TWI827464B - 利用雷射打孔的載帶孔加工裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明涉及利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，包括：載帶，所述載帶以帶狀構成；作業部，所述作業部供所述載帶放置並使所述載帶移動；雷射打孔模組，所述雷射打孔模組配置於所述作業部的上部，向放置於所述作業部上的所述載帶照射雷射光束；位置識別部，所述位置識別部感測放置於所述作業部上的所述載帶的位置和移動速度；控制部，所述控制部能夠調節通過所述雷射打孔模組照射的所述雷射光束的位置；其中，所述控制部根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度來調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶。

Description

利用雷射打孔的載帶孔加工裝置
本發明涉及利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，更詳細而言，涉及一種通過雷射打孔來加工載帶的孔，因而可以防止在載帶孔發生芒刺（bur）或在載帶發生撕裂，可以均一地形成載帶孔的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置。
諸如積體電路晶片、電氣部件、電子部件等的細微部件經SMT（surface mounter technology：表面貼裝技術）工序而生產。諸如積體電路晶片、電氣部件、電子部件等的細微部件可以配置於由帶狀構成且內部具備槽的載帶並投入SMT工序，由此可以提高生產效率。
在載帶上可以形成有用於掌握有無投入SMT工序的部件或者計數部件供應量或生產量的ID孔。另一方面，隨著最近半導體、電氣、電子封裝技術的迅速發展，裝置的超微細化趨勢正在持續，因此，在載帶上形成的ID孔也同時要求微細化。
以往，利用通過針進行沖孔的針式方法在載帶上形成ID孔，這種針式方法存在如下問題。以針式方法在載帶上形成ID孔時，會在載帶的ID孔發生芒刺（bur），存在ID孔形成得不均一的問題。
另外，當以針式方法在載帶上形成ID孔時，隨著載帶的薄膜化，存在在ID孔周邊發生撕裂的問題。同時，就針式方法而言，需要週期性更換大量針，因而存在維護所需時間及費用增加的問題，因此存在生產量減小的問題。
[技術課題]
本發明正是為了解決上述問題而研發的，更詳細而言，涉及一種利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，通過雷射打孔來加工載帶的孔，因而可以防止在載帶孔發生芒刺（bur）或在載帶發生撕裂，可以均一地形成載帶孔。 [技術方案]
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置的特徵在於，包括：載帶，所述載帶以帶狀構成；作業部，所述作業部供所述載帶放置並使所述載帶移動；雷射打孔模組，所述雷射打孔模組配置於所述作業部的上部，向放置於所述作業部上的所述載帶照射雷射光束；位置識別部，所述位置識別部感測放置於所述作業部上的所述載帶的位置和移動速度；控制部，所述控制部能夠調節通過所述雷射打孔模組照射的所述雷射光束的位置；其中，所述控制部根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度來調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置的所述雷射打孔模組可以包括：可變焦點部，所述可變焦點部使雷射光束的焦點距離可變；光軸移動部，在將穿過所述可變焦點部的雷射光束入射時的光軸稱為基準光軸時，所述光軸移動部相對於所述基準光軸移動既定距離而使所述雷射光束射出；光軸驅動部，所述光軸驅動部使所述光軸移動部旋轉；其中，可以在借助於所述光軸驅動部而使所述光軸移動部旋轉的同時，對所述載帶的表面進行打孔而形成孔。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置的所述光軸移動部可以包括：第一楔形窗，所述第一楔形窗使入射的雷射光束折射；第二楔形窗，所述第二楔形窗與所述第一楔形窗隔開，相對於所述第一楔形窗翻轉配置。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置可以在調節所述第一楔形窗與所述第二楔形窗之間的隔開距離的同時，調節所述雷射光束相對於所述基準光軸移動的距離，變更在所述載帶的表面形成的孔的大小。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置可以還包括：掃描器部，所述掃描器部包括使雷射光束反射的反射鏡；所述控制部可以根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度來調節所述反射鏡的位置，調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置的所述掃描器部可以包括：使雷射光束反射的第一反射鏡、使所述第一反射鏡旋轉的第一馬達、使雷射光束反射的第二反射鏡、使所述第二反射鏡旋轉的第二馬達：所述控制部可以根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度，使所述第一馬達和所述第二馬達旋轉，調節所述第一反射鏡和所述第二反射鏡的位置。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置可以還包括聚焦透鏡，所述聚焦透鏡對穿過所述光軸移動部的雷射光束進行聚焦。
為了解決上述問題，本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置的所述控制部可以在所述可變焦點部變更雷射光束的焦距，變更所述雷射光束的照射位置。 [發明效果]
本發明涉及利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，通過雷射打孔來加工載帶孔，因而具有可以防止在載帶孔發生芒刺（bur）或在載帶發生撕裂的優點。
另外，本發明使用位置識別部和控制部，所述位置識別部可以感測載帶的位置和移動速度，所述控制部可以根據位置識別部感測的載帶的移動速度而調節雷射光束的照射位置以使雷射光束追隨載帶，因而具有可以防止載帶孔形成得不均一的優點。
下面參照附圖，對本發明的實施例進行詳細說明。本發明的實施例提供用於向具有本行業平均知識的人更完整地說明本發明。本發明可以施加多樣的變更，可以具有多種形態，將在附圖中示例性列舉特定實施例並詳細說明。
但是，這並非要針對特定公開形態來限定本發明，應理解為包括本發明的思想及技術範圍內包含的所有變更、均等物及替代物。在說明各附圖的同時，針對類似的構成要素使用類似的參照標記。在附圖中，為了有助於本發明的明確性，結構物的尺寸比實際放大或縮小圖示。
在本申請中使用的術語只是為了說明特定實施例而使用的，並非要限定本發明之意。只要在文理上未明確表示不同，單數的表達包括複數的表達。在本申請中，“包括”或“具有”等術語應理解為是要指定說明書中記載的特徵、數位、步驟、動作、構成要素、部件或其組合的存在，不預先排除一個或其以上的其它特徵、數位、步驟、動作、構成要素、部件或其組合的存在或附加可能性。
另外，第一、第二等術語可以用於說明多樣的構成要素，但所述構成要素不得由所述術語所限定。所述術語可以用於把一個構成要素區別於另一個構成要素的目的。例如，在不超出本發明的權利範圍的同時，第一構成要素可以命名為第二構成要素，類似地，第二構成要素也可以命名為第一構成要素。
在提及某種構成要素“連接于、結合於”其他構成要素時，應可以理解為既可以是所述某種構成要素直接連接于或結合於所述其他構成要素，也可以在所述某種構成要素與所述其他構成要素之間存在新的其他構成要素。相反，當提及某種構成要素“直接連接”或“直接結合”於其他構成要素時，應理解為在所述某種構成要素與所述其他構成要素之間不存在新的其他構成要素。
只要未另外定義，包括技術性或科學性術語在內，在此使用的所有術語具有與本發明所屬技術領域的技術人員一般理解的內容相同的意義。與一般使用的字典定義的內容相同的術語，應解釋為具有與在相關技術的文理上具有的意義一致的意義，只要在本申請中未明確定義，不得過於地或過度地解釋為形式上的意義。
本發明涉及利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，涉及一種通過雷射打孔來加工載帶的孔，因而可以防止在載帶孔發生芒刺（bur）或在載帶發生撕裂的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置。
根據本發明實施例的在載帶上形成的孔可以為ID孔，但不限定於此，可以為多樣種類的孔。下面參照附圖，詳細說明本發明的優選實施形態。
本發明的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置包括載帶110、作業部120、雷射打孔模組200、位置識別部130、控制部140。
參照圖1及圖2，所述載帶110可以沿長度方向延長並以帶狀構成，所述載帶110可以在將諸如積體電路晶片、電氣部件、電子部件等細微部件投入SMT工序時使用。
所述載帶110以帶狀構成並在內部配備有槽，諸如積體電路晶片、電氣部件、電子部件等的細微部件可以安放於所述槽中並移動。
可以在所述載帶110上形成有孔111。所述孔111可以是用於掌握有無投入SMT工序的部件或者計數部件的供應量或生產量的ID孔，但不限定於此，可以為多樣的孔。
所述載帶110的所述孔111可以通過後述所述雷射打孔模組200形成的，通過所述雷射打孔模組200而在所述載帶110形成所述孔111的方法將在後面敘述。
所述作業部120供所述載帶110放置並能夠使所述載帶110移動。所述載帶110可以具有通過所述作業部120而指定的速度並向一個方向移動。
所述作業部120包括：導軌121，所述導軌121供所述載帶110放置並與所述載帶110一同移動；捲繞機122，所述捲繞機122使所述導軌121移動。
參照圖3，所述捲繞機122可以具備多個，所述導軌121可以在捲繞於所述捲繞機122或鬆開的同時移動。如果所述導軌121移動，則放在所述導軌121上的所述載帶110也一同移動。
不過，所述作業部120不限定於此，只要能夠使所述載帶110以指定速度向一個方向移動，則所述作業部120可以包括多樣的構成。
參照圖3，所述雷射打孔模組200配置於所述作業部120的上部，並向放在所述作業部120上的所述載帶110照射雷射光束。
隨著通過所述雷射打孔模組200而向所述載帶110照射所述雷射光束，可以在所述載帶110上形成所述孔111。為了在所述載帶110上形成所述孔111而使用的所述雷射打孔模組200的詳細構成將在後面敘述。
參照圖3，所述位置識別部130可以感測放在所述作業部120上的所述載帶110的位置和移動速度。在所述載帶110上形成的所述孔111需在指定位置形成。
因此，只有識別所述孔111在所述載帶110形成的位置，並通過所述雷射打孔模組200向該地點照射所述雷射光束，才能在所述載帶110的指定位置形成所述孔111。
所述位置識別部130正是為此而配備的，所述位置識別部130感測所述載帶110的位置，向調節所述雷射打孔模組200照射的所述雷射光束的照射位置的所述控制部140發送信號。
所述控制部140接收所述位置識別部130的信號，根據所述位置識別部130感測的所述載帶110的位置，調節所述雷射打孔模組200照射的所述雷射光束的照射位置，在所述載帶110的指定位置形成所述孔111。
所述控制部140可以以多樣方法調節所述雷射打孔模組200照射的雷射光束的照射位置，通過所述控制部140來調節雷射光束的照射位置的方法將在後面敘述。
所述位置識別部130也可以感測所述載帶110的移動速度。如上所述，所述載帶110在放到所述作業部120上的同時，通過所述作業部120的所述導軌121進行移動。
當通過所述雷射打孔模組200照射的所述雷射光束而在所述載帶110上形成所述孔111時，如果所述載帶110靜止，則可以均一地形成所述孔111。但是，由於所述載帶110具有指定速度並向一個方向移動，因而存在難以通過所述雷射光束而在所述載帶110上均一地形成所述孔111的問題。
為了解決這種問題，所述位置識別部130可以感測所述載帶110的移動速度，所述位置識別部130感測的所述載帶110的移動速度可以發送給所述控制部140。
所述控制部140可以調節通過所述雷射打孔模組200照射的所述雷射光束的位置，所述控制部140可以接收所述位置識別部130發送的所述載帶110的移動速度信號。
所述控制部140根據所述位置識別部130感測的所述載帶110的移動速度，調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶110。
即，所述控制部140可以控制所述雷射打孔模組200，以使與所述載帶110的移動速度同步照射所述雷射光束，由此，即使所述載帶110向一個方向移動，也可以通過所述雷射光束形成均一的所述孔111。
所述控制部140可以還包括能夠控制所述雷射打孔模組200的構成的雷射控制部141，所述控制部140通過所述位置識別部130針對所述載帶110的位置和移動速度的信號來控制所述雷射控制部141。所述雷射控制部141調節所述雷射打孔模組200上具備的多樣構成，調節雷射光束的照射位置。
所述位置識別部130為了感測所述載帶110的位置和移動速度而可以由編碼器構成。不過，不限定於此，只要能夠感測所述載帶110的位置和移動速度，所述位置識別部130可以由多樣種類的感測器構成。
所述控制部140及所述雷射控制部141可以利用多樣方法，使所述雷射光束與所述載帶110的移動速度同步並在所述載帶110上形成所述孔111，只要能夠調節所述雷射光束的照射位置，所述控制部140及所述雷射控制部141可以使用多樣構成。
根據本發明的實施例，照射能夠與所述載帶110的移動速度同步並在所述載帶110上形成所述孔111的所述雷射光束的所述雷射打孔模組200，可以由如下構成形成。
參照圖4，所述雷射打孔模組200包括可變焦點部210、光軸移動部220、光軸驅動部。
所述可變焦點部210可以使雷射光束的焦點距離可變。所述可變焦點部210可以包括相互之間的距離可變的多個透鏡。通過調節所述透鏡之間的距離，穿過所述可變焦點部210的雷射光束的焦點距離能夠可變。
根據本發明的實施例，所述可變焦點部210可以包括沿雷射光束的光路徑方向並列配置的凹透鏡、凸透鏡及使所述凹透鏡或凸透鏡的位置發生移動的移動模組。
因此，通過調節凹透鏡與凸透鏡之間的距離，可以調節穿過所述可變焦點部210的雷射光束的焦距。穿過所述可變焦點部210的雷射光束可以以平行狀態行進，或者以擴散（divergency）或聚焦的形態行進。不過，不限定於此，只要能夠使雷射光束的焦點距離可變，所述可變焦點部210可以包括多樣種類的透鏡。
當將穿過所述可變焦點部210的雷射光束入射時的光軸稱為基準光軸RA時，所述光軸移動部220用於相對於所述基準光軸RA移動既定距離並使所述雷射光束射出。穿過所述光軸移動部220並被折射的雷射光束的行進路徑變更。
根據本發明實施例的所述光軸移動部220可以包括第一楔形窗221和第二楔形窗222。參照圖4及圖5，所述第一楔形窗221可以使入射的雷射光束折射，所述雷射光束可以在穿過所述第一楔形窗221的同時向下方折射既定角度。
所述第二楔形窗222與所述第一楔形窗221隔開配置，相對於所述第一楔形窗221翻轉配置。即，所述第二楔形窗222相對於所述第一楔形窗221以線對稱結構配置。
穿過所述第一楔形窗221的雷射光束在所述第二楔形窗222中兩次折射。如圖4所示，穿過所述第二楔形窗222的雷射光束的光軸以與基準光軸RA隔開既定距離d1的狀態移動，雷射光束的行進路徑變更。
圖4是穿過所述可變焦點部210的雷射光束水準行進的情形，穿過所述光軸移動部220的雷射光束的光軸與所述基準光軸RA相距既定距離d1平行移動。
在圖4中，雙點劃線的寬度簡要示出了雷射光束的尺寸，在穿過所述光軸移動部220的同時被折射的雷射光束的光軸用虛線標記。
其中，所述第一楔形窗221和所述第二楔形窗222可以以圖5所示形態構成。所述第一楔形窗221和所述第二楔形窗222的剖面可以構成梯形形態，所述第一楔形窗221和所述第二楔形窗222的剖面也可以以三角形形態構成。
所述第一楔形窗221和所述第二楔形窗222可以以圖5所示楔形窗形態構成，但不限定於此，所述第一楔形窗221和所述第二楔形窗222也可以由棱鏡構成。
如果所述第一楔形窗221與所述第二楔形窗222之間的距離變更，則所述雷射光束的光軸的位置變更。參照圖4，如果所述第一楔形窗221與所述第二楔形窗222之間的距離D增加，則穿過所述光軸移動部220的雷射光束的光軸VA與基準光軸RA的距離d1進一步增加，同時，穿過聚焦透鏡240的光軸的位置變更。
所述光軸驅動部配備用於使所述光軸移動部220旋轉。根據本發明的實施例，所述光軸驅動部可以使所述光軸移動部220以所述基準光軸RA為中心軸旋轉。圖6示出通過所述光軸驅動部而使所述光軸移動部220旋轉180°的狀態。
如圖6所示，如果所述光軸移動部220借助於所述光軸驅動部而旋轉180°，則穿過所述第二楔形窗222的雷射光束的光軸VA從所述光軸移動部220旋轉180°前（圖2的狀態）的狀態，以所述基準光軸RA為中心旋轉半圈而位於對面。
即，雷射光束的光軸VA相對於所述基準光軸RA旋轉180°。圖7示出雷射光束的光軸VA旋轉180°並按半圓進行打孔的狀態。
如果所述光軸驅動部使所述光軸移動部220連續旋轉，則所述雷射光束的光軸VA以所述基準光軸RA中心旋轉，所述雷射光束在所述載帶110的表面劃圓並對所述載帶110的表面進行打孔。
如果調節所述第一楔形窗221與所述第二楔形窗222之間的距離，則可以調節所述雷射光束的光軸VA從所述基準光軸RA離開的距離d1。假如使所述第一楔形窗221與所述第二楔形窗222的距離進一步變遠，則所述雷射光束的光軸VA可以從所述基準光軸RA移動更遠。
因此，所述雷射光束從所述基準光軸RA離開的距離越大，在所述載帶110上形成的孔的大小可以加工得越大。即，使雷射光束的光軸從所述基準光軸RA移動後，如果借助於所述光軸驅動部而使所述光軸移動部220旋轉，則可以在所述載帶110的表面加工以從所述基準光軸RA遠離的所述雷射光束的光軸為半徑的孔。
如上所述，根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置可以在調節所述第一楔形窗221與所述第二楔形窗222隔開距離的同時，調節所述雷射光束相對於所述基準光軸RA移動的距離，變更在所述載帶110的表面形成的孔的大小。
參照圖4至圖6，根據本發明實施例的所述雷射打孔模組200可以還包括對穿過所述光軸移動部220的雷射光束進行聚焦的聚焦透鏡240。所述聚焦透鏡240配備用於對穿過所述光軸移動部220的雷射光束進行聚焦。
所述聚焦透鏡240通過使穿過所述光軸移動部220的雷射光束折射並聚焦，在所述載帶110的表面形成焦點。所述聚焦透鏡240是公知技術，因而省略其詳細說明。
參照圖8及圖9，根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置可以還包括掃描器部230，所述掃描器部230包括使雷射光束反射的反射鏡。
如上所述，通過所述光軸驅動部而使所述光軸移動部220旋轉，因而可以在所述載帶110上形成所述孔111。其中，如果所述載帶110處於靜止狀態，則只需要通過所述光軸移動部220的旋轉，便可以在所述載帶110上形成均一的所述孔111。
但是，如果所述載帶110移動，則由於所述載帶110的移動，存在在所述載帶110上形成的所述孔111形成得不均一的危險。
為了防止這種問題，在根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置中，可以配備有掃描器部230，所述掃描器部230包括使雷射光束反射的反射鏡。
所述反射鏡可以使雷射光束反射而變更雷射光束的路徑，如果變更所述反射鏡的位置，則可以變更所述雷射光束的路徑。為了使在所述載帶110上形成的所述孔111均一地形成，所述控制部140可以根據所述位置識別部130感測的所述載帶110的移動速度來調節所述反射鏡的位置。
具體而言，所述控制部140可以調節所述反射鏡的位置，調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶110。即，通過所述控制部140調節所述反射鏡的位置，從而可以使所述雷射光束與所述載帶110的移動速度聯動並照射。
在所述掃描器部230，只要能夠調節所述雷射光束的照射位置而使所述雷射光束追隨所述載帶110，則可以配備有多樣個數和多樣種類的反射鏡。
參照圖9及圖10，所述掃描器部230可以包括第一反射鏡231、第一馬達232、第二反射鏡233、第二馬達234。所述第一反射鏡231使雷射光束反射，所述第一馬達232可以使所述第一反射鏡231旋轉。
所述第一反射鏡231配備用於使所述雷射光束相對於X軸方向移動，通過所述第一馬達232而使所述第一反射鏡231旋轉，從而可以使所述雷射光束向X軸方向移動。
所述第二反射鏡233使雷射光束反射，所述第二馬達234可以使所述第二反射鏡233旋轉。所述第二反射鏡233配備用於使所述雷射光束相對於Y軸方向移動，通過所述第二馬達234使所述第二反射鏡233旋轉，從而可以使所述雷射光束向Y軸方向移動。
所述控制部140可以根據所述位置識別部130感測的所述載帶110的移動速度，使所述第一馬達232和所述第二馬達234旋轉，調節所述第一反射鏡231與所述第二反射鏡233的位置。
通過所述控制部140來調節所述第一反射鏡231和所述第二反射鏡233的位置，從而可以將所述雷射光束的照射位置向X軸、Y軸方向變更，由此，所述雷射光束可以與所述載帶110的移動速度同步並照射。
另外，通過所述控制部140調節所述第一反射鏡231和所述第二反射鏡233的位置，將所述雷射光束的照射位置向X軸、Y軸方向變更，因而可以在所述載帶110的指定位置形成所述孔111。
不過，所述掃描器部230不限定於此，只要能夠以與所述載帶110的移動速度聯動的方式調節所述雷射光束的照射位置，或以使所述雷射光束照射於所述載帶110的指定位置的方式調節所述雷射光束的照射位置，則可以使用多樣的構成。
參照圖8及圖9，所述掃描器部230可以配備於所述光軸移動部220與所述聚焦透鏡240之間。
所述光軸移動部220借助於所述光軸驅動部而旋轉，因而照射可以形成所述載帶110的所述孔111的雷射光束。所述光軸移動部220照射的雷射光束穿過所述掃描器部230，因而照射位置可以以與所述載帶110的移動速度聯動的方式變更，穿過所述掃描器部230的雷射光束通過所述聚焦透鏡240而聚焦的同時在所述載帶110上形成所述孔111。
圖4至圖7示出在所述載帶110的表面相對於所述基準光軸RA打出半徑為R1的孔的情形。所述光軸移動部220借助於所述光軸驅動部而旋轉，且照射位置調整到所述掃描器部230後，如果雷射光束聚焦到所述聚焦透鏡240，則可以以R1半徑在所述載帶110上形成所述孔111。
根據本發明的實施例，如果所述可變焦點部210變更雷射光束的焦點距離，則可以變更在所述載帶110上形成的所述孔111的尺寸。
在所述可變焦點部210中，如果使雷射光束的焦點距離後退或前進，則穿過所述聚焦透鏡240的雷射光束的焦距可以變更，由此，可以變更在所述載帶110上形成的所述孔111的尺寸。
而且，根據本發明的實施例，所述控制部140也可以在所述可變焦點部210中變更雷射光束的焦距，變更所述雷射光束的照射位置。
所述控制部140可以根據所述位置識別部130感測的所述載帶110的移動速度，在所述可變焦點部210中變更所述雷射光束的焦點距離，由此，照射的所述雷射光束也可以與所述載帶110的移動速度聯動。
另外，根據本發明的實施例，所述控制部140可以在調節所述第一楔形窗221與所述第二楔形窗222的隔開距離的同時，調節所述雷射光束相對於所述基準光軸RA移動的距離，變更在所述載帶110的表面形成的孔的大小。
參照圖11，根據本發明實施例的所述聚焦透鏡240也可以包括多個聚焦透鏡。所述聚焦透鏡240可以包括第一聚焦透鏡241和第二聚焦透鏡242。
所述第一聚焦透鏡241和所述第二聚焦透鏡242可以使用多樣種類的聚焦透鏡，穿過所述掃描器部230的雷射光束的焦點距離也可以根據所述第一聚焦透鏡241與所述第二聚焦透鏡242的種類而變更。
另外，所述第二聚焦透鏡242也可以通過透鏡驅動部而移動，隨著通過所述透鏡驅動部而使所述第二聚焦透鏡242移動，也可以變更穿過所述掃描器部230的雷射光束的焦點距離。
根據上述本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置可以如下運轉。
所述控制部140通過所述位置識別部130，接收關於在所述作業部120配置的所述載帶110的位置和移動速度的資訊。所述控制部140將從所述位置識別部130接收的信號傳遞給所述雷射控制部141，所述雷射控制部141以所述信號為基礎，調節所述雷射打孔模組200照射的雷射光束的位置。
所述雷射控制部141及所述控制部140通過所述光軸驅動部而使所述光軸移動部220旋轉，因而照射能夠在所述載帶110上形成所述孔111的圓形形狀的雷射光束。此時，穿過所述光軸移動部220的雷射光束向所述掃描器部230移動。
所述掃描器部230計算所述載帶110的移動速度，調節所述雷射光束照射的位置。具體而言，所述雷射控制部141及所述控制部140通過所述掃描器部230上配備的馬達（所述第一馬達232、所述第二馬達234）調節反射鏡（所述第一反射鏡231、所述第二反射鏡233）的位置，因而以與所述載帶110的移動速度聯動的方式調節所述雷射光束的照射位置。
所述掃描器部230以與所述載帶110的移動速度聯動的方式調節所述雷射光束的照射位置後，通過所述聚焦透鏡240聚集所述雷射光束，在所述載帶110的表面照射雷射光束而形成所述孔111。
如上所述，根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置與所述載帶110的移動速度聯動並照射所述雷射光束，由此，使得可以在所述載帶110上形成均一的所述孔111。
其中，上述的所述控制部140和所述雷射控制部141既可以配備於一個裝置也可以分離。另外，所述控制部140也可以一同發揮所述雷射控制部141的作用。
上述的根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置具有如下效果。
根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置通過雷射打孔來加工載帶孔，因而具有可以防止在載帶孔上發生芒刺（bur）或在載帶上發生撕裂的優點。
另外，根據本發明實施例的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置使用位置識別部和控制部，所述位置識別部可以感測載帶的位置和移動速度，所述控制部可以根據位置識別部感測的載帶的移動速度而調節雷射光束的照射位置以使雷射光束追隨載帶，因而具有可以防止載帶孔形成得不均一的優點。
如上所述，在附圖和說明書中公開了示例性實施例。在本說明書中，使用特定的術語說明了實施例，但這只是出於說明本公開的技術思想之目的而使用，並非為了意義限定或限制權利要求書中記載的本公開範圍而使用。因此，只要是本技術領域的技術人員便會理解，可以由此匯出多樣的變形及均等的其他實施例。
110:載帶 111:孔 120:作業部 121:導軌 122:捲繞機 130:位置識別部 140:控制部 141:雷射控制部 200:雷射打孔模組 210:可變焦點部 220:光軸移動部 221:第一楔形窗 222:第二楔形窗 230:掃描器部 231:第一反射鏡 232:第二反射鏡 233:第一馬達 234:第二馬達 240:聚焦透鏡 241:第一聚焦透鏡 242:第二聚焦透鏡
圖1是示出根據本發明實施例的形成有孔的載帶的圖。 圖2是放大圖1的載帶的圖。 圖3是示出根據本發明實施例的具備雷射打孔模組的載帶孔加工裝置的圖。 圖4是示出根據本發明實施例的雷射打孔模組的圖。 圖5是示出根據本發明實施例的第一楔形窗和第二楔形窗的圖。 圖6是示出圖4中的第一楔形窗和第二楔形窗借助於光軸驅動部而旋轉180度的圖。 圖7是示出根據本發明的實施例借助於光軸移動部的旋轉而在載帶形成孔的情形的圖。 圖8是示出根據本發明的實施例具備掃描器部的情形的圖，所述掃描器部可以根據載帶的移動速度來變更雷射光束的照射位置以使雷射光束能夠聯動。 圖9是示出在根據本發明實施例的載帶孔加工裝置上配置雷射打孔模組的構成的位置的圖。 圖10是示出根據本發明實施例的掃描器部的圖。 圖11是示出根據本發明的實施例具備第一聚焦透鏡和第二聚焦透鏡的情形的圖。
120:作業部
121:導軌
122:捲繞機
130:位置識別部
140:控制部
141:雷射控制部
200:雷射打孔模組
230:掃描器部

Claims (8)

  1. 一種利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，在加工載帶孔的加工裝置中，包括：作業部，所述作業部使載帶移動；雷射打孔模組，所述雷射打孔模組向所述載帶照射雷射光束；位置識別部，所述位置識別部感測放置於所述作業部上的所述載帶的位置和移動速度；控制部，所述控制部能夠調節通過所述雷射打孔模組照射的所述雷射光束的位置；其中，所述控制部根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度來調節所述雷射光束的照射位置，所述雷射打孔模組包括：可變焦點部，所述可變焦點部使雷射光束的焦點距離可變；光軸移動部，在將穿過所述可變焦點部的雷射光束入射時的光軸稱為基準光軸時，所述光軸移動部相對於所述基準光軸移動既定距離而使所述雷射光束射出；光軸驅動部，所述光軸驅動部使所述光軸移動部旋轉；其中，在借助於所述光軸驅動部而使所述光軸移動部旋轉的同時，對所述載帶的表面進行打孔而形成孔。
  2. 如請求項1所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，其中所述控制部調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶。
  3. 如請求項1所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，其中所述光軸移動部包括：第一楔形窗，所述第一楔形窗使入射的雷射光束折射；第二楔形窗，所述第二楔形窗與所述第一楔形窗隔開，相對於所述第一楔形窗翻轉配置。
  4. 如請求項3所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，其中在調節所述第一楔形窗與所述第二楔形窗之間的隔開距離的同時，能夠調節所述雷射光束相對於所述基準光軸移動的距離，變更在所述載帶的表面形成的孔的大小。
  5. 如請求項1所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，還包括掃描器部，所述掃描器部包括使雷射光束反射的反射鏡；所述控制部根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度來調節所述反射鏡的位置， 調節所述雷射光束的照射位置，以使所述雷射光束追隨所述載帶。
  6. 如請求項5所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，其中所述掃描器部包括：使雷射光束反射的第一反射鏡、使所述第一反射鏡旋轉的第一馬達、使雷射光束反射的第二反射鏡、使所述第二反射鏡旋轉的第二馬達，所述控制部根據所述位置識別部感測的所述載帶的移動速度，使所述第一馬達和所述第二馬達旋轉，調節所述第一反射鏡和所述第二反射鏡的位置。
  7. 如請求項2所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，還包括聚焦透鏡，所述聚焦透鏡對穿過所述光軸移動部的雷射光束進行聚焦。
  8. 如請求項2所述的利用雷射打孔的載帶孔加工裝置，其中所述控制部在所述可變焦點部變更雷射光束的焦距，變更所述雷射光束的照射位置。
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