WO2007026637A1 - 圧電共振器及び圧電共振器の製造方法 - Google Patents

圧電共振器及び圧電共振器の製造方法 Download PDF

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piezoelectric resonator
piezoelectric layer
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Keiji Onishi
Hiroshi Nakatsuka
Takehiko Yamakawa
Tomohiro Iwasaki
Tomohide Kamiyama
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Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a piezoelectric resonator using a piezoelectric thin film, which is used in a wireless communication device represented by a mobile phone, a wireless LAN, etc., and a method of manufacturing the piezoelectric resonator.
  • Parts incorporated in portable communication devices and the like are required to be smaller and lighter while maintaining high performance.
  • filters and duplexers that select high frequency signals used in mobile phones are required to be small and have low insertion loss.
  • a filter using a piezoelectric resonator using a piezoelectric thin film is known as one of the filters satisfying this requirement.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view of a conventional piezoelectric resonator (see Patent Document 1). This conventional piezoelectric resonator is manufactured by the following procedure.
  • a convex portion to be the cavity 506 is formed on the surface of the substrate 504 which is also silicon equal force. Then, the convex portion is filled with a sacrificial layer which can easily dissolve soluble materials such as phosphosilicate glass (PSG) and an organic resist, and then planarized. Next, on the sacrificial layer, an insulating film 510 which can be made of oxide silicon (Si02), silicon nitride (Si3 N4) or the like is formed. Next, a conductive film to be the first electrode 502 is formed over the insulating film 510. Next, the conductive film is patterned into a predetermined shape using a normal photolithography technique to form a first electrode 502.
  • a sacrificial layer which can easily dissolve soluble materials such as phosphosilicate glass (PSG) and an organic resist, and then planarized.
  • an insulating film 510 which can be made of oxide silicon (Si02), silicon nitride (Si3 N
  • the first electrode 502 is formed by a sputtering method or an evaporation method, and molybdenum (Mo), tungsten (W), aluminum (A1), or the like is widely used.
  • Mo molybdenum
  • tungsten (W), aluminum (A1), or the like is widely used.
  • a piezoelectric layer 501 made of a piezoelectric material such as aluminum nitride (A1N) or zinc oxide (ZnO) is formed.
  • a conductive film to be the second electrode 503 is formed on the piezoelectric layer 501.
  • the conductive film is etched again to form a second electrode 503.
  • the sacrificial layer is etched away with a solvent such as hydrofluoric acid or an organic solvent to form a cavity 506.
  • the first electrode is The sectional shape of the section 502 is a trapezoidal shape whose short side is in contact with the piezoelectric layer 501
  • the sectional shape of the second electrode 503 is a trapezoidal shape whose long side is in contact with the piezoelectric layer 501. Note that when a method such as dry etching is used, the cross-sectional shapes of the first electrode 502 and the second electrode 503 both become rectangular shapes whose end surfaces are vertical.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view of another conventional piezoelectric resonator (see Patent Document 2).
  • This conventional piezoelectric resonator has a structure in which the cavity 506 of the conventional piezoelectric resonator described above is replaced with an acoustic mirror layer 607 in which low acoustic impedance layers 605 and high acoustic impedance layers 606 are alternately stacked. Since this conventional piezoelectric resonator also has a manufacturing method in which layers are sequentially stacked from the substrate 604, when each electrode is formed by wet etching, the cross-sectional shape of the first electrode 602 is the piezoelectric layer 601.
  • the cross section of the second electrode 603 has a trapezoidal shape in which the side in contact with the piezoelectric layer 601 is a long side.
  • Patent Document 1 Japanese Published Patent Application No. 2002-509644
  • Patent Document 2 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-251190
  • the above-mentioned conventional piezoelectric resonator is manufactured by the procedure of forming the piezoelectric layer and the second electrode after forming the first electrode while applying force, the cross-sectional shape of the first electrode is formed. However, it has a trapezoidal shape whose short side is the side in contact with the piezoelectric layer, and a rectangular shape whose end face is vertical. Therefore, there is a problem such as generation of unnecessary spuriousness in the electrical characteristics of the piezoelectric resonator, and the above-mentioned conventional piezoelectric resonator has a procedure for forming a piezoelectric layer on the first electrode. In the first electrode end portion, there is a problem that the crystallinity of the piezoelectric layer is deteriorated and the Q value, which is the resonance sharpness, is deteriorated.
  • the conventional piezoelectric resonator is manufactured by the procedure of forming the piezoelectric layer on the sacrificial layer or the acoustic mirror layer, the flatness of the surface on which the piezoelectric layer is formed is impaired, and the piezoelectric layer is formed.
  • the crystallinity of the body layer is degraded, it has the following problem.
  • an object of the present invention is to provide a piezoelectric resonator with good characteristics without unnecessary spurious, and a method of manufacturing the same. Means to solve the problem
  • the present invention is directed to a piezoelectric resonator that vibrates at a predetermined frequency.
  • the piezoelectric resonator of the present invention is formed on a piezoelectric layer made of a piezoelectric thin film, and on one main surface of the piezoelectric layer, and a section thereof is in contact with the piezoelectric layer.
  • a first electrode having a trapezoidal shape as a side, and a second electrode having a trapezoidal shape formed on the other main surface of the piezoelectric layer and having a cross section that is in contact with the piezoelectric layer as a long side Prepare to speak.
  • the sectional shape of the first electrode and the sectional shape of the second electrode are symmetrical with the piezoelectric layer interposed therebetween.
  • the piezoelectric layer is fixed to the substrate through the supporting portion made of an inorganic material, or fixed to the substrate through a thin film layer made of the inorganic material.
  • the step of forming the piezoelectric layer on the first substrate, and the long side of a portion of the main surface of the piezoelectric layer on which the cross-sectional shape is in contact with the piezoelectric layer Using the step of forming the first electrode having a trapezoidal shape, and the bonding method through the support portion, the piezoelectric layer on which the first electrode is formed is transferred from the first substrate to the second substrate And a step of forming, on the other main surface of the piezoelectric layer, a second electrode having a trapezoidal shape whose long side is a section in contact with the piezoelectric layer.
  • the step of transferring may include a step of bonding the metal support portion in a molten or semi-molten state, or the support portion formed of an oxide thin film layer and the second substrate.
  • the method may include the step of surface-activating and laminating.
  • the above-described piezoelectric resonator of the present invention can function alone, but if two or more are connected, a high-frequency component such as a filter donor can be realized. Further, the above-mentioned high frequency component can be used in a communication device together with an antenna, a transmitting circuit, a receiving circuit and the like.
  • FIG. 1A is a view schematically showing a structure of a piezoelectric resonator according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1B is a view schematically showing a structure of a piezoelectric resonator according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1C is a view schematically showing a structure of a piezoelectric resonator according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2A is a view schematically showing the procedure of a method of manufacturing a piezoelectric resonator according to the first embodiment.
  • FIG. 2B is a view schematically showing the procedure of the method of manufacturing a piezoelectric resonator according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a view showing the electrical characteristics (admittance) of the piezoelectric resonator according to the first embodiment.
  • FIG. 4A is a structural cross-sectional view of a conventional piezoelectric resonator for describing the electrical characteristics shown in FIG.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view of the structure of the piezoelectric resonator of the present invention for explaining the electrical characteristics shown in FIG. 3.
  • Fig. 5A is a view schematically showing the structure of another piezoelectric resonator according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5B is a view schematically showing the structure of another piezoelectric resonator according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5C is a view schematically showing the structure of another piezoelectric resonator according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6A is a view schematically showing a structure of a piezoelectric resonator according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6B is a view schematically showing the structure of a piezoelectric resonator according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 7A is a view schematically showing the procedure of a method of manufacturing a piezoelectric resonator according to a second embodiment.
  • FIG. 7B is a view schematically showing the procedure of the method of manufacturing a piezoelectric resonator according to the second embodiment.
  • FIG. 8 is a view showing an example of a piezoelectric filter circuit using the piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 9 is a view showing an example of another piezoelectric filter circuit using the piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 10 is a view showing an example of a duplexer using the piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 11 is a view showing an example of a communication device using the piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 12 is a view schematically showing the structure of a conventional piezoelectric resonator.
  • FIG. 13 is a view schematically showing the structure of another conventional piezoelectric resonator.
  • FIG. 1A is a top view schematically showing a structure of a piezoelectric resonator according to a first embodiment of the present invention.
  • 1B and 1C are A-A cross-sectional views of the piezoelectric resonator shown in FIG. 1A, FIG. 1B is a view of only the vibrating portion, and FIG. 1C is the vibrating portion placed on the substrate 104 by the support portion 105. The figure is shown.
  • the vibrating portion is composed of a piezoelectric layer 101 and a first electrode 102 and a second electrode 103 formed to sandwich the piezoelectric layer 101.
  • the piezoelectric layer 101 includes aluminum nitride (A1 N), zinc oxide (ZnO), lead zirconate titanate (PZT) material, lithium niobate (Li Nb03), lithium tantalate (LiTa03), or potassium niobate.
  • a piezoelectric material such as (KNb03) is used.
  • the first electrode 102 and the second electrode 103 are made of molybdenum (Mo), aluminum (A1), tungsten (W), platinum (Pt), gold (Au), titanium (Ti), or copper (Cu) Conductive materials, and laminated metals or alloys thereof.
  • the piezoelectric resonator according to the first embodiment has a cross section of the piezoelectric layer 101 on one main surface of the first electrode 102, the force piezoelectric layer 101. It has a trapezoidal shape whose long side is the side in contact with.
  • the second electrode 103 is also formed on the other principal surface of the piezoelectric layer 101 in a trapezoidal shape whose long side is in contact with the piezoelectric layer 101.
  • the first electrode 102 and the second electrode 103 are formed in a line-symmetrical shape, but the relationship between the first electrode 102 and the second electrode 103 is shown. (Thickness, position, etc.) is not particularly limited. Further, the shape of the piezoelectric layer 101 is not particularly limited.
  • the piezoelectric resonator is a resonator using a piezoelectric thin film
  • the vibrating portion becomes very thin (for example, in the case of a 2 GHz band resonator, it is about several microns). Therefore, it is generally As described above, the piezoelectric resonator is used with the vibration unit mounted on the substrate.
  • the vibrating portion is fixed to the substrate 104 via the support portion 105.
  • a material such as silicon (Si), glass, or sapphire is used.
  • a material mainly composed of a gold-tin (AuSn) alloy is used in order to use a characteristic piezoelectric resonator manufacturing method described later.
  • FIG. 2A and FIG. 2B are diagrams schematically showing the procedure of the method of manufacturing a piezoelectric resonator according to the first embodiment.
  • the piezoelectric resonators shown in FIGS. 1A to 1C are manufactured by using a bonding method.
  • a film forming substrate 111 which is also made of silicon, glass or sapphire is prepared, and an electrode film 113 to be the second electrode 103 is formed on the film forming substrate 111 (FIG. 2A, Process a).
  • a flat thermal oxide film is formed in advance as an insulating film on the film formation substrate 111 (not shown).
  • the piezoelectric layer 101 is formed on the electrode film 113 (FIG. 2A, step b).
  • the thickness of the piezoelectric layer 101 is about 11 OO nm
  • the thickness of the electrode film 113 is about 30011111.
  • the piezoelectric layer 101 is formed on the flat film formation substrate 111 via the electrode film 113, generation of discontinuous portions of the electrode film 113 and formation of the electrode film 113 at the time of patterning are made. It is possible to obtain the piezoelectric layer 101 having good crystallinity free from the influence of surface deterioration and the like.
  • an electrode film 112 to be the first electrode 102 is formed on the piezoelectric layer 101 (FIG. 2A, step c). Thereafter, the electrode film 112 is patterned into a predetermined trapezoidal shape by a normal photolithography method to form a first electrode 102 (FIG. 2A, step d).
  • the first electrode 102 was formed by dissolving and removing an unnecessary portion of the electrode film 112 by using a wet etching method using nitric acid-based etchant (nitric acid / sulfuric acid water).
  • nitric acid-based etchant nitric acid / sulfuric acid water
  • a trapezoidal electrode whose long side is in contact with the pressure-sensitive adhesive layer 101 can be obtained. If a similar trapezoidal shape can be obtained, it is possible to use a method such as dry etching without limiting to nitric acid based etchants.
  • a multilayer film 105a to be a part of the support portion 105 is formed on the piezoelectric layer 101 by electron beam evaporation, sputtering or the like (FIG. 2A, step e).
  • the electron beam A part of the support portion 105 is patterned by lift-off in the order of TiZAuZAuSn by steaming. It is preferable that the notches be formed outside the region of the first electrode 102 which does not inhibit the piezoelectric vibration. Thus, preparation of the film formation substrate 111 is completed.
  • a substrate 104 for supporting the vibration unit is prepared, and a multilayer film 105b to be a part of the support unit 105 is formed on the substrate 104 by electron beam evaporation, sputtering or the like (see FIG. 2A, step f).
  • a flat thermal oxide film or the like is formed in advance as an insulating film on the substrate 104 (not shown).
  • the support portion 105 is patterned in the order of TiZAuZAuSn so that the AuSn alloy layer is in contact with the substrate 104 when the substrate 104 is aligned with the substrate 111 for film formation using electron beam evaporation. It is formed.
  • the pattern of the support portion 105 formed on the substrate 104 needs to be completely coincident with the pattern of the support portion 105 formed on the film formation substrate 111, taking account of the alignment accuracy of the two substrates, and a margin is provided. It is preferable to have it.
  • the support portion 105 (multilayer film 105 a) of the substrate 111 for film formation and the support portion 105 (multilayer film 105 b) of the substrate 104 face each other, and gold and tin are eutectic-crystallized and bonded.
  • pressure may be applied to both substrates. In the present example, a pressure of 3 atm was applied to bond the substrates.
  • a strong metal bond can be obtained. Thereby, a piezoelectric resonator excellent in junction reliability can be obtained.
  • the force using the AuSn alloy for the support portion 105 is not limited to this.
  • the melting point solidus temperature
  • the support portion 105 may be bonded by diffusion bonding by mutual diffusion of metals at or below the melting temperature, or the connection surface may be surface activated by plasma treatment or the like to be bonded at normal temperature.
  • the film-forming substrate 111 is removed from the formed product obtained by bonding two substrates (FIG. 2B, Step h).
  • the deposition substrate 111 can be removed using dry etching.
  • the formation originally present on the film formation substrate 111 is transferred to the substrate 104.
  • the electrode film 113 is patterned into a predetermined trapezoidal shape by a normal photolithography method to form a second electrode 103 (FIG. 2B, step i).
  • the second electrode 103 whose section is a trapezoidal shape whose long side is the side in contact with the piezoelectric layer 101 is formed.
  • unnecessary portions of the piezoelectric layer 101 are removed by etching (FIG. 2B, step j) to complete the piezoelectric resonator shown in FIG. 1C.
  • the film formation substrate 111 is removed by etching, but a peeling layer is provided between the electrode film 113 and the film formation substrate 111, and the peeling layer is formed.
  • the film substrate 111 may be separated.
  • the peeling layer and the piezoelectric layer 101 may be stacked on the deposition substrate 111 without forming the electrode film 113.
  • the second electrode 103 needs to be patterned. If gallium nitride (GaN) whose optical properties are different from that of A1N is used as the peeling layer, it is possible to decompose only the GaN and transfer A1N by laser irradiation.
  • GaN gallium nitride
  • a metal film having a low affinity to the electrode film 113 a metal film or an oxide which is easily dissolved in a solvent, or glass may be used.
  • the first electrode is patterned, and then the piezoelectric layer has to be formed.
  • the film formation substrate 111 is prepared, and the piezoelectric layer 101 is formed on the unpatterned electrode film 113.
  • the piezoelectric layer 101 having good crystallinity without any influence on the occurrence of the discontinuous portion of the electrode film 113 or the surface deterioration of the electrode film 113 which occurs at the time of patterning.
  • the half width (FWHM: Full Width Half Maximum) of the (0002) plane of X diffraction, which is an index of crystallinity of the piezoelectric layer (A1N) deposited after patterning the electrode film (Mo), is
  • the FWH M of the piezoelectric layer (A1N), which was deposited without patterning the electrode film (Mo), is 1.1 degrees, whereas it was 1.5 degrees.
  • the first electrode 102 is patterned to form the piezoelectric layer 101.
  • the crystallinity of the piezoelectric layer 101 can be greatly improved. This also improves the Q factor representing the performance as a piezoelectric resonator. In experiments conducted by the inventor, an improvement of about 20% was observed. The effect of such Q value improvement can be exhibited by using any electrode material, piezoelectric material, and substrate material. Furthermore, the improvement of the crystallinity also improves the dielectric breakdown voltage of the piezoelectric layer, and also improves the power resistance characteristics of the piezoelectric resonator.
  • FIG. 3 is a diagram showing the electrical characteristics (admittance) of the piezoelectric resonator according to the first embodiment.
  • 4A and 4B are structural cross-sectional views of a piezoelectric resonator for explaining the electrical characteristics shown in FIG.
  • Fig. 3 (a) shows the characteristics of a conventional piezoelectric resonator (Fig. 4A), and a spurious (unwanted electrical signal) due to unwanted vibration is observed between the resonant frequency and the antiresonant frequency.
  • Ru in FIG. 3A, as shown in FIG. 4A, an acoustic discontinuity is formed at the dotted line in the figure due to the presence of the electrode, and it is unnecessary to propagate in the direction (lateral direction) perpendicular to the vibration direction. It is considered that reflections such as mode vibration occur and spurs are generated.
  • FIG. 3 are diagrams showing the characteristics of the piezoelectric resonator according to the first embodiment.
  • the long side d of the trapezoidal shaped first electrode 102 and the second electrode 103 formed by sandwiching the piezoelectric layer 101 is 50 ⁇ m
  • the value of r is 0.3 / ⁇ in Fig. 3 (b), 0.5 m in Fig. 3 (c), 1 m in Fig. 3 (d) and Fig. 3 (e). The case of 3 m is shown. According to FIG.
  • the piezoelectric resonator of the present invention suppresses spurious as compared with the conventional piezoelectric resonator. That is, by setting the value of r so that the thickness gradually changes at the end of the electrode, it is possible to suppress the reflection of unwanted mode vibration at the electrode end, so that the admittance characteristic is poor. Can be reduced.
  • the piezoelectric resonator according to the first embodiment of the present invention unnecessary spurs can be effectively suppressed, and a piezoelectric resonator having a high Q value can be realized. . Especially, By using the method of manufacturing a bright piezoelectric resonator, it is possible to apply to the resonator a high quality piezoelectric layer which does not impair the crystallinity of the piezoelectric layer.
  • the shape of the piezoelectric resonator that is, the case where the first electrode 102 and the second electrode 103 are circular has been shown.
  • the shapes of the first electrode 102 and the second electrode 103 can be various shapes such as a rectangle, an ellipse, or a polygon as shown in FIGS. 5A to 5C.
  • an oxide film, a nitride film, or an organic film for the purpose of preventing characteristic deterioration due to insulation, temperature compensation, or foreign particles, and improving moisture resistance, etc. It may be provided at any position.
  • FIG. 6A is a top view schematically showing a structure of a piezoelectric resonator according to a second embodiment of the present invention.
  • 6B is a B-B cross-sectional view of the piezoelectric resonator shown in FIG. 6A.
  • the piezoelectric resonator according to the second embodiment has a structure formed by the support portion 105 of the piezoelectric resonator according to the first embodiment, and the acoustic cavity is replaced by an acoustic mirror layer 209. Therefore, in the second embodiment, the same reference numerals are given to the structural portions similar to the first embodiment other than the acoustic mirror layer 209, and a part of the description will be omitted.
  • the first electrode 102 is formed in a trapezoidal shape whose long side is in contact with the piezoelectric layer 101.
  • the second electrode 103 is also formed in a trapezoidal shape in which the side in contact with the piezoelectric layer 101 is a long side.
  • the acoustic mirror layer 209 is configured to be alternately laminated with a low acoustic impedance layer 207 which is, for example, an oxide film, and a high acoustic impedance layer 208, which is also, for example, an acid hafnium force.
  • a low acoustic impedance layer 207 which is, for example, an oxide film
  • a high acoustic impedance layer 208 which is also, for example, an acid hafnium force.
  • the five-layer structure is used, but the number of layers is not limited. Since the low acoustic impedance layer 207 and the high acoustic impedance layer 208 are formed by being laminated on the first electrode 102, they are bent according to the trapezoidal shape of the first electrode 102 as shown in FIG. 6B. It becomes a layer.
  • the thicknesses of the low acoustic impedance layer 207 and the high acoustic impedance layer 208 are set to 1Z4 of the acoustic wavelength, it is possible to effectively confine the elastic wave excited in the vibrating portion.
  • FIG. 7A and FIG. 7B schematically show the procedure of the method of manufacturing a piezoelectric resonator according to the second embodiment.
  • FIG. Also in this manufacturing method, the piezoelectric resonators shown in FIGS. 6A and 6B are manufactured by using a method of bonding two substrates together as in the first embodiment.
  • steps a to d are the same as the method of manufacturing the piezoelectric resonator according to the first embodiment, and thus the description thereof will be omitted.
  • step d of FIG. 7A is finished, next, an acoustic mirror layer 209 is formed on the piezoelectric layer 101 and the first electrode 102 (FIG. 7A, step; eg, chemical vapor deposition (CVD; Oxidic acid (low acoustic impedance layer 207) is formed by Chemical Vapor Deposition, and hafnium oxide (high acoustic impedance layer 208) is formed by Physical Vapor Deposition (PVD).
  • CVD chemical vapor deposition
  • Oxidic acid low acoustic impedance layer 207) is formed by Chemical Vapor Deposition
  • hafnium oxide high acoustic impedance layer 208
  • a substrate 104 for supporting the vibration part is prepared, and a bonding layer 205 (corresponding to the support part 105) made of TiZAuZAnSn alloy is formed by electron beam evaporation, sputtering or the like (FIG. 7).
  • the acoustic mirror layer 209 of the substrate 111 for film formation and the bonding layer 205 of the substrate 104 are made to face each other, and gold and tin are eutectic-crystallized and bonded (FIG. 7B, step m).
  • pressure may be applied to both substrates.
  • the bonded substrates may be heated to bring AnSu in contact with each other into a molten state, and the temperature may be lowered to obtain a strong metal bond.
  • the force using the AuSn alloy for the bonding layer 205 is not limited to this.
  • the melting point solidus temperature
  • the melting point is determined by the solder for mounting the piezoelectric resonator on a mother board. It may be higher than the reflow temperature and lower than the melting point of the electrode material of the piezoelectric resonator.
  • the acoustic mirror layer 209 When a metal such as molybdenum or tungsten is used as the acoustic mirror layer 209, bonding may be performed by diffusion bonding due to mutual diffusion of metals at or below the melting temperature, or the lowermost layer of the acoustic mirror layer 209 is used.
  • the connection surface In the case of an acid oxide layer or the like, the connection surface may be surface activated by a plasma treatment or the like, and bonding may be performed at normal temperature. In this case, it is possible to directly bond the piezoelectric resonator and the substrate, which do not need to form a bonding layer particularly on the side of the substrate 104.
  • the film-forming substrate 111 is removed from the formed product obtained by bonding two substrates (FIG. 7B, step n).
  • the electrode film 113 is patterned into a predetermined trapezoidal shape by a normal photolithography method to form a second electrode 103 (FIG. 7B, step o). From this point of view, the second electrode 103 having a trapezoidal cross section whose long side is in contact with the piezoelectric layer 101 is formed. Finally, unnecessary portions of the piezoelectric layer 101 and the acoustic mirror layer 209 are etched away (FIG. 7B, step p) to complete the piezoelectric resonator shown in FIG. 6B.
  • the piezoelectric resonator according to the second embodiment of the present invention As described above, according to the piezoelectric resonator according to the second embodiment of the present invention, unnecessary spurs can be effectively suppressed, and a piezoelectric resonator having a high Q value can be realized.
  • a piezoelectric resonator having a high Q value can be realized.
  • a high quality piezoelectric layer which does not impair the crystallinity of the piezoelectric layer can be applied to the resonator.
  • the electrical characteristics (admittance) of the piezoelectric resonator according to the second embodiment are as described in the first embodiment.
  • various shapes such as a rectangle, an ellipse, or a polygon can be used as the shape of the piezoelectric resonator (see FIGS. 5A to 5C).
  • An oxide film, a nitride film, or an organic film may be provided at any position for the purpose of insulation, temperature compensation, prevention of property deterioration due to extraneous foreign matter, and improvement of moisture resistance.
  • FIG. 8 is a view showing an example of a piezoelectric filter circuit using the piezoelectric resonator of the present invention.
  • a series piezoelectric resonator 302 inserted in series between input and output terminals 301 and a parallel piezoelectric resonator 303 inserted in parallel are connected in a ladder form, and the parallel piezoelectric resonator 303 is an inductor It is grounded via 305.
  • a band pass type high frequency filter can be configured by making the resonance frequency of the series piezoelectric resonator 302 and the antiresonance frequency of the parallel piezoelectric resonator 303 substantially coincide with each other.
  • FIG. 9 is a view showing an example of another piezoelectric filter circuit using the piezoelectric resonator of the present invention.
  • a series piezoelectric resonator 302 inserted in series between the input and output terminals 301 and a parallel piezoelectric resonator 303 inserted in parallel with the bypass piezoelectric resonator 304 are connected in a grid type.
  • the piezoelectric resonator 303 is grounded via the inductor 305.
  • the resonance frequency of the series piezoelectric resonator 302 and the antiresonance frequency of the parallel piezoelectric resonator 303 substantially coincide with each other, and the resonance frequency of the bandpass piezoelectric resonator 304 is equal to that of the parallel piezoelectric resonator 303.
  • the configuration of the piezoelectric filter circuit using the piezoelectric resonator of the present invention is an example, and the number of stages (the number of elements of the piezoelectric resonator) and the connection shape are not limited to this, and it is possible to use a grating-type filter and a plurality of resonators.
  • the present invention is applicable to various filters using piezoelectric resonators, such as multimode filters disposed adjacent to each other in the planar direction or thickness direction.
  • FIG. 10 is a view showing an example of a duplexer 410 using the piezoelectric filter circuit as described above.
  • the transmission filter 414, the phase shift circuit 415, and the reception filter 416 are directly connected in order between the transmission terminal 411 and the reception terminal 412, and the transmission filter 414 and the phase shift circuit 415 The antenna terminal 413 is connected between them.
  • FIG. 11 is a diagram showing an example of a communication device 420 using the above-described duplexer.
  • the signal input from the transmission terminal 421 passes through the baseband unit 423, is amplified by the power amplifier 424, is filtered by the transmission filter 425, and is transmitted as an electric wave from the antenna 428. Also, the signal received by the antenna 428 is filtered by the reception filter 426, amplified by the LNA 427, and transmitted to the reception terminal 422 through the baseband unit 423.
  • the piezoelectric resonator of the present invention is applicable to high frequency filters, high frequency circuit components such as duplexers, communication devices, etc. In particular, unnecessary spurious is effectively suppressed to obtain a high Q value. Useful for cases, etc.

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Abstract

 圧電共振器は、圧電薄膜からなる圧電体層(101)と、圧電体層(101)の一方主面上に形成され、かつその断面が圧電体層(101)に接する側を長辺とする台形形状を有する第1の電極(102)と、圧電体層(101)の他方主面上に形成され、かつその断面が圧電体層(101)に接する側を長辺とする台形形状を有する第2の電極(103)とを備える。

Description

明 細 書
圧電共振器及び圧電共振器の製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、携帯電話や無線 LAN等に代表される無線通信機器に用いられる、圧 電薄膜を用いた圧電共振器、及びその圧電共振器の製造方法に関する。
背景技術
[0002] 携帯型通信機器等に内蔵される部品は、高性能を維持しつつ、より小型化かつ軽 量化されることが要求されている。例えば、携帯電話に使われている高周波信号を選 別するフィルタや共用器では、小型かつ挿入損失が小さいことが要求される。この要 求を満たすフィルタの 1つとして、圧電薄膜を利用した圧電共振器を用いたフィルタ が知られている。
[0003] 図 12は、従来の圧電共振器の断面図である (特許文献 1を参照)。この従来の圧電 共振器は、以下の手順で製造される。
最初に、シリコン等力もなる基板 504の表面にキヤビティ 506となる凸部を形成する 。そして、この凸部に、りん珪酸ガラス (PSG)や有機レジスト等の易溶性材料力もな る犠牲層を充填し、その後に平坦ィ匕する。次に、犠牲層の上に、酸ィ匕ケィ素(Si02) ゃ窒化珪素(Si3N4)等力もなる絶縁膜 510を形成する。次に、絶縁膜 510の上に、 第 1の電極 502となる導電膜を形成する。次に、通常のフォトリソグラフィ技術を用い て、導電膜を所定の形状にパターユングして、第 1の電極 502を形成する。ここで、第 1の電極 502は、スパッタ法ゃ蒸着法により形成され、モリブデン (Mo)、タングステン (W)、又はアルミニウム (A1)等が広く用いられる。次に、第 1の電極 502の上に、窒 化アルミニウム (A1N)や、酸化亜鉛 (ZnO)等の圧電体からなる圧電体層 501が形成 される。さら〖こ、圧電体層 501の上に、第 2の電極 503となる導電膜が形成される。次 に、導電膜を再びエッチングカ卩ェすることにより、第 2の電極 503を形成する。最後に 、犠牲層をフッ酸や有機溶剤等の溶剤によりエッチング除去し、キヤビティ 506を形 成する。
[0004] 図 12で分かるように、各電極をウエットエッチングで形成した場合には、第 1の電極 502の断面形状は、圧電体層 501に接する側が短辺となる台形形状となり、第 2の電 極 503の断面形状は、圧電体層 501に接する側が長辺となる台形形状となる。なお 、ドライエッチング等の手法を用いれば、第 1の電極 502及び第 2の電極 503の断面 形状は、共に端面が垂直である矩形形状となる。
[0005] 図 13は、従来の他の圧電共振器の断面図である(特許文献 2を参照)。この従来の 圧電共振器は、上述した従来の圧電共振器のキヤビティ 506を、低音響インピーダン ス層 605と高音響インピーダンス層 606とを交互に積層した音響ミラー層 607に代え た構造である。この従来の圧電共振器も、基板 604から順に積層していく製造方法 が採られるため、各電極をウエットエッチングで形成した場合には、第 1の電極 602の 断面形状は、圧電体層 601に接する側が短辺となる台形形状となり、第 2の電極 603 の断面形状は、圧電体層 601に接する側が長辺となる台形形状となる。
特許文献 1:特表 2002— 509644号公報
特許文献 2:特開 2002— 251190号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] し力しながら、上記従来の圧電共振器は、第 1の電極を形成した後に圧電体層及 び第 2の電極を形成する手順で製造されるため、第 1の電極の断面形状が、圧電体 層に接する側が短辺となる台形形状や端面が垂直な矩形形状となて!ヽた。そのため 、圧電共振器の電気特性にぉ ヽて不要スプリアスが発生する等の課題を有して 、た また、上記従来の圧電共振器は、第 1の電極の上に圧電体層を形成する手順で製 造されるため、第 1の電極端部において、圧電体層の結晶性が劣化して共振尖鋭度 である Q値が劣化するという課題があった。
さらに、上記従来の圧電共振器は、犠牲層又は音響ミラー層の上に圧電体層を形 成する手順で製造されるため、圧電体層が形成される表面の平坦度が損なわれ、圧 電体層の結晶性を劣化させると 、う課題を有して 、た。
[0007] それ故に、本発明の目的は、不要なスプリアスがな 、良好な特性を備えた圧電共 振器、及びその製造方法を提供することである。 課題を解決するための手段
[0008] 本発明は、所定の周波数で振動する圧電共振器に向けられている。そして、上記 目的を達成させるために、本発明の圧電共振器は、圧電薄膜からなる圧電体層と、 圧電体層の一方主面上に形成され、その断面が圧電体層に接する部分を長辺とす る台形形状を有する第 1の電極と、圧電体層の他方主面上に形成され、その断面が 圧電体層に接する部分を長辺とする台形形状を有する第 2の電極とを備えて ヽる。
[0009] 好ましくは、第 1の電極の断面形状と、第 2の電極の断面形状とが、圧電体層を挟 んで対称である。また、圧電体層は、無機材料カゝらなる支持部を介して基板に固定さ れているか、無機材料カゝらなる薄膜層を介して基板に固定されていることが好ましい
[0010] 上記構造の圧電共振器は、第 1の基板に圧電体層を形成する工程と、圧電体層の 一方主面上に、その断面形状が圧電体層に接する部分を長辺とする台形形状を有 する第 1の電極を形成する工程と、支持部を介した張り合わせ手法を用いて、第 1の 電極が形成された圧電体層を、第 1の基板から第 2の基板へ転写する工程と、圧電 体層の他方主面上に、その断面形状が圧電体層に接する部分を長辺とする台形形 状を有する第 2の電極を形成する工程とによって、製造される。
[0011] 転写する工程は、金属からなる支持部を溶融状態又は半溶融状態にして貼り合わ せる工程を含んでもよいし、酸ィ匕物薄膜層カゝらなる支持部と第 2の基板とを表面活性 化させて重ね合わせることで貼り合わせる工程を含んでもよい。
[0012] 上述した本発明の圧電共振器は、単独でも機能するが、 2つ以上接続すれば、フィ ルタゃ供与器等の高周波部品を実現することができる。また、上記高周波部品は、ァ ンテナ、送信回路及び受信回路等と共に通信機器に用いることができる。
発明の効果
[0013] 上記本発明によれば、不要なスプリアスを効果的に抑圧し、 Q値が高い圧電共振 器を実現することができる。特に、本発明の圧電共振器の製造方法によって、圧電体 層の結晶性を損なうことがなぐ高品位な圧電体層を共振器に適用することができる 図面の簡単な説明 [図 1A]図 1Aは、本発明の第 1の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示し た図である。
[図 1B]図 1Bは、本発明の第 1の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示し た図である。
[図 1C]図 1Cは、本発明の第 1の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示し た図である。
[図 2A]図 2Aは、第 1の実施形態に係る圧電共振器の製造方法の手順を概略的に示 した図である。
[図 2B]図 2Bは、第 1の実施形態に係る圧電共振器の製造方法の手順を概略的に示 した図である。
[図 3]図 3は、第 1の実施形態に係る圧電共振器の電気特性 (アドミタンス)を示した図 である。
[図 4A]図 4Aは、図 3に示す電気特性を説明するための従来の圧電共振器の構造断 面図である。
[図 4B]図 4Bは、図 3に示す電気特性を説明するための本発明の圧電共振器の構造 断面図である。
[図 5A]図 5Aは、本発明の第 1の実施形態に係る他の圧電共振器の構造を模式的に 示した図である。
[図 5B]図 5Bは、本発明の第 1の実施形態に係る他の圧電共振器の構造を模式的に 示した図である。
[図 5C]図 5Cは、本発明の第 1の実施形態に係る他の圧電共振器の構造を模式的に 示した図である。
[図 6A]図 6Aは、本発明の第 2の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示し た図である。
[図 6B]図 6Bは、本発明の第 2の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示し た図である。
[図 7A]図 7Aは、第 2の実施形態に係る圧電共振器の製造方法の手順を概略的に示 した図である。 [図 7B]図 7Bは、第 2の実施形態に係る圧電共振器の製造方法の手順を概略的に示 した図である。
[図 8]図 8は、本発明の圧電共振器を用いた圧電フィルタ回路の例を示す図である。
[図 9]図 9は、本発明の圧電共振器を用いた他の圧電フィルタ回路の例を示す図であ る。
[図 10]図 10は、本発明の圧電共振器を用いた共用器の例を示す図である。
[図 11]図 11は、本発明の圧電共振器を用 ヽた通信機器の例を示す図である。
[図 12]図 12は、従来の圧電共振器の構造を模式的に示した図である。
[図 13]図 13は、従来の他の圧電共振器の構造を模式的に示した図である。
符号の説明
101、 501、 601 圧電体層
102、 103、 502、 503、 602、 603 電極
104、 504、 604 基板
105 支持部
105a, 105b 多層膜
111、 成膜用基板
112、 113、 電極膜
205 接合層
207、 605 低音響インピーダンス層
208、 606 高音響インピーダンス層
209、 607 音響ミラー層
302、 303、 304 圧電共振器
305 インダクタ
410 共用器
414、 425 送信フィルタ
415 移相回路
416、 426 受信フィルタ
420 通信機器 423 ベースバンド部
424 パワーアンプ
428 アンテナ
427 LNA
506 キヤビティ
発明を実施するための最良の形態
[0016] 以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
(第 1の実施形態)
図 1Aは、本発明の第 1の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示した上 面図である。図 1B及び図 1Cは、図 1Aに示した圧電共振器の A— A断面図であり、 図 1Bは振動部だけの図を、図 1Cは振動部を支持部 105によって基板 104に載置さ せた図を示している。
[0017] 振動部は、圧電体層 101と、この圧電体層 101を挟むように形成された第 1の電極 102及び第 2の電極 103とで構成される。圧電体層 101には、窒化アルミニウム (A1 N)、酸化亜鉛 (ZnO)、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)系材料、ニオブ酸リチウム(Li Nb03)、タンタル酸リチウム(LiTa03)、又はニオブ酸カリウム(KNb03)等の、圧 電性材料が用いられる。第 1の電極 102及び第 2の電極 103には、モリブデン(Mo) 、アルミニウム (A1)、タングステン (W)、白金(Pt)、金 (Au)、チタン (Ti)、又は銅(C u)等の導電性材料や、それらの積層金属又は合金が用いられる。
[0018] 図 1B及び図 1Cに示すように、第 1の実施形態に係る圧電共振器は、第 1の電極 1 02力 圧電体層 101の一方主面上に、その断面が圧電体層 101に接する側を長辺 とする台形形状で形成される。また、第 2の電極 103も、圧電体層 101の他方主面上 に、圧電体層 101に接する側を長辺とする台形形状で形成される。なお、この例では 、第 1の電極 102と第 2の電極 103とが線対称の形状で形成される例を示しているが 、第 1の電極 102と第 2の電極 103との間の関係 (厚みや位置等)は、特に問わない。 また、圧電体層 101の形状も特に問わない。
[0019] 圧電共振器が圧電薄膜を用いた共振器の場合には、振動部が非常に薄くなる (例 えば、 2GHz帯の共振器の場合は数ミクロン程度である)。よって、一般に図 1Cに示 したように、圧電共振器は、振動部が基板へ載置された状態で使用される。図 1Cの 例では、振動部は、支持部 105を介して基板 104に固定される。基板 104には、シリ コン (Si)、ガラス、又はサファイア等の材料が用いられる。支持部 105には、後述する 特徴的な圧電共振器製造方法を用いるため、金錫 (AuSn)合金を主体とする材料 が用いられる。
[0020] 図 2A及び図 2Bは、第 1の実施形態に係る圧電共振器の製造方法の手順を概略 的に示した図である。この製造方法では、貼り合わせ方法を用いることによって、図 1 A〜図 1Cに示した圧電共振器を製造する。
[0021] まず、シリコン、ガラス、又はサファイア等力もなる成膜用基板 111を準備し、この成 膜用基板 111の上に、第 2の電極 103となる電極膜 113を形成する(図 2A、工程 a) 。なお、成膜用基板 111の上には、予め平坦な熱酸化膜が絶縁膜として形成されて いる(図示せず)。次に、電極膜 113の上に、圧電体層 101を形成する(図 2A、工程 b)。例えば、 2GHz帯の圧電共振器を形成する場合、圧電体層 101の厚みは約 11 OOnmに、電極膜 113の厚みは約30011111になる。本実施例では、平坦な成膜用基 板 111上に、電極膜 113を介して圧電体層 101を形成するため、電極膜 113の不連 続部の発生やパターユング時に生じる電極膜 113の表面劣化等の影響がなぐ良好 な結晶性を備えた圧電体層 101を得ることができる。
[0022] 次に、圧電体層 101上に、第 1の電極 102となる電極膜 112を形成する(図 2A、ェ 程 c)。その後、通常のフォトリソグラフィー手法により、電極膜 112を所定の台形形状 にパター-ングし、第 1の電極 102を形成する(図 2A、工程 d)。本実施例では、硝酸 系のエツチャント (硝酸 硫酸一水)を用 ヽたゥエツトエッチング手法を用 、て電極膜 112の不要部分を溶解除去することで、第 1の電極 102を形成した。これにより、第 1 の電極 102を、断面形状がテーパを備えるように形成することができる。すなわち、圧 電体層 101に接する側を長辺とする台形形状の電極を得ることができる。なお、同様 の台形形状が得られれば、硝酸系のエツチャントに限るものではなぐまたドライエツ チング等の手法を用いてもょ 、。
[0023] 次に、支持部 105の一部となる多層膜 105aを、電子ビーム蒸着やスパッタ法等を 用いて、圧電体層 101の上に形成する(図 2A、工程 e)。本実施例では、電子ビーム 蒸により TiZAuZAuSnの順に、リフトオフ手法により支持部 105の一部をパターン 形成している。ノターンは、圧電振動を阻害しない第 1の電極 102の領域以外に形 成することが好ましい。これにより、成膜用基板 111の準備が整ったことになる。
[0024] 次に、振動部を支持する基板 104を準備し、支持部 105の一部となる多層膜 105b を、電子ビーム蒸着やスパッタ法等を用いて、基板 104の上に形成する(図 2A、ェ 程 f)。なお、基板 104の上には、予め平坦な熱酸化膜等が絶縁膜として形成されて いる(図示せず)。本実施例では、電子ビーム蒸着を用いて基板 104を成膜用基板 1 11と向か!/、合わせたときに AuSn合金層が接するように、 TiZAuZAuSnの順にリ フトオフ手法により支持部 105をパターン形成している。なお、基板 104に形成され た支持部 105のパターンは、成膜用基板 111に形成された支持部 105のパターンと 完全に一致する必要はなぐ両基板の位置合わせ精度を考慮して、余裕を持たせる ことが好ましい。
[0025] 次に、成膜用基板 111の支持部 105 (多層膜 105a)と基板 104の支持部 105 (多 層膜 105b)とを向かい合わせ、金と錫とを共晶結晶させて貼り合わせる(図 2B、工程 g)0この際、両基板に圧力をかけてもよい。本実施例では、 3気圧のプレス圧を印加 し、基板の貼り合わせを行った。また、貼り合わせた基板を加熱し、互いに接触して いる AnSuを溶融状態にし、温度を下げることにより強固な金属結合を得ることができ る。これにより、接合信頼性に優れた圧電共振器を得ることができる。
[0026] この実施例では、支持部 105に AuSn合金を用いている力 これに限るものではな い。例えば、支持部 105が半溶融状態又は溶融状態を経ることで 2つの基板が張り 合わされる場合は、その融点(固相線温度)が、圧電共振器をマザ一ボードに実装す る際の半田リフロー温度よりも高ぐかつ圧電共振器の電極材料等の融点よりも低け ればよい。また、支持部 105は、溶融温度以下での金属同士の相互拡散による拡散 接合によって貼り合わせてもよいし、プラズマ処理等により接続面を表面活性化させ て常温で接合させてもよい。常温で接合することにより、振動部の残留熱応力をなく すことができるので、製造歩留まりが高くかつ周波数変動等の経時変化が少ない圧 電共振器を得ることができる。
[0027] 次に、 2つの基板を貼り合わせた形成物から、成膜用基板 111を除去する(図 2B、 工程 h)。例えば、ドライエッチングを用いて成膜用基板 111を除去することができる。 この工程 g及び工程 hにより、元々成膜用基板 111にあった形成物が、基板 104に転 写されたことになる。次に、その後、通常のフォトリソグラフィー手法により、電極膜 11 3を所定の台形形状にパターユングし、第 2の電極 103を形成する(図 2B、工程 i)。 これにより、圧電体層 101に接した側が長辺となる台形形状を断面とする第 2の電極 103が形成される。最後に、圧電体層 101の不要な部分をエッチング除去することに より(図 2B、工程 j)、図 1Cに示す圧電共振器が完成する。
[0028] なお、上記製造方法では、成膜用基板 111をエッチング除去して 、る例を示したが 、電極膜 113と成膜用基板 111との間に剥離層を設け、剥離層から成膜用基板 111 を切り離してもよい。また、電極膜 113を形成せずに、成膜用基板 111の上に剥離層 及び圧電体層 101を積層してもよい。この場合、成膜用基板 111を剥離した後、第 2 の電極 103をパターユング形成する必要がある。剥離層として、 A1Nと光学的特性が 異なる窒化ガリウム (GaN)を使用すれば、レーザを照射することで GaNだけを分解 して A1Nを転写することができる。また、剥離層として、電極膜 113との親和力が小さ い金属膜や、溶剤等に容易に溶解する金属膜や酸化物、又はガラス等を用いてもよ い。
[0029] 次に、上記製造方法を用いて形成された構造による第 1の実施形態に係る圧電共 振器の効果について説明する。
従来の圧電共振器では、第 1の電極をパターユングし、次いで圧電体層を形成しな ければならな力つた。しかし、本発明では、成膜用基板 111を準備して、パターニン グされていない電極膜 113上に圧電体層 101を形成する。このため、電極膜 113の 不連続部の発生やパターユング時に生じる電極膜 113の表面劣化等への影響がな ぐ良好な結晶性を備えた圧電体層 101を得ることができる。具体的には、電極膜( Mo)をパターユングした後に成膜した圧電体層 (A1N)の結晶性の指標である X回折 の(0002)面の半値幅(FWHM : Full Width Half Maximum)が 1. 5度であつ たのに対し、電極膜 (Mo)をパターユングせずに成膜した圧電体層 (A1N)の FWH Mは 1. 1度となる。
[0030] このように、本発明では、第 1の電極 102のパター-ングを圧電体層 101を形成し た後に行うため、圧電体層 101の結晶性を大幅に向上させることができる。また、これ により圧電共振器としての性能を表す Q値も向上させることができる。発明者による実 験では、約 20%の Q値向上が観測できた。このような Q値向上の効果は、どのような 電極材料、圧電材料、及び基板材料を用いても発揮される。さらに、結晶性の向上 によって圧電体層の絶縁耐圧も向上し、圧電共振器の耐電力特性も向上する。
[0031] 図 3は、第 1の実施形態に係る圧電共振器の電気特性 (アドミタンス)を示した図で ある。また、図 4A及び図 4Bは、図 3に示す電気特性を説明するための圧電共振器 の構造断面図である。
図 3の (a)は、従来の圧電共振器(図 4A)の特性を示したものであり、共振周波数と ***振周波数との間に不要振動に起因するスプリアス (不要電気信号)が観察される 。図 3の(a)では、図 4Aに示したように、電極の存在によって図中の点線部に音響不 連続部が形成され、振動方向に対して垂直な方向(横方向)に伝搬する不要モード 振動等の反射が起こり、スプリアスが発生していると考えられる。
[0032] 一方、図 3の (b)〜 (e)は、第 1の実施形態に係る圧電共振器の特性を示した図で ある。圧電体層 101を挟んで形成された台形形状の第 1の電極 102及び第 2の電極 103の長辺 d (この例では、各電極が円形でありその直径に相当)が 50 μ mに対して rの値が、図 3の(b)では 0. 3 /ζ πι、図 3の(c)では 0. 5 m、図 3の(d)では 1 m、 及び図 3の(e)では 3 mの場合が示されている。この図 3によれば、本発明の圧電 共振器は従来の圧電共振器に比べて、スプリアスが抑圧されていることが分かる。つ まり、電極の端部において厚みが徐々に変化するように rの値を設定することで、不 要モード振動の電極端部での反射を抑制することができ、アドミタンス特性にぉ 、て スプリアスを低減することができる。 rの値は、特に制約はないが、電極の厚みと同等 以上の値であれば、スプリアス抑制効果が得られる。より好ましくは、テーパ角 Θの角 度を 30° 以下(図 3の例では、 r= 0. 5 m以上)にすれば、スプリアスの抑制効果 が得られる。よって、共振周波数付近カゝら***振周波数付近にかけて、スプリアスが 少なくかつ Q値の高い圧電共振器を実現することができる。
[0033] 以上のように、本発明の第 1の実施形態に係る圧電共振器によれば、不要なスプリ ァスを効果的に抑圧し、 Q値が高い圧電共振器を実現することができる。特に、本発 明の圧電共振器の製造方法を用いれば、圧電体層の結晶性を損なうことがなぐ高 品位な圧電体層を共振器に適用することができる。
[0034] なお、上記第 1の実施形態では、圧電共振器の形状、すなわち第 1の電極 102及 び第 2の電極 103が円形である場合を示した。し力し、第 1の電極 102及び第 2の電 極 103の形状は、図 5A〜図 5Cのように、矩形、楕円形、又は多角形等さまざまな形 状を用いることが可能である。
また、上記第 1の実施形態に係る圧電共振器の構造に、絶縁、温度補償、又は外 来異物による特性劣化防止及び耐湿性向上等を目的とした酸化膜、窒化膜、又は 有機膜を、任意の位置に備えてもよい。
[0035] (第 2の実施形態)
図 6Aは、本発明の第 2の実施形態に係る圧電共振器の構造を模式的に示した上 面図である。図 6Bは、図 6Aに示した圧電共振器の B— B断面図である。この第 2の 実施形態に係る圧電共振器は、上記第 1の実施形態に係る圧電共振器の支持部 10 5によって形成されて!、たキヤビティを音響ミラー層 209に代えた構造である。よって 、第 2の実施形態において、音響ミラー層 209以外の第 1の実施形態と同様の構造 箇所については、同一の参照符号を付して一部の説明を省略する。
[0036] 図 6Bに示すように、第 2の実施形態に係る圧電共振器は、第 1の電極 102が、圧電 体層 101に接する側が長辺となる台形形状に形成される。また、第 2の電極 103も、 圧電体層 101に接する側が長辺となる台形形状に形成される。
[0037] 音響ミラー層 209は、例えば酸ィ匕ケィ素カもなる低音響インピーダンス層 207と、例 えば酸ィ匕ハフニウム力もなる高音響インピーダンス層 208と力 交互に積層されて構 成される。この実施例では、 5層構造になっているが、積層数に限定はない。この低 音響インピーダンス層 207及び高音響インピーダンス層 208は、第 1の電極 102の上 に積層されて形成されるので、図 6Bに示すように第 1の電極 102の台形形状に合わ せて曲折した層となる。好ましくは、低音響インピーダンス層 207及び高音響インピー ダンス層 208の厚さを、それぞれ音響波長の 1Z4と設定することにより、振動部で励 振された弾性波を効果的に閉じ込めることができる。
[0038] 図 7A及び図 7Bは、第 2の実施形態に係る圧電共振器の製造方法の手順を概略 的に示した図である。この製造方法でも、上記第 1の実施形態と同様に、 2つの基板 を貼り合わせる方法を用いることによって、図 6A及び図 6Bに示した圧電共振器を製 造する。なお、第 2の実施形態に係る圧電共振器の製造方法のうち、工程 a〜工程 d は上記第 1の実施形態に係る圧電共振器の製造方法と同様であるため、説明を省略 する。
[0039] 図 7Aの工程 dが終わると、次に、圧電体層 101及び第 1の電極 102上に、音響ミラ 一層 209を形成する(図 7A、工程 。例えば、化学気相法 (CVD ; Chemical Vap or Deposition)により酸ィ匕ケィ素(低音響インピーダンス層 207)を、物理気相法( PVD ; Physical Vapor Deposition)により酸化ハフニウム(高音響インピーダンス 層 208)を、それぞれ形成する。
[0040] 次に、振動部を支持する基板 104を準備し、 TiZAuZAnSn合金カゝらなる接合層 205 (支持部 105に相当)を、電子ビーム蒸着やスパッタ法等を用いて形成する(図 7 A、工程 1)。なお、基板 104の上には、予め平坦な熱酸化膜等が絶縁膜として形成さ れている(図示せず)。
[0041] 次に、成膜用基板 111の音響ミラー層 209と基板 104の接合層 205とを向かい合 わせ、金と錫とを共晶結晶させて貼り合わせる(図 7B、工程 m)。この際、両基板に圧 力をかけてもよい。また、貼り合わせた基板を加熱し、互いに接触している AnSuを溶 融状態にし、温度を下げることにより強固な金属結合を得るてもよい。
[0042] この実施例では、接合層 205に AuSn合金を用いている力 これに限るものではな い。例えば、接合層 205が半溶融状態又は溶融状態を経ることで 2つの基板が張り 合わされる場合は、その融点(固相線温度)が、圧電共振器をマザ一ボードに実装す る際の半田リフロー温度よりも高ぐかつ圧電共振器の電極材料等の融点よりも低け ればよい。また、音響ミラー層 209としてモリブデンやタングステン等の金属を用いた 場合には、溶融温度以下での金属同士の相互拡散による拡散接合によって貼り合 わせてもよいし、音響ミラー層 209の最下層が酸ィ匕物層の場合等の場合には、ブラ ズマ処理等により接続面を表面活性化させて常温で接合させてもよい。この場合、基 板 104側に特に接合層を形成する必要がなぐ圧電共振器と基板とを直接接合する ことができる。 [0043] 次に、 2つの基板を貼り合わせた形成物から、成膜用基板 111を除去する(図 7B、 工程 n)。次に、その後、通常のフォトリソグラフィー手法により、電極膜 113を所定の 台形形状にパターユングし、第 2の電極 103を形成する(図 7B、工程 o)。これ〖こより、 圧電体層 101に接した側が長辺となる台形形状を断面とする第 2の電極 103が形成 される。最後に、圧電体層 101及び音響ミラー層 209の不要な部分をエッチング除 去することにより(図 7B、工程 p)、図 6Bに示す圧電共振器が完成する。
[0044] 以上のように、本発明の第 2の実施形態に係る圧電共振器によれば、不要スプリア スを効果的に抑圧し、 Q値が高い圧電共振器を実現することができる。特に、本発明 の圧電共振器の製造方法を用いれば、圧電体層の結晶性を損なうことがなぐ高品 位な圧電体層を共振器に適用することができる。この第 2の実施形態に係る圧電共 振器の電気特性 (アドミタンス)は、上記第 1の実施形態で説明した通りである。
[0045] なお、上記第 2の実施形態でも、圧電共振器の形状として、矩形、楕円形、又は多 角形等さまざまな形状を用いることが可能であり(図 5A〜図 5Cを参照)、また、絶縁 、温度補償、又は外来異物による特性劣化防止及び耐湿性向上等を目的とした酸 化膜、窒化膜、又は有機膜を、任意の位置に備えてもよい。
[0046] (圧電共振器を用いた構成の例)
図 8は、本発明の圧電共振器を用いた圧電フィルタ回路の例を示す図である。図 8 に示す圧電フィルタ回路は、入出力端子 301間に直列挿入された直列圧電共振器 3 02と並列挿入された並列圧電共振器 303とが梯子型に接続され、並列圧電共振器 303はインダクタ 305を介して接地される。直列圧電共振器 302の共振周波数と並 列圧電共振器 303の***振周波数とを略一致させることにより、帯域通過型の高周 波フィルタを構成できる。
[0047] また、図 9は、本発明の圧電共振器を用いた他の圧電フィルタ回路の例を示す図で ある。図 9に示す圧電フィルタ回路は、入出力端子 301間に直列挿入された直列圧 電共振器 302及びバイパス圧電共振器 304と並列挿入された並列圧電共振器 303 とが格子型に接続され、並列圧電共振器 303はインダクタ 305を介して接地される。 直列圧電共振器 302の共振周波数と並列圧電共振器 303の***振周波数とを略一 致させると共に、ノ ィパス圧電共振器 304の共振周波数を並列圧電共振器 303の共 振周波数よりも低く設定することにより、帯域外減衰量が大きくかつ低損失な帯域通 過型のフィルタを構成できる。
[0048] このような圧電フィルタ回路では、圧電共振器の共振周波数及び***振周波数付 近のスプリアス信号は、フィルタの通過帯域の特性に大きな影響を及ぼす。本発明の 圧電共振器を適用することにより、通過帯域内にスプリアスがなぐ Q値の高い共振 器であることから、低損失かつスカート特性に優れた高周波フィルタを得ることができ る。
なお、本発明の圧電共振器を用いた上記圧電フィルタ回路の構成は一例であり、 段数 (圧電共振器の素子数)や接続形状はこれに限られず、ラテイス型のフィルタ、 複数の共振器を平面方向や厚み方向に隣接配置させた多重モードフィルタ等、圧 電共振器を利用した種々のフィルタに適用可能である。
[0049] 図 10は、上述したような圧電フィルタ回路を用いた共用器 410の例を示す図である 。図 10に示す共用器 410は、送信端子 411と受信端子 412との間に、送信フィルタ 4 14、移相回路 415、及び受信フィルタ 416が順に直接接続され、送信フィルタ 414と 移相回路 415との間にアンテナ端子 413が接続されている。
[0050] また、図 11は、上述したような共用器を用いた通信機器 420の例を示す図である。
図 11に示す通信機器 420では、送信端子 421から入力された信号は、ベースバンド 部 423を通り、パワーアンプ 424で増幅され、送信フィルタ 425でフィルタリングされ、 アンテナ 428から電波として送信される。また、アンテナ 428で受信された信号は、受 信フィルタ 426でフィルタリングされ、 LNA427で増幅され、ベースバンド部 423を通 り、受信端子 422に伝達される。
産業上の利用可能性
[0051] 本発明の圧電共振器は、高周波フィルタや共用器等の高周波回路部品、及び通 信機器等に利用可能であり、特に、不要なスプリアスを効果的に抑圧し、高い Q値を 得た 、場合等に有用である。

Claims

請求の範囲
[1] 所定の周波数で振動する圧電共振器であって、
圧電薄膜からなる圧電体層 (101)と、
前記圧電体層 (101)の一方主面上に形成され、その断面が前記圧電体層 (101) に接する部分を長辺とする台形形状を有する第 1の電極(102)と、
前記圧電体層 (101)の他方主面上に形成され、その断面が前記圧電体層 (101) に接する部分を長辺とする台形形状を有する第 2の電極(103)とを備える、圧電共 振器。
[2] 前記第 1の電極(102)の断面形状と、前記第 2の電極(103)の断面形状とが、前 記圧電体層(101)を挟んで対称であることを特徴とする、請求項 1に記載の圧電共 振器。
[3] 前記圧電体層 (101)が、無機材料力もなる支持部(105)を介して基板(104)に固 定されて!/ヽることを特徴とする、請求項 1に記載の圧電共振器。
[4] 前記圧電体層 (101)が、無機材料カゝらなる薄膜層 (209)を介して基板(104)に固 定されて!/ヽることを特徴とする、請求項 1に記載の圧電共振器。
[5] 圧電共振器の製造方法であって、
第 1の基板に圧電体層を形成する工程 (a, b)と、
前記圧電体層の一方主面上に、その断面形状が前記圧電体層に接する部分を長 辺とする台形形状を有する第 1の電極を形成する工程 (c, d)と、
支持部を介した張り合わせ手法を用いて、前記第 1の電極が形成された圧電体層 を、前記第 1の基板から第 2の基板へ転写する工程 (e, f, g)と、
前記圧電体層の他方主面上に、その断面形状が前記圧電体層に接する部分を長 辺とする台形形状を有する第 2の電極を形成する工程 (h, i)とを備えた、製造方法。
[6] 前記転写する工程が、金属からなる前記支持部を溶融状態又は半溶融状態にして 貼り合わせる工程を含むことを特徴とする、請求項 5に記載の製造方法。
[7] 前記転写する工程が、酸化物薄膜層からなる前記支持部と前記第 2の基板とを表 面活性化させて重ね合わせることで貼り合わせる工程を含むことを特徴とする、請求 項 5に記載の製造方法。 複数の圧電共振器を備えた高周波部品であって、請求項 1に記載の圧電共振器を 1つ以上備えた、高周波部品。
アンテナ、送信回路及び受信回路を備えた通信機器であって、請求項 3に記載の 圧電共振器を、送信回路及び受信回路の少なくとも一方に備えた、通信機器。
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