TWM478824U - 探針式檢測裝置之訊號轉接線 - Google Patents

Description

探針式檢測裝置之訊號轉接線

本創作係為一種應用在探針式檢測裝置的訊號轉接線，尤指一種具備彈性伸縮且能直接插置固定於檢測台的訊號轉接線。

一般印刷電路板、半導體封裝元件、晶圓等產品製成後，需透過專用的探針式檢測裝置予以檢測，藉此確認產品的良率和阻抗，維持產品品質。探針式檢測裝置主要是利用緊密排列的細密探針與產品內電路板上的導電電路分別接觸後，透過一電腦機台測得每一探針所傳遞的電氣特性，藉以判讀電路板上電路的電氣特性是否符合規範。

由於現今的可攜式電子產品例如智慧型手機，在強調容易攜帶的同時，其功能也日益強大，使得該等可攜式電子產品的電路板不但面積大幅減少，其電路布局亦往往細密地必須使用放大鏡才能逐一檢視；如此一來，也造成了探針式檢測裝置在製造上的困難。

習知探針式檢測裝置如第一圖所示，係包含一具有細密檢測探針101之治具102、一設置在治具102下方具有檢測孔103的檢測台104、複數根設置在檢測孔103內以供檢測探針101壓觸連接的伸縮端子105、複數根分別與伸縮端子105電氣連接之訊號轉接線106，以及一可供各訊號轉接線106連接並且能夠傳輸信號至電腦以供檢測分析之轉接盤107。

上述構造中，治具102上的細密檢測探針101頂部檢測端位置，必須依照待檢測電路板108上的電路布局加以設置，而檢測台104上的伸縮端子105須逐一埋置在檢測孔103內，又必須逐一連接訊號轉接線106，在加工面積有限的情形下，組裝施工相當困難。因此，本案申請人曾經設 計出一種具有浮板的檢測治具(公告第TW M446334號)，讓各檢測探針101以傾斜向外的方式向下凸伸到治具102的下方，使位於治具102下方的檢測台104面積比較不容易受到待檢測電路板108的面積大小所限制，也可以讓檢測台104在排置伸縮端子105及訊號轉接線106時，比較容易施工。

上述先前技術經本案申請人實施後，發現伸縮端子105及訊號轉接線106在安裝時，仍有可改進的空間；其中之一是伸縮端子105埋置在檢測台104的檢測孔103內，而各檢測探針101係以傾斜角度排置，在檢測探針101底端壓入檢測孔103頂部與伸縮端子105壓觸時，即如第二圖所示，其檢測探針101底部傾斜的位置容易受到檢測孔103孔徑頂部周圍所限制，若壓觸行程若稍多，便如第三圖所示造成檢測探針101底端偏斜，尤其是在多次重複測試使用下，可能會有接觸不良的疑慮。

另一個先前技術可以改進的結構，是伸縮端子105與訊號轉接線106是採取分離組裝的設計，如第四圖所示，該訊號轉接線106必須先在端部設置一可以由下而上***固定於檢測孔103內的定位套筒109，而伸縮端子105必須先置入一外徑略小於定位套筒109並且設置有彈簧110的空心柱111後，再將伸縮端子105以及設置有彈簧110的空心柱111，一起由上而下嵌入定位套筒109內，如此一來，組裝時就必須在每一個檢測孔103分成前後兩次組裝，即先將訊號轉接線106之定位套筒109嵌入檢測孔103後，然後再將空心柱111嵌入定位套筒109中，相當耗時費工，製造成本亦相對昂貴。

有鑑於此，本創作人乃累積多年相關領域的研究以及實務經驗，特創作出一種訊號轉接線，以解決習知檢測台之檢測孔、訊號轉接線、伸縮端子三者之間組裝複雜、耗時費工的缺失。

本創作之目的在於提供一種應用在探針式檢測裝置上的訊號轉接線，該訊號轉接線其中一端與轉接盤電連接，另一端為能直接插置在檢測台上的伸縮探針，且伸縮探針能夠供檢測探針壓觸電連接以傳輸訊號，克服習知技術必須分次地逐一將伸縮端子及訊號轉接線安裝在檢測台 上的缺點。

為達成上述目的，本創作為一種探針式檢測裝置之訊號轉接線，所述檢測裝置包含一具有細密檢測探針之治具、一設置在治具下方的檢測台、複數根定位在檢測台供檢測探針壓觸連接的細密訊號轉接線，以及一可供各訊號轉接線電連接並且能夠傳輸信號至電腦以供檢測分析之轉接盤，其中，所述檢測台上具有細密排列之固定孔，每一固定孔可供一訊號轉接線設置，其特徵在於：各訊號轉接線其中一端具有一能直接插置在固定孔中的伸縮探針，該伸縮探針包含一固定插置在固定孔中的定位套筒、一設置在定位套筒內的彈簧、以及一設置在定位套筒中受彈簧彈性頂持恆常凸出定位套筒的頂針，所述頂針頂面為壓觸端，該壓觸端凸伸於檢測台頂部端面上，供檢測探針壓觸連接以傳輸訊號。

藉由上述構造，訊號轉接線之伸縮探針具備彈性伸縮而且能直接插置固定於檢測台之固定孔中，可以克服習知技術必須分次地逐一將伸縮端子及訊號轉接線安裝於固定孔之缺點，提升檢測台的組裝速度。

再者，伸縮探針之壓觸端凸伸於檢測台頂部端面上，使檢測探針以傾斜角度排置時，檢測探針底部傾斜的位置不會受到檢測孔孔徑頂部周圍的限制，改善習知檢測探針壓觸行程稍多便會使底端偏斜、接觸不良的缺點。

以下進一步說明各元件之實施方式：實施時，伸縮探針之壓觸端為略為下凹的凹面，以提供檢測探針壓觸時的定位效果。

實施時，所述訊號轉接線另一端通過導線設置有一插針以插接於轉接盤；該轉接盤上設置有細密排列的定位穿孔，各定位穿孔內分別設置有一呈中空狀且內徑略大於插針以供插針***定位的轉接端子；使檢測裝置之檢測探針測得的訊號經訊號轉接線之伸縮探針、導線、插針、轉接盤上的轉接端子傳輸至電腦供作業人員判讀。

實施時，所述插針呈彎折狀而***轉接端子後，藉由其彎折所產生的彈性而定位，使插針不易從轉接端子中鬆脫。

實施時，所述轉接盤上細密排列的定位穿孔呈矩陣排列，該轉接盤約為100X100mm，穿孔數量約4000~4200個。

相較於習知技術，本創作具有以下優點：

1.本創作在訊號轉接線的其中一端設置能直接固定於檢測台之固定孔中的伸縮探針，可以克服習知技術必須分次地逐一將伸縮端子及訊號轉接線安裝於固定孔之缺點，提升檢測台的組裝速度。

2.伸縮探針之壓觸端凸伸於檢測台頂部端面上，使檢測探針底部傾斜的位置不會受到檢測孔孔徑頂部周圍的限制，改善習知檢測探針壓觸行程稍多便會使底端偏斜、接觸不良的缺點。

以下依據本創作之技術手段，列舉出適於本創作之實施方式，並配合圖式說明如後：

1‧‧‧檢測探針

2‧‧‧治具

3‧‧‧檢測台

4‧‧‧訊號轉接線

5‧‧‧轉接盤

10‧‧‧固定孔

20‧‧‧伸縮探針

21‧‧‧定位套筒

22‧‧‧彈簧

23‧‧‧頂針

231‧‧‧壓觸端

30‧‧‧導線

40‧‧‧插針

50‧‧‧定位穿孔

60‧‧‧轉接端子

第一圖：習知探針式檢測裝置結構示意圖。

第二圖：習知檢測探針與伸縮端子壓觸時作動示意圖。

第三圖：習知檢測探針底端壓觸時底端偏斜示意圖。

第四圖：習知檢測台、伸縮端子與訊號轉接線三者間的組裝示意圖。

第五圖：本創作之探針式檢測裝置結構示意圖。

第六圖：本創作之訊號轉接線兩端分別與檢測台、轉接盤組裝結構示意圖。

第七圖：本創作之檢測探針與伸縮探針壓觸時作動示意圖。

第八圖：本創作之檢測探針壓觸行程稍多的作動示意圖。

第九圖：本創作之轉接盤立體外觀示意圖。

如第五、第六圖所示，本創作為一種探針式檢測裝置之訊號轉接線，所述檢測裝置包含一具有細密檢測探針1之治具2、一設置在治具2下方的檢測台3、複數根定位在檢測台3供檢測探針1壓觸連接的細密訊號轉接線4，以及一可供各訊號轉接線4電連接並且能夠傳輸信號至電腦以 供檢測分析之轉接盤5，其中，所述檢測台3上具有細密排列之固定孔10，每一固定孔10可供一訊號轉接線4設置。

各訊號轉接線4其中一端具有一能直接插置在固定孔10中的伸縮探針20，該伸縮探針20包含一固定插置在固定孔10中的定位套筒21、一設置在定位套筒21內的彈簧22、以及一設置在定位套筒21中受彈簧22彈性頂持恆常凸出定位套筒21的頂針23，所述頂針23頂面為壓觸端231，該壓觸端231凸伸於檢測台3頂部端面上，供檢測探針1壓觸連接以傳輸訊號。

因訊號轉接線4之伸縮探針20具備彈性伸縮而且能直接插置固定於檢測台3之固定孔10中，便可以克服習知技術必須分次地逐一將伸縮端子及訊號轉接線安裝於固定孔之缺點，有效提升檢測台的組裝速度。

如第七圖所示，伸縮探針20之壓觸端231凸伸於檢測台3頂部端面上，使檢測探針1以傾斜角度排置時，檢測探針1底部傾斜的位置不會受到檢測孔孔徑頂部周圍的限制；或如第八圖所示，在檢測探針1壓觸的行程稍多時，也不會讓底端偏斜，維持良好的壓觸品質。

此外，實施時可如圖所示，伸縮探針20之壓觸端231為略為下凹的凹面，以提供檢測探針1壓觸時的定位效果。

如第六圖所示，所述訊號轉接線4另一端通過導線30設置有一插針40以插接於轉接盤5；該轉接盤5上設置有細密排列的定位穿孔50，各定位穿孔50內分別設置有一呈中空狀且內徑略大於插針40以供插針40***定位的轉接端子60；使檢測裝置之檢測探針1測得的訊號經訊號轉接線4之伸縮探針20、導線30、插針40、轉接盤5上的轉接端子60傳輸至電腦供作業人員判讀。

實施時，所述插針40呈彎折狀而***轉接端子60後，藉由其彎折所產生的彈性而定位，使插針40不易從轉接端子60中鬆脫。

如第九圖所示，所述轉接盤5上細密排列的定位穿孔50呈矩陣排列，該轉接盤5約為100X100mm，穿孔數量約4000~4200個。

惟，以上之實施說明及圖式所示，係舉例說明本創作之較佳實施例者，並非以此侷限本創作。是以，舉凡與本創作之構造、裝置、特 徵等近似或相雷同者，均應屬本創作之創設目的及申請專利範圍之內。

3‧‧‧檢測台

4‧‧‧訊號轉接線

5‧‧‧轉接盤

10‧‧‧固定孔

20‧‧‧伸縮探針

21‧‧‧定位套筒

22‧‧‧彈簧

23‧‧‧頂針

231‧‧‧壓觸端

30‧‧‧導線

40‧‧‧插針

50‧‧‧定位穿孔

60‧‧‧轉接端子

Claims (5)

1. 一種探針式檢測裝置之訊號轉接線，所述檢測裝置包含一具有細密檢測探針之治具、一設置在治具下方的檢測台、複數根定位在檢測台供檢測探針壓觸連接的細密訊號轉接線，以及一可供各訊號轉接線電連接並且能夠傳輸信號至電腦以供檢測分析之轉接盤，其中，所述檢測台上具有細密排列之固定孔，每一固定孔可供一訊號轉接線設置，其特徵在於：各訊號轉接線其中一端具有一能直接插置在固定孔中的伸縮探針，該伸縮探針包含一固定插置在固定孔中的定位套筒、一設置在定位套筒內的彈簧、以及一設置在定位套筒中受彈簧彈性頂持恆常凸出定位套筒的頂針，所述頂針頂面為壓觸端，該壓觸端凸伸於檢測台頂部端面上，供檢測探針壓觸連接以傳輸訊號。
2. 如申請專利範圍第1項所述探針式檢測裝置之訊號轉接線，其中，伸縮探針之壓觸端為略為下凹的凹面，提供檢測探針壓觸時的定位效果。
3. 如申請專利範圍第1或2項中所述探針式檢測裝置之訊號轉接線，其中，訊號轉接線另一端通過導線設置有一插針以插接於轉接盤；該轉接盤上設置有細密排列的定位穿孔，各定位穿孔內分別設置有一呈中空狀且內徑略大於插針以供插針***定位的轉接端子。
4. 如申請專利範圍第3項所述探針式檢測裝置之訊號轉接線，其中，所述插針呈彎折狀而***轉接端子後，藉由其彎折所產生的彈性而定位。
5. 如申請專利範圍第3項所述探針式檢測裝置之訊號轉接線，其中，所述轉接盤上細密排列的定位穿孔呈矩陣排列。