KR101413008B1 - 테스트핸들러용 캐리어보드 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트핸들러용 캐리어보드에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 선행 특허 출원들(출원번호 10-2009-0069133호 및 10-2009-0073441호)에서 제안된 기술에 적합하고, 커넥터, 인서트 및 회로기판의 고정 및 보호가 이루어질 수 있을 뿐만 아니라 전자부품의 고집적화 및 테스트핸들러의 처리용량 증가에 적합한 기술이 소개된다.
전자부품, 반도체, 테스트, 핸들러, 트레이, 캐리어보드

Description

테스트핸들러용 캐리어보드{CARRIER BOARD FOR TEST HANDLER}
본 발명은 테스트핸들러용 캐리어보드에 관한 것이다.
전자부품(특히, 반도체소자)의 테스트를 위해서는 전기적으로 연결된 전자부품을 테스트하는 테스터(TESTER)와 테스터에 전자부품을 전기적으로 연결시키기 위한 장비인 테스트핸들러(TEST HANDLER)가 필요하다.
테스트핸들러에서는 처리 용량을 늘리기 위해 다수의 반도체소자를 한꺼번에 운반하기 위한 캐리어보드가 사용된다.
종래의 캐리어보드는, 테스트트레이라고 명명되어졌으며, 단순히 전자부품을 적재한 후 일정한 순환경로를 순환하는 역할을 하는 데 그쳤다.
그런데, 테스트핸들러의 처리용량을 늘리기 위해 자체에 전자부품과 전기적으로 연결되는 접속단자를 구비시키는 새로운 개념의 캐리어보드('테스트보드'라고 명명되어 지고 있음)가 제안되어지기 시작하였다.
그에 따라 새로운 개념의 캐리어보드가 적합하게 적용될 수 있는 테스트핸들 러를 개발할 필요성이 대두되었다.
대한민국 공개특허 공개번호 10-2009-0005901호(발명의 명칭 : 테스트핸들러의 캐리어보드 순환방법 및 챔버 시스템)는 위에서 언급한 필요성에 따라 본 발명의 출원인이 앞서 개발하여 출원한 테스트핸들러에 관한 기술(이하 '선행기술'이라 함)을 개시하고 있다.
그리고 대한민국 특허출원 출원번호 10-2009-0069133호(발명의 명칭 : 전자부품 검사장비용 캐리어보드 개방장치, 캐리어보드의 인서트 및 캐리어보드)로 제안된 기술(이하 '선출원 발명1'이라 함) 및 대한민국 특허출원 출원번호 10-2009-0081750호(발명의 명칭 : 테스트핸들러용 캐리어보드 간격조절장치, 테스트핸들러 및 테스트핸들러에서의 캐리어보드 순환방법)로 제안된 기술(이하 '선출원 발명2'라 함)들을 통해 알 수 있는 바와 같이 본 발명의 출원인은 선행기술에서 더 나아가 더욱 개량되고 발전된 테스트핸들러에 관한 기술들을 개발하였다.
선출원 발명1 및 2는 각각 캐리어보드에 전자부품을 로딩시키거나 언로딩시키기 위해 캐리어보드를 개방하기 위한 기술과 캐리어보드가 롤러가 설치된 레일을 타고 이동하는 기술을 소개하고 있다. 이러한 선출원 발명1 및 2는 본 발명의 내용에 그대로 포함된다.
본 발명은 전술한 새로운 개념을 충족할 수 있으면서 상기한 선출원 발명1 및 2를 통해 제안된 테스트핸들러에 적합하게 적용될 수 있는 캐리어보드의 개발 필요성에서 도출되어진 것이다.
본 발명의 제1 목적은 각 구성부분들이 안정적으로 고정되고 보호될 수 있는 테스트핸들러용 캐리어보드를 제공하는 것이다.
본 발명의 제2 목적은 전자부품의 고집적화나 테스트핸들러의 처리용량 증대에 적합한 테스트핸들러용 캐리어보드를 제공하는 것이다.
본 발명의 제3 목적은 자기 식별 정보뿐만 아니라 그 외의 다양한 정보를 가질 수 있는 테스트핸들러용 캐리어보드를 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 형태에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드는, 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트; 상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결되는 회로기판; 상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및 상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고, 상기 인서트의 상단은 상기 보드 프레임의 상단보다 침강되게 설치된다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 일 형태에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드는, 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트; 상기 인서트의 하층 에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결되는 회로기판; 상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및 상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고, 상기 커넥터의 상면은 상기 보드 프레임의 상면보다 낮고, 상기 커넥터의 하면도 상기 보드 프레임의 하면보다 높다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 일 형태에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드는, 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트; 상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결되는 회로기판; 상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및 상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고, 상기 보드 프레임은, 상기 회로기판의 상측에 구비되는 상측 프레임; 및 상기 회로기판의 하측에 구비되는 하측 프레임; 을 포함한다.
상기 상측 프레임 또는 하측 프레임은 상기 회로기판의 위치를 설정하기 위한 위치설정수단을 가지는 것이 바람직하다.
상기 하측 프레임은, 사각틀 형상의 외곽부; 및 상기 회로기판의 하층에서 상기 회로기판을 지지하기 위한 지지부; 를 포함하며, 상기 지지부는 상기 회로기판의 상측에 설치되는 인서트를 고정하기 위한 고정수단을 가진다.
상기 보드 프레임과 상기 접속 커넥터는 상호 면 접촉되어 있는 것이 바람직 하다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 일 형태에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드는, 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트; 상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결되는 회로기판; 상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및 상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고, 상기 접속 커넥터는, 상기 회로기판의 상측에 구비되는 적어도 하나의 상측 커넥터; 및 상기 회로기판의 하측에 구비되는 적어도 하나의 하측 커넥터; 를 포함하며, 상기 상측 커넥터는 상기 회로기판의 상면에 설계된 접속단자에 전기적으로 연결되고, 상기 하측 커넥터는 상기 회로기판의 하면에 설계된 접속단자에 전기적으로 연결된다.
상기 상측 커넉터 및 하측 커넥터가 회로기판에 전기적으로 접속되는 방향과 테스터에 전기적으로 접속되는 방향은 서로 수직한 것이 바람직하다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 일 형태에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드는, 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트; 상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결되는 회로기판; 상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 및 자기 식별 정보를 포함한 필요한 정보를 저장하는 저장매체; 를 포함하고, 상기 저장매체는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체이다.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 커넥터, 회로기판 및 인서트가 보드 프레임에 견고하고 안정적으로 고정 및 지지될 뿐만 아니라 캐리어보드가 이동하거나 캐리어보드들을 적재할 경우에 커넥터나 인서트가 다른 장치 등에 간섭되지 않기 때문에 커넥터와 인서트를 보호할 수 있다.
둘째, 회로기판의 상면 및 하면에 모두 접속단자를 설계할 수 있는 구조로 인하여 고집적화된 전자부품이나 캐리어보드의 동일면적 대비 적재용량을 증가시키는 경우에도 충분한 개수의 접속단자를 설계할 수 있게 된다.
셋째, 자기 식별 정보 외에도 필요한 정보를 저장할 수 있을 뿐만 아니라 저장매체를 읽을 수 있는 기기가 있는 곳이라면 어디서나 캐리어보드에 대한 정보를 얻을 수 있기 때문에 캐리어보드 자체의 문제발생에 대한 대응이 손쉽게 이루어질 수 있으면서도 테스트핸들러의 가동효율을 높일 수 있게 된다.
본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명이나 주지한 기술에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축하기로 한다.
도1은 본 발명의 실시예에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드(100, 이하 '캐리어보드'라 약칭 함)에 대한 분해 사시도이다.
본 실시예에 따른 캐리어보드(100)는, 다수의 인서트(110), 보드 프레임(120), 회로기판(130), 접속 커넥터(140) 및 저장매체(150) 등을 포함하여 구성된다.
인서트(110)는, 반도체소자를 적재시키기 위해 구비되는 것으로서, 선출원 발명1에서 제안되어진 것이므로 자세한 설명은 생략한다.
보드 프레임(120)은, 인서트(110), 회로기판(130) 및 접속 커넥터(140)를 설치 및 지지하기 위해 구비되는 것으로서, 상측 프레임(121)과 하측 프레임(122)으로 구성된다.
상측 프레임(121)은, 사각틀 형상으로 구비되며, 도2(상측 프레임을 뒤집어 도시하였음)에서 참조되는 바와 같이 그 배면에는 회로기판(130)의 위치를 설정하기 위한 위치설정수단으로서 4개의 위치설정돌기(121a 내지 121d)가 형성되어 있다. 물론, 실시하기에 따라서는 회로기판(130)의 위치를 설정하기 위한 위치설정수단을 하측 프레임에 가지고 있을 수도 있다.
하측 프레임(122)은, 상측 프레임(121)의 하층에 놓이는 회로기판(130)의 하층에 구비되며, 외곽부(122A)와 지지부(122B)로 구성된다.
외곽부(122A)는 상측 프레임(121)에 대응되는 크기 및 사각틀 형상을 가진다.
지지부(122B)는, 사각틀 형상의 외곽부(122A)를 가로지르는 8개의 지지대(122b-1 내지 122b-8)로 구비되며, 회로기판(130) 및 인서트(110)를 지지한다. 그리고 지지부(112B)에는 인서트(110)를 고정하기 위한 고정수단으로서 다수의 볼트구멍(Bh)이 형성되어 있다. 따라서 도3에서 참조되는 바와 같이 인서트(110)를 고정시키기 위한 볼트(B1)의 하단 부분이 회로기판(130)을 통과하여 볼트구멍(Bh)에 체결되어짐으로써 인서트(110)가 하측 프레임(122)에 견고하고 안정적으로 고정되어질 수 있게 되어 있다.
회로기판(130)은, 행렬형태로 설치되는 인서트(110)의 하층에 구비되며, 인서트(110)들의 접속단자(선출원 발명1에서 소개됨)들과 전기적으로 접속되어 있다. 이러한 회로기판(130)의 후 측으로는, 도4의 (a) 및 (b)에서 참조되는 바와 같이, 접속 커넥터(140)에 전기적으로 연결되기 위한 접속단자(131, 132)들이 상면 및 하면 모두에 설계되어 있다. 또한, 회로기판(130)에는 볼트(B1)가 통과될 수 있는 다수의 통과구멍(133)들이 상기한 볼트구멍(Bh)에 대응되는 위치 및 개수로 형성되어 있으며, 돌기구멍(134a 내지 134d)들이 상기한 위치설정돌기(121a 내지 121d)에 대응되는 위치 및 개수로 형성되어 있다.
접속 커넥터(140)는, 보드 프레임(120)의 후방에 구비되며, 회로기판(130)의 접속단자(131, 132)들과 전기적으로 접속되어 있으며, 테스터(TESTER)에 전기적으로 접속될 수 있도록 되어 있다.
따라서 인서트(110)에 안착된 반도체소자는 회로기판(130) 및 접속 커넥 터(140)를 통하여 테스터에 전기적으로 연결될 수 있게 된다.
그러한 접속 커넥터(140)는 3개의 상측 커넥터(141)와 3개의 하측 커넥터(142)로 구성된다.
3개의 상측 커넥터(141) 각각의 배면에는, 도5의 (a)에서 참조되는 바와 같이, 회로기판(130)의 상면에 설계된 접속단자(131)에 전기적으로 연결될 수 있는 접속단자(141a)들이 구비된다.
3개의 하측 커넥터(142) 각각의 상면에는, 도5의 (b)에서 참조되는 바와 같이, 회로기판(130)의 하면에 설계된 접속단자(132)에 전기적으로 연결될 수 있는 접속단자(142a)들이 구비된다.
그리고 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)의 후측면에는 접속단자(141a 및 142a)들과 전기적으로 연결된 다수의 포고핀(PP)들이 구비되어 있으며, 이러한 다수의 포고핀(PP)들이 테스터에 접속된다.
따라서 상측 커넥터(141) 및 하측 커넥터(142)는 회로기판의 접속단자(131, 132)와 상하 방향으로 전기적인 접속을 하게 되고, 상측 커넥터(141) 및 하측 커넥터(142)의 후 측면에 구비되는 포고핀(PP)들은 테스터와 전후 방향으로 전기적인 접속하게 된다. 즉, 상측 커넥터(141) 및 하측 커넥터(142)가 회로기판(130)에 전기적으로 접속되는 방향과 테스터에 전기적으로 접속되는 방향은 서로 수직하게 되는 것이다. 이러한 구성으로 인해 회로기판(130)의 접속단자(131, 132)에 상하 방향으로 접속되기 위한 전기적인 접점이 테스터의 컨텍 단자에 접속되기 위한 전후 방향으로 전기적인 접점으로 바뀌게 되므로 캐리어보드와 테스터와 전기적인 접속 을 원활하게 이룰 수 있게 된다.
저장매체(150)는, 자기 식별 정보(예를 들면 ID number) 및 각종 필요한 정보(제조년, 적용 반도체소자의 규격 등) 등이 기록되며, EPROM 등으로 구비될 수 있다.
종래에는 캐리어보드 및 반도체소자에 대한 정보를 테스트핸들러에서만 확인할 수 있었다.
그런데 본 발명에 따르면 관련정보가 캐리어보드에 구비된 저장매체에 기록되어 있게 함으로써 반도체소자에 문제가 발생하였을 경우 테스트핸들러는 계속 동작을 하면서도 관련 캐리어보드만 테스트핸들러 이외의 장소로 분리 이동시켜 저장매체에 담겨진 내용을 분석할 수 있기 때문에 테스트핸들러의 가동효율을 높일 수 가 있게 되는 것이다.
한편, 도6은 본 실시예에 따른 캐리어보드(100)의 측면을 도시하고 있다.
도6을 참조하면, 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)의 앞 측 부분이 각각 니은자 형태(└)와 역 기역자 형태(「)로 단차져 있는 데, 해당 부분에서 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)가 볼트(B2)에 의해 서로 고정된다. 이러한 이유는 A부분에 회로기판(130)의 접속단자(131, 132)들이 설계되어 있기 때문이다. 그리고 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)의 앞 측 부분이 단차져 있음으로 인해 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)가 서로 결합되면 앞 측으로 돌출된 부위를 형성하게 된다. 그리고 필요에 따라서는 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)를 견고하 게 고정시키기 위하여 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)의 후측 부분을 볼트(B3)로 고정시킬 수도 있다. 물론, 볼트(B2, B3)가 통과하는 회로기판(130)의 해당 부분에는 단자 등과 같은 전기적인 구성이 없어야 하는 것은 당연하다.
또한, 상측 프레임(121)과 하측 프레임(122)의 좌측 부분은 각각 기역자 형태(┐) 및 역 니은자 형태(┘)로 단차져 있어서 상측 프레임(121)과 하측 프레임(122)이 서로 결합되게 되면 후 측으로 개방된 홈이 형성되는 결과를 가져오는 데, 그러한 홈에 상기한 상측 커넥터(141)와 하측 커넥터(142)의 결합에 의해 앞 측으로 돌출된 부위가 삽입되는 방식으로 캐리어보드(100)가 조립된다.
그리고 도6에서 확인되는 바와 같이, 보드 프레임(120, 상측 프레임과 하측 프레임 포함)의 후면과 접속 커넥터(140, 상측 커넥터와 하측 커넥터 포함)의 앞면이 서로 면접촉하도록 되어 있는 데, 이러한 이유는 캐리어보드(100)를 테스터 측으로 강하게 밀 때, 접속 커넥터(140)의 밀림을 방지하여 접속 커넥터(140)와 전기적으로 접속된 회로기판(130)과 그 전기적인 접속 상태를 보호하기 위함이다.
그리고 도7에서 자세히 참조되는 바와 같이 본 실시예에 따른 캐리어보드(100)에 의하면, 상측 커넥터(141)의 상면은 상측 프레임(121)의 상면보다 (약 0.5mm 정도) 낮게 설치되고, 하측 커넥터(142)의 하면은 하측 프레임(122)의 하면보다 (약 0.5mm 정도) 높게 설치된다. 또한, 인서트(110)의 상단도 상측 프레임(121)의 상면보다 (약 0.6mm 정도) 침강되게 설치된다.
따라서 도8에 도시된 바와 같이 캐리어보드(100-1 내지 100-5)를 층층이 쌓 았을 경우에 상하 접속 커넥터(140-1 내지 140-5) 간에 서로 접촉 간섭이 없어서 접속 커넥터(140-1 내지 140-5)의 보호가 이루어질 수 있으며, 인서트(110-2 내지 110-5)들 또한 상측 캐리어보드(100-1 내지 100-4)들에 닿지 않아서 인서트(110-2 내지 110-5)의 보호가 이루어질 수 있다. 또한, 도9에 도시된 바와 같이 캐리어보드(100)가 레일(RR, RL)을 타고 이동할 경우에 접속 커넥터(140)가 레일(RR, RL)과 접촉되지 않는 등과 같이 테스트핸들러의 작동 중에 접속 커넥터(140) 및 인서트(110)가 다른 장치 등과 접촉 간섭을 일으키지 않게 되어 접속 커넥터(140) 및 인서트(110)의 보호가 이루어질 수 있게 된다.
이상과 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예를 통해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.
도1은 본 발명의 실시예에 따른 테스트핸들러용 캐리어보드에 대한 분해 사시도이다.
도2는 도1의 캐리어보드에 구성된 상측 프레임을 설명하기 위한 참조도이다.
도3은 도1의 캐리어보드에 구성된 인서트와 하측 프레임의 결합관계를 설명하기 위한 참조도이다.
도4는 도1의 캐리어보드에 구성된 회로기판을 설명하기 위한 참조도이다.
도5는 도1의 캐리어보드에 구성된 상측 커넥터 및 하측 커넥터를 설명하기 위한 참조도이다.
도6 및 도7은 도1의 캐리어보드의 결합된 측면도이다.
도8 및 도9는 도1의 캐리어보드의 구성에 따른 특징적 작용을 설명하기 위한 참조도이다.
*도면의 주요 부위에 대한 부호의 설명*
100 : 캐리어보드
110 : 인서트
120 : 보드 프레임
121 : 상측 프레임
122 : 하측 프레임
122A : 외곽부 122B : 지지부
130 : 회로기판
140 : 접속 커넥터
141 : 상측 커넥터
142 : 하측 커넥터
150 : 저장매체

Claims (10)

  1. 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트;
    상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결된 회로기판;
    상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및
    상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고,
    상기 인서트에 안착된 전자부품은 상기 접속 커넥터가 상기 테스터에 접속될 시 상기 회로기판과 접속 커넥터를 통해 테스터에 전기적으로 접속되며,
    상기 인서트의 상단은 상기 보드 프레임의 상단보다 침강되게 설치되는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  2. 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트;
    상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결된 회로기판;
    상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및
    상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고,
    상기 인서트에 안착된 전자부품은 상기 접속 커넥터가 상기 테스터에 접속될 시 상기 회로기판과 접속 커넥터를 통해 테스터에 전기적으로 접속되며,
    상기 접속 커넥터의 상면은 상기 보드 프레임의 상면보다 낮으며,
    상기 접속 커넥터의 하면은 상기 보드 프레임의 하면보다 높은 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  3. 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트;
    상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결된 회로기판;
    상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및
    상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고,
    상기 인서트에 안착된 전자부품은 상기 접속 커넥터가 상기 테스터에 접속될 시 상기 회로기판과 접속 커넥터를 통해 테스터에 전기적으로 접속되며,
    상기 보드 프레임은,
    상기 회로기판의 상측에 구비되는 상측 프레임; 및
    상기 회로기판의 하측에 구비되는 하측 프레임; 을 포함하는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 상측 프레임 또는 하측 프레임은 상기 회로기판의 위치를 설정하기 위한 위치설정수단을 가지는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 하측 프레임은,
    사각틀 형상의 외곽부; 및
    상기 회로기판의 하층에서 상기 회로기판을 지지하기 위한 지지부; 를 포함하는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 지지부는 상기 회로기판의 상측에 설치되는 인서트를 고정하기 위한 고정수단을 가지는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 보드 프레임과 상기 접속 커넥터는 상호 면 접촉되어 있는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  8. 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트;
    상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결된 회로기판;
    상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임; 및
    상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 를 포함하고,
    상기 인서트에 안착된 전자부품은 상기 접속 커넥터가 상기 테스터에 접속될 시 상기 회로기판과 접속 커넥터를 통해 테스터에 전기적으로 접속되며,
    상기 접속 커넥터는,
    상기 회로기판의 상측에 구비되는 적어도 하나의 상측 커넥터; 및
    상기 회로기판의 하측에 구비되는 적어도 하나의 하측 커넥터; 를 포함하며,
    상기 상측 커넥터는 상기 회로기판의 상면에 설계된 접속단자에 전기적으로 연결되고,
    상기 하측 커넥터는 상기 회로기판의 하면에 설계된 접속단자에 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 상측 커넉터 및 하측 커넥터가 회로기판에 전기적으로 접속되는 방향과 테스터에 전기적으로 접속되는 방향은 서로 수직한 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
  10. 전자부품을 안착시킬 수 있는 인서트;
    상기 인서트의 하층에 구비되며, 상기 인서트에 적재된 전자부품과 전기적으로 연결된 회로기판;
    상기 회로기판 및 인서트를 지지하기 위한 보드 프레임;
    상기 보드 프레임의 일 측에 설치되어 상기 회로기판과 전기적으로 연결되며, 테스터에 전기적으로 접속될 수 있는 접속 커넥터; 및
    자기 식별 정보를 포함한 필요한 정보를 저장하는 저장매체; 를 포함하고,
    상기 인서트에 안착된 전자부품은 상기 접속 커넥터가 상기 테스터에 접속될 시 상기 회로기판과 접속 커넥터를 통해 테스터에 전기적으로 접속되며,
    상기 저장매체는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체인 것을 특징으로 하는
    테스트핸들러용 캐리어보드.
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