CN102789076A - 一种检测线路及液晶显示面板的制作方法 - Google Patents

一种检测线路及液晶显示面板的制作方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种液晶显示器组立制程中的检测线路，其通过设置测试垫集合和开关集合，将每个面板单元的所有信号线分别通过开关集合中的控制开关的输入端和输出端与测试垫集合中的相应测试信号垫连接，控制开关的控制端则电连接至控制信号垫，以选择性地对一个面板单元进行单独测试。本发明还提供一种液晶显示面板的制作方法。通过上述方式，本发明能够简化检测线路，减小检测线路的负载。

Description

一种检测线路及液晶显示面板的制作方法
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种检测线路及液晶显示面板的制作方法。
背景技术
液晶显示器的制作过程，一般分为阵列制程、组立制程以及模组制程。阵列制程主要是以玻璃为基底制成液晶显示器所需的玻璃基板，以在组立制程中将玻璃基板与彩色滤光基板结合，并在两基板之间注入液晶后贴合，从而形成大片的组合玻璃，再将组合玻璃切割形成多个液晶显示面板。在模组制程中，对切割后形成的液晶显示面板与背框等多种零件进行组装以形成液晶显示器。
在组立制程中，形成大片的组合玻璃之后，对大片的组合玻璃进行切割之前，还需对大片的组合玻璃进行测试，以保证后续制程的顺利进行。其中，大片的组合玻璃具有多个面板单元，需对这些面板单元分别进行阵列测试或PSVA（Polymer Stabilization Vertical Alignment，聚合物稳定垂直对齐）测试等，以确定每个面板单元是否能正常工作。
如图1所示，大片的组合玻璃10具有N个面板单元11，每个面板单元需要的测试线路（Test circuit）或PSVA线路为m条，则整个组合玻璃10上至少需要N x m条测试线路或PSVA线路，并且每一条测试线路或PSVA线路对应一个Pad（测试垫，图中未示），因此大片的组合玻璃10至少需要N x m个Pad，以通过Pad对测试线路或PSVA线路施加测试信号。在图1中，每个面板单元11对应一个Pad set（测试垫集合）12，其中每个Pad set 12具有m个Pad，其分别连接至每个面板单元11的m条测试电路或PSVA线路。通过此种检测线路，能够分别对多个面板单元进行检测。但是，当大片的组合玻璃10具有较多的面板单元11（即N的数目较大）或者大片的组合玻璃10利用率较高时，测试线路或Pad的数目也会较多，此时难以在大片的组合玻璃10上设置如此多的测试线路和Pad。
参阅图2，为了精简大片的组合玻璃20上的线路或Pad的数目，本申请发明人曾经提出一种解决办法，该解决的方法是将不同面板单元21的相同信号的测试线路或PSVA线路以并接的方式连接至同一条线路中，每条线路与一个Pad连接，其中Pad set22中包括m个Pad。因此，大片的组合玻璃20的测试线路或PSVA线路可由N x m条简化为m条，而Pad数目也可由N x m个简化为m个。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种检测线路及液晶显示面板的制作方法，能够简化多个面板单元的周边检测线路，减小检测线路的负载，同时也能够明确分辨出发生短路的面板单元。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种液晶显示器组立制程中的检测线路，用于对具有多个面板单元的组合基板进行测试，其特征在于，多个面板单元分为至少两组，每组面板单元至少包括一个面板单元，多个面板单元包括至少一组信号线，检测线路包括：设置于组合基板上的至少一组测试线，每组测试线至少包括一条测试线；设置于组合基板上的多组控制线，每组控制线至少包括一条控制线；设置于组合基板上的测试垫集合，测试垫集合包括多组控制信号垫和至少一组测试信号垫；设置于组合基板上的开关集合，开关集合包括至少两组控制开关，每组控制开关至少包括一个控制开关，控制开关包括控制端、输入端以及输出端；每个控制开关的控制端均通过相应的控制线电连接至相应的控制信号垫，每个控制开关的输入端均通过相应的测试线电连接至相应的测试信号垫，每个控制开关的输出端均与相应的面板单元的信号线电连接；其中一条测试线分别通过至少两个相应的控制开关连接到至少两个面板单元。
其中，控制信号垫的组数量、控制线的组数量、面板单元的组数量一致，并且一一对应。
其中，每组面板单元对应的控制开关的控制端均通过相应的一条控制线电连接至相应的一个控制信号垫；测试线的数量和测试信号垫的数量一致，并一一对应，所有面板单元相同的信号线对应的控制开关的输入端均通过相应的一条测试线电连接至相应的一个测试信号垫。
其中，控制开关为薄膜晶体管，包括栅极、源极以及漏极，栅极通过相应的控制线与相应的控制信号垫电连接，源极通过相应的测试线与测试信号垫电连接，漏极与信号线电连接。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种液晶显示面板的制作方法，包括：准备第一基板和第二基板，其中第一基板对应多个面板单元，多个面板单元分为至少两组，每组面板单元至少包括一个面板单元，多个面板单元包括至少一组信号线，在第一基板或第二基板形成检测线路，检测线路包括：至少一组测试线，每组测试线至少包括一条测试线；多组控制线，每组控制线至少包括一条控制线；测试垫集合，测试垫集合包括多组控制信号垫和至少一组测试信号垫；开关集合，开关集合包括至少两组控制开关，每组控制开关至少包括一个控制开关，控制开关包括控制端、输入端以及输出端；每个控制开关的控制端均与通过相应的控制线电连接至相应的控制信号垫，每个控制开关的输入端均通过相应的测试线电连接至相应的测试信号垫，每个控制开关的输出端均与相应的面板单元的信号线电连接；其中一条测试线分别通过至少两个相应的控制开关连接至至少两个面板单元；组装第一基板和第二基板，并在第一基板和第二基板之间形成液晶层，以形成具有多个面板单元的组合基板；依次对每个控制信号垫施加选择电信号，依次电导通相应面板单元的控制开关而使其他所有控制开关保持关闭，并在电导通一个面板单元对应的控制开关时，通过测试信号垫对相应面板单元进行测试；在完成测试后切割组合基板以形成多个对应面板单元的液晶显示面板。
其中，控制信号垫的组数量、控制线的组数量、面板单元的组数量一致，并且一一对应。
其中，每组面板单元对应的控制开关的控制端均通过相应的一条控制线电连接至相应的一个控制信号垫；测试线的数量和测试信号垫的数量一致，并一一对应，所有面板单元相同的信号线对应的控制开关的输入端均通过相应的一条测试线电连接至一个测试信号垫。
其中，控制开关为薄膜晶体管，包括栅极、源极以及漏极，栅极通过相应的控制线与相应的控制信号垫电连接，源极与通过相应的测试线与测试信号垫电连接，漏极与信号线电连接。
本发明的有益效果是：本申请发明人较早前提出将不同面板单元21的相同信号的测试线路或PSVA线路以并接的方式连接至同一条线路中、每条线路与一个Pad连接，此种简化线路的方式，使得每个Pad与N x m条测试线路或PSVA线路连接，导致每个Pad所对应的电容负载增大，这就需要外加的电源供应器必须要有足够的电流供应能力，否则容易发生推力不足的问题。再者，在测试的过程中，N个面板单元21同时进行测试，若N个面板单元21中的其中一个面板单元21发生短路的情况，无法辨别出发生短路的面板单元。本发明人根据上述情况，在本发明中使检测线路通过设置测试垫集合和开关集合，将每个面板单元的所有信号线分别通过开关集合中的控制开关的输入端和输出端与测试垫集合中的相应测试信号垫连接，控制开关的控制端则电连接至控制信号垫，以选择性地对一个或以上面板单元进行有区别的测试，能够简化测试线路的同时，减小测试线路的负载，也能够明确分辨出发生短路的面板单元。
附图说明
图1是现有技术中对多个面板单元进行检测的线路布局示意图；
图2是本发明人在较早前提出的简化组合玻璃的测试线路的线路布局示意图；
图3是本发明液晶显示器组立制程中的检测线路的一实施方式的线路布局示意图；
图4是本发明液晶显示组立制程中的检测线路的另一实施方式的线路布局示意图；
图5是本发明液晶显示组立制程中的检测线路的又一实施方式的线路布局示意图；
图6是本发明液晶显示面板的制作方法的一实施方式的流程图。
具体实施方式
本发明的液晶显示器组立制程中的检测线路，能够简化测试线路，减小测试线路的负载，同时也能够明确分辨出发生短路的面板单元。
下面将结合附图和实施方式对本发明进行详细描述。
参阅图3，在本发明液晶显示器组立制程中的检测线路的一实施方式中，检测线路用于对具有多个面板单元的组合基板100进行测试，包括对多个面板单元进行的阵列测试或者PSVA测试等。
具体地，组合基板100包括：
N（N大于或等于2）个面板单元，分别为面板单元1011-101N。其中面板单元101k（k小于或等于N，表示N个面板单元中的第k个面板单元）包括至少一条信号线。以两条信号线为例，面板单元101k包括第一信号线1021和第二信号线1022。
对应地，检测线路包括设置在组合基板100上的两条测试线，分别为第一测试线1031和第二测试线1032；设置在组合基板100上的多条控制线，分别为控制线1041-104N；
设置在组合基板100上的测试垫集合108，其包括多个控制信号垫和两个测试信号垫，多个控制信号垫分别为控制信号垫1061-106N，两个测试信号垫分别为第一测试信号垫1051和第二测试信号垫1052；
设置在组合基板100上的开关集合107，其包括多个控制开关1071，控制开关1071包括控制端10711、输入端10712以及输出端10713。
其中，每个控制开关1071的控制端10711均通过相应的控制线电连接至相应的控制信号垫，输入端10712均通过相应的测试线电连接至相应的测试信号垫，输出端10713均与相应的面板单元的信号线电连接。第一测试线1031分别通过N个控制开关1071连接至N个面板单元，第二测试线1032分别通过另外的N个控制开关1071连接至N个面板单元。
具体地，第一测试线1031与第一测试信号垫1051电连接，第二测试线1032与第二测试信号垫1052电连接。控制线1041-104N对应地与控制信号垫1061-106N电连接。面板单元1011-101N的第一信号线1021均分别通过一个控制开关1071与对应的第一测试线1031连接，以通过第一测试信号垫1051输入测试信号至面板单元1011-101N；面板单元1011-101N的第二信号线1022均分别通过另一个控制开关1071与对应的第二测试线1032连接，以通过第二测试信号垫1052输入测试信号至面板单元1011-101N。
进一步地，以面板单元101k为例，面板单元101k的第一信号线1021和第二信号线1022分别与两个控制开关1071的输出端10713电连接，两个控制开关1071的输入端10712分别与第一测试线1031和第二测试线1032电连接，以分别通过第一测试信号垫1051和第二测试信号垫1052输入测试信号至面板单元101k。而面板单元101k对应的两个控制开关1071的控制端10711均通过对应的控制线104k（表示第k条控制线）与控制信号垫106k（表示第k个控制信号垫）电连接，以通过控制信号垫106k控制面板单元101k对应的两个控制开关1071的打开与关闭。
从另外一个角度来说，也可以认为N个面板单元1011-101N分为N组，每组面板单元包括一个面板单元，即面板单元101k。面板单元101k包括两组信号线，一组信号线包括第一信号线1021，另一组信号线包括第二信号线1022，因此多个面板单元包括多组信号线。检测线路中，包括：两组测试线，一组测试线包括第一测试线1031，另一组测试线包括第二测试线1032；N组控制线，每组控制线包括一条控制线，即控制线104k；N组控制信号垫，每组控制信号垫包括一个控制信号垫，即控制信号垫106k；两组测试信号垫，一组测试信号垫包括第一测试信号垫1051，另一组测试信号垫包括第二测试信号垫1052；多组控制开关，每组控制开关包括一个控制开关1071。
其中，N个面板单元1011-101N的组数量、N个控制信号垫1061-106N的组数量以及N条控制线1041-104N的组数量一致，并且一组面板单元对应一组控制信号垫和一组控制线，三者一一对应。而N个面板单元1011-101N的所有信号线的组数量和开关集合107中的控制开关1071的组数量一致，一组信号线对应一组控制开关，两者一一对应。进一步地，每组控制开关中控制开关1071的数量与相应面板单元的每组信号线中的信号线的数量一致，并一一对应；每组面板单元对应的控制开关的控制端均通过相应的一条控制线电连接至相应的一个控制信号垫，可理解为，面板单元101k对应的所有控制开关1071的控制端10711均通过控制线104k电连接至相应的控制信号垫106k；测试线的数量和测试信号垫的数量一致，并一一对应，并且，所有面板单元1011-101N的第一信号线1021对应的控制开关1071的输入端10712均通过相应的第一测试线1031电连接至相应的第一测试信号垫1051，所有面板单元1011-101N的第二信号线1022对应的控制开关1071的输入端10712均通过相应的第二测试线1032电连接至相应的第二测试信号垫1052。
本实施方式的控制开关1071可以是薄膜晶体管，包括作为控制端的栅极、作为输入端的源极以及作为输出端的漏极。对应地，面板单元101k对应的两个薄膜晶体管的栅极分别通过相应的控制线104k与相应的控制信号垫106k电连接，源极分别通过相应的第一测试线1031和第二测试线1032与第一测试信号垫1051和第二测试信号垫1052电连接，漏极分别与相应的第一信号线1021和第二信号线1022电连接。
本实施方式通过控制信号垫1061-106N能够选择性地对面板单元1011-101N中的一个面板单元进行测试。具体为，对面板单元101k进行测试时，首先对应地在控制信号垫106k输入控制信号，以打开面板单元101k对应的所有控制开关1071，然后第一测试信号垫1051和第二测试信号垫1052分别通过对应的控制开关1071输入测试信号至第一信号线1021和第二信号线1022，以使测试信号进入面板单元101k。通过上述方式，本实施方式的检测线路能选择性地对一个面板单元进行单独测试，避免了第一、第二测试线对多个面板单元进行测试而出现较大负载的问题，同时能够简化测试线路，减小检测线路的负载，明确分辨出发生短路的面板单元。
当然，在检测线路允许的负载值的范围内，也可以通过控制信号垫1061-106N同时对多个面板单元进行测试，具体测试过程可参考上述测试方式，在此不进行赘述。而根据实际测试的需要，例如，需对面板单元1011-101N进行PSVA测试，可同时对控制信号垫1061-106N输入控制信号，以使得第一、第二测试信号垫同时对面板单元1011-101N输入PSVA测试信号进行PSVA检测。
此外，面板单元101k还可以包括三条或更多的信号线，而每条信号线需一个控制开关与对应的测试线连接，不同面板单元的相同信号线分别通过控制开关连接至同一条测试线，测试线与测试信号垫的数量一致，具体的线路布局可参考上述实施方式的检测线路，在此不进行详细描述。
上述实施方式中每组面板单元包括一个面板单元，当然，在另一实施方式中也可以使不同的面板单元组包括不同个面板单元，参阅图4，本实施方式以三个面板单元2011-2013为例，面板单元2011-2013均包括第一信号线2021和第二信号线2022两条信号线。将三个面板单元2011-2013分为两组，分别为第一面板单元组201和第二面板单元组202，其中第一面板单元组201包括面板单元2011-2012，第二面板单元组包括面板单元2013。第一面板单元组201包括一组信号线，该组信号线包括面板单元2011-2012的第一信号线2021和第二信号线2022。第二面板单元组202包括一组信号线，该组信号线包括面板单元2013的第一信号线2021和第二信号线2022。开关集合207包括两组控制开关，分别为第一控制开关组2071和第二控制开关组2072，每组控制开关均包括两个控制开关3071。其中，第一面板单元组201的两个面板单元2011-2012的第一信号线2021均与第一控制开关组2071的一个控制开关3071的输出端30713电连接，第二信号线2022均与另一个控制开关3071的输出端30713电连接。第二面板单元组202的面板单元2013的第一信号线2021与第二控制开关组2072的一个控制开关3071的输出端30713电连接，第二信号线2022与另一个控制开关3071的输出端30713电连接。第一控制开关组2071的两个控制开关3071的控制端30711均通过第一控制线2041与第一控制信号垫2061电连接，第二控制开关组2072的两个控制开关3071的控制端30711均通过第二控制线2042与第二控制信号垫2062电连接。面板单元2011-2013的第一信号线2021对应的控制开关3071的输入端30712均通过第一测试线2031与第一测试信号垫2051电连接，面板单元2011-2013的第二信号线2022对应的控制开关3071的输入端30712均通过第二测试线2032与第二测试信号垫2052电连接。
通过上述方式，本实施方式只需通过相应的控制信号垫输入控制信号即可分别对第一面板单元组201和第二面板单元组202进行测试，并且在检测线路允许的负载值范围内，使第一面板单元组201的两个面板单元2011-2012通过相同的两个控制开关3071与第一、第二测试信号垫2051、2052连接，通过第一控制开关组2071同时测试面板单元2011和2012，由此能够减少检测线路的控制开关数量，降低成本，也能够简化检测线路，减小检测线路的负载，并且能分辨出发生短路的面板单元组。
值得注意的是，本实施方式的多个面板单元还可以进行其他方式的分组，如分为三组，每组面板单元也可以包括不同个数的面板单元，而在允许的负载值范围内，检测线路可以采用与图3类似的线路布局，以能够对单独一个面板单元进行测试，或者采用与图4相类似的线路布局，以对不同面板单元组进行测试，在此不进行具体限制。
参阅图5，本发明检测线路的又一实施方式中，以四个面板单元3011-3014为例，在检测线路的负载值允许的范围内，将两个面板单元分为一组。其中，第一面板单元组301包括面板单元3011和3012，第二面板单元组包括面板单元3013和3014。将第一面板单元组301的两个面板单元3011、3012的第一信号线3021对应的控制开关4071的控制端40711均通过控制线3041电连接至控制信号垫3061，第二信号线3022对应的控制开关4071的控制端40711均通过控制线3042电连接至控制信号垫3062。第二面板单元组302的两个面板单元3013、3014的第一信号线3021对应的控制开关4071的控制端40711均通过控制线3043电连接至控制信号垫3063，第二信号线3022对应的控制开关4071的控制端40711均通过控制线3044电连接至控制信号垫3064。
本实施方式通过将每组面板单元中不同面板单元的相同信号线对应的控制开关的控制端电连接至同一控制信号垫，能够减小检测线路负载，辨别出发生短路的面板单元组，同时也能检测出不同面板单元的相同信号线是否发生短路或故障。
参阅图6，本发明液晶显示面板的制作方法的一实施方式，包括步骤：
步骤S601：准备第一基板和第二基板，其中第一基板对应多个面板单元，多个面板单元分为至少两组，每组面板单元至少包括一个面板单元，多个面板单元包括至少一组信号线，在第一基板或第二基板上形成检测线路，检测线路包括至少一组测试线、多组控制线、测试垫集合以及开关垫集合，其中测试垫集合包括多组控制信号垫和至少一组测试信号垫，开关集合包括至少两组控制开关。
本实施方式的检测线路为上述各实施方式的检测线路，以图3所示的检测线路为例进行说明。参阅图3，将N（N大于或等于2）个面板单元分1011-101N为N组，每组包括一个面板单元。检测线路中，包括：两组测试线，一组测试线包括第一测试线1031，另一组测试线包括第二测试线1032；N组控制线1041-104N，每组控制线包括一条控制线；N组控制信号垫1061-106N，每组控制信号垫包括一个控制信号垫；两组测试信号垫，一组测试信号垫包括第一测试信号垫1051，另一组测试信号垫包括第二测试信号垫1052；多组控制开关，每组控制开关包括一个控制开关1071。
其中，每个控制开关1071的控制端均通过控制线1041-104N中相应的控制线电连接至控制信号垫1061-1061N中相应控制信号垫，输入端均通过第一测试线1021、1022中相应的测试线电连接至测试信号垫1051、1052中相应的测试信号垫，输出端均与面板单元1011-101N中相应面板单元的信号线电连接。第一测试线1031通过N个控制开关1071连接至N个面板单元，第二测试线1032通过另外的N个控制开关1071连接至N个面板单元。
步骤S602：组装第一基板和第二基板，并在第一基板和第二基板之间形成液晶层，以形成具有多个面板单元的组合基板。
步骤S603：依次对每个控制信号垫施加选择电信号，依次电导通相应面板单元的控制开关而使其他所有控制开关保持关闭，并在电导通一个面板单元对应的控制开关时，通过测试信号垫对相应面板单元进行测试。
在形成检测线路后，形成液晶显示面板之前，需对组合基板的多个面板单元进行检测，以判断面板单元是否有损坏。将需检测的面板单元所对应的控制信号垫输入电信号，以打开相应面板单元的控制开关，再通过测试信号垫对相应面板单元输入测试信号，以对相应面板单元进行测试。
步骤S604：在完成测试后切割组合基板以形成多个对应面板单元的液晶显示面板。
在完成测试后，将组合基板进行切割以将每个面板单元分离出来，在后续制程中通过对每个面板单元进行框胶固化等制程以形成液晶显示面板。
本实施方式的液晶显示面板的制作方法，在第一基板或第二基板上形成的检测线路，从而在形成具有多个面板单元的组合基板时可以对每个面板单元进行单独测试，避免检测线路对多个面板单元进行同时检测而出现负载较大的问题，能够简化检测线路，减小检测线路的负载，并能明确分辨出短路的面板单元。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种液晶显示器组立制程中的检测线路，用于对具有多个面板单元的组合基板进行测试，其特征在于，多个所述面板单元分为至少两组，每组所述面板单元至少包括一个面板单元，所述多个面板单元包括至少一组信号线，所述检测线路包括：
设置于所述组合基板上的至少一组测试线，每组所述测试线至少包括一条测试线；
设置于所述组合基板上的多组控制线，每组所述控制线至少包括一条控制线；
设置于所述组合基板上的测试垫集合，所述测试垫集合包括多组控制信号垫和至少一组测试信号垫；
设置于所述组合基板上的开关集合，所述开关集合包括至少两组控制开关，每组所述控制开关至少包括一个控制开关，所述控制开关包括控制端、输入端以及输出端；
每个所述控制开关的控制端均通过相应的控制线电连接至相应的控制信号垫，每个所述控制开关的输入端均通过相应的测试线电连接至相应的测试信号垫，每个所述控制开关的输出端均与相应的面板单元的信号线电连接；
其中一条所述测试线分别通过至少两个相应的控制开关连接到至少两个面板单元。
2.根据权利要求1所述的检测线路，其特征在于，
所述控制信号垫的组数量、控制线的组数量、面板单元的组数量一致，并且一一对应。
3.根据权利要求2所述的检测线路，其特征在于，
每组所述面板单元对应的所述控制开关的控制端均通过相应的一条所述控制线电连接至相应的一个所述控制信号垫；
所述测试线的数量和测试信号垫的数量一致，并一一对应，所有面板单元相同的所述信号线对应的控制开关的输入端均通过相应的一条测试线电连接至相应的一个测试信号垫。
4.根据权利要求1所述的检测线路，其特征在于，
所述控制开关为薄膜晶体管，包括栅极、源极以及漏极，所述栅极通过相应的控制线与相应的控制信号垫电连接，所述源极通过相应的测试线与测试信号垫电连接，所述漏极与信号线电连接。
5.一种液晶显示面板的制作方法，其特征在于，包括：
准备第一基板和第二基板，其中第一基板对应多个面板单元，多个所述面板单元分为至少两组，每组所述面板单元至少包括一个面板单元，所述多个面板单元包括至少一组信号线，在所述第一基板或第二基板上形成检测线路，所述检测线路包括：
至少一组测试线，每组所述测试线至少包括一条测试线；
多组控制线，每组所述控制线至少包括一条控制线；
测试垫集合，所述测试垫集合包括多组控制信号垫和至少一组测试信号垫；
开关集合，所述开关集合包括至少两组控制开关，每组所述控制开关至少包括一个控制开关，所述控制开关包括控制端、输入端以及输出端；
每个所述控制开关的控制端均与通过相应的控制线电连接至相应的控制信号垫，每个所述控制开关的输入端均通过相应的测试线电连接至相应的测试信号垫，每个所述控制开关的输出端均与相应的面板单元的信号线电连接；
其中一条所述测试线分别通过至少两个相应的控制开关连接至至少两个面板单元；
组装所述第一基板和第二基板，并在第一基板和第二基板之间形成液晶层，以形成具有多个面板单元的组合基板；
依次对每个所述控制信号垫施加选择电信号，电导通相应面板单元的控制开关而使其他所有控制开关保持关闭，并在电导通一个所述面板单元对应的控制开关时，通过所述测试信号垫对相应面板单元进行测试；
在完成所述测试后切割组合基板以形成多个对应面板单元的液晶显示面板。
6.根据权利要求5所述的制作方法，其特征在于，
所述控制信号垫的组数量、控制线的组数量、面板单元的组数量一致，并且一一对应。
7.根据权利要求5所述的制作方法，其特征在于，
每组面板单元对应的所述控制开关的控制端均通过相应的一条控制线电连接至相应的一个控制信号垫；
所述测试线的数量和测试信号垫的数量一致，并一一对应，所有面板单元相同的所述信号线对应的控制开关的输入端均通过相应的一条测试线电连接至一个测试信号垫。
8.根据权利要求5所述的制作方法，其特征在于，
所述控制开关为薄膜晶体管，包括栅极、源极以及漏极，所述栅极通过相应的控制线与相应的控制信号垫电连接，所述源极与通过相应的测试线与测试信号垫电连接，所述漏极与信号线电连接。
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WO (1) WO2014019248A1 (zh)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103869201A (zh) * 2012-12-11 2014-06-18 上海天马微电子有限公司 一种接口连接偏位侦测和保护电路
CN103871341A (zh) * 2014-03-19 2014-06-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种测试电路及显示面板
CN103995370A (zh) * 2014-05-29 2014-08-20 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测端子的走线装置及液晶显示器
CN104575343A (zh) * 2014-12-31 2015-04-29 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测电路及显示装置
CN104637426A (zh) * 2015-03-04 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 负载测试电路、方法和显示装置
CN105044940A (zh) * 2015-07-29 2015-11-11 合肥京东方光电科技有限公司 一种面板及其测试方法
WO2015176367A1 (zh) * 2014-05-21 2015-11-26 深圳市华星光电技术有限公司 显示器阵列基板的***测试线路以及液晶显示面板
CN106814490A (zh) * 2017-03-20 2017-06-09 武汉华星光电技术有限公司 窄边框液晶显示面板的制作方法
CN107038984A (zh) * 2017-05-19 2017-08-11 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法
CN107065313A (zh) * 2017-06-20 2017-08-18 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法
CN107068029A (zh) * 2017-06-20 2017-08-18 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法
CN107591117A (zh) * 2017-09-26 2018-01-16 武汉华星光电技术有限公司 显示面板的测试方法及测试***
CN108121122A (zh) * 2017-12-28 2018-06-05 友达光电（昆山）有限公司 一种显示装置
CN108257540A (zh) * 2018-01-26 2018-07-06 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 显示基板、显示基板的测试方法和显示装置
WO2018205626A1 (zh) * 2017-05-10 2018-11-15 京东方科技集团股份有限公司 母板和显示面板
CN109559687A (zh) * 2018-11-28 2019-04-02 友达光电股份有限公司 显示面板
CN110444117A (zh) * 2019-07-24 2019-11-12 昆山维信诺科技有限公司 封装基板及显示面板的制备方法
WO2020093195A1 (zh) * 2018-11-05 2020-05-14 深圳市柔宇科技有限公司 面板及其制作方法
CN112068375A (zh) * 2020-09-23 2020-12-11 北海惠科光电技术有限公司 母基板和显示面板
CN113570990A (zh) * 2021-07-30 2021-10-29 北京京东方光电科技有限公司 信号检测装置、方法及显示面板
US11327372B2 (en) 2019-07-26 2022-05-10 Au Optronics Corporation Display panel and method of fabricating the same

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070019061A (ko) * 2005-08-09 2007-02-15 삼성전자주식회사 평판 표시 장치, 평판 표시 장치의 검사 방법 및 시스템
US20070139312A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Kwak Won K Organic light emitting display device and mother substrate for performing sheet unit test and testing method thereof
CN101038300A (zh) * 2006-03-15 2007-09-19 中华映管股份有限公司 检测线路布局以及液晶显示面板的制造方法
CN201845146U (zh) * 2010-06-30 2011-05-25 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板测试电路
CN102331633A (zh) * 2011-09-21 2012-01-25 深超光电（深圳）有限公司 一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100759688B1 (ko) * 2006-04-07 2007-09-17 삼성에스디아이 주식회사 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및모기판과 그 검사방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070019061A (ko) * 2005-08-09 2007-02-15 삼성전자주식회사 평판 표시 장치, 평판 표시 장치의 검사 방법 및 시스템
US20070139312A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Kwak Won K Organic light emitting display device and mother substrate for performing sheet unit test and testing method thereof
CN101038300A (zh) * 2006-03-15 2007-09-19 中华映管股份有限公司 检测线路布局以及液晶显示面板的制造方法
CN201845146U (zh) * 2010-06-30 2011-05-25 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板测试电路
CN102331633A (zh) * 2011-09-21 2012-01-25 深超光电（深圳）有限公司 一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法

Cited By (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103869201A (zh) * 2012-12-11 2014-06-18 上海天马微电子有限公司 一种接口连接偏位侦测和保护电路
CN103869201B (zh) * 2012-12-11 2016-08-03 上海天马微电子有限公司 一种接口连接偏位侦测和保护电路
CN103871341A (zh) * 2014-03-19 2014-06-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种测试电路及显示面板
WO2015176367A1 (zh) * 2014-05-21 2015-11-26 深圳市华星光电技术有限公司 显示器阵列基板的***测试线路以及液晶显示面板
CN103995370A (zh) * 2014-05-29 2014-08-20 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测端子的走线装置及液晶显示器
WO2015180193A1 (zh) * 2014-05-29 2015-12-03 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测端子的走线装置及液晶显示器
WO2016106831A1 (zh) * 2014-12-31 2016-07-07 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测电路及显示装置
CN104575343A (zh) * 2014-12-31 2015-04-29 深圳市华星光电技术有限公司 一种检测电路及显示装置
CN104637426A (zh) * 2015-03-04 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 负载测试电路、方法和显示装置
CN104637426B (zh) * 2015-03-04 2017-04-05 京东方科技集团股份有限公司 负载测试电路、方法和显示装置
CN105044940A (zh) * 2015-07-29 2015-11-11 合肥京东方光电科技有限公司 一种面板及其测试方法
CN105044940B (zh) * 2015-07-29 2019-01-22 合肥京东方光电科技有限公司 一种面板及其测试方法
CN106814490A (zh) * 2017-03-20 2017-06-09 武汉华星光电技术有限公司 窄边框液晶显示面板的制作方法
US11309309B2 (en) 2017-05-10 2022-04-19 Boe Technology Group Co., Ltd. Mother substrate and display panel
WO2018205626A1 (zh) * 2017-05-10 2018-11-15 京东方科技集团股份有限公司 母板和显示面板
CN107038984A (zh) * 2017-05-19 2017-08-11 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法
CN107038984B (zh) * 2017-05-19 2020-07-31 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法
CN107065313B (zh) * 2017-06-20 2018-08-24 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法
CN107068029A (zh) * 2017-06-20 2017-08-18 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法
CN107065313A (zh) * 2017-06-20 2017-08-18 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法
WO2018233068A1 (zh) * 2017-06-20 2018-12-27 惠科股份有限公司 显示面板的测试电路及测试方法
WO2018233067A1 (zh) * 2017-06-20 2018-12-27 惠科股份有限公司 显示面板的测试电路及测试方法
US11183090B2 (en) 2017-06-20 2021-11-23 HKC Corporation Limited Test circuit and test method for display panels
US11158222B2 (en) 2017-06-20 2021-10-26 HKC Corporation Limited Test circuit and test method for display panels
CN107591117A (zh) * 2017-09-26 2018-01-16 武汉华星光电技术有限公司 显示面板的测试方法及测试***
CN108121122B (zh) * 2017-12-28 2020-12-18 友达光电（昆山）有限公司 一种显示装置
CN108121122A (zh) * 2017-12-28 2018-06-05 友达光电（昆山）有限公司 一种显示装置
CN108257540A (zh) * 2018-01-26 2018-07-06 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 显示基板、显示基板的测试方法和显示装置
WO2020093195A1 (zh) * 2018-11-05 2020-05-14 深圳市柔宇科技有限公司 面板及其制作方法
CN112740318A (zh) * 2018-11-05 2021-04-30 深圳市柔宇科技股份有限公司 面板及其制作方法
CN109559687A (zh) * 2018-11-28 2019-04-02 友达光电股份有限公司 显示面板
CN110444117A (zh) * 2019-07-24 2019-11-12 昆山维信诺科技有限公司 封装基板及显示面板的制备方法
CN110444117B (zh) * 2019-07-24 2021-09-28 苏州清越光电科技股份有限公司 封装基板及显示面板的制备方法
US11327372B2 (en) 2019-07-26 2022-05-10 Au Optronics Corporation Display panel and method of fabricating the same
CN112068375A (zh) * 2020-09-23 2020-12-11 北海惠科光电技术有限公司 母基板和显示面板
CN113570990A (zh) * 2021-07-30 2021-10-29 北京京东方光电科技有限公司 信号检测装置、方法及显示面板
CN113570990B (zh) * 2021-07-30 2024-02-09 北京京东方光电科技有限公司 信号检测装置、方法及显示面板

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