TWI741422B - 探針嵌合構造及探針 - Google Patents

Abstract

本發明之探針嵌合構造具備：具有排列之複數個連接電極之檢查對象之連接器(3)；及嵌合於連接器(3)之探針。探針具備：凸緣，其具有貫通孔，用以將該探針安裝於器具；同軸電纜，其插通於貫通孔，於前端部安裝有探針銷；活柱(4)，其使探針銷自前端露出；及彈簧，其於凸緣與活柱(4)間內包同軸電纜，一端部固定於凸緣，另一端部固定於活柱(4)。活柱(4)具有形成於該活柱(4)之前端部之活柱側嵌合部，連接器(3)具有與活柱側嵌合部嵌合之連接器側嵌合部(孔部(H1、H2))。

Description

探針嵌合構造及探針

本發明係關於將探針連接於多極連接器之連接電極，用以進行設有多極連接器之電子機器之電路特性檢查之探針嵌合構造及探針。

專利文獻1係具有檢查對象之連接器，及嵌合於該連接器之探針之探針嵌合構造相關之發明，於專利文獻1中，顯示一種構造，其具備：具有開口向前端方向擴大之喇叭狀錐形部之探針；及具有該探針之錐形部所嵌合之外框部之連接器。上述探針藉由該錐形部於連接器之外框部滑動而被引導，使兩者以適當關係嵌合。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]國際公開第2018/116568號

如上述，雖檢查對象之連接器搭載於電路基板，但隨著電路基板之零件安裝密度或積體度提高，而連接器與其他零件之間隙亦不斷變窄。

若將專利文獻1所揭示之探針與搭載於電路基板之連接器嵌合，則導致較該連接器大一圈之探針之喇叭狀錐形部較連接器更向外側突出。因此，若於上述電路基板上之連接器周圍搭載有其他零件等，則產 生探針與該等零件碰撞而干涉，或使該等零件破損之問題。

另一方面，若為避免上述問題，而於連接器周圍設置不搭載、配置其他零件之空間，則例如於智慧型手機等之內部所使用之電路基板中，由於電路基板之零件積體度降低，故產生阻礙智慧型手機小型化之問題。

因此，本發明之目的係提供一種不降低搭載連接器之電路基板之零件安裝密度或積體度，可避免搭載於連接器附近之零件干涉或破損之探針嵌合構造及探針。

作為本揭示之一例之探針嵌合構造係具備具有排列之複數個連接電極之檢查對象之連接器，及嵌合於上述連接器之探針者，上述探針具備：凸緣，其具有貫通孔；同軸電纜，其插通於上述貫通孔，於前端部安裝有探針銷；活柱，其使探針銷自前端露出；及彈簧，其於上述凸緣與上述活柱間內包上述同軸電纜，一端部固定於上述凸緣，另一端部固定於上述活柱，且上述活柱具有形成於該活柱之前端部之活柱側嵌合部，上述連接器具有與上述活柱側嵌合部之外側面相接而嵌合之連接器側嵌合部。

又，作為本揭示之一例之探針嵌合構造係具備具有排列之複數個連接電極之檢查對象之連接器，及嵌合於上述連接器之探針者，上述探針具備：凸緣，其具有貫通孔；同軸電纜，其插通於上述貫通孔，於前端部安裝有探針銷；活柱，其使探針銷自前端露出；及彈簧，其於上述凸緣與上述活柱間內包上述同軸電纜，一端部固定於上述凸緣，另一端部固定於上述活柱，且上述活柱具有形成於該活柱之前端部之活柱側嵌合 部，上述連接器具有包圍上述活柱側嵌合部而嵌合之連接器側嵌合部。

作為本揭示之一例之探針係用以檢查具有連接電極之連接器者，其具備：凸緣，其具有貫通孔；同軸電纜，其插通於上述貫通孔；活柱，其具有平面狀之基端部；及探針銷，其安裝於上述同軸電纜，前端自上述基端部露出，且上述活柱包含於上述基端部之俯視時，夾住上述探針銷之複數個突起部，自上述基端部至上述複數個突起部之前端之各者之長度較自上述基端部至探針銷之前端之長度更長。

根據本發明之探針嵌合構造及探針，可不降低搭載連接器之電路基板之零件安裝密度或積體度，避免搭載於連接器附近之零件干涉或破損。

2:探針

3:連接器

3S11:傾斜部

3S12:傾斜部

3S21:傾斜部

3S22:傾斜部

4:活柱

4S11:傾斜部

4S12:傾斜部

4S21:傾斜部

4S22:傾斜部

6:同軸電纜

8:凸緣

8H:貫通孔

9:連結構件

10:彈簧

12:同軸連接器

18:探針銷

31:金屬框架

32:金屬框架

33:連接電極

33A~33H:連接電極

34:連接電極保持棒

101:探針嵌合構造

D1:凹陷

D2:凹陷

G1:溝槽

G2:溝槽

H1:孔部

H2:孔部

N1:缺口部

N2:缺口部

OL:外形線

P1:突起部

P2:突起部

PE:基端部

X:方向

Y:方向

Z:方向

圖1係第1實施形態之探針嵌合構造101之立體圖。

圖2係探針2組裝前之狀態之立體圖。

圖3係活柱4之前端部之放大立體圖。

圖4(A)係活柱4之基端部PE之放大俯視圖。圖4(B)係顯示突起部P1、P2與探針銷18之位置關係之圖。

圖5係顯示連接器3，及與該連接器3對向之活柱4之一部分之立體圖。

圖6係對連接器3具有之複數個連接電極標註個別符號之立體圖。

圖7係顯示連接器3，及與該連接器3對向之活柱4之一部分之縱剖視圖。

圖8(A)、圖8(B)、圖8(C)係顯示探針之活柱4對連接器3嵌合前後之各階段之縱剖視圖。

圖9係觀察第2實施形態之探針之活柱4之前端部之立體圖。

圖10(A)係活柱4之基端部PE之放大俯視圖。圖10(B)係顯示突起部P1、P2與探針銷18之位置關係之圖。

圖11係圖9所示之活柱4所嵌合之連接器3之立體圖。

首先，針對本發明之探針嵌合構造中之若干態樣進行記載。

本發明之第1態樣之探針嵌合構造具備：具有排列之複數個連接電極之檢查對象之連接器，及嵌合於上述連接器之探針，上述探針具備：凸緣，其具有貫通孔，用以將該探針安裝於器具；同軸電纜，其插通於上述貫通孔，於前端部安裝有探針銷；活柱，其使探針銷自前端露出；及彈簧，其於上述凸緣與上述活柱間內包上述同軸電纜，一端部固定於上述凸緣，另一端部固定於上述活柱，且上述活柱具有形成於該活柱之前端部之活柱側嵌合部，上述連接器具有與上述活柱側嵌合部之外側面相接而嵌合之連接器側嵌合部。

根據上述探針嵌合構造，由於活柱不需要開口向前端方向擴大之喇叭狀錐形部，故可使活柱之平面尺寸與連接器之平面尺寸同等或較其小。因此，無需於連接器周圍設置不搭載、配置其他零件之空間，電路基板之零件安裝密度或積體度不會降低。又，可避免搭載於連接器附近之零件干涉或破損。

本發明之第2態樣之探針嵌合構造中，上述連接器側嵌合 部位於將上述複數個連接電極之排列範圍包夾之複數個部位，上述活柱側嵌合部分別嵌合於上述複數個連接器側嵌合部。根據該構造，可使連接器與活柱於複數個分散之部位嵌合，故活柱對於連接器之嵌合強度及位置精度提高。

本發明之第3態樣之探針嵌合構造中，上述複數個連接電極構成行，上述活柱側嵌合部為沿著上述複數個連接電極之排列範圍內之上述行之形狀。根據該構造，可較長地形成連接器與活柱之嵌合部位，故活柱對於連接器之嵌合強度及位置精度提高。

本發明之第4態樣之探針嵌合構造中，上述活柱側嵌合部為突起部，上述連接器側嵌合部為供上述活柱側嵌合部***之凹陷部，上述突起部具有確保與上述連接電極或上述連接電極之保持部之隔開距離之缺口部。根據該構造，有效防止於活柱側嵌合部與連接器側嵌合部嵌合之狀態下，活柱側嵌合部與連接器之連接電極或連接電極之保持部之干涉。

本發明之第5態樣之探針嵌合構造中，上述連接器側嵌合部為突起部，上述活柱側嵌合部為供上述連接器側嵌合部***之凹陷部，上述突起部具有確保與上述連接電極或上述連接電極之保持部之隔開距離之缺口部。根據該構造，有效防止連接器側嵌合部與連接器之連接電極或連接電極之保持部之干涉。

本發明之第6態樣之探針嵌合構造中，於上述突起部及上述凹陷部之兩者或一者，具有***方向之前端部較基端部厚度更薄之傾斜部，該傾斜部將上述突起部對於上述凹陷部引導至適當位置。根據該構造，藉由將活柱***連接器，而將兩者引導至適當位置，嵌合時之操作性提高。

以下，參照附圖，舉出若干具體例，顯示用以實施本發明之複數個形態。各圖中，對同一部位標註同一符號。考慮要點之說明或易理解性，為方便說明而分開顯示實施形態，但可進行不同實施形態所示之構成之部分置換或組合。第2實施形態之後，省略關於與第1實施形態共通事項之記述，僅針對不同方面進行說明。尤其，對於相同構成之相同作用效果，每實施形態未逐次提及。

《第1實施形態》

圖1係第1實施形態之探針嵌合構造101之立體圖。圖2係探針2組裝前之狀態之立體圖。圖3係活柱4之前端部之放大立體圖。

探針2係連接於搭載於電子機器之電路基板之連接器3，進行連接於該連接器3之電子電路之特性檢查之檢查器具。連接器3係具有複數個連接電極之多極連接器。同軸連接器12係連接於測定器之同軸插座。

如圖1、圖2所示，探針2具備活柱4、同軸電纜6、彈簧10、凸緣8、連結構件9及同軸連接器12。

如圖2所示，凸緣8具有貫通孔8H，於該貫通孔8H插通有同軸電纜6。連結構件9係經由彈簧10，將活柱4與凸緣8連結之連結構件。活柱4經由彈簧10彈性保持於凸緣8。

活柱4、凸緣8及連結構件9均以例如不鏽鋼構成，彈簧10以例如鈹銅構成。

於活柱4之前端部，探針銷18、突起部P1、P2分別自活柱之前端面突出。該「活柱之前端面」係與連接器3對向之活柱4前端面。探針銷18係安裝於同軸電纜6，與同軸電纜6之內導體導通之銷，同軸電纜6之外導體與活柱4導通。突起部P1、P2相當於本發明之「活柱側嵌合 部」。未自活柱4之前端突出之部分之探針銷18藉由以襯套(樹脂構件)覆蓋與活柱4之間，而成為同軸構造。

如圖3所示，突起部P1具有傾斜部4S11、4S12，突起部P2具有傾斜部4S21、4S22。針對該等傾斜部4S11、4S12、4S21、4S22之作用，於下文敘述。活柱包含於基端部PE之俯視時，夾住探針銷18之複數個(該例中為2個)突起部P1、P2。自基端部PE至突起部P1、P2之前端之各者之長度較自基端部PE至探針銷18之前端之長度更長。

圖4(A)係活柱4之基端部PE之放大俯視圖。圖4(B)係顯示基端部PE之突起部P1、P2與探針銷18之位置關係之圖。圖4(B)中，顯示2個突起部P1、P2全體之外形線OL。活柱4之基端部PE之俯視時，探針銷18之一部分位在由複數個(該例中為2個)突起部P1、P2全體之外形線OL包圍之範圍內。

圖5係顯示連接器3，及與該連接器3對向之活柱4之一部分之立體圖。圖7係顯示連接器3，及與該連接器3對向之活柱4之一部分之縱剖視圖。連接器3具有圖3所示之活柱4之突起部P1、P2所嵌合之孔部H1、H2。該孔部H1、H2相當於本發明之「連接器側嵌合部」。如下文所示，活柱4之突起部P1、P2於連接器3之金屬框架31、32滑動而嵌合。此時，連接器3之孔部H1、H2與活柱4之突起部P1、P2之外側面相接而嵌合。又，連接器3之孔部H1、H2包圍活柱4之突起部P1、P2而嵌合。

連接器3係金屬材與樹脂之成型體。如圖5所示，連接器3具有複數個連接電極33，及金屬框架31、32。金屬框架31、32為連續體，此處，為方便說明而另外標註符號。

如圖5所示，金屬框架31具有傾斜部3S11、3S12，金屬框 架32具有傾斜部3S21、3S22。針對該等傾斜部3S11、3S12、3S21、3S22之作用，於下文敘述。

圖6係對連接器3具有之複數個連接電極標註個別符號之立體圖。圖5所示之複數個連接電極33係以連接電極33A、33B、33C、33D、33E、33F、33G、33H構成。該等連接電極中，連接電極33A、33F於相對於探針2之抵接相隔方向(Z方向)之正交面(X-Y面)處於180度旋轉對稱關係。同樣地，連接電極33C、33D處於180度旋轉對稱關係。又，連接電極33B、33E處於180度旋轉對稱關係。再者，連接電極33G、33H處於180度旋轉對稱關係。

如圖7所示，於活柱4嵌合於連接器3之狀態下，探針銷18與連接器3之複數個連接電極中特定之連接電極33A接觸而電性導通。

圖8(A)、圖8(B)、圖8(C)係顯示探針2之活柱4對連接器3嵌合前後之各階段之縱剖視圖。如圖8(A)所示，活柱4之突起部P1具有傾斜部4S11，突起部P2具有傾斜部4S21。突起部P1、P2係前端部較其基端部厚度更薄。藉此，於突起部P1形成有傾斜部4S11，於突起部P2形成有傾斜部4S21。

又，如圖8(A)所示，連接器3之金屬框架31具有傾斜部3S11，金屬框架32具有傾斜部3S21。任一傾斜部3S11、3S21皆係於連接器3之金屬框架31、32之前端部較基端部厚度更薄之方向傾斜。

若使探針2之活柱4自圖8(A)所示之狀態向連接器3方向下降，則變為圖8(B)所示之狀態。該例中，活柱4之突起部P2與連接器3之金屬框架32抵接。即，突起部P2與金屬框架32之傾斜部3S21相接。若保持該狀態，使活柱4下降，則突起部P2於金屬框架32之傾斜部3S21滑動， 活柱4以圖8(B)所示之朝向於左方向接收應力。其後，若進而使活柱4向連接器3方向下降，則如圖8(C)所示，連接器3之金屬框架32之凸部與突起部P2之傾斜部4S21相接而滑動。藉此，活柱4以圖8(B)所示之朝向於左方向進而接收應力。又，突起部P1、P2之前端較探針銷18之前端更突出。即，自突起部P1、P2之基端部至前端部之長度，較自探針銷18之基端部至前端部之長度更長。又，探針銷18於俯視時，係由突起部P1、P2夾持。又，如圖4(B)所示，於活柱4之基端部PE之俯視時，探針銷18之一部分位在由突起部P1、P2全體之外形線OL包圍之範圍內。

藉由此種構造，可抑制嵌合前探針銷18與不同於被測定對象即連接器之電極之構件碰撞。而且，可抑制來自外部之雜訊的影響。

最終，如圖8(C)所示，以連接器3之金屬框架32之凸部與突起部P2之傾斜部4S21相接，金屬框架31之凸部與突起部P1之傾斜部4S11相接之狀態停止。即，活柱4之突起部P1、P2以該狀態與連接器3之孔部H1、H2(參照圖5)嵌合。並且，自活柱4之前端部突出之探針銷18與連接電極33A接觸而電性導通。藉此，可檢查施加或流動於連接電極33A之信號。

圖8所示之例中，說明了與X-Z面平行之面內方向之連接器3與活柱4之相對位置關係之移動，但對於與Y-Z面平行之面內方向之連接器3與活柱4之相對位置關係之移動亦同。即，如圖3所示，於突起部P1、P2，不僅具有自與Y-Z面平行之面傾斜之傾斜部4S11、4S21，亦具有自與X-Z面平行之面傾斜之傾斜部4S12、4S22。即，如圖5所示，於孔部H1、H2，不僅具有自與Y-Z面平行之面傾斜之傾斜部3S11、3S21，亦具有自與X-Z面平行之面傾斜之傾斜部3S12、3S22。因此，對於與Y-Z面平行之 面內方向之連接器3與活柱4之相對位置，兩者亦被引導。因此，針對活柱4相對於連接器3於X方向、Y方向之任一者，亦將兩者引導至適當位置關係，嵌合時之操作性提高。

另，以上所示之例中，連接器3之孔部H1、H2係形成於將複數個連接電極33之排列範圍包夾之2處，但複數個連接電極構成複數個行之情形時，活柱4之突起部亦可為嵌入至以連接電極33之排列範圍內之上述行所夾之溝槽者。例如，圖5所示之例中，亦可複數個連接電極構成2個溝槽G1、G2，將嵌合於該2個溝槽G1、G2之突起部設置於活柱4。根據此種構造，可較長地形成連接器3與活柱4之嵌合部位，故活柱4對於連接器3之嵌合強度及位置精度提高。

又，以上所示之例中，使用了具備單一探針銷18之探針2，但亦可具備複數個探針銷。藉此，可使探針銷同時與複數個連接電極之各者抵接而測定。

又，設有上述複數個探針銷之情形時，連接器3之複數個連接電極較佳於對於探針2之抵接相隔方向(Z方向)之正交面(X-Y面)位於180度旋轉對稱位置，使探針2對連接器3之可嵌合方向為180度旋轉關係之2種。該情形時，較佳以上述180度旋轉對稱之2種嵌合狀態(第1嵌合狀態與第2嵌合狀態)，以分別與連接器3之複數個連接電極中之不同連接電極抵接之方式，設置複數個探針銷。藉此，由於上述2個嵌合狀態下，並無複數個探針銷重複與連接電極抵接，故探針銷較少，且結果可與較多連接電極抵接。例如，若於第1嵌合狀態下，設置與圖6所示之連接電極33A、33B、33C抵接之3個探針銷，則3個探針銷以第2嵌合狀態與連接電極33D、33E、33F抵接。又，若例如以第1嵌合狀態，設置與連接電極 33A、33E、33C抵接之3個探針銷，則3個探針銷以第2嵌合狀態與連接電極33D、33B、33F抵接。如此，可為較少探針銷且結果與較多之連接電極抵接，故可擴大探針銷之鄰接間隔，易確保探針銷間之信號之隔離。

上述例中，敘述了以2種嵌合狀態分別進行測定之例，但探針2亦可具備分別與複數個所有連接電極抵接之複數個探針銷。根據該構成，可以一次嵌合狀態，對所有連接電極進行測定。

《第2實施形態》

第2實施形態中，針對活柱與連接器之嵌合部之構造與第1實施形態不同之探針進行顯示。

圖9係觀察第2實施形態之探針之活柱4之前端部之立體圖。圖10(A)係活柱4之基端部PE之放大俯視圖。圖10(B)係顯示突起部P1、P2與探針銷18之位置關係之圖。圖11係圖9所示之活柱4所嵌合之連接器3之立體圖。於活柱4之前端部，探針銷18、突起部P1、P2分別突出。突起部P1、P2相當於本發明之「活柱側嵌合部」。圖9、圖10、圖11所示部位以外之構成如第1實施形態所示。

圖10(B)中，顯示2個突起部P1、P2全體之外形線OL。活柱4之基端部PE之俯視時，探針銷18全部位在由複數個(該例中為2個)突起部P1、P2全體之外形線OL包圍之範圍內。藉由此種構造，可抑制嵌合前探針銷18與不同於被測定對象即連接器之電極之構件碰撞。又，可抑制來自外部之雜訊的影響。

如圖11所示，連接器3具有將複數個連接電極33形成行而保持之連接電極保持棒34。於該連接電極保持棒34之兩端附近形成有凹陷D1、D2。

如圖9所示，突起部P1、P2分別具有缺口部N1、N2。該等缺口部N1、N2係用以確保與連接電極33或連接電極保持棒34之相隔距離之部分。該連接電極保持棒34相當於本發明之「連接電極之保持部」。即，於圖9所示之突起部P1、P2與圖11所示之連接器3之凹陷D1、D2嵌合之狀態下，確保突起部P1、P2與連接電極33或連接電極保持棒34間之特定距離。因此，突起部P1、P2不受連接電極保持棒34之干涉。又，由於突起部P1、P2不超出必要地接近連接電極33，故不會對測定時之電性特性帶來不良影響。

即使為如圖9所示之突起部P1、P2不與連接電極保持棒34干涉之位置關係，缺口部N1、N2亦有效。即，於使活柱4嵌合於連接器3之中途之操作(引導動作)中，減低突起P1、P2與連接器3內之連接保持棒34或連接電極33碰撞而使該等破損之虞。

上述缺口部N1、N2亦可為將連接電極保持棒34之兩端於X方向或Y方向夾入之形狀及尺寸。藉此，可提高活柱4對於連接器3之嵌合力。

另，圖9、圖10、圖11所示之例中，連接器3之凹陷D1、D2隔著複數個連接電極33之排列範圍形成於2處，但複數個連接電極構成行之情形時，活柱4之突起部亦可為嵌合於沿連接電極33之排列範圍內之上述行之溝槽者。例如，圖11所示之例中，亦可於連接電極保持棒34與連接器之外框部間構成溝槽G1、G2，將與該溝槽G1、G2之一者或兩者嵌合之突起部設置於活柱4。根據此種構造，可較長地形成連接器3與活柱4之嵌合部位，故活柱4對於連接器3之嵌合強度及位置精度提高。

第1實施形態、第2實施形態中，顯示了連接器側嵌合部及 活柱側嵌合部設置於180度旋轉對稱之位置之例。因此，活柱4對於連接器3之嵌合狀態為0度與180度之2種。藉此，變更活柱4對於連接器3之朝向，從而可選擇探針銷18所抵接之連接器之連接電極之位置。

最後，上述實施形態之說明係對所有方面予以例示，並非限制者。對於相關領域技術人員而言，可適當變化及變更。本發明之範圍並非由上述實施形態表示，而係由申請專利範圍表示。再者，本發明之範圍在與申請專利範圍均等之範圍內可自實施形態予以變更。

例如，活柱側嵌合部及連接器側嵌合部不限於各為2個，可為1個，亦可為3個以上。

又，以上所示之例中，連接器側嵌合部為孔部H1、H2、溝槽G1、G2、凹陷D1、D2等凹陷部，活柱側嵌合部為突起部P1、P2，但連接器側嵌合部亦可為突起部，活柱側嵌合部亦可為嵌合於連接器側嵌合部之孔部、溝槽、凹陷等凹陷部。

4:活柱

18:探針銷

OL:外形線

P1:突起部

P2:突起部

PE:基端部

Claims (9)

1. 一種探針嵌合構造，其係具備具有排列之複數個連接電極之檢查對象之連接器，及嵌合於上述連接器之探針者，上述探針具備：凸緣，其具有貫通孔；同軸電纜，其插通於上述貫通孔，於前端部安裝有探針銷；活柱，其使探針銷自前端露出；及彈簧，其於上述凸緣與上述活柱間內包上述同軸電纜，一端部固定於上述凸緣，另一端部固定於上述活柱，且上述活柱具有形成於該活柱之前端部之活柱側嵌合部，上述連接器具有與上述活柱側嵌合部之外側面相接而嵌合之連接器側嵌合部，上述連接器側嵌合部位於將上述複數個連接電極之排列範圍包夾之複數個部位，上述活柱側嵌合部分別嵌合於上述複數個連接器側嵌合部。
2. 一種探針嵌合構造，其係具備具有排列之複數個連接電極之檢查對象之連接器，及嵌合於上述連接器之探針者，上述探針具備：凸緣，其具有貫通孔；同軸電纜，其插通於上述貫通孔，於前端部安裝有探針銷；活柱，其使探針銷自前端露出；及 彈簧，其於上述凸緣與上述活柱間內包上述同軸電纜，一端部固定於上述凸緣，另一端部固定於上述活柱，且上述活柱具有形成於該活柱之前端部之活柱側嵌合部，上述連接器具有包圍上述活柱側嵌合部而嵌合之連接器側嵌合部，上述連接器側嵌合部位於將上述複數個連接電極之排列範圍包夾之複數個部位，上述活柱側嵌合部分別嵌合於上述複數個連接器側嵌合部。
3. 如請求項1或2之探針嵌合構造，其中上述探針銷為複數個，上述連接器具有上述探針銷所抵接之複數個連接電極，上述複數個連接電極位在相對於上述探針之抵接相隔方向正交之面中於180度旋轉對稱位置，上述複數個探針銷設置於相對於上述連接器之上述180度旋轉之中心軸180度旋轉前後，分別與上述複數個連接電極中之不同連接電極抵接之位置。
4. 如請求項1或2之探針嵌合構造，其中上述連接器具有複數個連接電極，上述探針銷係與上述所有複數個連接電極分別抵接之複數個探針銷。
5. 如請求項1或2之探針嵌合構造，其中 上述複數個連接電極構成行，上述活柱側嵌合部呈沿著上述複數個連接電極之排列範圍內之上述行之形狀。
6. 如請求項1或2之探針嵌合構造，其中上述活柱側嵌合部為突起部，上述連接器側嵌合部為供上述活柱側嵌合部***之凹陷部，上述突起部具有缺口部，該缺口部確保與上述連接電極或上述連接電極之保持部之隔開距離。
7. 如請求項6之探針嵌合構造，其中於上述突起部及上述凹陷部之兩者或一者，具有***方向之前端部較基端部厚度更薄之傾斜部，該傾斜部將上述突起部對於上述凹陷部引導至適當位置。
8. 一種探針，其係用以檢查具有連接電極之連接器者，其具備：凸緣，其具有貫通孔；同軸電纜，其插通於上述貫通孔；活柱，其具有平面狀之基端部；及探針銷，其安裝於上述同軸電纜，前端自上述基端部露出，且上述活柱包含於上述基端部之俯視時，包夾上述探針銷之複數個突起部，自上述基端部至上述複數個突起部之前端之各者之長度較自上述基端部至探針銷之前端之長度更長。
9. 如請求項8之探針，其中上述活柱之上述基端部之俯視時，上述探針銷位在由上述複數個突起部全體之外形線包圍之範圍內。

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