WO2011027568A1 - 分光蛍光光度計 - Google Patents

分光蛍光光度計 Download PDF

Info

Publication number
WO2011027568A1
WO2011027568A1 PCT/JP2010/005422 JP2010005422W WO2011027568A1 WO 2011027568 A1 WO2011027568 A1 WO 2011027568A1 JP 2010005422 W JP2010005422 W JP 2010005422W WO 2011027568 A1 WO2011027568 A1 WO 2011027568A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
display
fluorescence
area
light
graph
Prior art date
Application number
PCT/JP2010/005422
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
中村孝一
堀込純
Original Assignee
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社日立ハイテクノロジーズ filed Critical 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Publication of WO2011027568A1 publication Critical patent/WO2011027568A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
    • G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0264—Electrical interface; User interface
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/027—Control of working procedures of a spectrometer; Failure detection; Bandwidth calculation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
    • G01N2021/6421—Measuring at two or more wavelengths
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65—Raman scattering

Definitions

  • the present invention relates to a spectrofluorometer.
  • the present invention relates to a spectrofluorometer having a function.
  • Light that is observed as light that is different from fluorescence at the time of fluorescence measurement can be derived from the apparatus conditions of excitation wavelength and spectral slit width, or Raman shift information of the sample solvent, but is a contour graph that displays the three-dimensional fluorescence spectrum on the display screen On the two-dimensional graph displaying the fluorescence spectrum and the fluorescence intensity, light different from fluorescence may be mistakenly read as fluorescence extracted from the sample.
  • Patent Literature 1 and Patent Literature 2 are known as techniques for excluding light that is different from fluorescence.
  • the light emitted from the light source 801 enters the excitation light side spectroscope 802 to extract the excitation light.
  • the setting wavelength of the excitation light side spectroscope 802 is set by controlling the pulse motor 803 from the data processing device 804 via the interface 805.
  • the extracted monochromatic excitation light irradiates the measurement sample 808 in the sample cell 807 via the beam splitter 813, and the fluorescence emitted from the measurement sample 808 enters the fluorescence side spectroscope 809.
  • the fluorescence-side spectroscope 809 takes out the fluorescence of the wavelength selected by the pulse motor 810 controlled by the data processing device 804, enters this into the photodetector 811 and converts it into an electrical signal.
  • the electrical signal is converted to a digital signal by an analog-digital converter 812.
  • the operations of the excitation light side spectroscope 802 and the fluorescence side spectroscope 809 are set by an analyst via the operation panel 806.
  • the excitation light side spectroscope 802 and the fluorescence side spectroscope 809 are each provided with a plurality of slits having various widths (not shown) at the light incident position and the light emitting position, and the slit width is arbitrarily changed according to the measurement conditions. .
  • Part of the monochromatic excitation light extracted from the excitation light side spectroscope 802 is incident on the monitor detector 814 via the beam splitter 813 and converted into an electrical signal to monitor the light source light quantity.
  • the electric signal of the monitor detector 814 is also converted into a digital signal by the analog-digital converter 812.
  • the digital signal (S) of the detector 811 and the digital signal (M) of the monitor detector 814 are sent to the data processing device 804, and the ratio (S / M) between them is calculated as the fluorescence intensity at each wavelength. It is stored in the internal memory 804.
  • the above data processor can obtain three-dimensional matrix data composed of three parameters of excitation light wavelength, fluorescence wavelength, and fluorescence intensity.
  • the fluorescence spectrometer 809 is driven at a predetermined sampling interval at an arbitrary excitation light wavelength to scan the fluorescence wavelength, and the fluorescence intensity at each wavelength is detected to obtain a fluorescence spectrum.
  • the excitation light side spectroscope 2 is driven for the sampling interval and set to the next wavelength.
  • the fluorescence side spectroscope 809 is driven to obtain a fluorescence spectrum, and this is repeated to obtain a two-dimensional and three-dimensional one. Obtain measurement data.
  • the data processing device 804 stores the measurement results (three-dimensional measurement data) and measurement conditions (excitation light side spectroscope, fluorescence side spectroscope slit width, sampling interval, etc.) for each measurement, Output on request.
  • the two-dimensional graph of the fluorescence spectrum and the fluorescence intensity in addition to the fluorescence emitted by the sample, the excitation light observed as light different from the fluorescence is observed.
  • the peak is displayed.
  • the present invention is characterized in that, in a fluorescence spectrophotometer, a drawing process for displaying in advance a display exclusion region where it is clear that fluorescence display is not performed is performed on a display graph that displays a fluorescence measurement result of a sample.
  • the display graph includes at least one of a contour graph of a three-dimensional fluorescence spectrum or a two-dimensional graph based on the fluorescence spectrum and fluorescence intensity.
  • the display exclusion region is a display region corresponding to the Rayleigh scattered light of the excitation light and the diffracted light thereof on the display graph.
  • the display exclusion region is a display region corresponding to the Raman scattered light of the excitation light and its diffracted light on the display graph.
  • the display exclusion area is a display area corresponding to the anti-Stokes area on the display graph.
  • the display exclusion area corresponds to the display area corresponding to the Rayleigh scattered light of the excitation light and its diffracted light, the display area corresponding to the Raman scattered light of the excitation light and its diffracted light, or the anti-Stokes area on the display graph. It is characterized in that at least one of the display areas to be displayed is selectively displayed.
  • an optical system having a light source, an excitation-side spectroscope, a fluorescence-side spectroscope, and a light detector for detecting light emitted from the sample.
  • a sample chamber for storing a measurement sample, a photometer condition setting unit, a two-dimensional spectrum data measurement unit, a three-dimensional spectrum data measurement unit, and a control unit for controlling these components.
  • the operation / data processing GUI unit includes an analysis procedure setting unit that sets an analysis procedure of the main body analysis unit, a measurement result acquisition unit that acquires a result of the main body analysis unit, and a spectrum region guide display that displays the measurement result
  • the control unit includes drawing means for displaying in advance a display exclusion region where it is clear that the fluorescent display is not performed on the display graph displaying the fluorescence measurement result of the spectral region guide display unit.
  • the display graph includes at least one of a contour graph of a three-dimensional fluorescence spectrum or a two-dimensional graph based on the fluorescence spectrum and fluorescence intensity.
  • the drawing means of the control unit includes Rayleigh scattering drawing means for drawing, as a display exclusion area, the Rayleigh scattered light of the excitation light and the display area corresponding to the diffracted light on the display graph.
  • the drawing processing means of the control unit includes Raman scattering drawing means for drawing the Raman scattering light of the excitation light and the display area corresponding to the diffracted light as a display exclusion area on the display graph. Furthermore, the drawing processing means of the control unit includes an anti-Stokes drawing means for drawing a display area corresponding to the anti-Stokes area as a display exclusion area on the display graph.
  • the control unit corresponds to the display area corresponding to the Rayleigh scattered light of the excitation light and its diffracted light, the display area corresponding to the Raman scattered light of the excitation light and its diffracted light, or the anti-Stokes area on the display graph. At least one of the display areas is selectively displayed.
  • the spectral region guide display unit includes a scattered light area button for displaying a region related to Rayleigh scattering, a Raman scattering area button for displaying a region related to Raman scattering, and an anti-Stokes area button for displaying an anti-Stokes region as display exclusion regions. And all area buttons for displaying all the display exclusion areas.
  • the display region to be excluded can be grasped instantly and accurately to prevent erroneous determination of the fluorescence peak of the sample. it can.
  • the block diagram which shows an example of the spectrofluorometer of the Example of this invention The schematic diagram shown about drawing of the scattered light area
  • region of the Example of this invention The schematic diagram shown about drawing of all the areas other than the fluorescence of the Example of this invention
  • Explanatory drawing which shows the example of a screen which performs the area
  • FIG. 1 shows the system configuration of the spectrofluorometer of Example 1 of the present invention.
  • the spectrofluorometer system includes a main body analysis unit 101 and an operation / data processing GUI unit 102.
  • the main body analysis unit 101 receives a command corresponding to the setting of the analysis procedure setting unit 103 from the operation / data processing GUI unit 102, and executes control by the control unit 105 according to the content of the command.
  • the control unit 105 is programmed with a sequence corresponding to each command.
  • the photometer condition setting unit 106 sets the photometer condition, and the two-dimensional spectrum data measurement unit 107 and the three-dimensional spectrum data measurement unit 108 set each spectrum data. Perform measurements.
  • the measurement result is acquired and stored in the measurement result acquisition unit 109 of the operation / data processing GUI unit 102.
  • the spectral region guide display unit 110 is incorporated in the operation / data processing GUI unit 102, and in the spectral region guide display unit 110 based on the acquired and stored measurement result data, the scattered light region, the Raman scattered light region of the solvent, Displays the area of the Stokes area.
  • the main body analysis unit 101 is equipped with a sample chamber 111 having a sample cell 1111 for storing a sample 1112 to be measured, and measurement using a square cell or a solid cell holder is possible.
  • the main optical system 112 constituting the main body analysis unit 101 includes a light source 1121, a photodetector 1122, an excitation wavelength setting unit 1124, an excitation side spectroscope 1123 including an excitation side slit 1125, and a fluorescence wavelength setting unit 1127. And a fluorescence spectrometer 1126 having a fluorescence slit 1128.
  • Rayleigh scattered light is ordinary elastic scattered light, which is also simply called scattered light in the present invention, and appears in a fluorescence wavelength region having the same wavelength as the excitation wavelength.
  • This Rayleigh scattered light has a wavelength distribution, and this wavelength distribution depends on a large slit width of the excitation side slit width or the fluorescence side slit width. From this, the display exclusion region caused by Rayleigh scattered light is determined by equation (1).
  • k is a coefficient for setting the Rayleigh scattered light and higher-order light resulting therefrom as a display exclusion region
  • A is a current excitation wavelength
  • B is a fluorescence wavelength corresponding to the excitation wavelength
  • E is a set excitation-side slit width C.
  • a larger slit value of the fluorescent side slit width D is a coefficient for setting the Rayleigh scattered light and higher-order light resulting therefrom as a display exclusion region
  • A is a current excitation wavelength
  • B is a fluorescence wavelength corresponding to the excitation wavelength
  • E is a set excitation-side slit width C.
  • D is a coefficient for setting the Rayleigh scattered light and higher-order light resulting therefrom as a display exclusion region
  • A is a current excitation wavelength
  • B is a fluorescence wavelength corresponding to the excitation wavelength
  • E is a set excitation-side slit width C.
  • D is a coefficient for setting the Rayleigh scattered light and higher-order
  • the sample is irradiated in order by changing the excitation wavelength A from Wex1 to Wexm, and the corresponding fluorescence wavelength B is acquired from Wems to Weme.
  • the half-width of Rayleigh scattered light varies depending on the state of the sample. For example, sharply Rayleigh scattered light is observed if the solution is sufficiently dilute, but the Rayleigh scattering is large and the half-value width of the suspension or solid sample may be broad. Therefore, by multiplying the slit value E by the sensitivity coefficient ⁇ , it is possible to accurately set the display exclusion region of the Rayleigh scattered light that varies depending on the scattering state of the sample. If the solution is sufficiently dilute with little Rayleigh scattering, sharp Rayleigh scattered light is observed, so a value of about 2 is appropriate for the sensitivity coefficient ⁇ .
  • Raman scattering has an intrinsic Raman shift depending on the sample solvent. Therefore, since the Raman scattered light region changes depending on the type of solvent, it is effective to set a display region and a display method according to the type of solvent.
  • the solvent used include water, ethanol, cyclohexane, carbon tetrachloride, chloroform and the like.
  • the display exclusion region of the Raman scattered light is set by converting the wavelength into a wavelength according to Equation (2).
  • k is a coefficient for setting the range of Raman scattered light and higher order light as a display exclusion region
  • A is a current excitation wavelength
  • B is a fluorescence wavelength corresponding to the excitation wavelength
  • E is a set excitation side.
  • the slit width C and the fluorescent side slit width D a larger slit value is obtained.
  • the half width of the Raman scattered light generated with respect to the slit value E is different.
  • A- ⁇ ⁇ E ⁇ B (3) A: Excitation wavelength (nm), start: Wex1 to end: Wexn B: Fluorescence wavelength (nm), start: Wems to end: Weme C: Excitation side slit width (nm), Sex D: Fluorescent side slit width (nm), Sem E: The anti-Stokes area 401 is obtained from the larger value of either C or D and displayed on the contour line.
  • Peaks observed as extraneous fluorescence are displayed by displaying all of the display exclusion regions by the scattered light, Raman scattered light, and anti-Stokes regions obtained as described above on the contour graph of the three-dimensional fluorescence spectrum as shown in FIG. And the peak 501 that seems to be the fluorescence of the sample can be found instantaneously and easily.
  • FIG. 6 shows an example of a display screen on the spectrum region guide display unit 110 that performs region guide display on contour lines of a three-dimensional spectrum.
  • the contour line graph 601 is a graph in which the horizontal axis represents the fluorescence wavelength, the vertical axis represents the excitation wavelength, and the fluorescence intensity of the measurement data is displayed as a contour line.
  • the (1) scattered light area button 602, (2) the Raman scattered light area button 603, and (3) the anti-Stokes area button 604 are buttons for displaying areas where respective peaks are measured.
  • buttons 605 When these buttons are pressed, the background of the area corresponding to the pressed button area is displayed in gray on the contour graph 601. If all area buttons 605 are pressed, all areas (1) to (3) are displayed in gray.
  • the scale of the contour line is displayed under any measurement conditions to be measured and an area other than the fluorescence of the sample is drawn, it is determined whether the set measurement range is set in an appropriate wavelength range without waste. It is also possible.
  • FIG. 7 shows a screen example for performing region guide display in a two-dimensional fluorescence spectrum.
  • a spectrum 701 is a spectrum displayed with the horizontal axis representing the fluorescence wavelength and the vertical axis representing the fluorescence intensity.
  • the (1) scattered light area button 702, (2) the Raman scattered light area button 703, and (3) the anti-Stokes area button 704 are buttons for displaying areas where respective peaks are measured.
  • buttons 705 When these buttons are pressed, the background of each area is displayed in gray on the spectrum 701. If all area buttons 705 are pressed, all areas (1) to (3) are displayed in gray.
  • the peaks 706 and 707 that may be the sample fluorescence can be easily narrowed down.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

　分光蛍光光度計において、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上の、サンプルの蛍光とは異質の光として観測される光が現れる波長領域を表示除外領域として自動的に描画して、サンプル自身の蛍光を瞬時に容易に識別する。３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフ上に、励起光の散乱光とｎ次光、１／ｎ次光の波長領域、溶媒のラマン散乱光とｎ次光、１／ｎ次光の波長領域、蛍光の存在しないアンチストークス領域を自動的に計算してグラフ上に描画する機能を備え、サンプル自身の蛍光ピークを瞬時に間違いなく識別する。

Description

分光蛍光光度計
　本発明は、分光蛍光光度計に関するものである。特に、サンプルの蛍光測定時に、分光蛍光光度計に観測されてしまう蛍光とは異質の光の領域を分光蛍光光度計装置の表示画面に表示することによって、サンプルの蛍光を見誤らないためのガイド機能を持つ分光蛍光光度計に関するものである。
　蛍光測定時に、蛍光とは異質の光として観測される光は、励起波長と分光スリット幅の装置条件、または試料溶媒のラマンシフト情報から導き出せるが、表示画面の３次元蛍光スペクトルを表示する等高線グラフや、蛍光スペクトル及び蛍光強度を表示する２次元グラフ上では、蛍光とは異質の光をサンプルから抽出した蛍光と間違えて読み取ってしまうことが生じる。
　これら蛍光とは異質の光を除外する技術としては、従来から特許文献１、特許文献２が知られている。
　従来の分光蛍光光度計の基本構成では、図８に示す様に光源８０１から放射される光線を励起光側分光器８０２に入射して励起光を取り出す。励起光側分光器８０２の設定波長は、データ処理装置８０４からインターフェース８０５を介してパルスモータ８０３を制御して行う。取り出された単色励起光は、ビームスプリッタ８１３を介して試料セル８０７内の測定試料８０８を照射し、測定試料８０８から放射された蛍光が蛍光側分光器８０９に入射する。
　蛍光側分光器８０９は、データ処理装置８０４により制御されるパルスモータ８１０により選択された波長の蛍光を取り出し、これを光検知器８１１に入射して電気信号に変換する。電気信号はアナログ－デジタル変換器８１２によってデジタル信号に変換される。
　励起光側分光器８０２及び蛍光側分光器８０９の動作は、操作パネル８０６を介して分析者によって設定される。励起光側分光器８０２及び蛍光側分光器８０９は、各々光の入射位置及び出射位置に図示しない種々の幅を持つスリットを複数備えており、スリット幅は測定条件に応じて任意に変更される。
　励起光側分光器８０２から取り出された単色励起光の一部は、ビームスプリッタ８１３を介してモニタ検知器８１４に入射され電気信号に変換され光源光量をモニタする。モニタ検知器８１４の電気信号もアナログ－デジタル変換器８１２によってデジタル信号に変換される。
　検知器８１１のデジタル信号（Ｓ）とモニタ検知器８１４のデジタル信号（Ｍ）はデータ処理装置８０４に送られ、両者の比（Ｓ／Ｍ）が各波長における蛍光強度として算出され、データ処理装置８０４の内部メモリに記憶される。
　上記データ処理装置によって、励起光波長、蛍光波長、蛍光強度の３パラメータから成る３次元マトリクスデータが得られる。まず任意の励起光波長において蛍光側分光器８０９を所定のサンプリング間隔で駆動して蛍光波長を走査し、各波長の蛍光強度を検出して蛍光スペクトルを得る。次に励起光側分光器２をサンプリング間隔分だけ駆動して次の波長に設定し、同様に蛍光側分光器８０９を駆動して蛍光スペクトルを得、これを反復して２次元、３次元の測定データを得る。
　データ処理装置８０４では、各測定毎にその測定結果（３次元測定データ）及び測定条件（励起光側分光器、蛍光側分光器の各々のスリット幅、サンプリング間隔等）を記憶し、分析者の要求によって出力する。
特許公開２００３－６５９５６号公報 特許公開２００９－３１１７６号公報
　分光蛍光光度計に表示される３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ、蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上には、サンプルが放射する蛍光以外に、蛍光とは異質の光として観測される励起光のレーリー散乱光、励起光の２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光、溶媒のラマン散乱光及びその２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光などのピークが表示される。
　上記の蛍光と異質の光についての知識を基に、分析者がサンプルの蛍光のみを見い出すことは可能であるが、導き方を間違える場合もあり、また多くの除外すべきピークを瞬時に正確に判断することは非常に困難であった。
　従来の特許文献１、２においても等高線グラフ上でピーク表示が行われているが、領域を部分的に拡大表示する際に、画像表示が変形して読取りが困難になる等の問題があった。
　本発明は、蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする。
　また、表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする。
　また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする。
　また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする。
　また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする。
　また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする。
　また、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする。
　さらに、本体分析部と、操作・データ処理用ＧＵＩ部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定試料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、２次元スペクトルデータ測定部と、３次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
　前記操作・データ処理用ＧＵＩ部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
　前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする。
　さらに、表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする。
　さらに、制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする。
　さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする。　
　さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする。
　制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする。
　さらに、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする。
　本発明は、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ、蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上に、励起光の散乱光、溶媒のラマン散乱光、これらの２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光などが現れる波長領域、及び蛍光の現れないアンチストークス領域を予め表示することによって、除外すべき表示領域を瞬時に正確に把握させ、サンプルの蛍光ピークの誤判断を防ぐことができる。
　また、表示除外領域の大きさや、サンプルの蛍光ピークが表示除外領域に重なっている状況に基づき、適切な測定条件となっているか否かについても確認することができる。
本発明の実施例の分光蛍光光度計の一例を示すブロック図 本発明の実施例の散乱光領域の描画について示す模式図 本発明の実施例のラマン散乱光領域の描画について示す模式図 本発明の実施例のアンチストークス領域の描画について示す模式図 本発明の実施例の蛍光以外の全領域の描画について示す模式図 本発明の実施例の３次元スペクトルの等高線における領域ガイド表示を行う画面例を示す説明図 本発明の実施例の２次元スペクトルにおける領域ガイド表示を行う画面例を示す説明図 従来例の分光蛍光光度計の概略構成を示すブロック図
　以下に、本発明の実施例を図面について説明する。
　図１に、本発明の実施例１の分光蛍光光度計のシステム構成を示す。分光蛍光光度計システムは、本体分析部１０１と操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２から構成される。
　本体分析部１０１は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２から分析手順設定部１０３の設定に応じた命令を受け、命令内容に従って制御部１０５により制御を実行する。制御部１０５には各命令に対応するシーケンスがプログラミングされており、光度計条件設定部１０６で光度計条件を設定し、２次元スペクトルデータ測定部１０７、３次元スペクトルデータ測定部１０８で各スペクトルデータの測定を実行する。
　測定結果は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２の測定結果取得部１０９に取得され保存される。スペクトル領域ガイド表示部１１０は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２に組み込まれ、取得・保存された測定結果データに基づきスペクトル領域ガイド表示部１１０において、散乱光領域、溶媒のラマン散乱光領域、アンチストークス領域のエリア表示を行う。
　また、本体分析部１０１には、測定するサンプル１１１２を収納する試料セル１１１１を有する試料室１１１が装備され、角セルや固体セルホルダを使用した測定が可能である。また本体分析部１０１を構成している主な光学系１１２には、光源１１２１、光検知器１１２２、励起波長設定部１１２４及び励起側スリット１１２５を備えた励起側分光器１１２３、蛍光波長設定部１１２７及び蛍光側スリット１１２８を備えた蛍光側分光器１１２６を有する。
〔レーリー散乱の表示除外領域〕
　初めに、図２において、レーリー散乱に起因する表示除外領域について説明する。サンプルの３次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外に、レーリー散乱光２０１、レーリー散乱光に起因する高次回折光２０２、２０３（ｋ＝２、３、４、・・・、もしくは１／２、１／３、１／４・・・）の信号が得られる。これらの信号は蛍光信号とは異なるので、この領域はサンプルの蛍光とは異質の表示除外領域となる。
　レーリー散乱光は通常の弾性的散乱光で本発明では単に散乱光とも呼び、励起波長と同じ波長の蛍光波長領域に出現する。このレーリー散乱光は波長分布を持ち、この波長分布は励起側スリット幅又は蛍光側スリット幅のうち、大きなスリット幅に依存する。このことから、レーリー散乱光に起因する表示除外領域は、式（１）によって決められる。
　ここで、ｋはレーリー散乱光とそれに起因する高次光を表示除外領域とするための係数、Ａは現在の励起波長、Ｂは励起波長に対応する蛍光波長、Ｅは設定された励起側スリット幅Ｃと蛍光側スリット幅Ｄのうち、より大きなスリットの値となる。
　励起波長ＡをＷｅｘ１～Ｗｅｘｍまで変えて順にサンプルを照射し、これに対応する蛍光波長ＢをＷｅｍｓ～Ｗｅｍｅまで取得する。
　レーリー散乱光は、試料の状態によって半値幅が異なる。例えば、十分希薄な溶液であればシャープなレーリー散乱光が観測されるが、懸濁液や固体試料などはレーリー散乱が大きく、その半値幅も大きくブロードとなる場合がある。そこで、スリットの値Ｅに対して、感度係数αを掛けることで試料の散乱状態によって異なるレーリー散乱光の表示除外領域を精度良く設定することが可能となる。レーリー散乱の少ない十分希薄な溶液であれば、シャープなレーリー散乱光が観測されるので、感度係数αは２程度の値が適当である。これは、観測される散乱光はスリット幅が半値となるようにスリットが作用するので、レーリー散乱光は、設定されたスリット幅の±２倍の波長で裾が０付近となるためである。一方、レーリー散乱の大きな懸濁液や固体試料などは、感度係数αとして２以上の値を用いることが望ましい。
〈レーリー散乱の表示除外領域〉
　　ｋ×Ａ－α×Ｅ≦Ｂ≦ｋ×Ａ＋α×Ｅ　　　　・・・・・・（１）
（→ｋ＝１、２、３、・・・もしくはｋ＝１／２、１／３、・・・・）
　Ａ：　励起波長（ｎｍ）、　開始：Ｗｅｘ１～終了：Ｗｅｘｍ
　Ｂ：　蛍光波長（ｎｍ）、　開始：Ｗｅｍｓ～終了：Ｗｅｍｅ
　Ｃ：　励起側スリット幅（ｎｍ）、　Ｓｅｘ（領域２０１の軸Ａ方向幅）
　Ｄ：　蛍光側スリット幅（ｎｍ）、　Ｓｅｍ（領域２０１の軸Ｂ方向幅）
　Ｅ：　ＣとＤのいずれか大きい値
以上により表示除外領域２０１、２０２、２０３を求めて、等高線上に表示する。
〔ラマン散乱の表示除外領域〕
　次に、図３において、ラマン散乱の表示除外領域について説明する。図３においてサンプルの３次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外にラマン散乱光３０１、ラマン散乱光に起因する高次光３０２、３０３（ｋ＝２、３、４、・・・、もしくは１／２、１／３、１／４・・・）が得られる。
　ラマン散乱は、試料の溶媒によって固有のラマンシフトを有する。従って溶媒の種類によりラマン散乱光領域が変化するので、溶媒の種類に応じて表示領域や表示方法を設定するのが有効である。使用される溶媒の例としては、水、エタノール、シクロヘキサン、四塩化炭素、クロロホルム等が挙げられる。
　一般に、ラマンシフトは波長の逆数である波数で表されるため、式（２）により波長に変換してラマン散乱光の表示除外領域を設定する。ここで、ｋは、ラマン散乱光とそれに起因する高次光の範囲を表示除外領域とするための係数、Ａは現在の励起波長、Ｂは励起波長に対応する蛍光波長、Ｅは設定された励起側スリット幅Ｃと蛍光側スリット幅Ｄのうち、より大きなスリットの値となる。ラマン散乱光の表示除外領域においても、スリットの値Ｅに対して生じるラマン散乱光の半値幅が異なる。そこで、感度係数αを掛けることで試料の散乱状態によって異なるラマン散乱光の表示除外領域を精度良く設定することが可能となる。
〈ラマン散乱の表示除外領域〉
　　ｋ×（１/（１/Ａ－Ｌ））－α×Ｅ≦Ｂ≦ｋ×（１/（１/Ａ－Ｌ））＋α×Ｅ・・・・・（２）
（→ｋ＝１、２、３、・・・もしくはｋ＝１／２、１／３、・・・・）
　Ａ：　励起波長（ｎｍ）、　開始：Ｗｅｘ１～終了：Ｗｅｘｎ
　Ｂ：　蛍光波長（ｎｍ）、　開始：Ｗｅｍｓ～終了：Ｗｅｍｅ
　Ｃ：　励起側スリット幅（ｎｍ）、　Ｓｅｘ
　Ｄ：　蛍光側スリット幅（ｎｍ）、　Ｓｅｍ
　Ｅ：　ＣとＤのいずれか大きい値
　Ｌ：　溶媒情報（溶媒のラマンシフト）（ｃｍ－１）
以上によりラマン散乱の表示除外領域３０１、３０２、３０３を求めて、等高線上に表示する。
〔アンチストークス領域の表示除外領域〕
　次に、図４において、アンチストークス領域の表示除外領域について説明する。ストークスの定理により励起光よりも短い蛍光は生じることは無いので、この領域は蛍光波長の表示除外領域となり、式（３）によって定められる。
〈アンチストークス領域の表示除外領域〉
　下記の式（３）を満足するＢ蛍光波長領域は除外される。
　　Ａ－α×Ｅ≧Ｂ　　　　・・・・・・・（３）
　Ａ：　励起波長（ｎｍ）、　開始：Ｗｅｘ1～終了：Ｗｅｘｎ
　Ｂ：　蛍光波長（ｎｍ）、　開始：Ｗｅｍｓ～終了：Ｗｅｍｅ
　Ｃ：　励起側スリット幅（ｎｍ）、　Ｓｅｘ
　Ｄ：　蛍光側スリット幅（ｎｍ）、　Ｓｅｍ
　Ｅ：　ＣとＤのいずれか大きい値
以上によりアンチストークス領域４０１を求めて、等高線上に表示する。
　以上のように求めた散乱光、ラマン散乱光、アンチストークス領域による表示除外領域を、図５のように３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ上に全て表示することによって、異質の蛍光として観測されたピークかどうかを識別することができ、サンプルの蛍光と思われるピーク５０１を瞬時に、かつ容易に見つけることができる。
　図６に、３次元スペクトルの等高線における領域ガイド表示を行うスペクトル領域ガイド表示部１１０での表示画面例を示す。
　等高線グラフ６０１は、横軸を蛍光波長、縦軸を励起波長とし、測定データの蛍光強度を等高線表示したものである。（１）散乱光エリアボタン６０２、（２）ラマン散乱光エリアボタン６０３、（３）アンチストークスエリアボタン６０４は、それぞれのピークが測定されるエリアを表示するボタンである。
　これらのボタンを押下すると、等高線グラフ６０１上に、押したボタンの領域に該当するエリアの背景を灰色で表示する。全てのエリアボタン６０５を押下すれば、（１）～（３）の全てのエリアを灰色で表示する。
　以上のようにサンプルの蛍光以外のエリアを描画することによって、サンプルとは異質のピークを除外して、サンプルのピークと思われるピーク６０６を瞬時に見つけ出すことが可能になる。
　また、これから測定しようとする任意の測定条件で等高線のスケールを表示し、サンプルの蛍光以外のエリアを描画すれば、設定した測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で設定されているかを判断することも可能である。
　図７に、２次元蛍光スペクトルにおける領域ガイド表示を行う画面例を示す。スペクトル７０１は、横軸を蛍光波長、縦軸を蛍光強度としてスペクトルを表示したものである。
（１）散乱光エリアボタン７０２、（２）ラマン散乱光エリアボタン７０３、（３）アンチストークスエリアボタン７０４は、それぞれのピークが測定されるエリアを表示するボタンである。
　これらのボタンを押下すると、スペクトル７０１上に、各エリアの背景を灰色で表示する。全てのエリアボタン７０５を押下すれば、（１）～（３）の全てのエリアを灰色で表示する。
　以上のようにサンプルの蛍光以外のエリアを描画することによって、サンプルの蛍光である可能性のあるピーク７０６、７０７を容易に絞り込むことができる。
１０１：本体分析部
１０２：操作・データ処理用ＧＵＩ部
１０３：分析手順設定部
１０５：制御部
１０６：光度計条件設定部
１０７：２次元スペクトルデータ測定部
１０８：３次元スペクトルデータ測定部
１０９：測定結果取得部
１１０：スペクトル領域ガイド表示部
１１１：試料室
１１２：光学系

Claims (14)

  1. 　蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  2. 　請求項１の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  3. 　請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  4. 　請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  5. 　請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  6. 　請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  7. 　請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
  8. 　本体分析部と、操作・データ処理用ＧＵＩ部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定資料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、２次元スペクトルデータ測定部と、３次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
    　前記操作・データ処理用ＧＵＩ部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
    　前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
  9. 　請求項８の蛍光分光光度計において、前記表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計。
  10. 　請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
  11. 　請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
  12. 　請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
  13. 　請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計。
  14. 　請求項８または９の蛍光分光光度計において、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする蛍光分光光度計。
PCT/JP2010/005422 2009-09-07 2010-09-02 分光蛍光光度計 WO2011027568A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009205534A JP2011058818A (ja) 2009-09-07 2009-09-07 分光蛍光光度計
JP2009-205534 2009-09-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2011027568A1 true WO2011027568A1 (ja) 2011-03-10

Family

ID=43649122

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2010/005422 WO2011027568A1 (ja) 2009-09-07 2010-09-02 分光蛍光光度計

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2011058818A (ja)
WO (1) WO2011027568A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102890075A (zh) * 2012-10-17 2013-01-23 中国环境科学研究院 一种地下水受有机物污染的快速判断方法
CN102998294A (zh) * 2012-12-20 2013-03-27 中国环境科学研究院 一种三维光谱数据校正方法
CN109884022A (zh) * 2019-04-12 2019-06-14 成都市环境保护科学研究院 一种三维荧光光谱寻峰方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013074084A1 (en) * 2011-11-15 2013-05-23 Empire Technology Development Llc Integrated optical sensor
CN103954594B (zh) * 2013-12-11 2016-05-25 上海大学 不同光电倍增管电压下三维光谱数据的峰值换算方法
US10571334B2 (en) 2017-12-15 2020-02-25 Horiba Instruments Incorporated System and method for selective resolution for concave grating spectrometer

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61100832A (ja) * 1984-10-23 1986-05-19 Hitachi Ltd ３次元スペクトル表示装置
JPH0282123A (ja) * 1988-09-20 1990-03-22 Anritsu Corp スペクトラム三次元表示方法
JPH04157350A (ja) * 1990-10-19 1992-05-29 Shimadzu Corp 蛍光測定装置
JPH08145796A (ja) * 1994-11-25 1996-06-07 Hitachi Ltd 三次元スペクトル表示装置
JP2003065956A (ja) * 2001-08-23 2003-03-05 Hitachi Ltd 蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3132835U (ja) * 2007-04-09 2007-06-21 株式会社島津製作所 ３次元測定装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61100832A (ja) * 1984-10-23 1986-05-19 Hitachi Ltd ３次元スペクトル表示装置
JPH0282123A (ja) * 1988-09-20 1990-03-22 Anritsu Corp スペクトラム三次元表示方法
JPH04157350A (ja) * 1990-10-19 1992-05-29 Shimadzu Corp 蛍光測定装置
JPH08145796A (ja) * 1994-11-25 1996-06-07 Hitachi Ltd 三次元スペクトル表示装置
JP2003065956A (ja) * 2001-08-23 2003-03-05 Hitachi Ltd 蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102890075A (zh) * 2012-10-17 2013-01-23 中国环境科学研究院 一种地下水受有机物污染的快速判断方法
CN102998294A (zh) * 2012-12-20 2013-03-27 中国环境科学研究院 一种三维光谱数据校正方法
CN102998294B (zh) * 2012-12-20 2014-10-22 中国环境科学研究院 一种三维光谱数据校正方法
CN109884022A (zh) * 2019-04-12 2019-06-14 成都市环境保护科学研究院 一种三维荧光光谱寻峰方法
CN109884022B (zh) * 2019-04-12 2021-08-31 成都市环境保护科学研究院 一种三维荧光光谱寻峰方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011058818A (ja) 2011-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2011027568A1 (ja) 分光蛍光光度計
US20210148827A1 (en) Raman Spectroscopy for Minerals Identification
JP6656210B2 (ja) 分光蛍光光度計
JP2006519395A (ja) 集積化チューナブル光センサ（ｉｔｏｓ）システム及びその方法
EP3239704B1 (en) Analysis data processing method and device
Hutchings et al. The potential for histological screening using a combination of rapid Raman mapping and principal component analysis
JP6769402B2 (ja) 電子線マイクロアナライザー及びデータ処理プログラム
JP6919890B2 (ja) 光分析装置用の表示装置
JP2004521324A (ja) スペクトルを規格化するためのシステム
JP2015536467A (ja) コヒーレント反ストークスラマン分光法を用いる検出システム及び方法
JPH0765933B2 (ja) 分光蛍光光度計
Usai et al. Separating fluorescence from Raman spectra using a CMOS SPAD TCSPC line sensor for biomedical applications
JP3730547B2 (ja) 蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計
WO2017094188A1 (ja) 皮膚糖化検査装置、皮膚糖化検査装置システム及び皮膚糖化検査方法
EP3173770B1 (en) A portable analyzer using optical emission spectroscopy
Ullah et al. Raman spectroscopy and machine learning-based optical probe for tuberculosis diagnosis via sputum
JP5616588B2 (ja) 顕微鏡
JP2007147357A (ja) ラマン顕微鏡及びラマンスペクトルイメージの表示方法
JP2009162592A (ja) 微弱発光分析装置
JP2022041186A (ja) ラマン散乱光による温度測定方法及びラマン分光分析装置
JP5117966B2 (ja) 試料分析装置
Sowoidnich et al. Charge-shifting optical lock-in detection with shifted excitation Raman difference spectroscopy for the analysis of fluorescent heterogeneous samples
Esmonde-White et al. Automated Raman spectral preprocessing of bone and other musculoskeletal tissues
JP2011232254A (ja) 微小粒子分析装置及びデータ表示方法
WO2021034456A2 (en) Raman spectroscopy for minerals identification

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 10813519

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 10813519

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1