WO2004079396A1 - シンチレータパネルおよび放射線イメージセンサの製造方法 - Google Patents

シンチレータパネルおよび放射線イメージセンサの製造方法 Download PDF

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WO2004079396A1
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scintillator
substrate
organic film
manufacturing
auxiliary substrate
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Hiroto Sato
Takaharu Suzuki
Masahiro Suganuma
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Hamamatsu Photonics K.K.
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2006Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • Y10T156/10Methods of surface bonding and/or assembly therefor
    • Y10T156/1052Methods of surface bonding and/or assembly therefor with cutting, punching, tearing or severing

Definitions

  • the present invention relates to a radiator image sensor for use in medical and industrial xf spring photography and the like, and a method of manufacturing the same.
  • X-ray photosensitive films have been used in medical and industrial X-ray imaging, but a radiation imaging system using a radiation image sensor has been used in terms of convenience and preservation of imaging results. Is becoming popular.
  • a radiation image is acquired by a radiation image sensor as data of two-dimensionally arranged pixels in the form of an electric signal, and this signal is processed by a processing device to be displayed on a monitor. indicate.
  • This radiation image sensor uses a scintillator panel in which a scintillator component is formed by evaporating a scintillator component on a substrate made of aluminum, glass, fused quartz, or the like. It is disclosed in Japanese Patent No. 267115 and Japanese Patent No. 3034010.
  • a conventional method of manufacturing this type of scintillator panel will be described.
  • a conventional method of manufacturing this type of scintillator panel will be described with reference to FIG. 38A.
  • 61 is inserted, and the end of the substrate 61 is placed on holding jigs 70, 70 provided in a vacuum evaporation apparatus.
  • the scintillator deposition surface 61A of the substrate 61 is disposed on the lower side.
  • a scintillator material is evaporated on the scintillator evaporation surface 61 A of the substrate 61 to form the scintillator 62.
  • FIG. 38B a scintillator panel 60 in which the scintillator 62 is formed on the scintillator deposition surface 61A is manufactured.
  • a scintillator panel for a dental radiation image sensor used by being inserted into the oral cavity must be as small as possible, but the imaging area must be large.
  • the ends of the scintillator deposition surface 61 A are held by holding jigs 70 and 70 of a vacuum deposition apparatus. keeping. For this reason, the entire scintillator vapor deposition surface 61A is not exposed, and its end is not exposed, so that the scintillator 62 is not formed. As a result, the area of the surface 62A of the scintillator 62 becomes smaller than the area of the scintillator vapor deposition surface 61A of the substrate 61, and the imaging area becomes smaller than the entire area.
  • an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a scintillator panel and a radiation image sensor that can easily reduce the thickness of a substrate and increase the area ratio of a scintillator-forming surface on the substrate. I do.
  • a method of manufacturing a scintillator panel according to the present invention includes: (1) a method of manufacturing a scintillator panel in which a scintillator is deposited on a substrate; An auxiliary substrate is placed at a predetermined position on the surface of the substrate, (2) the superposed substrate and the entire auxiliary substrate are covered with an organic film, and (3) the substrate covered with the organic film and the auxiliary substrate are vapor-deposited.
  • a scintillator is formed by vapor deposition on the surface of the organic film covering the second surface opposite to the first surface of the substrate, and (5) A step of obtaining a scintillator panel in which the organic film and the scintillator are formed on the second surface of the substrate by cutting the organic film and separating the auxiliary substrate from the substrate.
  • an auxiliary substrate is overlaid on the substrate. Since the auxiliary substrate is superimposed on the substrate in this way, it is possible to prevent the substrate from warping due to its own weight or the weight of the scintillator when forming the scintillator. Further, even when the substrate has a large area, the substrate is similarly prevented from warping. Thereby, even when the substrate is thin and has a large area, the scintillator can be uniformly formed on the substrate.
  • the method for manufacturing a scintillator panel according to the present invention includes the method for manufacturing a scintillator panel in which a scintillator is deposited on an organic film, wherein (1) at least the first surface of the predetermined auxiliary substrate is (2) The auxiliary substrate covered with the organic film is held by the holding portion in the vapor deposition apparatus. (3) In this state, the surface of the organic film that is in contact with the first surface of the auxiliary substrate is Vapor-depositing a scintillator at a predetermined position on the exposed surface on the opposite side, and (4) separating the organic film on which the scintillator is formed from the auxiliary substrate. .
  • the scintillator is formed on the organic film provided on the auxiliary substrate, and then the organic film on which the scintillator is formed is separated from the auxiliary substrate, whereby the organic film itself is removed.
  • a scintillator panel as a substrate can be formed.
  • the organic film thin here a state in which the scintillator is formed on a thin substrate can be obtained. Also in this case, the same effect as in the case of manufacturing a scintillator panel by adding an auxiliary substrate to the above-described substrate can be obtained.
  • the method further includes a step of further covering the organic film having the scintillator separated from the auxiliary substrate with a protective film.
  • a protective film This can prevent physical and chemical deterioration or damage such as the scintillator coming into contact with external air and deliquescent due to moisture contained in the air.
  • the substrate On the substrate, the surface of the organic film having the scintillator separated from the auxiliary substrate, which is in contact with the first surface of the auxiliary substrate, or the surface on which the scintillator is formed is turned.
  • the method may further include a step of mounting and fixing.
  • the scintillator panel can be manufactured by mounting the scintillator forming surface or the scintillator on another substrate. At this time, by preparing a thin substrate, a thin scintillator panel can be manufactured.
  • the method further includes a step of forming a protective film covering the scintillator.
  • a protective film covering the scintillator.
  • These substrates are preferably radiation-transmissive substrates, and glass, aluminum, or amorphous carbon may be used as the radiation-transmissive substrate.
  • a radiation-transmissive substrate as the substrate, a scintillator panel in which radiation is transmitted from the back side of the substrate can be obtained.
  • the method includes a step of forming a metal reflection film between the substrate and the scintillator. May be. Thereby, the brightness of the light emitted from the scintillator can be increased.
  • a fiber boutique plate may be used as the substrate. Thereby, the light converted from the radiation by the scintillator can be emitted from the substrate with high spatial resolution.
  • the auxiliary substrate includes a protruding portion that protrudes outside the substrate when viewed from the first surface side, and is preferably held by the holding portion in the vapor deposition apparatus using the protruding portion.
  • the auxiliary substrate may include a protrusion protruding in a direction opposite to the first surface in the thickness direction of the substrate, and may be held by the holding unit in the vapor deposition apparatus using the protrusion.
  • the auxiliary substrate may be provided with an engaging portion on the side wall portion, and may be held by the holding portion in the vapor deposition apparatus using the engaging portion.
  • the substrate can be reliably held by the auxiliary substrate.
  • a method of manufacturing a radiation image sensor according to the present invention includes a step of attaching the scintillator panel manufactured by the manufacturing method to a light receiving surface of a solid-state imaging device.
  • the auxiliary substrate is superimposed at a predetermined position on the first surface of the substrate, (2) the superimposed substrate and the entire auxiliary substrate are covered with an organic film, 3) The substrate covered with the organic film and the auxiliary substrate are held in the holding unit in the vapor deposition device. (4) In this state, the organic film covering the second surface opposite to the first surface of the substrate. (5) The organic film is cut at a predetermined position and the auxiliary substrate is separated from the substrate, thereby forming an organic film and a scintillator on the second surface of the substrate. (6) A step of obtaining a chiller panel and attaching the scintillator panel to a light receiving surface of a solid-state imaging device is provided.
  • the scintillator forming surface is attached on the light receiving surface of the solid-state imaging device, and (5a) the organic film is cut at a predetermined position. And separating the auxiliary substrate from the substrate to obtain a radiation image sensor in which a scintillator panel is arranged on the light receiving surface of the solid-state imaging device.
  • a scintillator is vapor-deposited and formed at a predetermined position on the exposed surface opposite to the surface of the organic film that is in contact with the first surface of the auxiliary substrate, and (4) the organic film on which the scintillator is formed is removed.
  • a radiation image sensor in which the scintillator is uniformly formed on a thin and large-area substrate is provided.
  • the scintillator or the substrate is attached to the light receiving surface of the solid-state imaging device, there is a mode in which the scintillator or the substrate is directly attached, and a mode in which the scintillator or the substrate is attached via an organic film or a protective film. It is preferable to cover the scintillator with a protective film in order to prevent deliquescence of the scintillator. In this case, the exposed portion of the scintillator may be covered.
  • the scintillator In order to cover the exposed portion of the scintillator, not only a mode in which only the scintillator is covered with the protective film, but also a mode in which at least one of the scintillator forming portion, the substrate, and the solid-state imaging device is covered together with the scintillator.
  • FIG. 1A shows a scintillator panel according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view of the scintillator panel manufactured by the manufacturing method, and FIG. 1B is a plan view thereof.
  • FIG. 2A to 6 illustrate the scintillation device according to the first embodiment. It is a figure explaining the manufacturing method of one panel.
  • FIG. 7 and 8 are cross-sectional views illustrating a part of the steps of the method for manufacturing a scintillator panel according to the second embodiment.
  • FIG. 9A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the method for manufacturing a scintillator panel according to the third embodiment
  • FIG. 9B is a cross-sectional view of a modified example thereof.
  • FIGS. 1OA to 12 illustrate steps of a method for manufacturing a scintillator panel according to the third embodiment. It is.
  • FIG. 13A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the method for manufacturing a scintillator panel according to the fourth embodiment, and FIG. 13B is a front view thereof.
  • FIG. 14A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the method for manufacturing a scintillator panel according to the fifth embodiment, and FIG. 14B is a front view thereof.
  • FIG. 15A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the method for manufacturing a scintillator panel according to the sixth embodiment, and FIG. 15B is a front view thereof.
  • FIG. 16A, FIG. 16B, and FIG. 17 are diagrams illustrating a method for manufacturing a scintillator panel according to the sixth embodiment.
  • FIG. 18A is a cross-sectional view of a radiation detector manufactured by the method for manufacturing a radiation image sensor according to the seventh embodiment, and FIG. 18B is a front view thereof.
  • FIG. 19A, FIG. 19B, FIG. 20, and FIG. 21 are diagrams illustrating a method for manufacturing a radiation detector according to the seventh embodiment.
  • FIG. 22A is a cross-sectional view of the radiation image sensor according to the eighth embodiment.
  • FIG. 22B is a front view thereof.
  • FIG. 23A is a cross-sectional view of the radiation image sensor according to the ninth embodiment, and FIG. 23B is a front view thereof.
  • FIG. 24A is a cross-sectional configuration diagram of a scintillator panel manufactured by the manufacturing method according to the tenth embodiment of the present invention
  • FIG. 24B is a front view thereof.
  • FIG. 27B, FIG. 28, and FIG. 29 are diagrams illustrating the manufacturing process of the tenth embodiment.
  • FIG. 3OA is a cross-sectional view of a radiation image sensor using the scintillator panel of FIG. 24A
  • FIG. 3OB is a cross-sectional view of a corresponding radiation image sensor manufactured by a conventional manufacturing method.
  • FIGS. 31A and 31B are schematic diagrams showing radiation images obtained by the respective radiation image sensors in FIGS. 30A and 30B, respectively.
  • FIG. 32, FIG. 33, FIG. 34A, and FIG. 34B are perspective views illustrating another embodiment of the support substrate.
  • 35 and 36 are explanatory views showing a part of a manufacturing process of a scintillator panel using the support substrate shown in FIG. 34A.
  • FIG. 37A and FIG. 37B are cross-sectional views showing a modification of the first embodiment.
  • FIG. 38A is a cross-sectional view showing a part of the manufacturing process of the conventional scintillator panel
  • FIG. 38B is a cross-sectional view of the conventional scintillator panel.
  • FIG. 1A shows a scintillator manufactured by the manufacturing method according to the present embodiment.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view of the panel, and FIG. 1B is a plan view thereof.
  • the scintillator panel 1 includes a radiation-transmissive substrate 11 made of glass, amorphous carbon, or another material mainly containing carbon. I have.
  • An organic film 12 that covers one surface of the substrate 11 is formed on one surface of the substrate 11 (the upper surface in FIG. 1A). The organic film 12 covers the entire surface of the substrate 11 and The plate 11 is formed continuously over the side surface.
  • the substrate 11 is a thin substrate, and has a rectangular shape in plan view, but may have a circular shape in plan view.
  • the organic film 12 is made of, for example, a xylene-based resin such as polyparaxylylene (manufactured by ThreeBond, trade name: Parylene) and polyparachloroxylylene (manufactured by the company, trade name: Parylene C).
  • a scintillator 13 which converts radiation incident on the substrate 11 through the substrate 11 into light having a predetermined length, for example, visible light.
  • T 1 -doped CsI is used for the scintillator 13, and CsI has a structure in which a large number of needle-like crystals (columnar crystals) stand.
  • the scintillator 13 is formed by vapor deposition on the surface of the scintillator forming portion 12A at a position corresponding to the substrate 11 in the organic film 12.
  • the protective film 14 is made of a xylene-based resin such as polyparaxylylene and polyparachloroxylylene. The provision of the protective film 14 prevents deliquescence of the scintillator 13 due to the scintillator 13 coming into contact with external air.
  • the auxiliary substrate 20 shown in FIGS. 2A to 5 is used.
  • the manufacturing process of the scintillator panel 1 will be described.
  • the substrate 11 is placed on the auxiliary substrate 20, and the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are overlapped.
  • the auxiliary substrate 20 has the same rectangular shape as the substrate 11 in plan view, and has a thickness greater than that of the substrate 11. Further, the substrate 11 is only placed on the trapping substrate 20 and is not bonded or the like.
  • the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 thus superimposed on each other are covered with an organic film 12 as shown in FIGS. 3A and 3B.
  • the substrate 11 covered with the organic film 12 and the auxiliary substrate 20 are not bonded, but are tightly attached to the organic film 12 by being tightened. Further, since the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 have the same shape in plan view, they are superimposed without displacement.
  • the scintillator 13 is formed on the surface of the scintillator forming portion 12 A in the organic film 12.
  • the scintillator forming portion 12 A of the organic film 12 is located above the substrate 11.
  • the scintillator forming portion 12 A By forming a scintillator on the scintillator forming portion 12 A, the scintillator forming portion 12 A passes through the scintillator forming portion 12 A. A state in which the scintillator 13 is formed on 1 is obtained.
  • both ends of the substrate 11 are supported by the holding portion 81 of the vapor deposition device 80.
  • the substrate 11 is hung, the scintillator component is evaporated from the lower evaporation chamber 82, and the substrate 11 is evaporated on a portion exposed from the opening 81A of the holding portion 81 of the substrate 11. Needle-like crystals are formed.
  • the substrate 11 may be warped due to its own weight or the weight of the scintillator to be deposited. If the substrate 11 is warped in this way, the scintillation may not be formed uniformly on the substrate 11.
  • the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are superimposed, and both are wrapped and integrated with the organic film 12 to form the substrate.
  • the state where 1 1 and the auxiliary substrate 20 are overlapped is maintained.
  • This auxiliary substrate 20 serves as a reinforcing plate Therefore, the warpage of the substrate 11 can be effectively prevented, and the scintillator can be formed uniformly on the position surface of the substrate 11.
  • the whole is formed by a vapor deposition device 80.
  • the organic film 12 is cut at the boundary between the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 as shown in FIG. This cut is indicated by reference numeral 12B.
  • the organic film 12 is cut at the cutting portion 12B, so that the scintillator forming portion 12 on which the scintillator 13 is formed is formed.
  • a and the substrate 11 are separated from the auxiliary substrate 20.
  • a scintillator panel 1a in which the scintillator 13 is formed on the thin substrate 11 via the scintillator forming portion 12A is obtained.
  • the auxiliary substrate 20 separated from the substrate 11 or the like can be discarded as it is, or can be cleaned and used again as the auxiliary substrate 20.
  • the scintillator panel shown in FIGS. 1A and IB is obtained. 1 can be manufactured.
  • the thin substrate 11 is used.
  • the auxiliary substrate 20 can suitably prevent the substrate 11 from warping, so that the scintillator 13 can be uniformly formed on the substrate 11.
  • the substrate 11, the auxiliary substrate 20, and the organic film 12 are entirely covered. However, these are not entirely covered, and the substrate 11 and the auxiliary are used when the scintillator 13 is formed.
  • An embodiment in which the substrates 20 are covered with the organic film 12 to such an extent that the substrates 20 are not separated can also be adopted.
  • the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are overlapped (FIGS. 2A and 2B), and the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are formed with the organic film 12. (FIGS. 3A and 3B), and a scintillator 13 is formed on the surface of the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 (FIGS. 4A, 4B, 5A, and 5C). 5B).
  • the procedure up to this point is the same as in the first embodiment.
  • the organic film 12 covering the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 and the scintillator forming portion is entirely covered with the protective film 14.
  • the organic film 12 and the protective film 14 are placed at the boundary between the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 (cut portions 12 B, 12 B, 14 A, 14 A). Disconnect. Since the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are not bonded to each other, the auxiliary substrate 20 is separated from the scintillator forming portion 12A on which the scintillator 13 is formed, the substrate 11 and the auxiliary substrate 20. As a result, the scintillator 13 is formed on the thin substrate 11 via the scintillator forming portion 12A, and the scintillator panel 2 in which the scintillator 13 is covered with the protective film 14 is manufactured.
  • the auxiliary substrate 20 can suitably prevent the substrate 11 from warping, so that the scintillator 13 can be uniformly formed on the substrate 11.
  • FIG. 9A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the manufacturing method according to the present embodiment
  • FIG. 9B is a cross-sectional view of a modified example thereof.
  • the scintillator panel 3 according to the present embodiment has a scintillator 13 formed on one surface of an organic film 1′2 made of a xylene-based material such as polyparaxylylene and polyparachloroxylene.
  • the organic film 1 2 and scintillator 13 are entirely covered by protective film 14. That is, in the present embodiment, the organic film 12 also serves as the substrate 11.
  • an auxiliary substrate 20 for forming a scintillator is prepared. Is covered with an organic film 12. It is needless to say that the auxiliary substrate 20 preferably has a certain thickness, in particular, is thicker than the organic film 12 to be formed.
  • a scintillator 13 is formed on the scintillator forming portion 12A on the surface of the organic film 12, as shown in FIGS. 11A and 11B.
  • the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 is placed on the lower side.
  • the auxiliary substrate 20 is suspended in the vapor deposition device 30 to deposit a scintillator component.
  • the scintillator 13 may not be formed uniformly.
  • the auxiliary substrate 20 having a sufficient thickness is used, it is possible to prevent the scintillator formation portion 12 A in the organic film 12 from warping and to form the scintillator 13 uniformly. it can.
  • the organic film 12 on the auxiliary substrate 20 is then transferred to the scintillator 13 as shown in FIG. Cut at the cut portion 1 2 B, 1 2 B outside the forming surface.
  • the organic film 12 is cut to form the scintillator in the organic film 12.
  • the part 12 A and the scintillator 13 are separated from the auxiliary substrate 20 and the lower part of the organic film 12.
  • the organic film 12 and the scintillator 13 are entirely covered with a protective film 14 to form a scintillator panel 30 using the organic film 12 as a substrate.
  • the organic film 1 2 is used as it is as a substrate. Therefore, by making the organic film 12 thin, a scintillator panel having a thin substrate can be manufactured.
  • the organic film 12 is formed on the thick auxiliary substrate 20. Since the thickness of the organic film 12 is added by the auxiliary substrate 20, the organic film 12 can be prevented from being warped or torn when the scintillator 13 is formed. For this reason, the scintillator can be formed uniformly in the scintillator forming portion 12A of the organic film 12.
  • the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 has a large area, the scintillator forming portion 12A can be prevented from warping and tearing by the auxiliary substrate 20, so that the scintillator forming portion can be formed.
  • the scintillator 13 can be formed uniformly in the section 12A.
  • the scintillator 13 is formed after the whole of the auxiliary substrate 20 is covered with the organic film 12.
  • one surface thereof is formed.
  • the scintillator 13 is formed by covering a part including the scintillator, the scintillator forming portion 12A may be prevented from falling off the auxiliary substrate 20.
  • FIG. 9B an embodiment shown in FIG. 9B can be adopted.
  • the end of the organic film 12 serving as the substrate is folded toward the scintillator 13 side, and folded along the side surface of the scintillator 13.
  • the area on the front side of the scintillator panel 30 can be made substantially the same as the area on the front side of the scintillator 13.
  • FIG. 13A is a cross-sectional view of the scintillator panel 32 according to the present embodiment
  • FIG. 13B is a front view thereof.
  • a scintillator forming portion 12A is placed on a substrate 11. These substrate 11, scintillator forming section 12A, and scintillator 13 are It is entirely covered with a protective film 14.
  • the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 is used as it is as a substrate, whereas in the present embodiment, a separate substrate is provided.
  • the method of manufacturing the scintillator panel 32 according to the present embodiment will be described.
  • the third embodiment first, as shown in FIGS. 0 is prepared, and the entire auxiliary substrate 20 is covered with the organic film 14.
  • a scintillator component is deposited on the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 to form a scintillator 13 as shown in FIGS. 11A and 11B.
  • the organic film 12 is cut at the cut portions 12 B and 12 B, and the organic film 12 is cut up and down to form the organic film 12.
  • the scintillator forming part 12 A and the auxiliary substrate 20 are separated.
  • the manufacturing steps so far are the same as those in the third embodiment.
  • the auxiliary substrate 2 of the scintillator forming section 12A is placed on the substrate 11 as shown in FIG. 13A. Place with the side that was in contact with 0 facing up. Then, the substrate 11, the scintillator forming portion 12 A, and the scintillator 13 are entirely covered with the protective film 14, thereby manufacturing the scintillator panel 32.
  • the thickness of the scintillator panel 32 itself can be reduced. it can. Further, even when a thin substrate is used as the substrate 11, when forming the scintillator 13, the thick auxiliary substrate 20 is used to prevent the scintillator forming portion 12A from warping and tearing. Therefore, the scintillator 13 can be formed uniformly on the scintillator forming part 12A.
  • FIG. 14A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the manufacturing method according to the present embodiment
  • FIG. 14B is a front view thereof.
  • the scintillator panel 33 the force of the scintillator 13 placed on the substrate 11
  • the scintillator 13 is formed in the scintillator forming section 12A, and has a configuration in which the scintillator 13 is sandwiched between the scintillator forming section 12A and the substrate 11.
  • the substrate 11, the scintillator 13, and the scintillator forming portion 12 A are covered with a protective film 14.
  • the scintillator forming portion 12A is not used as a substrate as it is, but another substrate is provided separately.
  • the auxiliary substrate 20 is entirely organically formed. Cover with membrane 12.
  • the scintillator 13 is formed in the scintillator forming section 12A.
  • the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 is separated from the auxiliary substrate 20 as shown in FIG.
  • the scintillator 13 is placed so that the exposed surface of the scintillator 13 faces the substrate 11 side so that the scintillator 13 contacts the surface of the substrate 11.
  • the substrate 11, the scintillator 13, and the scintillator forming portion 12 A are covered with a protective film 14.
  • the scintillator panel 33 can be manufactured in this manner. Then, the scintillator panel 33 manufactured in this manner can use the thin substrate 11 similarly to the above embodiment, and even when the thin substrate is used, the scintillator 13 is formed uniformly. can do.
  • FIG. 15A is a cross-sectional view of a scintillator panel manufactured by the manufacturing method according to the present embodiment
  • FIG. 15B is a front view thereof.
  • the scintillator panel 35 has a substrate 11.
  • a scintillator forming portion 12A is placed on the substrate 11, and a scintillator 13 is formed on the scintillator forming portion 12A.
  • the surfaces of the scintillator 13 and the scintillator forming portion 12A are covered with a protective film 14.
  • a method of manufacturing the scintillator panel 35 according to the present embodiment will be described. First, as shown in FIGS.
  • an auxiliary substrate 20 is prepared.
  • the auxiliary substrate 20 is covered with the organic film 12.
  • a scintillator component is deposited on the scintillator forming portion 12A of the organic film 12 to form a scintillator 13 as shown in FIGS. 11A and 11B. Up to this point, it is the same as in the third to fifth embodiments.
  • the organic film 12 covering the auxiliary substrate 20 and the scintillator 13 are covered with the protective film 14. cover. Then, as shown in FIG.
  • the organic film 12 and the protective film 14 are cut to separate the scintillator forming portion 12 A and the scintillator 13 of the organic film 12 from the auxiliary substrate 20. Then, as shown in FIG. 15A, the scintillator forming portion 12A is placed on the substrate 11.
  • the scintillator panel shown in FIG. 17 in which the scintillator forming portion 12A and the scintillator 13 separated from the auxiliary substrate 20 and the scintillator 13 are covered with the protective film 14 can be used as it is.
  • the scintillator forming portion 12A functions as a substrate.
  • the scintillator panel 35 manufactured as described above has a thin scintillator panel 35 itself by using a thin substrate as the substrate 11 similarly to the above embodiments. Things. Even when a thin substrate is used as the substrate 11, when forming the scintillator 13, the thick auxiliary substrate 20 is used to prevent the scintillator forming portion 12A from being warped or torn. The scintillator 13 can be uniformly formed on the scintillator forming portion 12A.
  • a seventh embodiment of the present invention will be described.
  • a method for manufacturing a radiation image sensor using a scintillator panel will be described.
  • FIG. 18A is a cross-sectional view of the radiation detector manufactured by the manufacturing method according to the present embodiment
  • FIG. 18B is a front view of the radiation detector viewed from the scintillator panel side. is there.
  • the radiation image sensor 40 according to the present embodiment includes: Substrate 11 is provided. The substrate 11 is covered with the organic film 12 from the upper surface to the side surface. A scintillator 13 is formed in a scintillator forming portion 12 A corresponding to an upper portion of the organic film 12. An imaging element 41 is attached to the scintillator 13. Then, the substrate 11, the organic film 12, the scintillator 13, and the image sensor 41 are covered with the protective film 14. further.
  • a sealing material 42 made of a moisture-resistant resin is provided on the protective film 14 covering the side wall of the scintillator 13.
  • FIGS. 2A and 2B A method for manufacturing the radiation image sensor according to the present embodiment having the above configuration will be described.
  • the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are overlapped (see FIGS. 2A and 2B), and the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 are combined with the organic film 12.
  • scintillator 13 is formed on the surface of scintillator forming part 12A (see Fig. 4A, Fig. 4B, Fig. 5A and Fig. 5B) .
  • the auxiliary substrate 20 is superimposed on the substrate 11, and therefore, as in the above embodiments, the weight of the substrate 11 The substrate 11 is prevented from warping due to the weight of 3, and the scintillator 13 can be formed uniformly.
  • the exposed surface of the scintillator 13 and the light receiving surface of the image sensor 41 face each other, and the image sensor 4
  • the scintillator 13 is placed on 1.
  • the light emitted by the scintillator 13 by the scintillator 13 can be detected by the imaging device 41.
  • the organic film 12 covering the substrate 11 and the auxiliary substrate 20, the scintillator 13, and the image sensor 41 are covered with a protective film 14, as indicated by reference numeral 20.
  • the organic film 12 and the protective film 14 are cut from the boundary between the substrate 11 and the auxiliary substrate 20 (cut portions 12B and 14A) to cut the substrate 1 By separating 1 from the auxiliary substrate 20, the radiation image sensor 40 can be manufactured.
  • the thus manufactured radiation image sensor 40 has a thin substrate 1 Although 1 is used, when forming the scintillator 13, the warpage of the substrate 11 is prevented by the auxiliary substrate 20. For this reason, the scintillator 13 can be formed uniformly. Further, since the scintillator 13 is formed uniformly, the scintillator light obtained by the action of the scintillator 13 becomes uniform, and a suitable image can be obtained by the imaging device 41.
  • the radiation image sensor is not limited to this mode, and is manufactured by attaching the scintillator panel manufactured according to the first to sixth embodiments to the light receiving surface of a solid-state imaging device. can do.
  • the surface of the scintillator 13 in the scintillator panel 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 is attached to the light-receiving surface of a solid-state imaging device, and a radiation detector is provided via an organic film 14. be able to.
  • the surface of the scintillator panel 13 in the scintillator panel 2 shown in FIG. 8 the surface of the scintillator panel 3, 30 according to the third embodiment shown in FIG. 9A and FIG.
  • the surface of the scintillator panel 35 according to the sixth embodiment shown in FIG. 15A and FIG.
  • the radiation detector can be attached to the light receiving surface of the solid-state imaging device via the organic film 14.
  • the layer interposed between the scintillator and the light receiving surface of the solid-state imaging device can be thinned.
  • a radiation image sensor By attaching to the light receiving surface of the solid-state imaging device via 14, a radiation image sensor can be obtained.
  • FIGS. 22A and 22B are cross-sectional views of a radiation detector according to the eighth embodiment of the present invention.
  • the solid-state imaging device is attached to the completed scintillator panel.
  • the scintillator panel before completion is mounted.
  • a radiation detector is manufactured by attaching a solid-state imaging device to a chiller.
  • the radiation spring image sensor 51 according to the present embodiment is similar to the scintillator 13 used in manufacturing the scintillator panel 3 (FIG. 9B) according to the third embodiment.
  • the surface is attached to the solid-state imaging device 41.
  • the scintillator panel 3 is formed by covering the scintillator 13 and the scintillator forming portion 31 shown in FIG. 12 with the organic film 14.
  • the scintillator shown in FIG. After attaching the exposed surface of 13 to the light-receiving surface of the solid-state imaging device 41, the scintillator 13, the scintillator forming portion 31, and the solid-state imaging device 41 are covered with an organic film 14.
  • the radiation image sensor 51 shown in FIGS. 22A and 22B can be manufactured. According to this method, a thin radiation detector 51 can be manufactured.
  • the scintillator 13 shown in FIG. 12 or the scintillator 13 shown in FIG. 6 is attached to the light receiving surface of the solid-state imaging device as in the present embodiment.
  • a protective film When directly attaching to the light receiving surface of the solid-state imaging device, it is preferable to cover the scintillator and the solid-state imaging device with a protective film.
  • the method disclosed in International Publication WO98 / 36290 can be used.
  • the protective film is composed of a first organic film made of an organic film such as parylene, an inorganic film made of an aluminum film, and a second organic film also made of an organic film such as parylene.
  • a first organic film is formed so as to cover the entire scintillator 13.
  • the first organic film covers the entire scintillator 13 and is attached to the surface of the scintillator forming portion 12 1.
  • the first organic film is in close contact with the scintillator 13.
  • an aluminum film is deposited on the surface of the first organic film to form an inorganic film, and a second organic film is formed thereon.
  • the inorganic film can be prevented from corroding by the second organic film, and the scintillator 13 can be protected from physical and scientific deterioration and damage such as deliquescence.
  • the protective film includes a first organic film made of an organic film such as parylene, an inorganic film made of an aluminum film, and a second organic film made of an organic film such as parylene.
  • an elongated frame-like resin frame is formed at a position surrounding the scintillator 13 in the scintillator forming section 12A.
  • This resin frame is preferably subjected to a roughening treatment in order to improve the adhesion with the protective film. This roughening treatment is performed by making streaks or forming small depressions on the surface.
  • the entire surface of the scintillator forming portion 12A is covered with the first organic film together with the scintillator and the resin frame so as to cover the scintillator 13.
  • the first organic film is in close contact with the scintillator 13.
  • an aluminum layer is formed on the surface of the first organic film to form an inorganic film, and a second organic film is formed on the surface of the inorganic film.
  • a protective film covering the scintillator can be suitably formed.
  • FIG. 23A is a cross-sectional view of the radiation detector according to the ninth embodiment of the present invention
  • FIG. 23 is a front view of the radiation detector as viewed from the scintillator side.
  • the radiation detector 52 according to the present embodiment includes a scintillator panel (see FIGS. 15A and 15B) according to the sixth embodiment.
  • the surface of a scintillator 13 used for manufacturing is attached to a solid-state imaging device.
  • FIG. 24A is a cross-sectional configuration diagram of a scintillator panel manufactured by the manufacturing method of this embodiment, and FIG.
  • the scintillator panel 36 has the same configuration as that of the first embodiment, except that the scintillator 13 is formed on substantially the entire surface of the scintillator formation surface. Therefore, the incident radiation can be converted into visible light or the like over the entire surface of the substrate 11.
  • a support substrate 20 shown in FIGS. 25A and 25B is used as an auxiliary substrate.
  • a substrate 11 is prepared, and a first surface 2 OA of the support substrate 20 is brought into contact with the first surface 11B of the substrate 11 so that the substrate 1 1 and support substrate 20 are overlapped.
  • the support substrate 20 is thinner than the substrate 11 and wider than the substrate 11 in plan view.
  • the side portion 20 B that is the portion protrudes laterally from the outer peripheral end 11 C of the substrate 11.
  • the organic film 1 covering the entire substrate 11 and the support substrate 20 is formed.
  • Form 2 The organic film 12 is formed by putting the substrate 11 in a CVD device (not shown) and using a CVD method in the CVD device.
  • the substrate 11 and the support substrate 20 are wrapped in a state where the substrate 11 and the support substrate 20 are overlapped to form the organic film 12, so that the substrate 11 and the support substrate 20 are overlapped and adhered without bonding or the like. Kept in state.
  • the organic film 12 is formed in a state where the substrate 11 and the support substrate 20 are overlapped, this is introduced into the vacuum evaporation apparatus 80.
  • a holding jig 81C shown in FIG. 27A is provided inside the vacuum evaporation apparatus 80. Then, the side portion 20B of the support substrate 20 is placed on the holding jig 81C. At this time, by disposing the substrate 11 below the support substrate 20, the substrate 11 becomes the support substrate 20. It will be in a suspended state. Thus, the substrate 11 is held by the holding jig 81C of the vacuum evaporation apparatus 80. As a result, the surface covered with the organic film 12 of the substrate 11 from the opening 81A of the holding jig 81C projects into the vapor deposition chamber 82 of the vacuum vapor deposition device 80. Is done.
  • the scintillator material M is supplied into the evaporation chamber 80 below the substrate 11 as shown in FIG. Therefore, the scintillator 13 is formed by growing (depositing) on the surface of the substrate 11.
  • the surface of the organic film 12 corresponding to the one surface 11A of the substrate 11 is exposed over the entire surface without contacting the holding jig 81C as described above.
  • the scintillator material M is deposited over the entire surface of the organic film 12 corresponding to the substrate 11.
  • the scintillator 13 can be formed over the entire surface of the organic film 12 corresponding to the substrate 11.
  • the end of the surface of the organic film 12 corresponding to the substrate 11 is not held by the holding jig 81C. Therefore, since the end of the scintillator 13 is substantially perpendicular to the surface thereof, the end of the scintillator 13 does not have a slope shape.
  • the substrate 11 and the support substrate 20 wrapped in the organic film 12 are removed from the holding jig 81 C, and the outside of the vacuum evaporation device 80 is removed. To take out. Thereafter, as shown in FIG. 29, the vicinity of the overlapping portion of the substrate 11 and the support substrate 20 in the organic film 12 is cut. When the organic film 12 is cut along the entire circumference of the overlapping portion of the substrate 11 and the support substrate 20, the substrate 11 and the support substrate 20 are released from the superimposed state. At this time, since the support substrate 20 is merely superposed on the substrate 11, the support substrate 20 is removed as it is by cutting the organic film 12 as it is. .
  • the protective film 14 is the same as the organic film 12 described above. Then, it is formed by a CVD method using a CVD apparatus. By forming this protective film 14 continuously from the portion of the scintillator 13 to the portion of the substrate 11, the scintillator 13 is prevented from coming into contact with external air.
  • the scintillator panel 36 is manufactured.
  • the surface of the organic film 12 corresponding to the substrate 11 does not come in contact with the holding jig of the vacuum deposition apparatus, and the The surface can be left completely exposed. Therefore, the scintillator 13 can be formed over the entire surface of the organic film 12 corresponding to the substrate 11.
  • the scintillator panel can be particularly preferably used for a dental scintillator panel which is required to obtain an image in a wide range as possible with a small substrate.
  • the end of the scintillator 13 is almost perpendicular to its surface and does not have a slope shape. Therefore, the image sensor is bonded to the scintillator 13 via the organic film 12.
  • bonding with an adhesive it is possible to prevent the adhesive from concentrating and causing distortion when the adhesive is solidified.
  • a radiation image sensor 44 having an imaging element 43 made of CCD attached to one surface 11A side of the scintillator panel 36 according to the present embodiment described above was manufactured.
  • An object D having substantially the same area as the substrate 11 is arranged on the other surface 1 1B side of the substrate 11 of the radiation image sensor 44, and X-rays are applied to the object D to cause the imaging element 4 In step 3, an image of the object D was captured.
  • FIG. 30B the conventional scintillator panel 60 shown in FIG. 38B was covered with an organic film 12 for protecting the scintillator.
  • 6 One surface (scintillator vapor deposition surface) 6 1 CCD side image sensor 4 3
  • the attached radiation image sensor 45 was manufactured.
  • An object D is arranged on one surface (scintillator vapor deposition surface) 61 A of the radiation image sensor 45 opposite to the other surface 61 B facing the surface A, and X-rays are applied to the object D.
  • An image of the object D was captured by the image sensor 43.
  • FIGS. 31A and 31B are schematic diagrams of images captured by the respective image sensors 43.
  • the image P1 captured by the radiation image sensor 44 using the scintillator panel 36 according to the present embodiment includes three dark lines L, L , L was clearly projected.
  • the image P2 captured by the radiation image sensor 45 using the conventional scintillator panel 60 three clear dark lines L, L, and L are seen at the center.
  • F, F, ... where this line was blurred. This part was found to be a region with low sensitivity.
  • the radiation image sensor 45 using the conventional scintillator panel 60 is more effective than the radiation image sensor 45 using the conventional scintillator panel 60 for the substrate. It has become possible to shoot clear images over the entire area.
  • a board that is wider in the vertical and horizontal directions than the board is used as the support board.
  • the board 2 that projects from the board 11 in at least one direction is used.
  • the substrate 11 can be suspended and supported in the vapor deposition device 80 using the protruding portion 20B.
  • a rectangular plate is used, but an H-shaped or ladder-shaped support substrate can also be used.
  • the projecting portion is not limited to the horizontal direction.
  • the surface of the support substrate 20 opposite to the substrate 11 is opposite to the substrate 11 as shown in FIG.
  • a protrusion 25 protruding in the direction may be provided.
  • the holding portion 25A is provided on the protruding portion 25, and the substrate 11 is attached to the inside of the vapor deposition device 80 using the holding portion 25A. It is good to support it.
  • a support substrate having no protruding portion can also be used.
  • a shape having a groove 26 parallel to the surface at the opposing side wall 2OD, or as shown in FIG. A support substrate 20 having grooves 26 parallel to the surface on all four sides of D is available.
  • the support substrate 20 shown in FIG. 34A When the support substrate 20 shown in FIG. 34A is used, the support substrate 20 and the substrate 11 are overlapped with each other, and the whole is covered with the organic film 12. , Adhere both.
  • the groove (engaging portion) 26 is engaged and held by the holder 85, thereby suspending and supporting the substrate 11 in the vapor deposition device 80, and The scintillator 13 is formed on the surface covered with the organic film 12 of 11. After the formation, the organic film 12 is cut, the support substrate 20 is separated, and covered with the protective film 14, the scintillator panel 36 shown in FIGS. 24A and 24B is obtained.
  • the organic film 12 is formed directly on the substrate 11 (the scintillator forming portion 12A), but a thin film is formed between the substrate 11 and the organic film 12.
  • An embodiment in which the metal reflective film 17 is formed can also be adopted (see FIG. 37A).
  • the metal reflective film 17 can be formed by vapor deposition on one surface of the substrate 11 before forming the organic film 12 on the surface of the substrate 11.
  • Various metals can be used as the metal reflection film 17, such as A1, Ag, Cr, Cu, Ni, Ti, Mg, Rh, Pt and A material containing a substance in the group consisting of Au can be used.
  • such a metal reflection film 17 can be formed between the organic film 12 and the scintillator 13 in addition to being formed between the substrate 11 and the organic film 12.
  • a metal can be formed on the surface of the organic film 12 by vapor deposition.
  • the metal reflection film 17 a material containing the metal substances listed above can be used. If a metal reflective film 17 is formed between the organic film 12 and the scintillator 13, the metal reflective film 17 and the scintillator 13 come into contact with each other, and the metal reflected by the moisture contained in the scintillator 13 slightly.
  • a waterproof film 18 can be formed between the metal reflective film 17 and the scintillator 13 to prevent this (see FIG. 37B).
  • the waterproof film 18 the same material as the organic film 12 can be used. Further, an oxide film can be formed on the metal reflection film, and this can be used as the waterproof film 18.
  • the metal reflective film 17 is arranged in the direction opposite to the direction of taking out the scintillator emission with respect to the scintillator.
  • a radiation-transmissive substrate is used as the substrate 11, but a plate-like image composed of a plurality of optical fibers is used instead of the radiation-transmissive substrate.
  • a fiber optic plate (FOP), which is a transmitter, can also be used.
  • the radiation image sensor the one in which the imaging element is attached to the scintillator has been described.
  • the substrate transmits light of the emission wavelength of the scintillator like glass or FOP. If so, a mode in which the imaging element is mounted on the substrate 11 can be adopted. Further, by attaching an image pickup device to the scintillator panel manufactured according to each of the above embodiments, it is also possible to form a radiation image sensor.
  • a force s drawn while cutting a cut portion such as an organic film (a scintillator forming portion) and a protective film, for example, polishing or the like is applied.
  • the cut portion can be smoothed.
  • polishing or the like it is preferable to perform polishing or the like so as to smooth these cut portions.
  • C s I (T 1) is used as the scintillator.
  • the present invention is not limited to this.
  • C si (Na), Na I (Tl), L i I (Eu ), K i (T 1), etc. can also be used.
  • the present invention is suitable for manufacturing a radiation image sensor or scintillator panel for large-area or thin radiation imaging, for example, a radiation image sensor used in industrial or medical fields, It is suitable for manufacturing a scintillator panel.

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Abstract

薄い基板11に補助基板20を重ね、有機膜12で基板11および補助基板20を覆う。その後、有機膜12における基板11に対応するシンチレータ形成部12Aにシンチレータ13を形成する。このとき、基板11には補助基板20によって厚さが付加されているので、基板11の反りが防止され、シンチレータ13が均一に形成される。

Description

明細書
シンチレ一タパネルおょぴ放射線ィメージセンサの製造方法 技術分野
【0 0 0 1】 本発明は、 医療用、 工業用の xf泉撮影等に用いられるシ チレ一 タパネル、 放射線イメージセンサとその製造方法に関する。
背景技術
【0 0 0 2】 従来、 医療、 工業用の X線撮影では、 X線感光フィルムが用いら れてきたが、 利便性や撮影結果の保存性の面から放射線ィメージセンサを用いた 放射線イメージングシステムが普及してきている。 このような放射線イメージン グシステムにおいては、 放射線ィメージセンサにより放射線画像を 2次元に配列 された画素のデータとして、 電気信号の形式で取得し、 この信号を処理装置によ り処理してモニタ上に表示する。この放射線ィメージセンサには、アルミニウム、 ガラス、 溶融石英等の基板上にシンチレータ成分を蒸着してシンチレータを形成 したシンチレ一タパネルが用いられており、 このようなシンチレータパネノレは、 たとえば特許第 3 1 2 6 7 1 5号や特許第 3 0 3 4 0 1 0号公報に開示されてい る。
【0 0 0 3】 従来におけるこの種のシンチレータパネルの製造方法について説 明すると、 従来におけるこの種のシンチレ一タパネルの製造方法について図 3 8 Aを参照して説明すると、 真空蒸着装置内に基板 6 1を挿入し、 基板 6 1の端部 を真空蒸着装置に設けられた保持治具 7 0 , 7 0に載置する。 このとき、 基板 6 1のシンチレータ蒸着面 6 1 Aは下側に配置される。 真空蒸着装置内において基 板 6 1を保持治具 7 0 , 7 0で载置したら、 基板 6 1のシンチレータ蒸着面 6 1 Aにシンチレータ材料を蒸着し、 シンチレータ 6 2を形成する。 こうして、 図 3 8 Bに示すように、 シンチレータ蒸着面 6 1 Aにシンチレータ 6 2が形成された シンチレ一タパネル 6 0が製造される。
発明の開示 【0 0 0 4】 近年、 放射線ィメージセンサの活用範囲の拡大に伴い、 基板の薄 型化や、 シンチレータ形成面の拡大等が求められている。
【0 0 0 5】 例えば、 低エネルギーでの放射線透過率を上げるためには、 基板 を薄くすることが望まれている。 し力 し、 上記従来の方法で基板の薄いシンチレ 一タパネルを製造しょうとすると、 基板の端部を保持治具に載置した際に、 基板 が自重で反ってしまい、 シンチレータを均一に蒸着させることができないという 問題が生じることがあった。 このような問題は、 特に大面積の基板を用いた場合 に生じやすい。 放射線画像は可視光画像と異なり、 光学系を用いて画像を縮小す ることができないため、 例えば胸部 X線撮影などでは 3 0センチ角を超える大面 積のシンチレ一タパネルが必要となり、 こうした問題が生じやすい。
[ 0 0 0 6 ] —方、 口腔内に挿入して用いられる歯科用の放射線イメージセン サ向けのシンチレ一タパネルにおいては、 できるだけ小型である一方、 撮像面積 は大型化する必要がある。
[ 0 0 0 7 ] しかし、 上記従来の製造方法においては、 シンチレータ 6 2を-形 成する際に、 真空蒸着装置の保持治具 7 0 , 7 0でシンチレータ蒸着面 6 1 Aの 端部を保持している。 このため、 シンチレータ蒸着面 6 1 Aの全体が露出するわ けではなく、その端部は露出していないため、シンチレータ 6 2が形成されない。 この結果、 基板 6 1のシンチレータ蒸着面 6 1 Aの面積に対してシンチレータ 6 2の表面 6 2 Aの面積が小さくなり、 全体の面積に比較して撮像面積が小さくな つてしまう。
[ 0 0 0 8 ] また、 シンチレータ蒸着面 6 1 Aの端部に保持治具 7 0, 7 0が 位置することから、 端部ではシンチレータ 6 2の表面が傾斜したスロープ状に形 成されてしまう。 このため、 シンチレータ 6 2に対して、 たとえば有機膜を介し て撮像素子を接着剤によって接着してイメージングパネルを製造しようとする際、 スロープ状の部分に接着剤が集中してしまい、 接着剤が固化する際に歪みを生じ るなどの不具合が生じることがあった。 【0 0 0 9】 そこで、 本発明は、 基板の薄型化や基板上のシンチレータ形成面 の面積比率を大きくすることが容易なシンチレ一タパネルおよび放射線ィメージ センサの製造方法を提供することを課題とする。
【0 0 1 0】 上記課題を解決するため、 本発明に係るシンチレ一タパネルの製 造方法は、 基板上にシンチレータを蒸着したシンチレ一タパネルの製造方法にお いて、 (1 ) 基板の第 1の表面上の所定の位置に補助基板を重ね合わせ、 (2 ) 重 ね合わせた基板と補助基板全体を有機膜で覆い、 ( 3 )有機膜で覆われた基板およ び補助基板を蒸着装置内の保持部に保持し、 (4 ) この状態で、基板の第 1の表面 と反対側の第 2の表面を覆っている有機膜の表面にシンチレータを蒸着形成し、 ( 5 ) 所定位置で有機膜を切断し、 基板から補助基板を分離することで、 基板の 第 2の表面上に有機膜、 シンチレータが形成されているシンチレ一タパネルを得 る工程を備えていることを特徴とする。
【0 0 1 1】 本発明に係るシンチレータの製造方法においては、 基板にシンチ レータを形成するにあたり、 基板に補助基板を重ね合わせている。 このように基 板に補助基板が重ね合わせていることから、 シンチレータを形成する際に、 基板 が、 その自重やシンチレータの重みによって反ってしまうことを防止することが できる。 また、 基板が大面積を有するものである場合でも、 同様に基板の反りは 防止される。 これにより、 基板が薄く、 また大面積である場合であつても、 基板 にシンチレータを均一に形成することができる。
[ 0 0 1 2 ] あるいは、 本発明に係るシンチレ一タパネルの製造方法は、 有機 膜上にシンチレータを蒸着したシンチレータパネルの製造方法において、 ( 1 )所 定の補助基板の少なくとも第 1の表面上を有機膜で覆い、 ( 2 )有機膜で覆われた 補助基板を蒸着装置内の保持部に保持し、 (3 ) この状態で、有機膜の補助基板の 第 1の表面に接する面とは反対側の露出表面上の所定の位置にシンチレ一タを蒸 着形成し、 (4 ) シンチレータが形成された有機膜を補助基板から分離する工程と を備えていることを特徴とするものである。 【0 0 1 3】 このように、 補助基板上に設けられた有機膜の上にシンチレータ を形成し、 その後にシンチレータが形成された有機膜を補助基板から分離するこ とにより、 有機膜自体を基板とするシンチレ一タパネルを形成できる。 ここで設 ける有機膜を薄いものとすることにより、 薄い基板にシンチレータが形成された 状態とすることができる。 この場合も、 上述の基板に補助基板を付加してシンチ レータパネルを製造する場合と同様の効果が得られる。
【0 0 1 4】 この補助基板から分離されたシンチレータを有する有機膜をさら に保護膜で覆う工程を含むことが好ましい。 これにより、 シンチレータが外部の 空気と接触して、 空気に含まれる水分に起因して潮解するなどの物理的、 化学的 な劣化、 損傷等を防止することができる。
[ 0 0 1 5 ] 基板上に、 補助基板から分離されたシンチレータを有する有機膜 の補助基板の第 1の表面に接していた面、 あるいは、 シンチレータ形成面のいず れかの面を向けて載置して固定する工程をさらに備えていてもよい。このように、 シンチレータ形成面またはシンチレータを別の基板に載置することで、 シンチレ 一タパネルを製造することができる。このとき、薄い基板を用意することにより、 薄いシンチレータパネルを製造することができる。
【0 0 1 6】 シンチレータを覆う保護膜を形成する工程をさらに備えていると 好ましい。 シンチレータを保護膜で覆う際には、 シンチレークの露出部分を覆え ばよく、 シンチレータのみを保護膜で覆うほか、 シンチレータとともに、 シンチ レータ形成部および基板の少なくとも一方をシンチレータとともに保護膜で覆う こともできる。
[ 0 0 1 7 ] これらの基板は、 放射線透過性基板であることが好ましく、 放射 線透過性基板としては、 ガラス、 アルミニウム、 またはアモルファスカーボンを 用いるとよい。 基板として放射線透過性基板を用いることにより、 基板の裏側 から放射線を透過させる態様のシンチレ一タパネルとすることができる。
【0 0 1 8】 基板とシンチレータとの間に、 金属反射膜を形成する工程を含ん でもよい。 これにより、 シンチレータから出射される光の輝度を高めることがで きる。
【0 0 1 9】 基板としては、 ファイバォブティックプレートを用いてもよい。 これにより、 シンチレータによって放射線から変換された光を、 高い空間解像度 をもって基板から出射させることができる。
【0 0 2 0】 補助基板は、 第 1の表面側から見て基板の外側に突出する突出部 を備えており、 蒸着装置内の保持部にこの突出部を利用して保持されるとよい。 あるいは、 補助基板は、 基板の厚み方向で第 1の表面と反対の方向に突出する突 出部を備えており、 蒸着装置内の保持部にこの突出部を利用して保持されてもよ い。 あるいは、 補助基板は、 側壁部に係合部を備えており、 蒸着装置内の保持部 にこの係合部を利用して保持されてもよい。
【0 0 2 1】 このように、 補助基板を利用して基板を保持することで、 基板の シンチレータ形成面全面を蒸着装置の蒸着室内に露出させることが可能となり、 形成面全面に均一なシンチレータ層を形成することが可能となる。 このため、 基 板面積と略同一のシンチレータ面積を有するシンチレ一タパネルを作成すること ができる。
補助基板によって基板を確実に保持することができる。
【0 0 2 2〗 本発明に係る放射線ィメージセンサの製造方法は、 上記製造方法 によって製造されたシンチレ一タパネルを固体撮像素子の受光面に取り付けるェ 程を備えていることを特徴とする。
【0 0 2 3】 具体的には、 ( 1 )基板の第 1の表面上の所定の位置に補助基板を 重ね合わせ、 (2 ) 重ね合わせた基板と補助基板全体を有機膜で覆い、 (3 ) 蒸着 装置内の保持部に有機膜で覆われた基板および補助基板を保持し、 (4 )この状態 で、 基板の第 1の表面と反対側の第 2の表面を覆っている有機膜の表面にシンチ レータを蒸着形成し、 (5 )所定位置で有機膜を切断し、基板から補助基板を分離 することで、 基板の第 2の表面上に有機膜、 シンチレータが形成されているシン チレ一タパネルを得て、 (6 )当該シンチレ一タパネルを固体撮像素子の受光面上 に張り付ける工程を備えていることを特徴とする。
【0 0 2 4】 あるいは、 (1 ) 〜 (4 ) の工程の後、 (4 a ) シンチレータ形成 面を固体撮像素子の受光面上に張り付け、 (5 a )所定位置で有機膜を切断して基 板から補助基板を分離することで、 固体撮像素子の受光面上にシンチレータパネ ルを配置した放射線ィメージセンサを得る工程を備えていることを特徴とするも のでもよい。
【0 0 2 5】 あるいは、 (1 )所定の補助基板の少なくとも第 1の表面上を有機 膜で覆い、 (2 )蒸着装置内の保持部に有機膜で覆われた補助基板を保持し、 (3 ) この状態で、 有機膜の補助基板の第 1の表面に接する面とは反対側の露出表面上 の所定の位置にシンチレータを蒸着形成し、 ( 4 ) シンチレータが形成された有機 膜を補助基板から分離し、 ( 5 )該シンチレータを有する有機膜のシンチレータ形 成面と反対の表面、 または、 シンチレータ形成面を固体撮像素子の受光面に取り 付ける工程を備えていることを特徴とするものでもよレ、。
[ 0 0 2 6 ] このように、 基板または膜上に形成されたシンチレータを固体撮 像素子に取り付けることにより、 薄くまた大面積である基板にシンチレ一タが均 —に形成された放射線イメージセンサを製造することができる。 なお、 固体撮像 素子の受光面にシンチレータまたは基板を取り付ける際には、 シンチレータまた は基板を直接取り付ける態様のほか、 有機膜や保護膜を介して取り付ける態様も ある。 なお、 シンチレータの潮解等を防止するためには、 シンチレータを保護膜 で覆うのが好適であるが、 その際には、 シンチレータの露出部分を覆えばよい。 シンチレータの露出部分を覆うためには、 シンチレータのみを保護膜で覆う態様 のほか、 シンチレータ形成部、 基板、 および固体撮像素子のうちの少なくとも 1 つをシンチレータとともに覆う態様とすることができる。
図面の簡単な説明
【0 0 2 7】 図 1 Aは、 本発明の第 1の実施形態に係るシンチレ一タパネルの 製造方法で製造されたシンチレ一タパネルの断面図であり、 図 1 Bは、 その平面 図である。
図 2A〜図 6 (図 2A、 図 2B、 図 3 A、 図 3 B、 図 4A、 図 4B、 図 5 A、 図 5 Bおよぴ図 6) は、 この第 1の実施形態に係るシンチレ一タパネルの製造方 法を説明する図である。
図 7、 図 8は、 第 2の実施形態に係るシンチレ一タパネルの製造方法の工程の 一部を説明するための断面図である。
図 9 Aは第 3の実施形態に係るシンチレータパネルの製造方法で製造されたシ ンチレータパネルの断面図であり、 図 9 Bはその変形例の断面図である。
図 1 OA〜図 1 2 (図 10A、 図 10 B、 図 1 1A、 図 1 1 Bおよび図 1 2) は、 この第 3の実施形態に係るシンチレ一タパネルの製造方法の工程を説明する 図である。
図 13 Aは、 第 4の実施形態に係るシンチレータパネルの製造方法で製造され たシンチレ一タパネルの断面図であり、 図 1 3 Bはその正面図である。
図 14 Aは、 第 5の実施形態に係るシンチレータパネルの製造方法で製造され たシンチレ一タパネルの断面図であり、 図 14 Bはその正面図である。
図 15 Aは、 第 6の実施形態に係るシンチレ一タパネルの製造方法で製造され たシンチレ一タパネルの断面図であり、 図 1 5 Bはその正面図である。
図 16 A、 図 16B、 図 1 7は、 第 6の実施形態に係るシンチレータパネルの 製造方法を説明する図である。
図 18 Aは、 第 7の実施形態に係る放射線イメージセンサの製造方法で製造さ れた放射線検出器の断面図であり、 図 18 Bはその正面図である。
図 19A、 図 1 9B、 図 20、 図 21は、 第 7の実施形態に係る放射線検出器 の製造方法を説明する図である。
図 22 Aは、 第 8の実施形態に係る放射線イメージセンサの断面図であり、 図
22 Bはその正面図である。 図 23 Aは、 第 9の実施形態に係る放射線イメージセンサの断面図であり、 図 23 Bはその正面図である。
図 24Aは、 本発明の第 10の実施形態に係る製造方法で製造されたシンチレ 一タパネルの断面構成図であり、 図 24 Bはその正面図である。
図 25A〜図 29 (図 25A、 図 25B、 図 26A、 図 26 B、 図 27A、 図
27 B、 図 28および図 29) は、 第 10の実施形態の製造工程を説明する図で あ 。
図 3 OAは、 図 24 Aのシンチレ一タパネルを用いた放射線イメージセンサの 断面図であり、 図 3 OBはこれに対応する従来の製造方法によって作られた放射 線イメージセンサの断面図である。
図 31 A、 図 31 Bは、 それぞれ、 図 30A、 図 30 Bの各放射線ィメ一ジセ ンサで得られた放射線画像を示す模式図である。
図 32、 図 33、 図 34A、 図 34 Bは、 サポート基板の別の形態を説明する 斜視図である。
図 35、 図 36は図 34 Aに示されるサポート基板を用いたシンチレータパネ ルの製造工程の一部を示す説明図である。
図 37 A、 図 3 7 Bは、 第 1の実施形態の変形例を示す断面図である。
図 38 Aは従来のシンチレータパネルの製造工程の一部を示す断面図であり、 図 38 Bは従来のシンチレ一タパネルの断面図である。
発明を実施するための最良の形態
[0028] 以下、 図面を参照して、 本発明の好適な実施形態のいくつかにつ いて具体的に説明する。 なお、 各図面は説明の理解を容易にするため、 共通の構 成要素に対しては、 共通の参照番号を付し、 重複する説明は省略する。 また、 各 図には、 説明の理解を容易にするため、 誇張ないし省略している部分があり、 そ の寸法比は必ずしも実際のそれとは一致しない。
【0029】 図 1 Aは、 本実施形態に係る製造方法で製造されたシンチレータ パネルの断面図であり、 図 1 Bはその平面図である。 図 1 A、 図 I Bに示される ように、 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 1は、 ガラス、 アモルファスカー ボン、 その他の炭素を主成分とする材料からなる放射線透過性の基板 1 1を備え ている。 基板 1 1の一面 (図 1 Aの上面) には、 基板 1 1の一面を覆う有機膜 1 2が形成されている、 有機膜 1 2は、 基板 1 1の一面の全体を覆うとともに、 基 板 1 1の側面にまでわたって連続的に形成されている。 また、 基板 1 1は、 薄い 基板であり、 平面視した形状は矩形状をなしているが、 平面視した形状が円形状 をなすものなどとすることもできる。 有機膜 1 2は、 たとえば、 ポリパラキシリ レン(スリーボンド社製、商品名パリレン)、ポリパラクロロキシリレン (同社製、 商品名パリレン C) 等のキシレン系樹脂から構成される。
【0 0 3 0】 また、 有機膜 1 2の表面上には、 基板 1 1を透過して入射した放 射線を所定は長の光、 例えば、 可視光へと変換するシンチレータ 1 3が形成され ている。 シンチレータ 1 3には、 たとえば、 T 1 ドープの C s Iが用いられてお り、 C s Iは多数の針状結晶 (柱状結晶) が林立した構造を有している。 このシ ンチレータ 1 3は、 有機膜 1 2における基板 1 1に対応する位置であるシンチレ ータ形成部 1 2 Aの表面に、 蒸着法によって形成されている。
【0 0 3 1】 さらに、 基板 1 1、 有機膜 1 2、 およびシンチレータ 1 3の周り には、 これらを全体的に包み込んで形成された保護膜 1 4が設けられている。 保 護膜 1 4は、 有機膜 1 2と同様に、 ポリパラキシリレン、 ボリパラクロロキシリ レン等のキシレン系樹脂によつて構成されている。 この保護膜 1 4が設けられて いることにより、 シンチレータ 1 3が外部の空気と接触することによるシンチレ ータ 1 3の潮解を防止している。
【0 0 3 2】 次に、 このシンチレ一タパネル 1の製造工程について、 図 2 A〜 図 6を参照して説明する。 シンチレ一タパネル 1を製造する際には、 図 2 A〜図 5に示す補助基板 2 0を利用する。 それでは、 シンチレ一タパネル 1の製造工程 について説明すると、 まず、 図 2 A、 図 2 Bに示すように、 シンチレータ形成用 の補助基板 2 0の上に基板 1 1を载置して、 基板 1 1と補助基板 2 0を重ね合わ せる。 補助基板 2 0は、 図 2 Bに示されるように、 その平面形状が基板 1 1と同 —の矩形状をなしており、 その厚さは、 基板 1 1よりも厚いものとされている。 また、 基板 1 1は、 捕助基板 2 0の上に載置されているのみであり、 接着等はさ れていない。
【0 0 3 3】 こうして重ね合わされた基板 1 1と補助基板 2 0とを、 図 3 A、 図 3 Bに示すように、 有機膜 1 2で覆う。 有機膜 1 2で覆われた基板 1 1と補助 基板 2 0は、 接着はされていないが、 有機膜 1 2に締め付けられて密着した状態 となっている。 また、 基板 1 1と補助基板 2 0は、 平面視した形状が同一である ので、 両者はずれることなく重ね合わされる。 基板 1 1と補助基板 2 0とを有機 膜 1 2で覆ったら、 有機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aの表面にシン チレータ 1 3を形成する。 有機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aは、 基 板 1 1の上側とされており、 シンチレータ形成部 1 2 Aにシンチレータを形成す ることにより、 シンチレータ形成部 1 2 Aを介して基板 1 1上にシンチレータ 1 3が形成された状態となる。
[ 0 0 3 4 ] ここで、 シンチレータ 1 3を形成する際には、 図 4 A、 図 4 Bに 示されるように、 蒸着装置 8 0の保持部 8 1に基板 1 1の両端を支持する状態で 保持して基板 1 1を吊るし、 下側の蒸着室 8 2からシンチレータ成分を蒸発させ て、 基板 1 1の保持部 8 1の開口部 8 1 Aから露出している部分に蒸着させ、 針 状結晶を形成させていく。 このとき、 薄い基板 1 1単体を保持部 8 1に吊るした 場合、 基板 1 1は、 その自重や堆積するシンチレータの重量によって反ってしま うことがある。 このように、 基板 1 1が反ってしまうと、 シンチレ一夕が基板 1 1に均一に形成されなくなるおそれが生じる。 この点、 本実施形態に係るシンチ レータパネルの製造方法では、 シンチレータを堆積させる際に、 基板 1 1と補助 基板 2 0が重ね合わされ、 両者が有機膜 1 2で包まれて一体化され、 基板 1 1と 補助基板 2 0が重なった状態を維持している。 この補助基板 2 0が補強板として 作用するため、基板 1 1の反りを効果的に予防でき、基板 1 1の位置面に対して、 シンチレータを均一に形成することができる。
【0 0 3 5】 こうして図 5 A、 図 5 Bに示されるように有機膜 1 2のシンチレ ータ形成部 1 2 Aに所望の厚さまでシンチレータ 1 3を形成したら、 全体を蒸着 装置 8 0から取り出し、 図 6に示すように、 有機膜 1 2を基板 1 1と補助基板 2 0の境界部分で切断する。 この切断部を符号 1 2 Bで示す。 このとき、 基板 1 1 と補助基板 2 0とは接着等がされていないので、 有機膜 1 2を切断部 1 2 Bで切 断することにより、 シンチレータ 1 3が形成されたシンチレータ形成部 1 2 Aお よび基板 1 1と、 補助基板 2 0とが分離する。 その結果、 薄い基板 1 1の上にシ ンチレータ形成部 1 2 Aを介してシンチレータ 1 3が形成されたシンチレ一タパ ネル 1 aが得られる。
【0 0 3 6〗 基板 1 1等から分離された補助基板 2 0は、 そのまま廃棄するこ ともできるし、 洗浄等を施して、 補助基板 2 0として再利用することもできる。 そして、 この基板 1 1、 有機膜 1 2、 およびシンチレータ 1 3からなるシンチレ 一タパネル 1 aの全体を保護膜 1 4で全体的に覆うことにより、 図 1 A、 図 I B に示されるシンチレ一タパネル 1を製造することができる。
【0 0 3 7〗 こうして製造されたシンチレ一タパネル 1においては、 薄い基板 1 1が用いられているが、 シンチレータ 1 3を形成する際に、 基板 1 1の反りが 補助基板 2 0によって防止されている。 このため、 基板 1 1に対してシンチレ一 タ 1 3を均一に形成することができる。 しかも、 基板 1 1が大面積であったとし ても、補助基板 2 0によって基板 1 1の反りを好適に防止することができるので、 基板 1 1にシンチレ一タ 1 3を均一に形成することができる。 なお、 本実施形態 では、 基板 1 1と補助基板 2 0と有機膜 1 2で全体的に覆っているが、 これらを 全体的に覆うのではなく、 シンチレータ 1 3の形成時に基板 1 1と補助基板 2 0 が分離しない程度にそれらを有機膜 1 2で覆う態様とすることもできる。
【0 0 3 8】 次に、 本発明の第 2の実施形態について説明する。 本実施形態で は、 上記第 1の実施形態と同様に、 まず、 基板 1 1と補助基板 2 0とを重ね合わ せて(図 2 A、図 2 B )、有機膜 1 2で基板 1 1と補助基板 2 0とを覆い(図 3 A、 図 3 B )、さらに有機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aの表面にシンチレ ータ 1 3を形成する (図 4 A、 図 4 B、 図 5 A、 図 5 B )。 ここまでの手順は上記 第 1の実施形態と同一である。
【0 0 3 9】 こうして、 シンチレータ形成部 1 2 Aの表面にシンチレータ 1 3 を形成したら、 図 7に示すように、 基板 1 1および補助基板 2 0を覆う有機膜 1 2と、 シンチレータ形成部 1 2 Aに形成されたシンチレータ 1 3とを、 保護膜 1 4によって全体的に覆う。 それから、 図 8に示すように、 有機膜 1 2および保護 膜 1 4を基板 1 1と補助基板 2 0の境界部分 (切断部 1 2 B, 1 2 B、 1 4 A, 1 4 A) で切断する。 基板 1 1と捕助基板 2 0とは接着等されていないので、 シ ンチレータ 1 3が形成されたシンチレータ形成部 1 2 Aおよび基板 1 1と、 補助 基板 2 0とが分離する。 その結果、 薄い基板 1 1の上にシンチレータ形成部 1 2 Aを介してシンチレ一タ 1 3が形成され、 さらにシンチレータ 1 3が保護膜 1 4 で覆われたシンチレ一タパネル 2が製造される。
[ 0 0 4 0 ] こうして製造されたシンチレ一タパネル 2においては、 上記第 1 の実施形態と同様、 シンチレータ 1 3を形成する際の基板 1 1の反りは、 補助基 板 2 0によって防止されている。 このため、 基板 1 1に対してシンチレ一タ 1 3 を均一に形成することができる。 しかも、 基板 1 1が大面積であったとしても、 補助基板 2 0によって基板 1 1の反りを好適に防止することができるので、 基板 1 1にシンチレータ 1 3を均一に形成することができる。
【0 0 4 1】 次に、 本発明の第 3の実施形態について説明する。 図 9 Aは、 本 実施形態に係る製造方法で製造されたシンチレ一タパネルの断面図、 図 9 Bはそ の変形例の断面図である。 図 9 Aに示すように、 本実施形態に係るシンチレータ パネル 3は、 ポリパラキシリレン、 ポリパラクロロキシレン等のキシレン系材料 からなる有機膜 1 '2の一面上に、 シンチレータ 1 3が形成されており、 有機膜 1 2とシンチレータ 1 3は、保護膜 1 4によって全体的に覆われている。すなわち、 本実施形態では有機膜 1 2が基板 1 1を兼ねている。
【0 0 4 2】 このシンチレ一タパネルの製造方法について説明すると、 まず、 図 1 0 A、 1 O Bに示すように、 シンチレータ形成用の補助基板 2 0を用意し、 この補助基板 2 0の全体を有機膜 1 2で覆う。 この補助基板 2 0は、 ある程度の 厚さを有するもの、 特に、 形成される有機膜 1 2よりも厚いものであることが望 ましいことはもちろんである。補助基板 2 0を有機膜 1 2で覆ったら、図 1 1 A、 図 1 1 Bに示すように、 有機膜 1 2表面のシンチレータ形成部 1 2 Aにシンチレ ータ 1 3を形成する。 シンチレータ 1 3を形成する際には、 図 4 A、 図 4 Bに示 される第 1の実施形態の場合と同様に、 有機膜 1 2のシンチレータ形成部 1 2 A が下側になるようにして補助基板 2 0を蒸着装置 3 0内に吊るし、 シンチレータ 成分を蒸着させる。 このとき、 補助基板 2 0の自重やシンチレータ 1 3の重量に よって補助基板 2 0が反ってしまうと、 シンチレータ 1 3を均一に形成すること ができないおそれがある。 ところが、 本実施形態では、 十分な厚さの補助基板 2 0を用いているので、 有機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aの反りを防 止し、 シンチレータ 1 3を均一に形成することができる。
【0 0 4 3】 こうして、 シンチレータ成分を蒸着させてシンチレータ 1 3を形 成したら、 次に、 図 1 2に示すように、 補助基板 2 0上の有機膜 1 2をシンチレ ータ 1 3の形成面の外側の切断部 1 2 B , 1 2 Bで切断する。 このとき、 有機膜 1 2は補助基板 2 0を覆って形成されているのみで、 接着等がされていることは ないので、 有機膜 1 2を切断することにより、 有機膜 1 2におけるシンチレータ 形成部 1 2 Aおよびシンチレータ 1 3と、 補助基板 2 0と有機膜 1 2の下方部分 とを分離する。 そして、 図 9 Aに示すように、 有機膜 1 2およびシンチレータ 1 3を保護膜 1 4で全体的に覆うことにより、 有機膜 1 2を基板とするシンチレ一 タパネル 3 0を形成する。
【0 0 4 4】 こうして製造されたシンチレ一タパネル 3においては、 有機膜 1 2をそのまま基板として利用している。 このため、 有機膜 1 2を薄くすることに より、 薄い基板を有するシンチレ一タパネルを製造することができる。 このよう に薄い有機膜基板 1 2を有するシンチレ一タパネル 3 0においては、 シンチレ一 タ 1 3を形成する際、 有機膜 1 2は、 厚い補助基板 2 0に形成されている。 この 補助基板 2 0によって有機膜 1 2には厚みが付加されるので、 シンチレータ 1 3 を形成する際に有機膜 1 2の反りや破れを防止することができる。 このため、 有 機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aにシンチレータを均一に形成するこ とができる。 しかも、 有機膜 1 2のシンチレータ形成部 1 2 Aが大面積である場 合でも、 補助基板 2 0によつてシンチレータ形成部 1 2 Aの反り ·破れを防止す ることができるので、 シンチレータ形成部 1 2 Aにシンチレータ 1 3を均一に形 成することができる。 なお、 本実施形態では、 補助基板 2 0の全体を有機膜 1 2 で覆ってからシンチレータ 1 3を形成するようにしているが、 補助基板 2 0の全 体を覆うのではなく、 その一面を含む一部を覆って、 シンチレータ 1 3を形成す る際に、 シンチレータ形成部 1 2 Aが補助基板 2 0から落ちないようにする態様 とすることもできる。
[ 0 0 4 5 ] また、 本実施形態の変形例として、 図 9 Bに示す態様とすること もできる。 図 9 Bに示すシンチレータパネル 3 0では、 基板となる有機膜 1 2の 端部を、 シンチレータ 1 3側に折り畳み、 シンチレータ 1 3の側面に沿わせて畳 み込んでいる。 このように、 基板 3 1の端部を畳むことにより、 シンチレ一タパ ネル 3 0の表側の面積をシンチレータ 1 3の表側の面積とほぼ同一とすることが できる。
【0 0 4 6】 次に、 本発明の第 4の実施形態について説明する。 図 1 3 Aは、 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 2の断面図であり、 図 1 3 Bはその正面 図である。 図 1 3 A、 図 1 3 Bに示すように、 本実施形態に係るシンチレ一タパ ネル 3 2においては、 基板 1 1の上にシンチレータ形成部 1 2 Aが載置されてい る。 これらの基板 1 1、 シンチレータ形成部 1 2 A、 およびシンチレータ 1 3が 保護膜 1 4で全体的に覆われているものである。 上記第 3の実施形態において、 有機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aをそのまま基板として利用してい るのに対して、 本実施形態では、 別途基板を設ける態様とするものである。 【0 0 4 7】 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 2の製造方法について説 明すると、 上記第 3の実施形態と同様、 まず、 図 1 0 A、 1 O Bに示すように、 補助基板 2 0を用意し、 補助基板 2 0の全体を有機膜 1 4で覆う。 次に、 有機膜 1 2のシンチレータ形成部 1 2 Aにシンチレータ成分を蒸着させて、 図 1 1 A、 図 1 1 Bに示すように、 シンチレータ 1 3を形成する。 シンチレータ 1 3を形成 したら、 図 1 2に示すように、 有機膜 1 2を切断部 1 2 B , 1 2 Bで切断し、 有 機膜 1 2を上下に切断して、 有機膜 1 2のシンチレータ形成部 1 2 Aと補助基板 2 0とを分離させる。ここまでの製造工程は、上記第 3の実施形態と同じである。
[ 0 0 4 8 ] シンチレータ形成部 1 2 Aおよびシンチレータ 1 3を補助基板 2 0から分離したら、 図 1 3 Aに示すように、 基板 1 1の上にシンチレータ形成部 1 2 Aの補助基板 2 0に接していた面を向けて載置する。 そして、 基板 1 1、 シ ンチレータ形成部 1 2 A、 およびシンチレータ 1 3を全体的に保護膜 1 4で覆う ことで、 シンチレ一タパネル 3 2を製造する。
【0 0 4 9】 このように製造されたシンチレ一タパネル 3 2では、 基板 1 1と して薄い基板を用いることにより.、 シンチレ一タパネル 3 2自体の厚さを薄いも のとすることができる。 また、 基板 1 1として薄い基板を用いたとしても、 シン チレ一タ 1 3を形成する際には、 厚い補助基板 2 0を利用してシンチレータ形成 部 1 2 Aの反り ·破れを防止しているので、 シンチレータ 1 3をシンチレータ形 成部 1 2 Aに均一に形成することができる。
【0 0 5 0】 次に、 本発明の第 5の実施形態について説明する。 図 1 4 Aは、 本実施形態に係る製造方法で製造されたシンチレ一タパネルの断面図であり、 図 1 4 Bはその正面図である。 図 1 4 A、 図 1 4 Bに示すように、 このシンチレ一 タパネル 3 3においては、基板 1 1の上にシンチレータ 1 3が載置されている力 このシンチレータ 1 3は、 シンチレータ形成部 1 2 Aに形成されたものであり、 シンチレータ形成部 1 2 Aと基板 1 1 とでシンチレータ 1 3を挟み込んだ構成を 採る。 これらの基板 1 1、 シンチレータ 1 3、 およびシンチレータ形成部 1 2 A が保護膜 1 4によって覆われているものである。 本実施形態では、 シンチレータ 形成部 1 2 Aをそのまま基板とするのではなく、 別途他の基板を設ける態様とす るものである。
【0 0 5 1】 本実施形態に係るシンチレータパネル 3 3の製造方法について説 明すると、 まず、 図 1 0 A、 図 1 O Bに示す製造工程と同様に、 補助基板 2 0を 全体的に有機膜 1 2で覆う。 次に、 図 1 1 A、 図 1 1 Bに示すように、 シンチレ ータ形成部 1 2 Aにシンチレータ 1 3を形成する。 シンチレータ 1 3を形成した ら、 図 1 2に示すように、 有機膜 1 2におけるシンチレータ形成部 1 2 Aを補助 基板 2 0から分離する。 それから、 図 1 4 Aに示されるように、 シンチレータ 1 3の露出表面を基板 1 1側に向けて、 基板 1 1の表面にシンチレータ 1 3が接触 するよう載置する。 それから、 基板 1 1、 シンチレ一タ 1 3、 およびシンチレ一 タ形成部 1 2 Aを保護膜 1 4で覆う。
[ 0 0 5 2 ] このようにしてシンチレ一タパネル 3 3を製造することができる。 そして、こうして製造されたシンチレ一タパネル 3 3は、上記の実施形態と同様、 薄い基板 1 1を用いたものとすることができるとともに、 薄い基板を用いた場合 でも、 シンチレータ 1 3を均一に形成することができる。
[ 0 0 5 3 ] 次に、 本発明の第 6の実施形態について説明する。 図 1 5 Aは、 本実施形態に係る製造方法で製造されたシンチレータパネルの断面図であり、 図 1 5 Bは、 その正面図である。 図 1 5 A、 図 1 5 Bに示すように、 シンチレ一タ パネル 3 5は、 基板 1 1を備えている。 基板 1 1の上には、 シンチレータ形成部 1 2 Aが載置されており、 シンチレータ形成部 1 2 Aにはシンチレータ 1 3が形 成されている。 また、 シンチレータ 1 3およびシンチレータ形成部 1 2 Aの表面 は、 保護膜 1 4によって覆われている。 【0 0 5 4】 続いて、 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 5の製造方法に ついて説明すると、 まず、 図 1 0 A、 図 1 O Bに示すように、 補助基板 2 0を用 意し、 補助基板 2 0を有機膜 1 2で覆う。 次に、 有機膜 1 2のシンチレータ形成 部 1 2 Aにシンチレータ成分を蒸着させて、 図 1 1 A、 図 1 1 Bに示すように、 シンチレータ 1 3を形成する。 ここまでは、 上記第 3〜第 5の実施形態と同様で ある。 続いて、 本実施形態では、 シンチレータ 1 3を形成した後、 図 1 6 A、 図 1 6 Bに示すように、 補助基板 2 0を覆う有機膜 1 2およびシンチレータ 1 3を 保護膜 1 4で覆う。 それから、 図 1 7に示すように、 有機膜 1 2および保護膜 1 4を切断して、 有機膜 1 2のシンチレータ形成部 1 2 Aおよびシンチレータ 1 3 と、 補助基板 2 0とを分離する。 そして、 図 1 5 Aに示すように、 シンチレータ 形成部 1 2 Aを基板 1 1に載置する。 もちろん、 図 1 7に示す、 補助基板 2 0か ら分離されたシンチレータ形成部 1 2 Aおよびシンチレータ 1 3を保護膜 1 4で 覆ったものを、 そのままシンチレ一タパネルとすることもできる。 この場合、 シ ンチレ一タ形成部 1 2 Aが基板として機能する。
[ 0 0 5 5 ] このようにして製造されたシンチレ一タパネル 3 5は、 上記各実 施形態と同様、 基板 1 1として薄い基板を用いることにより、 シンチレータパネ ノレ 3 5自体の厚さを薄いものとすることができる。 また、 基板 1 1として薄い基 板を用いたとしても、 シンチレータ 1 3を形成する際には、 厚い補助基板 2 0を 利用してシンチレータ形成部 1 2 Aの反り ·破れを防止しているので、 シンチレ ータ 1 3をシンチレ一タ形成部 1 2 Aに均一に形成することができる。
[ 0 0 5 6 ] 続いて、 本発明の第 7の実施形態について説明する。 本実施形態 では、 シンチレ一タパネノレを用いた放射線ィメージセンサを製造する方法につい て説明する。
【0 0 5 7】 図 1 8 Aは、 本実施形態に係る製造方法で製造された放射線検出 器の断面図であり、 図 1 8 Bは、 それをシンチレ一タパネル側から見た正面図で ある。 図 1 8 Aに示すように、 本実施形態に係る放射線ィメージセンサ 4 0は、 基板 1 1を備えている。 基板 1 1は、 その上面から側面にわたって有機膜 1 2に 覆われている。 有機膜 1 2における上部に相当するシンチレータ形成部 1 2 Aに は、 シンチレータ 1 3が形成されている。 また、 このシンチレータ 1 3には、 撮 像素子 4 1が取り付けられている。 そして、 基板 1 1、 有機膜 1 2、 シンチレ一 タ 1 3、 および撮像素子 4 1が保護膜 1 4で覆われている。 さらに。 シンチレ一 タ 1 3の側壁を覆う保護膜 1 4の上には、 耐湿性を有する樹脂からなるシール材 4 2が設けられている。
【0 0 5 8】 以上の構成を有する本実施形態に係る放射線ィメージセンサの製 造方法について説明する。 まず、 第 1の実施形態と同様の手順により、 基板 1 1 と補助基板 2 0とを重ね(図 2 A、図 2 B参照)、基板 1 1と補助基板 2 0とを有 機膜 1 2で覆った後 (図 3 A、 図 3 B参照)、そのシンチレータ形成部 1 2 Aの表 面にシンチレータ 1 3を形成する (図 4 A、 図 4 B、 図 5 A、 図 5 B参照)。
[ 0 0 5 9 ] このシンチレータ 1 3を形成する際に、 基板 1 1には、 補助基板 2 0が重ね合わされているので、 上記各実施形態と同様に、 基板 1 1の自重ゃシ ンチレータ 1 3の重量による基板 1 1の反りが防止されており、 シンチレータ 1 3を均一に形成することができる。
【0 0 6 0】 シンチレータ 1 3を形成したら、 図 1 9 A、 図 1 9 Bに示すよう に、 シンチレータ 1 3の露出表面と撮像素子 4 1の受光面とを向かい合わせて撮 像素子 4 1上にシンチレ一タ 1 3を載置する。 この撮像素子 4 1により、 シンチ レータ 1 3によってシンチレータ発光した光を検出することができる。 撮像素子 4 1を取り付けたら、 0 2 0に示すように、 基板 1 1および補助基板 2 0を覆う 有機膜 1 2、 シンチレータ 1 3、 および撮像素子 4 1を保護膜 1 4で覆う。 それ から、 図 2 1に示すように、 有機膜 1 2および保護膜 1 4を基板 1 1と補助基板 2 0との境界部分 (切断部 1 2 B、 1 4 A) から切断して基板 1 1と補助基板 2 0を分離することにより、 放射線イメージセンサ 4 0を製造することができる。
【0 0 6 1】 こうして製造された放射線イメージセンサ 4 0では、 薄い基板 1 1が用いられるが、 シンチレータ 1 3を形成する際には、 基板 1 1の反りが補助 基板 2 0によって防止される。 このため、 シンチレータ 1 3を均一に形成するこ とができる。 また、 シンチレータ 1 3が均一に形成されることから、 シンチレ一 タ 1 3の作用によって得られるシンチレータ光が均一になり、 撮像素子 4 1によ つて好適な画像を得ることができる。
【0 0 6 2】 また、 放射線イメージセンサは、 この態様に限らず、 上記第 1の 実施形態から第 6の実施形態によって製造したシンチレ一タパネルを、 固体撮像 素子の受光面に取り付けることにより製造することができる。 具体的には、 図 1 に示す第 1の実施形態に係るシンチレ一タパネル 1におけるシンチレータ 1 3の 表面を、 固体撮像素子の受光面に取り付けて、 有機膜 1 4を介して放射線検出器 とすることができる。 また、 図 8に示すシンチレ一タパネル 2におけるシンチレ ータ 1 3の表面、 図 9 Aヽ 図 9 Bにそれぞれ示す第 3の実施形態に係るシンチレ 一タパネル 3、 3 0の表面、 図 1 3 A、 図 1 3 Bに示す第 4の実施形態に係るシ ンチレータパネル 3 2の表面、 図 1 5 A、 図 1 5 Bに示す第 6の実施形態に係る シンチレ一タパネル 3 5の表面を、 有機膜 1 4を介して固体撮像素子の受光面に 取り付けて、 放射線検出器とすることができる。 このように、 基板を介すること なく有機膜 1 4を介してシンチレータを固体撮像素子に取り付けることにより、 シンチレータと固体撮像素子の受光面との間に介在する層を薄くすることができ る。 さらには、 図 1 4 A、 図 1 4 Bに示す第 5の実施形態に係るシンチレ一タパ ネル 3 3のシンチレータ 1 3の表面を、 シンチレータ形成部 1 2 Aおよび有機膜
1 4を介して固体撮像素子の受光面に取り付けることにより、 放射線イメージセ ンサとすることができる。
【0 0 6 3】 次に、 本発明の第 8の実施形態について説明する。 図 2 2 A、 図 2 2 Bは、 本発明の第 8の実施形態に係る放射線検出器の断面図である。 上記実 施形態では、 完成されたシンチレ一タパネルに固体撮像素子を取り付ける態様と しているが、 本実施形態では、 完成される前のシンチレ一タパネルにおけるシン チレータに固体撮像素子を取り付けて、放射線検出器を製造する態様としている。 図 2 2 Aに示すように、 本実施形態に係る放射泉イメージセンサ 5 1は、 第 3の 実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 (図 9 Α) を製造する際に用いられるシン チレータ 1 3の表面を固体撮像素子 4 1に取り付けている。第 3の実施形態では、 図 1 2に示すシンチレータ 1 3のおよびシンチレータ形成部 3 1を有機膜 1 4で 覆ってシンチレータパネル 3を形成しているが、 ここでは、 図 1 2に示すシンチ レータ 1 3の露出表面を固体撮像素子 4 1の受光面に取り付けた後、 シンチレ一 タ 1 3、 シンチレータ形成部 3 1、 および固体撮像素子 4 1を有機膜 1 4で覆つ ている。 こうして、 図 2 2 Α、 図 2 2 Βに示される放射線イメージセンサ 5 1を 製造することができる。 この手法によれば、 薄型の放射線検出器 5 1を製造する ことができる。
[ 0 0 6 4 ] なお、 本実施形態のように図 1 2に示すシンチレータ 1 3や、 図 6に示すシンチレータ 1 3を固体撮像素子の受光面に取り付ける場合など、 シン チレ一タ 1 3を直接固体撮像素子の受光面に取り付ける場合には、 シンチレータ と固体撮像素子とを保護膜で被覆するのが好適である。 保護膜による被覆を行う 際には、 国際公開 W0 9 8 / 3 6 2 9 0号公報に開示された方法を用いることが できる。 この方法では、 保護膜は、 パリレンなどの有機膜からなる第 1有機膜、 アルミェゥム膜からなる無機膜、 およびやはりパリレンなどの有機膜からなる第 2有機膜によつて構成される。 そして、 まずシンチレータ 1 3の全体を覆うよう に、 第 1有機膜を形成する。 第 1有機膜は、 シンチレータ 1 3の全体を覆ってシ ンチレータ形成部 1 2 Αの表面に付着しており、 第 1有機膜はシンチレ一タ 1 3 に密着している。 続いて、 第 1有機膜の表面にアルミニゥム膜を蒸着して無機膜 を形成し、 その上から第 2の有機膜を形成する。 そうして、 第 2の有機膜によつ て無機膜の腐食を防ぐとともに、 シンチレータ 1 3を潮解などの物理的、 科学的 な劣化、 損傷等から保護することができる。
【0 0 6 5】 あるいは、 国際公開 WO 9 8 Z 3 6 2 9 1号公報に開示された方 法を用いることもできる。 この方法では、 保護膜は、 パリレンなどの有機膜から なる第 1有機膜、 アルミニウム膜からなる無機膜、 およびパリレンなどの有機膜 からなる第 2有機膜によって構成される。 この保護膜を形成する前に、 シンチレ ータ形成部 1 2 Aにおけるシンチレータ 1 3の周囲を囲む位置に細長い枠状の樹 脂枠を形成する。 この樹脂枠には、 保護膜との密着性を向上させるために粗面処 理が施されるのが好適である。 この粗面処理は、 筋を入れる、 表面に小さなくぼ みを形成するなどして行われる。 それから、 シンチレータ 1 3を覆うように、 シ ンチレータ形成部 1 2 Aの表面全体をシンチレータおよび樹脂枠とともに第 1有 機膜で覆う。 このとき、 第 1有機膜はシンチレータ 1 3に密着する。 それから、 第 1有機膜の表面にアルミニウム層を形成して無機膜を形成し、 さらに無機膜の 表面に第 2有機膜を形成する。 この保護膜を先に形成した樹脂枠に沿ってカツタ 一で切断することにより、 シンチレータ 1 3を覆う保護膜が形成される。
[ 0 0 6 6 ] これらの方法によって、 シンチレータを覆う保護膜を好適に形成 することができる。
【0 0 6 7】 さらに、本発明の第 9の実施形態について説明する。図 2 3 Aは、 本発明の第 9の実施形態に係る放射線検出器の断面図であり、 図 2 3は、 それを シンチレ一タ側から見た正面図である。 図 2 3 A、 図 2 3 Bに示すように、 本実 施形態に係る放射線検出器 5 2は、第 6の実施形態に係るシンチレ一タパネル (図 1 5 A、 図 1 5 B参照) を製造する際に用いられるシンチレータ 1 3の表面を固 体撮像素子に取り付けている。 第 6の実施形態では、 図 1 7に示すシンチレータ 1 3を有機膜 1 4で覆ったものを基板 1 1上に載置しているが、 ここでは、 シン チレータ 1 3に対して有機膜 1 4を介して固体撮像素子 4 1の受光面に取り付け ている。 この態様では、 固体撮像素子 4 1をシンチレータ形成部 1 2 Aの反対側 に取り付けている力 シンチレータ形成部 1 2 Aはあまり厚いものではないので、 シンチレータ形成部 1 2 A側を固体撮像素子 4 1の受光面に取り付ける態様とす ることもできる。 【0 0 6 8】 次に、本発明の第 1 0の実施形態について説明する。図 2 4 Aは、 この実施形態の製造方法で製造されたシンチレ一タパネルの断面構成図であり、 図 2 4 Bはそれを基板 1 1側からみた正面図である。 このシンチレ一タパネル 3 6は、 第 1の実施形態と同様の構成を有しているが、 シンチレータ 1 3がシンチ レータ形成面の略全面に形成されている点が相違する。 このため、 基板 1 1の全 面にわたって、 入射した放射線を可視光などに変換することができる。
【0 0 6 9】 このシンチレ一タパネル 3 6の製造工程について、 図 2 5 A〜図 2 9を参照して説明する。 このシンチレ一タパネル 3 6を製造する際には、 補助 基板として図 2 5 A、 図 2 5 Bに示すサポート基板 2 0を利用する。 まず、 図 2 5 A、 図 2 5 Bに示すように、 基板 1 1を用意し、 基板 1 1の第 1の表面 1 1 B にサポート基板 2 0の一面 2 O Aを接触させて、 基板 1 1とサポート基板 2 0と を重ねる。 サポート基板 2 0としては、 図 2 5 Bに示されるように、 基板 1 1よ りも薄く、 平面視して基板 1 1よりも幅広のものが用いられており、 サポート基 板 2 0の突出部となる側部 2 0 Bは、 基板 1 1の外周端 1 1 Cよりも側方に突出 している。
[ 0 0 7 0 ] こうして、基板 1 1とサポート基板 2 0とを重ねたら、図 2 6 A、 図 2 6 Bに示すように、 基板 1 1とサポート基板 2 0の全体を覆う有機膜 1 2を 形成する。 有機膜 1 2は、 図示しない C V D装置に基板 1 1を入れ、 C V D装置 内において C V D法によつて形成される。 基板 1 1とサポート基板 2 0を重ねた 状態でこれらを包み込んで有機膜 1 2を形成することにより、 基板 1 1とサポー ト基板 2 0は、 接着等することなく、 重ねあわせて密着された状態に保たれる。 【0 0 7 1〗 基板 1 1とサポート基板 2 0を重ねた状態で有機膜 1 2を形成し たら、 これを真空蒸着装置 8 0内に揷入する。 真空蒸着装置 8 0の内部には、 図 2 7 Aに示す保持治具 8 1 Cが配設されている。 そして、 サポート基板 2 0にお ける側部 2 0 Bを、 この保持治具 8 1 Cに載置する。 このとき、 基板 1 1をサボ ート基板 2 0の下側に配置しておくことにより、 基板 1 1がサポート基板 2 0に 吊るされた状態となる。 このようにして、 真空蒸着装置 8 0の保持治具 8 1 Cに よって基板 1 1を保持する。 これにより、 保持治具 8 1 Cの開口部 8 1 Aから基 板 1 1の有機膜 1 2に覆われた表面は、 真空蒸着装置 8 0の蒸着室 8 2内へと突 出させて配置される。
【0 0 7 2】 基板 1 1を保持治具 8 1 Cによって保持したら、 図 2 8に示すよ うに、 基板 1 1の下方の蒸着室 8 0内へシンチレータ材料 Mを供給し、 蒸着法に よって基板 1 1の表面に成長 (堆積) させてシンチレータ 1 3を形成する。 この とき、 有機膜 1 2における基板 1 1の一面 1 1 Aに対応する面は、 上述したよう に、 保持治具 8 1 Cに接触することなく、 全面にわたって露出した状態となって いる。 このため、 シンチレータ材料 Mは、 有機膜 1 2における基板 1 1に対応す る面の全面にわたって蒸着される。 その結果、 有機膜 1 2における基板 1 1に対 応する面の全面にわたってシンチレータ 1 3を形成することができる。 また、 有 機膜 1 2における基板 1 1に対応する面の端部が保持治具 8 1 Cに保持されるこ ともない。 したがって、 シンチレータ 1 3の端部は、 その表面に対してほぼ垂直 となるので、 シンチレータ 1 3の端部がスロープ状になることもない。
[ 0 0 7 3 ] こうして、 シンチレータ 1 3を形成したら、 有機膜 1 2に包まれ た基板 1 1およぴサポート基板 2 0を保持治具 8 1 Cから外し、 真空蒸着装置 8 0の外に取り出す。 その後、 図 2 9に示すように、 有機膜 1 2における基板 1 1 とサポート基板 2 0の重ね合わせ部位の近傍を切断する。 基板 1 1とサポート基 板 2 0の重ね合わせ部位の全周にわたつて有機膜 1 2を切断すると、 基板 1 1と サポート基板 2 0とは、 重ねられた状態から解放される。 このとき、 サポート基 板 2 0は、 基板 1 1に対して単に重ねられているのみであるので、 有機膜 1 2を 切断することにより、 サポート基板 2 0はそのまま基板 1 1力、ら取り外される。 【0 0 7 4】 基板 1 1からサポート基板 2 0を取り外したら、 図 2 4 A、 図 2 4 Bに示すように、 基板 1 1および残っている有機膜 1 2、 さらにはシンチレ一 タ 1 3を覆って保護膜 1 4を形成する。 保護膜 1 4は、 上記の有機膜 1 2と同様 に、 C V D装置を用いた C V D法によって形成される。 この保護膜 1 4をシンチ レータ 1 3の部分から基板 1 1の部分にわたって連続的に形成することにより、 シンチレータ 1 3が外部の空気と接触することが防止される。
【0 0 7 5】 このようにして、 シンチレ一タパネル 3 6が製造される。 この製 造工程において、 基板 1 1にシンチレータ 1 3を形成する際に、 有機膜 1 2にお ける基板 1 1に対応する面には、 真空蒸着装置の保持治具が接触することなく、 その面は完全に露出した状態としておくことができる。 したがって、 有機膜 1 2 における基板 1 1に対応する面の全面にわたって、 シンチレータ 1 3を形成する ことができるようになる。例えば、シンチレータパネルを口腔内に揷入するため、 小さな基板でなるべく広い範囲の画像を得ることが求められる歯科用のシンチレ 一タパネルに特に好適に用いることができる。
【0 0 7 6】 また、 シンチレータ 1 3の端部は、 その表面に対してほぼ垂直と なり、 スロープ状になることもないので、 シンチレータ 1 3に有機膜 1 2を介し て撮像素子を接着剤によって接着する際に、 接着剤が集中して接着剤が固化する 際に歪みが生じることを防止できる。
【0 0 7 7】 続いて、 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 6の効果を確認 するために行った実験の結果について説明する。 本発明者らは、 本実施形態に係 るシンチレ一タパネル 1の効果を確認すべく、 次の実験を行った。 図 3 O Aに示 すように、 上記で説明した本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 6の一面 1 1 A側に、 C C Dからなる撮像素子 4 3を取り付けた放射線ィメージセンサ 4 4を 製造した。 この放射線イメージセンサ 4 4における基板 1 1の他面 1 1 B側に、 基板 1 1とほぼ同一面積の被検出物 Dを配置し、 被検出物 Dに X線をあてて、 撮 像素子 4 3で被検出物 Dの画像を撮影した。
【0 0 7 8】 一方、 比較例として、 図 3 0 Bに示すように、 図 3 8 Bに示す従 来のシンチレ一タパネル 6 0を、 シンチレータを保護する有機膜 1 2で覆い、 基 板 6 1の一面 (シンチレータ蒸着面) 6 1 A側に C C Dからなる撮像素子 4 3を 取り付けた放射線イメージセンサ 4 5を製造した。 この放射線イメージセンサ 4 5における基板 6 1の一面 (シンチレータ蒸着面) 6 1 Aに対向する他面 6 1 B 側に、 被検出物 Dを配置し、 被検出物 Dに X線をあてて、 撮像素子 4 3で被検出 物 Dの画像を撮像した。 そのとき、 各撮像素子 4 3で撮影された画像の模式図を それぞれ図 3 1 A、 図 3 1 Bに示す。
【0 0 7 9】 図 3 1 Aから判るように、 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 6を用いた放射線イメージセンサ 4 4で撮像した画像 P 1には、 3本の濃い線 L , L , Lがはっきりと映し出された。 これに対して、 従来のシンチレータパネ ル 6 0を用いた放射線イメージセンサ 4 5で撮像した画像 P 2には、中央部には、 はっきりした 3本の濃い線 L, L , Lが見られるが、 外側の枠に近い位置では、 この線がぼやける部分 F、 F、 …があった。 この部分は、 感度が低い領域である ことがわかった。 また、 外側の枠に沿って、 まったく撮影を行うことができない 部分 Nがあった。 この部分は、 不感領域であることがわかった。
[ 0 0 8 0 ] このように、 本実施形態に係るシンチレ一タパネル 3 6を用いた 放射線ィメージセンサ 4 4では、 従来のシンチレ一タパネル 6 0を用いた放射線 イメージセンサ 4 5よりも、 基板に対する全域にわたって、 鮮明な画像としての 撮影を行うことができるものとなった。
【0 0 8 1〗 上述の説明では、 サポート基板として基板より縦横方向とも幅広 の板を用いたが、 図 3 2に示されるように、 少なくとも一方向に基板 1 1より突 出している基板 2 0を用いると、 この突出部 2 0 Bを用いて基板 1 1を蒸着装置 8 0内でつり下げ支持することができる。 ここでは、 矩形板を用いているが、 H 形や梯子形のサポート基板を用いることもできる。
【0 0 8 2】 また、 突出部は水平方向に限られるわけではなく、 例えば、 図 3 3に示されるように、 サポート基板 2 0の基板 1 1と反対の表面から基板 1 1と 反対の方向に突出する突出部 2 5を設けてもよい。 この場合、 突出部 2 5に保持 部 2 5 Aを設けて、 この保持部 2 5 Aを利用して基板 1 1を蒸着装置 8 0内でつ り下げ支持するとよい。
【0 0 8 3】 さらに、 突出部を有しないサポート基板も利用可能である。 例え ば、 図 3 4 Aに示されるように、 対抗する側壁部 2 O D部分に表面と平行な溝 2 6を有している形状や、 図 3 4 Bに示されるように、 側壁部 2 0 Dの 4面全部に 表面と平行な溝 2 6を有しているサポート基板 2 0が利用可能である。
【0 0 8 4】 図 3 4 Aに示されるサポート基板 2 0を利用する場合、 このサボ ート基板 2 0と基板 1 1を重ね合わせた後、有機膜 1 2で全体を被覆することで、 両者を密着させる。
[ 0 0 8 5 ] この状態で、 溝 (係合部) 2 6を保持具 8 5で係合して保持する ことにより、 蒸着装置 8 0内で基板 1 1をつり下げ支持して、 基板 1 1の有機膜 1 2で覆われている面上にシンチレータ 1 3を形成する。 形成後、 有機膜 1 2を 切断して、 サポート基板 2 0を分離し、 保護膜 1 4で覆えば、 図 2 4 A、 図 2 4 Bに示されるシンチレータパネル 3 6が得られる。
[ 0 0 8 6 ] 以上、 本発明の好適な実施形態について説明したが、 本発明は上 記実施形態に限定されるものではない。 たとえば、 上記各実施形態では、 基板 1 1 (シンチレ一タ形成部 1 2 A) の上に直接有機膜 1 2を形成しているが、 基板 1 1と有機膜 1 2の間に薄膜状の金属反射膜 1 7を形成する態様とすることもで きる (図 3 7 A参照)。 この金厲反射膜 1 7を形成することにより、 シンチレータ から出射される光の輝度を高めることができる。 金属反射膜 1 7は、 基板 1 1の 表面に有機膜 1 2を形成する前に、 基板 1 1の一面に蒸着させて形成しておくこ とができる。 この金属反射膜 1 7として用いられる金属としては種々のものが挙 げられ、 たとえば A 1 , A g, C r, C u , N i , T i, M g, R h , P tおよ び A uからなる群の中の物質を含む材料を用 、ることができる。
【0 0 8 7】 また、 このような金属反射膜 1 7は、 基板 1 1と有機膜 1 2の間 に形成するほか、 有機膜 1 2とシンチレータ 1 3の間に形成することができる。 有機膜 1 2とシンチレータ 1 3の間に金属反射膜 1 7を形成する場合には、 基板 1 1の表面を有機膜 1 2で覆った後、 有機膜 1 2の表面に金属を蒸着させて形成 することができる。 この金属反射膜 1 7としても、 上記に列挙した金属物質を含 む材料を用いることができる。 また、 有機膜 1 2とシンチレータ 1 3の間に金属 反射膜 1 7を形成するとすると、 金属反射膜 1 7とシンチレータ 1 3とが接触し て、 シンチレータ 1 3にわずかに含まれる水分によって金属反射膜 1 7が劣化す ることが考えられるので、 これを防止するため、 金属反射膜 1 7とシンチレータ 1 3の間に、防水膜 1 8を形成することもできる (図 3 7 B参照)。 防水膜 1 8と しては、 有機膜 1 2と同様の物質の材料を用いることができる。 また、 金属反射 膜上に酸化膜を形成して、 これを防水膜 1 8とすることもできる。
[ 0 0 8 8 ] 金属反射膜 1 7は、 シンチレータに対してシンチレータ発光の取 り出し方向と逆の方向に配置されることになる。
【0 0 8 9】 さらに、 上記各実施形態においては、 基板 1 1として放射線透過 性基板を用いているが、 放射線透過性基板に代えて、 複数のオプティカルフアイ バで構成された板状のィメージ伝送体であるフアイバオプティックプレート ( F O P ) を用いることもできる。
[ 0 0 9 0 ] また、 放射線イメージセンサについては、 シンチレ一タに撮像素 子を取り付ける態様のものについて説明したが、 基板がガラスや F O Pのように シンチレータの発光波長の光を通過するものであれば、 基板 1 1に撮像素子を取 り付ける態様などとすることもできる。 また、 上記各実施形態によって製造され たシンチレ一タパネルに撮像素子を取り付けることによって、 放射線イメージセ ンサとする態様とすることもできる。
[ 0 0 9 1 ] さらに、 上記各実施形態においては、 有機膜 (シンチレータ形成 部)、保護膜などの切断した部分を切断した状態で描いている力 s、たとえば研磨な どを施すことにより、 切断した部分を平滑にすることができる。 特に、 放射線検 出器を製造する際には、 これらの切断部分を平滑にするように、 研磨するなどを 施すことが好適である。 【0092】 また、 上記実施形態では、 シンチレータとして C s I (T 1 ) が 用いられているが、 これに限らず、 たとえば C s i (Na)、 Na I (T l)、 L i I (Eu)、 K i (T 1 ) 等を用いることもできる。
産業上の利用可能性
【0093】 本発明は、 大面積あるいは薄型の放射線ィメ一ジング用の放射線 イメージセンサやシンチレ一タパネルを製造するのに好適であり、 例えば、 工業 用や医療用分野で用いられる放射線イメージセンサやシンチレ一タパネルを製造 するのに好適である。

Claims

請求の範固
1 . 基板上にシンチレータを蒸着したシンチレ一タパネルの製造方法において、 前記基板の第 1の表面上の所定の位置に補助基板を重ね合わせ、
重ね合わせた前記基板と前記補助基板全体を有機膜で覆い、
前記有機膜で覆われた前記基板および補助基板を蒸着装置内の保持部に保持し、 この状態で、 前記基板の第 1の表面と反対側の第 2の表面を覆っている前記有 機膜の表面にシンチレータを蒸着形成し、
所定位置で有機膜を切断して、 前記基板から前記補助基板を分離することで、 前記基板の第 2の表面上に有機膜、 シンチレータが形成されているシンチレータ パネルを得る
工程を備えていることを特徴とするシンチレータパネルの製造方法。
2 . 有機膜上にシンチレータを蒸着したシンチレータパネルの製造方法におい て、
所定の補助基板の少なくとも第 1の表面上を有機膜で覆い、
前記有機膜で覆われた前記補助基板を蒸着装置内の保持部に保持し、
この状態で、 前記有機膜の前記補助基板の第 1の表面に接する面とは反対側の 露出表面上の所定の位置にシンチレータを蒸着形成し、
前記シンチレータが形成された有機膜を前記補助基板から分離する
工程とを備えていることを特徴とするシンチレータパネルの製造方法。
3 . 前記補助基板から分離されたシンチレ一タを有する有機膜をさらに保護膜 で覆う工程を含むことを特徴とする請求の範囲第 2項記載のシンチレータパネル の製造方法。
4 . 基板上に、 前記補助基板から分離されたシンチレータを有する有機膜の前 記補助基板の第 1の表面に接していた面を向けて載置して固定する工程をさらに 備えていることを特徴とする請求の範囲第 2項記載のシンチレ一タパネルの製造 方法。
5 . 基板上に、 前記補助基板から分離されたシンチレータを有する有機膜のシ ンチレータ形成面を向けて載置して固定する工程をさらに備えていることを特徴 とする請求の範囲第 2項記載のシンチレ一タパネルの製造方法。
6 . 前記シンチレータを覆う保護膜を形成する工程をさらに備えていることを 特徴とする請求の範囲第 1項または第 4項に記載のシンチレ一タパネルの製造方 法。
7 . 前記基板は、 放射線透過性基板である請求の範囲第 1項、 第 4項、 第 5項 のいずれかに記載のシンチレ一タパネルの製造方法。
8 . 前記放射線透過性基板として、 ガラス、 アルミニウム、 またはァモルファ スカーボンを用いることを特徴とする請求の範囲第 7項に記载のシンチレータパ ネルの製造方法。
9 . 前記基板と前記シンチレータとの間に、 金属反射膜を形成する工程を含む ことを特徴とする請求の範囲第 1項、 第 4項、 第 5項のいずれかに記載のシンチ レータパネルの製造方法。
1 0 . 前記基板として、 ファイバォプティックプレートを用いることを特徴と する請求の範囲第 1項、 第 4項、 第 5項のいずれかに記載のシンチレータパネノレ の製造方法。
1 1 . 前記補助基板は、 前記第 1の表面側から見て前記基板の外側に突出する 突出部を備えており、 前記蒸着装置内の保持部にこの突出部を利用して保持され ることを特徴とする請求の範囲第 1項または第 2項に記載のシンチレータパネノレ の製造方法。
1 2 . 前記補助基板は、 前記基板の厚み方向に突出する突出部を備えており、 前記蒸着装置内の保持部にこの突出部を利用して保持されることを特徴とする請 求の範囲第 1項または第 2項に記載のシンチレ一タパネルの製造方法。
1 3 . 前記補助基板は、 側壁部に係合部を備えており、 前記蒸着装置内の保持 部にこの係合部を利用して保持されることを特徴とする請求の範囲第 1項または 第 2項に記載のシンチレ一タパネルの製造方法。
1 4 . 請求の範囲第 1項〜第 1 3項のうちのいずれか 1項に記載のシンチレ一 タパネルの製造方法により製造されたシンチレ一タパネルを固体撮像素子の受光 面に取り付ける工程を備えている放射線ィメージセンサの製造方法。
1 5 . 基板に形成されたシンチレータに固体撮像素子が取り付けられた構造を 有する放射線イメージセンサの製造方法において、
前記基板の第 1の表面上の所定の位置に補助基板を重ね合わせ、
重ね合わせた前記基板と前記補助基板全体を有機膜で覆い、
蒸着装置内の保持部に前記有機膜で覆われた前記基板および補助基板を保持し、 この状態で、 前記基板の第 1の表面と反対側の第 2の表面を覆っている前記有 機膜の表面にシンチレータを蒸着形成し、
所定位置で前記有機膜を切断し、前記基板から前記補助基板を分離することで、 前記基板の第 2の表面上に有機膜、 シンチレータが形成されているシンチレータ パネルを得て、
当該シンチレ一タパネルを固体撮像素子の受光面上に張り付ける
工程を備えていることを特徴とする放射線ィメージセンサの製造方法。
1 6 . 基板に形成されたシンチレークに固体撮像素子が取り付けられた構造を 有する放射線ィメ一ジセンサの製造方法において、
前記基板の第 1の表面上の所定の位置に補助基板を重ね合わせ、
重ね合わせた前記基板と前記補助基板全体を有機膜で覆い、
蒸着装置内の保持部に前記有機膜で覆われた前記基板および捕助基板を保持し、 この状態で、 前記基板の第 1の表面と反対側の第 2の表面を覆っている前記有 機膜の表面にシンチレータを蒸着形成し、
前記シンチレータ形成面を固体撮像素子の受光面上に張り付け、
所定位置で前記有機膜を切断して、 前記基板から前記補助基板を分離すること で、 固体撮像素子の受光面上にシンチレ一タパネルを配置した放射線イメージセ ンサを得る
工程を備えていることを特徴とする放射線ィメージセンサの製造方法。
1 7 . 固体撮像素子の受光面上にシンチレ一タ層を有する放射線イメージセン サの製造方法において、
所定の補助基板の少なくとも第 1の表面上を有機膜で覆い、
蒸着装置内の保持部に前記有機膜で覆われた前記補助基板を保持し、 この状態で、 前記有機膜の前記補助基板の第 1の表面に接する面とは反対側の 露出表面上の所定の位置にシンチレータを蒸着形成し、
前記シンチレータが形成された有機膜を前記補助基板から分離し、
該シンチレータを有する有機膜のシンチレ一タ形成面と反対の表面を固体撮像 素子の受光面上に張り付ける
工程を備えていることを特徴とする放射線ィメージセンサの製造方法。
1 8 . 固体撮像素子の受光面上にシンチレータ層を有する放射線ィメ一ジセン サの製造方法において、
所定の補助基板の少なくとも第 1の表面上を有機膜で覆い、
蒸着装置内の保持部に前記有機膜で覆われた前記補助基板を保持し、 この状態で、 前記有機膜の前記補助基板の第 1の表面に接する面とは反対側の 露出表面上の所定の位置にシンチレータを蒸着形成し、
前記シンチレータが形成された有機膜を前記補助基板から分離し、
該シンチレータを有する有機膜のシンチレータ形成面を固体撮像素子の受光面 に取り付ける
工程を備えていることを特徴とする放射線ィメ一ジセンサの製造方法。
1 9 . 前記シンチレータの露出表面を保護膜で覆う工程をさらに備えているこ とを特徴とする請求の範囲第 1 5項または第 1 7項に記載の放射線イメージセン サの製造方法。
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