WO2012168989A1 - 演算増幅器 - Google Patents

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WO2012168989A1
WO2012168989A1 PCT/JP2011/005585 JP2011005585W WO2012168989A1 WO 2012168989 A1 WO2012168989 A1 WO 2012168989A1 JP 2011005585 W JP2011005585 W JP 2011005585W WO 2012168989 A1 WO2012168989 A1 WO 2012168989A1
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operational amplifier
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voltage
transistor
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智史 小林
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パナソニック株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to an operational amplifier, and more particularly to an operational amplifier that drives a large load with low power consumption, which is required for communications and mobile applications.
  • Patent Document 1 discloses a configuration of an excellent operational amplification device that can improve the slew rate without causing deterioration of small signal characteristics, settling characteristics, and the like.
  • Patent Document 1 in the case of a circuit configuration including a current supply unit that supplies a current corresponding to a difference in input voltage to a load capacitor and a phase compensation capacitor, the input voltage In an equilibrium state where the difference is small, the current from the current supply unit must be stopped. If this is not the case, the excessive current supply from the current supply unit will hinder the operational amplification operation.
  • FIG. 5 of Patent Document 1 As shown in FIG. 2, an offset voltage or A method for realizing an operational amplifier for supplying a current is also disclosed.
  • a transistor for detecting a difference in input voltage is required separately from the input transistor of the operational amplifier. Therefore, it is necessary to consider two mismatches, ie, a mismatch between the differential input transistors and a mismatch between the differential transistors of the current supply unit, and the offset voltage needs to be set larger than the sum of the two mismatch voltages. There is. Otherwise, due to the influence of mismatch, even if the input voltage difference is less than or equal to the desired threshold value, current flows to the current supply section, causing abnormal circuit operation.
  • the mismatch generally includes a threshold voltage (Vt) mismatch, a device size mismatch, etc., but here, a current difference generated between two paired transistors or a gate-source It means the voltage difference between.
  • Vt threshold voltage
  • FIG. 8 is the same as FIG. 2 of Patent Document 1 described above. 2 and 8, when there is no threshold voltage Vt mismatch, differential input voltages VIN2 and VIN1 (VIN1 and VIN2 are the terminal voltages of terminals IN1 and IN2, respectively) are such that VIN2 ⁇ VIN1> Voffset Assume that the value of the constant current source Q50 is designed so that current is supplied from the transistor Q15 of the current mirror circuit 14.
  • a threshold voltage Vt mismatch of ⁇ Vmiss1 occurs only between the threshold voltages of the differential input transistors Q21 and Q22 (see FIG.
  • Vt offset of ⁇ Vmiss2 (the sign indicates the direction of mismatch) occurs only between the two input differential transistors Q11 and Q12 which are current supply units.
  • the condition for supplying current from the current supply unit is rewritten as VIN2 ⁇ VIN1 ⁇ Vmiss2> Voffset.
  • VIN2 VIN1 because the operational amplifier 15 including Q21 and Q22 has no offset. Therefore, when Vmiss2> Voffset, a current flows from the transistor Q15 of the current supply unit, causing an abnormal operation.
  • increasing Voffset means increasing the threshold voltage for the current supply unit to operate. Therefore, the amount of current supplied from the current supply unit to the load capacitor CL is limited, and a new problem arises that the slew rate amplification effect is reduced.
  • FIG. 3 conceptually illustrates this.
  • the output voltage rises rapidly toward the target voltage VOUT
  • the input voltages VIN2 to VIN1 take a maximum value at the moment of rising, and then decrease with the passage of time and approach an equilibrium state.
  • the current from the current supply unit stops when VIN2 ⁇ VIN1 becomes equal to the predetermined offset voltage, and then rises to the target voltage at the slow slew rate of the original operational amplification unit (the broken line portion in the figure). Therefore, the larger Voffset is, the less effective the slew rate amplification becomes, which becomes an obstacle when operating at high speed.
  • VIN2-VIN1 the dynamic range of the input differential voltage decreases as the power supply voltage decreases, but the threshold voltage Vt mismatch increases due to miniaturization. For this reason, the influence on the decrease in the slew rate amplification effect cannot be ignored.
  • the transistor mismatch in the above discussion specifically refers to a variation in manufacturing, and the threshold voltage Vt1 of the transistor Q11 and the threshold voltage Vt2 of the transistor Q12 disclosed in Patent Document 1 are It does not indicate the difference.
  • Vt2> Vt1 is designed, there is a possibility that the above relationship may be sufficiently reversed due to variations in manufacturing, which solves the problems described so far. It is not a thing.
  • the constants of the transistors Q11 and Q12 when the relationship between the gate width W and the gate length L is W1 / L1> W2 / L2, the change in the current of the transistor Q12 with respect to the change in the input voltage VIN2 is relatively reduced. This configuration is not a preferable solution because the current supplied to the current supply unit is reduced and the slew rate amplification effect is reduced.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an operational amplifier that can reduce the influence of transistor mismatch and further increase the slew rate.
  • the operational amplifier according to the present invention uses a current mirror circuit that mirrors the current flowing in the input transistor in the original operational amplifier instead of the differential transistor in the current supply unit.
  • the influence of the two mismatch voltages is limited to only the mismatch voltage of the current mirror circuit, while maintaining the operation principle and effect of the technology.
  • the operational amplifier according to claim 1 includes a first input terminal and a second input terminal, a first transistor having a control terminal connected to the first input terminal, and the second input terminal. And an input differential pair composed of a second transistor having a control terminal connected thereto, and a difference between a first voltage applied to the first input terminal and a second voltage applied to the second input terminal.
  • An operational amplifier that outputs a corresponding voltage to an output terminal; and a first current mirror circuit that outputs a current corresponding to a current flowing through at least one of the first transistor and the second transistor of the operational amplifier;
  • a constant current source a current difference between the output current of the first current mirror circuit and the constant current source is amplified to a predetermined multiple current, and the amplified current is a phase compensation capacitor included in the operational amplification unit or
  • a second current mirror circuit that outputs to a load capacitance connected to the output terminal of the operational amplifier, and the constant current source is connected to an input part of the second current mirror circuit;
  • the current supply unit includes a current from the constant current source and the first current mirror circuit when the first voltage and the second voltage are equal to or smaller than a predetermined threshold voltage.
  • the output current is canceled out, so that no current is supplied to the phase compensation capacitor included in the operational amplification unit or the load capacitance connected to the output terminal of the operational amplification unit, and the first voltage and the first voltage
  • the difference between the two voltages exceeds a predetermined threshold value
  • the first voltage and the phase compensation capacitance included in the operational amplification unit or the load capacitance connected to the output terminal of the operational amplification unit According to the difference with the second voltage
  • the current supply unit further includes a first current mirror circuit for inverting the polarity of the output current of the current supply unit.
  • a third current mirror circuit is provided that wraps the output current and supplies the output current to the second current mirror circuit.
  • the influence of the threshold voltage Vt mismatch to be taken into consideration at the time of designing can be alleviated, and the offset voltage to be taken into consideration at the time of designing can be reduced.
  • the slew rate amplification effect is enhanced.
  • an operational amplifier having a higher slew rate can be realized.
  • the operational amplifier of the present invention the advantage of not causing the deterioration of the small signal characteristic and the settling characteristic of Patent Document 1 is maintained, while maintaining the low voltage operation and the threshold voltage. Even when a fine process in which Vt mismatch increases is used, it is possible to suppress a decrease in slew rate amplification effect accompanying an increase in mismatch.
  • FIG. 1 is a diagram showing an operational amplifier according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing an operational amplifier in the prior art.
  • FIG. 3 is a schematic view showing the effect of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram showing an operational amplifier according to Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an operational amplifier according to Embodiment 3 of the present invention.
  • FIG. 6 is a diagram showing an operational amplifier according to Embodiment 4 of the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram showing an operational amplifier according to Embodiment 5 of the present invention.
  • FIG. 8 is a diagram showing another configuration example of the operational amplifier in the prior art.
  • a line having a high potential is called a power supply (VDD), and a line having a low potential is called a ground (VSS).
  • VDD power supply
  • VSS ground
  • the load capacity connected to the output terminal of the operational amplifier determines the slew rate.
  • the slew rate is a value obtained by differentiating the voltage at the output terminal with respect to time when a step-like input signal is applied to the input terminal of the operational amplifier.
  • the slew rate is one of parameters representing characteristics when driving a capacitive load.
  • the rising slew rate depends on the magnitude of the current I that charges the capacitor C
  • the falling slew rate depends on the magnitude of the current I that discharges the capacitor C.
  • Vf) is established, and the output current of the operational amplification unit is stopped.
  • FIG. 1 shows a circuit diagram of an operational amplifier according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the operational amplifier 100 includes an operational amplification unit 101 and a current supply unit 110.
  • the current supply unit 110 includes a first current mirror circuit 102, a second current mirror circuit 103, and a constant current source 104 connected to an input unit of the second current mirror circuit 103.
  • M11 to M50 denote CMOS transistors
  • VIN1 and VIN2 are differential input terminals (first and second input terminals) of the operational amplifier 100, respectively, and their input voltages are also referred to as VIN1 and VIN2, respectively.
  • VIN2 is the voltage at the non-inverting input terminal
  • VIN1 is the voltage at the inverting input terminal.
  • VOUT is an output voltage of the operational amplifier
  • CL indicates a load of the operational amplifier.
  • Vb1, Vb2, and Vb3 are bias voltages of the respective nodes.
  • the operational amplifier 101 is a general two-stage operational amplifier composed of transistors M21 to M27, and Cc is a phase compensation capacitor.
  • the first current mirror circuit 102 is realized by sharing the current mirror circuits M23 and M24 included in the operational amplifier 101 and adding an NMOS transistor M11.
  • the capacitor (the operational amplifier load CL and the phase compensation capacitor Cc) is supplied.
  • the PMOS transistor M50 constitutes a constant current source 104, and takes into account the mismatch of the first current mirror circuit 102, and when the input voltage is in an equilibrium state, that is, when a virtual short circuit is established, the PMOS transistor The output current from M28 is designed to be zero. Specifically, when the current flowing through the PMOS transistor M25 is 2Is, the currents flowing through the MOS transistors M23, M24, and M12 of the first current mirror circuit 102 are all Is. Of course, the mirror ratio of only the PMOS transistor M12 may be changed, or the current value of the PMOS transistor M12 may be changed.
  • the mismatch between the MOS transistors M23, M24, and M11 of the current mirror circuit 102 needs to be considered.
  • the drain current ID of the MOS transistor is expressed as follows using the threshold voltage Vt, the gate-source voltage VGS, and the transconductance parameter K.
  • IDS K (VGS ⁇ Vt) 2
  • the current value I50 of the PMOS transistor M50 of the constant current source 104 is a parameter for determining the threshold voltage (VIN2-VIN1) from which the current flows from the PMOS transistor M28. It depends.
  • I50 ⁇ Is + Imiss It is desirable to select the minimum current value that satisfies this relationship. By doing so, the maximum slew rate amplification effect can be obtained in consideration of the influence of mismatch.
  • the influence of mismatch to be considered in this embodiment is only the current mismatch of the first current mirror circuit 102, and it is not necessary to consider the input transistor of the operational amplifier 101. Therefore, I50 from the constant current source 104 can be designed to be smaller than that in the conventional technique, and the slew rate improvement effect is enhanced.
  • VIN2 ⁇ VIN1 is below a certain threshold (VIN2 ⁇ VIN1).
  • the current flowing through the input transistor M21 of the operational amplifier 101 is output as the drain current I11 of the NMOS transistor M11 by the first current mirror circuit 102, but is canceled by the current I50 from the constant current source 104 (I11 ⁇ I50). Since no current flows through the PMOS transistor M12 of the second current mirror circuit 103, no current flows through the PMOS transistor M28 to the load CL.
  • VIN2 ⁇ VIN1 exceeds a certain threshold (VIN2> VIN1).
  • the current from the PMOS transistor M25 almost flows to the input differential transistor M21, and the current of the NMOS transistor M11 of the first current mirror circuit 102 also increases.
  • the drain current I12 of the PMOS transistor M12 is amplified A times by the PMOS transistor M28 of the second current mirror circuit 103 and supplied to the output load CL of the operational amplifier 100. As a result, the output voltage VOUT rises rapidly, and the slew rate of the operational amplifier 100 is greatly improved.
  • the rising slew rate is improved.
  • the polarity of the transistor and power supply in the circuit shown in FIG. 1 may be reversed. This corresponds to the case where the differential input transistor is an NMOS transistor in the case of a normal two-stage amplification operational amplifier.
  • the polarity of the transistor and power supply of the circuit may be reversed.
  • a general two-stage amplification operational operational amplifier is used for the operational amplification unit 101.
  • operational amplifiers there are various other configurations of operational amplifiers. Obviously, it is obvious that various operational amplifiers may be used.
  • the polarity of the circuit transistor and the power supply may be reversed as described above, but the polarity of the input transistor (NMOS, PMOS) is in the common-mode input power supply voltage range Often subject to restrictions.
  • the input differential transistor is an NMOS transistor, assuming that the threshold voltage of the NMOS transistor is VTN, and the drain-source voltage of the current source that supplies current to the differential transistor is VDSN, the common-mode input voltage is VTN + VDN or less.
  • an NMOS transistor cannot be used as the input transistor, and it is necessary to use a PMOS input type as shown in FIG.
  • FIG. 4 shows a circuit diagram of the operational amplifier 200 according to the second embodiment of the present invention.
  • This circuit has a configuration in which the polarity of the slew rate improvement effect in the first embodiment is inverted, that is, a configuration for improving the falling slew rate.
  • the components having the same functions and effects as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals.
  • the second current mirror circuit 103 is NMOS transistors M12 and M28
  • the constant current source 104 is a PMOS transistor M50
  • a heavy load is applied at the time of startup.
  • the load capacitance CL is connected between the output terminal of the operational amplifier 200 and the power supply VDD, and the polarity (direction) of the mismatch described so far is reversed.
  • Imiss ′ the current flowing through the NMOS transistor M11 at equilibrium is Is ′ and the current that decreases due to mismatch is Imiss ′, I50 ' ⁇ Is'-Imiss' The current value should be designed to be as large as possible.
  • the design value of Imiss ′ may be calculated from the threshold Vt mismatch as in the first embodiment.
  • the mismatch between the differential input transistors is not the current mismatch of the current mirror circuit 102. Therefore, the influence of the mismatch to be taken into account is one transistor constituting the current mirror circuit 102. Good. Therefore, the I50 'of the constant current source 104 can be designed to be larger than that in the prior art, and the slew rate improvement effect is enhanced.
  • VIN1-VIN2 is below a certain threshold (VIN1 ⁇ VIN2).
  • the current I50 from the constant current source 104 is canceled by the drain current I11 ′ of the NMOS transistor M11 output from the first current mirror circuit 102 by the current flowing through the input transistor M21 of the operational amplifier 101 (I11 ′ ⁇ I50 ′). Since no current flows through the NMOS transistor M12 of the second current mirror circuit 103, no current flows through the NMOS transistor M28 to the load CL.
  • VIN1 ⁇ VIN2 exceeds a certain threshold value (VIN1> VIN2).
  • the current from the PMOS transistor M25 of the operational amplifier 101 almost flows to the input differential transistor M22, and the current of the NMOS transistor M11 of the first current mirror circuit 102 decreases.
  • the drain current I12 'of the NMOS transistor M12 is amplified A times by the NMOS transistor M28 of the second current mirror circuit 103, and current is drawn from the output load CL of the operational amplifier 200. As a result, the output voltage VOUT falls rapidly, and the slew rate of the operational amplifier 200 is greatly improved.
  • the falling slew rate is improved.
  • FIG. 5 shows a circuit diagram of the operational amplifier 300 according to the third embodiment of the present invention.
  • the operational amplifier 101 is composed of a so-called folded cascode operational amplifier that is often used for low-voltage applications from a two-stage operational amplifier.
  • Components having the same functions and effects as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals.
  • the first current mirror circuit 102 is realized by sharing the current mirror circuits M29 to M34 included in the operational amplification unit 101 and adding two PMOS transistors M11 and M13. ing.
  • the current of the PMOS transistor M25 of the operational amplifier 101 is 2Is ′′ and the current flowing through the NMOS transistors M23 and M24 is Io ′′
  • the current Is ′′ flowing through the differential input transistors M22 and M21 is folded back to the first.
  • the current flows through the PMOS transistor M31 of the current mirror circuit 102 as Io ′′ -Is ′′. Therefore, the output current of the first current mirror circuit 102 is also Io ′′ ⁇ Is ′′.
  • the current I50 ′′ of the constant current source 104 is determined in consideration of the case where the output of the first current mirror circuit 102 increases Imiss ′′ due to mismatch. I50 ′′ ⁇ Io ′′ ⁇ Is ′′ + Imiss ′′ It is desirable that the value be as small as possible.
  • the design value of “Imiss” can be calculated from the threshold voltage Vt mismatch as in the first embodiment.
  • VIN2 ⁇ VIN1 is below a certain threshold (VIN2 ⁇ VIN1).
  • the current I50 from the constant current source 104 is canceled by the drain current I11 ′′ of the PMOS transistor M11 output through the PMOS transistor M13 of the first current mirror circuit 102 (I11 ′′ ⁇ I50 ′′), and the second current mirror. Since no current flows through the PMOS transistor M12 of the circuit 103, no current flows through the PMOS transistor M28 of the second current mirror circuit 103 to the load CL.
  • VIN2 ⁇ VIN1 exceeds a certain threshold (VIN2> VIN1).
  • the current from the PMOS transistor M25 of the operational amplifier 101 almost flows to the input differential transistor M21, and the current of the PMOS transistor M22 decreases.
  • the current of the PMOS transistor M31 of the folded first current mirror circuit 102 increases, and at the same time, the current of the PMOS transistor M11 also increases.
  • the drain current I 12 ′′ of the PMOS transistor M 12 is amplified A times by the PMOS transistor M 28 of the second current mirror circuit 103 and supplied to the output load CL of the operational amplifier 300.
  • the output voltage VOUT rises rapidly, and the slew rate of the operational amplifier 300 is greatly improved.
  • FIG. 6 shows a circuit diagram of the operational amplifier 400 according to the fourth embodiment of the present invention.
  • the polarity of the slew rate improvement effect of the operational amplifier 300 in the third embodiment is inverted so that the falling slew rate can be improved.
  • the output of the first current mirror circuit 102 of the current supply unit 110 is decreased by Imiss''' due to mismatch, as in the second embodiment, and Assuming that the current of the NMOS transistor M25 is 2Is ′ ′′ and the current flowing through the NMOS transistors M23 and M24 is Io ′ ′′, I50 ''' ⁇ Io'''-Is'''-Imiss''' It is desirable that the value be as large as possible.
  • the design value of Imiss ′ ′′ can be calculated from the threshold Vt mismatch as in the first embodiment.
  • VIN1-VIN2 is below a certain threshold (VIN1 ⁇ VIN2).
  • the current I50 from the constant current source 104 is canceled by the drain current I11 ′ ′′ of the PMOS transistor M11 output through the PMOS transistor M31 by folding the current flowing through the input transistor M22 of the operational amplifier 101 (I11 ′ ′′).
  • I11 ′ ′′ no current flows through the NMOS transistor M12 of the second current mirror circuit 103, so no current flows through the NMOS transistor M28 to the load CL.
  • the drain current I 12 ′′ ′′ of the transistor M 12 is amplified A times by the NMOS transistor M 28 of the second current mirror circuit 103, and current is drawn from the output load CL of the operational amplifier 400. As a result, the output voltage VOUT falls rapidly, and the slew rate of the operational amplifier 400 is greatly improved.
  • the falling slew rate is improved.
  • FIG. 7 shows a circuit diagram of an operational amplifier 500 according to the fifth embodiment of the present invention.
  • this circuit uses the third current mirror circuit 105 in the current supply unit 110 to invert the polarity of the current.
  • the output current of the PMOS transistor M11 of the first current mirror circuit 102 is folded back by the third current mirror circuit 105 and becomes the output current of the PMOS transistor M14.
  • VIN2 ⁇ VIN1 is below a certain threshold (VIN2 ⁇ VIN1).
  • the current flowing through the input transistor M21 of the operational amplifier 101 is output as the drain current I14 of the PMOS transistor M14 by the third current mirror circuit 105, but is canceled by the current I50 ′′ ′′ from the constant current source 104 (I50).
  • I50 ′′ ′′ the constant current source 104
  • VIN2 ⁇ VIN1 exceeds a certain threshold (VIN2> VIN1).
  • the current from the PMOS transistor M25 of the operational amplifier 101 almost flows to the input differential transistor M21, and the current of the PMOS transistor M14 of the third current mirror circuit 105 also increases.
  • the drain current I12 of the transistor M12 is amplified A times by the NMOS transistor M28 of the second current mirror circuit 103, and current is drawn from the output load CL of the operational amplifier 500. As a result, the output voltage VOUT falls rapidly, and the slew rate of the operational amplifier 500 is greatly improved.
  • the mismatch needs to consider both mismatches of the first current mirror circuit 102 and the third current mirror circuit 105, but the influence of the mismatch of the differential input transistors M21 and M22 of the operational amplifier 101 is affected. There is no change, and this should not deny the superiority of the present invention.
  • the current I50 ′′ ′′ from the constant current source 104 the sum of the current mismatch due to the threshold voltage mismatch of the first current mirror circuit 102 and the current mismatch due to the threshold voltage mismatch of the third current mirror circuit 105 is Considering Imiss ⁇ '' I50 '''' ⁇ Is + Imiss '''' It is desirable that the value be as small as possible.
  • the current mirror circuits 102, 103, and 105 added in the present embodiment are also configured using a transistor having a small transconductance gm or a transistor having a large gate area in order to reduce the threshold voltage offset. It is desirable.
  • CMOS transistors all the transistors have been described using CMOS transistors. However, of course, they may be configured using bipolar transistors.
  • the present invention relates to an operational amplifier that drives a large load with low power consumption, which is required for communication and mobile applications, and has a good slew rate characteristic. It is useful when applied to repeated wireless terminals.

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Abstract

 演算増幅器100は、差動入力電圧VIN1、VIN2間の差に応じた電流を供給する電流供給部110を備える。前記電流供給部110は、前記演算増幅部101の入力差動トランジスタM21、M22に流れる電流をミラーする第1及び第2カレントミラー回路102、103及び定電流源104を備える。この構成では、トランジスタミスマッチの影響を、第1カレントミラー回路102でのトランジスタミスマッチの影響のみに抑えることができる。その結果、前記電流供給部110が動作するしきい値電圧を従来よりも小さく設計することが可能となり、スルーレート増幅効果がより増強される。

Description

演算増幅器
 本発明は、演算増幅器に関し、特に、通信やモバイル向け用途で要求される、低い消費電力で大きな負荷を駆動する演算増幅器に関する。
 近年、通信やモバイル機器の普及に伴い、電池寿命を延ばすために電源を間欠的に動作させるアプリケーションが増加している。これに伴って、例えばIC外部に内部電圧の安定化容量が接続されている場合、電源オフで容量にチャージされた電荷が抜けるため、再度電源をオンした際には、容量を再充電するための待ち時間が必要となり、その分だけ電源をオンしている期間が余分に必要となる。言い換えると、電源をオフにできる期間が減少し、その結果、電池寿命が減少する。
 従来、そのような課題を解決するため、かつて液晶ドライバなどで多く利用されたスルーレートを増大させる機能を有する演算増幅器を用いることにより、容量を高速に駆動し、電源立上りに必要な期間を短縮している。その中でも、例えば特許文献1では、小信号特性の劣化、セットリング特性の劣化等を招くことなくスルーレートを向上させることができる優れた演算増幅装置の構成を開示している。
 しかしながら、一般的に、特許文献1に記載があるように、入力電圧の差に応じた電流を負荷容量及び位相補償容量に供給する電流供給部を備えた回路構成の場合には、入力電圧の差が小さい平衡状態では、電流供給部からの電流は必ず停止している必要がある。そうでない場合、電流供給部からの余剰な電流供給により、演算増幅動作に支障をきたすためである。
 そこで、前記問題の解決策として、特許文献1の図5には、図2に示したように、入力電圧があるしきい値を超えないと、前記電流供給部が動作しないようなオフセット電圧又は電流を与える演算増幅器の実現方法が同時に開示されている。
特許2927729号公報
 しかしながら、前記従来の技術では、入力電圧の差を検知するためのトランジスタが、演算増幅装置の入力トランジスタとは別途必要であった。そのため、差動入力トランジスタ間のミスマッチと、電流供給部の差動トランジスタ間のミスマッチとの2つのミスマッチを考慮する必要があり、前記オフセット電圧は、2つのミスマッチ電圧の合計よりも大きく設定する必要がある。そうでなければ、ミスマッチの影響に起因して、入力電圧の差が所望のしきい値以下でも、電流供給部へ電流が流れ、回路の異常動作を引き起こすことになる。
 ここで、ミスマッチとは、一般的にはしきい値電圧(Vt)ミスマッチや、デバイス寸法のミスマッチ等があるが、ここでは、ペアを成す2つのトランジスタ間に発生した電流差、又はゲート・ソース間電圧差を意味する。
 このことを、具体的に図2、図8を用いて説明する。図8は前記特許文献1の図2をそのまま掲載したものである。図2、図8において、全てのしきい値電圧Vtミスマッチがない場合、差動入力電圧VIN2、VIN1(VIN1,VIN2はそれぞれ端子IN1,IN2の端子電圧)が、VIN2-VIN1>Voffsetとなる場合に、カレントミラー回路14のトランジスタQ15から電流が供給されるように定電流源Q50の値を設計したとする。ここで、演算増幅部15の差動入力トランジスタQ21、Q22(図8参照)のしきい値電圧間のみに±Vmiss1のしきい値電圧Vtミスマッチが発生した場合、平衡状態の入力電圧は、VIN2-VIN1=±Vmiss1(符号はミスマッチの方向を示す)となる。従って、Vmiss1>Voffsetとなった場合、ミスマッチの方向次第では、平衡状態でも電流供給部から電流が流れ、異常動作を引き起こすことになる。
 同様に、電流供給部である2個の入力差動トランジスタQ11、Q12の間にのみ、±Vmiss2(符号はミスマッチの方向を示す)のしきい値電圧Vtオフセットが発生した場合を考える。電流供給部から電流が供給される条件は、VIN2-VIN1±Vmiss2>Voffsetと書き改められる。平衡状態での入力電圧の関係は、Q21、Q22を含めた演算増幅部15にオフセットがないとしていることから、VIN2=VIN1である。従って、Vmiss2>Voffsetの場合に、電流供給部のトランジスタQ15から電流が流れ、異常動作を引き起こす。
 前記2つのトランジスタミスマッチは、それぞれ独立に発生しうるため、回路の安全動作を補償するためには、オフセット電圧の値をVoffset>Vmiss1+Vmiss2とすることが必要である。
 一方、Voffsetを増加させるということは、電流供給部が動作するためのしきい値電圧を増加させるということである。そのため、電流供給部から負荷容量CLへ供給される電流量が制限され、スルーレート増幅効果が低減するという課題が新たに発生する。図3はこのことを概念的に示すものである。出力電圧が目標電圧VOUTに向かって急速に立ち上がるとともに、入力電圧VIN2-VIN1は立ち上がりの瞬間に最大値をとり、その後、時間の経過とともに減少し、平衡状態へ近づく。電流供給部からの電流はVIN2-VIN1が所定のオフセット電圧と等しくなった際に停止し、その後は元の演算増幅部の遅いスルーレートで目標電圧へ立ち上がることになる(同図破線部)。従って、Voffsetが大きければ大きいほど、スルーレート増幅の効果が弱まり、高速で動作する際の障害となる。
 特に、通信やモバイル用途では電源電圧の低下に伴い、入力差動電圧(VIN2-VIN1)のダイナミックレンジが減少する一方で、微細化によりしきい値電圧Vtミスマッチが増大している。そのため、前述のスルーレート増幅効果の減少への影響が無視できなくなっている。
 尚、以上の議論でのトランジスタミスマッチは、具体的には製造時のばらつきによるものを指し、特許文献1で示されているトランジスタQ11のしきい値電圧Vt1とトランジスタQ12のしきい値電圧Vt2との差を示すものではない。仮に、特許文献1で示されているように、設計上、Vt2>Vt1としたとしても、製造時のばらつきによって、前述の関係が十分逆転する可能性があり、これまで述べた課題を解決するものではない。また、トランジスタQ11、Q12の定数において、ゲート幅Wとゲート長Lの関係をW1/L1>W2/L2とした場合、入力電圧VIN2の変化に対するトランジスタQ12の電流の変化が相対的に減少し、電流供給部への電流が減少して、スルーレート増幅効果が減少するため、この構成も好ましい解決方法とはいえない。
 本発明は、前記の問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、トランジスタミスマッチの影響を緩和し、更なるスルーレートの高速化を可能とした演算増幅器を提供することにある。
 前記目的を達成するために、本発明の演算増幅器は、電流供給部の差動トランジスタの代替に、元の演算増幅部内部の入力トランジスタに流れる電流をミラーするカレントミラー回路を用いることにより、従来技術の動作原理及び効果はそのままに、前記2つ分のミスマッチ電圧の影響を、カレントミラー回路のミスマッチ電圧のみに制限する。
 具体的に、請求項1記載の発明の演算増幅器は、第1入力端子及び第2入力端子と、前記第1入力端子にその制御端子が接続された第1トランジスタ、及び、前記第2入力端子にその制御端子が接続された第2トランジスタからなる入力差動対とを備え、前記第1入力端子に印加された第1電圧と前記第2入力端子に印加された第2電圧との差に応じた電圧を出力端子に出力する演算増幅部と、前記演算増幅部の第1トランジスタ又は前記第2トランジスタの少なくとも何れか一方のトランジスタに流れる電流に応じた電流を出力する第1カレントミラー回路と、定電流源と、前記第1カレントミラー回路の出力電流と前記定電流源の差分の電流を所定の倍数の電流に増幅し、増幅された電流を前記演算増幅部に含まれる位相補償容量又は前記演算増幅部の前記出力端子に接続された負荷容量に出力する第2カレントミラー回路とを有し、前記定電流源は前記第2カレントミラー回路の入力部に接続されている電流供給部とを備え、前記電流供給部は、前記第1電圧と前記第2電圧とが等しい、又は所定のしきい値電圧よりも小さい場合には、前記定電流源からの電流と前記第1カレントミラー回路の出力電流とが相殺されることによって、前記演算増幅部に含まれる位相補償容量又は前記演算増幅部の前記出力端子に接続された負荷容量に電流を供給せず、前記第1電圧と前記第2電圧との差が所定のしきい値を越えた場合には、前記演算増幅部に含まれる位相補償容量又は前記演算増幅部の前記出力端子に接続された負荷容量に、前記第1電圧と前記第2電圧との差に応じた電流を供給することによって、スルーレートを増加させる機能を有することを特徴とする。
 また、請求項2記載の発明は、前記請求項1記載の演算増幅器において、前記電流供給部は、更に、前記電流供給部の出力電流の極性を反転させるために、前記第1カレントミラー回路の出力電流を折り返し、前記第2カレントミラー回路へ供給する第3カレントミラー回路を備えたことを特徴とする。
 以上により、本発明では、設計の際に考慮すべきしきい値電圧Vtミスマッチの影響を緩和でき、設計時に考慮すべきオフセット電圧を小さく設計することができ、その結果、スルーレート増幅効果が高まり、より高速なスルーレートを持つ演算増幅器を実現することが可能となる。
 以上説明したように、本発明の演算増幅器によれば、特許文献1の小信号特性の劣化、セットリング特性の劣化等を招くことがない利点はそのままに、低電圧動作時やしきい値電圧Vtミスマッチが増加する微細プロセスを用いた場合であっても、ミスマッチの増加に伴うスルーレート増幅効果の減少を抑制することが可能である。
図1は本発明の実施形態1における演算増幅器を示す図である。 図2は従来技術における演算増幅器を示す図である。 図3は本発明の効果を示す概略図である。 図4は本発明の実施形態2における演算増幅器を示す図である。 図5は本発明の実施形態3における演算増幅器を示す図である。 図6は本発明の実施形態4における演算増幅器を示す図である。 図7は本発明の実施形態5における演算増幅器を示す図である。 図8は従来技術における演算増幅器の他の構成例を示す図である。
 以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。尚、図面において、同一のものについては同一の符号を付して表示する。
 以下の実施形態においては、演算増幅器に接続される2つの電源ラインのうち、電位の高いラインを電源(VDD)といい、電位の低いラインをグラウンド(VSS)という。また、本発明による演算増幅器の実施形態においては、特に断りのない限り、負荷が重い、つまり演算増幅器の出力端子に接続された負荷容量がスルーレートを決定するとする。本明細書においてスルーレートとは、演算増幅装置の入力端子にステップ状の入力信号が与えられたときにおける、出力端子の電圧を時間によって微分した値である。スルーレートは、容量性負荷を駆動するときの特性を表すパラメータの1つである。出力端子に接続された容量Cを一定の電流Iで充電する場合、スルーレートSRは、SR=dV/dt=I/Cによって定義され、その単位は(V/s)である。スルーレートを改善するためには、容量Cを充放電する電流Iを大きくする必要がある。立ち上がりスルーレートは、容量Cを充電する電流Iの大きさに依存し、立ち下がりスルーレートは、容量Cを放電する電流Iの大きさに依存する。また、全ての実施形態において、平衡状態とは、差動入力間で入力電圧が等しいとみなせるバーチャルショート(理想的にはVIN1=VIN2であり、ミスマッチにより入力換算オフセットVfがあるときは、|VIN1-VIN2|=Vfである)が成立し、演算増幅部の出力電流が停止する状態を指す。
 また、以下の実施形態全てにおいて、図1及び図4~図7のトランジスタM25とM50、M23とM24のミスマッチの影響に関しては、従来技術である図2、図8と比較して明らかのように、本発明及び従来技術共に同様の構成を有することから、同じく影響を受ける。そのため、以下の実施形態の説明ではそれらの影響はないものと考える。
 (実施形態1)
 図1は、本発明の実施形態1における演算増幅器の回路図を示す。
 図1において、演算増幅器100は、演算増幅部101と電流供給部110とを備える。前記電流供給部110は、第1カレントミラー回路102と、第2カレントミラー回路103と、前記第2カレントミラー回路103の入力部に接続された定電流源104とを有する。M11~M50はCMOSトランジスタを示し、VIN1、VIN2はそれぞれ演算増幅器100の差動入力端子(第1及び第2入力端子)であり、以下、その入力電圧もVIN1、VIN2と記す。ここでは、VIN2は非反転入力端子の電圧、VIN1は反転入力端子の電圧である。また、VOUTは演算増幅器の出力電圧であり、CLは演算増幅器の負荷を示している。Vb1、Vb2、Vb3は各ノードのバイアス電圧である。
 演算増幅部101は、トランジスタM21~M27から構成される一般的な2段増幅の演算増幅部であり、Ccは位相補償容量である。第1カレントミラー回路102は、前記演算増幅部101に含まれるカレントミラー回路M23,M24を共有し、NMOSトランジスタM11を追加した形で実現される。また、第2カレントミラー回路103は、2個のPMOSトランジスタM12、M28から構成され、そのミラー比をM12:M28=1:A(A≧1)と設計することにより、増幅した電流を出力負荷容量(演算増幅器の負荷CL及び位相補償容量Cc)へ供給する。
 更に、PMOSトランジスタM50は定電流源104を構成し、第1カレントミラー回路102のミスマッチを考慮に入れた上で、入力電圧が平衡状態、即ち、バーチャルショートが成立しているときに、PMOSトランジスタM28からの出力電流が0となる値に設計される。具体的には、PMOSトランジスタM25に流れる電流を2Isとすると、第1カレントミラー回路102のMOSトランジスタM23,M24、M12に流れる電流は、共にIsとなる。勿論、PMOSトランジスタM12のみのミラー比を変えたり、PMOSトランジスタM12の電流値を変更しても良い。仮に、入力差動対を構成する2個のPMOSトランジスタ(第1及び第2のトランジスタ)M21、M22のしきい値電圧間にミスマッチが発生したとしても、これは平衡時の入力電圧VIN1、VIN2間の電位差となって現れるため、カレントミラー回路102の電流のミスマッチとはならない。従って、差動入力PMOSトランジスタM21,M22のミスマッチの影響を取り除くことができる。
 一方、カレントミラー回路102のMOSトランジスタM23、M24、M11間のミスマッチについては、考慮が必要である。よく知られているように、MOSトランジスタのドレイン電流IDはしきい値電圧Vtとゲート・ソース間電圧VGS、トランスコンダクタンスパラメータKを用いて、次のように示される。
IDS=K(VGS-Vt)
 ここで、しきい値電圧VtミスマッチVmissが発生し、トランジスタM11のしきい値電圧がVt-Vmissとなった場合を考えると、
 ミスマッチが発生した際の電流ID1は、ID1=K(VGS-Vt+Vmiss)となり、ドレイン電流が増加する。従って、この電流の増加分Imiss=ID1-IDSを考慮して、定電流源104のPMOSトランジスタM50の電流値I50を決定すればよい。以上により、定電流源104のPMOSトランジスタM50の電流値I50は、PMOSトランジスタM28から電流が流れ出す(VIN2-VIN1)のしきい値電圧を決定するパラメータであり、その値によって、スルーレート増幅効果が左右される。本実施形態においては、
I50≧Is+Imiss
の関係を満たす最小の電流値を選択することが望ましい。このようにすることにより、ミスマッチの影響も考慮した上で、最大限のスルーレート増幅効果が得られる。
 以上説明した通り、本実施形態で考慮すべきミスマッチの影響は、第1カレントミラー回路102の電流ミスマッチのみでよく、演算増幅部101の入力トランジスタミを考慮する必要がなくなる。そのため、従来技術よりも定電流源104のからのI50を小さく設計でき、スルーレート改善効果が強化される。
 次に、図1の演算増幅器100の動作について説明する。
 先ず、VIN2-VIN1があるしきい値以下の場合を考える(VIN2<VIN1)。演算増幅部101の入力トランジスタM21を流れる電流は、第1カレントミラー回路102により、NMOSトランジスタM11のドレイン電流I11として出力されるが、定電流源104からの電流I50により相殺され(I11≧I50)、第2カレントミラー回路103のPMOSトランジスタM12には電流が流れないため、PMOSトランジスタM28を通じて、負荷CLへ電流が流れることはない。
 次に、VIN2-VIN1があるしきい値以上になった場合を考える(VIN2>VIN1)。PMOSトランジスタM25からの電流は入力差動トランジスタM21へほとんど流れることになり、第1カレントミラー回路102のNMOSトランジスタM11の電流も増加する。この結果、そのNMOSトランジスタM11の電流I11が、定電流源104の電流値I50を上回り、I12=I11-I50(≧0)の電流が第2のカレントミラー回路103のPMOSトランジスタM12へ流れ始める。このPMOSトランジスタM12のドレイン電流I12は、第2カレントミラー回路103のPMOSトランジスタM28によりA倍に増幅され、演算増幅器100の出力負荷CLへ供給されることになる。その結果、出力電圧VOUTは急速に立ち上がり、演算増幅器100のスルーレートは大幅に改善される。
 上に説明した演算増幅器100によれば、立ち上がりスルーレートが改善されることになる。
 また、立下りスルーレートを改善するためには、図1に示す回路のトランジスタ及び電源の極性を反転させればよい。これは通常の2段増幅の演算増幅器の場合、差動入力トランジスタがNMOSトランジスタの場合に相当する。以下の実施形態において、スルーレート改善効果の極性(立ち上がり、立ち下り)が逆の効果を生じさせるための構成を説明するが、勿論、回路のトランジスタ及び電源の極性を反転させてもよい。
 更に、本実施形態においては、演算増幅部101に一般的な2段増幅の演算算増幅器を用いたが、勿論、かかる技術に精通する技術者であれば、演算増幅器の構成は他にも多種多様であることは明らかであり、別の構成の演算増幅器を用いても良いことは明らかである。
 (実施形態2)
 次に、本発明の第2の実施形態を説明する。
 スルーレート改善効果の極性を反転するためには、上にも述べたように回路のトランジスタ及び電源の極性を反転させてもよいが、入力トランジスタの極性(NMOS,PMOS)は同相入力電源電圧範囲によって制限を受けることが多い。例えば、入力差動トランジスタがNMOSトランジスタの場合、NMOSトランジスタのしきい値電圧をVTN、差動トランジスタへ電流を供給する電流源のドレイン・ソース間電圧をVDSNとすると、同相入力電圧がVTN+VDSN以下の場合は、入力トランジスタにNMOSトランジスタを使用することができず、図4に示すようなPMOS入力のタイプを使用する必要がある。
 図4は、本発明の実施形態2の演算増幅器200の回路図を示す。この回路は、前記実施形態1におけるスルーレート改善効果の極性を反転したもの、即ち、立ち下がりスルーレートを改善するための構成である。前記実施形態1と同様の機能・効果を有する構成には同じ符号を付している。
 前記実施形態1との差異は、電流供給部110において、第2カレントミラー回路103がNMOSトランジスタM12、M28となり、定電流源104がPMOSトランジスタM50となっていることと、立ち上がり時に重い負荷がつくという意味で、負荷容量CLが演算増幅器200の出力端子と電源VDDとの間に接続されていること、また今まで説明してきたミスマッチについても極性(方向)が逆となっていることである。
 従って、定電流源104のPMOSトランジスタM50の電流値I50’については、第1カレントミラー回路101のNMOSトランジスタM23とNMOSトランジスタM11とのミスマッチで電流が減少したときを考慮して、決定する必要がある。
 具体的には、平衡時にNMOSトランジスタM11に流れる電流をIs’、ミスマッチで減少する電流をImiss’とすると、
I50’≦Is’-Imiss’
となるような電流値に設計すればよく、できるだけ大きな値とすることが望ましい。Imiss’の設計値については実施形態1と同様に、しきい値Vtミスマッチから算出すればよい。
 ここでも、実施形態1の場合と同様に差動入力トランジスタ間のミスマッチはカレントミラー回路102の電流ミスマッチとはならないため、考慮すべきミスマッチの影響はカレントミラー回路102を構成するトランジスタ1組分でよい。そのため、従来技術よりも定電流源104のI50’を大きく設計できるので、スルーレート改善効果が強化される。
 続いて、図4の演算増幅器200の動作について説明する。
 先ず、VIN1-VIN2があるしきい値以下の場合を考える(VIN1<VIN2)。定電流源104からの電流I50は、演算増幅部101の入力トランジスタM21を流れる電流が第1カレントミラー回路102により出力されたNMOSトランジスタM11のドレイン電流I11’により相殺され(I11’≧I50’)、第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM12には電流が流れないため、NMOSトランジスタM28を通じて、負荷CLへ電流が流れることはない。
 次に、VIN1-VIN2があるしきい値以上になった場合を考える(VIN1>VIN2)。演算増幅器101のPMOSトランジスタM25からの電流は、入力差動トランジスタM22へほとんど流れることになり、第1カレントミラー回路102のNMOSトランジスタM11の電流が減少する。この結果、そのNMOSトランジスタM11の電流I11’が定電流源104の電流値I50’を下回り、I12’=I50’-I11’(≧0)の電流が第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM12へ流れ始める。そのNMOSトランジスタM12のドレイン電流I12’は、第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM28によりA倍に増幅され、演算増幅器200の出力負荷CLから電流を引き込むことになる。その結果、出力電圧VOUTは急速に立ち下がり、演算増幅器200のスルーレートは大幅に改善される。
 よって、上に説明した演算増幅器200によれば、立ち下がりスルーレートが改善されることになる。
 (実施形態3)
 続いて、本発明の第3の実施形態を説明する。
 図5は、本発明の実施形態3の演算増幅器300の回路図を示す。この回路は、前記実施形態1において、演算増幅部101を2段増幅の演算増幅器から低電圧用途でよく用いられる、いわゆる折り返しカスコード型の演算増幅器で構成したものである。前記実施形態1と同様の機能・効果を有するものには同じ符号を付している。
 同図において、電流供給部110において、第1カレントミラー回路102は、演算増幅部101に含まれるカレントミラー回路M29~M34を共有し、2個のPMOSトランジスタM11、M13を追加した形で実現されている。
 演算増幅部101のPMOSトランジスタM25の電流を2Is’’、NMOSトランジスタM23、M24に流れる電流をIo’’とすると、差動入力トランジスタM22、M21に流れる電流Is’’は折り返されて、第1カレントミラー回路102のPMOSトランジスタM31にIo’’-Is’’として流れる。従って、第1カレントミラー回路102の出力電流もIo’’-Is’’となる。定電流源104の電流I50’’は、ミスマッチにより第1カレントミラー回路102の出力がImiss’’増加したときを考慮して、
I50’’≧ Io’’-Is’’+Imiss’’
となる値に設計すればよく、できるだけ小さな値とすることが望ましい。Imiss’’の設計値については、実施形態1と同様に、しきい値電圧Vtミスマッチから算出することができる。
 次に、図5の演算増幅器300の動作について説明する。
 先ず、VIN2-VIN1があるしきい値以下の場合を考える(VIN2<VIN1)。定電流源104からの電流I50は、第1カレントミラー回路102のPMOSトランジスタM13を通じて出力されたPMOSトランジスタM11のドレイン電流I11’’により相殺され(I11’’≧I50’’)、第2カレントミラー回路103のPMOSトランジスタM12には電流が流れないため、第2カレントミラー回路103のPMOSトランジスタM28を通じて、負荷CLへ電流が流れることはない。
 次に、VIN2-VIN1があるしきい値以上になった場合を考える(VIN2>VIN1)。演算増幅部101のPMOSトランジスタM25からの電流は入力差動トランジスタM21へほとんど流れることになり、PMOSトランジスタM22の電流が減少する。そのため、折り返された第1カレントミラー回路102のPMOSトランジスタM31の電流は増加することになり、同時に、PMOSトランジスタM11の電流も増加する。この結果、そのPMOSトランジスタM11の電流I11’’が定電流源104の電流値I50’’を上回り、I12’’=I11’’-I50’’(≧0)の電流が第2カレントミラー回路103のPMOSトランジスタM12へ流れ始める。このPMOSトランジスタM12のドレイン電流I12’’は、第2カレントミラー回路103のPMOSトランジスタM28によりA倍に増幅され、演算増幅器300の出力負荷CLへ電流供給することになる。その結果、出力電圧VOUTは急速に立ち上がり、演算増幅器300のスルーレートは大幅に改善される。
 よって、上に説明した演算増幅器300によれば、立ち上がりスルーレートが改善されることになる。
(実施形態4)
 次に、本発明の第4の実施形態を説明する。
 図6は、本発明の実施形態4の演算増幅器400の回路図を示す。この回路は、前記実施形態3における演算増幅器300のスルーレート改善効果の極性を反転し、立ち下がりスルーレートを改善できるようにしたものである。
 定電流源104の電流値については、実施形態2と同様に、ミスマッチにより電流供給部110の第1カレントミラー回路102の出力がImiss’’’減少したときを考慮して、演算増幅部101のNMOSトランジスタM25の電流を2Is’’’、NMOSトランジスタM23、M24に流れる電流をIo’’’とすると、
I50’’’≦ Io’’’-Is’’’-Imiss’’’
となる値に設計すればよく、できるだけ大きな値とすることが望ましい。Imiss’’’の設計値については、実施形態1と同様に、しきい値Vtミスマッチから算出することができる。
 次に、図6の演算増幅器400の動作について説明する。
 先ず、VIN1-VIN2があるしきい値以下の場合を考える(VIN1<VIN2)。定電流源104からの電流I50は、演算増幅部101の入力トランジスタM22を流れる電流が折り返され、PMOSトランジスタM31を通じて出力されたPMOSトランジスタM11のドレイン電流I11’’’により相殺され(I11’’’≧I50’’’)、第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM12には電流が流れないため、NMOSトランジスタM28を通じて負荷CLへ電流が流れることはない。
 次に、VIN1-VIN2があるしきい値以上になった場合を考える(VIN1>VIN2)。演算増幅部101のNMOSトランジスタM25からの電流は入力差動トランジスタM22へほとんど流れることになるため、第1カレントミラー回路102のPMOSトランジスタM31の電流が減少する。従って、PMOSトランジスタM11の電流も減少することとなり、この結果、そのPMOSトランジスタM11の電流I11’’’が定電流源104の電流値I50’’’を下回り、I12’’’=I50’’’-I11’’’(≧0)の電流が第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM12へ流れ始める。そのトランジスタM12のドレイン電流I12’’’は第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM28によりA倍に増幅され、演算増幅器400の出力負荷CLから電流を引き込むことになる。その結果、出力電圧VOUTは急速に立ち下がり、演算増幅器400のスルーレートは大幅に改善される。
 よって、上に説明した演算増幅器によれば、立ち下がりスルーレートが改善されることになる。
 (実施形態5)
 続いて、本発明の第5の実施形態を説明する。
 図7は、本発明の実施形態5の演算増幅器500の回路図を示す。この回路は、前記実施形態1における演算増幅器100のスルーレート改善効果の極性を反転するための別の方法として、電流の極性を反転されるために電流供給部110において第3カレントミラー回路105を追加した、請求項2に記載の演算増幅器ある。
 第1カレントミラー回路102のPMOSトランジスタM11の出力電流は、第3カレントミラー回路105により折り返され、PMOSトランジスタM14の出力電流となっている。
 図7の演算増幅器500の動作について説明する。
 先ず、VIN2-VIN1があるしきい値以下の場合を考える(VIN2<VIN1)。演算増幅部101の入力トランジスタM21を流れる電流は第3カレントミラー回路105により、PMOSトランジスタM14のドレイン電流I14として出力されるが、定電流源104からの電流I50’’’’により相殺され(I50’’’’≧I14)、第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM12には電流が流れないため、NMOSトランジスタM28を通じて負荷CLへ電流が流れることはない。
 次に、VIN2-VIN1があるしきい値以上になった場合を考える(VIN2>VIN1)。演算増幅器101のPMOSトランジスタM25からの電流は入力差動トランジスタM21へほとんど流れることになり、第3カレントミラー回路105のPMOSトランジスタM14の電流も増加する。この結果、そのPMOSトランジスタM14の電流I14が定電流源104の電流値I50を上回り、I12’’’’=I14-I50’’’’(≧0)の電流が第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM12へ流れ始める。そのトランジスタM12のドレイン電流I12は第2カレントミラー回路103のNMOSトランジスタM28によりA倍に増幅され、演算増幅器500の出力負荷CLから電流を引き込むことになる。その結果、出力電圧VOUTは急速に立ち下がり、演算増幅器500のスルーレートは大幅に改善される。
 本実施形態においては、ミスマッチは第1カレントミラー回路102と第3カレントミラー回路105との両ミスマッチを考慮する必要があるが、演算増幅部101の差動入力トランジスタM21、M22のミスマッチの影響がないことには変わりなく、このことによって本発明の優位性が否定されるべきものではない。定電流源104からの電流I50’’’’については、第1カレントミラー回路102のしきい値電圧ミスマッチによる電流ミスマッチと、第3カレントミラー回路105のしきい値電圧ミスマッチによる電流ミスマッチの合計となるImiss’’’’を考慮して、
I50’’’’≧Is+Imiss’’’’
となる値に設計できればよく、できるだけ小さな値とすることが望ましい。
 また、最初にトランジスタM25とM50、トランジスタM23とM24の影響について無視することとしたが、実際の設計にあたっても、ミスマッチの影響に起因する演算増幅器の入力換算オフセットを小さくするために、前記トランジスタは、トランスコンダクタンスgmを入力差動トランジスタよりも小さく設計することや、ゲート面積を大きく設計することが望ましい。このことは、かかる技術に精通する技術者であれば明らかである。
 更に望ましくは、本実施形態で追加したカレントミラー回路102、103、105についても、同様にしきい電圧のオフセットを小さくするために、トランスコンダクタンスgmが小さいトランジスタやゲート面積の大きいトランジスタを用いて構成することが望ましい。
 尚、以上の実施形態では、トランジスタは全てCMOSトランジスタを用いて説明したが、バイポーラトランジスタを用いて構成しても勿論、構わない。
 以上説明したように、本発明は、通信やモバイル向け用途で要求される、低い消費電力で大きな負荷を駆動する演算増幅器に関し、良好なスルーレート特性を有するので、特に電源が間欠的にオンオフを繰り返す無線端末などに適用して有用である。
M11~M50 CMOSトランジスタ
Cc 位相補償容量
CL 負荷容量
VIN1 反転入力端子電圧
VIN2 非反転入力端子電圧
VOUT 演算増幅器出力端子電圧
VDD 電源
VSS グラウンド
100、200、300、400、500 演算増幅器
101 演算増幅部
102 第1カレントミラー回路
103 第2カレントミラー回路
104 定電流源
105 第3カレントミラー回路
110 電流供給部

Claims (2)

  1.  第1入力端子及び第2入力端子と、前記第1入力端子にその制御端子が接続された第1トランジスタ、及び、前記第2入力端子にその制御端子が接続された第2トランジスタからなる入力差動対とを備え、前記第1入力端子に印加された第1電圧と前記第2入力端子に印加された第2電圧との差に応じた電圧を出力端子に出力する演算増幅部と、
     前記演算増幅部の第1トランジスタ又は前記第2トランジスタの少なくとも何れか一方のトランジスタに流れる電流に応じた電流を出力する第1カレントミラー回路と、定電流源と、前記第1カレントミラー回路の出力電流と前記定電流源の差分の電流を所定の倍数の電流に増幅し、増幅された電流を前記演算増幅部に含まれる位相補償容量又は前記演算増幅部の前記出力端子に接続された負荷容量に出力する第2カレントミラー回路とを有し、前記定電流源は前記第2カレントミラー回路の入力部に接続されている電流供給部とを備え、
     前記電流供給部は、
     前記第1電圧と前記第2電圧とが等しい、又は所定のしきい値電圧よりも小さい場合には、前記定電流源からの電流と前記第1カレントミラー回路の出力電流とが相殺されることによって、前記演算増幅部に含まれる位相補償容量又は前記演算増幅部の前記出力端子に接続された負荷容量に電流を供給せず、
     前記第1電圧と前記第2電圧との差が所定のしきい値を越えた場合には、前記演算増幅部に含まれる位相補償容量又は前記演算増幅部の前記出力端子に接続された負荷容量に、前記第1電圧と前記第2電圧との差に応じた電流を供給することによって、スルーレートを増加させる機能を有する
     ことを特徴とする演算増幅器。
  2.  前記請求項1記載の演算増幅器において、
     前記電流供給部は、更に、
     前記電流供給部の出力電流の極性を反転させるために、前記第1カレントミラー回路の出力電流を折り返し、前記第2カレントミラー回路へ供給する第3カレントミラー回路を備えた
     ことを特徴とする演算増幅器。
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