TWI767426B - 用於支援電子部件測試的搬運器的測試托盤 - Google Patents

用於支援電子部件測試的搬運器的測試托盤 Download PDF

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Abstract

揭示一種用於搬運器的測試托盤，測試托盤支援電子部件的測試。測試托盤包括：插件，插件被配置為具有用於安放電子部件的安放凹部；以及安裝框架，安裝框架被配置為使得插件以矩陣形式安裝於安裝框架上並可稍微移動。安裝框架包括：外框架，外框架被配置為形成方框形狀的外邊緣；以及安裝桿，安裝桿垂直地耦合到外框架，並且安裝桿被設置用於安裝插件。外框架包括：一對夾持桿，此對夾持桿被構造為由一對夾持軌道夾持；和一對垂直桿，此對垂直桿被構造成完成外框架的方框形狀。垂直桿中的每個垂直桿的部分的寬度在測試器的方向上比每個夾持桿的寬度窄。

Description

用於支援電子部件測試的搬運器的測試托盤
本發明涉及一種用於搬運器的測試托盤，測試托盤支援電子部件的測試。
在某些情況下，諸如半導體裝置之類的電子部件是經由大量標準化處理製造的。但是，即使在標準化條件下進行各處理時，條件的微小變動也會影響電子部件的製造，因此實際上不可能僅製造出良好的電子部件。因此，製造的電子部件在經過測試人員的測試之後被分為良品和次品，最後僅出貨良品。
僅當電子部件電連接到測試器時才能執行電子部件的測試。在這種情況下，將測試器的測試插座電連接至電子部件的設備，是支援測試電子部件的搬運器（以下簡稱為「搬運器」）。
電子部件的種類繁多，電子部件的電連接結構也相應地多種多樣。因此，存在各種類型的搬運器。
在各種類型的搬運器中，存在這樣的搬運器，其中在電子部件已經被裝載到測試托盤上的狀態下，將電子部件和測試器電連接。本發明涉及這種類型的搬運器。
應用測試托盤的測試搬運器將要測試的電子部件在加載位置加載到測試托盤上，並藉由推桿按壓電子部件以將（加載到測試托盤上的）電子部件與測試器電連接。此外，測試搬運器需要執行在卸載位置從測試托盤卸載被測試的電子部件的任務。為此，測試托盤被配置為沿著一定的循環路徑循環，此循環路徑經過加載位置、測試位置和卸載位置，然後返回到加載位置。在這種情況下，為了允許測試托盤正常且適當地運動，在循環路徑上設置有多個支撐軌道或步進器，多個支撐軌道配置為引導和支撐測試托盤的運動，步進器配置為夾持測試托盤的兩端。
這種測試托盤包括插件和安裝框架，如揭示於韓國專利申請公開案第10-2008-0040251號。
經由安裝框架安裝插件，並且可以將電子部件加載到插件上。因此，電子部件以被加載到插件上的狀態電連接至測試器。為此，測試器具有一個介面板，介面板上裝有與電子部件電連接的測試插座。
圖1和圖2是示出其中測試器和電子部件D彼此電連接的處理的示意性參考圖。
在圖1示出的狀態中，測試托盤100和介面板IB彼此間隔開，此時測試托盤100的兩端都被夾持軌道GR夾持。在圖1所示的狀態下，隨著測試托盤100朝向介面板IB移動，測試插座TS和電子部件D彼此電連接，如圖2所示。
同時，當改變要測試的電子部件D時，需要改變測試插座TS的結構。
例如，當要測試的電子部件D的端子數量或端子之間的間距發生變化時，必須用具有能夠適當地電連接至相應電子部件的結構的測試插座TS來替換。換句話說，當要測試的電子部件D的類型改變時，測試插座TS需要相應地改變。
因此，如圖3(a)和3(b)所示，發生需要改變從介面板IB的表面F突出的測試插座TS1 或TS2 的高度（H1 或H2 ；H1 ＞H2 ）的情況。例如，需要將測試插座從具有彈簧針結構的測試插座TS1 改變為具有PCR插座結構的測試插座TS2 。
在對於具有彈簧針結構的測試插座TS1 的情況下，高度H1 必然較高，因為還需要將彈簧佈置在單行中以使彈簧針前進和後退。相反的，在具有PCR插座結構的測試插座TS2 的情況下，高度H2 相對較低。
因此，當為了電子部件D與測試插座TS1 或TS2 之間的電連接的目的而將測試托盤100向前移動到介面板IB時，發生以下差異。
在介面板IB包括具有彈簧針結構的測試插座TS1 的情況下，測試插座TS1 的突出高度H1較高，如圖2所示，因此測試插座TS1 和電子部件D可以適當地彼此電連接。
然而，在如圖4所示介面板IB包括具有PCR插座結構的測試插座TS2 的情況下，測試插座TS2 的突出高度H2 低，使得在測試插座TS2 和電子部件D彼此電連接之前，測試托盤100的外框首先與介面板IB的表面F接觸，結果，測試插座TS2 和電子部件D彼此間隔開並且不形成電連接。在執行複數個電連接步驟以測試加載到單個測試托盤100上的所有電子部件D的情況下，此結構問題更加嚴重，例如以下情況：首先測試奇數列的電子部件D，將測試托盤100移動一步，然後測試偶數列中的電子部件D，因為插件110的數量大於測試插座TS2 的數量。為了解決此問題，可以考慮以下方法。
首先，製造與具有PCR插座結構的測試插座TS2 相對應的測試托盤100。例如，在測試托盤100的外框架的寬度（厚度，亦即為了使測試插座和電子部件之間的電連接而移動測試托盤的方向上的寬度）較窄的情況下，即使電子部件D與具有PCR插座結構的測試插座TS2 接觸，也可以使外框架不與介面板IB的表面F接觸。然而，在這種情況下，為了不改變使用現有的搬運器，測試托盤100的夾持寬度發生變化，因此需要更換用於將測試托盤100夾持在循環路徑上的所有各種部件。這導致作業速率降低、浪費人力、並且由於更換部件而浪費成本。另外，測試托盤100需要在測試器（TESTER）的方向上比外框架突出得更多，在這種情況下，測試托盤100與搬運器的其他部件發生干涉的可能性增加。因此，為了防止這種干涉，設計變得更加複雜。
然而，如果提供專用於具有PCR插座結構的測試插座TS2的搬運器和專用於具有彈簧針結構的測試插座TS1的搬運器，則雖然可以維持操作速率，但是增加了成本和安裝空間。
顯然的，即使當測試插座TS的突出高度由於要測試的電子元件D的類型不同而改變時，搬運器的消費者也希望藉由使用現有的搬運器而無需改變來降低製造成本。換句話說，搬運器的消費者更喜歡兼容的產品。
本發明旨在提供一種關於測試托盤的技術，此技術即使在測試插座的突出高度由於各種原因而變化時，也能夠在不改變搬運器的所有夾持結構的情況下使用現有的搬運器，從而允許搬運器與具有不同突出高度的測試插座兼容使用。
根據本發明的一個態樣，提供了一種用於搬運器的測試托盤，測試托盤支援測試電子部件，測試托盤包括：插件，插件被配置為具有用於安放電子部件的安放凹部；以及安裝框架，安裝框架被配置為使得插件以矩陣形式安裝於安裝框架上並可稍微移動；其中安裝框架包括：外框架，外框架被配置為形成方框形狀的外邊緣；以及安裝桿，安裝桿在外框架的內部區域內垂直地耦合到外框架，並且安裝桿被設置用於安裝插件；其中外框架包括：一對夾持桿，此對夾持桿被構造為由一對夾持軌道夾持，此對夾持軌道在測試電子部件的區域中彼此間隔開；和一對垂直桿，此對垂直桿被構造成在保持與此對夾持桿垂直的同時完成外框架的方框形狀；和其中垂直桿中的每個垂直桿的部分的寬度在測試器的方向上比夾持桿的寬度窄。
垂直桿可具有後縮凹部，後縮凹部形成在垂直桿的其餘部分中，垂直桿的其餘部分不包括耦接到夾持桿的部分；和在垂直桿的面向測試器的表面上形成後縮凹部。
後縮凹部可被形成為在與夾持桿垂直的方向上較長，以及後縮凹部的長度可比測試器的介面板的長度長。
此對夾持桿之間的間隔可比介面板的第一寬度寬，此對垂直桿之間的間隔可比介面板的第二寬度窄，以及第一寬度可指在垂直於夾持桿的方向上的寬度，且第二寬度可指在垂直於垂直桿的方向上的寬度。
此對夾持桿之間的間隔可比介面板的第一寬度寬；此對垂直桿之間的間隔可比介面板的第二寬度寬，以及插件的數量可大於介面板中提供並電連接到電子部件的測試插座的數量。
其中即使在介面板中提供的測試插座的突出高度減少的情況下，後縮凹部也可以防止垂直桿在將電子部件連接到測試插座之前首先與介面板的表面接觸，因此用於夾持夾持桿的搬運器的所有結構不用改變即可兼容地用於具有不同高度的測試插座。
將參考附圖描述本發明的具體實施例。為了簡潔起見，將儘可能地省略或刪減對冗餘或實質相同的配置的描述。
圖5是根據本發明的具體實施例的用於搬運器的測試托盤200（以下簡稱為「測試托盤」）的平面圖。
測試托盤200包括插件210和安裝框架220。
每個插件210具有可以在其中安放電子部件的安放凹部IG，並且包括主體211和保持器212。
安放凹部IG形成在主體211中。
保持器212保持安放在安放凹部IG中的電子部件，以防止電子部件被移除。
插件210以矩陣形式安裝在安裝框架220中，使得插件210可稍微移動。儘管安裝框架220以一體的形式提供，但是安裝框架220包括外框架221和安裝桿222，如圖6中的概念上分開示出的。
外框架221形成正方形框架形狀的外邊緣。本發明的特徵在於此外框架221。因此，稍後將參照放大和簡化的附圖更詳細地給出外框架221的詳細描述。
安裝桿222在外框架221的內部區域內垂直地耦合到外框架221，並且被設置用於安裝插件210。換句話說，插件210被安裝為可稍微移動，同時被形成在安裝桿222上的螺栓或止動突起物支撐。
接下來，將參照誇飾和簡化的附圖進一步描述外框架221。
如圖7所示，當故意地將外框架221分開並劃分為子構件時，外框架221可以被劃分為一對夾持桿221a和一對垂直桿221b。
這對夾持桿221a形成為呈方框狀的彼此相對的兩側，是被搬運器的各種夾持部件夾持的部分。換句話說，如上所述，搬運器具有複數個部件，這些部件構造成移動測試托盤200、改變測試托盤200的姿勢、或在需要時夾持測試托盤200。這些部件還包括被配置為在測試電子部件的區域中夾持測試托盤200的一對夾持軌道。
圖8示出了測試托盤200被彼此間隔開的一對夾持軌道GR夾持的狀態。顯然，由於夾持軌道GR與將測試托盤200朝著測試器TESTER推壓的按壓裝置PA耦接，因此測試托盤200可以在夾持軌道GR夾持的同時從測試器TESTER向前或向後移動。
一對垂直桿221b形成外框架221的另一側，同時保持垂直於一對夾持桿221a，從而完成方框形狀。除了連接至夾持桿221a的垂直桿221b的部分之外，在垂直桿221b的其餘部分中形成有後縮凹部RG。因此，形成有後縮凹部RG的垂直桿221b的部分的寬度W2 ，比夾持桿221a的寬度W1 窄（W2 ＜W1 ）。因此，如圖8所示，自然地，垂直桿221b的形成有後縮凹部RG的部分的寬度W2 比夾持夾持桿221a的夾持軌道GR的夾持槽GG的寬度窄。顯然，在這種情況下，寬度W1 和W2 是指在測試托盤200從測試器向前或向後移動的方向上的寬度。此外，在與測試器相對的垂直桿221b的表面F上形成有後縮凹部RG。另外，較佳的是，後縮凹部RG被形成為在與夾持桿221a垂直的方向上較長。
接下來，將描述具有上述構造的測試托盤200的功能。
圖8示出了包括具有彈簧針結構的測試插座TS1 的介面板IB和測試托盤200彼此面對的狀態。
圖8中所示的測試插座TS1 具有從介面板IB的表面F（面對測試托盤的表面）突出H1 的高度。因此，如圖9所示，當按壓裝置PA***作時，測試托盤200可以向前移動到介面板IB，因此電子部件D和測試插座TS1 可以被電連接而不受到任何干涉。換言之，測試插座TS1 的突出高度H1 不會導致在介面板IB的表面F和垂直桿221b之間產生干涉。換句話說，由於包括介面板IB的表面F的假想平面P不與夾持桿221a干涉，因此自然地，介面板IB的表面F不與垂直桿221b干涉。
同時，圖10示出了包括具有PCR插座結構的測試插座TS2 的介面板IB和測試托盤200彼此面對的狀態。
從圖10中可以看出，測試插座TS2 具有從介面板IB的表面F突出H2 的高度。在這種情況下，H2 低於H1 。因此，如圖11所示，當按壓裝置PA***作並且測試托盤200向前移動到介面板IB時，包括介面板IB的表面F的假想平面P與夾持桿221a相遇。在圖11的狀態下，測試插座TS2 和電子部件D仍然彼此隔開。因此，當按壓裝置PA繼續操作並且測試托盤200進一步向前移動到介面板IB時，夾持桿221a在包括介面板IB的表面F的假想平面P上移動，如圖12所示。然而，由於後縮凹部RG，即使在測試插座TS2 和電子部件D彼此連接時，介面板IB的表面F和形成後縮凹部RG的後縮表面RF也不會相互干涉。因此，由於後縮凹部RG，測試插座TS2 和電子部件D可以適當地電連接而不受到任何干涉。
再次參照圖7至圖8，為了允許適當地應用本發明，兩個夾持桿221a之間的距離D1 需要比介面板IB的第一寬度B1 寬，並且一對垂直桿221b之間的距離D2 必須比介面板IB的第二寬度B2 窄。在這種情況下，第一寬度B1 是指在垂直於夾持桿221a的方向上的寬度，第二寬度B2 是在垂直於垂直桿221b的方向上的寬度。顯然，後縮凹部RG在垂直於夾持桿221a的方向上的長度L需要長於介面板IB的長度（第一寬度）。然而，當一對垂直桿221b之間的距離D2 比介面板IB的第二寬度B2 寬時，後縮凹部RG的形成的重要性減弱。然而，已經基於以下假設給出了具體實施例的以上描述：加載到測試托盤200上的所有電子部件D一次全部電連接到測試插座TS1 或TS2 。因此，本發明的重要性似乎有所減弱。然而，考慮到最大程度地抑制搬運器的尺寸增加的情況或者經由多個步驟將加載到測試托盤200上的電子部件D電連接到測試插座TS2 的情況，可以充分認識到本發明的重要性。
特定而言，在一般的測試場所中，有必要根據電子部件D的類型減少測試插座TS1 或TS2 的數量。例如，當要新測試的電子部件D的端子數量增加（並且因此每個電子部件D電連接到測試插座TS1 或TS2 的觸點的數量增加），因為已經建立了用於將電信號傳輸到測試器主體的傳輸線，所以有必要減少測試插座TS1 或TS2 的數量。在這種情況下，加載到測試托盤200上的所有電子部件D可能不會一次電連接到測試插座TS1 或TS2 。因此，電子部件D需要兩次或更多次電連接到測試插座TS1 或TS2 。在這種情況下，作為示例，使用這樣的方法：在將奇數列中的電子部件D電連接到測試插座TS1 或TS2 之後進行測試，然後藉由使測試托盤200移動電子部件D的一列區間來進行測試，然後將偶數列的電子部件D電連接到測試插座TS1 或TS2 。如上所述，在經由兩個或更多個步驟將電子部件D連接到測試插座TS1 或TS2 的情況下，即使當兩個垂直桿221b之間的距離D2 比第二寬度B2 寬時，也不可避免地發生如下情況：其中垂直桿221b面對介面板IB的表面F。即使在這種情況下，垂直桿221b和介面板IB的表面F也不會由於後縮凹部RG而相互干涉，且因此測試插座TS1 或TS2 以及電子部件D可以適當地彼此電連接。
可以將上述後縮凹部RG的應用情況簡要總結如下：
1)在一次測試所有電子部件的情況下，當B2 ＜D2 時，可能不需要後縮凹部RG。
2)相對的，在放置在測試托盤200上的電子部件被分割並且然後被測試多次的情況下，即使當B2 ＜D2 時，也可能需要後縮凹部RG。
3)在B2 ＞D2 的情況下，當介面板IB沒有向後縮的空間時，電子部件D和測試插座TS可能不會彼此連接，因此可能不會進行測試。因此，實質上需要後縮凹部RG。
根據上述本發明，夾持桿221a的厚度沒有變化，因此即使當測試插座TS1 或TS2 的突出高度H1 或H2 改變時，也不必更換搬運器的所有夾持部件。
換句話說，即使當測試插座TS2 的突出高度H2 減小時，後縮凹部RG也防止垂直條221首先在電子部件D連接到測試插座TS2 之前與介面板IF的表面F接觸，從而防止需要改變夾持桿221a的厚度。因此，可以使用用於夾持夾持桿221a的搬運器的所有結構而無需改變。因此，即使當測試插座TS1 或TS2 的突出高度H1 或H2 改變時，根據本發明的測試托盤200和現有搬運器也可以與具有不同突出高度H1 和H2 的測試插座TS1 和TS2 兼容地使用。
根據本發明，測試托盤能夠無需改變即使用現有搬運器的所有夾持結構，不論測試插座的突出高度如何改變，從而最終提供增加搬運器的操作速率並減小測試托盤的製造成本的功效。
如上所述，儘管已經參考附圖結合具體實施例對本發明進行了詳細描述，但是上述具體實施例僅旨在示出本發明的較佳示例。因此，不應該理解為本發明僅限於具體實施例，而是應該理解為，本發明的範圍不僅包括所附申請專利範圍，而且還包括申請專利範圍的均等範圍。
100:測試托盤 110:插件 200:測試托盤 210:插件 211:主體 212:保持器 220:安裝框架 221:外框架 221a:夾持桿 221b:垂直桿 222:安裝桿 B1 :第一寬度 B2 :第二寬度 D:電子部件 D1 :距離 D2 :距離 F:表面 GG:夾持槽 GR:夾持軌道 H1 :高度 H2 :高度 IB:介面板 IG:安放凹部 L:長度 P:假想平面 PA:按壓裝置 RG:後縮凹部 TESTER:測試器 TS:測試插座 TS1 :測試插座 TS2 :測試插座 W1 :寬度 W2 :寬度
連同附加圖式閱讀下文的詳細說明時，將可更清楚瞭解本發明的前述與其他的目標、特徵與優點，在圖式中：
圖1至圖4是示出背景技術的示意性參考圖；
圖5是示出根據本發明具體實施例的測試托盤的示意性平面圖；
圖6是示出圖5的測試托盤的安裝框架的參考圖，概念上分開；
圖7是示出構成圖6的安裝框架的一部分的外框架的放大示意透視圖；和
圖8至圖12是放大的示意性參考圖，示出圖5的測試托盤的功能。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
200:測試托盤
221a:夾持桿
D:電子部件
F:表面
IB:介面板
P:假想平面
RG:後縮凹部
TESTER:測試器
TS2:測試插座

Claims (5)

  1. 一種用於一搬運器的測試托盤，該測試托盤支援電子部件的測試，該測試托盤包括：插件，該等插件構造成具有安放電子部件的安放凹部；和一安裝框架，該安裝框架構造為使得該等插件以一矩陣形式可稍微移動地安裝在該安裝框架上；其中該安裝框架包括：一外框架，該外框架被構造為形成一方框形狀的外邊緣；和安裝桿，該等安裝桿在該外框架的一內部區域內垂直地耦合到該外框架，並且該安裝桿被設置用於安裝該等插件；其中該外框架包括：一對夾持桿，該對夾持桿被構造為由一對夾持軌道夾持，該對夾持軌道在測試該等電子部件的一區域中彼此間隔開；和一對垂直桿，該對垂直桿被構造成在保持與該對夾持桿垂直的同時完成該外框架的該方框形狀；和其中該等垂直桿中的每個垂直桿的一部分的一寬度在一測試器的一方向上比該等夾持桿的一寬度窄；該垂直桿具有一後縮凹部，該後縮凹部形成在該垂直桿的其餘部分中，該垂直桿的其餘部分不包括耦接到該等夾持桿的部分；且 在該垂直桿的面向該測試器的一表面上形成該後縮凹部。
  2. 如請求項1所述之測試托盤，其中：該後縮凹部被形成為在與該等夾持桿垂直的一方向上較長；以及該後縮凹部的一長度比該測試器的一介面板的一長度長。
  3. 如請求項2所述之測試托盤，其中：該對夾持桿之間的一間隔比該介面板的一第一寬度寬；該對垂直桿之間的一間隔比該介面板的一第二寬度窄；以及該第一寬度是指在垂直於該等夾持桿的一方向上的一寬度，且該第二寬度是在垂直於該等垂直桿的一方向上的一寬度。
  4. 如請求項2所述之測試托盤，其中：該對夾持桿之間的一間隔比該介面板的一第一寬度寬；該對垂直桿之間的一間隔比該介面板的一第二寬度寬；以及插件的一數量大於該介面板中提供並電連接到該等電子部件的測試插座的一數量。
  5. 如請求項1所述之測試托盤，其中即使在一介面板中提供的該等測試插座的一突出高度減少的情況 下，該後縮凹部也可以防止該垂直桿在將該等電子部件連接到測試插座之前首先與該介面板的一表面接觸，因此用於夾持該等夾持桿的一搬運器的所有結構不用改變即可兼容地用於具有不同高度的測試插座。
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