122713A1 (de) * 2021-09-02 2023-03-02 Byk-Gardner Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Inspizieren von Oberflächen mit Wellenlängen-Analyse
CN114062235B (zh) * 2021-11-09 2022-11-29 四川科力特油气技术服务有限公司 一种含硫气体腐蚀高灵敏性评价装置和评价方法
JP2023091492A (ja) * 2021-12-20 2023-06-30 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH063135A (ja) * 1992-06-24 1994-01-11 Kawasaki Steel Corp 反射光強度補正方法
JPH1073487A (ja) * 1996-06-28 1998-03-17 Dainippon Screen Mfg Co Ltd カラー印刷物のシミュレーション方法およびシステム、並びに、その処理を実行するためのプログラムを記録した記録媒体
JP2004317131A (ja) * 2003-04-11 2004-11-11 Fuji Xerox Co Ltd 光沢評価方法および装置
JP2010243353A (ja) * 2009-04-07 2010-10-28 Ricoh Co Ltd 光沢感評価方法、光沢感評価装置、該装置を有する画像評価装置、画像評価方法および該方法を実行するためのプログラム

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5231472A (en) * 1991-09-16 1993-07-27 Ppg Industries, Inc. Color matching and characterization of surface coatings
US7763876B2 (en) * 2007-04-06 2010-07-27 Xerox Corporation Gloss and differential gloss measuring system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH063135A (ja) * 1992-06-24 1994-01-11 Kawasaki Steel Corp 反射光強度補正方法
JPH1073487A (ja) * 1996-06-28 1998-03-17 Dainippon Screen Mfg Co Ltd カラー印刷物のシミュレーション方法およびシステム、並びに、その処理を実行するためのプログラムを記録した記録媒体
JP2004317131A (ja) * 2003-04-11 2004-11-11 Fuji Xerox Co Ltd 光沢評価方法および装置
JP2010243353A (ja) * 2009-04-07 2010-10-28 Ricoh Co Ltd 光沢感評価方法、光沢感評価装置、該装置を有する画像評価装置、画像評価方法および該方法を実行するためのプログラム

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SHAFER S A ET AL.: "Using Color to Separate Reflection Components", COLOR RESEARCH AND APPLICATION, vol. 10, no. 4, 1985, pages 210 - 218 *
TAKEYUKI TANAKA: "Shin Coating Zairyo no Bussei to Hyoka Coating Maku no Hyomen Tokusei to Shikenho (2", TOSO GIJUTSU, vol. 41, no. 13, 1 December 2002 (2002-12-01), pages 103 - 106 *

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