TWI813128B - 電極治具的中心校正方法 - Google Patents

Abstract

本發明電極治具的中心校正方法，包含以下步驟：放電加工機依據電極治具各部位的長寬高尺寸而形成複數個治具尺寸資訊；放電加工機的尋邊探球進行移動以接觸於基準探球的不同位置，使得放電加工機計算出能表示基準探球位置的探球中心座標資訊；放電加工機透過複數個治具尺寸資訊、探球中心座標資訊與安全值而形成移動指令；最後，放電加工機透過移動指令而帶動電極治具進行移動，使電極治具的不同側面個別接觸於基準探球，進而放電加工機能計算出表示電極治具中心位置的中心資訊，藉此，放電加工機能在短時間內取得每一個電極治具的中心位置，進而電極治具能移動到正確位置對被加工物進行放電加工。

Description

電極治具的中心校正方法

本發明有關於一種配合放電加工機使用的電極治具的中心校正方法，特別是一種在電極治具的電極頭對被加工物進行放電加工之前，能讓放電加工機在短時間內取得電極治具中心位置的中心校正方法。

目前被加工物幾乎都是透過傳統加工機(如：車床、銑床、鑽床、鉋床或磨床)進行切削加工，使得被加工物能達到預設的形體大小，而隨著科技技術不停進步，不論是被加工物的尺寸規格還是被加工物的表面精度都不斷的提高，進而演化出各種精密加工機(如：放電加工機)來對被加工物進行精密加工。

其中，習知精密化作業多是採用非傳統切削方式的放電加工(Electrical Discharge Machining，EDM)，而放電加工主要是將放電加工機的電極治具移動至被加工物20的周圍，接下來，放電加工機經由電極治具施加電壓而產生火花放電現象，使得放電加工機透過火花放電現象所產生的高溫來熔融切削被加工物，藉以讓被加工物達到精密加工的需求。

然而，一般放電加工機對被加工物進行放電加工進行放電加工之前，操作人員需手動操作放電加工機來讓電極治具接觸於被加工物的不同側面，使得放電加工機能取得電極治具與被加工物之間的相對位置關係，進而放電加工機就能將電極治具移動至正確位置來對被加工物進行放電加工，讓被加 工物達到預設的形狀大小，但是，操作人員手動操作放電加工機來讓電極治具接觸於被加工物的不同側面需要耗費較長的作業時間，往往放電加工機對被加工物進行放電加工的過程中需要使用複數個電極治具，而在每一個電極治具都需要接觸於被加工物的情況下，放電加工機對被加工物進行放電加工的作業時間就會被拉長，相對放電加工機的產能就會降低。

本發明的主要目的在於提供一種電極治具的中心校正方法，讓每一個電極治具在對被加工物進行放電加工之前，放電加工機能在短時間內取得每一個電極治具的中心位置，進而放電加工機能將電極治具移動到正確位置來對被加工物進行放電加工。

為實現前述目的，本發明電極治具的中心校正方法用以讓一放電加工機安裝一電極治具時能取得上述電極治具的中心位置，而上述中心校正方法包含以下步驟：一資訊建立步驟、一基準探球位置確認步驟、一移動指令產生步驟、一對位座標取得步驟以及一治具中心取得步驟。

上述資訊建立步驟：上述放電加工機依據上述電極治具的一凹座、一基準座以及一電極頭三者的尺寸而形成複數個治具尺寸資訊，而上述基準探球位置確認步驟：上述放電加工機的一尋邊探球與上述加工平台的一基準探球相互靠近，讓上述尋邊探球接觸於上述基準探球的不同位置，使得上述放電加工機取得複數個接觸座標資訊，而上述放電加工機依據複數個上述接觸座標資訊而計算出一表示上述基準探球位置的探球中心座標資訊。

上述移動指令產生步驟：上述放電加工機將複數個治具尺寸資訊與探球中心座標資訊配合一安全值而形成一讓上述基準探球能接觸於上述基準 座的移動指令；而上述對位座標取得步驟：上述放電加工機透過上述移動指令而帶動上述電極治具移動至複數個安全座標資訊，讓上述基準座的不同側面與上述基準探球接觸之間都形成一距離至少等於上述安全值的安全間距，而上述放電加工機再帶動上述電極治具從每一個上述安全座標資訊來靠近於上述基準探球，使上述基準探球接觸到上述基準座的不同側面，進而上述放電加工機取得複數個對位座標資訊；則上述治具中心取得步驟：上述放電加工機依據複數個上述對位座標資訊而計算出一表示上述電極治具中心位置的治具中心座標資訊。

於此實施例中，上述安全值的數值大小大於上述基準探球的半徑，而複數個上述接觸座標資訊是上述尋邊探球接觸於上述基準探球的最前端、最後端、最左端、最右端與最上端而形成。

此外，上述複數個治具尺寸資訊具有一凹座高度資訊、一基準座長度資訊、一基準座寬度資訊、一基準座高度資訊、一電極頭長度資訊與一電極頭高度資訊，上述凹座高度資訊用以表示上述凹座的高度，而上述基準座長度資訊、基準座寬度資訊與基準座高度資訊分別用以表示上述基準座的長寬高，且上述電極頭長度資訊與電極頭高度資訊分別用以表示上述電極頭的長寬高。

其中，上述資訊建立步驟進一步包含：由一電子裝置形成一3D治具模型，上述3D治具模型的形狀相同於上述電極治具，使得上述3D治具模型設有一形狀對應於上述電極頭的電極頭模型，上述電子裝置依據上述電極頭模型的輪廓形成一呈現矩形的邊界盒，而上述電子裝置依據上述的邊界盒的長高尺 寸而形成上述電極頭長度資訊與電極頭高度資訊，並將上述電極頭長度資訊與電極頭高度資傳遞給上述放電加工機。

其中，上述移動指令設有一快速位移指令以及複數個接觸位移指令，上述快速位移指令是透過上述放電加工機演算上述凹座高度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與探球中心座標資訊而被產生，使上述放電加工機透過上述快速位移指令而帶動上述電極治具移動至一待機座標資訊，上述電極治具與基準探球之間的間距能至少等於上述安全值，而上述電極治具透過上述每一個上述接觸位移指令而能在上述待機座標資訊、安全座標資訊與對位座標資訊三者之間移動。

此外，上述快速位移指令先後設有一第一位移指令以及一第二位移指令，上述放電加工機先透過上述第一位移指令而帶動上述電極治具移動至上述探球中心座標資訊，而後上述電極治具透過上述第二位移指令而帶動上述電極治具從上述探球中心座標資訊移動至上述待機座標資訊，使得上述基準座的與上述基準探球接觸之間的距離長度逐漸接近於上述安全間距。

於此實施例中，上述資訊建立步驟進一步包含：上述放電加工機依據具有上述尋邊探球的一尋邊探棒形成一表示上述尋邊探棒高度的尋邊探棒高度資訊，而上述移動指令產生步驟進一步包含：上述放電加工機將上述尋邊探棒高度資訊、凹座高度資訊、基準座高度資訊與電極頭高度資訊進行演算而形成上述第二位移指令。

另外，其中一個上述接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述電極頭長度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，使得上述電極治具透過其中一個上述接觸位移指令進行移動而能讓上述基準座的下側面接觸於上述 基準探球，而部分上述接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述基準座寬度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，使得上述電極治具透過部分上述接觸位移指令進行移動而能讓上述基準座的前側面與上述基準座的後側面接觸於上述基準探球，則剩餘上述接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述基準座長度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，使得上述電極治具透過剩餘上述接觸位移指令進行移動而能讓上述基準座的左側面與上述基準座的右側面接觸於上述基準探球。

再者，上述接觸位移指令具有一間隔指令以及一靠近指令，上述電極治具透過上述間隔指令而從上述待機座標資訊移動至上述安全座標資訊的過程中，上述電極治具與基準探球之間的安全間距能至少等於上述安全值，而上述電極治具透過上述靠近指令而從上述安全座標資訊靠近於上述基準座，使得電極治具與基準探球之間的安全間距逐漸小於上述安全值。

最後，上述尋邊探球是接觸到上述基準座的最前側面、最後側面、最左側面、最右側面與最下側面，使得上述複數個對位座標資訊含有一前對位座標資訊、一後對位座標資訊、一左對位座標資訊、一右對位座標資訊以及一下對位座標資訊，而當上述基準探球接觸到上述基準座的最前側面而使上述放電加工機形成上述前對位座標資訊時，上述放電加工機會對上述前對位座標資訊進行歸零，而後上述基準座的最後側面接觸到上述基準探球而形成上述後對位座標資訊，進而進行上述治具中心取得步驟時，上述放電加工機先透過上述前對位座標資訊與後對位座標資訊兩者的Y軸座標而得知上述基準座於Y軸方向的實際長度，而後再透過上述基準座於Y軸方向的實際長度計算出上述治具中心座標資訊的Y軸座標值。

其中，當上述基準探球接觸到上述基準座的最左前面側而使上述放電加工機形成上述左對位座標資訊時，上述放電加工機會對上述左對位座標資訊進行歸零，而後上述基準座的最右側面接觸到上述基準探球而形成上述右對位座標資訊，進而進行上述治具中心取得步驟時，上述放電加工機先透過上述左對位座標資訊與右對位座標資訊兩者的X軸座標而得知上述基準座於X軸方向的實際長度，而後再透過上述基準座於X軸方向的實際長度計算出上述治具中心座標資訊的X軸座標值。

本發明的特點在於放電加工機依據電極治具的各部位尺寸建立複數個治具尺寸資訊，接下來，放電加工機的移動主軸帶動尋邊探球進行移動以接觸於基準探球的不同位置，使得放電加工機取得複數個接觸座標資訊而計算出能表示基準探球中心位置的探球中心座標資訊，之後，放電加工機將複數個治具尺寸資訊與探球中心座標資訊配合安全值而形成移動指令，最後，放電加工機透過移動指令而帶動電極治具進行移動，使電極治具的不同側面個別接觸於基準探球而讓放電加工機取得複數個對位座標資訊，進而放電加工機依據複數個對位座標資訊而計算出表示電極治具中心位置的治具中心座標資訊，藉此，每一個電極治具的電極頭在對被加工物進行放電加工之前，讓放電加工機能在短時間內取得每一個電極治具的中心位置，進而放電加工機能將電極治具移動到正確位置來對被加工物進行放電加工，致使能縮短放電加工機對被加工物進行放電加工的作業時間，相對放電加工機的產能能夠提高。

10:放電加工機

11:基準面

12:移動主軸

13:加工平台

14:電極治具

141:凹座

142:電極本體

142a:連接座

142a1:凸出段

142b:基準座

142c:電極頭

143:電極固定片

144:電極連桿

15:尋邊探棒

151:尋邊連桿

152:尋邊固定片

153:尋邊本體

153a:尋邊探球

16:基準探棒

161:基準探球

20:被加工物

30:電子裝置

40:3D圖檔

41:凹座模型

42:連接座模型

43:基準座模型

44:電極頭模型

45:邊接點

46:邊界盒

S1:資訊建立步驟

S11:凹座資訊建立流程

S12:連接座資訊建立流程

S13:基準座資訊建立流程

S14:電極頭資訊建立流程

S15:電極固定片資訊建立流程

S16:尋邊探棒資訊建立流程

S2:基準探球位置確認步驟

S3:移動指令產生步驟

S4:對位座標取得步驟

S5:治具中心取得步驟

圖1為本發明快速自動定位方法的步驟方塊圖； 圖2為放電加工機的示意圖；圖3、圖4A與圖4B為圖1中進行資訊建立步驟示意圖；圖5A與圖5B為圖1中進行基準探球位置確認步驟的示意圖；圖6為圖1中進行移動指令產生步驟的示意圖；圖7A為電極治具移動至探球中心座標資訊的示意圖；圖7B為電極治具沿著Z軸靠近於基準探球的示意圖；圖7C為基準座接觸於基準探球前側面的示意圖；圖7D為基準座接觸於基準探球後側面的示意圖；圖7E為基準座接觸於基準探球左側面的示意圖；圖7F為基準座接觸於基準探球右側面的示意圖；圖7G為基準座接觸於基準探球下側面的示意圖；以及圖8為圖1中進行治具中心取得步驟的示意圖。

茲為便於更進一步對本發明之構造、使用及其特徵有更深一層明確、詳實的認識與瞭解，爰舉出較佳實施例，配合圖式詳細說明如下：於本案圖式中有繪製X軸、Y軸與Z軸，其中，X軸的兩側是操作人員使用放電加工機10時的左右兩側，Y軸的兩側是操作人員使用放電加工機時的前後兩側，Z軸的兩側是操作人員使用放電加工機時的上下兩側，進而於本案說明書中，「前」、「後」、「左」、「右」、「上」、「下」等方向性詞彙，是指操作人員使用放電加工機時所面對的方向，此外，本案說明書有描述多種座標資訊，而每一個座標資訊都設有一無法被修正的絕對座標與一能被修正的工作座標。

請參閱圖1與圖2所示，本發明電極治具的中心校正方法配合一放電加工機10使用，如圖2所示，放電加工機10具有一基準面11、一移動主軸12、一加工平台13、一電極治具14以及一尋邊探棒15，其中，基準面11設為Z軸座標值為零的平面，而移動主軸12能相對於基準面11而沿著X軸、Y軸與Z軸方向進行直線移動，其中，加工平台13定位在基準面11的下方，使得加工平台13無法相對於基準面11與移動主軸12進行移動，並且，加工平台13的角落位置安裝有一基準探棒16，而基準探棒16的頂端設有一呈現球體的基準探球161。

如圖所示，放電加工機10的電極治具14可選擇性安裝或卸除於放電加工機10的移動主軸12，而電極治具14具有一凹座141以及一可組卸於凹座141的電極本體142，凹座141朝向遠離電極本體142的方向依序設有一連接於凹座141的電極固定片143以及一連接於電極固定片143的電極連桿144，而電極連桿144可組卸於移動主軸12，其中，當電極連桿144組裝於移動主軸12時，電極固定片143的上側面重疊於放電加工機10的基準面11，此外，電極本體142由上往下依序設為一輪廓小於凹座141的連接座142a、一輪廓小於連接座142a的基準座142b以及一輪廓小於基準座142b的電極頭142c，連接座142a的一部分位在凹座141的內部，而連接座142a的剩餘部分位在凹座141的外部而設為一凸出段142a1，則基準座142b與電極頭142c兩者都位在凹座141的外部，使得凹座141、連接座142a、基準座142b與電極頭142c從移動主軸12朝向加工平台13的方向依序排列，於此實施例中，凹座141、連接座142a與基準座142b三者的外觀大致呈現方形樣態，而電極頭142c則會依據一被加工物20的形狀而呈現各種形狀，其中，凹座141、連接座142a、基準座142b與電極頭142c四者的中心點都位在同一條Z軸上，此外，尋邊探棒15可選擇性安裝或卸除於移動主軸12，並且，尋邊探棒 15由上往下依序具有一可組卸於移動主軸12的尋邊連桿151、一連接於尋邊連桿151的尋邊固定片152以及一連接於尋邊固定片152的尋邊本體153，而尋邊本體153的底端設有一呈現球體的尋邊探球153a，其中，當尋邊連桿151組裝於移動主軸12時，尋邊固定片152的上側面重疊於放電加工機10的基準面11，而尋邊固定片152的形狀大小相同於電極固定片143，於此實施例中，電極治具14設有一電極治具高度資訊以表示電極固定片143的最上側面與電極頭142c的最下側面之間的高度距離，而尋邊探棒15設有一尋邊探棒高度資訊以表示尋邊固定片152的最上側面與尋邊探球153a最下端之間的高度距離，且上述電極治具高度資訊小於上述尋邊探棒高度資訊。

請參閱圖1與圖3所示，放電加工機10對被加工物20(如圖2所示)進行放電加工之前，放電加工機10先執行電極治具14中心的快速自動定位方法，讓放電加工機10能先取得電極治具14的中心位置以形成一治具中心座標資訊，首先，先進行一資訊建立步驟S1，放電加工機10會依據電極治具14的凹座141、電極治具14的凸出段142a1、電極治具14的基準座142b、電極治具14的電極頭142c與電極治具14的電極固定片143五者的尺寸而形成複數個治具尺寸資訊，於此實施例中，複數個治具尺寸資訊分別設為一凹座高度資訊、一凸出段高度資訊、一基準座長度資訊、一基準座寬度資訊、一基準座高度資訊、一電極頭長度資訊、一電極頭寬度資訊、一電極頭高度資訊與上述電極固定片高度資訊，而上述凹座高度資訊、凸出段高度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與電極固定片高度資訊六者加總等於為上述電極治具高度資訊，於此實施例中，放電加工機10形成凹座高度資訊、凸出段高度資訊、基準座長度資訊、基準座寬度資訊、基準座高度資訊、電極頭長度資訊、電極頭寬度資訊、電極頭高度資訊 與電極固定片高度資訊的方式如下：首先，操作人員操作放電加工機10的操作面板而輸入電極治具14的凹座141於Z軸方向的高度尺寸，使放電加工機10形成上述凹座高度資訊以表示凹座141於Z軸方向的高度尺寸，藉此，即完成資訊建立步驟S1中的一凹座資訊建立流程S11。

接下來，操作人員繼續操作放電加工機10的操作面板而輸入連接座142a的凸出段142a1於Z軸方向的高度尺寸，使得電加工機形成上述凸出段高度資訊以表示突出部於Z軸方向的高度，藉此，即完成資訊建立步驟S1中的一連接座資訊建立流程S12。

之後，操作人員再次操作放電加工機10的操作面板而輸入基準座142b於X軸方向的長度尺寸、基準座142b於Y軸方向的寬度尺寸與基準座142b於Z軸方向的高度尺寸，使放電加工機10形成用以表示基準座142b於X軸方向長度尺寸的上述基準座長度資訊、用以表示基準座142b於Y軸方向寬度尺寸的基上述準座寬度資訊以及用以表示基準座142b於Z軸方向高度尺寸的上述基準座高度資訊，藉此，即完成資訊建立步驟S1中的一基準座資訊建立流程S13。

請參閱圖1、圖4A與圖4B所示，操作人員準備一電子裝置30(如：電腦)，並且，操作人員依據電極治具14的形體大小而使用一安裝於電子裝置30的3D繪圖軟體進行繪製而形成一3D圖檔40，而3D圖檔40由上往下依序設有一形狀對應於凹座141的凹座模型41、一形狀對應於連接座142a的連接座模型42、一形狀對應於基準座142b的基準座模型43以及一形狀對應於電極頭142c的電極頭模型44，接下來，電子裝置30依據電極頭模型44的輪廓形狀而在電極頭模型44的最前、後、左、右、上、下端各取得一邊接點45，而電子裝置30再透過複數個邊接點45形成一呈現矩形的邊界盒46，如圖所示，邊界盒46包覆於電極治具 14的電極頭142c，讓電極頭142c位在邊界盒46的內部，之後，電子裝置30依據的邊界盒46於X軸方向的長度尺寸、邊界盒46於Y軸方向的寬度尺寸與邊界盒46於Z軸方向的高度尺寸而形成用以表示電極頭142c於X軸方向最大長度的上述電極頭長度資訊、用以表示電極頭142c於Y軸方向最大寬度的上述電極頭寬度資訊以及表示電極頭142c於Z軸方向最大高度的上述電極頭高度資訊，並且，電子裝置30將上述電極頭長度資訊、電極頭寬度資訊與電極頭高度資訊傳遞給放電加工機10，藉此，即完成資訊建立步驟S1中的一電極頭資訊建立流程S14。

再請參閱圖2與圖3所示，操作人員操作放電加工機10的操作面板而輸入電極治具14的電極固定片143於Z軸方向的高度尺寸，使放電加工機10形成上述電極固定片高度資訊以表示電極固定片143於Z軸方向的高度尺寸，藉此，即完成資訊建立步驟S1中的一電極固定片資訊建立流程S15。

接下來，操作人員再操作放電加工機10的操作面板依據操作人員再操作放電加工機10的操作面板輸入上述尋邊探棒高度資訊以表示尋邊固定片152的最上側面與尋邊探球153a最下端之間的高度距離，進而上述尋邊探棒高度資訊含有尋邊固定片152於Z軸方向的高度與尋邊本體153於Z軸方向的高度，藉此，即完成資訊建立步驟S1中的一尋邊探棒資訊建立流程S16，其中，而當放電加工機10儲存有數個治具尺寸資訊(凹座高度資訊、凸出段高度資訊、基準座長度資訊、基準座寬度資訊、基準座高度資訊、電極頭長度資訊、電極頭寬度資訊、電極頭高度資訊、電極固定片高度資訊)以及尋邊探棒高度資訊時，即完成資訊建立步驟S1。

於此實施例中，資訊建立步驟S1雖然是從凹座資訊建立流程S11依序進行連接座資訊建立流程S12、基準座資訊建立流程S13、電極頭資訊建立 流程S14、電極固定片資訊建立流程S15與尋邊探棒資訊建立流程S16，但是，凹座資訊建立流程S11、連接座資訊建立流程S12、基準座資訊建立流程S13、電極頭資訊建立流程S14與電極固定片資訊建立流程S15、尋邊探棒資訊建立流程S16六者的步驟順序可隨機調整，使得能先進行連接座資訊建立流程S12、基準座資訊建立流程S13、電極頭資訊建立流程S14、電極固定片資訊建立流程S15或是尋邊探棒資訊建立流程S16。

請參閱圖1、圖5A與圖5B所示，當完成資訊建立步驟S1之後，開始進行一基準探球位置確認步驟S2，首先，將放電加工機10的尋邊探棒15的尋邊連桿151安裝於放電加工機10的移動主軸12，使得尋邊探棒15的尋邊固定片152上側面重疊於放電加工機10的基準面11，接下來，移動主軸12從X、Y、Z三軸座標值為零的原點進行移動，使移動主軸12帶動尋邊探棒15靠近於加工平台13的基準探棒16，讓尋邊探球153a接觸於基準探棒16的基準探球161的不同位置，於此實施例中，尋邊探球153a先碰觸到基準探球161的最前端，當尋邊探球153a碰觸到基準探球161的最前端時，放電加工機10會依據尋邊探球153a與基準探球161兩者的接觸點位置而取得一前接觸座標資訊，接下來，尋邊探球153a會依序碰觸到基準探球161的最後端、基準探球161的最左端、基準探球161的最右端與基準探球161的最上端，讓放電加工機10取得一後接觸座標資訊、一左接觸座標資訊、一右接觸座標資訊與一上接觸座標資訊，當放電加工機10取得前、後、左、右、上接觸座標資訊之後，放電加工機10依據前、後、左、右、上接觸座標資訊五者的絕對座標而計算出一探球中心座標資訊來以表示基準探球161的座標位置，而當放電加工機10計算出探球中心座標資訊時，即完成基準探球位置確認步驟S2，於此實施例中，基準探球161的探球中心座標資訊位在基準 探球161的最高點，而放電加工機10將上述探球中心座標資訊的工作座標進行歸零，使得上述探球中心座標資訊的工作座標的X、Y、Z三軸的座標值都是零。

請參閱圖1與圖6所示，當完成基準探球位置確認步驟S2之後，放電加工機10將凹座高度資訊、凸出段高度資訊、基準座長度資訊、基準座寬度資訊、基準座高度資訊、電極頭長度資訊、電極頭寬度資訊、電極頭高度資訊、尋邊探棒高度資訊、電極固定片高度資訊與探球中心座標資訊十一者配合一設為數字的安全值而形成一移動指令，藉此，即完成一移動指令產生步驟S3，於此實施例中，上述安全值的數值大小大於基準探球161的半徑，而上述移動指令主要由一快速位移指令以及複數個接觸位移指令所構成，而每一個接觸位移指令含有一間隔指令、一靠近指令與一返回指令，於此實施例中，複數個接觸位移指令分別設為一前接觸位移指令、一後接觸位移指令、一左接觸位移指令、一右接觸位移指令以及一下接觸位移指令。

其中，上述移動指令的快速位移指令是透過上述放電加工機演算上述凹座高度資訊、凸出段高度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊、尋邊探棒高度資訊、電極固定片高度資訊與探球中心座標資訊而被產生，於較佳實施例中，上述移動指令先後依序設有一第一位移指令以及一第二位移指令，上述第一位移指令是透過上述放電加工機10演算單獨演算探球中心座標資訊而被產生，則上述第二位移指令是上述放電加工機10將上述尋邊探棒高度資訊、凹座高度資訊、凸出段高度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與電極固定片高度資訊進行演算而形成上述第二位移指令。

而上述移動指令的前、後接觸位移指令兩者是透過上述放電加工機演算上設基準座寬度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被 產生，然而，上述移動指令的左、右接觸位移指令兩者是透過上述放電加工機演算上設基準座長度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，則上述移動指令的下接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述電極頭長度資訊(或電極頭寬度資訊)、電極頭高度資訊與安全值而被產生。

請參閱圖1與圖7A所示，將放電加工機10的尋邊探棒15卸除於放電加工機10的移動主軸12，再將放電加工機10的電極治具14安裝於移動主軸12，移動主軸12透過上述移動指令而帶動放電加工機10從原點進行移動，於此實施例中，移動主軸12先依循上述快速位移指令的第一位移指令而帶動電極治具14移動至上述探球中心座標資訊，因為上述電極治具高度資訊小於上述尋邊探棒高度資訊，使得電極治具14位在基準探球161的正上方，當電極治具14位在上述探球中心座標資訊時，電極治具14的電極頭142c沿著Z軸而間隔排列於基準探球161，此時，電極頭142c與基準探球161兩者之間的間隔距離大於上述安全值，請參閱圖7B所示，接下來，移動主軸12後依循上述快速位移指令的第二位移指令而帶動電極治具14從上述探球中心座標資訊而移動至一待機座標資訊，使移動主軸12帶動電極治具14的電極頭142c靠近於基準探球161，進而電極治具14與基準探球161之間的間隔至少等於上述安全值，之後請參閱圖7C所示，移動主軸12依循上述前接觸位移指令的間隔指令來帶動電極治具14從上述待機座標資訊移動至一後安全座標資訊，讓電極治具14位在基準探球161的後側，其中，在電極治具14從上述待機座標資訊移動至上述後安全座標資訊的過程中，電極治具14與基準探球161之間的間隔大小都保持在上述安全值以上，進而避免電極治具14撞擊到基準探球161，接下來，移動主軸12依循上述前接觸位移指令的靠近指令來帶動電極治具14從上述後安全座標資訊靠近基準探球161，讓電極治具 14與基準探球161之間的安全間距逐漸小於上述安全值，進而讓基準探球161能接觸到電極治具14的基準座142b最前側面，當基準探球161接觸到基準座142b的最前側時，放電加工機10會依據基準探球161與基準座142b的最前側面兩者的接觸點位置而取得一前對位座標資訊，此時，放電加工機10將上述前對位座標資訊的工作座標進行歸零，使得上述前對位座標資訊的工作座標的X、Y、Z三軸的座標值都是零，之後，移動主軸12再依循上述前接觸位移指令的返回指令來帶動電極治具14從上述前對位座標資訊移動移回至待機座標資訊，然而，放電加工機10將上述前對位座標資訊的工作座標進行歸零以讓上述前對位座標資訊的工作座標的X、Y、Z三軸的座標值都是零僅方便說明之用，亦即放電加工機10可單獨對上述前對位座標資訊的工作座標中的Y軸座標值進行歸零。

請參閱圖7D所示，移動主軸12接下來依循上述後接觸位移指令的間隔指令來帶動電極治具14從上述待機座標資訊移動至一前安全座標資訊，讓電極治具14位在基準探球161的前側，其中，在電極治具14從上述待機座標資訊移動至上述前安全座標資訊的過程中，電極治具14與基準探球161之間的間隔大小都保持在上述安全值以上，接下來，移動主軸12依循上述後接觸位移指令的靠近指令來帶動電極治具14從上述前安全座標資訊靠近基準探球161，讓電極治具14與基準探球161之間的安全間距逐漸小於上述安全值，進而讓基準探球161接觸到電極治具14的基準座142b最後側面，當基準探球161接觸到基準座142b的最後側面時，放電加工機10會取得一後對位座標資訊以表示基準探球161與基準座142b的最後側面兩者的接觸點位置，之後，移動主軸12依循上述後接觸位移指令的返回指令來帶動電極治具14從上述後對位座標資訊移動移回至待機座標資訊。

請參閱圖7E所示，放電加工機10的移動主軸12依循左接觸位移指令的間隔指令來帶動電極治具14從上述待機座標資訊移動至一右安全座標資訊，讓電極治具14位在基準探球161的右側，其中，在電極治具14從上述待機座標資訊移動至上述右安全座標資訊的過程中，電極治具14與基準探球161之間的間隔大小都保持在上述安全值以上，接下來，移動主軸12依循上述左接觸位移指令的靠近指令來帶動電極治具14從上述右安全座標資訊靠近基準探球161，讓電極治具14與基準探球161之間的安全間距逐漸小於上述安全值，進而讓基準探球161接觸到電極治具14的基準座142b最左側面，當基準探球161接觸到基準座142b的最左側面時，放電加工機10會依據基準探球161與基準座142b的最左側兩者的接觸點位置而取得一左對位座標資訊，此時，放電加工機10將上述左對位座標資訊的工作座標進行歸零，使得上述左對位座標資訊的工作座標的X、Y、Z三軸的座標值都是零，之後，移動主軸12再依循上述左接觸位移指令的返回指令來帶動電極治具14從上述左對位座標資訊移動移回至上述待機座標資訊，然而，放電加工機10將上述左對位座標資訊的工作座標進行歸零以讓上述左對位座標資訊的工作座標的X、Y、Z三軸的座標值都是零僅方便說明之用，亦即放電加工機10可單獨對上述左對位座標資訊的工作座標中的X軸座標值進行歸零。

請參閱圖7F所示，移動主軸12接下來依循上述右接觸位移指令的間隔指令來帶動電極治具14從上述待機座標資訊移動至一左安全座標資訊，讓電極治具14位在基準探球161的左側，其中，在電極治具14從上述待機座標資訊移動至上述左安全座標資訊待機座標資訊的過程中，電極治具14與基準探球161之間的間隔大小都保持在上述安全值以上，接下來，移動主軸12依循上述右接觸位移指令的靠近指令來帶動電極治具14從上述左安全座標資訊靠近基準探球 161，讓電極治具14與基準探球161之間的安全間距逐漸小於上述安全值，進而讓基準探球161接觸到電極治具14的基準座142b最右側面，當基準探球161接觸到基準座142b的最右側面時，放電加工機10會取得一右對位座標資訊以表示基準探球161與基準座142b的最右側兩者的接觸點位置，之後，移動主軸12依循上述後接觸位移指令的返回指令來帶動電極治具14從上述右對位座標資訊移動移回至待機座標資訊。

請參閱圖7G所示，移動主軸12最後依循上述下接觸位移指令的間隔指令來帶動電極治具14從上述待機座標資訊進行移動至一上安全座標資訊，讓電極治具14的基準座142b最下側面能夠靠近於基準探球161的上端，進而基準座142b的最下側面與基準探球161之間的安全間距大致等於上述安全值，其中，在電極治具14從上述待機座標資訊移動至上述上安全座標資訊的過程中，基準座142b的最下側面與基準探球161之間的間隔大小都保持在上述安全值以上，接下來，移動主軸12依循下接觸位移指令的靠近指令來帶動電極治具14從上安全座標資訊，讓基準座142b的最下側面與基準探球161之間的安全間距逐漸小於上述安全值，當基準座142b的最下側面接觸到基準探球161的上端，放電加工機10會依據基準探球161與基準座142b的最下側面兩者的接觸點位置而取得一下對位座標資訊，之後，移動主軸12依循上述下接觸位移指令的返回指令來帶動電極治具14從上述下對位座標資訊移動移回至上述待機座標資訊，而當放電加工機10取得上述前對位座標資訊、後對位座標資訊、左對位座標資訊、右對位座標資訊與下對位座標資訊時，即完成一對位座標取得步驟S4。

請參閱圖8所示，完成對位座標取得步驟S4之後，放電加工機10依據前、後對位座標資訊兩者的工作座標中的Y軸座標值而得知基準座142b於Y 軸方向的實際長度，並且，放電加工機10將基準座142b於Y軸方向的實際長度除以2而能計算出治具中心座標資訊的Y軸座標值，之後，放電加工機10依據左、右對位座標資訊兩者的工作座標中的X軸座標值而得知基準座142b於X軸方向的實際長度，並且，放電加工機10將基準座142b於X軸方向的實際長度除以2而能計算出治具中心座標資訊的X軸座標值。

接下來，放電加工機10依據下對位座標資訊的絕對座標中的Z軸座標值來當作治具中心座標資訊的Z軸座標值，而當治具中心座標資訊的X、Y、Z三軸座標值都被確認時，即完成一治具中心取得步驟S5，進而電極治具14的中心位置可以對準於基準探球161的探球中心座標資訊，讓電極治具14的中心位置能與基準探球161的探球中心座標資訊位在同一個Z軸上，藉此，當電極治具14的中心位置對準於基準探球161的探球中心座標資訊之後，放電加工機10能快速移動到基準探球161的正上方，使放電加工機10能將電極治具14從基準探球161的正上方移動到正確位置來對被加工物20進行放電加工，致使能縮短放電加工機10對被加工物20進行放電加工的作業時間，相對放電加工機10的產能能夠提高。

以上所舉實施例，僅用為方便說明本發明並非加以限制，在不離作之各種簡易變形與修飾，均仍應含括於以下申請專利範圍中。

S1:資訊建立步驟

S11:凹座資訊建立流程

S12:連接座資訊建立流程

S13:基準座資訊建立流程

S14:電極頭資訊建立流程

S15:電極固定片資訊建立流程

S16:尋邊探棒資訊建立流程

S2:基準探球位置確認步驟

S3:移動指令產生步驟

S4:對位座標取得步驟

S5:治具中心取得步驟

Claims (12)

1. 一種電極治具的中心校正方法，讓一放電加工機安裝一電極治具時能取得上述電極治具的中心位置，而上述中心校正方法，包含：一資訊建立步驟：上述放電加工機依據上述電極治具的一凹座、一基準座以及一電極頭三者的尺寸而形成複數個治具尺寸資訊；一基準探球位置確認步驟：上述放電加工機的一尋邊探球與一加工平台的一基準探球相互靠近，讓上述尋邊探球接觸於上述基準探球的不同位置，使得上述放電加工機取得複數個接觸座標資訊，而上述放電加工機依據複數個上述接觸座標資訊而計算出一表示上述基準探球位置的探球中心座標資訊；一移動指令產生步驟：上述放電加工機將複數個治具尺寸資訊與探球中心座標資訊配合一安全值而形成一讓上述基準探球能接觸於上述基準座的移動指令；一對位座標取得步驟：上述放電加工機透過上述移動指令而帶動上述電極治具移動至複數個安全座標資訊，讓上述基準座的不同側面與上述基準探球接觸之間都形成一距離至少等於上述安全值的安全間距，而上述放電加工機再帶動上述電極治具從每一個上述安全座標資訊來靠近於上述基準探球，使上述基準探球接觸到上述基準座的不同側面，進而上述放電加工機取得複數個對位座標資訊；以及一治具中心取得步驟：上述放電加工機依據複數個上述對位座標資訊而計算出一表示上述電極治具中心位置的治具中心座標資訊。
2. 如請求項1所述電極治具的中心校正方法，其中，上述安全值的數值大小大於上述基準探球的半徑。
3. 如請求項1所述電極治具的中心校正方法，其中，複數個上述接觸座標資訊是上述尋邊探球接觸於上述基準探球的最前端、最後端、最左端、最右端與最上端而形成。
4. 如請求項1所述電極治具的中心校正方法，其中，上述複數個治具尺寸資訊具有一凹座高度資訊、一基準座長度資訊、一基準座寬度資訊、一基準座高度資訊、一電極頭長度資訊與一電極頭高度資訊，上述凹座高度資訊用以表示上述凹座的高度，而上述基準座長度資訊、基準座寬度資訊與基準座高度資訊分別用以表示上述基準座的長寬高，且上述電極頭長度資訊與電極頭高度資訊分別用以表示上述電極頭的長寬高。
5. 如請求項4所述電極治具的中心校正方法，其中，上述資訊建立步驟進一步包含：由一電子裝置形成一3D治具模型，上述3D治具模型的形狀相同於上述電極治具，使得上述3D治具模型設有一形狀對應於上述電極頭的電極頭模型，上述電子裝置依據上述電極頭模型的輪廓形成一呈現矩形的邊界盒，而上述電子裝置依據上述的邊界盒的長高尺寸而形成上述電極頭長度資訊與電極頭高度資訊，並將上述電極頭長度資訊與電極頭高度資傳遞給上述放電加工機。
6. 如請求項4所述電極治具的中心校正方法，其中，上述移動指令設有一快速位移指令以及複數個接觸位移指令，上述快速位移指令是透過上述放電加工機演算上述凹座高度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與探球中心座標資訊而被產生，使上述放電加工機透過上述快速位移指令而帶動上述電極治具移動至一待機座標資訊，上述電極治具與基準探球之間的間距能至 少等於上述安全值，而上述電極治具透過上述每一個上述接觸位移指令而能在上述待機座標資訊、安全座標資訊與對位座標資訊三者之間移動。
7. 如請求項6所述電極治具的中心校正方法，其中，上述快速位移指令先後設有一第一位移指令以及一第二位移指令，上述放電加工機先透過上述第一位移指令而帶動上述電極治具移動至上述探球中心座標資訊，而後上述電極治具透過上述第二位移指令而帶動上述電極治具從上述探球中心座標資訊移動至上述待機座標資訊，使得上述基準座的與上述基準探球接觸之間的距離長度逐漸接近於上述安全間距。
8. 如請求項7所述電極治具的中心校正方法，其中，上述資訊建立步驟進一步包含：上述放電加工機依據具有上述尋邊探球的一尋邊探棒形成一表示上述尋邊探棒高度的尋邊探棒高度資訊；上述移動指令產生步驟進一步包含：上述放電加工機將上述尋邊探棒高度資訊、凹座高度資訊、基準座高度資訊與電極頭高度資訊進行演算而形成上述第二位移指令。
9. 如請求項6所述電極治具的中心校正方法，其中，其中一個上述接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述電極頭長度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，使得上述電極治具透過其中一個上述接觸位移指令進行移動而能讓上述基準座的下側面接觸於上述基準探球，而部分上述接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述基準座寬度資訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，使得上述電極治具透過部分上述接觸位移指令進行移動而能讓上述基準座的前側面與上述基準座的後側面接觸於上述基準探球，則剩餘上述接觸位移指令是透過上述放電加工機演算上述基準座長度資 訊、基準座高度資訊、電極頭高度資訊與安全值而被產生，使得上述電極治具透過剩餘上述接觸位移指令進行移動而能讓上述基準座的左側面與上述基準座的右側面接觸於上述基準探球。
10. 如請求項6所述電極治具的中心校正方法，其中，上述接觸位移指令具有一間隔指令以及一靠近指令，上述電極治具透過上述間隔指令而從上述待機座標資訊移動至上述安全座標資訊的過程中，上述電極治具與基準探球之間的安全間距能至少等於上述安全值，而上述電極治具透過上述靠近指令而從上述安全座標資訊靠近於上述基準座，使得電極治具與基準探球之間的安全間距逐漸小於上述安全值。
11. 如請求項1所述電極治具的中心校正方法，其中，上述尋邊探球是接觸到上述基準座的最前側面、最後側面、最左側面、最右側面與最下側面，使得上述複數個對位座標資訊含有一前對位座標資訊、一後對位座標資訊、一左對位座標資訊、一右對位座標資訊以及一下對位座標資訊，而當上述基準探球接觸到上述基準座的最前側面而使上述放電加工機形成上述前對位座標資訊時，上述放電加工機會對上述前對位座標資訊進行歸零，而後上述基準座的最後側面接觸到上述基準探球而形成上述後對位座標資訊，進而進行上述治具中心取得步驟時，上述放電加工機先透過上述前對位座標資訊與後對位座標資訊兩者的Y軸座標而得知上述基準座於Y軸方向的實際長度，而後再透過上述基準座於Y軸方向的實際長度計算出上述治具中心座標資訊的Y軸座標值。
12. 如請求項11所述電極治具的中心校正方法，其中，當上述基準探球接觸到上述基準座的最左前面側而使上述放電加工機形成上述左對位座標資訊時，上述放電加工機會對上述左對位座標資訊進行歸零，而後上述基準 座的最右側面接觸到上述基準探球而形成上述右對位座標資訊，進而進行上述治具中心取得步驟時，上述放電加工機先透過上述左對位座標資訊與右對位座標資訊兩者的X軸座標而得知上述基準座於X軸方向的實際長度，而後再透過上述基準座於X軸方向的實際長度計算出上述治具中心座標資訊的X軸座標值。

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