WO2006021389A1 - Einrichtung zum messen von elektrischem strom, spannung und temperatur an einem aus starrem material bestehenden elektrischen leiter - Google Patents

Einrichtung zum messen von elektrischem strom, spannung und temperatur an einem aus starrem material bestehenden elektrischen leiter Download PDF

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WO2006021389A1 PCT/EP2005/009013 EP2005009013W WO2006021389A1 WO 2006021389 A1 WO2006021389 A1 WO 2006021389A1 EP 2005009013 W EP2005009013 W EP 2005009013W WO 2006021389 A1 WO2006021389 A1 WO 2006021389A1
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Klaus-Georg MÜLLER
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Abb Patent Gmbh
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    • G01R19/32—Compensating for temperature change

Definitions

  • the invention relates to a device according to the preamble of claim 1.
  • busbars In a low-voltage switchgear busbars run horizontally for power supply, the busbars are assigned vertical or vertical Verteiler ⁇ rails.
  • the individual control, switching and control devices are located in slots, wherein on the inserts contact elements are provided, which include the distribution rails in the mouth.
  • contact elements In case of improper maintenance or from others. There is a risk that even small deviations in the contact forces lead to a high temperature increase at these contact points due to high current densities. The consequences can be cable fires and the destruction of the plant. Due to the high metrological effort, the temperature of such busbar contacts in low-voltage switchgear not memorin ⁇ moderately monitored.
  • the object of the invention is to provide a device with which the electrical current, the voltage and the temperature of the contact pieces can be measured in a simple manner.
  • the conductor is formed from two conductor sections between which an electrical resistance element made of a material having a higher resistance than the conductor is provided, wherein a flattening with a depression is arranged in the region of the resistance element a Meßschaltan Aunt is placed Bretagne ⁇ through which flows a part of the current flowing through the conductor, and that the measuring arrangement is disposed near a connection contact piece with which the conductor can be brought into an electrically conductive connection with another conductor, so that at the contact point resulting heat is measured.
  • This circuit can be used for current, voltage and temperature measurement in the conductor section, which is directly connected to or carries the aforementioned mouse contact piece, so that heat generated there can be measured directly by the circuit.
  • a conductor either a ribbon conductor can be used, which has two sections, between which the electrical resistance element is located;
  • a round wire conductor which is provided with a flat surface, in the region of which the depression and thus also the resistance element are located. The current flows through the resistor element and parallel to it via the measuring circuit.
  • the resistive element may be made of manganin, which has a 20 times increased resistance to copper.
  • Fig. 1 is a perspective view of a conductor piece
  • Fig. 3 is a perspective view of an angled contact pieces
  • Fig. 4 shows a circuit arrangement for the measuring device.
  • FIG. 1 shows a perspective view of a conductor 10, at one end of which has a crimp connection for a connecting conductor, which is connected to the conductor 10 by means of a screw connection 12.
  • the conductor 10 is composed of a first conductor section 13, to which the crimp connection 11 is fastened, and a second conductor section 14, to which a contact piece 15 with two contact tongues 16 and 17 is connected by means of a rivet connection 18.
  • This contact piece 15 reaches ge with a vertically extending conductor 19 in connection by the conductor 10 is pushed with the contact piece 15 on the vertically extending ribbon conductor 19, so that the ribbon conductor 19 in the space 20 between the Zun- gene 16 and 17 is located.
  • the insertion direction is shown by the arrow P.
  • a resistance element 23 is provided, which is soldered to the contact points 24 and 25 with the two conductor sections 13 and 14.
  • the thickness of the resistance element 23 is smaller than the thickness of the conductor sections 13 and 14, so that a depression 26 is formed.
  • the resistive element may be, for example, manganin, which has a resistance 20 times higher than the resistance of the two conductor sections 13 and 14 made of copper.
  • a printed circuit board 27 is soldered onto which a measuring circuit 28 is fixed; the circuit board 27 together with the measuring circuit 28 forms a measuring arrangement for measuring the current and in particular the temperature, which measuring arrangement, as mentioned above, is known per se. Due to the thickness d2 of the resistive element 23, which is reduced in relation to the thickness di of the two conductor sections 13 and 14, the current flows both via the resistive element and via the measuring arrangement, although this is not shown here.
  • the board 27 is soldered on the sections 13 and 14.
  • the measuring device or measuring arrangement which in its entirety is numbered 29, is at mains potential, i. at a potential up to 1000 V.
  • a conductor 30 is shown, which is composed of two conductor sections 31 and 32 1966 ⁇ , between which in the same manner as in the embodiment of FIG. 1 is a resistance element which is similar to the resistive element 23.
  • a depression is provided on which a printed circuit board 33 is soldered, in the same way as on the sections 13 and 14.
  • Fig. 2 it is shown that on the circuit board 27 opposite side of the sections 13 and 14, the contact piece 15 is attached.
  • a contact piece 36 is riveted to the conductor section 31 on the side opposite to the circuit board 33, which is not flat, just like the contact piece 15, but bent in a Z-shape.
  • the one leg 37 is located on the conductor portion 31 and the other, parallel thereto legs 38 carries contact prongs 39 and 40 which are mit ⁇ means of a contact pressure spring 51 connected to each other, which is formed as a U-shaped Kunststoff ⁇ compression spring, wherein a first U-shape 42 and a U-shape 43 running parallel thereto are provided, which are connected to one another by means of connecting elements 44 and 45, wherein the two U-shapes 42 and 43 are inserted over the contact piece, wherein the spring force of the leg pairs 42, 43 are applied to each other via the connecting portions 44, 45 on the contact tongues 39 and 40.
  • Such a contact arrangement is also known per se.
  • FIG. 4 shows a circuit arrangement with a number of phases corresponding to the number of printed circuit boards 50, 51 and 52, on each of which a circuit 28 and 34 corresponding Asic circuit 53, 54 and 55 are applied, which with ei ⁇ are connected to the first microprocessor 56, 57 and 58, in which the signals of the circuit 53 to 55 are processed in a first step.
  • the output signals of the microprocessors 56, 57 and 58 are fed via optocouplers 59, 60, 61 to a microprocessor 62, in which the signals of the microprocessors 56 to 58 are further processed.
  • control devices 63 for a Heidelberg ⁇ device control and for a display device 64 at.
  • the power supply via a supply line 65, which is supplied to a line 66 for a control voltage which ensures and controls the energy supply via three isolated power supply devices 67, 68 and 69.
  • Fig. 1 shows a conductor section 10, which has at its one end a crimp receptacle 11 for a connection conductor.
  • This crimping terminal 11 connects to a first conductor section 12.
  • a resistive resistor element 14 ange ⁇ closed, for example, welded or soldered, at the free end edge 15, a contact piece 16 connects, which ends in a fork shape 17 with two forks 18 and 19 , Not shown are spring elements that press the two forks 18 and 19 against each other.
  • the opening 20 between the two forks 19 and 18 is inserted over a vertically extending rail 21.
  • the entire conductor arrangement 10 serves to supply switching, control and regulating devices located in the interior of a switchgear with electricity.
  • the distribution rails 21, which extend vertically in the switchgear are connected to horizontally extending busbars, which are not shown here.
  • the thickness Di of the section 12 or 16 is greater than the thickness D 2 of the resistance element, so that a recess 22 forms in the region of the resistance element.
  • This recess 22 is covered by an electrical circuit 23, wherein the circuit 23 comprises a printed circuit board 24, are applied to the measuring elements 25 for elektri ⁇ 's current, voltage and temperature.
  • measuring element 23 On the measuring element 23 connecting conductors are provided, which are connected to a microprocessor, in which the signals coming from the measuring device 23 can be further processed.
  • the measuring device is at mains potential, d. H. at a potential up to 1000V.
  • Digital signals are present at the output of the measuring device 23, via potential separation, e.g. Optocouplers are supplied to the microprocessor.

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Abstract

Es wird eine Einrichtung zum Messen von elektrischem Strom, Spannung und Temperatur in einem aus starrem Material bestehenden Leiter, vorzugsweise in einer elektrischen Niederspannungsanlage, beschrieben, bei der Leiter (10) aus zwei Leiter­abschnitten (13, 14) gebildet ist, zwischen denen ein elektrisches Widerstandselement (23) aus einem Material mit gegenüber dem Material der Leiterabschnitte höheren Widerstand vorgesehen ist. Im Bereich des Widerstandselementes (23) ist eine Abflachung mit einer Vertiefung (26) vorgesehen, über die brückenartig eine Messan­ordnung (29) gelegt ist, durch die ein Teil des den Leiter (10) durchfließenden Stromes fließt. Die Messanordnungen (29) ist nahe einem Verbindungskontaktstück (15) angeordnet, mit dem der Leiter (10) mit einem weiteren Leiter (19) in elektrisch leitende Verbindung bringbar ist, so dass die an der Kontaktstelle entstehende Wärme ge­messen wird.

Description

Einrichtung zum Messen von elektrischem Strom. Spannung und Temperatur an einem aus starrem Material bestehenden elektrischen Leiter
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Spannungs- und Strommessungen in Niederspannungsschaltanlagen werden überwie¬ gend mit induktiven Wandlern oder Halssensoren realisiert, um eine notwendige galva¬ nische Trennung zwischen der Mess- und Auswertestelle zu gewährleisetn. Darüber hinaus besteht auch die Möglichkeit, eine solche galvanische Trennung mittels Opto¬ kopplern vorzunehmen, die die von Messelementen erzeugten Signale zu einer Verar¬ beitungseinheit weiter leiten.
Zur Strommessung oder Spannungsmessung können auch Widerstandselemente verwendet werden, die allerdings wegen der hohen Verlustleitung in Widerstands¬ element und fehlender galvanischer Trennung kaum eingesetzt werden.
In einer Niederspannungsschaltanlage verlaufen zur Stromzufuhr Sammelschienen horizontal, wobei den Sammelschienen senkrecht bzw. vertikal verlaufende Verteiler¬ schienen zugeordnet sind. Die einzelnen Steuer-, Schalt- und Regelgeräte befinden sich in Einschüben, wobei an den Einschüben Kontaktelemente vorgesehen sind, die maulförmig die Verteilschienen umfassen. Im Falle unsachgemäßer Wartung oder aus anderen. Gründen besteht die Gefahr, dass an diesen Kontaktstellen bedingt durch ho¬ he Stromdichten schon kleine Abweichungen in den Kontaktkräften zu einem hohen Temperaturanstieg führen. Die Folgen können Kabelbrände und die Zerstörung der An¬ lage sein. Aufgrund des hohen messtechnischen Aufwandes wird die Temperatur von derartigen Sammelschienenkontakten in Niederspannungsschaltanlagen nicht serien¬ mäßig überwacht.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Einrichtung zu schaffen, mit der auf einfache Weise sowohl der elektrische Strom, die Spannung und die Temperatur der Kontaktstücke ge¬ messen werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen des Anspruches 1 gelöst.
Erfindungsgemäß also ist der Leiter aus zwei Leiterabschnitten gebildet, zwischen de¬ nen ein elektrisches Widerstandselement aus einem Material mit gegenüber dem Ma¬ terial des Leiters höheren Widerstand vorgesehen ist, wobei im Bereich des Wider¬ standselementes eine Abflachung mit einer Vertiefung angeordnet ist, über die brücken¬ artig eine Messschaltanordnung gelegt ist, durch die ein Teil des den Leiter durchfließenden Stromes fließt, und dass die Messanordnung nahe einem Verbindungskontaktstück angeordnet ist, mit dem der Leiter mit einem weiteren Leiter in elektrisch leitende Verbindung bringbar ist, so dass die an der Kontaktstelle entstehende Wärme gemessen wird.
Aus dem Automobilbereich, im Batteriemanagement 12V/24V, ist zur Strommessung der ASIC IHM-A-1500 der Firma Isabellenhütte entwickelt worden, der sich durch hohe Empfindlichkeit auszeichnet.
Dieser Schaltkreis kann verwendet werden zur Strom-, Spannungs- und Temperatur¬ messung in dem Leiterabschnitt, der mit dem oben genannten Mauskontaktstück unmit¬ telbar in Verbindung steht oder dieses trägt, so dass dort entstehende Wärme direkt von dem Schaltkreis gemessen werden kann.
Als Leiter kann entweder ein Flachbandleiter verwendet werden, der zwei Abschnitte aufweist, zwischen denen sich das elektrische Widerstandselement befindet; es besteht natürlich auch die Möglichkeit, einen Runddrahtleiter zu verwenden, der mit einer Ab¬ flachung versehen ist, in deren Bereich sich die Vertiefung und damit auch das Wider¬ standselement befinden. Der Strom fließt dabei über das Widerstandselement und parallel dazu über den Mess¬ schaltkreis.
Dabei kann das Widerstandselement aus Manganin hergestellt sein, welches gegen¬ über Kupfer einen um 20-fach erhöhten Widerstand aufweist.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den weiteren Unteransprüchen zu entnehmen.
Anhand der Zeichnung, in der ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt ist, sol¬ len die Erfindung sowie weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Verbesserungen der Erfindung und weitere Vorteile näher erläutert und beschrieben werden.
Es zeigen
Fig. 1 eine perspektivisch Ansicht auf ein Leiterstück
Fig. 2 das Leiterteilstück gemäß Fig. 1 , fertig mit Messeinrichtung montiert, in
Seitenansicht,
Fig. 3 eine perspektivische Ansicht eines abgewinkelten Kontaktstücke und
Fig. 4 eine Schaltungsanordnung zur Messeinrichtung.
Die Fig. 1 zeigt in perspektivischer Darstellung einen Leiter 10, an dessen einem Ende ein Crimp-Anschluss für einen Anschlussleiter aufweist, der mittels einer Schraubver¬ bindung 12 mit dem Leiter 10 verbunden ist. Der Leiter 10 ist zusammengesetzt aus einem ersten Leiterteilstück 13, an dem der Crimp-Anschluss 11 befestigt ist, sowie ein¬ em zweiten Leiterabschnitt 14, an dem ein Kontaktstück 15 mit zwei Kontaktzungen 16 und 17 mittels einer Nietverbindung 18 angeschlossen ist. Dieses Kontaktstück 15 ge¬ langt mit einem senkrecht verlaufenden Leiter 19 in Verbindung, indem der Leiter 10 mit dem Kontaktstück 15 über den senkrecht verlaufenden Flachbandleiter 19 geschoben wird, so dass sich der Flachbandleiter 19 in dem Zwischenraum 20 zwischen den Zun- gen 16 und 17 befindet. Die Einschieberichtung ist durch den Pfeil P dargestellt. Ledig¬ lich zur Ergänzung sei ausgeführt, dass an den freien Enden der Kontaktzungen 16 und 17 nach innen weisende Vorsprünge 16a und 17a vorgesehen sind, deren Abstand von¬ einander etwas kleiner ist als die Dicke des zweiten Leiters 19. Zur Erhöhung der Kon¬ taktkraft der Kontaktzungen 16 und 17 ist eine Schenkelfeder (siehe Fig. 3) mit Schen¬ keln 21 und 22 vorgesehen, die die Kontaktzungen 16, 17 aufeinander zu drücken.
Zwischen dem ersten Leiterabschnitt 13 und dem zweiten Leiterabschnitt 14 ist ein Wi¬ derstandselement 23 vorgesehen, welches an den Berührungsstellen 24 und 25 mit den beiden Leiterabschnitten 13 und 14 festgelötet ist. Bei der in Fig. 1 dargestellten Aus¬ führung ist die Dicke des Widerstandselementes 23 geringer als die Dicke der Leiter¬ abschnitte 13 und 14, so dass eine Vertiefung 26 gebildet ist. Das Widerstandselement kann beispielsweise aus Manganin bestehen, welches einen Widerstandswert aufweist, der 20 mal höher liegt als der Widerstandswert der beiden Leiterabschnitte 13 und 14, die aus Kupfer hergestellt sind.
Auf der dem Betrachter zugewiesenen Fläche der beiden Leiterabschnitte 13 und 14 ist eine Leiterplatte 27 aufgelötet auf die ein Messschaltkreis 28 fixiert ist; die Leiterplatte 27 zusammen mit dem Messschaltkreis 28 bildet eine Messanordnung zur Messung des Stromes und insbesondere der Temperatur, welche Messanordnung, wie eingangs erwähnt, an sich bekannt ist. Aufgrund der gegenüber der Dicke di der beiden Leiterab¬ schnitte 13 und 14 verringerten Dicke d2 des Widerstandselementes 23 fließt der Strom sowohl über das Widerstandselement als auch über die Messanordnung, wobei dies hier nicht näher dargestellt ist. Die Platine 27 ist auf den Abschnitten 13 und 14 aufgelötet.
Die Messeinrichtung oder Messanordnung, die in ihrer Gesamtheit die Bezugsziffer 29 erhält, befindet sich auf Netzpotential, d.h. auf einem Potential bis 1000 V. Am Ausgang dieser Messanordnung 29 stehen digitale Signale an, die, wie weiter unten erläutert, ü- ber Optokoppler einem Microprozessor zugeführt werden, um hier eine Potentialtren¬ nung zu erzielen.
Es sei nun Bezug genommen auf die Fig. 3. Dort ist ein Leiter 30 dargestellt, der aus zwei Leiterabschnitten 31 und 32 zusammen¬ gesetzt ist, zwischen denen sich in der gleichen Weise wie bei der Ausführung gemäß Fig. 1 ein Widerstandselement befindet, welches dem Widerstandselement 23 gleicht. Ebenso ist zwischen diesen beiden Leiterabschnitten 31 und 32 eine Vertiefung vor¬ gesehen, auf der eine Leiterplatte 33 aufgelötet ist, in gleicher Weise wie auf den Ab¬ schnitten 13 und 14. Auf der Leiterplatte selbst befinden sich zwei Schaltkreise 34 und 35, von denen der Schaltkreis 34 dem Schaltkreis 28 entspricht.
In der Fig. 2 ist dargestellt, dass auf der der Leiterplatte 27 entgegengesetzt liegenden Seite der Abschnitte 13 und 14 das Kontaktstück 15 befestigt ist. In gleicher weise ist an dem Leiterabschnitt 31 auf der der Platine 33 entgegengesetzten Seite ein Kontakt¬ stück 36 festgenietet, welches nicht flach eben wie das Kontaktstück 15 ist, sondern Z- förmig gebogen. Der eine Schenkel 37 befindet sich an dem Leiterabschnitt 31 und der andere, parallel dazu verlaufende Schenkel 38 trägt Kontaktzinken 39 und 40, die mit¬ tels einer Kontaktdruckfeder 51 miteinander verbunden sind, die als U-förmige Kontakt¬ druckfeder ausgebildet ist, wobei eine erste U-Form 42 und eine parallel dazu verlauf¬ ende U-Form 43 vorgesehen sind, die mittels Verbindungselementen 44 und 45 mitein¬ ander verbunden sind, wobei die beiden U-Formen 42 und 43 über das Kontaktstück gesteckt werden, wobei die Federkraft der Schenkelpaare 42, 43 aufeinander zu über die Verbindungsabschnitte 44, 45 auf die Kontaktzungen 39 und 40 aufgebracht wird. Auch eine solche Kontaktanordnung ist an sich bekannt.
Die Fig. 4 zeigt eine Schaltungsanordnung mit einer der Anzahl der Phasen entsprech¬ enden Anzahl von Leiterplatten 50, 51 und 52, auf denen jeweils ein den Schaltkreisen 28 und 34 entsprechender Asic-Schaltkreis 53, 54 und 55 aufgebracht sind, die mit ei¬ nem ersten Microprozessor 56, 57 und 58 verbunden sind, in denen die Signale der Schaltkreis 53 bis 55 in einem ersten Schritt verarbeitet werden. Die Ausgangssignale der Microprozessoren 56, 57 und 58 werden über Optokoppler 59, 60, 61 einem Micro¬ prozessor 62 zugeführt, in der die Signale der Microprozessoren 56 bis 58 weiter verar¬ beitet werden.
Am Ausgang des Microprozessors 62 schließen Steuereinrichtungen 63 für eine Schalt¬ gerätesteuerung sowie für eine Anzeigeeinrichtung 64 an. Die Stromversorgung erfolgt über eine Zuführungsleitung 65, der eine Leitung 66 für eine Steuerspannung zugeführt wird, die über drei isolierte Stromversorgungseinrichtungen 67, 68 und 69 die Energie¬ versorgung sicherstellen und steuern.
Die Fig. 1 zeigt ein Leiterteilstück 10, das an seinem einen Ende eine Crimp- Aufnahme 11 für einen Anschlussleiter aufweist. Dieser Crimp-Anschluss 11 schließt an einem ersten Leiterteilstück 12 an. An diesem Leiterteilstück 12, an dessen dem Crimpansatz 11 entgegengesetzten Stirnkante 13 ist ein resistives Widerstandselement 14 ange¬ schlossen, beispielsweise angeschweißt oder angelötet, an dessen freier Stirnkante 15 sich ein Kontaktstück 16 anschließt, das in einer Gabelform 17 mit zwei Gabelzinken 18 und 19 endet. Nicht dargestellt sind Federelemente, die die beiden Gabelzinken 18 und 19 gegeneinander drücken. Die Öffnung 20 zwischen den beiden Gabelzinken 19 und 18 wird über eine vertikal verlaufende Verteilerschiene 21 gesteckt. Die gesamte Leiteranordnung 10 dient dazu, im Inneren einer Schaltanlage befindliche Schalt-, Steu¬ er- und Regelgeräte mit Strom zu versorgen. Die Verteilschienen 21 , die vertikal in der Schaltanlage verlaufen, sind mit horizontal verlaufenden Sammelschienen verbunden, die hier nicht näher dargestellt sind.
Die Dicke Di des Abschnittes 12 bzw. 16 ist größer als die Dicke D2 des Widerstands¬ elementes, so dass sich in dem Bereich des Widerstandselementes eine Vertiefung 22 bildet. Diese Vertiefung 22 ist von einem elektrischen Schaltkreis 23 überdeckt, wobei der Schaltkreis 23 eine Leiterplatte 24 umfasst, auf der Messelemente 25 für elektri¬ schen Strom, Spannung und Temperatur aufgebracht sind.
Wenn nun Strom durch die Anordnung 10 hindurchfließt, dann wird ein Teil des Strom¬ es über das Widerstandselement 14 und ein weiterer Teil über die Messeinrichtung 23 fließen, wobei der dort fließende Strom gemessen werden kann. Darüber hinaus kann auch die Spannung gemessen werden und die Temperatur, die insbesondere durch . schlechte Kontaktübergänge und damit hohe Kontaktwiderstände zwischen den Kon¬ taktgabeln 18, 19 und der Verteilschiene 21 entstehen können.
Am Messelement 23 sind Anschlussleiter vorgesehen, die mit einem Mikroprozessor verbunden sind, in dem die von der Messeinrichtung 23 herkommenden Signale weiter verarbeitet werden können. Wesentlich für die Verwendung der Messeinrichtung 23, die an sich bekannt ist, im Niederspannungsbereich bis 100OV ist die Verteilung des durch das Widerstandselement 14 und die Messeinrichtung 23 durchfließenden Stromes.
Nachzutragen ist, dass die Platine auf den Abschnitten 12 und 16 aufgelötet ist.
Die Messeinrichtung befindet sich auf Netzpotential, d. h. auf einem Potential bis 1000V. Am Ausgang der Messeinrichtung 23 stehen digitale Signale an, über Po¬ tentialtrennung z.B. Optokoppler dem Mikroprozessor zugeführt werden.

Claims

Patentansprüche
1. Einrichtung zum Messen von elektrischem Strom, Spannung und Temperatur in einem aus starrem Material bestehenden Leiter, vorzugsweise in einer elektrischen Niederspannungsanlage, dadurch gekennzeichnet dass der Leiter (10) aus zwei Leiter¬ abschnitten (13, 14) gebildet ist, zwischen denen ein elektrisches Widerstandselement (23) aus einem Material mit gegenüber dem Material der Leiterabschnitte höheren Wi¬ derstand vorgesehen ist, wobei im Bereich des Widerstandselementes (23) eine Ab¬ flachung mit einer Vertiefung (26) vorgesehen ist, über die brückenartig eine Messan¬ ordnung (29) gelegt ist, durch die ein Teil des den Leiter (10) durchfließenden Stromes fließt, und dass die Messanordnungen (29) nahe einem Verbindungskontaktstück (15) angeordnet ist, mit dem der Leiter (10) mit einem weiteren Leiter (19) in elektrisch leit¬ ende Verbindung bringbar ist, so dass die an der Kontaktstelle entstehende Wärme ge¬ messen wird.
2. Einrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass das Messelement aus Manganin besteht.
3. Einrichtung nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Widerstandselement (23) zwischen die Leiterabschnitte (13, 14) gelötet ist, wobei sich in diesem Bereich eine Vertiefung (26) befindet, über die die Messanord¬ nung (29) gelegt ist.
4. Einrichtung nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Messanordnung eine Leiterplatte (27) und einen Messschaltkreis (28) trägt.
5. Einrichtung nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Leiterplatte (50, 51 , 52) der Messschaltkreis (53, 54, 55) sowie ein erster Microprozessor (56, 57, 58) befinden, der die von dem Messschaltkreis (53, 54, 55) herkommenden Signale vorverarbeitet.
6. Einrichtung nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zur galvanischen Trennung der ersten Microprozessoren (56, 57, 58) und einem zweiten Microprozessor (62) Optokoppler (59, 60, 61 ) vorgesehen sind.
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