TWM470948U - 檢測台及其光學檢測裝置 - Google Patents

Description

檢測台及其光學檢測裝置

本創作是有關於一種檢測台及其光學檢測裝置，特別是有關於一種具有多溝槽設計且具有透光性質之檢測台及其光學檢測裝置。

現今之自動光學檢測裝置（AOI）大多為使用一檢測台、一光源模組及一攝像模組。檢測台先利用一吸附溝槽將待測物吸附放置於檢測台上，再利用攝像模組配合光源模組，以對待測物進行影像擷取，隨後再依據擷取之影像進行外觀瑕疵或尺寸量測等檢測項目。現今常見檢測檯面大致可分為真空檯面形式及壓板玻璃形式。真空檯面式，其檯面為非透光材質，且檯面設有複數個吸附孔，藉由該些吸附孔可使待測物平貼於檢測檯面，且由於其非透光之特性，故光源模組需設置於檢測檯面之上，亦可稱作上光源式。壓板玻璃形式，其檯面為透光材質(例如玻璃)，利用另一玻璃板壓設於待測物之上，以使待測物平貼於檢測台，且藉由檯面透光之特性，光源模組可以設置於檢測台下方，進而可使光源穿透待測物，以利於檢測人員進行檢測。

然，在實際應用中，若使用下光源式檢測台時，因為須利用另一玻璃壓設於待測物，所以在待測物之種類選擇上會有所限制，為此造成使用者的不便與困擾。換言之，使用者若欲使用下光源式檢測台，則待測物之表面必須是乾燥表面，不可有任何未乾燥或未烘乾之物件，因此造成實際應用上的不便。有鑒於此，如何設計一理想的檢測台及其光學檢測裝置，使待測物能更平貼於檢測台，且同時可配合使用下光源，已成為現今產業極需解決之問題。故，本創作之創作人思索並設計一種檢測台及其光學檢測裝置，以針對現有技術之缺失加以改善，進而增進產業上之實施利用。

有鑑於上述習知技藝之問題，本創作之目的就是在提供一種具有多溝槽設計且具有透光性質之檢測台及其光學檢測裝置，以解決習知下光源式檢測檯面，無法檢測待測物表面具有任何未乾燥或未烘乾物件之問題。

本創作之目的，係提供一種檢測台，係為一透光結構，可應用於光學檢測裝置，且具有一放置平面以提供一待測物放置。檢測台包含：一第一溝槽及一第二溝槽。第一溝槽圍繞設置於放置平面之週邊，且連接至少一第一氣孔，至少一第一氣孔連接一抽氣模組。第二溝槽圍繞設置於放置平面，且位於第一溝槽之內側，第二溝槽連接至少一第二氣孔，至少一第二氣孔連接抽氣模組。其中，當抽氣模組進行作動時，藉由第一溝槽及第二溝槽，而將待測物與檢測台間之空氣抽出，進而使待測物平貼於放置平面。

其中，第一溝槽及其所圍繞之區域對應待測物之大小。

其中，至少一第二氣孔設置於第一溝槽與第二溝槽之間。

其中，第一溝槽及第二溝槽之圍繞方式對應於待測物之外形。

本創作之另一目的，係提供一種光學檢測裝置，其包含：一檢測台、一攝像模組、至少一光源模組及一抽氣模組。檢測台可為一透光結構，且具有一放置平面以提供一待測物放置，其包含：一第一溝槽及一第二溝槽。第一溝槽圍繞設置於放置平面之週邊，且連接至少一第一氣孔。第二溝槽圍繞設置於放置平面，且位於第一溝槽之內側，第二溝槽連接至少一第二氣孔。攝像模組對應放置平面設置於檢測台之一側，以對待測物進行檢測。至少一光源模組，提供攝像模組檢測待測物所需之光源。抽氣模組連接至少一第一氣孔及至少一第二氣孔。其中，當抽氣模組作動時，藉由第一溝槽及第二溝槽，而將待測物與檢測台間之空氣抽出，進而使待測物平貼於放置平面，以使攝像模組進行檢測動作。

其中，至少一光源模組設置於檢測台之另一側，且相對於放置平面，並藉由檢測台之透光結構，以使攝像模組藉由至少一光源模組所提供之光源，對待測物進行檢測。

其中，第一溝槽及其所圍繞之區域對應待測物之大小。

其中，至少一第二氣孔設置於第一溝槽及第二溝槽之間。

其中，第一溝槽及第二溝槽之圍繞方式對應於待測物之外形。

綜上所述，本創作所提供之檢測台及其光學檢測裝置，其提供下列的優點：

(1) 此檢測台及其光學檢測裝置，利用透光之檢測台，配合設置複數個吸附溝槽，以使待測物平貼於檢測台，且同時可以使用下光源之照射方式檢測待測物，進而可改善習知技術中無法同時利用真空吸附方式及下光源方式進行檢測之問題。

(2) 此檢測台及其光學檢測裝置，將透光之檢測台設置複數個吸附溝槽，以取代習知下光源式檢測裝置中之壓板玻璃，進而可讓使用者對於待測物方面具有更多的選擇。

(3) 此檢測台及其光學檢測裝置，利用複數個吸附溝槽，以使待測物平貼於檢測台，進而可以解決習知技術利用吸附孔，而容易干擾檢測影像之問題。

1‧‧‧光學檢測裝置
10‧‧‧檢測台
101‧‧‧第一溝槽
1011‧‧‧第一氣孔
102‧‧‧第二溝槽
1021‧‧‧第二氣孔
103‧‧‧放置平面
11‧‧‧抽氣模組
12‧‧‧攝像模組
13‧‧‧光源模組
14‧‧‧顯示模組
15‧‧‧發光單元
16‧‧‧操作電腦
17‧‧‧滑軌
20‧‧‧待測物

第1圖 係為本創作檢測台之示意圖。
第2圖 係為本創作光學檢測裝置之第一實施例之第一示意圖。
第3圖 係為本創作光學檢測裝置之第一實施例之第二示意圖。
第4圖 係為本創作光學檢測裝置之第一實施例之第三示意圖。
第5圖 係為本創作光學檢測裝置之第一實施例之第四示意圖。
第6圖 係為本創作光學檢測裝置之第二實施例之示意圖。

為利 貴審查委員瞭解本創作之技術特徵、內容與優點及其所能達成之功效，茲將本創作配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而其中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明之用，未必為本創作實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係解讀、侷限本創作於實際實施上的權利範圍，合先敘明。

為使本創作之上述目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文依本創作之檢測台及其光學檢測裝置，特舉較佳實施例，並配合所附相關圖式，作詳細說明如下，其中相同的元件將以相同的元件符號加以說明。

請參閱第1圖，其係為本創作之檢測台之示意圖。如圖所示，檢測台10包含：一第一溝槽101及一第二溝槽102。其中，檢測台10係為透明結構(例如玻璃或壓克力)。第一溝槽101連接第一氣孔1011。第二溝槽102連接第二氣孔1021。檢測台10具有一放置平面103，以提供一平面放置一待測物20。其中，待測物20可以是軟式印刷電路板、硬式印刷電路板、軟硬結合式之印刷電路板或是銀漿薄膜。第一氣孔1011及第二氣孔1021分別連接至一抽氣模組11。其中抽氣模組11可以是真空幫浦。當待測物20放置於放置平面103時，藉由抽氣模組11利用第一溝槽101與第一氣孔1011及第二溝槽102與第二氣孔1021，將待測物20及檢測台10間之空氣抽出，以使待測物20確實地平貼於該放置平面103。

請參閱第2圖至第5圖。第2圖係為本創作之光學檢測裝置之第一實施例之第一示意圖；第3圖係為本創作之光學檢測裝置之第一實施例之第二示意圖；第4圖係為本創作之光學檢測裝置之第一實施例之第三示意圖；第5圖係為本創作之光學檢測裝置之第一實施例之第四示意圖。如第2圖及第3圖所示，光學檢測裝置1係應用於檢測一待測物20，於本實施例中，待測物20係以軟式印刷電路板作為示範態樣，但不以此為限。光學檢測裝置1包含：一檢測台10、一抽氣模組11、攝像模組12及一光源模組13。檢測台10可以為一透光結構(如強化玻璃或壓克力)。檢測台10包含一第一溝槽101及一第二溝槽102。其中第一溝槽101及第二溝槽102可以是V形槽、梯形槽、方形槽或半圓槽(如第4圖之(a)、(b)、(c)及(d)所示)，可依據實際需求加以選擇，並不以此為限。第一溝槽101連接一第一氣孔1011，第二溝槽102連接一第二氣孔1021，且第一氣孔1011與第二氣孔1021分別連接至抽氣模組11。攝像模組12對應放置平面103設置於檢測台10之一側。其中攝像模組12可包含鏡頭、感光元件如面型感光元件（Area CCD）、線型感光元件（Line Scan CCD）、類比/數位電路、影像處理器等。光源模組13對應放置平面103設置於檢測台10之一側。其中光源模組13可以是高亮度發光二極體(Light-Emitting Diode, LED)或白熾燈，可依實際需求加以置換。

值得注意的是，於本實施例中第二氣孔1021（如第2圖所示）係設置於第一溝槽101與第二溝槽102之間，以利於避免第二氣孔1021設置於第二溝槽102的內側，可能對檢測造成的干擾，然而，在實際運用中，對應於待測物20的不同，第二氣孔1021亦可設置於第二溝槽102之內側或其他適當處，故應不以此作為局限。

當待測物20放置於放置平面103時，藉由抽氣模組11透過第一氣孔1011及第二氣孔1021，以抽出第一溝槽101及第二溝槽102內之空氣，此時，待測物20與檢測台10間之空氣亦逐漸的流向第一溝槽101及第二溝槽102並被抽出。當第一氣孔1011與第一溝槽101間及第二氣孔1021與第二溝槽102間之空氣被大量抽出後，使得第一氣孔1011至第一溝槽101與第二氣孔1021至第二溝槽102產生一吸力，進而使得待測物20被吸附且確實地平貼於檢測台10。換言之，當待測物20放置於檢測台10時，待測物20與放置平面103間會有些許之空氣。為使待測物20確實地平貼於放置平面103，可藉由抽氣模組11透過第一氣孔1011，先將待測物20與第一溝槽101及其所包含之範圍與外界空氣阻隔，再透過第二氣孔1021，將待測物20與放置平面103內之空氣抽出，以使待測物20確實地達到平貼於放置平面103之目的。需注意的是，第一氣孔1011及第二氣孔1021可以是分別連接抽氣模組11，進而利用第一溝槽101及第二溝槽102，使待測物20與檢測台10間產生負壓，以使待測物20平貼於放置平面103，此僅為其中一實施態樣，在實際應用中可依需求加以選擇不同之吸附方式。

如第5圖所示，光學檢測裝置1具有一檢測台10，且檢測台10為一透光結構。檢測台10具有一放置平面103，以提供使用者放置一待測物20；且放置平面103具有一第一溝槽101及一第二溝槽102。第一溝槽101及第二溝槽102分別連接一第一氣孔1011及一第二氣孔1021。第一氣孔1011及第二氣孔1021分別連接至一抽氣模組11。檢測台10之上方設有一攝像模組12，以對放置於放置平面103之待測物20進行攝像檢測；檢測台10之下方設有一光源模組13。藉由檢測台10之透光性質，光源模組13所產生之光線可以投射至待測物20，以提供攝像模組12拍攝時所需之光源。

當攝像模組12對待測物20進行攝像檢測時，若待測物20與檢測台10間具有空氣或待測物20本身具有撓曲現象時，則會使待測物20表面凹凸不平，進而造成攝像模組12對待測物20表面進行攝像時，在待測物20具有高低差距處(凸起處、凹陷處或是撓曲處)，所得到之影像不清晰。故，當待測物20放置於放置平面103時，先利用抽氣模組11，透過第一氣孔1011及第二氣孔1021，以使第一溝槽101及第二溝槽102產生吸力，進而將待測物20及檢測台10間之空氣抽出，以使待測物20平貼於放置平面103，此時再利用光源模組13，由檢測台10之下方向放置平面103投射光線，以提供攝像模組12所需之光源，進而對待測物20進行攝像檢測。其中光學檢測裝置1可設有一顯示模組14，顯示模組14電性連接攝像模組12，以顯示攝像模組12所拍攝之影像。具體地說，假設欲檢測軟性電路板(待測物20)之導線是否有缺陷時，可將其放置於檢測台10，先利用抽氣模組11使軟性電路板平貼於放置平面103，再利用檢測台10之透光性質，使光源模組13產生之光線投射至軟性電路板，進而可藉由導線不透光之特性，檢測出軟性電路板導線之缺陷處。

請參閱第6圖，其係為本創作之光學檢測裝置之第二實施例之示意圖。如圖所示，光學檢測裝置1包含：一檢測台10、一抽氣模組11、一攝像模組12、一光源模組13及一操作電腦16。檢測台10具有一放置平面103，以供使用者放置一待測物20，且檢測台10具有一第一溝槽101及一第二溝槽102。第一溝槽101連接一第一氣孔1011，第二溝槽102連接一第二氣孔1021，且第一氣孔1011及第二氣孔1021可以是相互連通後再連接至抽氣模組11，或可以是分別連接至抽氣模組11。抽氣模組11設置於檢測台10下方，且連接第一氣孔1011及第二氣孔1021。攝像模組12設置於檢測台10之上方，且攝像模組12設置於一滑軌17。其中可於檢測台10之上方增設一發光單元15，以使光學檢測裝置1，可利用發光單元15對待測物20進行表面檢測。於本實施例中，光學檢測裝置1之相關連接或作動關係，與上述類似，在此為了簡略說明便不再敘述。

值得一提的是，使用者將一待測物20放置於放置平面103後，可藉由抽氣模組11透過第一氣孔1011、第一溝槽101、第二氣孔1021及第二溝槽102，將待測物20與檢測台10間之空氣抽出，以使待測物20平貼於放置平面103。當待測物20平貼於放置平面103後，藉由光源模組13由檢測台10下方投射光線，並利用檢測台10之透光性質，以提供攝像模組12攝像時所需之光源，再藉由攝像模組12對待測物20進行攝像，並將影像呈現於操作電腦16。使用者更可利用發光單元15由待測物20上方投射光線，以進行相關表面檢測。使用者可藉由操作電腦16使攝像模組12於滑軌17上進行位移，以位移至需檢測之位置。

以上所述之實施例僅係為說明本創作之技術思想及特點，其目的在使熟習此項技藝之人士能夠瞭解本創作之內容並據以實施，當不能以之限定本創作之專利範圍，即大凡依本創作所揭示之精神所作之均等變化或修飾，仍應涵蓋在本創作之專利範圍內。

10‧‧‧檢測台

101‧‧‧第一溝槽

1011‧‧‧第一氣孔

102‧‧‧第二溝槽

1021‧‧‧第二氣孔

103‧‧‧放置平面

11‧‧‧抽氣模組

20‧‧‧待測物

Claims (9)

1. 一種檢測台，係為一透光結構，應用於光學檢測裝置，且具有一放置平面以提供一待測物放置，其包含：
   一第一溝槽，係圍繞設置於該放置平面之週邊，且連接至少一第一氣孔，該至少一第一氣孔連接一抽氣模組；以及
   一第二溝槽，係圍繞設置於該放置平面，且位於該第一溝槽之內側，該第二溝槽連接至少一第二氣孔，該至少一第二氣孔連接該抽氣模組；
   其中，當該抽氣模組進行作動時，藉由該第一溝槽及該第二溝槽，而將該待測物與該檢測台間之空氣抽出，進而使該待測物平貼於該放置平面。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測台，其中該第一溝槽及其所圍繞之區域係對應該待測物之大小。
3. 如申請專利範圍第1項所述之檢測台，其中該至少一第二氣孔設置於該第一溝槽與該第二溝槽之間。
4. 如申請專利範圍第1項所述之檢測台，其中該第一溝槽及該第二溝槽之圍繞方式係對應於該待測物之外形。
5. 一種光學檢測裝置，其包含：
   一檢測台，係為一透光結構，其具有一放置平面以提供一待測物放置，其包含：
   一第一溝槽，係圍繞設置於該放置平面之週邊，且連接至少一第一氣孔；
   一第二溝槽，係圍繞設置於該放置平面，且位於該第一溝槽之內側，該第二溝槽連接至少一第二氣孔；
   一攝像模組，係對應該放置平面設置於該檢測台之一側，以對該待測物進行檢測；
   至少一光源模組，係提供該攝像模組檢測該待測物時所需之光源；以及
   一抽氣模組，係連接該至少一第一氣孔及該至少一第二氣孔；
   其中，當該抽氣模組作動時，藉由該第一溝槽及該第二溝槽，而將該待測物與該檢測台間之空氣抽出，進而使該待測物平貼於該放置平面，以使該攝像模組進行檢測動作。
6. 如申請專利範圍第5項所述之光學檢測裝置，其中該至少一光源模組設置於該檢測台之另一側，且相對於該放置平面，並藉由該檢測台之該透光結構，以使該攝像模組藉由該至少一光源模組所提供之光源，對該待測物進行檢測。
7. 如申請專利範圍第5項所述之光學檢測裝置，其中該第一溝槽及其所圍繞之區域係對應該待測物之大小。
8. 如申請專利範圍第5項所述之光學檢測裝置，其中該至少一第二氣孔設置於該第一溝槽及該第二溝槽之間。
9. 如申請專利範圍第5項所述之光學檢測裝置，其中該第一溝槽及該第二溝槽之圍繞方式係對應於該待測物之外形。