WO2004068078A1 - 状態判定方法と状態予測方法及び装置 - Google Patents

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WO2004068078A1
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Ho Jinyama
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Ho Jinyama
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B13/00Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
    • G05B13/02Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
    • G05B13/0205Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric not using a model or a simulator of the controlled system
    • G05B13/026Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric not using a model or a simulator of the controlled system using a predictor

Definitions

  • the present invention relates to a state determination device and an online state monitoring / diagnosis system for determining the presence or absence of a change in the state of an object in equipment diagnosis, medical diagnosis, and the like.
  • the state determination is performed assuming that the probability density function of the waveform data measured from the object of state monitoring follows a “normal distribution” in a normal state ([1] Patent Publication 2000-1711291, [2] ] Toshio Toyoda, Tomoya Niho: "Diagnosis of Rotating Machine Abnormality Using Only Normal Vibration Waveforms", Journal of the Institute of Equipment Management, Vol. 11, No. 1, 1999, p.4-11.
  • the waveform data and the values of the characteristic parameters follow a normal distribution, but the waveform data and the values of the characteristic parameters do not always follow the normal distribution even in a normal state. If the state change of an object is determined by a statistical test assuming that it follows a normal distribution, an erroneous determination will result.
  • the measured waveform data is converted into waveform data of a known probability distribution (for example, normal distribution), or is calculated from the waveform data.
  • the state of the object is determined by statistical tests, possibility theory, information theory, and the like.
  • the signal of the measured object is a pulsation signal
  • the envelope waveform data of the signal from which the noise has been removed is used.
  • the singular component in the signal is detected based on the normalized envelope waveform data and the periodic pulse to determine the state.
  • the peak waveform data of the pulsation signal from which noise has been removed as described above is obtained, the peak waveform data is normalized, and a unique component in the pulsation signal is detected based on the normalized peak waveform data and the periodic pulse waveform data. To determine the state. 5. Effects of the Invention
  • the waveform data and characteristic parameters measured for monitoring the state of an object do not always follow a normal distribution, the presence or absence of a change in the state of the object is statistically determined by assuming that these waveform data or characteristic parameters follow a normal distribution. Judgment by a test or state prediction leads to large errors.
  • the measured waveform data is converted into waveform data of a known probability distribution (for example, normal distribution), or the characteristic parameter calculated from the waveform data is converted to a known probability distribution (for example, normal distribution).
  • the state of the object is determined by statistical tests, possibility theory, information theory, and so on. Therefore, the method of the present invention is higher than the case where the accuracy of state determination or state prediction follows the conventional normal distribution.
  • the conventional judgment method (characteristic parameter, spectrum, probability, etc.) Density function) is difficult to detect.
  • the envelope waveform data of the pulsation signal from which noise has been removed is obtained, and a singular component in the signal is detected based on the normalized envelope waveform data and the periodic pulse to determine the state.
  • the main signal processing can be realized by hardware, and the load on the numerical processing device (computer) is small, so that abnormality detection can be realized in real time. Also, since the waveform data in the normal state is not used as a reference, even if the pulsation cycle changes, the effect on the detection and judgment results is small. 6. Best mode for carrying out the invention
  • Feature parameters used for state determination include time-domain and frequency-domain feature parameters.
  • Some frequency domain feature parameters are defined in (Ref. 1).
  • Peng Chen, Toshio Toyoda Self-Organization of Feature Parameters in Frequency Domain by Genetic Programming, Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers (C), Vol. 65 No. 633, p p.1946-1953, 1998.
  • the feature parameters in the time domain will be described in detail.
  • the characteristic parameters in the time domain used to determine whether or not the state of the object has changed are as follows.
  • the extracted waveform data X (t) is normalized by the following equation.
  • ⁇ 'i is the discrete value of X (t) after A / D conversion
  • S are the average value and standard deviation of x' i, respectively.
  • N-1 is the standard deviation.
  • -l (5) 2 ( ⁇ -1) ⁇ 3
  • ⁇ P is the standard deviation value of the maximum value.
  • Equations (2) to (13) are conventional feature parameters, but in order to easily perform high-speed calculations by numerical calculation, the “interval feature parameters” are expressed by equations (14) to (21). A new proposal is made.
  • X i ⁇ kak can be set arbitrarily.
  • k 0.5 1 2.
  • kl is the average value of Xi .
  • ⁇ hl is the average value of x h .
  • higefact is the frequency with which the waveform crosses the ⁇ level per unit time.
  • the measured waveform data is not normalized as in equation (1).
  • Peak average value of the absolute value of the waveform data ⁇ ⁇ 1 " ⁇ (2 4)
  • N P is the total number of peak values. Peak effective value of the absolute value of the waveform data: (25)
  • Pd4 ⁇ "Note that many other feature parameters can be defined in addition to the above feature parameters. When applying this method, first try using the above feature parameters. If the effect of state identification is not good, further What is necessary is just to define additional characteristic parameters.
  • the measured waveform data is represented by, and the characteristic parameter calculated from the waveform data is represented by.
  • the specified known probability distribution function is ⁇ , then x * i or ⁇ can be transformed into a random variable Xi or Pi according to ⁇ using the following equation.
  • F xi (x * i) and F Pi () are the cumulative probability distribution (or cumulative frequency distribution) of x * i and ⁇ , respectively, and ⁇ is the inverse function of ⁇ .
  • is a normal distribution, Weibull distribution, exponential distribution, gamma distribution, etc.
  • the original waveform data x * i is divided into four types as shown in Fig. 1. That is, the data Xi + larger than the average value, the data-smaller than the average value, the absolute value data i xi
  • the feature parameter p * i is It is calculated by one of X i + and Xi-, I Xi I and X * iA .
  • the probability density function f (t) of the normal distribution is expressed by the following equation.
  • ⁇ - 1 is the inverse function of ⁇
  • ⁇ ⁇ 0 and ⁇ ⁇ ⁇ ) are the standard deviations of x * ik and p * ik converted to normal distribution, respectively, and can be obtained by the following formula.
  • the probability density function (or frequency distribution) of the waveform data x * ik and the characteristic parameter p in state k is d) and f (p * ik), respectively, and the probability distribution function (or cumulative frequency distribution) ) Are F xk (x * ik ) and F Pk (p * ik ).
  • the waveform data x * ik and the feature parameter p * ik are converted into a normally distributed random variable by the following formula.
  • S xk and S Pk are standard deviations of x * ik and p * ik , respectively, and / xk and / z Pk are average values of x * ik and p * ik , respectively.
  • the average value according to the normal distribution is obtained by the following equation.
  • ⁇ ' the number of p * ik in the j-th set. Since follows approximately the normal distribution, state determination and state prediction are performed using ⁇ .
  • the waveform data x * ik is transformed into the normal probability distribution waveform data by formulas (29), (33), (35), and (37), ⁇ and X 'ik. , 'Ik, / i xik, X "ik, ⁇ are called" normally distributed waveform data ".
  • ⁇ piko and p ' are the feature parameters p * i converted to normal random variables by Eqs. (30), (34), (36), and (38).
  • P 'ik, ⁇ Plk, p'' are referred to as "characteristic parameters of the normal distribution" c
  • the characteristic parameters of the normal distribution obtained in state k and state y are p ik and Piy , respectively.
  • the average value ⁇ and standard deviation S of J Pj are calculated by the following formula.
  • VJ (44) holds, the significance level is determined to be "/ i ik and / Z iy are not equal."
  • ta / 2 (J-1) is the percentage point of the probability density function of the t distribution with J-1 degrees of freedom with respect to the lower probability ⁇ / 2.
  • F a / 2 (J-1, Jl) is the percentage point of the probability density function of the F distribution with J-1 degrees of freedom for the lower probability a / 2.
  • Equation (44) or Equation (45) When the significance level a is changed, the degree of state change from state y to state k is determined by confirming whether equation (44) or equation (45) is satisfied.
  • Table 1 shows an example of determining the degree of state change based on the significance level a. In the case of equipment diagnostics, if state k is normal, state y is normal, cautionary, or dangerous, as shown in Table 1. "(shed 2), and" danger "(a 3) set can be assayed as. That is, if Equation (44) or Equation (45) does not hold at the time of ⁇ , it is determined to be “normal”. Equation (44) or Equation (45) Is determined as “caution” if ⁇ ; 2 is satisfied, and “danger” is determined if ⁇ 3 is satisfied.
  • the numerical range of ⁇ in Table 1 is an example, and is determined by the importance of equipment.
  • the result of the determination follows the determination result of the feature parameter that indicates the largest change in state. For example, when making a judgment using three feature parameters ⁇ ⁇ 2 and ⁇ 3, if the judgment result of Pl is “Caution”, the judgment result of ⁇ 2 is “Normal”, and the judgment result of ⁇ 3 is “Danger”, The final judgment result is “dangerous”.
  • the average value of the characteristic parameter of the normal distribution obtained from the waveform data measured at the reference time point is / ii. If the average value of the characteristic parameter of the normal distribution obtained from the waveform data measured at other times is ik , the confidence interval of ⁇ 0 is given by the following equation. (46) where / 2 (J-1) is the percentage point of the probability density function of the t distribution with J-1 degrees of freedom relative to the lower probability ct / 2. Si. Is Pi obtained from waveform data. Is the standard deviation of Is A with probability 1- if it is within the interval shown in equation (46). There is no difference. / ii. Of 99
  • the ° / 0 confidence interval is approximately as follows when J> 10:
  • the confidence interval of obtained from the measured waveform data can be obtained by the following equation. ⁇ ,. ⁇ 3S 'VJ (48) where S ik is the standard deviation of p ik obtained from the waveform data.
  • the state is determined based on whether or not ⁇ 3 ′ (5 1) k is within these sections.
  • the probability distribution function P k ( P i ) of the probability density function f k (p of P i is calculated by Equation (5 2).
  • the probability distribution function can be obtained for any probability distribution of pi. If pi follows a normal distribution, the N-stage possibility distribution function p k (p is (See Reference 5),
  • the probability of the characteristic parameter Pi of the normal distribution obtained in state k and state y is P k (pO and P y ( ⁇ ), and the value of the characteristic parameter of the normal distribution obtained in state y is Given P'i, the possibility that state y is the same as state k is Required.
  • the values of i and j in ⁇ Soil, ⁇ Shi 'S!' (56) are determined by user input.
  • the probability distribution function of the normal state is P k (p
  • the probability distribution function of the attention state is p cl (pi) and pc 2 (Pi)
  • the probability distribution function of the dangerous state is (pi)
  • p d2 (pi) The probabilities of “normal”, “caution”, and “danger” obtained at the time of actual identification are displayed as shown in Fig. 2. Also, when it is judged as “danger” It is also possible to issue a warning.
  • f P be the probability density function of the characteristic parameter of the normal distribution in the reference state of the object. ( Pi ), and let the probability density function of the characteristic parameter of the normal distribution other than the reference state be (Pi).
  • the state other than the reference state is called the “test state”. Whether or not the test state is the same as the reference state can be determined by the following ("Kullback-Leibler Information (KI)" and "Information Divergence (ID) J". ⁇ ' ⁇
  • Kip and ID status determination method by P is described in detail in [1 0], it is omitted here. ([10] Nobuyoshi Liu, Toshio Toyoda, Peng Chen, Fang Feng, Tomoya Nibo: “Abnormal Diagnosis of Rotating Machinery by Information Divergence", Journal of the Japan Society of Precision Engineering, Vol.66, No.1, 2000, .157 -162.)
  • the feature parameter integration method includes the principal component analysis method and the KL expansion method.
  • the new feature parameters obtained by the feature parameter integration method are called “integrated feature parameters”.
  • integrated feature parameters an example of the principal component analysis method will be described.
  • ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ + ⁇ ⁇ 2 +-+ a lm p m
  • Each principal component Zl to Z » is also called“ integrated feature parameter ”.
  • the correlation matrix is determined as follows:
  • Figure 3 shows the acceleration waveform data of the vibration measured when a rotating machine is in a normal state (Fig. 3 (a)) and in a rotating shaft misalignment state (Fig. 3 (b)).
  • Equation (64) is small in a normal state and large in an abnormal state.
  • the waveform data x * i measured from the object are Waveform data x ' ik with more normal distribution.
  • the waveform data ik of the normal distribution can be determined by the above-described state determination method using the characteristic parameter of the normal distribution. This method uses normal distribution waveform data ⁇ xiko and X 'ik. Applicable to
  • Test state Whether or not is in the same state as the reference state can be determined by the following “Kullback-Leibler Information (KI) J” and “Information Divergence (ID)”.
  • Fig. 6 (a) shows the waveform data of the vibration acceleration measured in the normal state of a rotating machine.
  • Figure 6 (c) shows waveform data measured when the same rotating machine is unbalanced.
  • the state may be determined by the mean and variance tests shown in Equations (44) and (45).
  • the feature parameters are obtained by Eqs. (2) to (25), and statistical tests, possibility theory and integration of feature parameters are obtained.
  • the state can also be determined by the method.
  • the state of the measurement target can be predicted using the conventional state prediction method ([13] Masumi Ishikawa, Hiromichi Muto: Prediction method, measurement and control, 1982.3. [14] Ogawa, M .: Time series analysis and storage prediction, Bull. Math. Stat., 8, 8—72, 1958. : Statistics for prediction, Koyo Shobo, 1987.)
  • Figure 7 shows the method of state prediction. At each measurement time (after converting the characteristic parameter values or principal component values measured at Xl to x to follow the normal probability distribution, the prediction curve and its confidence interval are obtained by regression analysis, and at the intersection with the "life limit" Find the “shortest life”, “average life J” and “longest life”.
  • Figure 8 shows an example of waveforms measured eight times while a rotating machine changes from a normal state to an unbalanced state. Measurement 1 is normal and measurement 8 is the heaviest unbalanced condition.
  • Figure 9 shows the average value of the characteristic parameters in each measurement, obtained by Eqs. (2) to (13).
  • the feature parameters have monotonically increasing values as the degree of the abnormal condition increases (for example, p 4 , If there is p 5), the characteristic parameter values monotonically decreasing (e.g., ⁇ 2, ⁇ 8, ⁇ 9, ⁇ ») also.
  • there are some feature parameters eg, p., ⁇
  • whose values are almost unchanged even when the degree of the abnormal state becomes heavy.
  • the life expectancy should be selected by selecting a characteristic parameter whose value is monotonically increasing (or monotonically decreasing). Also, when performing life expectancy prediction using the principal components, only the characteristic parameters whose values are monotonically increasing (or only the characteristic parameters whose monotonically decreasing values) should be selected, and the life prediction should be performed by obtaining the principal components.
  • Figure 16 (a) shows the measurement and processing flow for implementing the above-described method of converting waveform data and feature parameters into a normally distributed random variable, the state determination method, and the state prediction method.
  • the circuit of the waveform data measurement and state determination device for realizing Fig. 16 (a) is shown in Fig. 17.
  • FIGS. 12 (a) and 13 (a) show examples in which a large number of abnormal peaks continuously occur.
  • Figure 15 shows the flow of online singularity detection and state determination for such local abnormalities (singular components) that occur in the pulsation signal.
  • the rotation pulse signal is also called a periodic pulse signal, and is used to determine the timing of each peak value of the pulsation signal.
  • the power cutoff frequency fL of the low-pass filter is determined as follows.
  • n is the number of rotations of the shaft (r P m)
  • z is the number of peaks per rotation (peak / 1 rotation)
  • fO is the margin frequency (> n / 60, and observe the noise removal effect after filtering. ).
  • envelope waveform data after low-pass filtering or peak waveform data, or moving average waveform data.
  • Fig. 10 (c) (d), Fig. 11 (c) (d), Fig. 12 (c) (d), Fig. 13 (c) (d) show the time series with noise removed by a low-pass filter. Waveform data and spectrum.
  • FIG. 10 (e), FIG. 11 (e), FIG. 12 (e), and FIG. 13 (e) show rotation pulse waveform data.
  • FIGS. 10 (f) and 12 (f) show the envelope waveform data.
  • Figures l l (f) and 13 (f) show peak waveform data.
  • an abnormal location can be identified by the correspondence between the location where the absolute value Ix (t) I is larger than 2 ⁇ and the rotation pulse waveform data.
  • envelope waveform data and peak waveform data is shown above.
  • u (t) is used instead of x (t).
  • the singular point of the pulsation signal can be detected in the same manner as in the above procedure. If the cut-off frequency (f.) Is determined by equation (67), the moving average score (M) can be determined.
  • Fig. 16 (b) shows the flow of measurement and processing to realize the method for detecting and determining the singular component of the pulsation signal described above.
  • Fig. 18 shows the circuit of the pulsation signal measurement and state determination device for realizing Fig. 16 (b).
  • Figure 16 shows the processing flow of the status judgment device or the online status judgment system.
  • noise was removed from the measured waveform data, the characteristic parameters were obtained, and the characteristic parameters were converted to normally distributed random variables.
  • the presence or absence of a state change is determined by integration.
  • These processes can be realized by a computer or a dedicated device.
  • the detection of singular components from the pulsation signal and the state determination can be realized by a low-pass filter and the envelope (or peak value) by hardware.
  • the arithmetic unit or computer determines the normalized x (t), I x (t)> o I, The results can be displayed in real time. 7.
  • Figure 1 shows four types of measured waveform data: data Xi + larger than the average value, data X smaller than the average value;-, absolute value data after normalization by equation (1), and total waveform data X * M It is a graph which shows the example divided into.
  • FIG. 2 is a graph showing an example of the probability distribution function.
  • FIG. 3 is a graph showing an example of vibration waveform data in a normal state and a rotational axis misalignment state.
  • FIG. 4 is a graph showing the result of principal component analysis of vibration waveform data in a normal state.
  • FIG. 5 is a graph showing principal component analysis results for vibration waveform data in the state of a rotational axis misalignment.
  • FIG. 6 is a graph showing an example of vibration waveform data in a normal state and an unbalanced state.
  • FIG. 7 is a graph showing a state prediction method.
  • FIG. 8 is a graph showing an example of vibration waveform data when changing from a normal state to an unbalanced state.
  • FIG. 9 is a graph showing characteristic parameter values of the waveform of each measurement.
  • FIG. 10 is a graph showing an example of signal processing when one peak is missing due to envelope waveform data.
  • FIG. 11 is a graph showing an example of signal processing when one peak is missing due to peak waveform data.
  • FIG. 12 is a graph showing an example of signal processing in the case of a large number of peak abnormalities based on envelope waveform data.
  • FIG. 13 is a graph showing an example of signal processing in the case of a large number of abnormal peaks based on peak waveform data.
  • FIG. 14 is a graph showing how to obtain moving average waveform data.
  • FIG. 15 is a flowchart showing the flow of the pulsating signal specific component detection and abnormality diagnosis processing.
  • FIG. 16 is a flowchart showing a processing flow of the state determination device or the online state determination system.
  • FIG. 17 is a circuit diagram showing an example of a circuit of the signal measurement and state determination device, and the symbols in the figure are as follows. .
  • FIG. 18 is a circuit diagram showing an example of a circuit of the pulsation signal measurement and state determination device, and the symbols in the figure are as follows.

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Description

明細書 状態判定方法と状態予測方法及び装置
一. 技術分野
本発明は設備診断、 医療診断などにおいて、 対象物の状態変化の有無を判定す るための状態判定装置及びオンライン状態監視 ·診断システムに関するものであ る。 二. 背景技術
( 1) 従来、 状態監視の対象物から測定した波形データの確率密度関数は、 正 常状態時に 「正規分布」 に従うと仮定して状態判定を行う ([ 1 ]特許公開 2000 一 171291、 [2] 豊田利夫、 二保知也: 「正常時の振動波形のみを用いた回転機 械の異常診断」、 日本設備管理学会誌、 Vol. 11, No. 1, 1999年、 p.4- 11. [3] 劉 信芳、 豊田利夫、 陳 鵬、 馮 芳、 二保知也: information Divergenceに よる回転機械の異常診断」、 精密工学会誌、 Vol.66、 No.1, 2000年、 ρ· I57- 1δ2· )
(2) 対象物の状態変化の有無を判定するために用いる特徴パラメータを正規 分布の確率変数と仮定して統計検定を行う ([4] 河部佳樹、 豊田利夫、 江口 透、福田和久: 「無次元兆候パラメータを用いた回転機械の劣化傾向管理(ΠΙ)」、 平成 7年度日本設備管理学会秋季研究発表大会論文集、 Vol. 2、 1995年、 p.32. ) 状態監視の対象物から測定した信号が脈動信号の場合は、 特徴パラメータや確 率密度分布関数などにより状態判定が困難である。 従来、 脈動信号の中に含まれ る特異成分 (あるいは、 異常成分) を検出する方法として、
(3) 時間一周波数解析手法 (ウェーブレット解析、 ウイダナ分布解析、 短時 間 FFTなど) を用いた局所異常の検出法がある ([ 5] 章 忠、 中堀智之、 川畑 洋昭: 「高速ウェーブレツト変換およびその脳波解析への応用」、 日本機械学会 論文集 (C編)、 Vol.65, No.632, 1999年、 p. 1915-1921.)
(4) 脈動信号のピーク値などに合わせた所定の間隔でサンプリングした値は 所定の値以下、 または、 前回サンプリングした値との差が所定の値以上の場合に 異常と判定する。 ([6] 特開平 6-317215) ( 5 ) 脈動信号のピーク値などに合わせた所定の間隔でサンプリング毎の代表 値のばらつき (標準偏差) が所定のしきい値以上の場合に異常と判定する。 ([ 7 ] 特開平 7- 293311) 三. 発明が解決しょうとする課題
しかしながら、 前記従来の諸手法には次のような問題があった。
第 1と第 2の方法では、 波形データと特徴パラメータの値が正規分布に従うと 仮定しているが、実際に正常状態でも必ずしも正規分布に従うとは限らないから、 波形データと特徴パラメータの値が正規分布に従うと仮定して対象物の状態変化 を統計検定により判定すると、 誤判定をもたらす。
第 3の方法では、 処理に必要な時間が長いため、 アルタイムの特異点の検出が 困難である。
第 4と第 5の方法では、 波形データを所定の間隔でサンプリングする場合、 回 転数の変化や負荷の変化などによるピーク位置が変化した時、 サンプリング値は 正常でも大きく変化するから、 誤判定をもたらす。 また、 サンプリング毎の代表 値のばらつき (標準偏差) を計算すると、 リアルタイムの特異検出が困難である。 四. 課題を解決するための手段
上記に述べたような問題点を解決するために、 本発明においては、 測定した波 形データを既知確率分布 (例えば、 正規分布) の波形データに変換した後、 ある いは、 波形データから算出された特徴パラメータを既知確率分布 (例えば、 正規 分布) の特徴パラメータに変換した後、 統計検定や可能性理論や情報理論などに より対象物の状態判定を行う。
また、 測定した対象物の信号が脈動信号である場合は、 特徴パラメータゃスぺ ク トルなどによる特異成分の抽出及び状態判定が困難であるので、 雑音を除去し た信号の包絡線波形データを求め、 正規化された包絡線波形データおよび周期パ ルスにより信号中の特異成分を検出して状態判定を行う。 または、 上記に雑音を 除去した脈動信号のピーク波形データを求め、 ピーク波形データの正規化処理を 行い、 正規化されたピーク波形データおよび周期パルス波形データにより脈動信 号中の特異成分を検出して状態判定を行う。 五. 発明の効果
対象物の状態監視のために測定された波形データや特徴パラメータは必ずしも 正規分布に従うと限らないため、 これらの波形データあるいは特徴パラメータを 正規分布に従うと仮定して対象物の状態変化の有無を統計検定により判定し、 或 いは、 状態予測を行うと、 大きな誤差をもたらす。 本発明においては、 測定した 波形データを既知確率分布 (例えば、 正規分布) の波形データに変換した後、 あ るいは、 波形データから算出された特徴パラメータを既知確率分布 (例えば、 正 規分布) の特徴パラメータに変換した後、 統計検定や可能性理論や情報理論など により対象物の状態判定を行う。 従って、 本発明の手法は状態判定、 或いは、 状 態予測の精度が従来正規分布に従うと仮定した場合より高い。
脈動信号の場合、 測定した脈動信号の波形データには一部のピークが欠落し、 または波形データの局所に微小な特異成分が存在する時、 従来の判定法 (特徴パ ラメータやスペク トルや確率密度関数など) による検出が困難である。 本発明に おいては、 雑音を除去した脈動信号の包絡線波形データを求め、 正規化された包 絡線波形データおよび周期パルスにより信号中の特異成分を検出して状態判定を 行う。 または、 上記に雑音を除去した脈動信号のピーク波形データを求め、 ピー ク波形データの正規化処理を行い、 正規化されたピーク波形データおよび周期パ ルス波形データにより脈動信号中の特異成分を検出して状態判定を行う。 本発明 の方法では、主な信号処理はハードウエアでも実現でき、数値処理装置(計算機) にかかる負担が小さいから、 リアルタイムに異常の検出が実現できる。 また、 正 常状態の波形データを基準としないため、 脈動周期が変化しても検出と判定の結 果に与える影響が少なレ、。 六. 発明を実施するための最良の形態
1 . 特徴パラメータについて
状態判定のために用いる特徴パラメータは時間領域と周波数領域の特徴パラメ ータがある。 周波数領域の特徴パラメータは (参考文献 1 ) で定義されているも のがある。 ([ 8 ] 陳 鵬, 豊田利夫:遺伝的プログラミングによる周波数領域 の特徴パラメータの自己再組織化, 日本機械論文集 (C編), Vol. 65 No. 633, p p.1946-1953, 1998. ) ここで時間領域の特徴パラメータについて詳述する。
対象物の状態変化の有無を判定するために用いる時間領域の特徴パラメータは 次の通りである。
1) 無次元特徴パラメータ
測定した時系列波形データから、 フィルタを用いて、 低、 中、 高周波数領域の 波形データを抽出する。 抽出した波形データ X ( t ) を次式で正規化する。
X;
Figure imgf000006_0001
ここで、 χ' iは A/D変換後の X (t)の離散値であり、 と Sはそれぞれ x' iの平 均値と標準偏差である。
従来用いられる無次元特徴パラメータは式 (2) 〜式 (1 3) に示す ([9] Peng CHEN, Toshio TOYOTA, Yueton LIN, Feiyue WANG : FAILURE DIAGNOSIS OF MACHINERY BY SELF-REORGANIZATION OF SYMPTOM PARAMETERS IN TIME DOMAIN U SING GENETIC ALGORITHMS, International Journal of Intelligent Control an d System, Vol.3, No.4, pp.571—585, 1999. )
変動率: ρ^σ/μ^ (2) ここで、 μ"¾=》 - |λ-,.|/Ν 3 ) は絶対平均値で, Νはデータの総数である,
1 (4)
N-1 は標準偏差である。 -l (5) 2= (Ν-1)σ3
尖度: ' (6)
(Ν-Ι)σ4 4=μノ μ ¾ ( 7 ) こで、 μΡは波形の極大値 (ピーク値) の平均値である。
5=|μ, |/μρ ( 8 ) ここで、 | Iは波形の 1 0個の最大値の平均値である。
Figure imgf000007_0001
ここで、 σ Pは極大値の標準偏差値である。
Pl=^L/0L ( 1 0) ここで、 Lと σ まそれぞれ極小値 (谷値) の平均値と標準偏差値である。
Figure imgf000007_0002
N
Exf
p9=― ( 1 2 )
(x (1 3 )
Figure imgf000007_0003
式 (2) 〜式 (1 3) は従来の特徴パラメータであるが、 数値計算で容易に高 速計算するために、 「区間特徴パラメータ」 は式 (1 4) 〜式 (2 1 ) のように 新たに提案する。
'·=ι ( 1 4)
Figure imgf000007_0004
但し、 X i≥ k a kは任意に設定できるが、 例えば、 k =0.5 1 2。 klX iの平均値である。 tは任意に設定できるが、 例えば、 t =0.5 1 2 3 4
Figure imgf000008_0001
h\
N/,i
Figure imgf000008_0002
但し、 xh — 1ι σ、 hは任意に設定できるが、 例えば、 k =0.5、 1、 2。 μ hl は xhの平均値である。 tは任意に設定できるが、 例えば、 t =0.5、 1、 2、 3、 4。
ho
15 hP ( 1 8 ) 但し、 h。は時系列波形が単位時間あたり 0 レベルをクロースする頻度、 hPは単 位時間あたり時系列波形のピークの数である。
Pl ( 1 9 )
P ( 2 0 ) 但し、 h„„は波形が単位時間あたり ησ レベルをクロースする頻度である。 ηは 任意に設定できるが、 例えば、 η =0.5、 1、 2。
-na ( 2 1 ) 18 ho 但し、 h-n。は波形が単位時間あたり- ησ レベルをクロースする頻度。 である。 ηは任意に設定できるが、 例えば、 η =0.5、 1、 2。
2 ) 有次元特徴パラメータ
有次元特徴パラメータを計算するとき、測定した波形データに対して、式(1 ) のような正規化をしない。
Figure imgf000008_0003
波形データの絶対平均値: ( 2 2)
Ν 波形データの実効値: —^ ( 2 3)
^ Γ 波形データの絶対値のピーク平均値: ζ^ 1"^ ( 2 4 ) ここで、 | xiしは波形データの絶対値のピーク値 (極大値)、 NPはピーク値の総 数である。 波形データの絶対値のピーク実効値: ( 2 5 )
Pd4= ~" なお、 上記の特徴パラメータ以外にも多くの特徴パラメータが定義できるが、 本方法を応用するとき、 まず上記の特徴パラメータで試し、 もし状態識別の効果 が良くなければ、 更に他の特徴パラメータを追加定義すればよい。
2 . 波形データと特徴パラメータを指定の確率分布への変換
測定した波形データを で、 波形データから算出した特徴パラメータを で表 す。 X*iあるいは P*iを用いて、 統計理論により状態判定や状態予測を行う場合、 A あるいは ϊΛがどのような確率分布に従うか事前に知る必要がある。 しカゝし、 χ あ るいは P*iがどのような確率分布従うかは事前に知らない場合が多い。 そこで、 指 定の既知確率分布関数を∑とすると、 次式を用いて x*iあるいは ιΛを∑に従う確率 変数 Xiあるいは Piに変換することができる。
Figure imgf000009_0001
ここで、 Fxi (x*i)と FPi ( )はそれぞれ x*iと ιΛとの累積確率分布 (或いは、 累積度 数分布) であり、 ∑ は∑の逆関数である。 例えば、 ∑は正規分布、 ワイブル分 布、 指数分布、 ガンマ分布などである。 X あるいは を あるいは Piに変換した 後、 統計検定などを用いて状態判定や状態予測を行う。
なお、 元の波形データ x*iは図 1のように 4種類に分けられる。 つまり、 平均値 より大きいデータ Xi+、 平均値より小さいデータ -、 式 (1 ) による正規化後の絶 対値データ i xi |及び全体波形データ χ*ίΛであり、それぞれの累積確率分布(或いは、 累積度数分布) は FX (X i+)、 Fxi— (Xi -)、 ?^ ( | | )及ぴ1^ )で表すが、 以下、 特 に指定しなければ、 統一に Fxi (x*i)で表す。 また、 特徴パラメータ p*iは正規化後の Xi+と Xi -、 I Xi I及び X*iAのいずれかで計算される。
ここで、 例として、 ∑を正規分布に指定した場合、 X*iあるいは p*iを正規分布 に従うように変換する方法について詳述する。
正規分布の確率密度関数 f(t)は次式で表す。
Figure imgf000010_0001
ここで、 は確率変数 tの平均値で、 σは標準偏差である。
( 1 ) 基準状態を参照する場合
測定対象の基準状態、 例えば、 1回目測定した時の状態、 を決めて、 この時の 波形データ X*i。あるいは特徴パラメータ 。の確率密度関数と累積確率分布関数を それぞれ fx。(x*i。)と Fx。(x*i。)あるいは fP。(p*i。)と FP。(p*i。)とする。 平均値 μが 0で標準 偏差 σが 1である標準正規分布の確率密度関数を φ (χ 、 標準正規分布の確率分 布関数を Φ 0 )とする。 なお、 離散データである X あるいは p*i。の確率密度関数 の替わりに 「頻度分布関数」 や「ヒスとグラム」 を用いてもよいが、 以下には「確 率密度関数」 を用いて説明する。
1 ) 正規分布に従う平均値に変換する方法
状態 kでの x*ikと p*ikを次式でそれぞれ正規分布に従う平均値 xik。と μ Pik。に変換 さ
Figure imgf000010_0002
ここで、 Φ-1は Φの逆関数で、 σ χί0と σ Ρπ)はそれぞれ正規分布に変換された x*ik と p*ikとの標準偏差であり、 次式で求められる。
< ^ 1畴) (3 1) ^ (嘛
( 3 2) 平均値 μ xik。 と μ piko を用いて状態判定や状態予測を行う。
2) 直接変換法 状態 kでの x と p を次式で正規分布の確率変数に変換する。
φ-1 (Fo (½ ))+ ^ (3 3)
Figure imgf000011_0001
(Pik ))+μ (34) ここで、 Sxkと SPkはそれぞれ x*ikと p*ikの標準偏差で、 と; uPkはそれぞれ x*ikと p*ik の平均値である。 x' あるレ、は ρ' を用レ、て状態判定や状態予測を行う。
(2) 基準状態を参照しない場合
まず、 状態 kでの波形データ x*ikと特徴パラメータ p との確率密度関数 (ある いは、 頻度分布) をそれぞれ d)と f (p*ik)とし、 確率分布関数 (あるいは、 累積度数分布) を Fxk(x*ik)と FPk(p*ik)とする。
1) 直接変数変換法
波形データ x*ikと 特徴パラメータ p*ikを次式で正規分布の確率変数に変換する。
二 -1 (F^ (Xik ))+μ^ (3 5)
Figure imgf000011_0002
ここで、 Sxkと SPkはそれぞれ x*ikと p*ikとの標準偏差で、 / xkと /zPkは x*ikと p*ikとの平 均値である。 x' ikあるいは ikを用いて状態判定ゃ状態予測を行う。
2) 正規分布に従う平均値に変換する方法
正規分布に従う平均値は次式で求められる。
Figure imgf000011_0003
^pik=Pik ^Pik^'l^pk(p*k ))
(38) ここで、、 とび pikは次式で求められる。 σ^7^ φ(φ"Ι(Ρ ¾ )))
σ = ^ φ(φ-1 )))
Jpk ik) (40) Aixiltと は正規分布に従うので、 /z あるいは AiPikを用いて状態判定や状態予 測を行う。
3) 間接変換法
M個の特徴パラメータ p*ikの最小値と最大値をそれぞれ (p*ik) ^と (p*ik)raaxとす る。 (p*ik) ^から(p*ik) maxまで N個の等間隔区間に分割する。 各区間の代表値 (例え ば、 中央値) を p*iWとする。 ここで、 j=l〜N。 p*ikjを p*ikの替わりに式 (36) ま たは式 (38) に代入すると、 N個の p',ikまたは ' が得られる。 p"ikまたは μ ' を用いて状態判定や状態予測を行う。
同様に、 Μ個の波形データ x*ikの最小値と最大値をそれぞれ (x*ik)^と (x Laxと する。 (x*ik)minから( ) まで N個の等間隔区間に分割する。 各区間の代表値 (例 えば、 中央値) を x*ikjとする。 ここで、 j=l〜K。 x*ikjを X の替わりに式 (35) または式 (34) に代入すると、 K個の x' ' ikまたは '^が得られる。 χ'Άまた は を用いて状態判定や状態予測を行う。
4) 特徴パラメータ p*ikの区間平均値を求める方法
N個特徴パラメータ p*ikを求めた後、 M組に分割して第 j組の平均値は次のように 求める。
'·=ι (41) ここで、 Ν' は第 j組にある p*ikの数である。 は近似的に正規分布に従うので、 μ を用いて状態判定や状態予測を行う。
波形データ x*ikを式 (29)、 式 (33)、 式 (35)、 式 (37) で正規確率分 布の波形データに変換した ^ 、 X' ik。、 ' ik 、 /i xik , X" ik , ^は 「正規分布 の波形データ」 と呼ぶ。 また、 特徴パラメータ p*iを式 (30)、 式 (34)、 式 (36)、 式 (38) で正規確率変数に変換した μ piko 、 p' 。 、 p' ik 、 μ Plk 、 p' ' は 「正規分布の特徴パラメータ」 と呼ぶ c
3. 正規分布の特徴パラメータによる状態判別方法
ここで、 正規分布の特徴パラメータを用いて、 対象物の状態を判別する方法を 述べる。
(1) 統計理論による判別
1) 正規分布の特徴パラメータの平均値の検定
状態 kと状態 yで求めた正規分布の特徴パラメータをそれぞれ pikPiyとする。 ここで、 i= l〜M、 Mは使用する正規分布の特徴パラメータの総数を表す。 と piyとの平均値をそれぞれ と iy、 pikと piyとの標準偏差をそれぞれ Sikと Siyとす る。 一般に J個の Pjの平均値 ίと標準偏差 Sは次の式で計算する。
J
(42)
Figure imgf000013_0001
s2=
J-l (43) μ と iyが等しいか否かの検定は次のように行う (参考文献 3参照)
文 3 ) K. A. Brownlee. Statistics丄 Theory and Methodology in Scie nce and Engineering, Second Edition, The University Chicago, 1965
¾- , |>- -/α/2(ΐ-ΐ)
V J (44) が成立すれば、 有意水準ひで 「 /i ikと / Z iyとが等しくない」 と判定する。 ここで、 ta/2(J- 1)は自由度 J-1の t分布の確率密度関数が下側確率 α/2に対するパーセント 点である。
2) 正規分布の特徴パラメータの分散の検定
Sikと Siyが同じか否かの検定は次のように行う (参考文献 4参照)。
(参考文献 4ノ K. A. Brownlee. Statistical Theory and Metnodology in Scie nce and Engineering, Second Edition, The University Chicago, 1965
- ->Fa/2(J-l,J-l) or >Fa/2(J-l,J-l)
^iy1 ¾ (45) が成立すれば、 有意水準 aで 「Sikと Siyとが等しくない」 と判定する。 ここで、 Fa/2(J-1, J-l)は自由度 J- 1の F分布の確率密度関数が下側確率 a /2に対するパー セント点である。
有意水準 aを変えたとき、 式 (44) または式 (45) を満足するか否かを確 認することにより、 状態 yが状態 kに対する状態変化の程度を決める。 状態変化 の程度を有意水準 aにより決定する例は表 1に示す。 なお、 設備診断の場合、 状 態 kを正常状態とすれば、 状態 yは正常状態か、 注意状態か、 危険状態かの判別 については、 表 1のように 「正常」 ( ,)、 「注意」 (ひ 2)、 及び 「危険」 (a 3) の ように設定し検定することができる。 つまり、 式 (44) または式 (45) はひ 'の時に成立しなければ 「正常」 と判定する。 また、 式 (44) または式 (45) は α; 2の時に成立すれば 「注意」 と、 α 3の時に成立すれば 「危険」 と判定する。 なお、表 1中の αの数値範囲は例であり、設備の重要度などによって決められる。 数個の特徴パラメータを用いて状態判定を行う場合、 判定の結果は最も状態変 化が大きいと示した特徴パラメータの判定結果に従われる。 例えば、 3つの特徴 パラメータ ρ ρ2、 Ρ3 を用いて判定するとき、 Plの判定結果が 「注意」、 ρ2の判定 結果が 「正常」、 ρ3の判定結果が 「危険」 である場合、 最終の判定結果は 「危険」 とする。
表 1
Figure imgf000014_0004
3) 信頼区間による判定
基準時点で測定した波形データから求めた正規分布の特徴パラメータの平均値 を /ii。とし、 他の時点で測定した波形データから求めた正規分布の特徴パラメ一 タの平均値を ikとすると、 β ί0 の信頼区間は次式で与えられる。
Figure imgf000014_0001
(46) ここで、 /2(J- 1)は自由度 J- 1の t分布の確率密度関数が下側確率 ct/2に対する パーセント点である。 Si。は波形データから求めた Pi。の標準偏差である。 は式 (46) に示す区間内にあれば、 1-ひの確率で A 。との差がないという。 /ii。の 99
°/0信頼区間は、 J>10のとき、 近似的に次のようになる。
Figure imgf000014_0002
従って、 は式 (4 7) の範囲を超えれば、 99%の確率で i。と違うと判定す る。 更に、 測定した波形データで求めた の信頼区間は、 次式で求められる。 μ,. ±3S' VJ (48) ここで、 Sikは波形データから求めた pikの標準偏差である。
表 1の αを式 (46) に代入すれば、 次のような信頼区間が得られる。 状態変化がない区間 (正常) :
Figure imgf000014_0003
(49) 状態変化が中である区間 (注意) :
Figure imgf000015_0001
(5 0) 状態変化が大きい区間 (危険) μ!'0± 17}
σ3' (5 1) kがこれらの区間内にあるか否かによって状態の判定を行う。
数個の特徴パラメータを用いて状態判定を行う場合、 最終の判定結果は式 (4 9), (50), (5 1) に記述される内容と同じである。
(2) 可能性理論による判別
1) 可能性分布関数の作成
状態 kにおける波形データで正規分布の特徴パラメータ P iの値を算出した後、 P iの確率密度関数 f k (p から可能性分布関数 Pk (P i) を式 (5 2) で求 める。 可能性理論によれば、 p iがどのような確率分布に従っても、 その可能性 分布関数が求められる。 p iが正規分布に従う場合、 N段の可能性分布関数 p k (p は次のように求める (参考文献 5参照),
Figure imgf000015_0002
但し、 上式中、 p i x = min{ p i}+xX (max{pj _min{ p J) N、 x= l〜N, 31は の標準偏差, はの pi平均値である。
(参考文献 5) L. Davis: HANDBOOK OF GENETIC ALGORITHMS, Van Nostrand Rei nhold, A Division of Wadsworth, Inc ( 1 990)
2) 可能性の求め方
図 2のように、 状態 kと状態 yで求めた正規分布の特徴パラメータ Piの可能性 分布関数を Pk (pO と Py (ρ とし、 状態 yで求めた正規分布の特徴パラメータ の値を P'iとすると、 「状態 yが状態 kと同じである」 という可能性 wは次のよう に求められる。
a) p' iの平均値 p' im e a nと Pk (pi) とのマッチングによる wの決定、 b) Py (Pi) と Pk (Pi) とのマッチングによる wの決定。
なお、 Py (Pi) と Pk (Pi) とのマッチングによる wを求める式は次に示す。
+∞ 一 (5 5)
3) 状態変化の判別
状態 kで求めた正規分布の特徴パラメータ Piの可能性分布関数 p k (Pi) が得 られた後、 左右両側の 「状態変化が小さい」 の可能性分布関数 (pcl (Pi) と p c2 (ρΟ)、 および 「状態変化が大きい」 の可能性分布関数 (pdl (Pi) と pd2 (P
0) は図 2に示すように決定する。 境界値の
μ土 ,, μ士ゾ 'S!' (56) における i, jはユーザ入力により決定するが、 標準値として i=3、 j=6とする。 設備診断の場合'、 正常状態の可能性分布関数を P k (p 、 注意状態の可能性 分布関数を p cl (pi) と p c2 (Pi)、 危険状態の可能性分布関数を (pi) と p d2 (pi) とする。 実際の識別時に得られた 「正常」 と 「注意」 と 「危険」 との可 能性は図 2のように表示する。 また、 「危険」 と判定した場合、 警報を出すこと も可能である。
( 3 ) 情報理論による状態判別法
対象物の基準状態における正規分布の特徴パラメータの確率密度関数を f P。 (Pi) し、 基準状態以外における正規分布の特徴パラメータの確率密度関数を (Pi)と する。 なお、 基準状態以外の時点での状態を 「テスト状態」 と呼ぶ。 テスト状態 が基準状態と同じ状態であるか否かは次の ("Kullback- Leibler Information (力 ルバック情報量、 KI)」 と 「Information Divergence (情報ダイパージエンス、 ID) J で判定できる。 -ゾ》 '·
1 , 丄 σ Φθ2+0½ο-μ )2
+ ~~ ^ -1} (5 7)
Figure imgf000017_0001
_ 1 OipO^dlipO-^ipkf^^H^ipO-V-ipk)2
=T{ O ~ipi 一22 "2} ( 5 8 )
Kipと IDP による状態判別法は [1 0] に詳細に記述しているので、 ここで省略 する。 ([ 1 0] 劉 信芳、 豊田利夫、 陳 鵬、 馮 芳、 二保知也: 「Informatio n Divergenceによる回転機械の異常診断」、 精密工学会誌、 Vol.66、 No.1、 2000 年、 .157-162. )
( 4 ) 複数の特徴パラメータを統合することによる状態判別法
数個の特徴パラメータを統合して、 状態変化の有無や状態予測を行うこともで きる。 特徴パラメータの統合法は、 主成分分析法や KL展開法などがあるが、 特徴 パラメータの統合法により求めた新たな特徴パラメータは「統合特徴パラメータ」 とよぶ。 ここで、 主成分分析法の例を示す。 ([ 1 1 ] 大津, 栗田, 関田著:パ ターン認識, 朝倉書店、 1996.)
例えば、設備診断の場合、設備の正常状態下で求めた無次元特徴パラメータ(Pl, p2, '··,ρ) に対して、 m個の主成分は次のように表されます。
ζιηΡι +α ρ2 + -- + almpm
z2 = a2ipx + a22p2 +■■■ + a2mpm ( 5 o ) zm = am\P\ + amlPl ,"
各主成分 Zl〜Z» は 「統合特徴パラメータ」 とも呼ぶ。
相関行列は次のように求められます。
'11 r12 "' r\n
'21 Γ22 "" ·2η
R = (6 0) ml rm2 ここで、 正常状態で収録した n組のデータを {plk, p2k, ··· pmk} k=l,2, ·'·,η とすると、
Figure imgf000017_0002
相関行列 Rの固有べク トル、 ぇ= (λ ,, λ ', λ m) , λ λ λ とすると、
Figure imgf000018_0001
固有値え i に対応する式 (5 9) の係数が求まり、 第 i番目の主成分は次のよ うに求められます。
= αηρλ + ai2p2 +■■■ + aimPm (6 3) 主成分を用いて次式のように状態判定を行う。
一つ 2
≤Z2(K, a)
(6 4) ここで、 Kは使用する主成分の数、 αは有意水準、 %2 (Κ, a) は自由度 Kの力 ィ 2乗分布の確率密度関数が上側確率 aに対するパーセント点である。 αの決定 法は表 1同じである。 なお、 Κ=3に対して α=0· 05のとき、 2 (3,0.05) =7.815 である。
なお、 式 (6 4) に示す判定方法以外に、 特徴パラメータの統合法により求め た統合特徴パラメータ、 例えば、 式 (6 3) に示す主成分、 を正規分布の確率変 数に変換した後、 統計検定や可能性理論により状態判定を行うこともできる。 ここで、 実例を示す。 図 3はある回転機械の正常状態時 (図 3 (a)) と回転軸 ミスァライメント状態時(図 3 (b)) に測定した振動の加速度波形データである。 図 4 (a)及び図 5 (a)は式 (2) 〜式 (1 3) 及び式 (1 8) 〜式 (2 1) に示す 1 4個の無次元特徴パラメータを 6 0回求め、 正規分布変換を行う前に、 K=3の ときに求めた式 (6 4) 右側の値 (6 0個) を示す。 図 4 (b)及び図 5 (b)は式 (3 1) に基づいて正規分布変換を行った後、 K=3のときに求めた式 (64) 右側の値
(9個) を示す。 これらの図により、 正規分布変換後の結果は正規分布変換前の 結果より良好であることがわかる。 なお、 「良好である」 とは、 式 (6 4) 左側 の値は正常状態の時に小さく、 異常状態の時に大きいということである。
4. 正規分布の波形データによる状態判別方法
(1 ) 特徴パラメータによる状態判別法
対象物から計測された波形データ x*i (例えば、 図 6 (a)、 (c)) を式 (3 3) に より正規分布の波形データ x'ik。 (例えば、 図 6 (b)、 (d)) に変換した後、 正規分 布の波形データ ik。を用いて前述の正規分布の特徴パラメータによる状態判別方 法で状態判定を行うことができる。 なお、 この方法は正規分布の波形データ β xiko と X' ik。に適用できる。
(2) 情報理論による状態判別法
基準状態の正規分布の波形データの確率密度関数を fx。(x とし、 基準状態以外 の時点での正規分布の波形データの確率密度関数を fxk(Xi)とする。 なお、 基準状 態以外の時点での状態を 「テスト状態」 と呼ぶ。 テスト状態が基準状態と同じ状 態であるか否かは次の「Kullback - Leibler Information (力ルバック情報量、 KI) J と 「Information Divergence (情報ダイパージエンス、 ID)」 で判定できる。
„ KTI J c°° t
f^— -dxi
"∞ fxk{xi) t= ) l ¾C¾rPhi)2 、o o
Figure imgf000019_0001
一 、 ixi 2 " (66)
KLと IDxによる状態判別法はに詳細に記述しているので、 ここで省略する。 ([1 2] 劉 信芳、 豊田利夫、 陳 鵬、 馮 芳、 二保知也: 「Information Divergen ceによる回転機械の異常診断」、 精密工学会誌、 Vol.66、 No.1、 2000年、 p.157- 162. )
ここで、 実例を示す。 図 6 (a)はある回転機械の正常状態時に測定した振動加 速度の波形データである。 図 6 (c) は同じ回転機械のアンバランス時に測定し た波形データである。
平均値以上の波形データ X 、 平均値以下の波形データ Xi -、 及び絶対値データ |x i| を正規分布の波形データに変換した後、 それぞれ x'i+x'i -、 及び il'で表す。
X' i -、 及び |xi|,の平均値と標準偏差は次の通りである。
x' ί+:正常時の平均値 =0.69、 アンバランス時の平均値 =1.96
正常時の標準偏差 = 1.03、 寺の標準偏差 =2.37
:正常時の平均値 = -0.37、 寺の平均値 = -0.66
正常時の標準偏差 =0.47、 I寺の標準偏差 =0.69 |Xiに :正常時の平均値 =1.45、 アンバランス時の平均値 = 3·29
正常時の標準偏差 =1.52、 アンバランス時の標準偏差 =3.53
(参考文献 8) によると、 過検出率ひ =0.15、 見逃率 =0.15とすると、 ΚΙ〉1. 21或いは ID〉2.43ならば、 85%ηの確率で 「テス ト状態は基準状態と違う」 と判定 できる。 上記の x'i+、 x,i -、 及び |xi|'の KIと IDは次の通りである。
x' i+: KI=0.519, ID=2.24
x, i-: KI=0.53, ID=0.40
|xi|' : KI=0.57, ID=2.67
|xi|,の ID〉2.43から、 85%nの確率で 「図 6 (a)の状態は図 6 (c)の状態と違う」 と判定できる。
また、 式 (44) と式 (45) に示す平均値と分散の検定により状態判定を行 つてもよレヽ。
更に、 上記の x'i+、 x'i -、 及び |xi|,を用いて、 式 (2) 〜式 (25) で特徴パ ラメータを求めて、 統計検定や可能性理論及び特徴パラメータの統合法により状 態判定を行うこともできる。
5. 状態予測
正規分布の特徴パラメータ Pi が求められた後、 従来の状態予測手法を用いて、 測定対象の状態を予測することが行える ([ 1 3] 石川真澄、 武藤博道:予測手 法、 計測と制御、 1982.3. [14] Ogawa, M. : Time series analysis and sto chastic prediction, Bull. Math. Stat. , 8, 8—72, 1958. [1 5] B.ピカニォ ル著、 小村賢二、 柴山宫恵子訳:予測のための統計学、 晃洋書房、 1987.) 図 7は状態予測の方法を示す。 各測定時点(Xl〜x で測定した特徴パラメータ 値、 或いは、 主成分値を正規確率分布に従うように変換した後、 回帰解析により 予測曲線とその信頼区間を求め、 「寿命限界」 との交点で 「最短寿命」、 「平均寿 命 J 及び 「最長寿命」 を求める。
図 8はある回転機械が正常状態からアンバランス状態へ変化していく間に 8回 測定した波形例である。 測定 1は正常状態であり、 測定 8は最も程度の重いアン バランス状態である。 図 9は式 (2) 〜式 (1 3) で求めた、 各測定における特 徴パラメータの平均値を示す。 この例でわかるように、 特徴パラメータは異常状 態の程度が重くなつていくにつれて値が単調増加の特徴パラメータ (例えば、 p4, p5) があれば、 値が単調減少の特徴パラメータ (例えば、 ρ2, Ρ8, Ρ9, Ρπ») もある。 また、 異常状態の程度が重くなつても値がほぼ不変な特徴パラメータ (例えば、 p., ρτ) もある。 従って、 値が単調増加 (或いは、 単調減少) の特徴パラメータを 選んで、 寿命予測を行うべきである。 また、 主成分により寿命予測を行う時、 値 が単調増加の特徴パラメータのみ (或いは、 単調減少の特徴パラメータのみ) を 選んで、 主成分を求めて寿命予測を行うべきである。
上記に述べた波形データと特徴パラメータを正規分布の確率変数に変換する手 法、 状態判定手法及び状態予測手法を実現するための計測と処理の流れは図 1 6 (a)に示す。 また、 図 1 6 (a)を実現するための波形データ計測及び状態判定装置 の回路は図 1 7に示す。
6 . 脈動信号から特異成分の検出法及び状態判定法
ここで、 ガスエンジン失火診断の例を用いて説明する。
図 1 0 (a)、 図 1 1 (a)、 図 1 2 (a)、 図 1 3 (a)はガスエンジン失火 (図中のピ ーク値の異常個所) が発生したときのシリンダ圧力波形データである。 なお、 図 12 (a) , 図 13 (a)は多数の異常ピークが連続して発生する例を示す。 このような脈 動信号に発生する局所異常 (特異成分) に対して、 オンライン特異点の検出及び 状態判定の流れは図 1 5に示す。 以下、 その手順を説明する。
1 ) . 診断ための準備 (図 1 5 (a) )
( 1 ) 診断対象の脈動信号と回転パルス信号を同時に計測する。 なお、 回転パ ルス信号は周期パルス信号とも言い、 脈動信号の各ピーク値のタイミングを決め るときに用いられる。
( 2 ) 雑音を除去するために, ローパスフィルタリングを行う。 ローパスフィ ルタの力ットオフ周波数 fLは次のように決定する。
Figure imgf000021_0001
ここで、 nは軸の回転数 (rPm)、 zは 1回転毎のピーク数 (ピーク / 1回転)、 fOは余裕周波数 (> n/60、 フィルタリング後のノイズ除去効果を観察することに より決定する) である。
( 3 ) ローパスフィルタリング後の包絡線波形データ、 または、 ピーク波形デ ータ、 または、 移動平均波形データを求める。 (4) 上記の包絡線波形データ、 または、 ピーク波形データ、 または、 移動平 均波形データの正規化を次式のように行う。
' (り- μ' (り
χ(り
S (68) ここで、 x(t)は正規化後の波形データ、χ' (t)は元の波形データ、 μ, (t)は χ' (t) の平均値、 sは x' (t)の標準偏差である。 なお、 ;U ' (t) と sを求めるとき、 正常状 態の波形データが望ましいが、 正常状態の波形データでなくてもよい。 また、 μ ' (t)と sを求めるとき、 運転条件 (回転数や負荷) をできるだけ判定のときと同 じょうに設定する。 但し、 運転条件が多少変化しても判定結果に大きく影響しな い。
(5) 回転パルス信号のピークと脈動信号のピークとの相対位置関係を調べ て置き、異常を識別するための閾値を決定する。閾値の決定は次のように考える。
I x(t) I >ka (69) のとき、 異常が発生したと判定する。 ここで、 k (=2〜4) は診断対象物によって 決定する。
I x(t) I 力 より大きい間、 回転パルス信号に対応する脈動信号のピークの 所に異常があると判定する。
2). オンライン診断 (図 1 5 (b))
( 1 ) 判定対象物の脈動信号と回転パルス信号を同時に計測する。
(2) ローパスフィ^/タリングを行う。 口一パスフィ^^タのカッ トオフ周波数 fLは式 (66) のように決定する。
(3) ローパスフィルタリング後の包絡線波形データ、 または、 ピーク波形デ ータを求める。
(4) 上記の包絡線波形データ、 または、 ピーク波形データの正規化は式 (6 8) により求める。
(5) 正規化された包絡線波形データ、 または、 ピーク波形データの絶対値は 閾値 (ka) より大きいか否かを監視する。 大きくなければ、 異常がないと判定 する。 大きければ、 異常が発生したと判定し、 | x(t) I 力 ¾びより大きい間、 前 もって測って置いた回転パルス信号と脈動信号のピークとの関係により、 異常の 箇所を判定する。 上記の手順に基づく信号処理の例を図 1 0、 図 1 1、 図 1 2、 図 1 3に示す。 図 1 0 (a) (b;)、 図 1 1 (a) (b)、 図 1 2 (a) (b)、 図 1 3 (a) (b)ガスエンジン失火
(図中の異常箇所) が発生したときのシリンダ圧力の時系列波形データとスぺク トルである。
図 1 0 (c) (d)、 図 1 1 (c) (d)、 図 1 2 (c) (d)、 図 1 3 (c) (d)はローパスフィル タにより雑音を除去した時系列波形データとスぺク トルである。
図 1 0 (e)、図 1 1 (e)、図 1 2 (e)、図 1 3 (e)は回転パルス波形データである。 図 1 0 (f)、 図 1 2 (f)は包絡線波形データである。
図 l l (f)、 図 1 3 (f)はピーク波形データである。
図 1 0, 1 1, 1 2 , 1 3の(f)で分かるように、 異常 (ピークの欠落、 また は、 小さくなる) が発生した場合、 その絶対値 1 x(t) Iが 2 σより大きくなるこ とが判明できる。
また、 絶対値 I x(t) Iが 2 σより大きくなる箇所と回転パルス波形データとの 対応関係により異常箇所を判明できる。
上記に包絡線波形データとピーク波形データの例を示したが、 図 1 4に示すよ うに、 移動平均波形データ ( ) を求めたら、 x(t)の替わりに u(t)を用いて上記 の手順と同様に脈動信号の特異点検出ができる。 なお、 カットオフ周波数 (f。) は式 (6 7) により求めたら、 移動平均の点数 (M) が求められる。
上記に述べた脈動信号の特異成分の検出と判定方法を実現するための計測と処 理の流れは図 1 6 (b)に示す。 また図 1 6 (b)を実現するための脈動信号計測及び 状態判定装置の回路は図 1 8に示す。
7. 状態判定装置、 または、 オンライン状態判定システムの処理流れ
状態判定装置装置、 または、 オンライン状態判定システムの処理流れは図 1 6 に示す。 図 1 6 (a)に示すように、 測定波形データからノイズを除去し、 特徴パ ラメータを求め、 その特徴パラメータを正規分布の確率変数に変換した後、 統計 検定や可能性理論や特徴パラメータの統合により状態変化の有無判定を行う。 こ れらの処理は計算機または専用装置で実現できる。 また、 図 1 6 (b)に示すよう に、脈動信号からの特異成分検出及び状態判定は、 ローパスフィルタ、包絡線(ま たは、 ピーク値) はハードウェアで実現できる。 数値演算装置(または、 計算機) は正規化した x(t)、 I x(t) > o Iの判定、 特異箇所の検出と判定および判定結 果の表示を行えばよいから、 リアルタイムに行える。 七. 図面の簡単な説明
図 1は、 測定した波形データを 4種類、 つまり、 平均値より大きいデータ Xi+、 平 均値より小さいデータ X; -、 式 (1 ) による正規化後の絶対値データ 及び全体 波形データ X*Mに分ける例を示すグラフである。
図 2は可能性分布関数の例を示すグラフである。
図 3は正常状態と回転軸ミスァライメント状態の振動波形データの例を示すグラ フである。
図 4は正常状態の振動波形データに対する主成分分析結果を示すグラフである。 図 5は回転軸ミスァライメント状態の振動波形データに対する主成分分析結果を 示すグラフである。
図 6は正常状態とァンバランス状態の振動波形データの例を示すグラフである。 図 7は状態予測方法を示すグラフである。
図 8は正常状態からァンバランス状態へ変化していく時の振動波形データの例を 示すグラフである。
図 9は各測定の波形の特徴パラメータ値を示すグラフである。
図 1 0は包絡線波形データによる 1個のピークが欠落した場合の信号処理例を示 すグラフである。
図 1 1はピーク波形データによる 1個のピークが欠落した場合の信号処理例を示 すグラフである。
図 1 2は包絡線波形データによる多数のピーク異常の場合の信号処理例を示すグ ラフである。
図 1 3はピーク波形データによる多数のピーク異常の場合の信号処理例を示すグ ラフである。
図 1 4は移動平均波形データの求め方を示すグラフである。
図 1 5は脈動信号の特異成分検出及び異常診断処理の流れを示すフローチヤ一ト である。
図 1 6は状態判定装置、 または、 オンライン状態判定システムの処理流れを示す フローチヤ一トである。 図 1 7は信号計測及び状態判定装置の回路の一例を示す回路図であり、 図中の符 号は次の通り ある。 .
1 センサ、 2 アンプ、 3 フィルタ、 4 信号処理 '計算装置、 5 表示出 力装置、 6 データ用 RAM、 7 AD変換器、 8 DCポート、 9 S C I (シ リアル . コミュニケーション . インタフェース)、 1 0 CPU、 1 1 フラッ シュ ROM、 1 2 外部コンピュータ.
図 1 8は脈動信号計測及び状態判定装置の回路の一例を示す回路図であり、 図中 の符号は次の通りである。
1 センサ、 2 アンプ、 3 フィルタ、 4 包絡線処理部、 5 周期パルスセ ンサ、 6 表示出力装置、 7 AD変換器、 8 DCポート、 9 SC I (シリ アル · コミュニケーション ' インタフェース)、 1 0 CPU, 1 1 フラッシ ュ ROM、 1 2 外部コンピュータ.、 1 3 データ用 RAM、 14 信号処理 ' 計算装置.

Claims

請求の範囲
1 . 状態監視の対象物の波形データを複数の周波数帯域において測定するステツ プと、 前記測定された波形データから雑音を除去するステップと、 前記雑音を除 去された波形データを用いて時間領域及び周波数領域の特徴パラメータを原始特 徴パラメータとして定義し計算するステップと、 前記計算された原始特徴パラメ ータを、 予め指定した確率分布に従う、 既知分布の特徴パラメータに変換するス テツプと、 前記既知分布の特徴パラメータを用いて、 対象物の状態判定及び状態 予測を行うステップと、 を有し、 対象物の状態判定と状態予測を行う方法であつ て、 前記時間領域及び周波数領域の特徴パラメータを原始特徴パラメータとして 定義し計算するステップにおいて、 前記原始特徴パラメータは無次元特徴パラメ ータであれば、 前記雑音を除去された波形データを正規化した後、 算出されるこ とと、 前記原始特徴パラメータを既知分布の特徴パラメータに変換するステップ において、 対象物の基準状態を参照する場合と、 対象物の基準状態を参照しない 場合と、 に分けて変換することと、 を特徴とする方法であり、 この方法を実行す るために、 対象物の波形データを取得するためのセンサ、 アンプ、 フィルタ、 信 号処理 ·計算装置、 及び表示出力装置を備えた、 対象物の状態判定と状態予測を 行う装置。
2 . 前記原始特徴パラメータは、 前記正規化された波形データを平均値より大き い波形データ、 平均値より小さい波形データ、 絶対値波形データ及び全体波形デ ータに分けて正規分布に変換した後、これらの波形データにより算出される方法。
3 . 前記原始特徴パラメータのうち、 区間特徴パラメータの定義と計算を行う方 法。
4 . 前記原始特徴パラメータを既知分布の特徴パラメータに変換するステップに おいて、前記原始特徴パラメータの確率分布と平均値と分散を求めるステップと、 前記原始特徴パラメータの確率分布と平均値と分散を用レ、て既知分布の特徴パラ メータの値を求めるステップと、 を有する。
5 . 前記既知分布の特徴パラメータを用いて、 統計理論と可能性理論と特徴パラ メータの統合法と情報理論とにより対象物の状態判定及び状態予測を行う方法。
6 . 前記既知分布の特徴パラメータを用いて特徴パラメータの統合法により求め
- 24 - 差替え用紙 (規則 26) た統合特徴パラメータを、 予め指定した確率分布に従う、 既知分布の統合特徴パ ラメータに変換し、 既知分布の統合特徴パラメータを用いて統計理論と可能性理 論により対象物の状態判定及び状態予測を行う方法。
7 . 前記の諸方法において、 状態変化につれて値が単調増加する特徴パラメータ あるいは統合特徴パラメータのみ、 あるいは、 値が単調減少する特徴パラメータ あるいは統合特徴パラメータのみ、を選出して、状態判定と状態予測を行う方法。
8 . 前記予め指定した確率分布が正規分布である場合の状態判定と状態予測を行 う方法。
9 . 対象物の状態監視のために、 波形データを複数の周波数帯域において測定す るステップと、 前記測定された波形データから雑音を除去するステップと、 前記 雑音を除去された波形データを、 予め指定した確率分布に従う、 既知分布の波形 データに変換するステップと、 前記既知分布の波形データを用いて対象物の状態 判定及び状態予測を行うステップと、 を有し、 対象物の状態判定と状態予測を行 う方法であって、 前記雑音を除去された波形データを既知分布の波形データに変 換するステップにおいて、 波形データを正規化し、 対象物の基準状態を参照する 場合と、 対象物の基準状態を参照しない場合と、 に分けて変換することを特徴と する方法であり、 この方法を実行するために、 対象物の波形データを取得するた めのセンサ、 アンプ、 フィルタ、 信号処理 ·計算装置、 及び表示出力装置を備え た、 対象物の状態判定と状態予測を行うコンピュータ装置。
1 0 . 前記雑音を除去された波形データを平均値より大きい波形データ、 平均値 より小さい波形データ、 絶対値波形データ及び全体波形データに分けて、 予め指 定した確率分布に従う、 既知分布の波形データ変換する方法。
1 1 . 前記既知分布の波形データを用いて特徴パラメータと情報理論により対象 物の状態判定及び状態予測を行う方法。
1 2 . 前記予め指定した確率分布が正規分布である場合、 波形データを正規分布 の波形データに変換する方法。
1 3 . センサーで測定した対象物の信号が脈動信号である場合は、 前記測定され た脈動信号から雑音を除去するステップと、 前記雑音を除去された脈動信号の特 徴波形データを求めるステップと、 前記特徴波形データの正規化を行うステップ と、 前記正規化された特徴波形データにより特異成分を検出し、 特異成分の発生
- 25 - 差替え用紙 (規則 26) 位置を特定するステップと、 を有し、 対象物の状態判定を行う方法であって、 前 記特徴波形データは、 前記雑音を除去された脈動信号の包絡線波形データである 場合と、 前記雑音を除去された脈動信号のピーク波形データである場合と、 前記 雑音を除去された脈動信号の移動平均波形データと、 に分けて求められることを 特徴とする方法であり、 この方法を実行するために、 対象物の脈動信号を取得す るためのセンサ、 周期パルス信号を取得するための周期パルスセンサ、 アンプ、 フィルタ、 包絡線処理部、 信号処理 ·計算装置、 及び表示出力装置を備えた、 対 象物の脈動信号の特異成分の検出と状態判定を行う装置。
1 4 . 前記測定された脈動信号からローパスフィルタを用いて雑音を除去する方 法。
1 5 . 前記正規化された特徴波形データと、 同時に測定した周期パルス波形デー タにより特異成分を検出し、 特異成分の発生位置を特定する方法。
- 26 - 差替え用紙 (規則 26)
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