WO2015003405A1 - 一种快速测试切换装置及相应的tft-lcd阵列基板 - Google Patents

一种快速测试切换装置及相应的tft-lcd阵列基板 Download PDF

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WO2015003405A1
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tft
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吕启标
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深圳市华星光电技术有限公司
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    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing

Definitions

  • a fast test switching device and corresponding TFT-LCD array substrate The application is submitted to the Chinese Patent Office on July 10, 2013, and the application number is 201310288811.1.
  • the invention name is "a fast test switching device and a corresponding TFT-LCD.
  • the present invention relates to a Thin Film Transistor Liquid Crystal Display (TFT-LCD) technology, and more particularly to a fast test switching device and a corresponding TFT-LCD array substrate.
  • TFT-LCD Thin Film Transistor Liquid Crystal Display
  • the TFT-LCD panel needs to detect the internal circuit during the production process, and find the problem and repair it in time. This process is called the Cell Test.
  • the most widely used panel test method is to introduce a Shorting Bar design under the Gate Bonding Pad and the Source Bonding Pad. After the panel test is finished, the panel test will be The test leads are cut by Laser Cut.
  • this test circuit is designed with a test stick, which is expensive and requires a large space on the panel. There is no way to realize the narrow frame design of the panel. For example, in a 46-inch TFT-LCD, the space required for testing the short bars and laser cutting is 630 ⁇ m.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a fast test switching device and a corresponding TFT-LCD array substrate, which is advantageous for narrowing the edge of the liquid crystal panel and avoiding signal interference that occurs when the liquid crystal panel is in normal use.
  • an aspect of an embodiment of the present invention provides a TFT-LCD array substrate including a display area and a peripheral area located at a periphery of the display area, and a display area is provided with a gate connecting the TFT units inside thereof Line and data lines, the peripheral area is set with:
  • a plurality of data test lines are respectively used for transmitting data test signals to each data line in the display area; a plurality of gate line test lines are respectively used for transmitting gate line test signals to each gate line in the display area; a common electrode line for providing a common electrode to each TFT unit in the display area; wherein, each data test line and each gate line test line are provided with a fast test switching device, and the fast test switching device is used for external Under the control of the switching control signal, the data test line and the gate line test line are turned on or off from the display area.
  • the method further includes: a control chip coupled to the fast test switching device for transmitting a shutdown control signal to the fast test switching device to cause the fast test switching device to be in an off state.
  • the control signal sent by the control chip is a low level signal or a ground signal.
  • the quick test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to the control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block, or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or a gate test line
  • the drain is connected to the corresponding data line or gate line of the display area.
  • the quick test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to the control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block, or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or a gate test line;
  • the second switching TFT has a gate connected to the gate of the first switching TFT, a source connected to the drain of the first switching TFT, and a drain connected to the corresponding data line or gate line of the display area.
  • the quick test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to the control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block, or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or a gate test line;
  • a second switching TFT having a gate connected to the gate of the first switching TFT and a source connected to the drain of the first switching TFT
  • the third switching TFT has a gate connected to the gate of the second switching TFT, a source connected to the drain of the first switching TFT, and a drain connected to the corresponding data line or gate line of the display area.
  • the gate and the drain of each switching TFT are turned on, and the data test signal or/and the gate test is sent to the display area. a signal; when the first switching TFT receives the switching control signal from the test block as the second power When the signal is flat, the gate and the drain of each switching TFT are turned off, and the data test signal or/and the gate test signal are stopped from being sent to the display area; when the first switching TFT receives the shutdown control signal from the control chip, each switching The gate and drain of the TFT are turned off.
  • a TFT-LCD array substrate includes a display area and a peripheral area located at a periphery of the display area, and each of the display area is provided with a connecting inner portion thereof.
  • a peripheral area is provided with:
  • a plurality of data test lines respectively for transmitting data test signals to each data line in the display area
  • a plurality of gate line test lines respectively for transmitting gate line test signals to each gate line in the display area
  • a common electrode line for Providing a common electrode to each TFT unit in the display area
  • control chip coupled to the fast test switching device, for transmitting a shutdown control signal to the fast test switching device to cause the fast test switching device to be in a closed state
  • a fast test switching device is disposed on each of the data test lines and each of the gate line test lines, and the fast test switching device is configured to control the data test line and the gate line test line under the control of an external switching control signal
  • the display area is turned on or off.
  • the control signal sent by the control chip is a low level signal or a ground signal.
  • the quick test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to the control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or a gate test line, Its drain is connected to a corresponding data line or gate line of the display area.
  • the gate and the drain of the first switching TFT are turned on, and the data test is sent to the display area.
  • a signal or/and a gate test signal when the first switching TFT receives the switching control signal from the test block as a second level signal, the gate and drain of the first switching TFT are turned off, stopping
  • the display area transmits a data test signal or/and a gate test signal; when the first switching TFT receives a turn-off control signal from the control chip, the gate and drain of the first switching TFT are turned off.
  • the fast test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to the control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source connection a data test line or gate test line;
  • a second switching TFT having a gate connected to a gate of the first switching TFT, a source connected to a drain of the first switching TFT, and a drain connected to a corresponding data line or a gate line of the display area.
  • the display area sends a data test signal or/and a gate test signal; when the first switching TFT receives the switching control signal from the test block as a second level signal, then the first switching TFT and the Stopping the gate and the drain of the second switching TFT, stopping transmitting the data test signal or/and the gate test signal to the display area; when the first switching TFT receives the shutdown control signal from the control chip, The gate and the drain of the first switching TFT and the second switching TFT are turned off.
  • the fast test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to the control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or Gate test line;
  • a second switching TFT having a gate connected to a gate of the first switching TFT and a source connected to a drain of the first switching TFT;
  • the third switching TFT has a gate connected to the gate of the second switching TFT, a source connected to the drain of the first switching TFT, and a drain connected to a corresponding data line or gate line of the display area.
  • the gate and the drain of each switching TFT are turned on, and the data test signal is sent to the display area or And a gate test signal;
  • the gate and drain of each switching TFT are turned off, and stopping to the display area Sending a data test signal or/and a gate test signal;
  • the first switching TFT receives a turn-off control signal from the control chip, the gate and drain of each of the switching TFTs are turned off.
  • a fast test switching device is further disposed on a TFT-LCD P train substrate for switching signals for testing a display area of the TFT-LCD array substrate. At least include:
  • a first switching TFT having a gate connected to a control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data measurement
  • a test line or gate test line whose drain is connected to a corresponding data line or gate line of the display area.
  • a second switching TFT disposed between the first switching TFT and the display region, the gate of which is connected to the gate of the first switching TFT, the source of which is connected to the drain of the first switching TFT, and the drain of which is connected to the corresponding of the display region Data line or grid line.
  • a third switching TFT disposed between the second switching TFT and the display region, the gate of which is connected to the gate of the second switching TFT, the source of which is connected to the drain of the second switching TFT, and the drain of which is connected to the corresponding region of the display region Data line or grid line.
  • the gate and the drain of each switching TFT are turned on, and the data test signal or/and the gate test is sent to the display area. a signal; when the first switching TFT receives the switching control signal from the test block as the second level signal, the gate and drain of each switching TFT are turned off, and stopping transmitting the data test signal or/and the gate test to the display area Signal; when the first switching TFT receives the off control signal from the control chip, the gate and drain of each switching TFT are turned off.
  • a fast test switching device including a switching TFT is used in the TFT-LCD array substrate, which can reduce the space occupied by the test trace, and is advantageous for narrowing the edge of the liquid crystal panel;
  • the control chip can send a shutdown control signal to the fast test switching device, so that all the fast test switching devices are in a normally closed state during normal use of the liquid crystal panel including the TFT-LCD array substrate;
  • the use of two or more switching TFTs in the fast test switching device can prevent the data line or the gate line of the display area caused by the failure of a switching TFT during normal use of the liquid crystal panel including the TFT-LCD array substrate. In the case of a short circuit, crosstalk can be avoided, and the yield of the TFT-LCD array substrate can be improved.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of an embodiment of a TFT-LCD array substrate according to the present invention
  • FIG. 2 is a schematic structural view of another embodiment of a TFT-LCD array substrate according to the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic structural view of an embodiment of a quick test switching device according to the present invention.
  • FIG. 4 is a schematic structural view of another embodiment of a quick test switching device according to the present invention.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of an embodiment of a TFT-LCD array substrate according to the present invention.
  • the TFT-LCD array substrate includes a display area and a peripheral area located at a periphery of the display area.
  • the display area is provided with gate lines and data lines connecting the TFT units inside thereof, specifically, a plurality of mutually perpendicular data lines and gate lines are provided, and one TFT unit is connected at the intersection of each of the data lines and the gate lines
  • Each TFT unit includes a TFT, a liquid crystal capacitor, and a storage capacitor.
  • the source of the TFT in each TFT unit is connected to the data line, and the gate thereof is connected to the gate line. Since the data lines, the gate lines, and the TFT unit in the display area of the TFT-LCD array substrate are generally designed, Specific details are not shown in FIG. 1;
  • peripheral area is provided with:
  • a plurality of data test lines are respectively used to send data test signals to each data line in the display area.
  • six data test lines are shown, specifically R ODD data test lines and G EVEN data test in the figure.
  • a plurality of gate line test lines are respectively used for transmitting gate line test signals to each gate line in the display area, and four gate test lines are shown in FIG. 1, specifically D-1 gate line test lines in the figure. , D-2 gate line test line, D-3 grid line test line and D-4 grid line test line;
  • a common electrode line for providing a common electrode to each TFT unit in the display area, specifically an A-Com common electrode line in the figure;
  • a fast test switching device is provided on each data test line and each gate line test line.
  • the fast test switching device is configured to control the conduction or disconnection of the data test line and the gate line test line and the display area under the control of the external switching control signal.
  • test block (indicated by a small square) is provided at the beginning of each test line, and the test line is made of a metal material, in the TFT-LCD array.
  • an external signal can be transmitted to the test block by the pin, that is, the external test signal and the switching control signal are transmitted to the test block through the needle, and then transmitted to the test line.
  • the fast test switching device includes:
  • a first switching TFT (indicated by T1 in the figure), the gate of which is connected to a control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source thereof
  • a data test line or a gate test line is connected, and a drain thereof is connected to a corresponding data line or gate line of the display area.
  • the gate thereof is connected to the control chip (gate IC) and a test block, and the source thereof is connected to the data test line, and the drain thereof is connected to The corresponding data line of the display area, it can be understood that, in other embodiments, the source and the drain of the first switching TFT can be reversed; when testing, the first switching TFT receives from the test block.
  • Switching control signal for turning on or off the drain and drain to test the display area; after the test is completed, in the case that the panel is normally displayed, the first need to be made
  • the switching TFT is in a normally closed state, so as to prevent the data line connected to the data test line from being short-circuited by the data test line due to the conduction of the first switching TFT. At this time, the first switching TFT needs to receive from the data.
  • the shutdown control signal of the control chip controls the first switching TFT to be in a normally closed state.
  • the gate thereof is connected to the control chip (source IC) and a test block, and the source thereof is connected to the gate test line, and the drain thereof is connected
  • the corresponding gate line of the display area it can be understood that, in other embodiments, the source and the drain of the first switching TFT can be reversed; when testing, the first switching TFT receives from the test block.
  • Switching control signal G-Switch
  • G-Switch Switching control signal
  • the first switching TFT needs to be in a normally closed state, so as to prevent a plurality of gate lines connected to the gate test line in the display area, and the gate electrode is generated by the gate test line due to the conduction of the first switching TFT.
  • the first switching TFT needs to receive a shutdown control signal from the control chip, and controls the first switching TFT to be in a normally closed state.
  • the switching control signal (D_Switch or G-Switch) from the test block is a first level signal (such as a high level)
  • the first switching TFT The gate and the drain are turned on to transmit a data test signal or/and a gate test signal to the display area
  • the switching control signal from the test block is a second level signal (such as a low level)
  • the first Switching the gate and drain of the TFT to be turned off, and stopping transmitting the data test signal or/and the gate test signal to the display area
  • the control chip After the test of the TFT-LCD array substrate is completed, in a normal use phase, the control chip sends a shutdown control signal to the first switching TFT to turn off the gate and drain of the first switching TFT to be in a normally closed state.
  • the shutdown control signal can be a low level signal (or a ground signal).
  • the space beside the display area can be fully utilized, and the space occupied by the display area is small, so that the test short rod is specially set in the prior art. And the space required for laser cutting of the traces, and the step of laser cutting is also omitted.
  • the TFT-LCD array substrate can be quickly tested, and after the test is completed, The status of the shutdown.
  • the control chip sends a shutdown control signal to the fast test switching device, so that the fast test switching device can be in a normally closed state, and each test line is disconnected from the display area, thereby preventing the display area.
  • a short circuit occurs between the data lines or the gate lines.
  • each of the fast test switching devices employs two switching TFTs.
  • the quick test switching device includes:
  • a first switching TFT (indicated by T1 in the figure), a gate connected to the control chip and a test block, configured to receive a switching control signal from the test block, or a shutdown control signal from the control chip, the source is connected to a data Test line or gate test line;
  • a second switching TFT (indicated by T2 in the figure), the gate of which is connected to the gate of the first switching TFT,
  • the source is connected to the drain of the first switching TFT, and the drain thereof is connected to the corresponding data line or gate line of the display area.
  • the gate of the first switching TFT is connected to the control chip (gate IC) and the test block, and the first switching TFT can receive the switching control signal from the test block (D — Switch ), or receiving a shutdown control signal from the control chip, the source of which is connected to the data test line; the gate of the second switching TFT is connected to the gate of the first switching TFT, and the source thereof is connected to the drain of the first switching TFT The drain is connected to the corresponding data line of the display area. It can be understood that in other embodiments, the source and the drain of the first switching TFT can be reversed.
  • the gate of the first switching TFT is connected to the control chip (source IC) and the test block, and the first switching TFT can receive the switching control signal (G-Switch) from the test block.
  • the first switching TFT can receive the switching control signal (G-Switch) from the test block.
  • the switching control signal (D_Switch or G-Switch) from the test block is a first level signal (such as a high level)
  • the first switching TFT And the gate and the drain of the second switching TFT are turned on, thereby transmitting a data test signal or/and a gate test signal to the display area
  • the switching control signal from the test block is a second level signal (such as a low level)
  • the gate and the drain of the first switching TFT and the second switching TFT are turned off, the transmission of the data test signal or/and the gate test signal to the display area is stopped.
  • the control chip After the test of the TFT-LCD array substrate is completed, in a normal use phase, the control chip sends a shutdown control signal to the first switching TFT and the second switching TFT to make the gate and the drain of the first switching TFT and the second switching TFT.
  • the off control is in a normally closed state.
  • the off control signal may be a low level signal (or a ground signal).
  • more than two switching TFTs such as three switching TFTs, may be used in the fast test switching device.
  • a switching TFT in the fast test switching device often has a large risk of leakage (for example, the switching TFT fails), and after the fast test ends, the In the case where the panel of the TFT-LCD array substrate is normally used, if a certain switching TFT fails (for example, it is always in an on state), the same test line (gate test line/data test line) is connected. A plurality of gate lines or data lines on the upper side may cause a short circuit, which may cause signals to interfere with each other in the TFT-LCD array substrate.
  • using two or more switching TFTs in the fast test switching device can prevent the occurrence of crosstalk between adjacent signal lines, because in the normal use of the panel, even in a fast test switching device, a switch If the TFT is leaky, the other switching TFT can still ensure that the fast test switching device is in a closed state, preventing the short circuit of the gate line or the data line; and in all the fast test switching devices, all the switching TFTs are simultaneously leaking.
  • the probability is very small, so this structure can greatly reduce the risk of leakage, thereby improving the yield of the TFT-LCD array substrate.
  • the present invention also provides a quick test switching device.
  • the fast test switching device is disposed on a TFT-LCD array substrate for switching signals for testing the display area of the TFT-LCD array substrate, and the method includes at least:
  • control chip for generating and transmitting a switching control signal
  • a first switching TFT having a gate connected to a control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or a gate test line And its drain is connected to a corresponding data line or gate line of the display area.
  • FIG. 3 it is a schematic diagram of an embodiment of a fast test switching device in a TFT-LCD array substrate according to the present invention. It can be seen that, in this embodiment, the fast test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to a control chip and a test block for receiving a switching control signal from the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source being connected to a data test line or gate Pole test line;
  • the second switching TFT has a gate connected to the gate of the first switching TFT, a source connected to the drain of the first switching TFT, and a drain connected to the corresponding data line or gate line of the display area.
  • FIG. 4 it is a schematic diagram of another embodiment of a fast test switching device in a TFT-LCD array substrate according to the present invention. It can be seen that, in this embodiment, the fast test switching device includes:
  • a first switching TFT having a gate connected to a control chip and a test block for receiving from the a switching control signal of the test block or a shutdown control signal from the control chip, the source of which is connected to a data test line or a gate test line;
  • a second switching TFT having a gate connected to a gate of the first switching TFT and a source connected to a drain of the first switching TFT;
  • the third switching TFT has a gate connected to the gate of the second switching TFT, a source connected to the drain of the second switching TFT, and a drain connected to the corresponding data line or gate line of the display area.
  • the gate and the drain of each switching TFT are turned on, and the data test signal is sent to the display area or And a gate test signal;
  • the gate and drain of each switching TFT are turned off, and the display is stopped
  • the area transmits a data test signal or/and a gate test signal;
  • the first switching TFT receives a turn-off control signal from the control chip, the gate and drain of each of the switching TFTs are turned off.
  • the fast test switching device including the switching TFT is used in the TFT-LCD array substrate, the space occupied by the test trace can be reduced, and the narrowing of the liquid crystal panel is favored.
  • the control chip can send a shutdown control signal to the fast test switching device, so that all the fast test switching devices are in a normally closed state during normal use of the liquid crystal panel including the TFT-LCD array substrate.
  • the use of two or more switching TFTs in the fast test switching device can prevent the data line or the gate line of the display area caused by the failure of a switching TFT during normal use of the liquid crystal panel including the TFT-LCD array substrate. In the case of a short circuit, crosstalk can be avoided, and the yield of the TFT-LCD array substrate can be improved.

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Abstract

公开了一种快速测试切换装置，设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，至少包括：第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。还公开了一种相应的TFT-LCD阵列基板。有利于液晶面板窄边化，且可以提高TFT-LCD阵列基板的良率。

Description

一种快速测试切换装置及相应的 TFT-LCD阵列基板 本申请要求于 2013 年 7 月 10 日提交中国专利局、 申请号为 201310288811.1、发明名称为 "一种快速测试切换装置及相应的 TFT-LCD阵 列基板" 的中国专利申请的优先权， 上述专利的全部内容通过引用结合在本 申请中。 技术领域
本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器（ Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, TFT-LCD )技术，特别涉及一种快速测试切换装置及相应的 TFT-LCD 阵列基板。
背景技术
TFT-LCD面板在生产过程中需要对内部线路进行检测，及时发现问题并 修复， 该过程称为面板测试过程 ( Cell Test )。 目前比较广泛应用的面板测试 方式是， 在栅极焊接区 （ Gate Bonding Pad )和源极焊接区 （ Source Bonding Pad ) 下方引入测试短棒（Shorting Bar ) 的设计， 在面板测试结束后， 将该 测试短棒的走线采用激光切割 （Laser Cut )的方式切断， 但是这种测试电路 由于设计了测试短棒， 费用高且在面板上需要占用较大的空间， 没办法实现 面板的窄边框设计， 例如在一种 46寸的 TFT-LCD中， 其中， 测试短棒及激 光切割所需的走线所占的空间为 630μιη。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于，提供一种快速测试切换装置及相应的 TFT-LCD阵列基板，有利于实现液晶面板的窄边化，且能避免液晶面板在正 常使用时出现的信号干扰。
为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供了一种 TFT-LCD 阵列基板， 包括显示区和位于显示区***的***区域， 显示区内设置有连接 其内部的各 TFT单元的栅线和数据线， ***区域内设置有：
多条数据测试线， 分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号； 多条栅线测试线， 分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号； 公共电极线， 用于向显示区中各 TFT单元提供公共电极； 其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装 置， 快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下， 控制数据测试 线及栅线测试线与显示区的导通或切断。
其中， 进一步包括： 控制芯片， 其与快速测试切换装置相连， 用于向快 速测试切换装置发送一关闭控制信号， 以使快速测试切换装置处于关闭状 态。
其中， 控制芯片述所发送的关闭控制信号为一低电平信号或接地信号。 其中， 快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接控制芯片及一测试块， 用于接收来自测试块 切的切换控制信号， 或来自控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一数据测 试线或栅极测试线， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。
其中， 快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接控制芯片及一测试块， 用于接收来自测试块 的切换控制信号， 或来自控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一数据测试 线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接第一切换 TFT的栅极， 其源极连接第一切 换 TFT的漏极， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。
其中， 快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接控制芯片及一测试块， 用于接收来自测试块 的切换控制信号， 或来自控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一数据测试 线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接第一切换 TFT的栅极， 其源极连接第一切 换 TFT的漏极，
第三切换 TFT, 其栅极连接第二切换 TFT的栅极， 其源极连接第一切 换 TFT的漏极， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。
其中，当第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信 号时， 则各切换 TFT的栅极和漏极导通， 向显示区发送数据测试信号或 /及 栅极测试信号；当第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电 平信号时，则各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向显示区发送数据测试信 号或 /及栅极测试信号； 当第一切换 TFT接收到来自控制芯片的关闭控制信 号， 则各切换 TFT的栅极和漏极截止。
本应地， 本发明实施例的另一方面， 还提供一种 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区和位于显示区***的***区域，显示区内设置有连接其内部的各
TFT单元的栅线和数据线， 其中， ***区域内设置有：
多条数据测试线， 分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号； 多条栅线测试线， 分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号； 公共电极线， 用于向显示区中各 TFT单元提供公共电极；
控制芯片， 其与快速测试切换装置相连， 用于向快速测试切换装置发送 一关闭控制信号， 以使快速测试切换装置处于关闭状态；
其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装 置， 快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下， 控制数据测试 线及栅线测试线与显示区的导通或切断。
其中， 控制芯片述所发送的关闭控制信号为一低电平信号或接地信号。 其中， 快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接控制芯片及一测试块， 用于接收来自测试块 切的切换控制信号或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试 线或栅极测试线， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。
其中，当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电 平信号时，则所述第一切换 TFT的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据 测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切 换控制信号为第二电平信号时，则所述第一切换 TFT的栅极和漏极截止，停 止向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号；当所述第一切换 TFT 接收到来自所述控制芯片的关闭控制信号，则所述第一切换 TFT的栅极和漏 极截止。
其中， 所述快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接 一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
其中，当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电 平信号时， 则所述第一切换 TFT及所述第二切换 TFT的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT 接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则所述第一切换 TFT 及所述第二切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信 号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自所述控制芯片的关 闭控制信号，则所述第一切换 TFT及所述第二切换 TFT的栅极和漏极截止。
其中， 所述快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接 一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极，
第三切换 TFT, 其栅极连接所述第二切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
其中，当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电 平信号时，则各切换 TFT的栅极和漏极导通，向所述显示区发送数据测试信 号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制 信号为第二电平信号时，则所述各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所述 显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到 来自所述控制芯片的关闭控制信号， 则所述各切换 TFT的栅极和漏极截止。
相应地， 本发明实施例的再一方面， 还提供一种快速测试切换装置， 设 置于一 TFT-LCD P车列基板上，用于切换对 TFT-LCD阵列基板的显示区进行 测试的信号， 至少包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接一控制芯片及一测试块， 用于接收来自测试 块的切换控制信号， 或来自控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一数据测 试线或栅极测试线， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。 其中， 进一步包括：
设置于第一切换 TFT与显示区之间的第二切换 TFT, 其栅极连接第一 切换 TFT的栅极， 其源极连接第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接显示区的 对应的数据线或栅线。
其中， 进一步包括：
设置于第二切换 TFT与显示区之间的第三切换 TFT, 其栅极连接第二 切换 TFT的栅极， 其源极连接第二切换 TFT的漏极， 其漏极连接显示区的 对应的数据线或栅线。
其中，当第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信 号时， 则各切换 TFT的栅极和漏极导通， 向显示区发送数据测试信号或 /及 栅极测试信号；当第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电 平信号时，则各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向显示区发送数据测试信 号或 /及栅极测试信号； 当第一切换 TFT接收到来自控制芯片的关闭控制信 号， 则各切换 TFT的栅极和漏极截止。
实施本发明实施例， 具有如下有益效果：
根据本发明的实施例， 在 TFT-LCD阵列基板采用包含有切换 TFT的快 速测试切换装置， 可以减少测试走线所占用的空间， 有利有液晶面板的窄边 化；
控制芯片可以向快速测试切换装置发送关闭控制信号， 从而使包含有 TFT-LCD阵列基板的液晶面板在正常使用过程中，使所有的快速测试切换装 置处于常闭状态；
在快速测试切换装置中采用二个或以上的切换 TFT, 可以防止包含有 TFT-LCD阵列基板的液晶面板在正常使用过程中， 由于某个切换 TFT失效 而导致的显示区的数据线或栅线出现短路的情形， 可以避免串扰情形的出 现， 从而可以提高 TFT-LCD阵列基板的良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案， 下面将对实 施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面 描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还可以根据这些附图获得其它的附图。
图 1是根据本发明一种 TFT-LCD阵列基板的一个实施例的结构示意图； 图 2是根据本发明一种 TFT-LCD阵列基板的另一个实施例的结构示意 图；
图 3是根据本发明一种快速测试切换装置的一个实施例的结构示意图； 图 4是根据本发明一种快速测试切换装置的另一个实施例的结构示意 图。
具体实施方式
下面参考附图对本发明的优选实施例进行描述。
如图 1所示， 是本发明一种 TFT-LCD阵列基板的一个实施例的结构示 意图； 在本实施例中， 该 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区和位于所述显示 区***的***区域，其中显示区内设置有连接其内部的各 TFT单元的栅线和 数据线， 具体地， 设置有多条相互垂直的数据线和栅线， 每条数据线和栅线 交叉处连接一个 TFT单元， 每个 TFT单元包括有 TFT、 液晶电容和存储电 容。 每个 TFT单元中的 TFT的源极连接该数据线， 其栅极连接该栅线， 由 于 TFT-LCD阵列基板的显示区中的数据线、栅线以及 TFT单元的设置为常 用设计， 故在图 1中未示出具体的细节 ；
其中， 所述***区域内设置有：
多条数据测试线， 分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号， 在 图 1中示出了 6条数据测试线，具体地为图中的 R ODD数据测试线、 G EVEN 数据测试线、 B ODD数据测试线、 R EVEN数据测试线、 G ODD数据测试 线以及 B EVEN数据测试线， 分别对应于红绿蓝 R/G/B信号端的测试；
多条栅线测试线， 分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号， 在图 1中示出了 4条栅极测试线， 具体地为图中的 D-1栅线测试线、 D-2栅线测 试线、 D-3栅线测试线以及 D-4栅线测试线；
公共电极线，用于向显示区中各 TFT单元提供公共电极，具体地为图中 的 A— Com公共电极线；
其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装 置， 该快速测试切换装置用于在外部切换控制信号的控制下， 控制数据测试 线及栅线测试线与显示区的导通或切断。
具体地，从图中可以看出，在每条测试线的起端均设置有一个测试块（图 中以小方块标示）， 其和测试线均为金属材质制成， 在对 TFT-LCD阵列基板 进行测试时， 通过扎针可以将外部的信号传送到该测试块上， 即外部的测试 信号以及切换控制信号均通针传输到测试块上， 然后传送到测试线上。
具体地， 在本实施例中， 该快速测试切换装置包括：
第一切换 TFT (图中用 T1标示）， 其栅极连接一控制芯片及一测试块， 用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制 信号， 其源极连接一数据测试线或栅极测试线， 其漏极连接所述显示区的对 应的数据线或栅线。
具体地， 当该第一切换 TFT设置于数据测试线上时，其栅极与控制芯片 (栅极 IC )以及一测试块相连接， 其源极连接在数据测试线上， 其漏极连接 在显示区的对应的数据线上， 可以理解的是， 在其他的实施例中， 该第一切 换 TFT的源极与漏极可以对调； 在进行测试时， 该第一切换 TFT从测试块 处接收切换控制信号 （D— Switch ), 用于使其漏极和漏极导通或关闭， 以实 现对显示区的测试； 在测试完成后， 在该面板正常显示的情况下， 需要使该 第一切换 TFT处于常闭的状态， 以免使连接在该数据测试线上的数据线， 由 于第一切换 TFT的导通而通过数据测试线产生短路的情形，此时，该第一切 换 TFT需要接收来自控制芯片的关闭控制信号， 控制该第一切换 TFT处于 常闭状态。
当该第一切换 TFT设置于栅极测试线上时， 其栅极与控制芯片 （源极 IC ), 以及一测试块相连接， 其源极连接在栅极测试线上， 其漏极连接在显 示区的对应的栅线上， 可以理解的是， 在其他的实施例中， 该第一切换 TFT 的源极与漏极可以对调；在进行测试时，该第一切换 TFT从测试块处接收切 换控制信号 （G— Switch ), 用于使其漏极和漏极导通或关闭， 以实现对显示 区的测试； 在测试完成后， 在包含有该 TFT-LCD阵列基板的面板正常使用 的情况下，需要使该第一切换 TFT处于常闭的状态， 以免使显示区中连接在 该栅极测试线上多条栅线，由于第一切换 TFT的导通而通过栅极测试线产生 短路的情形，此时，该第一切换 TFT需要接收来自控制芯片的关闭控制信号， 控制该第一切换 TFT处于常闭状态。
其中， 在对 TFT-LCD阵列基板进行测试的阶段， 当来自测试块的切换 控制信号 （D— Switch或 G— Switch ) 为第一电平信号 （如高电平） 时， 则第 一切换 TFT的栅极和漏极导通， 从而向显示区发送数据测试信号或 /及栅极 测试信号； 当来自测试块的切换控制信号为第二电平信号 （如低电平） 时， 则第一切换 TFT的栅极和漏极截止， 停止向显示区发送数据测试信号或 /及 栅极测试信号；
在对 TFT-LCD阵列基板测试完成后， 处于正常使用的阶段， 控制芯片 向第一切换 TFT发送关闭控制信号， 使第一切换 TFT的栅极和漏极截止， 使其处于常闭状态，在实际实施例中，该关闭控制信号可以为低电平信号（或 接地信号）。
这样， 通过在 TFT-LCD阵列基板中采用快速测试切换装置的设计， 可 以充分利用显示区旁的空间， 在具体实现时， 其占用的空间艮小， 从而避免 现有技术中专门设置测试短棒及激光切割走线所需的空间， 并且还省去了激 光切割的步骤。 在本实施例中， 只要通过测试块发送的控制切换信号电平的 高低， 以及向各测试线发送相应的测试信号， 即可以实现对 TFT-LCD阵列 基板的快速测试， 并在测试完毕后于关闭的状态。 并在 TFT-LCD阵列基板 正常使用时， 通过控制芯片向快速测试切换装置发送关闭控制信号， 从而可 以使快速测试切换装置处于常闭状态， 使各测试线与显示区断开， 从而防止 显示区中的数据线或栅线之间出现短路的情形。
如图 2所示， 是本发明一种 TFT-LCD阵列基板的另一个实施例的结构 示意图； 在本实施例中， 其与图 1中示出的实施例的区别在于， 该 TFT-LCD 阵列基板中， 每个快速测试切换装置采用两个切换 TFT。 具体地， 该快速测 试切换装置包括：
第一切换 TFT (图中以 T1标示）， 其栅极连接控制芯片及一测试块， 用 于接收来自测试块切的切换控制信号， 或来自控制芯片的关闭控制信号， 其 源极连接一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT (图中用 T2标示）， 其栅极连接第一切换 TFT的栅极， 其源极连接第一切换 TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或 栅线。
具体地， 当该快速测试切换装置设置于数据测试线上时， 第一切换 TFT 的栅极连接控制芯片 （栅极 IC )及测试块， 第一切换 TFT可以从测试块接 收切换控制信号 （D— Switch ), 或从控制芯片接收关闭控制信号， 其源极连 接在数据测试线上； 第二切换 TFT的栅极连接第一切换 TFT的栅极， 其源 极连接第一切换 TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线，可以 理解的是， 在其他的实施例中， 该第一切换 TFT的源极与漏极可以对调。
当该快速测试切换装置设置于数据测试线上时，第一切换 TFT的栅极连 接控制芯片 （源极 IC )及测试块， 第一切换 TFT可以从测试块接收切换控 制信号 （G— Switch ), 或从控制芯片接收关闭控制信号， 其源极连接在栅极 测试线上； 第二切换 TFT的栅极连接第一切换 TFT的栅极， 其源极连接第 一切换 TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的栅线上，可以理解的是， 在其他的实施例中， 该第一切换 TFT和第二切换 TFT的源极与漏极均可以 对调。
其中， 在对 TFT-LCD阵列基板进行测试的阶段， 当来自测试块的切换 控制信号 （D— Switch或 G— Switch ) 为第一电平信号 （如高电平） 时， 则第 一切换 TFT及第二切换 TFT的栅极和漏极导通， 从而向显示区发送数据测 试信号或 /及栅极测试信号； 当来自测试块的切换控制信号为第二电平信号 (如低电平 ) 时， 则第一切换 TFT及第二切换 TFT的栅极和漏极截止， 停 止向显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号。
在对 TFT-LCD阵列基板测试完成后， 处于正常使用的阶段， 控制芯片 向第一切换 TFT及第二切换 TFT发送关闭控制信号， 使第一切换 TFT及第 二切换 TFT的栅极和漏极截止， 使其处于常闭状态， 在实际实施例中， 该关 闭控制信号可以为低电平信号 （或接地信号）。
可以理解的是， 在本发明的其他实施例中， 该快速测试切换装置中可以 采用二个以上的切换 TFT, 如三个切换 TFT。
可以理解的是，在快速测试切换装置中采用一个切换 TFT往往存在很大 的漏电风险（例如该切换 TFT失效了）， 则在快速测试结束后， 在包含有该 TFT-LCD阵列基板的面板正常使用的情况下， 如果某个第一切换 TFT失效 (例如其一直处于导通状态）， 则会使与连接在同一测试线（栅极测试线 /数 据测试线）上的多个栅线或数据线会产生短路的情形， 这样会使 TFT-LCD 阵列基板中出现信号相互干扰的状况。故在快速测试切换装置中采用两个或 两个以上的切换 TFT, 可以防止相邻的信号线之间发生串扰情形的出现， 因 为在面板正常使用时， 即使在快速测试切换装置中某个切换 TFT发生漏电， 则另外的切换 TFT仍可以保证该快速测试切换装置处于闭合的状态，防止导 致栅线或数据线出现短路的情形； 且在一个快速测试切换装置中所有的切换 TFT 同时发生漏电的概率是非常小的， 故这种结构可以大大降低漏电的风 险， 从而可以提高 TFT-LCD阵列基板的良率。
相应地， 本发明还提供了一种快速测试切换装置。 在一个实施例中， 该 快速测试切换装置设置于一 TFT-LCD 阵列基板上， 用于切换对所述 TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号， 其至少包括：
控制芯片， 用于产生并发送切换控制信号；
第一切换 TFT, 其栅极连接一控制芯片及一测试块， 用于接收来自测试 块的切换控制信号， 或来自控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一数据测 试线或栅极测试线， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
如图 3所示， 是本发明一种 TFT-LCD阵列基板中的快速测试切换装置 一个实施例的示意图； 从中可以看出， 在该实施例中， 该快速测试切换装置 包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接一控制芯片及一测试块， 用于接收来自所述 测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一 数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接第一切换 TFT的栅极， 其源极连接第一切 换 TFT的漏极， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。
如图 4所示， 是本发明一种 TFT-LCD阵列基板中的快速测试切换装置 另一个实施例的示意图， 从中可以看出， 在该实施例中， 该快速测试切换装 置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接一控制芯片及一测试块， 用于接收来自所述 测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一 数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接述第 一切换 TFT的漏极；
第三切换 TFT, 其栅极连接第二切换 TFT的栅极， 其源极连接第二切 换 TFT的漏极， 其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。
具体地，当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一 电平信号时，则各切换 TFT的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试 信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控 制信号为第二电平信号时，则所述各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所 述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收 到来自所述控制芯片的关闭控制信号， 则所述各切换 TFT 的栅极和漏极截 止。
更多的细节， 可参见前述对图 1和图 2的描述。
实施本发明实施例， 具有如下有益效果：
根据本发明的实施例， 在 TFT-LCD阵列基板采用包含有切换 TFT的快 速测试切换装置， 可以减少测试走线所占用的空间， 有利有液晶面板的窄边 化。
控制芯片可以向快速测试切换装置发送关闭控制信号， 从而使包含有 TFT-LCD阵列基板的液晶面板在正常使用过程中，使所有的快速测试切换装 置处于常闭状态。
在快速测试切换装置中采用二个或以上的切换 TFT, 可以防止包含有 TFT-LCD阵列基板的液晶面板在正常使用过程中， 由于某个切换 TFT失效 而导致的显示区的数据线或栅线出现短路的情形， 可以避免串扰情形的出 现， 从而可以提高 TFT-LCD阵列基板的良率。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已， 当然不能以此来限定本发明 之权利范围， 因此等同变化， 仍属本发明所涵盖的范围。

Claims

权 利 要 求
1、 一种 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区和位于所述显示区***的*** 区域，所述显示区内设置有连接其内部的各 TFT单元的栅线和数据线，其中 , 所述***区域内设置有：
多条数据测试线， 分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号； 多条栅线测试线， 分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号； 公共电极线， 用于向显示区中各 TFT单元提供公共电极；
其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装 置， 所述快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下， 控制所述 数据测试线及栅线测试线与所述显示区的导通或切断。
2、 如权利要求 1所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 进一步包括： 控制芯片， 其与所述快速测试切换装置相连， 用于向所述快速测试切换 装置发送一关闭控制信号， 以使所述快速测试切换装置处于关闭状态。
3、 如权利要求 2所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述控制芯片述所 发送的关闭控制信号为一低电平信号或接地信号。
4、 如权利要求 2所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述快速测试切换 装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块切的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连 接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅 线。
5、 如权利要求 2所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述快速测试切换 装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号 , 其源极连接 一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
6、 如权利要求 2所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述快速测试切换 装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号 , 其源极连接 一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极，
第三切换 TFT, 其栅极连接所述第二切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
7、 如权利要求 6所述的 TFT-LCD 阵列基板， 其中， 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时， 则各切换 TFT 的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当 所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则 所述各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控 制信号， 则所述各切换 TFT的栅极和漏极截止。
8、 一种 TFT-LCD阵列基板， 包括显示区和位于所述显示区***的*** 区域，所述显示区内设置有连接其内部的各 TFT单元的栅线和数据线，其中 , 所述***区域内设置有：
多条数据测试线， 分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号； 多条栅线测试线， 分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号； 公共电极线， 用于向显示区中各 TFT单元提供公共电极；
控制芯片， 其与所述快速测试切换装置相连， 用于向所述快速测试切换 装置发送一关闭控制信号， 以使所述快速测试切换装置处于关闭状态；
其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装 置， 所述快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下， 控制所述 数据测试线及栅线测试线与所述显示区的导通或切断。
9、 如权利要求 8所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述控制芯片述所 发送的关闭控制信号为一低电平信号或接地信号。
10、 如权利要求 9所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述快速测试切 换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块切的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连 接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅 线。
11、 如权利要求 10所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则所述第一切换 TFT 的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信 号；当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号 时，则所述第一切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测 试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自所述控制芯片 的关闭控制信号， 则所述第一切换 TFT的栅极和漏极截止。
12、 如权利要求 9所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述快速测试切 换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接 一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
13、 如权利要求 12所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则所述第一切换 TFT及所述第二切换 TFT的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试 信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控 制信号为第二电平信号时， 则所述第一切换 TFT及所述第二切换 TFT的栅 极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当 所述第一切换 TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控制信号，则所述第一切 换 TFT及所述第二切换 TFT的栅极和漏极截止。
14、 如权利要求 9所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 所述快速测试切 换装置包括：
第一切换 TFT, 其栅极连接所述控制芯片及一测试块， 用于接收来自所 述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号 , 其源极连接 一数据测试线或栅极测试线；
第二切换 TFT, 其栅极连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极，
第三切换 TFT, 其栅极连接所述第二切换 TFT的栅极， 其源极连接所 述第一切换 TFT的漏极， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
15、 如权利要求 14所述的 TFT-LCD阵列基板， 其中， 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时， 则各切换 TFT 的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当 所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则 所述各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控 制信号， 则所述各切换 TFT的栅极和漏极截止。
16、 一种快速测试切换装置， 设置于一 TFT-LCD阵列基板上， 用于切 换对所述 TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号， 其中， 至少包括： 第一切换 TFT, 其栅极连接一控制芯片及一测试块， 用于接收来自所述 测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号， 其源极连接一 数据测试线或栅极测试线， 其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
17、 如权利要求 16所述的快速测试切换装置， 其中， 进一步包括： 设置于所述第一切换 TFT与所述显示区之间的第二切换 TFT, 其栅极 连接所述第一切换 TFT的栅极， 其源极连接所述第一切换 TFT的漏极， 其 漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
18、 如权利要求 17所述的快速测试切换装置， 其中， 进一步包括： 设置于所述第二切换 TFT与所述显示区之间的第三切换 TFT, 其栅极 连接所述第二切换 TFT的栅极， 其源极连接所述第二切换 TFT的漏极， 其 漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。
19、 如权利要求 18所述的快速测试切换装置， 其中， 当所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时， 则各切换 TFT 的栅极和漏极导通， 向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当 所述第一切换 TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则 所述各切换 TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或 /及栅极测试信号； 当所述第一切换 TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控 制信号， 则所述各切换 TFT的栅极和漏极截止。
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