WO2014042274A1 - シンチレータパネル、及び、放射線検出器 - Google Patents

シンチレータパネル、及び、放射線検出器 Download PDF

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WO2014042274A1
WO2014042274A1 PCT/JP2013/075035 JP2013075035W WO2014042274A1 WO 2014042274 A1 WO2014042274 A1 WO 2014042274A1 JP 2013075035 W JP2013075035 W JP 2013075035W WO 2014042274 A1 WO2014042274 A1 WO 2014042274A1
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scintillator
portions
convex
substrate
scintillator panel
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PCT/JP2013/075035
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真太郎 外山
楠山 泰
雅典 山下
弘武 大澤
鈴木 克彦
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浜松ホトニクス株式会社
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
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    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
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    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens

Definitions

  • One aspect of the present invention relates to a scintillator panel and a radiation detector.
  • the radiation detection element described in Patent Document 1 includes a glass substrate, an optical sensor unit including a plurality of photoelectric conversion elements provided on the glass substrate, a planarization film provided on the optical sensor unit, and planarization And a plurality of scintillator portions provided on the film.
  • a plurality of convex portions corresponding to each of the photoelectric conversion elements are formed on the planarizing film, and each of the scintillator portions is separated from the convex portion so as to be in contact with each other. It is formed on the upper surface.
  • a convex portion is formed on the planarizing film on the substrate and the optical sensor portion, and the scintillator portion is formed on the upper surface of the convex portion so as to be separated from each other.
  • the reduction in MTF due to crosstalk in the scintillator portion is suppressed as compared with the case where the scintillator portion is formed on the entire surface of the substrate and the optical sensor portion.
  • the scintillator portion is formed on the upper surface of the convex portion of the planarization film as in the radiation detection element described in Patent Document 1, the scintillator portion is formed on the entire surface of the substrate and the optical sensor portion (that is, the entire surface of the planarization film). Compared with the case where it forms, the adhesiveness of a scintillator part falls and there exists a possibility that reliability may fall.
  • An aspect of the present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a scintillator panel and a radiation detector capable of suppressing a decrease in reliability.
  • a scintillator panel is a scintillator panel for converting radiation into scintillation light, and has a front surface and a back surface, and in a predetermined direction from the back surface to the surface.
  • a substrate having a plurality of protrusions protruding from the surface, a recess defined by the protrusions, a plurality of first scintillator portions formed on each of the protrusions of the substrate, and a recess of the substrate
  • a second scintillator portion formed on the bottom surface, wherein the first scintillator portion has a first portion extending along a predetermined direction from the upper surface of the convex portion, and a predetermined portion from the side surface of the convex portion.
  • a second portion extending along the direction and in contact with the first portion, wherein the first and second portions are composed of a plurality of columnar crystals of scintillator material, The scintillator parts There are spaced apart, the second scintillator section is in contact with the second portion.
  • the scintillator panel includes a first scintillator portion formed on the plurality of convex portions of the substrate, and a second scintillator portion formed on the bottom surface of the concave portion defined by the convex portions of the substrate.
  • the first scintillator portion includes a second portion that extends from the side surface of the convex portion and contacts the first portion in addition to the first portion that extends from the upper surface of the convex portion. For this reason, the contact area of the whole 1st scintillator part and a board
  • the second portion is in contact with a second scintillator portion formed on the bottom surface of the recess.
  • the first scintillator portion further includes a second portion extending from the side surface of the convex portion in addition to the first portion, in the protruding direction of the convex portion (a predetermined direction from the back surface of the substrate toward the surface). When radiation is incident along, an effective area can be widened.
  • the first portion is composed of a plurality of columnar crystals formed by crystal growth along a predetermined direction from the upper surface of the convex portion
  • the second portion Can be composed of a plurality of columnar crystals formed by crystal growth along a direction intersecting a predetermined direction from the side surface of the convex portion.
  • the column diameter of the columnar crystal constituting the first portion increases as the distance from the upper surface of the convex portion increases, and the column diameter of the columnar crystal constituting the second portion. Is enlarged as the distance from the side surface of the convex portion increases, and the enlargement ratio of the columnar crystal constituting the second part is larger than the enlargement ratio of the columnar crystal constituting the first part. It can be. In this case, since the columnar diameter of the columnar crystal constituting the second portion extending from the side surface of the convex portion becomes relatively large, the effective area becomes wider and radiation absorption is enhanced.
  • the height of the convex portion can be larger than the column diameter of the columnar crystal.
  • the second portion can be surely configured from a plurality of columnar crystals.
  • the first scintillator portions can be reliably separated and formed.
  • the scintillator panel according to one aspect of the present invention may further include a protective film formed to cover the first and second scintillator portions. In this case, the moisture resistance of the first and second scintillator portions is improved.
  • the scintillator panel according to one aspect of the present invention may further include a light shielding layer that is formed between the first scintillator portions and shields the scintillation light.
  • a light shielding layer that is formed between the first scintillator portions and shields the scintillation light.
  • a radiation detector includes the above-described scintillator panel, and the substrate is arranged to be optically coupled to the first scintillator unit.
  • a sensor panel having a plurality of photoelectric conversion elements Since this radiation detector includes the scintillator panel described above, it is possible to suppress a decrease in reliability.
  • the substrate is a sensor panel including a photoelectric conversion element, a convex portion can be directly formed on the photoelectric conversion element, and a scintillator portion can be formed on the convex portion. For this reason, it is not necessary to stick together the separately prepared scintillator panel and the sensor panel.
  • the convex portion of the substrate can be transparent to scintillation light.
  • scintillation light from the first scintillator portion can efficiently reach the photoelectric conversion element via the convex portion.
  • a scintillator panel having a separation-type scintillator section and a radiation detector having a separation-type scintillator section that can suppress a decrease in reliability.
  • FIG. 2 is a partial plan view of the scintillator panel shown in FIG. 1.
  • FIG. 2 is a partial side view of the scintillator panel shown in FIG. 1.
  • It is a cross-sectional photograph which shows an example of the scintillator panel shown by FIG.
  • It is a side view of the scintillator panel which concerns on 2nd Embodiment.
  • It is a side view of the scintillator panel which concerns on 3rd Embodiment.
  • FIG. 7 is a partial plan view of the scintillator panel shown in FIG. 6. It is a side view of the scintillator panel which concerns on 4th Embodiment.
  • a scintillator panel according to an embodiment is for converting incident radiation R such as X-rays into scintillation light such as visible light.
  • incident radiation R such as X-rays
  • scintillation light such as visible light.
  • a mammography apparatus, a chest examination apparatus, a CT apparatus, and a dental intraoral imaging apparatus And in a radiation camera etc. it can be used as a device for radiation imaging.
  • FIG. 1 is a side view of the scintillator panel according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a partial plan view of the scintillator panel shown in FIG.
  • FIG. 3 is a partial side view of the scintillator panel shown in FIG.
  • the scintillator panel 1 includes a rectangular substrate 10.
  • the substrate 10 has a front surface 10a and a back surface 10b facing each other.
  • the substrate 10 has an uneven pattern Pa formed on the surface 10a.
  • the material of the substrate 10 include metals such as Al and SUS (stainless steel), resin films such as polyimide, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate, carbon-based materials such as amorphous carbon and carbon fiber reinforced plastic, and FOP (fiber optic).
  • Plate An optical device in which many optical fibers having a diameter of several microns are bundled (for example, J5734 manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd.) can be used.
  • a high aspect resist such as epoxy resin (KMPR, SU-8, etc.
  • the material of the convex portions constituting the concavo-convex pattern Pa can be a material that is transparent to scintillation light generated in the scintillator portion 20 to be described later.
  • a sensor panel having a photoelectric conversion element can be attached to form a radiation detector.
  • the concavo-convex pattern Pa is formed by a plurality of convex portions 11 and concave portions 12 defined by the convex portions 11. That is, a plurality of convex portions 11 and concave portions 12 are formed on the substrate 10.
  • Each of the convex portions 11 has a front surface 10a along a predetermined direction (here, an incident direction of radiation R and a direction orthogonal to the front surface 10a and the back surface 10b of the substrate 10) from the back surface 10b of the substrate 10 to the front surface 10a. Protruding from.
  • Each of the convex portions 11 is formed in a rectangular parallelepiped shape.
  • the convex portions 11 are periodically arranged in a two-dimensional array on the surface 10 a of the substrate 10. Therefore, the concave portion 12 defined by the convex portion 11 is a groove having a rectangular lattice shape in plan view.
  • Each dimension of such a concavo-convex pattern Pa is such that, for example, when the pitch (projection period of the convex portions 11) P of the convex portions 11 is about 100 ⁇ m, the width (groove width) W of the concave portions 12 is about 35 ⁇ m.
  • the pitch P of the portions 11 is about 127 ⁇ m
  • the width W of the concave portions 12 is about 20 ⁇ m to 40 ⁇ m
  • the pitch P of the convex portions 11 is about 200 ⁇ m
  • the width W of the concave portions 12 is about 50 ⁇ m to 70 ⁇ m. can do.
  • the height H of the convex portion 11 can be about 2.5 ⁇ m to 50 ⁇ m.
  • the pitch P of the convex portions 11 is about 127 ⁇ m
  • the width W of the concave portions 12 is about 45 ⁇ m
  • the height H of the convex portions 11 is about 15 ⁇ m.
  • the scintillator panel 1 includes a plurality of scintillator portions (first scintillator portions) 20 formed on each of the convex portions 11, and a scintillator portion (second scintillator portion) 30 formed in the concave portions 12. ing.
  • the scintillator portions 20 are separated from each other (that is, the scintillator panel 1 has a separate scintillator portion).
  • the scintillator portion 30 is integrally formed over the entire recess 12.
  • the scintillator portions 20 and 30 can be formed of a scintillator material that forms columnar crystals such as CsI (cesium iodide).
  • the height (scintillator film thickness) T of the scintillator section 20 can be, for example, about 100 ⁇ m to 600 ⁇ m.
  • the scintillator section 20 has a first portion 21 and a second portion 22.
  • the first portion 21 has a rectangular shape corresponding to the shape of the convex portion 11 in plan view.
  • the second portion 22 has a rectangular ring shape so as to cover the side portion of the first portion 21 in plan view.
  • the first portion 21 extends from the upper surface 11 a of the convex portion 11 along the incident direction of the radiation R (a direction substantially perpendicular to the substrate 10). More specifically, the first portion 21 is composed of a plurality of columnar crystals C1 of scintillator material formed by crystal growth from the upper surface 11a of the convex portion 11 along the incident direction of the radiation R.
  • the second portion 22 extends from the side surface 11 b of the convex portion 11 along the incident direction of the radiation R and is in contact with the first portion 21.
  • the second portion 22 is formed integrally with the first portion 21 (joined with the first portion 21). More specifically, the second portion 22 is in a direction (direction intersecting a predetermined direction) intersecting the incident direction (direction substantially perpendicular to the substrate 10) of the radiation R from the side surface 11b of the convex portion 11. It consists of a plurality of columnar crystals C2 of scintillator material formed by crystal growth along, and extends along the incident direction of the radiation R as a whole. The columnar crystal C2 is formed on the entire side surface 11b of the convex portion 11.
  • the columnar crystal C ⁇ b> 1 constituting the first portion 21 has a taper shape whose diameter increases as the distance from the upper surface 11 a of the convex portion 11 increases. That is, the column diameter R1 of the columnar crystal C1 increases with distance from the upper surface 11a of the convex portion 11 (that is, from the base end portion on the upper surface 11a side to the distal end portion on the opposite side).
  • the columnar crystal C ⁇ b> 2 constituting the second portion 22 has a tapered shape whose diameter increases as the distance from the side surface 11 b of the convex portion 11 increases. That is, the columnar diameter C2 of the columnar crystal C2 increases as the distance from the side surface 11b of the convex portion 11 increases (that is, from the base end portion on the side surface 11b side toward the tip end portion on the opposite side).
  • the expansion rate of the column diameter R2 of the columnar crystal C2 is larger than the expansion rate of the column diameter R1 of the columnar crystal C1. Therefore, for example, the column diameter R2 of the columnar crystal C2 is relatively larger than the column diameter R1 of the columnar crystal C1 at each tip.
  • the height H of the convex part 11 mentioned above is larger than the column diameter in the base end part of the columnar crystal C1 which comprises the 1st part 21, and the columnar crystal C2 which comprises the 2nd part 22 at least. Therefore, a plurality of columnar crystals C1 or columnar crystals C2 are formed on the upper surface 11a or the side surface 11b of the convex portion 11.
  • the scintillator portion 30 is formed in the recess 12, particularly on the bottom surface 12 a of the recess 12.
  • the scintillator section 30 is composed of a plurality of columnar crystals of scintillator material such as CsI, like the first portion 21 and the second portion 22 of the scintillator section 20.
  • Each columnar crystal constituting the scintillator section 30 is formed by crystal growth from the bottom surface 12a of the recess 12 along the incident direction of the radiation R.
  • the scintillator portion 30 has a convex shape (substantially triangular cross-section) that increases in thickness from the corner of the concave portion 12 (connection portion between the side surface 11b of the convex portion 11 and the bottom surface 12a of the concave portion 12) toward the center in the width direction of the concave portion 12. ).
  • the scintillator portion 30 is in contact with the second portion 22 so as to support the columnar crystal C2 of the second portion 22 extending from the side surface 11b of the convex portion 11 from the bottom surface 12a side of the concave portion 12.
  • the column diameter of the columnar crystal in the portion in contact with the scintillator portion 30 in the second portion 22 is smaller than the column diameter R1 of the columnar crystal C1 in the first portion 21.
  • the scintillator panel 1 configured as described above can be manufactured, for example, as follows. That is, first, a base material as a base of the substrate 10 is prepared, and the material of the uneven pattern Pa is formed on the base material by coating and drying. Then, the uneven
  • the uneven pattern Pa may be formed on the substrate by screen printing. Then, a scintillator material such as CsI is deposited on the substrate 10 by vacuum deposition. By controlling various deposition conditions (vacuum degree, deposition rate, substrate heating temperature, vapor flow angle, etc.), the scintillator portions 20 and 30 as described above can be formed on the uneven pattern Pa.
  • the scintillator material is deposited until the scintillator portion on the upper surface 11a of the convex portion 11 has a predetermined height (for example, 100 ⁇ m to 600 ⁇ m).
  • a predetermined height for example, 100 ⁇ m to 600 ⁇ m.
  • the first portion 21 is formed from the upper surface 11 a of the convex portion 11 and the second portion 22 is formed from the side surface 11 b of the convex portion 11 to form the scintillator portion 20. Is done.
  • the scintillator section 30 is formed on the bottom surface 12 a of the recess 12, and the scintillator panel 1 is manufactured.
  • substrate 10 is each described above in order to form the scintillator parts 20 and 30.
  • the width W of the concave portion 12 and the height H of the convex portion 11 can be set as follows according to the height T of the scintillator portion 20 formed by vacuum deposition. it can.
  • the width W of the recess 12 is about 1 ⁇ m to 10 ⁇ m, and when the height T of the scintillator section 20 is 100 ⁇ m to 200 ⁇ m,
  • the width W is about 10 ⁇ m to 40 ⁇ m and the height of the scintillator section 20 is 200 ⁇ m to 400 ⁇ m
  • the width W of the recess 12 is 40 ⁇ m to 60 ⁇ m and the height T of the scintillator section 20 is 400 ⁇ m to 600 ⁇ m
  • the width W of the recess 12 can be set to about 60 ⁇ m to 80 ⁇ m.
  • the height H of the convex portion 11 can be set to 5 ⁇ m to 50 ⁇ m, for example.
  • the scintillator portions 20 formed by vacuum deposition can be separated from each other ( That is, the scintillator portion can be pixelated) and the scintillator portion 30 can be formed on the bottom surface 12a of the recess 12. Note that it is not realistic to widen the width W of the recess 12 due to the problem of the aperture ratio.
  • the scintillator panel 1 includes the scintillator portion 20 formed on the plurality of convex portions 11 of the substrate 10 and the bottom surface 12 a of the concave portion 12 defined by the convex portions 11 of the substrate 10. And a scintillator portion 30 formed thereon.
  • the scintillator portion 20 includes a second portion 22 extending from the side surface 11 b of the convex portion 11 in addition to the first portion 21 extending from the upper surface 11 a of the convex portion 11. For this reason, the contact area of the scintillator part 20 and the board
  • the second portion 22 extending from the side surface 11 b of the convex portion 11 is in contact with the scintillator portion 30 formed on the bottom surface 12 a of the concave portion 12. For this reason, since the plurality of columnar crystals C2 constituting the second portion 22 are supported by the scintillator portion 30 from the bottom surface 12a side of the recess 12, they are prevented from being lost. Therefore, according to this scintillator panel 1, the fall of reliability can be suppressed.
  • the columnar crystal C2 constituting the second portion 22 is larger than the expansion ratio of the column diameter R1 of the columnar crystal C1 constituting the first portion 21 of the scintillator section 20.
  • the enlargement ratio of the column diameter R2 is larger.
  • the column diameter R2 of the columnar crystal C2 of the second portion 22 is larger than the column diameter R1 of the columnar crystal C1 of the first portion 21 particularly at each tip. Thereby, the effective area becomes wider as viewed from the incident direction of the radiation R, and the absorption rate of the radiation R is increased.
  • the scintillator panel 1 since the height H of the convex portion 11 is larger than the column diameter of each columnar crystal, a plurality of columnar crystals C2 are formed on the side surface 11b of the convex portion 11.
  • the scintillator portion 20 can be formed on the convex portion 11 so as to be reliably separated from each other. If the height H of the convex portion 11 is not sufficient, the scintillator portions 20 adjacent to each other may come into contact with each other when the scintillator portion 20 is formed by vapor deposition.
  • FIG. 5 is a side view of the scintillator panel according to the second embodiment.
  • the scintillator panel 1 ⁇ / b> A according to this embodiment is different from the scintillator panel 1 according to the first embodiment in that it further includes a protective film 40.
  • the protective film 40 is formed on the scintillator portions 20 and 30 so as to cover the entire scintillator portions 20 and 30 along the outline of the scintillator portion 20.
  • the protective film 40 is also formed between the scintillator portions 20 adjacent to each other, but is formed so as not to fill the gap between the adjacent scintillator portions 20 (that is, to maintain the gap).
  • the thickness of the protective film 40 can be, for example, about 1 ⁇ m to 5 ⁇ m, and can be about 2 ⁇ m to 3 ⁇ m.
  • the protective film 40 can be a moisture-resistant organic film made of, for example, polyparaxylylene or polyurea.
  • the scintillator panel 1A according to the present embodiment it is possible to suppress a decrease in reliability as in the scintillator panel 1 according to the first embodiment. Furthermore, according to the scintillator panel 1A according to the present embodiment, by providing the protective film 40, it is possible to protect the scintillator portions 20 and 30 from moisture and the like, and the moisture resistance of the scintillator portion 20 is improved. [Third Embodiment]
  • FIG. 6 is a side view of the scintillator panel according to the third embodiment.
  • FIG. 7 is a partial plan view of the scintillator panel shown in FIG.
  • the scintillator panel 1 ⁇ / b> B according to the present embodiment is different from the scintillator panel 1 ⁇ / b> A according to the second embodiment in that it further includes a light shielding layer 50.
  • the protective film 40 is omitted.
  • the light shielding layer 50 is a light reflecting layer that reflects the scintillation light generated in the scintillator section 20 or a light absorption layer that absorbs the scintillation light generated in the scintillator section 20. That is, the light shielding layer 50 is for shielding the scintillation light generated in the predetermined scintillator unit 20 and confining it in the predetermined scintillator unit 20.
  • the light shielding layer 50 is formed by filling a gap between the adjacent scintillator portions 20 via the protective film 40. Further, in the scintillator unit 20 located on the outer periphery of the scintillator panel 1B, the light shielding layer 50 is also formed on the side portion not adjacent to the other scintillator unit 20 via the protective film 40. Yes. On the other hand, the light shielding layer 50 is not formed on the upper end portion of the scintillator portion 20 (the end portion opposite to the convex portion 11).
  • the light shielding layer 50 is formed on the protective film 40 so as to cover the entire scintillator portion 20 except for the upper end portion of the scintillator portion 20 (in other words, each scintillator portion 20 is The upper end portion is covered with the protective film 40 and exposed from the light shielding layer 50).
  • a light shielding layer 50 includes, for example, inks, paints, or pastes containing organic pigments, inorganic pigments, or metal pigments, metal nanoinks containing metal nanoparticles such as Ag, Pt, or Cu, and various dyes. can do.
  • the light shielding layer 50 can also be formed by forming a metal film by ALD (atomic layer deposition) or electroless plating.
  • the scintillator panel 1B according to the present embodiment similarly to the scintillator panel 1A according to the second embodiment, a reduction in reliability can be suppressed and moisture resistance can be improved. Furthermore, according to the scintillator panel 1B according to the present embodiment, by providing the light shielding layer 50, it is possible to confine the scintillation light generated in the predetermined scintillator unit 20 in the predetermined scintillator unit 20. High luminance and high resolution can be realized. [Fourth Embodiment]
  • FIG. 8 is a side view of the scintillator panel according to the fourth embodiment.
  • the scintillator panel 1 ⁇ / b> C according to the present embodiment is different from the scintillator panel 1 ⁇ / b> B according to the third embodiment in that it further includes a light shielding layer 60.
  • the light shielding layer 60 is for shielding the scintillation light, and is a light reflecting layer that reflects the scintillation light or a light absorption layer that absorbs the scintillation light.
  • the light shielding layer 60 is formed on the protective film 40 and the light shielding layer 50 over the entire substrate 10 so as to cover the upper end portion (the protective film 40 on the upper end portion) of the scintillator unit 20 exposed from the light shielding layer 50. Is formed.
  • the light shielding layer 60 may be formed integrally with the light shielding layer 50 or may be formed separately.
  • the light shielding layer 50 may be formed of the same material as the light shielding layer 50 or may be formed of a material different from that of the light shielding layer 50.
  • the scintillator panel 1C according to the present embodiment a decrease in reliability can be suppressed and moisture resistance can be improved, similarly to the scintillator panel 1A according to the second embodiment. Furthermore, according to the scintillator panel 1C according to the present embodiment, by providing the light shielding layers 50 and 60, it is possible to reliably confine the scintillation light generated in the predetermined scintillator unit 20 in the predetermined scintillator unit 20. It becomes.
  • one aspect of the present invention is not limited to the scintillator panels 1 to 1C described above.
  • the above-described scintillator panels 1 to 1C can be arbitrarily changed or applied to others without departing from the scope of the claims.
  • one aspect of the present invention is applied to a scintillator panel.
  • the radiation detector includes any of the scintillator panels 1 to 1C described above, and a plurality of photoelectric conversion elements arranged so that their substrates 10 are optically coupled to the scintillator unit 20.
  • a sensor panel TFT panel or CMOS image sensor panel
  • each of the convex portions 11 can be made of a material having transparency to scintillation light generated in the scintillator portion 20.
  • the scintillator panels 1 to 1C described above are provided, a decrease in reliability can be suppressed.
  • the substrate 10 is a sensor panel including a photoelectric conversion element, if the scintillator unit 20 is provided by forming the convex portion 11 directly on the photoelectric conversion element, a separately prepared scintillator panel and sensor panel are provided. There is no need to stick them together.
  • a scintillator panel having a separation-type scintillator section and a radiation detector having a separation-type scintillator section that can suppress a decrease in reliability.

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Abstract

 放射線をシンチレーション光に変換するためのシンチレータパネルであって、表面及び裏面を有すると共に、前記裏面から前記表面に向かう所定の方向に前記表面から突出する複数の凸部と、前記凸部によって規定される凹部とが形成された基板と、前記基板の前記凸部のそれぞれの上に形成された複数の第1のシンチレータ部と、前記基板の前記凹部の底面上に形成された第2のシンチレータ部と、を備え、前記第1のシンチレータ部は、前記凸部の上面から前記所定の方向に沿って延在する第1の部分と、前記凸部の側面から前記所定の方向に沿って延在して前記第1の部分と接触する第2の部分と、を有し、前記第1及び第2の部分は、シンチレータ材料の複数の柱状結晶から構成されており、前記第1のシンチレータ部同士は互いに離間しており、前記第2のシンチレータ部は、前記第2の部分と接触している、シンチレータパネル。

Description

シンチレータパネル、及び、放射線検出器
 本発明の一側面は、シンチレータパネル及び放射線検出器に関する。
 上記技術分野の従来の技術として、例えば、特許文献1に記載の放射線検出素子が知られている。特許文献1に記載の放射線検出素子は、ガラス基板と、ガラス基板の上に設けられ複数の光電変換素子を含む光センサー部と、光センサー部の上に設けられた平坦化膜と、平坦化膜の上に設けられた複数のシンチレータ部とを備えている。特に、この放射線検出素子においては、平坦化膜に、光電変換素子のそれぞれに対応する複数の凸部が形成されており、シンチレータ部のそれぞれは、互いに接触しつつ区切られるようにその凸部の上面上に形成されている。
特開2001-128064号公報
 特許文献1に記載の放射線検出素子においては、上述したように、基板及び光センサー部の上の平坦化膜に凸部を形成すると共に、互いに区切られるようにその凸部の上面上にシンチレータ部を形成することによって、基板及び光センサー部の全面にシンチレータ部を形成する場合と比較して、シンチレータ部でのクロストークに起因したMTFの低下の抑制等を図っている。
 しかしながら、特許文献1に記載の放射線検出素子のように、平坦化膜の凸部の上面上にシンチレータ部を形成すると、基板及び光センサー部の全面(すなわち平坦化膜の全面)にシンチレータ部を形成する場合と比較して、シンチレータ部の密着性が低下し、信頼性が低下するおそれがある。
 本発明の一側面は、そのような事情に鑑みてなされたものであり、信頼性の低下を抑制可能なシンチレータパネル、及び、放射線検出器を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するために、本発明の一側面に係るシンチレータパネルは、放射線をシンチレーション光に変換するためのシンチレータパネルであって、表面及び裏面を有すると共に、裏面から表面に向かう所定の方向に表面から突出する複数の凸部と、凸部によって規定される凹部とが形成された基板と、基板の凸部のそれぞれの上に形成された複数の第1のシンチレータ部と、基板の凹部の底面上に形成された第2のシンチレータ部と、を備え、第1のシンチレータ部は、凸部の上面から所定の方向に沿って延在する第1の部分と、凸部の側面から所定の方向に沿って延在して第1の部分と接触する第2の部分と、を有し、第1及び第2の部分は、シンチレータ材料の複数の柱状結晶から構成されており、第1のシンチレータ部同士は互いに離間しており、第2のシンチレータ部は、第2の部分と接触している。
 このシンチレータパネルは、基板の複数の凸部上に形成された第1のシンチレータ部と、基板の凸部によって規定された凹部の底面上に形成された第2のシンチレータ部とを備えている。特に、第1のシンチレータ部は、凸部の上面から延びる第1の部分に加えて、凸部の側面から延びて第1の部分に接触する第2の部分を含む。このため、第1のシンチレータ部全体と基板との接触面積が大きくなり、密着性が向上する。さらに、第2の部分は、凹部の底面に形成された第2のシンチレータ部と接触している。このため、第2の部分を構成する複数の柱状結晶が、凹部の底面側から第2のシンチレータ部によって支えられることとなるので、それらの欠落が防止される。よって、このシンチレータパネルによれば、信頼性の低下を抑制することができる。なお、第1のシンチレータ部が、第1の部分に加えて、凸部の側面から延びる第2の部分をさらに有するので、凸部の突出方向(基板の裏面から表面に向かう所定の方向)に沿って放射線が入射する場合に、有効エリアを広くとることができる。
 本発明の一側面に係るシンチレータパネルにおいては、第1の部分は、凸部の上面から所定の方向に沿って結晶成長して形成された複数の柱状結晶から構成されており、第2の部分は、凸部の側面から所定の方向に交差する方向に沿って結晶成長して形成された複数の柱状結晶から構成されているものとすることができる。この場合、上述した所定の方向に沿って放射線が入射する場合に、有効エリアをより広くとることができる。
 本発明の一側面に係るシンチレータパネルにおいては、第1の部分を構成する柱状結晶の柱径は、凸部の上面から離れるにつれて拡大しており、第2の部分を構成する柱状結晶の柱径は、凸部の側面から離れるにつれて拡大しており、第2の部分を構成する柱状結晶の柱径の拡大率は、第1の部分を構成する柱状結晶の柱径の拡大率よりも大きいものとすることができる。この場合、凸部の側面から延びる第2の部分を構成する柱状結晶の柱径が相対的に大きくなるため、有効エリアがより広くなると共に、放射線吸収が高められる。
 本発明の一側面に係るシンチレータパネルにおいては、凸部の高さは、柱状結晶の柱径よりも大きいものとすることができる。この場合、第2の部分を、確実に複数の柱状結晶から構成することが可能となる。また、第1のシンチレータ部同士を確実に分離して形成することが可能となる。
 本発明の一側面に係るシンチレータパネルは、第1及び第2のシンチレータ部を覆うように形成された保護膜をさらに備えることができる。この場合、第1及び第2のシンチレータ部の耐湿性が向上する。
 本発明の一側面に係るシンチレータパネルは、第1のシンチレータ部同士の間に形成され、シンチレーション光を遮蔽するための光遮蔽層をさらに備えることができる。この場合、第1のシンチレータ部のそれぞれにおいて生じたシンチレーション光を閉じ込めることができるので、高輝度・高解像度を実現することが可能となる。
 ここで、上記課題を解決するために、本発明の一側面に係る放射線検出器は、上述したシンチレータパネルを備え、基板は、第1のシンチレータ部に光学的に結合されるように配列された複数の光電変換素子を有するセンサパネルである。この放射線検出器は、上述したシンチレータパネルを備えるので、信頼性の低下を抑制することができる。特に、基板が光電変換素子を含むセンサパネルであるので、その光電変換素子上に直接凸部を形成し、その凸部の上にシンチレータ部を形成することができる。このため、別途用意したシンチレータパネルとセンサパネルとを張り合わせる必要がない。
 本発明の一側面に係る放射線検出器においては、基板の凸部は、シンチレーション光に対して透過性を有することができる。この場合、第1のシンチレータ部からのシンチレーション光を、凸部を介して効率よく光電変換素子まで到達させることができる。
 本発明の一側面によれば、信頼性の低下を抑制可能な、分離型シンチレータ部を有するシンチレータパネル、及び、分離型シンチレータ部を有する放射線検出器を提供することができる。
第1実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。 図1に示されたシンチレータパネルの部分的な平面図である。 図1に示されたシンチレータパネルの部分的な側面図である。 図1に示されたシンチレータパネルの一例を示す断面写真である。 第2実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。 第3実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。 図6に示されたシンチレータパネルの部分的な平面図である。 第4実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。
 以下、一実施形態に係るシンチレータパネルについて、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において、同一又は相当部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。以下の実施形態に係るシンチレータパネルは、入射したX線等の放射線Rを可視光等のシンチレーション光に変換するためのものであり、例えば、マンモグラフィー装置、胸部検査装置、CT装置、歯科口内撮影装置、及び、放射線カメラ等において、放射線イメージング用のデバイスとして用いることができる。
[第1実施形態]
 まず、第1実施形態に係るシンチレータパネルについて説明する。図1は、第1実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。図2は、図1に示されたシンチレータパネルの部分的な平面図である。図3は、図1に示されたシンチレータパネルの部分的な側面図である。図1~3に示されるように、シンチレータパネル1は、矩形状の基板10を備えている。
 基板10は、互いに対向する表面10a及び裏面10bを有する。基板10は、表面10aに形成された凹凸パターンPaを有している。基板10の材料としては、例えば、AlやSUS(ステンレス鋼)等の金属、ポリイミドやポリエチレンテレフタレートやポリエチレンナフタレート等の樹脂フィルム、アモルファスカーボンや炭素繊維強化プラスチック等のカーボン系材料、FOP(ファイバオプティックプレート:直径が数ミクロンの多数の光ファイバを束ねた光学デバイス(例えば、浜松ホトニクス社製J5734))等を用いることができる。凹凸パターンPaの材料としては、例えば、エポキシ系樹(日本化薬(株)製KMPRやSU-8等)といった高アスペクトレジスト、シリコン、及び、ガラス等を用いることができる。特に、凹凸パターンPaを構成する凸部の材料は、後述するシンチレータ部20で生じるシンチレーション光に対して透過性を有する材料とすることができ、その場合、基板10の裏面10b側においてシンチレータパネル1と光電変換素子を有するセンサパネルとを張り合わせて放射線検出器を構成することもできる。
 凹凸パターンPaは、複数の凸部11と、凸部11によって規定された凹部12とによって形成されている。つまり、基板10には、複数の凸部11と凹部12とが形成されている。凸部11のそれぞれは、基板10の裏面10bから表面10aに向かう所定の方向(ここでは、放射線Rの入射方向、及び、基板10の表面10aや裏面10bに直交する方向)に沿って表面10aから突出している。凸部11のそれぞれは、直方体状に形成されている。凸部11は、基板10の表面10a上に2次元アレイ状に周期的に配列されている。したがって、凸部11によって規定される凹部12は、平面視で矩形の格子状を呈する溝である。
 このような凹凸パターンPaの各寸法は、例えば、凸部11のピッチ(凸部11の形成周期)Pを100μm程度とした場合には凹部12の幅(溝幅)Wを35μm程度とし、凸部11のピッチPを127μm程度とした場合には凹部12の幅Wを20μm~40μm程度とし、凸部11のピッチPを200μm程度とした場合には凹部12の幅Wを50μm~70μm程度とすることができる。また、凸部11の高さHは、2.5μm~50μm程度とすることができる。特に、本実施形態においては、凸部11のピッチPを127μm程度とし、凹部12の幅Wを45μm程度とし、凸部11の高さHを15μm程度としている。
 シンチレータパネル1は、凸部11のそれぞれの上に形成された複数のシンチレータ部(第1のシンチレータ部)20と、凹部12内に形成されたシンチレータ部(第2のシンチレータ部)30とを備えている。シンチレータ部20同士は互いに離間している(すなわち、シンチレータパネル1は、分離型シンチレータ部を有している)。シンチレータ部30は、凹部12の全体にわたって一体に形成されている。シンチレータ部20,30は、例えばCsI(ヨウ化セシウム)といった柱状結晶を形成するシンチレータ材料により形成することができる。シンチレータ部20の高さ(シンチレータ膜厚))Tは、例えば、100μm~600μm程度とすることができる。
 シンチレータ部20は、第1の部分21と、第2の部分22とを有する。第1の部分21は、平面視において、凸部11の形状に対応するように矩形状を呈している。第2の部分22は、平面視において、第1の部分21の側部を覆うように矩形環状を呈している。第1の部分21は、凸部11の上面11aから放射線Rの入射方向(基板10に対して略垂直な方向)に沿って延在している。より具体的には、第1の部分21は、凸部11の上面11aから放射線Rの入射方向に沿って結晶成長して形成されたシンチレータ材料の複数の柱状結晶C1から構成されている。
 第2の部分22は、凸部11の側面11bから放射線Rの入射方向に沿って延在して第1の部分21と接触している。第2の部分22は、第1の部分21と一体的に形成されている(第1の部分21と接合されている)。より具体的には、第2の部分22は、凸部11の側面11bから放射線Rの入射方向(基板10に対して略垂直な方向)に交差する方向(所定の方向に交差する方向)に沿って結晶成長して形成されたシンチレータ材料の複数の柱状結晶C2から構成されており、全体として放射線Rの入射方向に沿って延びている。柱状結晶C2は、凸部11の側面11bの全体に形成されている。
 第1の部分21を構成する柱状結晶C1は、凸部11の上面11aから離れるにつれて拡径するテーパ状を呈している。つまり、柱状結晶C1の柱径R1は、凸部11の上面11aから離れるにつれて(すなわち、上面11a側の基端部から反対側の先端部に向けて)拡大している。第2の部分22を構成する柱状結晶C2は、凸部11の側面11bから離れるにつれて拡径するテーパ状を呈している。つまり、柱状結晶C2の柱径R2は、凸部11の側面11bから離れるにつれて(すなわち、側面11b側の基端部から反対側の先端部に向けて)拡径している。
 特に、柱状結晶C2の柱径R2の拡大率は、柱状結晶C1の柱径R1の拡大率よりも大きい。したがって、例えばそれぞれの先端部において、柱状結晶C1の柱径R1よりも柱状結晶C2の柱径R2の方が相対的に大きくなる。なお、上述した凸部11の高さHは、少なくとも第1の部分21を構成する柱状結晶C1及び第2の部分22を構成する柱状結晶C2の基端部における柱径よりも大きい。したがって、凸部11の上面11a上又は側面11b上には、複数の柱状結晶C1又は柱状結晶C2が形成されている。
 シンチレータ部30は、凹部12内において、特に凹部12の底面12a上に形成されている。シンチレータ部30は、シンチレータ部20の第1の部分21及び第2の部分22と同様に、CsIといったシンチレータ材料の複数の柱状結晶により構成されている。シンチレータ部30を構成する各柱状結晶は、凹部12の底面12aから放射線Rの入射方向に沿って結晶成長されて形成されている。シンチレータ部30は、凹部12の隅(凸部11の側面11bと凹部12の底面12aとの接続部分)から凹部12の幅方向の中心に向かって厚みが増すような凸状(断面略三角形状)を呈している。シンチレータ部30は、凸部11の側面11bから延びる第2の部分22の柱状結晶C2を凹部12の底面12a側から支えるように、第2の部分22と接触している。因みに、第2の部分22におけるシンチレータ部30と接触している部分の柱状結晶の柱径は、第1の部分21の柱状結晶C1の柱径R1よりも小さい。
 以上のように構成されるシンチレータパネル1は、例えば次のように製造することができる。すなわち、まず、基板10の元となる基材を用意し、基材上に凹凸パターンPaの材料を塗布乾燥によって形成する。続いて、フォトリソグラフィによってその基材に凹凸パターンPaを形成して所望の寸法の凹凸パターンPaを有する基板10を作製する。なお、基材上にスクリーン印刷によって凹凸パターンPaを形成してもよい。そして、真空蒸着によってCsIといったシンチレータ材料を基板10の上に蒸着する。各種蒸着条件(真空度、蒸着レート、基板加熱温度、蒸気流の角度等)を制御することにより、凹凸パターンPa上に上述したようなシンチレータ部20,30を形成することができる。
 このとき、凸部11の上面11a上のシンチレータ部が所定の高さ(例えば100μm~600μm)となるまで、シンチレータ材料の蒸着を行う。これにより、図4に示されるように、凸部11の上面11a上から第1の部分21が形成されると共に凸部11の側面11b上から第2の部分22が形成されシンチレータ部20が構成される。また、同時に、凹部12の底面12a上にシンチレータ部30が形成されて、シンチレータパネル1が製造される。
 なお、基板10の凹凸パターンPaの各寸法(凸部11のピッチP、凹部12の幅W、及び凸部11の高さH等)は、シンチレータ部20,30を形成するために上述した各値に設定することができるが、特に、凹部12の幅W及び凸部11の高さHは、真空蒸着により形成するシンチレータ部20の高さTに応じて、以下のように設定することができる。
 すなわち、シンチレータ部20の高さTを100μm未満とする場合には、凹部12の幅Wを1μm~10μm程度とし、シンチレータ部20の高さTを100μm~200μmとする場合には、凹部12の幅Wを10μm~40μm程度とし、シンチレータ部20の高さを200μm~400μmとする場合には、凹部12の幅Wを40μm~60μmとし、シンチレータ部20の高さTを400μm~600μmとする場合には、凹部12の幅Wを60μm~80μm程度とすることができる。このとき、凸部11の高さHは、例えば5μm~50μmとすることができる。
 このように、シンチレータ部20の高さHに応じて凹部12の幅W及び凸部11の高さHを設定すれば、真空蒸着によって形成されるシンチレータ部20同士を互いに分離することができる(すなわち、シンチレータ部のピクセル化を実現できる)と共に、凹部12の底面12a上にシンチレータ部30を形成することができる。なお、凹部12の幅Wを広げすぎてしまうことは、開口率の問題から現実的ではない。
 以上説明したように、本実施形態に係るシンチレータパネル1は、基板10の複数の凸部11の上に形成されたシンチレータ部20と、基板10の凸部11によって規定された凹部12の底面12a上に形成されたシンチレータ部30とを備えている。特に、シンチレータ部20は、凸部11の上面11aから延びる第1の部分21に加えて、凸部11の側面11bから延びる第2の部分22を含む。このため、シンチレータ部20と基板10との接触面積が大きくなり、密着性が向上する。
 また、本実施形態に係るシンチレータパネル1においては、凸部11の側面11bから延びる第2の部分22は、凹部12の底面12aに形成されたシンチレータ部30と接触している。このため、第2の部分22を構成する複数の柱状結晶C2が、凹部12の底面12a側からシンチレータ部30によって支えられることとなるので、それらの欠落が防止される。よって、このシンチレータパネル1によれば、信頼性の低下を抑制することができる。
 また、本実施形態に係るシンチレータパネル1においては、シンチレータ部20の第1の部分21を構成する柱状結晶C1の柱径R1の拡大率よりも、第2の部分22を構成する柱状結晶C2の柱径R2の拡大率の方が大きい。このため、特にそれぞれの先端部において、第2の部分22の柱状結晶C2の柱径R2が、第1の部分21の柱状結晶C1の柱径R1よりも大きくなる。これにより、放射線Rの入射方向からみて有効エリアがより広くなると共に、放射線Rの吸収率が高められる。
 さらに、本実施形態に係るシンチレータパネル1においては、凸部11の高さHを、各柱状結晶の柱径よりも大きくしているので、凸部11の側面11b上に複数の柱状結晶C2を確実に形成することができるうえに、シンチレータ部20を確実に互いに分離するように凸部11上に形成することができる。凸部11の高さHが十分でないと、蒸着によりシンチレータ部20を形成したときに、互いに隣り合うシンチレータ部20同士が接触する場合がある。
[第2実施形態]
 引き続いて、第2実施形態に係るシンチレータパネルについて説明する。図5は、第2実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。図5に示されるように、本実施形態に係るシンチレータパネル1Aは、第1実施形態に係るシンチレータパネル1と比較して、保護膜40をさらに備える点で相違している。
 保護膜40は、シンチレータ部20の外形に沿ってシンチレータ部20,30の全体を覆うように、シンチレータ部20,30の上に形成されている。特に、保護膜40は、互いに隣り合うシンチレータ部20同士の間にも形成されるが、互いに隣り合うシンチレータ部20同士の隙間を埋めないように(すなわち、当該隙間を維持するように)形成されている。具体的には、保護膜40の厚さは、例えば、1μm~5μm程度とすることができ、2μm~3μm程度としてもよい。保護膜40は、例えば、ポリパラキシリレンやポリ尿素等からなる耐湿性有機膜とすることができる。
 本実施形態に係るシンチレータパネル1Aによれば、第1実施形態に係るシンチレータパネル1と同様に信頼性の低下を抑制することができる。さらに、本実施形態に係るシンチレータパネル1Aによれば、保護膜40を設けることにより、シンチレータ部20,30を湿気等から保護することが可能とり、シンチレータ部20の耐湿性が向上される。
[第3実施形態]
 引き続いて、第3実施形態に係るシンチレータパネルについて説明する。図6は、第3実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。図7は、図6に示されたシンチレータパネルの部分的な平面図である。図6,7に示されるように、本実施形態に係るシンチレータパネル1Bは、第2実施形態に係るシンチレータパネル1Aと比較して、光遮蔽層50をさらに備える点で相違している。なお、図7においては、保護膜40が省略されている。
 光遮蔽層50は、シンチレータ部20において発生したシンチレーション光を反射する光反射層、又は、シンチレータ部20において発生したシンチレーション光を吸収する光吸収層である。つまり、光遮蔽層50は、所定のシンチレータ部20で発生したシンチレーション光を遮蔽して、その所定のシンチレータ部20に閉じ込めるためのものである。
 そのために、光遮蔽層50は、互いに隣り合うシンチレータ部20同士の間の隙間に、保護膜40を介して充填されて形成されている。また、光遮蔽層50は、シンチレータパネル1Bの外周部に位置するシンチレータ部20においては、他のシンチレータ部20と隣接していない側の側部上にも、保護膜40を介して形成されている。一方、光遮蔽層50は、シンチレータ部20の上端部(凸部11と反対側の端部)には形成されていない。
 したがって、光遮蔽層50は、シンチレータ部20の上端部を除いて、各シンチレータ部20の全体を覆うように、保護膜40の上に形成されている(換言すれば、各シンチレータ部20は、その上端部において保護膜40に覆われると共に光遮蔽層50から露出している)。このような光遮蔽層50は、例えば、有機顔料、無機顔料、又は金属顔料を含むインク、塗料、又はペーストや、Ag、Pt、又はCu等の金属ナノ粒子を含む金属ナノインクや、各種染料とすることができる。また、光遮蔽層50は、ALD法(原子層堆積法)や無電解メッキ等により金属膜を形成することで形成することもできる。
 本実施形態に係るシンチレータパネル1Bによれば、第2実施形態に係るシンチレータパネル1Aと同様に、信頼性の低下を抑制可能であると共に耐湿性を向上させることができる。さらに、本実施形態に係るシンチレータパネル1Bによれば、光遮蔽層50を設けることにより、所定のシンチレータ部20で生じたシンチレーション光を、その所定のシンチレータ部20に閉じ込めることが可能となるので、高輝度・高解像度を実現することが可能となる。
[第4実施形態]
 引き続いて、第4実施形態に係るシンチレータパネルについて説明する。図8は、第4実施形態に係るシンチレータパネルの側面図である。図8に示されるように、本実施形態に係るシンチレータパネル1Cは、第3実施形態に係るシンチレータパネル1Bと比較して、光遮蔽層60をさらに備える点で相違している。光遮蔽層60は、光遮蔽層50と同様に、シンチレーション光を遮蔽するためのものであり、シンチレーション光を反射する光反射層、又は、シンチレーション光を吸収する光吸収層である。
 光遮蔽層60は、光遮蔽層50から露出したシンチレータ部20の上端部(上端部上の保護膜40)を覆うように、基板10上の全体にわたって保護膜40及び光遮蔽層50の上に形成されている。光遮蔽層60は、光遮蔽層50と一体に形成されてもよいし、別体に形成されてもよい。また、光遮蔽層50は、光遮蔽層50と同様の材料によって形成されてもよいし、光遮蔽層50と異なる材料によって形成されてもよい。
 本実施形態に係るシンチレータパネル1Cによれば、第2実施形態に係るシンチレータパネル1Aと同様に、信頼性の低下を抑制可能であると共に耐湿性を向上させることができる。さらに、本実施形態に係るシンチレータパネル1Cによれば、光遮蔽層50,60を設けることにより、所定のシンチレータ部20で生じたシンチレーション光を、その所定のシンチレータ部20に確実に閉じ込めることが可能となる。
 以上の実施形態は、本発明の一側面に係るシンチレータパネルの一実施形態を説明したものである。したがって、本発明の一側面は、上述したシンチレータパネル1~1Cに限定されない。本発明の一側面は、各請求項の要旨を変更しない範囲において、上述したシンチレータパネル1~1Cを任意に変更し、又は他のものに適用したものとすることができる。
 例えば、上記実施形態においては、本発明の一側面をシンチレータパネルに適用した場合について説明したが、本発明の一側面は、上述したシンチレータパネル等を備える放射線検出器に適用することができる。その場合には、放射線検出器は、上述したシンチレータパネル1~1Cのいずれかを備えると共に、それらの基板10を、シンチレータ部20に光学的に結合されるように配列された複数の光電変換素子を備えるセンサパネル(TFTパネルやCMOSイメージセンサパネル)とすることができる。
 その場合には、例えば、基板10であるTFTパネルやCMOSイメージセンサの各画素にそれぞれ対応する凸部11を形成し、その上にシンチレータ部20,30を形成する。凸部11の材料や形成方法は上述したとおりである。その際、凸部11のそれぞれを、シンチレータ部20で生じるシンチレーション光に対して透過性を有する材料により構成することができる。
 このような放射線検出器によれば、上述したシンチレータパネル1~1Cを備えるので、信頼性の低下を抑制することができる。また、基板10が、光電変換素子を含むセンサパネルであるので、その光電変換素子の上に直接凸部11を形成してシンチレータ部20を設ければ、別途用意したシンチレータパネルとセンサパネルとを張り合わせる必要がない。
 本発明の一側面によれば、信頼性の低下を抑制可能な、分離型シンチレータ部を有するシンチレータパネル、及び、分離型シンチレータ部を有する放射線検出器を提供することができる。
 1,1A,1B,1C…シンチレータパネル、10…基板(センサパネル)、11…凸部、11a…上面、11b…側面、12…凹部、12a…底面、20…シンチレータ部(第1のシンチレータ部)、21…第1の部分、22…第2の部分、30…シンチレータ部(第2のシンチレータ部)、40…保護膜、50…光遮蔽層、60…光遮蔽層、C1,C2…柱状結晶、R…放射線、R1,R2…柱径。

Claims (8)

  1.  放射線をシンチレーション光に変換するためのシンチレータパネルであって、
     表面及び裏面を有すると共に、前記裏面から前記表面に向かう所定の方向に前記表面から突出する複数の凸部と、前記凸部によって規定される凹部とが形成された基板と、
     前記基板の前記凸部のそれぞれの上に形成された複数の第1のシンチレータ部と、
     前記基板の前記凹部の底面上に形成された第2のシンチレータ部と、を備え、
     前記第1のシンチレータ部は、前記凸部の上面から前記所定の方向に沿って延在する第1の部分と、前記凸部の側面から前記所定の方向に沿って延在して前記第1の部分と接触する第2の部分と、を有し、
     前記第1及び第2の部分は、シンチレータ材料の複数の柱状結晶から構成されており、
     前記第1のシンチレータ部同士は互いに離間しており、
     前記第2のシンチレータ部は、前記第2の部分と接触している、
     シンチレータパネル。
  2.  前記第1の部分は、前記凸部の前記上面から前記所定の方向に沿って結晶成長して形成された複数の前記柱状結晶から構成されており、
     前記第2の部分は、前記凸部の前記側面から前記所定の方向に交差する方向に沿って結晶成長して形成された複数の前記柱状結晶から構成されている、
     請求項1に記載のシンチレータパネル。
  3.  前記第1の部分を構成する前記柱状結晶の柱径は、前記凸部の前記上面から離れるにつれて拡大しており、
     前記第2の部分を構成する前記柱状結晶の柱径は、前記凸部の前記側面から離れるにつれて拡大しており、
     前記第2の部分を構成する前記柱状結晶の柱径の拡大率は、前記第1の部分を構成する前記柱状結晶の柱径の拡大率よりも大きい、
     請求項2に記載のシンチレータパネル。
  4.  前記凸部の高さは、前記柱状結晶の柱径よりも大きい、
     請求項1~3のいずれか一項に記載のシンチレータパネル。
  5.  前記第1及び第2のシンチレータ部を覆うように形成された保護膜をさらに備える、
     請求項1~4のいずれか一項に記載のシンチレータパネル。
  6.  前記第1のシンチレータ部同士の間に形成され、前記シンチレーション光を遮蔽するための光遮蔽層をさらに備える、
     請求項1~5のいずれか一項に記載のシンチレータパネル。
  7.  請求項1~6のいずれか一項に記載のシンチレータパネルを備え、
     前記基板は、前記第1のシンチレータ部に光学的に結合されるように配列された複数の光電変換素子を有するセンサパネルである、
     放射線検出器。
  8.  前記基板の前記凸部は、前記シンチレーション光に対して透過性を有する、
     請求項7に記載の放射線検出器。
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