TWI767701B - 電路基板以及檢測方法 - Google Patents

Abstract

電路基板具有多個裝設區以供發光元件裝設。電路基板具有導線層以及走線層。走線層包含公共電極以及分別對應至多個裝設區的多條走線。導線層包含多條導線分別設置在多個裝設區，並且在同一個裝設區中的發光元件透過多條導線而彼此電性串聯。本揭示文件提供的電路基板將導線配置在特定位置，藉此在檢測階段判斷導線與走線之間是否異常短路。

Description

電路基板以及檢測方法

本案係關於一種電路基板以及檢測方法，特別係關於一種可被檢測是否異常短路的電路基板以及檢測方法。

現今的顯示器所具有的背光燈板通常包含多個發光元件以及裝設這些發光元件的電路基板。在背光燈板的製造過程中，將發光元件裝設在電路基板之前，可以對電路基板的陣列進行檢測，以提升電路基板的品質，進而降低顯示器整體的製程成本。

本揭示文件提供一種電路基板。電路基板具有複數個裝設區，適用於供複數個發光元件裝設。電路基板包含走線層以及導線層。走線層包含複數條走線以及公共電極，其中該些走線以及公共電極沿第一方向延伸，並且該些走線包含複數條第一走線、複數條第二走線以及複數條第三走線。該些第一走線排列相鄰於公共電極。該些第三走線排列在該些第一走線以及該些第三走線之間。導線層包含複數條導線，其中該些導線分別設置在該些裝設區，並且在該些裝設區中之每一者包含第一導線、複數條彼此分離的第二導線、至少一第三導線以及第四導線。第一導線沿第二方向延伸，並且電性耦接公共電極，其中第一導線跨越該些第一走線。複數條彼此分離的第二導線沿第二方向延伸，其中該些第二導線跨越該些第二走線。至少一第三導線沿第一方向延伸。第四導線沿第二方向延伸，第四導線電性耦接該些走線中之一對應者。

本揭示文件提供另一種電路基板。電路基板具有複數個裝設區，適用於供複數個發光元件裝設，電路基板包含走線層以及導線層。走線層包含複數條走線以及公共電極，其中該些走線以及公共電極沿第一方向延伸。該些走線包含複數條第一走線、複數條第二走線以及複數條第三走線。複數條第一走線，排列相鄰於公共電極。複數條第三走線，其中該些第二走線排列在該些第一走線以及該些第三走線之間。導線層包含複數條導線，其中該些導線分別設置在該些裝設區，並且在該些裝設區中之每一者包含第一導線、複數條彼此分離的第二導線、第三導線以及第四導線。第一導線，沿第二方向延伸，電性耦接公共電極，其中該第一導線跨越該些第一走線以及該些第二走線。複數條彼此分離的第二導線沿第一方向延伸。第三導線沿第二方向延伸，跨越該些第二走線。第四導線沿第二方向延伸，第四導線電性耦接該些走線中之一對應者。

綜上所述，本揭示文件提供的電路基板具有導線的特定配置位置，從而在檢測階段能判斷導線是否與走線之間發生異常短路。

下列係舉實施例配合所附圖示做詳細說明，但所提供之實施例並非用以限制本揭露所涵蓋的範圍，而結構運作之描述非用以限制其執行順序，任何由元件重新組合之結構，所產生具有均等功效的裝置，皆為本揭露所涵蓋的範圍。另外，圖示僅以說明為目的，並未依照原尺寸作圖。為使便於理解，下述說明中相同元件或相似元件將以相同之符號標示來說明。

在全篇說明書與申請專利範圍所使用之用詞(terms)，除有特別註明除外，通常具有每個用詞使用在此領域中、在此揭露之內容中與特殊內容中的平常意義。

此外，在本文中所使用的用詞『包含』、『包括』、『具有』、『含有』等等，均為開放性的用語，即意指『包含但不限於』。此外，本文中所使用之『及／或』，包含相關列舉項目中一或多個項目的任意一個以及其所有組合。

於本文中，當一元件被稱為『耦接』或『耦接』時，可指『電性耦接』或『電性耦接』。『耦接』或『耦接』亦可用以表示二或多個元件間相互搭配操作或互動。此外，雖然本文中使用『第一』、『第二』、…等用語描述不同元件，該用語僅是用以區別以相同技術用語描述的元件或操作。

在一些實施例中，為了讓顯示器所顯示的畫面更貼近人眼眼觀察到的真實世界，高動態範圍(High Dynamic Range；HDR)技術藉由局部背光模組的區域調光，使顯示畫面亮案對比更明顯和暗態細節更清晰。局部背光模組可以由一片玻璃基板實現，或者由少數(例如兩片)的玻璃基板實現，從而減少拼接暗紋。局部背光模組的區域調光需要將發光元件分區控制，從而達到局部背光模組的區域調光。舉例而言，若一個電路基板具有1152顆發光元件，並將1152顆發光元件區分並分別設置在288個裝設區。一個裝設區用以設置4顆發光元件，透過288個驅動電路分別驅動在288個裝設區中的發光元件，從而分別控制在288個裝設區中的發光元件的亮度。然而，為了控制每一個裝設區中的發光元件的亮度，在電路基板每一列中皆會設置與一列裝設區數量相當的走線，以提供各個裝設區各自的電位，從而達到局部調光。因此鄰近驅動電路設置位置的裝設區將會包含數量較多的走線，而在裝設區用以連接發光元件的部分導線因而會跨越這些走線，因此本揭示文件提供具有特定的走線配置的電路基板以及檢測方法以檢測前述的走線以及導線之間是否短路。

請參閱第1A圖，第1A圖是依據本揭示文件的電路基板100a的俯視圖的示意圖。電路基板100a包含多條走線NL、公共電極Pc以及裝設區IA。裝設區IA包含的導線WP、W1、W2以及W3用以電性串連四顆發光元件10並將四顆發光元件10電性耦接至公共電極Pc。在裝設發光元件10之後，多條走線NL中之每一者用於傳送對應的資料電壓至對應的裝設區，使各個裝設區IA中的發光元件10可以在相應的亮度顯示，藉此達到局部背光模組的區域調光。在後續實施例中會詳細說明多條走線NL之設置如何將對應的資料電壓傳送至相應的裝設區IA。

在第1A圖所示的實施例中，電路基板100a用以裝設1152顆發光元件10，並且電路基板100a中的每個裝設區IA用以裝設4顆發光元件10。亦即，電路基板100a具有288個裝設區IA。電路基板100a中的288個裝設區IA是以18×16的矩陣排列。在每個裝設區IA中所設置的4顆發光元件是以2行×2列的矩陣排列。第1A圖僅繪示電路基板100a中第1行至第4行中2列的裝設區IA。發光元件10可以由發光二極體實施。例如，發光元件10可以是微型發光二極體（micro-LED）、次毫米發光二極體（mini-LED）或是尺寸比次毫米發光二極體大的一般發光二極體。

在其他實施例中，同一裝設區IA內所設置的發光元件10可以由其他數量實施。例如，二個發光元件10呈1行×2列矩陣排列。或者，六個發光元件10呈3行×2列矩陣排列。因此，這些發光元件10其中至少兩顆可以設置在裝設區IA內。並且，電路基板100a具備的裝設區IA以及發光元件10亦可由其他數量以及排列方式實施。因此第1A圖僅供舉例說明，非限制裝設區IA以及發光元件10的數量以及排列方式。

請一併參閱第1B圖，第1B圖繪示第1A圖中的電路基板100a在第1行第1列的裝設區IA的示意圖。如第1B圖所示，裝設區IA包含導線WP、W1、W2、W3以及WN、多條走線NL以及公共電極Pc。多條走線NL以及公共電極Pc設置在走線層，多條導線WP、W1、W2、W3以及WN設置在導線層，導線層相異於走線層，且導線層設置在走線層之上。並且，在電路基板100a的每一個裝設區IA中皆包含導線WP、W1、W2、W3以及WN以及公共電極Pc。多條走線NL以及公共電極Pc沿第一方向D1延伸。多條走線NL包含走線N1~N18，且走線N1~N18彼此電性隔絕。多條走線NL由下而上依序排列為走線N1~N18。

需要說明的是，在第1A圖以及第1B圖所示的實施例中，透過多條走線NL以及公共電極Pc驅動各個裝設區IA驅動的發光元件10的驅動電路是設置在電路基板100a的左側，因而在同一列中的18個裝設區IA的走線N1~N18由左而右應為依次遞減。

也就是說，電路基板100a在第1行的每一個裝設區IA內皆具有走線N1~N18；電路基板100a在第2行的每一個裝設區IA內皆具有走線N2~N18；電路基板100a在第3行的每一個裝設區IA內皆具有走線N3~N18，依此類推。

請參閱第1C圖，第1C圖繪示第1A圖中的電路基板100a在第17行第1列的裝設區IA的示意圖。如第1C圖所示，在電路基板100a上第17行第1列的裝設區IA的走線層僅具有走線N17及N18與公共電極Pc，而不會有走線N1~N16。

並且，在電路基板100a同一列的裝設區IA中，多條走線NL(走線N1~N18)分別電性連接18個裝設區IA中每一者的導線WN。如此一來，電路基板100a同一列的18個裝設區IA中每一者的導線WN分別電性連接走線N1~N18。

換言之，第1行裝設區IA內的導線WN電性連接至在同一列的走線N1，第2行裝設區IA內的導線WN電性連接至在同一列的走線N2，第3行裝設區IA內的導線WN電性連接在同一列的走線N3，依此類推，第18行裝設區IA內的導線WN電性連接在同一列的走線N18。

因此，在電路基板100a同一列的18個裝設區中，走線N1~N18分別電性連接18個裝設區IA內各自的導線WN。並且，各個裝設區IA的導線WP皆電性連接公共電極Pc。如此一來，將發光元件10裝設至電路基板100a之後，在同一個裝設區IA內的發光元件10會透過導線WP、W1、W2、W3以及WN而彼此電性串聯且能經由電路基板100a接收電流而發光。

並且，在裝設發光元件10之後，走線N1~N18中之每一者用於傳送對應的資料電壓至18個裝設區中之對應者，使各個裝設區IA中的發光元件10可以在相應的亮度顯示，藉此達到局部背光模組的區域調光。

在一些實施例中，當走線N1~N18電性連接外部電源的負極，而公共電極Pc電性連接外部電源的正極時，導線WN的電性為負，而導線WP的電性為正。另一方面，當走線N1~N18電性連接外部電源的正極，而公共電極Pc電性連接外部電源的負極時，導線WN的電性為正，而導線WP的電性為負。

值得注意的是，走線層相異於導線層而使多條導線WP、W1、W2以及W3與多條走線N1~N18電性隔絕；公共電極Pc與多條走線N1~N18電性隔絕；導線WN與其電性連接的走線N1~N18其中一者之外的走線N1~N18電性隔絕。然而，在一些情形中，導線層中的導線WP、W1、W2、W3及WN其中一者透過微小粒子(例如，6μ或10μ大小的粒子)與走線N1~N18其中一者發生短路而產生異常。此時，若在裝設發光元件10之前檢測出電路基板100a的異常，可以在裝設發光元件10之前汰換電路基板100a，或者是對電路基板100a進行調整以排除異常，從而減少顯示面板整體製程的成本。在本揭示中如何檢測出導線WP、W1、W2、W3及WN其中一者與走線N6~N16其中一者發生短路的異常以及檢測方法的執行，將在後續實施例進行說明。

如第1B圖所示，在投影平面上，區間Z1在多條走線Na以及Nb之間，區間Z2在多條走線Nb以及Nc之間，區間Z3在區間Z1及Z2之間。並且，多條走線Na包含走線N1~N5；多條走線Nb包含走線N6~N16；多條走線Nc包含走線N17~N18。換句話說，區間Z1在走線N5與走線N6之間，區間Z2在走線N16與走線N17之間，區間Z3包含走線N6~N16。導線WP1、WP2、WP3各自具有兩個接墊P1與兩個接墊P2。導線WP具有兩個接墊P1。導線WN具有兩個接墊P2。上述的全部的接墊P1與接墊P2都是設置在區間Z1和Z2。在發光元件10裝設於電路基板100a之後，發光元件10的陽極可以分別電性連接導線WP、W3、W2及W1的接墊P1，而發光元件10的陰極可以分別電性連接導線W3、W2、W1及WN的接墊P2。

如第1A圖及第1B圖所示，與發光元件10相連接的接墊P1與接墊P2分別水平(例如，沿第一方向D1)排列並設置在區間Z1和Z2內的不同位置。在設置接墊P1與接墊P2的區間Z1和Z2之間，另存在水平(例如，沿第一方向D1)延伸的區間Z3，區間Z3用以設置水平方向(例如，沿第一方向D1)的訊號走線N6~N16，於一些實施例中，區間Z1和Z2為接墊設置區域(用以連接第1A圖中的發光元件10)，區間Z3做為跨線區域使用。

具體來說，在一個裝設區IA內設置四顆發光元件10，第一顆發光元件10的陽極與陰極分別電性連接導線WP的接墊P1與導線W1的接墊P2。第二顆發光元件10的陽極與陰極分別電性連接導線W1的接墊P1與導線W2的接墊P2。第三顆發光元件10的陽極與陰極分別電性連接導線W2的接墊P1與導線W3的接墊P2。第四顆發光元件10的陽極與陰極分別電性連接導線W3的接墊P1與導線WN的接墊P2。因此，各個發光元件10的陽極與陰極分別電性連接相鄰的接墊P1與接墊P2，使同一個裝設區IA內的這些發光元件10可以經由導線WP、W3、W2、W1及WN而彼此電性串聯。

需要說明的是，由於導線W1、W2及W3各自具有兩個接墊P1與兩個接墊P2，導線WP具有兩個接墊P1，導線WN具有兩個接墊P2，因此同一個裝設區IA內可以裝設八顆發光元件10。在一些實施例中，各個裝設區IA僅會裝設四顆發光元件10，因此部的接墊P1與部分的接墊P22不會電性連接任何發光元件10。

由此可知，各條導線W1、W2及W3具有至少一個接墊P1與一個接墊P2。導線WP具有至少一個接墊P1。導線WN具有至少一個接墊P2。因此，第1B圖所示的接墊P1與接墊P2的數量減少，並且不限制以上接墊P1的數量以及接墊P2的數量。

詳細而言，導線WP的第一端電性連接公共電極Pc，並且導線WP的接墊P1設置在區間Z1，使得導線WP沿第二方向D2延伸且跨越走線N1~N5。導線WN的第一端電性連接走線N1，並且導線WN的接墊P2設置在區間Z1，使導線WN沿第二方向D2延伸且跨越走線N2~N5。

導線W1的接墊P2設置在區間Z1，並且導線W1的接墊P1設置在區間Z2，使導線W1沿第二方向D2延伸且跨越走線N6~N16。導線W2的接墊P1及P2皆為設置在區間Z2，使導線W2沿第一方向D1延伸。導線W3的接墊P1設置在區間Z1，並且導線W3的接墊P2設置在區間Z2，使導線W3沿第二方向D2延伸且跨越走線N6~N16。

值得注意的是，在裝設發光元件10之前，導線W1、W2及W3皆是浮接線(floating wiring)。亦即，即使在走線N1~N18與公共電極Pc施加檢測電壓，理想情形中，導線W1、W2及W3的電位實質上不應有變化，導線W1、W2及W3係在浮接(floating)狀態。換言之，在理想情形中，在裝設發光元件10之前，導線W1、W2及W3為浮接導線。

需要說明的是，在第1C圖所示的電路基板100a在第17行第1列的裝設區IA之中，走線層僅具有走線N17~N18，而不會有走線N1~N16。換言之，電路基板100a在第17行第1列的裝設區IA之中，區間Z3不會有走線N1~N16。因此，電路基板100a在第17行第1列的裝設區IA之中，導線層中的導線WN會電性耦接至走線N17而不會跨越走線N1~N16。

如此一來，在導線WP、WN、W1、W2及W3的特定位置配置情形下，電路基板100a各個裝設區IA中的導線WN全部都不會跨越走線N6~N16。

在裝設發光元件10之前，為了檢測導線層中的導線WP、W1、W2、W3其中一者是否與走線N6~N16其中一者發生異常短路，將進行檢測流程S200。請參閱第2圖。第2圖為依據本揭示實施例的檢測流程S200的示意圖。第2圖包含步驟S210、S220、S230、S240、S241、S242以及S243。在一些實施例中，步驟S210~S240可以由電子束檢測(Electrons Beam inspection；EBI)或是由PDI公司的電壓影像光學系統(Voltage Imaging optical subsystem；VIOS)實施。

在步驟S210中，施加第一檢測電壓至公共電極Pc。並且，在步驟S220中，施加第二檢測電壓至走線N1~N18。第一檢測電壓相異於第二檢測電壓，並且第一檢測電壓的絕對值大於第二檢測電壓的絕對值。

在步驟S230中，藉由液晶檢測盒檢測導線WP、W1、W2、W3及WN各自的接墊P1及P2亮度。在這個步驟中，延續步驟S210的操作，維持施加第一檢測電壓至公共電極Pc與施加第二檢測電壓至走線N 1~N18，並將液晶檢測盒設置在電路基板100a之上。如此，液晶檢測盒的各個畫素中的液晶會依據電路基板100a上的電位/電場而偏轉(例如，接收第一檢測電壓的導線WP與接收第二檢測電壓的導線WN)，因此液晶檢測盒會對應於電路基板100a中各個位置的電位/電場大小而顯示檢測畫面，換句話說，液晶檢測盒所顯示的檢測畫面會依據電路基板100a中各個位置的電位/電場大小會而呈現不同的亮度/灰階。

舉例而言，在液晶檢測盒所顯示的檢測畫面中，導線WP的接墊P1在第一預期值，導線WN的接墊P2在第二預期值。由於第二檢測電壓的絕對值大於第一檢測電壓的絕對值，因此第一預期值大於第二預期值。並且，在後續實施例中，將接收第一檢測電壓的導線WP的接墊P1透過液晶檢測盒所呈現的亮度視為第一預期值(例如，白色)，將接收第二檢測電壓的導線WN的接墊P2透過液晶檢測盒所呈現的亮度視為第二預期值(例如，灰色)，並將理論上未接收電壓的導線W1及W3的接墊P1及P2透過液晶檢測盒所呈現的亮度視為第三預期值(例如，黑色)。

在步驟S240中，判斷導線W1及W3各自的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度是否在第三預期值。在這個步驟中，由於在步驟S210以及步驟S220中分別施加第一檢測電壓以及第二檢測電壓至公共電極Pc以及走線N1~N18，若在一個裝設區IA中的導線W1及導線W3其中一者與走線N6~N16其中一者發生異常短路，第二檢測電壓就會經由前述的走線N6~N16其中一者傳送至導線W1及導線W3其中一者，使導線W1及導線W3其中一者的電位升高。此時，導線W1及導線W3其中一者的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度便會相異於第三預期值(例如，黑色)。

換言之，若電路基板100a未發生異常短路而是在理想狀態，導線WP的接墊P1在檢測畫面中的亮度應為第一預期值(例如，白色)，導線WN的接墊P2在檢測畫面中的亮度應為第二預期值(例如，灰色)，導線W1、W2及W3的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度應為第三預期值(例如，黑色)。

因此，假設導線W3與走線N15發生異常短路，第二檢測電壓經由走線N15傳送至導線W3。此時，在由液晶檢測盒所顯示的檢測畫面中，導線W3的接墊P1及P2的亮度會相異於第三預期值(例如，黑色)，而可能會顯示第二預期值(例如，灰色)或小於第二預期值(例如，深灰色)。

在另一些實施例中，導線W1及導線W3其中一者的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度會相異於其他裝設區內IA導線W1及導線W3的接墊P1及P2在檢測畫面的亮度，從而判斷導線W1及導線W3其中一者是否與走線N6~N16其中一者發生異常短路。

舉例而言，若一個裝設區IA內導線W1的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度相異於其他裝設區IA內導線W1的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度，則判斷導線W1與走線N6~N16其中一者發生異常短路。如此一來，可以在裝設發光元件10之前汰換電路基板100a，藉此減少整體製程的成本。並且，可以篩選出合格的電路基板100a，從而提升背光燈板與顯示器的良率。

在另一些實施例中，導線W1及導線W3各自是由複數條金屬線並聯而成。在本揭示的實施例中，這些金屬線的線寬約為10~30μm，這些金屬線中之相鄰兩者之間的間距約為5~15μm，並且導線W1及導線W3各自是由大約由10條金屬線組成。如此，若在步驟S240中判斷導線W1及導線W3其中一者與走線N6~N16其中一者發生異常短路之後，便可進行步驟S242，判斷與走線N6~N16發生異常短路的導線W1及W3的金屬線其中一者。

舉例而言，在步驟S240中判斷在一個裝設區IA中的導線W1與走線N6~N16其中一者發生異常短路。接續，藉由光學顯微鏡透過高解析度光學影像檢測在此裝設區IA中的導線W1與走線N6~N16，以判斷與走線N6~N16其中一者異常短路的導線W1中的金屬線。並且，接續步驟S243，切斷與走線N6~N16其中一者發生異常短路的導線W1中的金屬線。其中，切斷金屬線可以由雷射切割實施。

如此，即便在製程中導線W1或W3透過微小粒子(例如，6µm~10µm的粒子)與走線N6~N16其中一者發生異常短路，透過步驟S210、S220、S230、S240、S242以及S243便可判斷並切斷發生異常短路的導線W1或W3中的金屬線。進一步來說，由於單條金屬線寬可設置為10~30μm，切斷單條金屬線後對導線W1或W3的電阻的影響小於0.2歐姆的變化量，因此可以忽略不計。如此一來，可以在裝設發光元件10之前維修電路基板100a，藉此減少整體製程的成本。

值得注意的是，由於電路基板100a中各個裝設區IA的大小相對液晶顯示器電路基板的畫素的大小大非常多，因而光學顯微鏡較難同時檢測電路基板100a中的多個裝設區IA，而可能僅能一次檢測電路基板100a中的一個裝設區的部分位置，因此本揭示文件需要透過步驟S210~S240來同時檢測電路基板100a中各個裝設區IA的導線W1及W3與走線N6~N16是否異常短路。

在一些實施例中，亦可判斷導線WP與走線N1~N5是否發生異常短路。舉例而言，若導線WP與走線N4發生異常短路，第一檢測電壓經由導線WP傳送至走線N4。此時，在由液晶檢測盒所顯示的檢測畫面中，走線N4的亮度會相異於第二預期值(例如，灰色)，而可能會顯示為第一預期值(例如，白色)或小於第一預期值且大於第二預期值的亮度/灰階(例如，淺灰色)。

在步驟S230藉由液晶檢測盒檢測電路基板100a上所有導線WP各自的接墊P1在檢測畫面的亮度。若一個裝設區IA內導線WP的接墊P1在檢測畫面中的亮度小於其他裝設區IA內的導線WP的接墊P1在檢測畫面中的亮度，便判斷在此裝設區IA內的導線WP與走線N1~N5其中一者發生短路。如此一來，可以篩選出合格的電路基板100a，從而提升背光燈板與顯示器的良率。

請參閱第3A圖，第3A圖是依據本揭示文件的電路基板100b的俯視圖的示意圖。第3A圖僅繪示電路基板100b中第1行至第4行中2列的裝設區IA。電路基板100b用以裝設1152顆發光元件10，並且電路基板100b中的每個裝設區IA用以裝設4顆發光元件10。電路基板100b中的288個裝設區IA是以18行×16列的矩陣排列，在每個裝設區IA中所設置的4顆發光元件是以2行×2列的矩陣排列。電路基板100b的裝設區IA的排列方式相似於電路基板100a，並且在電路基板100b中待裝設的發光元件10亦相似於在電路基板100a中待裝設的發光元件10，在此不再贅述。

請一併參閱第3B圖，第3B圖繪示電路基板100b在第1行第1列的裝設區IA的示意圖。如第3B圖所示，裝設區IA包含導線WP、W1、W2、W3以及WN、多條走線NL以及公共電極Pc。多條走線NL以及公共電極Pc設置在走線層，並且多條走線WL包含走線N1~N18。多條導線WP、W1、W2、W3以及WN設置在導線層，導線層相異於走線層。在第3B圖中導線WP、W1、W2、W3以及WN的設置方式與第1B圖中的導線WP、W1、W2、W3以及WN的設置方式為鏡像對稱。換句話說，第1B圖中導線WP、W1、W2、W3及WN從公共電極Pc至走線N1沿逆時針方向依序排列。在第3B圖中導線WP、W1、W2、W3及WN從公共電極Pc至走線N1沿順時針的方向依序排列。

在第3A圖以及第3B圖所示的實施例中，也是將導線W1及W3設置為跨越走線N6~N16，因此亦可透過步驟S210~S230判斷導線W1及W3與走線N6~N16之間是否發生異常短路。並且，導線W1及W3亦可各自由多條金屬線組成，以在導線W1及W3與走線N6~N16之間發生異常短路時，透過步驟S242及243判斷並切斷發生異常短路的金屬線，便可在裝設發光元件10之前維修異常短路的電路基板100b，從而提升背光燈板與顯示器的良率。

請參閱第4A圖，第4A圖是依據本揭示文件的電路基板100c的俯視圖的示意圖。第4A圖僅繪示電路基板100c中第1行至第4行中2列的裝設區IA。電路基板100c用以裝設1152顆發光元件10，並且電路基板100b中的每個裝設區IA用以裝設4顆發光元件10。電路基板100c中的288個裝設區IA是以18行×16列的矩陣排列，在每個裝設區IA中所設置的4顆發光元件是以2行×2列的矩陣排列。電路基板100c的裝設區IA的排列方式相似於電路基板100a，並且在電路基板100c中待裝設的發光元件10亦相似於在電路基板100a中待裝設的發光元件10，在此不再贅述。

請一併參閱第4B圖，第4B圖繪示電路基板100c在第1行第1列的裝設區IA的示意圖。如第4B圖所示，裝設區IA包含導線WP、W1、W2、W3以及WN、多條走線NL以及公共電極Pc。多條走線NL以及公共電極Pc設置在走線層，並且多條走線NL包含走線N1~N18。多條導線WP、W1、W2、W3以及WN設置在導線層，導線層相異於走線層。並且，在投影平面上，區間Z1在走線N5與走線N6之間，區間Z2在走線N16與走線N17之間。區間Z3在區間Z1以及Z2之間。

與第1B圖之實施例中電路基板100a相較，第4B圖之實施例中電路基板100c不同之處在於，導線WP、WN、W1、W2及W3的排列方式。

詳細而言，在第4B圖所示的電路基板100c中，導線WP的第一端電性連接公共電極Pc，並且導線WP的接墊P1設置在區間Z2，使得導線WP沿第二方向D2延伸且跨越走線N1~N5以及走線N6~N16。導線WN的第一端電性連接走線N1，並且導線WN的接墊P2設置在區間Z1，使導線WN沿第二方向D2延伸且跨越走線N2~N5。導線W1的接墊P1及接墊P2設置在區間Z2，使導線W1沿第一方向D1延伸。導線W2的接墊P2設置在區間Z2，並且導線W2的接墊P1設置在區間Z1，使導線W1沿第二方向D2延伸且跨越走線N6~N16。導線W3的接墊P1及接墊P2設置在區間Z2，使導線W3沿第二方向D2延伸。

在裝設發光元件10之前，為了檢測電路基板100c的導線層中的導線WP、W1、W2、W3及WN其中一者是否與與多條走線N6~N16其中一者發生異常短路，亦可進行如第2圖所示的檢測流程S200。第2圖的檢測流程S200包含步驟S210、S220、S230、S240、S241、S242以及S243。

在步驟S210中，施加第一檢測電壓至公共電極Pc。並且，在步驟S220中，施加第二檢測電壓至走線N1~N18。第一檢測電壓相異於第二檢測電壓，並且第一檢測電壓的絕對值大於第二檢測電壓的絕對值。

在步驟S230中，藉由液晶檢測盒檢測導線WP、W1、W2、W3及WN各自的接墊P1及P2亮度。在這個步驟中，延續步驟S210的操作，維持施加第一檢測電壓至公共電極Pc與施加第二檢測電壓至走線N1~N18，並將液晶檢測盒設置在電路基板100c之上。如此，液晶檢測盒的各個畫素中的液晶會依據電路基板100c上的電位/電場而偏轉(例如，接收第一檢測電壓的導線WP與接收第二檢測電壓的導線WN)，因此液晶檢測盒會對應於電路基板100c中各個位置的電位/電場大小而顯示檢測畫面，換句話說，檢測畫面依據電路基板100c中各個位置的電位/電場大小會呈現不同的亮度/灰階。

舉例而言，在液晶檢測盒所顯示的檢測畫面中，接收第一檢測電壓的導線WP的接墊P1在第一預期值，接收第二檢測電壓的導線WN的接墊P2在第二預期值。由於第二檢測電壓的絕對值大於第一檢測電壓的絕對值，因此第一預期值大於第二預期值。並且，在後續實施例中，將接收第一檢測電壓的導線WP的接墊P1透過液晶檢測盒的感測而顯示的亮度視為第一預期值(例如，白色)，將接收第二檢測電壓的導線WN的接墊P2透過液晶檢測盒的感測所顯示顯示的亮度視為第二預期值(例如，灰色)，並將理論上未接收電壓的導線W1及W3的接墊P1及P2透過液晶檢測盒的感測所顯示的亮度視為第三預期值(例如，黑色)。

在步驟S240中，判斷導線WP的接墊P1及導線W2的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度是否在各自的預期值。在這個步驟中，由於在步驟S210以及步驟S220中分別施加第一檢測電壓以及第二檢測電壓至公共電極Pc以及走線N1~N18，若在一個裝設區IA中的導線WP與走線N6~N16其中一者發生異常短路，第一檢測電壓就會經由導線WP傳送至走線N6~N16其中一者，使走線N6~N16其中一者電位上升。此時，導線WP的接墊P1在檢測畫面中的亮度會相異於第一預期值(例如，白色)，而可能會顯示為第一預期值(例如，灰色)。

舉例而言，若導線WP與走線N12發生異常短路，第一檢測電壓經由導線WP傳送至走線N12。此時，導線WP的接墊P1在檢測畫面中的亮度可能會顯示在小於第一預期值的亮度/灰階(例如，灰色)。

另一方面，若在一個裝設區IA中的導線W2與走線N6~N16其中一者發生異常短路，第二檢測電壓就會經由走線N6~N16其中一者傳送至導線W2，使導線W2的電位上升。此時，導線W2的接墊P1及P2在檢測畫面中的亮度會相異於第二預期值(例如，灰色)，而可能會顯示為第一預期值(例如，白色)或是小於第一預期值且大於第二預期值的亮度/灰階(例如，淺灰色)。

舉例而言，若導線W2與走線N12發生異常短路，第二檢測電壓經由走線N12傳送至導線WP。此時，導線WP的接墊P1在檢測畫面中的亮度可能會顯示為小於第一預期值且大於第二預期值的亮度/灰階(例如，淺灰色)。

在另一些實施例中，導線WP及導線W2各自是由複數條金屬線並聯而成。在本揭示的實施例中，這些金屬線的線寬約為10~30μm，這些金屬線中之相鄰兩者之間的間距約為5~15μm，並且導線WP及導線W2各自是由大約由10條金屬線組成。如此，若在步驟S240中判斷導線W1及導線W3其中一者與走線N6~N16其中一者發生異常短路之後，便可進行步驟S242，判斷與走線N6~N16發生異常短路的導線WP及W2的金屬線其中一者。

舉例而言，在步驟S240中判斷在一個裝設區IA中的導線WP與走線N6~N16其中一者發生異常短路。接續，藉由光學顯微鏡檢測在此裝設區IA中的導線WP與走線N6~N16，以判斷與走線N6~N16其中一者異常短路的導線WP中的金屬線。並且，接續步驟S243，切斷與走線N6~N16其中一者發生異常短路的導線WP中的金屬線。

在一些實施例中，可透過電子計算機擷取檢測畫面，並運行演算法以自檢測畫面中提取各條導線WP、W1、W2、W3及WN各自的接墊P1及P2在檢測畫面中各自的畫面區塊，從而利用電子計算機運行檢測流程S200以自動判斷各條導線WP、W1、W2、W3是否與走線N6~N16發生異常短路。

請參閱第5A圖，第5A圖是依據本揭示文件的電路基板100d的俯視圖的示意圖。第5A圖僅繪示電路基板100d中第1行至第4行中2列的裝設區IA。電路基板100d用以裝設1152顆發光元件10，並且電路基板100d中的每個裝設區IA用以裝設4顆發光元件10。電路基板100d中的288個裝設區IA是以18行×16列的矩陣排列，在每個裝設區IA中所設置的4顆發光元件是以2行×2列的矩陣排列。電路基板100d的裝設區IA的排列方式相似於電路基板100a，並且在電路基板100d中待裝設的發光元件10亦相似於在電路基板100a中待裝設的發光元件10，在此不再贅述。

請一併參閱第5B圖，第5B圖繪示電路基板100d在第1行第1列的裝設區IA的示意圖。如第5B圖所示，裝設區IA包含導線WP、W1、W2、W3以及WN、多條走線NL以及公共電極Pc。多條走線NL以及公共電極Pc設置在走線層，並且多條走線NL包含走線N1~N18。多條導線WP、W1、W2、W3以及WN設置在導線層，導線層相異於走線層。在第5B圖中導線WP、W1、W2、W3以及WN的設置方式與第4B圖中的導線WP、W1、W2、W3以及WN的設置方式為鏡像對稱。換句話說，第5B圖中導線WP、W1、W2、W3及WN從公共電極Pc至走線N1沿逆時針方向依序排列。在第4B圖中導線WP、W1、W2、W3及WN從公共電極Pc至走線N1沿順時針的方向依序排列。

在第5A圖以及第5B圖所示的電路基板100d中，仍然是由導線WP及W2跨越走線N6~N16，因此亦可透過步驟S210~S230判斷導線WP及W2與走線N6~N16之間是否發生異常短路。並且，導線WP及W2亦可各自由多條金屬線組成，以在WP及W2與走線N6~N16之間發生異常短路時，透過步驟S242及243判斷並切斷發生異常短路的金屬線，便可在裝設發光元件10之前維修異常短路的電路基板100d，從而提升背光燈板與顯示器的良率。

需要說明的是，在其他的實施例中，假設用以接收第二檢測電壓的導線WN會跨越在區間Z3(跨線區)中用以接收第二檢測電壓的走線N6~N16，則無論導線WN與其跨越的走線N6~N16之間是否發生異常短路，導線WN的接墊P2在檢測畫面中仍會符合第二預期值(例如，灰色)。也就是說，導線WN的接墊P2不能設置在區間Z2，只能設置在區間Z1，使導線WN不會跨越走線N6~N16，如此一來，在步驟S210~S240可以檢測用以接收第一檢測電壓的導線WP、浮接的導線W1、W2或W3是否與用以接收第二檢測電壓的走線N6~N16發生異常短路。

換言之，假設此電路基板中的導線WN與跨線區(即區間Z3)當中的走線N6~N16在投影位置上交錯重疊，此時導線WN與走線N6~N16就有可能發生異常短路。並且，由於在步驟S220中導線WN與走線N1~N18均是接收第二檢測電壓，即使導線WN的接墊P2與走線N6~N16發生異常短路，透過液晶檢測盒所顯示的檢測畫面中導線WN的接墊P2仍會符合第二預期值(例如，灰色) 並通過測試，無法分辨導線WN的接墊P2是接收到正確的走線N1上的第二檢測電壓，還是異常接收到走線N6~N16上的第二檢測電壓。

此時，若將發生異常短路的電路基板正常出貨，則可能使發光元件10接收到錯誤的驅動電壓。因此，於本揭示文件的上述實施例中如第1B、3B、4B及5B圖所示，導線WN與位在跨線區(即區間Z3)的多條走線Nb(例如走線N6~N16)在投影位置上不重疊，使得導線WN不會與走線N6~N16發生無法經由步驟S210~S240所檢測的異常短路，並且可以藉由步驟S210~S240檢測用以接收第一檢測訊號的導線WP或是浮接的導線W1、W2、W3是否與在跨線區(即區間Z3)的走線Nb(例如走線N6~N16)發生異常短路，從而在裝設發光元件10之前可以篩選出走線與導線之間發生異常短路的電路基板。

綜上所述，本揭示文件提供的電路基板100a、100b、100c及100d具有導線WP、WN、W1、W2、W3的特定配置位置。由於導線WN在檢測階段接與走線N1~N18接收一樣的第二檢測訊號，若將導線WN設置為跨越走線N6~N16，則無法在檢測階段判斷導線WN與走線走線N6~N16之間是否有異常短路。因此，電路基板100a、100b、100c及100d中導線WP、WN、W1、W2、W3的特定配置位置使導線WN的設置不重疊在區間Z3(跨線區)的走線N6~N16，從而在檢測階段能判斷導線WP、W1、W2或W3是否與走線N6~N16之間發生異常短路。

雖然本揭露已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何本領域通具通常知識者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

為使本揭露之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附符號之說明如下： 100a,100b,100c,100d:電路基板 10:發光元件 IA:裝設區 WP,WN,W1,W2,W3:導線 NL,Na,Nb,Nc:多條走線 N1~N18:走線 Pc:公共電極 P1,P2:接墊 Z1~Z3:區間 D1:第一方向 D2:第二方向 S200:檢測流程 S210,S220,S230,S240,S241,S242,S243:步驟

為使本揭露之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下： 第1A圖是依據本揭示文件的電路基板的俯視圖的示意圖。 第1B圖繪示第1A圖中的電路基板在第1行第1列的裝設區的示意圖。 第1C圖繪示第1A圖中的電路基板在第17行第1列的裝設區IA的示意圖。 第2圖為依據本揭示實施例的檢測流程的示意圖。 第3A圖是依據本揭示文件的電路基板的俯視圖的示意圖。 第3B圖繪示第3A圖中的電路基板在第1行第1列的裝設區的示意圖。 第4A圖是依據本揭示文件的電路基板的俯視圖的示意圖。 第4B圖繪示第4A圖中的電路基板在第1行第1列的裝設區的示意圖。 第5A圖是依據本揭示文件的電路基板的俯視圖的示意圖。 第5B圖繪示第5A圖中的電路基板在第1行第1列的裝設區的示意圖。

國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無

100a:電路基板

10:發光元件

WP,WN,W1,W2,W3:導線

NL,Na,Nb,Nc:多條走線

N1~N18:走線

Pc:公共電極

P1,P2:接墊

Z1~Z3:區間

D1:第一方向

D2:第二方向

Claims (11)

1. 一種電路基板，具有複數個裝設區，適用於供複數個發光元件裝設，該電路基板包含： 一走線層，包含複數條走線以及一公共電極，其中該些走線以及該公共電極沿一第一方向延伸，並且該些走線包含： 複數條第一走線，排列相鄰於該公共電極； 複數條第二走線，其中該些第一走線排列在該些第二走線以及該公共電極之間；以及 複數條第三走線，其中該些第二走線排列在該些第一走線以及該些第三走線之間； 一導線層，包含複數條導線，其中該些導線分別設置在該些裝設區，並且在該些裝設區中之其中一者包含： 一第一導線，沿一第二方向延伸，電性耦接該公共電極，其中該第一導線跨越該些第一走線； 複數條彼此分離的第二導線，沿該第二方向延伸，其中該些第二導線跨越該些第二走線； 至少一第三導線，沿該第一方向延伸；以及 一第四導線，沿該第二方向延伸，該第四導線電性耦接該些走線中之一對應者。
2. 如第1項所述之電路基板，其中該些裝設區其中一者用以裝設一第一發光元件、一第二發光元件、一第三發光元件以及一第四發光元件，該第一發光元件、該第二發光元件、該第三發光元件以及該第四發光元透過該第一導線、該些第二導線以及該第三導線件而彼此串聯。
3. 如第1項所述之電路基板，其中該第四導線不重疊該些第二走線。
4. 如第1項所述之電路基板，其中當該公共電極接收一第一檢測電壓時並且該些走線接收一第二檢測電壓時，該些第二導線係在浮接狀態，其中該第一檢測電壓相異於該第二檢測電壓。
5. 如第1項所述之電路基板，其中該些第二導線各自是由複數條金屬線並聯而成。
6. 一種檢測方法，用以檢測如請求項5所述之電路基板，該檢測方法包含： 施加一第一檢測電壓至該公共電極； 施加一第二檢測電壓至該些走線，其中該第二檢測電壓相異於該第一檢測電壓； 藉由一液晶檢測盒依據該些導線各自的接墊的電位顯示一檢測畫面； 判斷該些第二導線各自的接墊在該檢測畫面中的亮度是否在預期值； 若該些第二導線其中一者的接墊在該檢測畫面中的亮度相異於預期值； 判斷與該些走線其中一者短路的該些第二導線其中該者中該些金屬線其中一者；以及 切斷與該些走線中之該者短路的該些第二導線中之該者的該些金屬線中之該者。
7. 一種檢測方法，用以檢測如請求項1所述之電路基板，該檢測方法包含： 施加一第一檢測電壓至該公共電極； 施加一第二檢測電壓至該些走線，其中該第二檢測電壓相異於該第一檢測電壓； 藉由一液晶檢測盒依據該些導線各自的接墊的電位顯示一檢測畫面；以及 判斷該些導線各自的接墊在該檢測畫面中的亮度是否在預期值。
8. 一種電路基板，具有複數個裝設區，適用於供複數個發光元件裝設，該電路基板包含： 一走線層，包含複數條走線以及一公共電極，其中該些走線以及該公共電極沿一第一方向延伸，並且該些走線包含： 複數條第一走線，排列相鄰於該公共電極； 複數條第二走線，其中該些第一走線排列在該些第二走線以及公共電極之間；以及 複數條第三走線，其中該些第二走線排列在該些第一走線以及該些第三走線之間； 一導線層，包含複數條導線，其中該些導線分別設置在該些裝設區，並且在該些裝設區中之其中一者包含： 一第一導線，沿一第二方向延伸，電性耦接該公共電極，其中該第一導線跨越該些第一走線以及該些第二走線； 複數條彼此分離的第二導線，沿該第一方向延伸； 一第三導線，沿該第二方向延伸，跨越該些第二走線；以及 一第四導線，沿該第二方向延伸，該第四導線電性耦接該些走線中之一對應者。
9. 如第8項所述之電路基板，其中該些裝設區其中一者用以裝設一第一發光元件、一第二發光元件、一第三發光元件以及一第四發光元件，該第一發光元件、該第二發光元件、該第三發光元件以及該第四發光元透過該第一導線、該些第二導線以及該第三導線件而彼此串聯。
10. 如第8項所述之電路基板，其中該第四導線不重疊該些第二走線。
11. 如第8項所述之電路基板，其中該第一導線以及該第三導線各自是由複數條金屬線並聯而成。

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