WO2009087772A1 - スピーカラインの検査装置 - Google Patents

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WO2009087772A1
WO2009087772A1 PCT/JP2008/050198 JP2008050198W WO2009087772A1 WO 2009087772 A1 WO2009087772 A1 WO 2009087772A1 JP 2008050198 W JP2008050198 W JP 2008050198W WO 2009087772 A1 WO2009087772 A1 WO 2009087772A1
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WO
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impedance
signal
speaker line
speaker
amplifier
Prior art date
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PCT/JP2008/050198
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English (en)
French (fr)
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Kazuma Asada
Hirotomo Andoh
Tsuyoshi Ogawa
Original Assignee
Toa Corporation
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/001Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/007Monitoring arrangements; Testing arrangements for public address systems

Definitions

  • the present invention relates to a speaker line inspection device for inspecting whether or not a problem such as disconnection or short circuit has occurred in a speaker line in a public address system constructed in a building or the like.
  • Patent Document 1 in a public address system, a plurality of speakers are connected in parallel to a speaker line, and a power amplifier is connected to the speaker line.
  • the audio signal and the test signal are synthesized before the power amplifier, and the power amplifier amplifies the synthesized signal and supplies it to the speaker line.
  • the test signal has a constant voltage.
  • a detection circuit is provided on the output side of the power amplifier.
  • the detection circuit includes a filter that extracts a current of a test signal flowing through each speaker via the speaker line.
  • the output signal from this filter represents the combined impedance of the speaker line and each speaker because the voltage of the test signal is constant.
  • the speaker line inspection device disclosed in the above document compares the value of the output signal from this filter with the disconnection detection threshold and the short detection threshold to determine whether the speaker line is disconnected or short-circuited. . Further, the inspection apparatus uses a filter output signal value when the speaker line is in a normal state as a reference value, and a value obtained by adding a predetermined first value thereto as a disconnection detection threshold value. A value obtained by subtracting the determined second value is used as a short-circuit detection threshold.
  • the two threshold values are determined using the output signal value from the filter in a normal state of the speaker line as a reference value.
  • the output signal value obtained by measuring the above-mentioned inspection apparatus to determine these threshold values, and then the output signal value obtained by measuring in a normal state in which no disconnection or short circuit occurs in the speaker line may vary greatly. For example, measurement is performed with the output signal value obtained by measuring only the test signal being supplied to the speaker line, and the audio signal having various frequencies and the test signal being supplied to the speaker line during public system operation. The value may differ from the output signal value obtained as described above.
  • the difference in value is significant. Therefore, in the conventional inspection apparatus, by setting the first and second values strictly, there is a possibility of erroneous determination that the wire is disconnected or short-circuited despite being normal.
  • the inspection apparatus is provided in a public address system.
  • This public address system includes a signal source for audio signals.
  • This audio signal is amplified by an amplifier and supplied to a speaker line.
  • a plurality of speakers are connected in parallel to the speaker line.
  • the inspection apparatus includes a signal source of a test signal including a frequency near the lowest frequency and / or a frequency near the highest frequency in a human audible frequency band (generally 20 Hz to 20 KHz).
  • a test signal an analog signal can be used, or a digital signal converted into an analog signal by a D / A converter can be used.
  • the test signal is combined with the audio signal by a synthesizer and supplied to the amplifier.
  • the impedance specifying means extracts the component of the test signal included in the output signal of the amplifier, and specifies the impedance when the speaker side is viewed from the output side of the amplifier based on the extracted component of the test signal.
  • the impedance specifying unit can specify one or a plurality of impedances by extracting the voltage and current of the test signal included in the output signal of the amplifier.
  • the impedance specifying means can specify one or a plurality of impedances corresponding to the frequency of the test signal by analyzing the frequency of the output signal of the amplifier and extracting the frequency component of the test signal, as will be described later. .
  • the determination means determines at least one of disconnection and impedance reduction of each speaker line by comparing the impedance specified by the impedance specifying means with a predetermined threshold. For example, when a threshold value for disconnection is used, if the measured impedance is larger than the threshold value for disconnection, it is determined that the speaker line is disconnected or one of the speakers is poorly connected. Or when the threshold value for impedance reduction is used, when the specified impedance is smaller than the threshold value for impedance reduction, it is determined that the impedance reduction has occurred in the speaker line. It is also possible to prepare a threshold value for disconnection detection and a threshold value for impedance reduction, and determine both.
  • the threshold value correcting means changes the threshold value in a direction that lowers the determination accuracy of the determination means.
  • the threshold value is set based on, for example, the impedance measured with only the test signal supplied from the amplifier to the speaker line.
  • the ratio of the synthesized signal to the test signal is large, the ratio of the audio signal to the synthesized signal is large, and the speaker line and the impedance of the speaker are affected by the audio signal. Therefore, if the current threshold value is used as it is, there is a possibility of erroneous determination, so the threshold value is changed.
  • the threshold value correcting means can increase the determination accuracy, which is lowered when the composite signal is increasing, when the composite signal is changed from the increasing state to the decreasing state. In this case, the change rate in the direction of decreasing the determination accuracy is large, and the change rate in the direction of increasing the determination accuracy is small.
  • the impedance of the speaker line and the speaker changes due to the increase in the level of the audio signal
  • the impedance changes from the changed state to the original state. May take some time.
  • the rate of change in the direction of increasing the determination accuracy is reduced.
  • the speaker line inspection apparatus is also provided in the same public addressing system as that described above.
  • a test signal source is also provided, and this test signal includes both a frequency near the lowest frequency and a frequency near the highest frequency in the human audible frequency band.
  • the test signal is combined with the audio signal by a synthesizer and supplied to the amplifier.
  • Impedance specifying means extracts two frequency components of the test signal included in the output signal from the amplifier, and based on the extracted frequency components, the impedance when the speaker side is viewed from the output side of the amplifier is obtained. Identify.
  • This impedance characteristic means is also the same as the impedance characteristic means of the above-described embodiment.
  • the determined impedance is compared with a predetermined threshold by the determination means to determine at least one of the opening of each speaker line and speaker and the impedance drop.
  • the impedance is specified in these two frequency components, and these impedances are compared with the threshold value. Therefore, at least one of the opening of each speaker line and the speaker and the impedance reduction is required. Can be determined with higher accuracy.
  • the impedance specifying means can specify the impedance during a time period when the signal source of the audio signal is stopped.
  • the threshold setting unit sets the threshold based on the identified impedance.
  • the second determination means determines whether the specified impedance is within a predetermined allowable range.
  • the impedance specifying unit may include a current detecting unit that detects a current flowing through the speaker line and a voltage detecting unit that detects a voltage applied to the speaker line.
  • the frequency component of the test signal included in the current detected by the current detector and the voltage detected by the voltage detector is detected by the frequency component detector.
  • the frequency component can be detected by, for example, cross spectrum analysis of the detected current and voltage.
  • the calculating means calculates the impedance from the detected frequency components of the test signal.
  • the impedance of the speaker line and the speaker is measured based on the test signal component, the impedance of the speaker line and the speaker can be measured without being affected by the audio signal.
  • FIG. 1 is a block diagram of a public address system in which a speaker inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is implemented.
  • FIG. 2 is a flowchart of frequency analysis processing performed by the DSP of the inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 3 is a flowchart of an effective value measurement process performed by the DSP of the inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 4 is a flowchart of a short circuit, disconnection, impedance increase determination process performed by the DSP of the inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 5 is a flowchart of threshold correction processing performed by the DSP of the inspection apparatus in FIG.
  • FIG. 6 is a detailed flowchart of the Zopen and Zinc correction processing in the threshold value correction processing of FIG. FIG.
  • FIG. 7 is a diagram showing a change state of the measurement accuracy Ra corrected by the process of FIG.
  • FIG. 8 is a detailed flowchart of the Z1open and Z1inc calculation processing in the Zopen and Zinc correction processing of FIG.
  • FIG. 9 is a flowchart of the aged deterioration determination process performed by the DSP of the inspection apparatus of FIG.
  • the inspection apparatus is implemented in a public address system as shown in FIG. Public address systems, for example, amplify voices at various locations in large-scale stores.
  • This public address system has a signal source 2 for audio signals.
  • the signal source 2 may be, for example, a sound source for playing background music in a store, or a microphone for performing store guidance or emergency broadcasting.
  • the audio signal from the signal source 2 is amplified by an amplifier, for example, a power amplifier 4 through a notch filter 3 and supplied to a plurality of speakers 8 through a speaker line 6 connected to the output side of the power amplifier 4. ing.
  • the notch filter 3 is intended to prevent interference with the test signal by attenuating the same frequency component as that of the test signal described later, among the frequency components of the audio signal. Therefore, the audio signal is input to the amplifier through the notch filter 3 only when the test signal is output, and is input to the amplifier without passing through the notch filter 3 when the test signal is not output.
  • a circuit configuration may be used.
  • a low pass filter, a high pass filter, or both may be used.
  • Each speaker is arranged at various positions in the store. Although only one speaker line 6 is shown in FIG. 1, it is actually a pair of lines. Each speaker 8 is also actually connected in parallel between the pair of speaker lines.
  • the inspection apparatus has a DSP (digital signal processing apparatus) 10 that functions as a signal source of a test signal of an inaudible frequency.
  • the DSP 10 outputs a digital test signal as a test signal.
  • This digital test signal is converted into an analog test signal by the D / A converter 12.
  • the analog test signal and the audio signal from the signal source 2 are synthesized by the synthesizer 13.
  • a combined signal from the combiner 13 is supplied to the power amplifier 4.
  • This analog test signal is a signal including two frequency components of 40 Hz and 20 KHz, for example, and has a constant voltage.
  • the human audible frequency band is generally 20 Hz to 20 KHz.
  • Each speaker 8 is designed to output an optimum sound in this human audible frequency band.
  • the frequency of the test signal is preferably a frequency within the audible frequency band.
  • the test signal component reaches the human ear as noise. Therefore, it is desirable to use the frequency near the lowest frequency of the audible frequency band, the frequency near the highest frequency, or both of the audible frequency bands of the human audible frequency band as the frequency of the test signal.
  • a sound signal and a test signal are amplified by the power amplifier 4 and supplied to each speaker 8.
  • the test signal is continuously supplied from the D / A converter 12 to the synthesizer 13.
  • the audio signal is not supplied to the synthesizer 13 when it is unnecessary.
  • the audio signal from the signal source 2 may be combined with a digital test signal after A / D conversion. In this case, the combined signal is supplied to the D / A converter 12.
  • a current detection circuit 14 is provided in series on the output side of the power amplifier 4.
  • the current detection circuit 14 detects the output current supplied from the power amplifier 4 to the speaker line 6.
  • a voltage detection circuit 16 is provided in parallel on the output side of the power amplifier 4. The voltage detection circuit 16 detects the output voltage supplied from the power amplifier 4 to the speaker line 6.
  • the output signal of the current detection circuit 14 and the output signal of the voltage detection circuit 16 are digitized by the A / D converters 18 and 20 and supplied to the DSP 10.
  • the digitized output signal of the current detection circuit 14 is referred to as a digital current detection signal
  • the digitized output signal of the voltage detection circuit 16 is referred to as a digital voltage detection signal.
  • the DSP 10 processes the digital current detection signal, the digital voltage detection signal, and the digital test signal to determine whether each speaker 8 and speaker line 6 is not disconnected or short-circuited, or each speaker 8 and speaker line 6. It is determined whether the impedance of the battery is greatly reduced.
  • the determination result is notified by the notification device 28 attached to the DSP 10.
  • a display device can be used, and a determination result is displayed.
  • the frequency analysis processing shown in FIG. 2 is performed each time the sequentially supplied digital current detection signal and digital voltage detection signal are input to the DSP 10.
  • a noise frequency component is removed from the digital current detection signal and the digital voltage detection signal by a bandpass filter (step S2).
  • the digital current detection signal and digital voltage detection signal from which the noise frequency component has been removed are averaged (step S4). That is, the same number of memories as the digital current detection signal and digital voltage detection signal for one cycle of the test signal are prepared in the DSP 10, and each time the digital current detection signal and digital voltage detection signal are supplied from the bandpass filter. , Storing in the corresponding memory is performed over a plurality of cycles, and the stored value of each memory is divided by the number of the plurality of cycles.
  • step S6 Cross spectrum analysis of the digital current detection signal and digital voltage detection signal thus averaged is performed, and the correlation between the test signal included in the digital current detection signal and the digital voltage detection signal is obtained and included in the test signal.
  • the impedance Z1 at a frequency of 20 kHz, the impedance Z2 at a frequency of 40 Hz, and the coherence of the digital current detection signal and the digital voltage detection signal are calculated (step S6). If the processing capacity of the DSP 10 is high, only the cross spectrum analysis process of step S6 may be performed without performing the processes of step S2 and step S4.
  • the DSP 10 increases the voltage of the test signal having a constant voltage.
  • the effective values Vrms and Irms of the digital voltage detection signal and the digital current detection signal are calculated as shown in FIG. 3 (step S8).
  • the speaker line 6 and the speaker 8 are short-circuited. It is determined whether any of a drop in impedance (an increase in the output current of the power amplifier 4) or an open circuit has occurred.
  • the effective value Irms of the digital current detection signal is larger than a predetermined threshold value, for example, the short-circuit current value Isl of the speaker line, or the measured impedance Z1 is a predetermined threshold value, for example, of the speaker line 6 and the speaker 8. It is determined whether the short-circuit impedance Z1sl at 20 KHz is smaller and the measured impedance Z2 is smaller than a predetermined threshold, for example, the short-circuit impedance Z2sl at 40 Hz of the speaker line 6 and the speaker 8 (step S14). The short-circuit current Isl and the short-circuit impedances Z1sl and Z2sl are determined in advance from the viewpoint of protecting the speaker line 6 and the speaker 8. If the answer to the determination in step S14 is yes, it can be determined that the speaker line 8 or the like is in a short circuit state, so a short circuit is displayed (step S16), and this determination process is terminated.
  • a predetermined threshold value for example, the short-cir
  • step S14 If the answer to the determination in step S14 is no, it is determined whether the measured impedance Z1 is smaller than the lower limit value Z1inc for 20 KHz or whether the impedance Z2 is smaller than the lower limit value Z2inc for 40 Hz (step S18). .
  • the lower limit values Z1inc and Z2inc will be described later. If the answer to this determination is yes, the speaker line current has not increased until the short-circuit state, but since the output current from the power amplifier 4 has increased to some extent and is in a state of caution, an increase display is performed. (Step S20), the determination process is terminated.
  • step S18 If the answer to the determination in step S18 is no, it is determined whether the measured impedance Z1 is greater than an upper limit value Z1open for 20 KHz or whether the impedance Z2 is greater than an upper limit value Z2open for 40 Hz (step S22). .
  • the upper limit values Z1open and Z2open will be described later. If the answer to this determination is yes, it can be determined that the speaker line 6 and the speaker 8 are open, so that an open display is made (step S24), and the processing of this determination ends.
  • the upper limit values Z1open and Z2open and the lower limit values Z1inc and Z2inc are used. These are determined based on the reference impedance Z1ave at 20 KHz and the reference impedance Z2ave at 40 Hz of the speaker line 6 and the speaker 8, respectively.
  • the reference impedances Z1ave and Z2ave are set by the worker at the time of initialization when the public address system is installed and used for the first time. Alternatively, it is set by the worker when the public address system is reinitialized for some reason.
  • the reference impedances Z1ave and Z2ave may be greatly different from the impedances Z1 and Z2 measured in a normal state in which the speaker line 6 and the speaker 8 are not disconnected or short-circuited thereafter.
  • the impedance Z1 is the reference impedance Z1ave.
  • the impedance Z2 may be different from the reference impedance Z2ave.
  • the correction processing is performed after the above-described determination is performed on the upper limit values Z1open and Z2open and the lower limit values Z1inc and Z2inc based on the reference impedances Z1ave and Z2ave.
  • step S26 it is determined whether or not the effective value Vrms of the digital voltage detection signal is larger than the effective voltage value Vtest of the digital test signal by a predetermined rate, for example, 1.2 times (step S26). If the answer to this determination is yes, it is determined that many of the same frequency components other than the test signal are included in the audio signal, so that correction processing of the upper limit values Z1open, Z2open, lower limit values Z1inc, Z2inc is performed ( Step S28).
  • the predetermined rate is not limited to 1.2.
  • the measurement accuracy Ra of the measured impedances Z1 and Z2 is used.
  • the measurement accuracy Ra is a unit, and the smaller the value, the higher the measurement accuracy of the measurement impedances Z1, Z2, and the higher the value, the lower the measurement accuracy of the measurement impedances Z1, Z2. .
  • the measurement accuracy Ra is set to the smallest value, for example, 5% when Vrms is equal to Vtest.
  • Ra ⁇ Ra + ⁇ f (Vrms / Vtest) Is performed.
  • f (Vrms / Vtest) is a function having Vrms / Vtest as an argument, and its value increases when the value of Vrms / Vtest increases, and when the value of Vrms / Vtest decreases. Get smaller.
  • step S36 Z1open, Z2open, Z1inc, Z2inc are calculated using the measurement accuracy Ra thus corrected.
  • step S38 Vrms is stored as ⁇ Vrms for use in the next execution of step S30 (step S38).
  • step S40 it is determined whether the measurement accuracy Ra is larger than the impedance open ratio initial value Rul (step S40).
  • the impedance open ratio initial value R1ul is expressed as a unit, and is an upper limit value that is an impedance that the speaker line 6 is considered to be open when the measurement accuracy Ra is the highest accuracy, that is, when the smallest value is the smallest. It is an increment with respect to the reference impedance (Zave1, Zave2).
  • This impedance open ratio initial value Rul is set by the worker at the time of initialization or re-initialization, and is commonly used for Z1open and Z2open. If the answer to the determination in step S40 is no, it is not necessary to make the measurement accuracy Ra larger than the impedance open ratio initial value Rul.
  • Z1open Z1ave (1 + Rul / 100) (Step S42).
  • step S40 If the answer to the determination in step S40 is yes, it is necessary to correct Z1open according to the measurement accuracy Ra.
  • Z1open Z1ave (1 + Ra / 100) (Step S44).
  • step S46 it is determined whether Z1open is larger than the upper limit value Z1ul of impedance at 20 KHz.
  • the upper limit value Z1ul of impedance is an upper limit value of impedance that is predicted to actually occur at 20 KHz when the speaker line 6 or the like is opened.
  • the upper limit value Z1ul is manually set by an operator at the time of initialization or reinitialization. Alternatively, Z1ave measured at the time of initialization or reinitialization by the DSP 10 is multiplied by a coefficient larger than 1, and the multiplication value is set as the upper limit value Z1ul.
  • step S46 Since the Z1open value corrected based on the measurement accuracy Ra may be an impedance value that does not actually occur, the determination in step S46 is performed. If the answer to the determination in step S46 is yes, Z1open cannot be larger than Z1ul, so Z1open is set to Z1ul (step S48).
  • step S50 it is determined whether the measurement accuracy Ra is greater than the impedance increase rate initial value Rll (step S50).
  • the impedance increase rate initial value Rll is obtained from the reciprocal of the ratio of the reference impedance (Zave1 or Zave2) to the impedance at which the impedance of the speaker line 6 and the speaker 8 can be considered to be lowered when the measurement accuracy Ra is the highest accuracy.
  • the value obtained by subtracting 1 is expressed as a percentage.
  • step S56 it is determined whether Z1inc is smaller than the lower limit value Z1ll at 20 KHz of impedance Z1 (step S56).
  • the lower limit value Z1ll of the impedance is a lower limit value of the impedance at 20 KHz that is predicted to actually occur as a drop in impedance although the speaker line 6 or the speaker 8 is not short-circuited.
  • the lower limit value Z1ll is manually set by an operator at the time of initialization or reinitialization. Alternatively, Z1ave measured by the DSP 10 at the time of initialization or reinitialization is multiplied by a coefficient smaller than 1, and the multiplied value is set as the lower limit value Z1ll.
  • step S56 is executed. If the answer to the determination in step S56 is yes, Z1inc cannot be smaller than Z1ll, so Z1inc is set to Z1ll (step S58). If step S58 ends or if the answer to the determination in step S56 is no, this Z1open, Z2inc calculation processing ends.
  • Z2open and Z2inc are impedance open ratio initial value Rul, impedance increase ratio initial value Rll, upper limit value Z2ul of impedance Z2 at 40 Hz, lower limit value Z2ll of impedance Z2 at 40 Hz, impedance Z2 at 40 Hz. Is calculated using the reference impedance Z2ave. A description of this process is omitted.
  • Z2ave is 1000 ⁇
  • Z2ul 2000 ⁇
  • Z2ll 500 ⁇
  • Z2sl is 20 ⁇
  • Z1ave is 1500 ⁇
  • Z1ul is 3000 ⁇
  • Z1ll 750 ⁇
  • Z1sl is 30 ⁇
  • Isl is 5A
  • Rul 10%
  • Rll 10%
  • Ra 5% %
  • Vtest is assumed to be 5V. Note that Ra is 5% as the highest accuracy.
  • the measured impedance Z2 is 1000 ⁇ and Z1 is 1500 ⁇ , it is determined to be normal by the processing shown in FIG. Similarly, when the measurement impedance Z2 is 1100 ⁇ and Z1 is 1500 ⁇ , it is determined to be open by the process shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 1100 ⁇ and Z1 is 1600 ⁇ , it is determined to be open by the process shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 1000 ⁇ and the measurement impedance Z1 is 1400 ⁇ , it is determined to increase by the processing shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 15 ⁇ and the measurement impedance Z1 is 10 ⁇ , it is determined as a short circuit by the process shown in FIG.
  • Ra is quickly increased by the process of FIG.
  • the measured impedance Z2 is 1100 ⁇ and the measured impedance Z1 is 1600 ⁇ , it is determined to be normal by the process shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 2300 ⁇ and the measurement impedance Z1 is 1000 ⁇ , it is determined to be open by the process shown in FIG. If the measured impedance Z2 is 1400 ⁇ and the measured impedance Z1 is 600 ⁇ , it is determined that the measured impedance Z2 is increased by the process shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 15 ⁇ and the measurement impedance Z1 is 10 ⁇ , it is determined as a short circuit by the process shown in FIG.
  • Ra rapidly increases as a result of the processing of FIG. For example, suppose that it became 300%.
  • the measured impedance Z2 when the measured impedance Z2 is 1000 ⁇ and Z1 is 1600 ⁇ , it is determined to be normal by the process shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 2500 ⁇ and Z1 is 2800 ⁇ , it is determined to be open by the process shown in FIG. If the measured impedance Z2 is 400 ⁇ and the impedance Z1 is 1000 ⁇ , it is determined to increase by the processing shown in FIG. If the measurement impedance Z2 is 15 ⁇ and the measurement impedance Z1 is 10 ⁇ , it is determined as a short circuit by the process shown in FIG.
  • the reference impedances Z1ave and Z2ave at 20 KHz and 40 Hz of the speaker line 6 and each speaker 8 are measured in a state where no audio signal is supplied, and the aged deterioration tolerance for 20 KHz for which the reference impedance Z1ave is determined in advance is measured.
  • the upper limit value Z1UL is between the aging deterioration allowable lower limit value Z1LL or the reference impedance Z2ave is between the aging deterioration allowable upper limit value Z2UL for 40 Hz and the aging deterioration allowable lower limit value Z2LL for 40 Hz. Is judged.
  • the reference impedances Z1ave and Z2ave also change.
  • the reference impedance Z1ave is within the allowable range defined by the allowable upper limit value Z1UL and the allowable lower limit value Z1LL of 20 KHz, which is a limit that requires replacement of each speaker, or the reference impedance Z2ave allows replacement of each speaker.
  • the notification device 28 is displayed to prompt the user to replace the speaker. This determination is performed every day when the public address system is not used, for example, in the case where the public address system is installed, every time a certain time in the time zone from the store closing time to the opening time is reached.
  • step S60 it is determined whether or not it is the inspection time (step S60). If the answer to this determination is no, this process ends. If the answer to the determination in step S60 is yes, the DSP 10 generates a test signal (step S62). Then, the reference impedances Z1ave and Z2ave are measured as described with reference to FIG. 2 (step S64). It is determined whether Z1ave is within the allowable range defined by Z1UL and Z1LL described above, and whether Z2ave is within the allowable range defined by Z2UL and Z2LL described above (step S66). If the answer to this determination is no, an error is displayed on the notification device 28 (step S68), and the speaker is urged to be replaced.
  • step S70 the measured Z1ave and Z2ave are stored (step S70).
  • Z1ave and Z2ave when calculating Z1open, Z2open, Z1inc, and Z2inc in the process shown in FIG. 8 are updated. As a result, it is possible to prevent erroneous determination due to the influence of impedance change due to aging.
  • the impedances Z1, Z2, Z1ave, and Z2ave are measured by cross spectrum analysis. For example, the current and voltage of the test signal are extracted using a narrow-band bandpass filter that can extract the test signal. The impedance can be measured from these extracted values.
  • test signals having frequencies of 40 Hz and 20 KHz are used. However, for example, a test signal having a frequency of only 40 Hz or 20 KHz may be used.
  • the digital test signal from the DSP 10 is D / A converted and supplied to the synthesizer 13. Instead, an analog test signal source is provided separately, and the test from the analog test signal source is provided. The signal may be supplied to the synthesizer 13.
  • the analog test signal is converted into a digital test signal by the A / D converter and supplied to the DSP 10.

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Abstract

【課題】 音声信号源2からの音声信号を増幅器4で増幅し、スピーカライン6を介して互いに並列に接続されている複数のスピーカ8に供給する。DSP10から人の可聴周波数帯域のうち最低周波数付近の周波数又は最高周波数付近の周波数のいずれか若しくは両方を含むテスト信号を合成器13で音声信号と合成して、スピーカライン6に伝送する。増幅器4の出力側に設けた電流検出回路14及び電圧検出回路16の出力信号をDSP10に供給して、テスト信号の周波数成分を分析し、これに基づいて各スピーカ8及びスピーカライン6の合成インピーダンスを算出する。DSP10は、この合成インピーダンスを閾値と比較して、スピーカラインの断線又はインピーダンス低下を検出する。

Description

スピーカラインの検査装置
 本発明は、ビル等に構築されているパブリックアドレスシステムにおいて、スピーカラインに断線または短絡といった不具合が生じているか否かを検査するためのスピーカライン検査装置に関する。
 従来、上記検査装置としては、例えば特許文献1に開示されているようなものがある。特許文献1によれば、パブリックアドレスシステムでは、スピーカラインに複数のスピーカが互いに並列に接続されており、このスピーカラインに電力増幅器が接続されている。この電力増幅器の前段で、音声信号とテスト信号とを合成し、電力増幅器はこの合成信号を増幅し、スピーカラインに供給している。テスト信号は電圧が一定のものである。電力増幅器の出力側には、検知回路が設けられている。検知回路は、スピーカラインを介して各スピーカに流れるテスト信号の電流を抽出するフィルタを備えている。このフィルタからの出力信号は、テスト信号の電圧が一定であるので、スピーカライン及び各スピーカの合成インピーダンスを表している。上記文献に開示されているスピーカラインの検査装置は、このフィルタからの出力信号の値を、断線検出用閾値及び短絡検出用閾値と比較して、スピーカラインに断線または短絡が生じているか判定する。また、上記検査装置は、スピーカラインが正常な状態におけるフィルタの出力信号値を基準値として、これに予め定めた第1の値を加算した値を断線検出用閾値とし、この基準値から、予め定めた第2の値を減算した値を短絡検出用閾値としている。
特開2007-37024号公報
 上述したように従来の検査装置では、スピーカラインが正常な状態でのフィルタからの出力信号値を基準値として2つの閾値を決定している。断線及び短絡を高精度に検出しようとする場合、これらの閾値を厳密に設定する必要がある。しかし、上記検査装置が、これらの閾値を決定するために測定して得た出力信号値と、その後、スピーカラインに断線や短絡が生じていない正常な状態で測定して得た出力信号値とでは、値が大きく異なることがある。例えば、テスト信号だけがスピーカラインに供給された状態で測定して得た出力信号値と、パブリックシステム運用時における様々な周波数を持つ音声信号とテスト信号とがスピーカラインに供給された状態で測定して得た出力信号値とでは、値が異なる可能性がある。特に、音声信号のレベルがテスト信号のレベルよりも大きい場合には、その値の差異が顕著である。従って、従来の検査装置では、第1及び第2の値を厳密に設定することによって、正常であるにも関わらず、断線若しくは短絡していると誤判定をする可能性がある。
 本発明は、このような誤判定をできるだけ少なくし、精度よくスピーカラインの断線若しくはインピーダンス低下を検出できるようにした検査装置を提供することを目的とする。
 本発明の一態様による検査装置は、パブリックアドレスシステムに設けられている。このパブリックアドレスシステムは、音声信号の信号源を備えている。この音声信号が増幅器によって増幅され、スピーカラインに供給されている。このスピーカラインに互いに並列に複数のスピーカが接続されている。検査装置は、人の可聴周波数帯域(一般的に20Hz~20KHz)のうち最低周波数付近の周波数及び最高周波数付近の周波数のいずれか一方、若しくは両方を、含むテスト信号の信号源を備えている。テスト信号としては、アナログ信号を使用することもできるし、デジタル信号をD/A変換器によってアナログ信号に変換したものを使用することができる。テスト信号は、前記音声信号と合成器によって合成されて、前記増幅器に供給される。従って、それぞれ増幅された音声信号とテスト信号とがスピーカラインを介して各スピーカに供給される。インピーダンス特定手段は、前記増幅器の出力信号に含まれる前記テスト信号の成分を抽出し、抽出されたテスト信号の成分に基づいて前記増幅器の出力側から前記各スピーカ側を見たインピーダンスを特定する。例えばインピーダンス特定手段は、増幅器の出力信号に含まれるテスト信号の電圧及び電流を抽出することによって1又は複数のインピーダンスを特定することができる。或いは、インピーダンス特定手段は、後述するように増幅器の出力信号の周波数分析を行い、テスト信号の周波数成分を抽出することで、テスト信号の周波数に対応した1又は複数のインピーダンスを特定することができる。このインピーダンス特定手段によって特定されたインピーダンスを、予め定めた閾値と比較して、前記各スピーカラインの断線及びインピーダンス低下のうち少なくとも一方を判定手段が判定する。例えば断線用の閾値を用いる場合、測定されたインピーダンスが断線用の閾値よりも大きければ、スピーカラインの断線またはいずれかのスピーカの接続不良と判定される。或いはインピーダンス低下用の閾値が使用されている場合、特定されたインピーダンスがインピーダンス低下用の閾値よりも小さいとき、スピーカラインにインピーダンス低下が生じていると判定される。断線検知用の閾値とインピーダンス低下用の閾値とを準備し、両方を判定することもできる。前記テスト信号に対する前記合成信号の比率が予め定めた値よりも大きく、合成信号が増加しているとき、前記閾値を、前記判定手段での判定精度を下げる方向に閾値修正手段が変化させる。閾値は、例えばテスト信号のみを増幅器からスピーカラインに供給した状態で測定したインピーダンスに基づいて設定されている。
 テスト信号に対する合成信号の比率が大きい場合、合成信号に占める音声信号の割合が大きいことになり、スピーカライン及びスピーカのインピーダンスは、音声信号の影響を受けている。従って、現在の閾値をそのまま使用すると、誤判定を行う可能性があるので、閾値を変更している。
 前記閾値修正手段は、前記合成信号が増加しているとき下げた前記判定精度を、前記合成信号が増加状態から減少状態に変化したとき、上昇させることができる。この場合、前記判定精度を下げる方向の変化率が大きく、前記判定精度を上げる方向の変化率が小さい。
 例えば音声信号のレベルが大きくなったことにより、スピーカライン及びスピーカのインピーダンスが変化した場合、その後に音声信号のレベルが小さくなったとしても、このインピーダンスが変化した状態から元の状態に戻るまでには時間がかかることがある。このような場合に対処するために、判定精度を上げる方向への変化率を小さくしてある。
 本発明の他の態様のスピーカライン検査装置も、上述した態様と同じパブリックアドレッシングシステムに設けられている。また、テスト信号の信号源も備えているが、このテスト信号は、人の可聴周波数帯域のうち最低周波数付近の周波数及び最高周波数付近の周波数の両方を含むものである。テスト信号は、前記音声信号と合成器によって合成されて、前記増幅器に供給される。インピーダンス特定手段が、前記増幅器からの出力信号に含まれる前記テスト信号の2つの周波数成分を抽出し、抽出された各周波数成分に基づいて前記増幅器の出力側から前記各スピーカ側を見たインピーダンスを特定する。このインピーダンス特性手段も、上述した態様のインピーダンス特性手段と同様のものである。この特定されたインピーダンスを、判定手段が予め定めた閾値と比較して、前記各スピーカライン及びスピーカの開放並びにインピーダンス低下のうち、少なくとも一方を判定する
 テスト信号は、異なる周波数成分を含むものであり、これら2つの周波数成分においてインピーダンスを特定し、これらインピーダンスを閾値と比較しているので、各スピーカライン及びスピーカの開放並びにインピーダンス低下のうち、少なくとも一方を、より高精度に判定することができる。
 上述した2つの態様において、前記音声信号の信号源が停止している時間帯に、インピーダンス特定手段が前記インピーダンスを特定することができる。この場合、この特定されたインピーダンスを基に閾値設定手段が前記閾値を設定する。前記特定されたインピーダンスが予め定めた許容範囲内にあるか第2の判定手段が判定する。
 スピーカライン及びスピーカのインピーダンスは、経年劣化によって変化する。従って、或るときに特定したスピーカライン及びスピーカのインピーダンスを基に設定した閾値をそのまま使用していると、実際のスピーカライン及びスピーカのインピーダンスと閾値用に特定したスピーカライン及びスピーカのインピーダンスとの間に乖離が生じる。そこで、音声信号が供給されていない時間帯にスピーカライン及びスピーカのインピーダンスを特定し、そのインピーダンスを基に閾値を設定することによって誤判定が生じることを防止している。また、このようにして特定されたインピーダンスZが許容範囲内に存在するか否か第2の判定手段によって判定することで、スピーカの交換時期を知ることができる。
 上述した2つの態様において、前記インピーダンス特定手段は、前記スピーカラインに流れる電流を検出する電流検出手段と、前記スピーカラインにかかる電圧を検出する電圧検出手段とを含むとしてもよい。この場合、前記電流検出手段で検出された電流と、前記電圧検出手段で検出された電圧とに、それぞれ含まれる前記テスト信号の周波数成分が周波数成分検出手段によって検出される。この周波数成分の検出は、例えば検出された電流及び電圧をクロススペクトラム解析することによって求めることができる。これら検出されたテスト信号の周波数成分から演算手段が前記インピーダンスを演算する。
 このようにテスト信号成分に基づいてスピーカライン及びスピーカのインピーダンスを測定しているので、音声信号の影響を受けることなく、スピーカライン及びスピーカのインピーダンスを測定することができる。
図1は、本発明の1実施形態のスピーカの検査装置を実施したパブリックアドレスシステムのブロックダイアグラムである。 図2は、図1の検査装置のDSPが行う周波数分析処理のフローチャートである。 図3は、図1の検査装置のDSPが行う実効値測定処理のフローチャートである。 図4は、図1の検査装置のDSPが行う短絡、断線、インピーダンス増加判定処理のフローチャートである。 図5は、図1の検査装置のDSPが行う閾値修正処理のフローチャートである。 図6は、図5の閾値修正処理におけるZopen、Zinc修正処理の詳細なフローチャートである。 図7は、図6の処理によって修正された測定確度Raの変化状態を示す図である。 図8は、図6のZopen、Zinc修正処理におけるZ1open、Z1incの算出処理の詳細なフローチャートである。 図9は、図1の検査装置のDSPが行う経年劣化判定処理のフローチャートである。
 本発明の1実施形態の検査装置は、図1に示すようなパブリックアドレスシステムに実施されている。パブリックアドレスシステムは、例えば大規模店舗の様々な場所に音声を拡声するものである。このパブリックアドレスシステムは、音声信号の信号源2を有している。この信号源2としては、例えば店舗内にバックグランドミュージックを流すための音源であったり、店舗案内や緊急放送を行うためのマイクロホンであったりする。この信号源2からの音声信号は、ノッチフィルタ3を介して、増幅器、例えば電力増幅器4によって増幅され、電力増幅器4の出力側に接続されたスピーカライン6を介して複数のスピーカ8に供給されている。ノッチフィルタ3は、音声信号の周波数成分のうち、後述するテスト信号と同じ周波数成分を減衰させることで、テスト信号への干渉を防ぐことを目的としている。よって、音声信号は、テスト信号が出力されているときのみノッチフィルタ3を介して増幅器に入力されるようにし、テスト信号が出力されていないときは、ノッチフィルタ3を介さないで増幅器に入力されるような回路構成としてもよい。また、ノッチフィルタ3の代わりに、ローパスフィルタ、ハイパスフィルタ、或いはその両方を用いてもよい。各スピーカは、店舗の様々な位置に配置されている。図1では、スピーカライン6は1本だけ示してあるが、実際には1対のラインである。また、各スピーカ8も、実際には、この1対のスピーカライン間に、互いに並列に接続されている。
 検査装置は、非可聴周波数のテスト信号の信号源として機能するDSP(デジタル信号処理装置)10を有している。DSP10は、テスト信号としてデジタルテスト信号を出力する。このデジタルテスト信号は、D/A変換器12によってアナログテスト信号に変換される。このアナログテスト信号と信号源2からの音声信号とが、合成器13によって合成される。合成器13からの合成信号が、電力増幅器4に供給されている。このアナログテスト信号は、例えば40Hzと20KHzの2つの周波数成分を含む信号であり、電圧が一定値のものである。人間の可聴周波数帯域は一般的に20Hzから20KHzである。各スピーカ8は、この人間の可聴周波数帯域で最適な音が出力されるように設計されている。テスト信号は、スピーカライン及びこれに並列接続される各スピーカ8の合成インピーダンスを測ることを目的としているため、テスト信号の周波数は、可聴周波数帯域内の周波数であることが望ましいが、音声信号と合成して出力されることで、テスト信号成分が雑音として人間の耳に届いてしまうことは好ましくない。そこで、人間の可聴周波数帯域のうち、人間には聞取り難い、可聴周波数帯域の最低周波数付近の周波数若しくは最高周波数付近の周波数、或いは、その両方の周波数をテスト信号の周波数として用いることが望ましい。各スピーカ8には、音声信号とテスト信号とが電力増幅器4で増幅されて、供給されている。テスト信号は、D/A変換器12から継続して合成器13に供給されている。音声信号は、不要なときには、合成器13には供給されていない。或いは、信号源2の音声信号は、A/D変換された後、デジタルテスト信号と合成してもよい。この場合、合成信号がD/A変換器12に供給される。
 電力増幅器4の出力側に直列に電流検出回路14が設けられている。この電流検出回路14によって、電力増幅器4からスピーカライン6に供給されている出力電流が検出されている。同様に、電力増幅器4の出力側に並列に電圧検出回路16が設けられている。この電圧検出回路16によって、電力増幅器4からスピーカライン6に供給されている出力電圧が検出されている。
 電流検出回路14の出力信号及び電圧検出回路16の出力信号は、A/D変換器18、20によってデジタル化されて、DSP10に供給されている。デジタル化された電流検出回路14の出力信号をデジタル電流検出信号と称し、デジタル化された電圧検出回路16の出力信号をデジタル電圧検出信号と称する。
 DSP10は、これらデジタル電流検出信号、デジタル電圧検出信号及びデジタルテスト信号を処理して、各スピーカ8、スピーカライン6が断線していないか、短絡していないか、或いは各スピーカ8及びスピーカライン6のインピーダンスが大きく低下していないかを判定する。判定結果は、DSP10に付属する報知装置28によって報知される。報知装置としては、例えば表示装置を使用することができ、判定結果が表示される。
 DSP10における処理では、順次供給されるデジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号がDSP10に入力されるごとに、図2に示す周波数分析処理を行う。
 周波数分析処理では、まず、バンドパスフィルタによってデジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号から雑音周波数成分が除去される(ステップS2)。雑音周波数成分が除去されたデジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号のアベレージングが行われる(ステップS4)。即ち、テスト信号の1周期分のデジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号と同数のメモリがDSP10内に準備されており、デジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号がバンドパスフィルタから供給されるごとに、対応するメモリに記憶することが複数周期にわたって行われ、各メモリの記憶値が、この複数周期数で除算される。このようにアベレージングが行われたデジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号のクロススペクトラム解析が行われ、デジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号に含まれるテスト信号の相関関係を求め、テスト信号に含まれる20KHzの周波数におけるインピーダンスZ1、40Hzの周波数におけるインピーダンスZ2と、デジタル電流検出信号及びデジタル電圧検出信号のコヒーレントとが算出される(ステップS6)。なお、DSP10の処理能力が高い場合は、ステップS2、ステップS4の処理を行わず、ステップS6のクロススペクトラム解析処理のみを行うだけでもよい。
 もし、コヒーレントから、このテスト信号の周波数成分以外の周波数成分が多いという結果が生じた場合には、例えば電圧が一定値であるテスト信号の電圧をDSP10が増加させる。
 図2の処理に続いて、図3に示すようにデジタル電圧検出信号及びデジタル電流検出信号の実効値Vrms、Irmsが算出される(ステップS8)。
 次に、図4に示すように、上述したようにクロススペクトラム解析で得たインピーダンスZ1、Z2と、デジタル電流検出信号の実効値Irmsとを使用して、スピーカライン6及びスピーカ8に、短絡、インピーダンスの低下(電力増幅器4の出力電流の増加)及び開放のいずれかが、生じているか判定される。
 まず、デジタル電流検出信号の実効値Irmsが、予め定めた閾値、例えばスピーカラインの短絡電流値Islよりも大きいか、或いは測定されたインピーダンスZ1が予め定めた閾値、例えばスピーカライン6及びスピーカ8の20KHzにおける短絡インピーダンスZ1slよりも小さく、かつ測定されたインピーダンスZ2が予め定めた閾値、例えばスピーカライン6及びスピーカ8の40Hzにおける短絡インピーダンスZ2slよりも小さいか判断される(ステップS14)。短絡電流Islや短絡インピーダンスZ1sl、Z2slは、スピーカライン6及びスピーカ8の保護の観点から予め定められている。ステップS14の判断の答えがイエスの場合、スピーカライン8等が短絡状態にあると判断できるので、短絡表示を行い(ステップS16)、この判断処理を終了する。
 ステップS14の判断の答えがノーの場合、測定されたインピーダンスZ1が、20KHz用の下限値Z1incよりも小さいか、またはインピーダンスZ2が40Hz用の下限値Z2incよりも小さいか判断される(ステップS18)。下限値Z1inc、Z2incについては後述する。この判断の答えがイエスの場合、スピーカラインの電流が短絡状態までは増加していないが、或る程度電力増幅器4からの出力電流が増加していて要注意状態であるので、増加表示を行い(ステップS20)、この判定処理を終了する。
 ステップS18の判断の答えがノーの場合、測定されたインピーダンスZ1が、20KHz用の上限値Z1openよりも大きいか、またはインピーダンスZ2が40Hz用の上限値Z2openよりも大きいか判断される(ステップS22)。上限値Z1open、Z2openについては後述する。この判断の答えがイエスの場合、スピーカライン6及びスピーカ8において開放が生じていると判断できるので、開放表示を行い(ステップS24)、この判断の処理が終了する。
 上記の判断を行うために、上限値Z1open、Z2openと下限値Z1inc、Z2incとを使用している。これらは、スピーカライン6及びスピーカ8の20KHzにおける基準インピーダンスZ1aveと40Hzにおける基準インピーダンスZ2aveとを基に、それぞれ決定されている。基準インピーダンスZ1ave、Z2aveは、このパブリックアドレスシステムが設置されて初めて使用される初期化時に、作業員によって設定される。或いは、何らかの理由によって、このパブリックアドレスシステムを再初期化する際に、作業員によって設定される。しかし、この基準インピーダンスZ1ave、Z2aveと、その後、スピーカライン6及びスピーカ8に断線や短絡が生じていない正常な状態で測定したインピーダンスZ1、Z2とでは、値が大きく異なることがある。例えば、パブリックアドレスシステム運用時における様々な周波数を持つ音声信号と、テスト信号とがスピーカライン6に供給された状態で、インピーダンスZ1、Z2が測定されると、そのインピーダンスZ1は、基準インピーダンスZ1aveと異なり、インピーダンスZ2は基準インピーダンスZ2aveと異なる可能性がある。特に、音声信号のレベルがテスト信号のレベルよりも大きい場合には、その値の差異が顕著である。そこで、図5に示すように、基準インピーダンスZ1ave、Z2aveに基づいている上限値Z1open、Z2openと下限値Z1inc、Z2incとに対して、上述した判定を行った後に、修正処理が行われる。
 この修正処理では、まずデジタル電圧検出信号の実効値Vrmsが、デジタルテスト信号の実効電圧値Vtestよりも所定率、例えば1.2倍よりも大きくなっているか判断される(ステップS26)。この判断の答えがイエスの場合、テスト信号以外の同じ周波数成分が音声信号に多く含まれていると判断されるので、上限値Z1open、Z2open、下限値Z1inc、Z2incの修正演算処理が行われる(ステップS28)。なお、上記所定率は、1.2に限ったものではない。
 ステップS28の修正演算処理では、測定されたインピーダンスZ1、Z2の測定確度Raが使用されている。測定確度Raは、単位がパーセントであり、値が小さいほど測定インピーダンスZ1、Z2の測定精度が高いことを表しており、値が大きいほど測定インピーダンスZ1、Z2の測定精度が低いことを表している。この測定確度RaはVrmsがVtestに等しいとき、最も小さい値、例えば5%に設定されている。図6に示すように、ステップS28の修正演算処理では、デジタル電圧検出信号Vrmsが前回に修正演算処理を行ったときのデジタル電圧検出信号ΔVrmsよりも大きいか判断される(ステップS30)。この判断の答えがイエスであると、前回修正を行ったときよりもテスト信号以外の同じ周波数成分の音声信号が増加しているので、測定確度Raの値を大きく修正する必要がある。そのため、
Ra=βRa+αf(Vrms/Vtest)
の演算が行わる。ここで、αとβとは予め定めた係数であり、α+β=1、α>βの関係がある。f(Vrms/Vtest)は、Vrms/Vtestを引数とする関数で、その値はVrms/Vtestの値が増加している場合には大きくなり、Vrms/Vtestの値が減少している場合には小さくなる。従って、Vrms/Vtestの値が大きく変化している上に、α>βであるので、修正された測定確度Raに占めるαf(Vrms/Vtest)の割合が大きく、修正された測定確度Raは、Vrms/Vtestの値が増加している場合には図7の前半部分に示すように素早く大きくなる。
 ステップS30の判断の答えがノーの場合には、前回修正を行ったときよりもテスト信号以外の同じ周波数の成分の音声信号が減少しているので、測定確度Raは、値が小さくなるように修正される。但し、小さくする方向の変化率は小さくされている。そのため、
Ra=αRa+βf(Vrms/Vtest)
の演算を行っている。Vrms/Vtestの値が小さくなっているので、f(Vrms/Vtest)の値は小さくなっているが、αよりも小さいβがf(Vrms/Vtest)に乗算されているので、修正されたRaに占めるβf(Vrms/Vtest)の割合は小さく、修正されたRaの値は、Vrms/Vtestの値が減少している場合には、図7の後半部分に示すようにゆっくりと小さくなる。
 このように修正された測定確度Raを使用して、Z1open、Z2open、Z1inc、Z2incの算出が行われる(ステップS36)。次回にステップS30を実行する際に使用するために、VrmsがΔVrmsとして記憶される(ステップS38)。
 ステップS36でのZ1open、Z1incの算出は、図8に示すように行われる。まず、測定確度Raがインピーダンス開放割合初期値Rulよりも大きいか判断される(ステップS40)。インピーダンス開放割合初期値R1ulは、単位をパーセントとして表されたもので、測定確度Raが最高確度、即ち最も値が小さい場合に、スピーカライン6等が開放されていると見なすインピーダンスである上限値の基準インピーダンス(Zave1、Zave2)に対する増分である。このインピーダンス開放割合初期値Rulは、初期化時または再初期化時に作業員によって設定され、Z1open、Z2openに共通に使用される。ステップS40の判断の答えがノーの場合には、測定確度Raをインピーダンス開放割合初期値Rulより大きくする必要がないので、Z1openは、
Z1open=Z1ave(1+Rul/100)
で演算される(ステップS42)。
 ステップS40の判断の答えがイエスの場合、測定確度Raに従ってZ1openを修正する必要があるので、Z1openは、
Z1open=Z1ave(1+Ra/100)
で演算される(ステップS44)。
 ステップS42またはS44に続いて、Z1openが20KHzにおけるインピーダンスの上限値Z1ulよりも大きいか判断される(ステップS46)。インピーダンスの上限値Z1ulは、スピーカライン6等が開放された際に20KHzにおいて実際に生じると予測されるインピーダンスの上限値である。上限値Z1ulは、初期化時または再初期化時に作業員によって手動で設定される。或いは、DSP10が初期化時または再初期化時に測定したZ1aveに1よりも大きい係数を乗算して、その乗算値が上限値Z1ulとして設定される。測定確度Raに基づいて修正したZ1openの値が実際に生じることがないインピーダンスの値になることがあるので、ステップS46の判断が行われている。ステップS46の判断の答えがイエスの場合には、Z1openがZ1ulよりも大きくなることはあり得ないので、Z1openがZ1ulとされる(ステップS48)。
 このステップS48に続いて、またはステップS46の判断の答えがノーの場合、測定確度Raがインピーダンス増加割合初期値Rllよりも大きいか判断される(ステップS50)。インピーダンス増加割合初期値Rllは、測定確度Raが最高確度の場合において、スピーカライン6及びスピーカ8のインピーダンスが低下していると見なすことができるインピーダンスに対する基準インピーダンス(Zave1またはZave2)の割合の逆数から1を減算した値をパーセントで表したものである。インピーダンス開放割合初期値Rllは、初期化時または再初期化時に作業員によって設定され、Z1inc、Z2incに対して共通に使用される。ステップS50の判断の答えがノーの場合には、測定確度RaをRllより小さくする必要がないので、Z1incは
Z1inc=Z1ave(1+Rll/100)
で演算される(ステップS52)。
 ステップS50の判断の答えがイエスの場合、測定確度Raに従ってZ1incを修正する必要があるので、Z1incは
Z1inc=Z1ave/(1+Ra/100)
で演算される(ステップS54)。
 ステップS52またはS54に続いて、Z1incがインピーダンスZ1の20KHzにおける下限値Z1llよりも小さいか判断される(ステップS56)。インピーダンスの下限値Z1llは、スピーカライン6またはスピーカ8が短絡ではないが、実際にインピーダンス低下として生じると予測される20KHzにおけるインピーダンスの下限値である。下限値Z1llは、初期化時または再初期化時に作業員によって手動で設定される。またはDSP10が初期化時または再初期化時に測定したZ1aveに1よりも小さい係数を乗算して、その乗算値が下限値Z1llとして設定される。ステップS54によって修正されたZ1incが実際に生じることがないインピーダンスとなる場合があるので、ステップS56が実行される。ステップS56の判断の答えがイエスの場合には、Z1incがZ1llよりも小さくなることはあり得ないので、Z1incがZ1llとされる(ステップS58)。ステップS58が終了するか、ステップS56の判断の答えがノーの場合、このZ1open、Z2incの算出処理が終了する。
 上述したのと同様な処理によって、Z2open、Z2incが、インピーダンス開放割合初期値Rul、インピーダンス増加割合初期値Rll、40HzにおけるインピーダンスZ2の上限値Z2ul、40HzにおけるインピーダンスZ2の下限値Z2ll、40HzにおけるインピーダンスZ2の基準インピーダンスZ2aveを用いて演算される。この処理についての説明は省略する。
 例えばZ2aveが1000Ω、Z2ulが2000Ω、Z2llが500Ω、Z2slが20Ω、Z1aveが1500Ω、Z1ulが3000Ω、Z1llが750Ω、Z1slが30Ω、Islが5A、Rulが10%、Rllが10%、Raが5%、Vtestが5Vであるとする。なお、Raが5%であるのは最高確度とする。この状態で、Vrmsが5Vである状態が継続していると、Ra<Rulであるので、Z1open、Z2openは、
Z2open=1000Ω*(1+5/100)=1050Ω
Z1open=1500Ω*(1+5/100)=1575Ω
となる。また、Ra>Rllであるので、Z2inc、Z1incは、
Z2inc=1000Ω/(1+5/100)=952Ω
Z1inc=1500Ω/(1+5/100)=1428Ω
となる。
 この状態で、測定インピーダンスZ2が1000Ω、Z1が1500Ωであれば、図4に示す処理によって正常であると判定される。同様に、測定インピーダンスZ2が1100Ω、Z1が1500Ωのとき、図4に示す処理によって開放と判定される。測定インピーダンスZ2が1100Ω、Z1が1600Ωであれば、図4に示す処理によって開放と判定される。測定インピーダンスZ2が1000Ωで、測定インピーダンスZ1が1400Ωであれば、図4に示す処理によって増加と判定される。測定インピーダンスZ2が15Ωで、測定インピーダンスZ1が10Ωであれば、図4に示す処理によって短絡と判定される。
 また、テスト信号以外の同じ周波数成分を音声信号が幾分含んでおり、VrmsがVtestよりも大きく、例えばVrmsが10Vである状態が少し続いた結果、図6の処理によってRaが素早く増加し、例えばRaが50%になったとする。この場合、Ra>Rulであるので、Z2openは、
Z2open=1000Ω*(1+50/100)=1500Ω
Z1open=1500Ω*(1+50/100)=2250Ω
となる。また、Ra>Rllであるので、Z2incは、
Z2inc=1000Ω/(1+50/100)=667Ω
Z1inc=1500Ω/(1+50/100)=1000Ω
となる。
 この状態で、測定インピーダンスZ2が1100Ω、測定インピーダンスZ1が1600Ωであれば、図4に示す処理によって正常であると判定される。測定インピーダンスZ2が2300Ωで、測定インピーダンスZ1が1000Ωであれば、図4に示す処理によって開放であると判定される。測定インピーダンスZ2が1400Ωで、測定インピーダンスZ1が600Ωであれば、図4に示す処理によって増加と判定される。測定インピーダンスZ2が15Ωで、測定インピーダンスZ1が10Ωであれば、図4に示す処理によって短絡と判定される。
 また、テスト信号以外の同じ周波数成分を音声信号が多量に含んでおり、VrmsがVtestよりもかなり大きく、例えばVrmsが30Vである状態が少し続いた結果、図6の処理によってRaが素早く増加し、例えば300%になったとする。この場合、Ra>Rulであるので、Zopenは、
Z2open=1000Ω*(1+300/100)=4000Ω
Z1open=1500Ω*(1+300/100)=6000Ω
となるが、Z2open>Z2ulで、Z1open>Z1ulあるので、Z2open、Z1openは、
Z2open=Z2ul=2000Ω
Z1open=Z1ul=3000Ω
となる。また、Ra>Rllなので、Z2inc、Z1incは、
Z2inc=1000Ω/(1+300/100)=250Ω
Z1inc=1500Ω/(1+300/100)=375Ω
となる。Z2inc<Z2llで、Z1inc<Z1llあるので、Z1inc、Z2incは、
Z2inc=Z2ll=500Ω
Z1inc=Z1ll=750Ω
となる。
 この状態で測定インピーダンスZ2が1000Ωで、Z1が1600Ωのとき、図4に示す処理によって正常であると判定される。測定インピーダンスZ2が2500Ωで、Z1が2800Ωであれば、図4に示す処理によって開放であると判定される。測定インピーダンスZ2が400Ωで、インピーダンスZ1が1000Ωであれば、図4に示す処理によって増加と判定される。測定インピーダンスZ2が15Ωで、測定インピーダンスZ1が10Ωであれば、図4に示す処理によって短絡と判定される。
 このVrmsが30Vである状態から、例えばVrmsが10Vである状態に戻ったとしても、図6のステップS34の処理が行われるので、Raは50%にはならず、わずかに低下するだけである。従って、Z2openは4000Ωからわずかに低下し、Z1openは6000Ωから僅かに低下し、Z2incは500Ωからわずかに増加、Z1openは750Ωから僅かに増加する。このようにしてあるので、例えばVrmsが大きい値であったことによりスピーカ8が発熱し、スピーカ8の温度が発熱を開始する前の温度に戻るまで長時間かかるような場合でも、Z1open、Z2open、Z1inc、Z2incの値も長時間をかけて発熱前の値に戻るので、誤判定を生じることを防止できる。
 この検査装置では、また音声信号が供給されていない状態において、スピーカライン6及び各スピーカ8の20KHz及び40Hzにおける基準インピーダンスZ1ave、Z2aveを測定し、基準インピーダンスZ1aveが予め定めた20KHz用の経年劣化許容上限値Z1ULと経年劣化許容下限値Z1LLとの間にあるか、または基準インピーダンスZ2aveが40Hz用の経年劣化許容上限値Z2ULと、40Hz用の経年劣化許容下限値Z2LLとの間にあるか否かを判定している。即ち、パブリックアドレスシステムを長年にわたって使用していると経年劣化によって各スピーカ8のインピーダンスは変化する。この変化に従って基準インピーダンスZ1ave、Z2aveも変化する。基準インピーダンスZ1aveが、各スピーカの交換を必要とする限界となる20KHzの許容上限値Z1ULと許容下限値Z1LLとによって規定される許容範囲内にあるか、または基準インピーダンスZ2aveが、各スピーカの交換を必要とする限界となる40Hzの許容上限値Z2ULと許容下限値Z2LLとによって規定される許容範囲内にあるか判定し、基準インピーダンスZ1aveが許容上限値Z1ULと許容下限値Z1LLとによって規定される許容範囲から外れるか、または基準インピーダンスZ2aveが許容上限値Z2ULと許容下限値Z2LLとによって規定される許容範囲から外れると、スピーカの交換を促す表示を報知装置28に行う。この判定は、パブリックアドレスシステムが使用されていない時間、例えば店舗に設置されているものでは店舗の閉店時刻後開店時刻までの時間帯内の或る時刻になるごとに毎日行われる。
 図9に示すように検査時刻であるか否かの判断が行われる(ステップS60)。この判断の答えがノーの場合、この処理は終了する。ステップS60の判断の答えがイエスの場合、DSP10がテスト信号を発生する(ステップS62)。そして、図2に関連して説明したようにして基準インピーダンスZ1ave、Z2aveを測定する(ステップS64)。Z1aveが上述したZ1ULとZ1LLで規定された許容範囲内にあり、かつZ2aveが上述したZ2ULとZ2LLで規定された許容範囲内にあるか判断する(ステップS66)。この判断の答えがノーの場合、報知装置28にエラー表示を行い(ステップS68)、スピーカの交換を促す。ステップS66の判断の答えがイエスの場合、測定されたZ1ave、Z2aveを記憶する(ステップS70)。ステップS70の処理を実行することによって、以後、図8に示す処理においてZ1open、Z2open、Z1inc、Z2incを算出する際のZ1ave、Z2aveが更新される。その結果、経年劣化によるインピーダンスの変化の影響による誤判定を防止することができる。
 上記の実施形態では、クロススペクトラム解析によってインピーダンスZ1、Z2やZ1ave、Z2aveを測定したが、例えばテスト信号を抽出することが可能な狭帯域のバンドパスフィルタを用いてテスト信号の電流及び電圧を抽出し、これら抽出値からインピーダンスを測定することもできる。また、上記の実施形態では、周波数が40Hzと20KHzのテスト信号を使用したが、例えば40Hz若しくは20KHzのいずれかだけの周波数のテスト信号を使用することもできる。また、上記の実施形態では、DSP10からのデジタルテスト信号をD/A変換して合成器13に供給したが、これに代えて、別にアナログテスト信号源を設け、このアナログテスト信号源からのテスト信号を合成器13に供給してもよい。この場合、アナログテスト信号をデジタルテスト信号にA/D変換器によって変換して、DSP10に供給する。上記の実施形態では、スピーカライン及びスピーカの開放とこれらのインピーダンスの低下とを判定したが、いずれか一方のみを行うようにすることもできる。

Claims (5)

  1.  音声信号の信号源と、
     前記音声信号を増幅する増幅器と、
     この増幅器の出力信号を伝送するスピーカラインと、
     このスピーカラインに互いに並列に接続されている複数のスピーカとを、
    備えたパブリックアドレスシステムにおいて、
     人の可聴周波数帯域のうち最低周波数付近の周波数及び最高周波数付近の周波数のいずれか一方、若しくは両方を含むテスト信号の信号源と、
     前記テスト信号を前記音声信号と合成して前記増幅器に供給する合成器と、
     前記増幅器の出力信号に含まれる前記テスト信号の成分を抽出し、抽出されたテスト信号の成分に基づいて前記増幅器の出力側から前記各スピーカ側を見たインピーダンスを特定するインピーダンス特定手段と、
     この特定されたインピーダンスを予め定めた閾値と比較して、前記各スピーカライン及びスピーカの開放及びインピーダンス低下のうち少なくとも一方を判定する判定手段と、
     前記合成信号の前記テスト信号に対する比率が予め定めた値よりも大きく、前記合成信号が増加しているとき、前記閾値を、前記判定手段での判定精度を下げる方向に変化させる閾値修正手段とを、
    具備するスピーカライン検査装置。
  2.  請求項1記載のスピーカライン検査装置において、前記閾値修正手段は、前記合成信号が増加しているとき下げた前記判定精度を、前記合成信号が増加状態から減少状態に変化したとき、上昇させ、前記判定精度を下げる方向の変化率が大きく、前記判定精度を上げる方向の変化率が小さいことを特徴とするスピーカライン検査装置。
  3.  音声信号の信号源と、
     前記音声信号を増幅する増幅器と、
     この増幅器の出力信号を伝送するスピーカラインと、
     このスピーカラインに互いに並列に接続されている複数のスピーカとを、
    備えたパブリックアドレスシステムにおいて、
     人の可聴周波数帯域のうち最低周波数付近の周波数及び最高周波数付近の周波数の両方を含むテスト信号の信号源と、
     前記テスト信号を前記音声信号と合成して前記増幅器に供給する合成器と、
     前記増幅器からの出力信号に含まれる前記テスト信号の2つの周波数成分を抽出し、抽出された各周波数成分に基づいて前記増幅器の出力側から前記各スピーカ側を見たインピーダンスを特定するインピーダンス特定手段と、
     特定されたインピーダンスを、予め定めた閾値と比較して、前記各スピーカライン及びスピーカの開放及びインピーダンス低下のうち少なくとも一方を判定する判定手段と、
    具備するスピーカライン検査装置。
  4.  請求項1又は3に記載のスピーカライン検査装置において、
     前記音声信号の信号源が停止している時間帯に、前記インピーダンス特定手段が前記インピーダンスを特定し、
     この特定されたインピーダンスを基に前記閾値を設定する閾値設定手段と、
     前記特定されたインピーダンスが予め定めた許容範囲内にあるか判定する第2の判定手段とを、
    具備するスピーカライン検査装置。
  5.  請求項1又は3に記載のスピーカライン検査装置において、前記インピーダンス特定手段は、
     前記スピーカラインに流れる電流を検出する電流検出手段と、
     前記スピーカラインにかかる電圧を検出する電圧検出手段と、
     前記電流検出手段で検出された電流と、前記電圧検出手段で検出された電圧とに、それぞれ含まれる前記テスト信号の周波数成分を検出する周波数成分検出手段と、
     これら検出された電流及び電圧中の前記テスト信号の周波数成分から前記インピーダンスを演算する演算手段とを、
    具備するスピーカライン検査装置。
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