TWI727520B - 電子元件搬送方法及電子元件搬送裝置與搬送設備 - Google Patents
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Abstract
一種電子元件送方法及電子元件搬送裝置與搬送設備,所述電子元件搬送方法設有:提供一載盤,載盤上設有置槽;提供一撥推機構,該撥推機構設有一撥推件;以該撥推件推移電子元件在該置槽中位移時,提供一與載盤分離,並可在電子元件上方位移之移動擋件,阻擋該電子元件脫離該置槽。透過在該撥推機構以一個撥推件整齊撥移一個置槽中的電子元件時,同時以一個移動擋件擋阻在電子元件上方的設計,可防止電子元件在推送過程中被擠壓往上脫離置槽,且可大幅降低被搬送之電子元件的碰撞損壞率。
Description
本發明是有關於一種搬送方法、搬送裝置與搬送設備,特別是指一種電子元件的搬送方法、搬送裝置與搬送設備。
按,一般的電子元件在進行檢測時,通常係將電子元件倒入振動送料機,使電子元件可被整列搬送至檢測流路;且檢測後之電子元件在進行分類時,通常係直接自檢測流路排出至預設之收集盒中,眾多電子元件堆疊在收集盒中,元件與元件間會因碰撞而造成損傷;在一般的電子元件例如LED發光二極體或屬於低電壓需求的電子元件,其損傷通常皆在可以允許的範圍。
但是若該電子元件必需承受高電壓,例如超過 1500 伏特的需求,該碰撞所造成的損傷將會造成問題,此發生在一鐵芯上進行繞線的產品最有影響,因繞線的線材設有一層極薄的漆包膜,該層漆包膜若造成損傷破皮,在1500 伏特的高電壓進行檢測時,會發生漏電,故在因應此種必需承受高電壓的電子元件搬送上,必需重新思考因應的搬送方式。
因此,本發明的目的,即在提供一種可改善先前技術的至少一個缺點的電子元件搬送方法。
於是,本發明電子元件搬送方法,包含:使一個承載搬送機構以一個載盤上的至少一承載搬送流路承接電子元件;以及使一個撥推機構以一個置入該至少一承載搬送流路的撥推件沿該至少一承載搬送流路長向位移推送電子元件,並以一個遮擋於電子元件上方的移動擋件沿該至少一承載搬送流路長向位移,將被推送的電子元件限位於該至少一承載搬送流路中。
於是,本發明電子元件搬送方法,包含:提供一載盤,載盤上設有置槽;提供一撥推機構,該撥推機構設有一撥推件;以該撥推件推移電子元件在該置槽中位移時,提供一與載盤分離,並可在電子元件上方位移之移動擋件,阻擋該電子元件脫離該置槽。
本發明之另一目的,在於提供一種可改善先前技術的至少一個缺點的電子元件搬送裝置。
於是,本發明電子元件搬送裝置,適用於搬送電子元件,並包含一個承載搬送機構及一個撥推機構。該承載搬送機構包括一個載盤,該載盤具有至少一個用以承接電子元件的承載搬送流路。該撥推機構包括一個可被驅動而於該承載搬送流路中移動以推送電子元件的撥推件,及一個可被驅動沿該承載搬送流路位移地遮擋於被推送之電子元件上方的擋件。
本發明之另一目的,在於提供一種可改善先前技術的至少一個缺點的電子元件搬送設備。
於是,本發明電子元件搬送設備,包含上述電子元件搬送裝置,及一個可被控制啟動而以一個間歇旋轉的旋轉搬送流路將多個電子元件逐一朝該載盤輸送的檢測裝置。
本發明的功效在於:在該撥推機構以該撥推件整齊撥移一個置槽中的電子元件時,同時以一個移動擋件擋阻在電子元件上方的設計,可防止電子元件在推送過程中被擠壓往上脫離置槽。
在本發明被詳細描述前,應當注意在以下的說明內容中,類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖1,本發明實施例可使用如圖所示之電子元件900為例作說明,該電子元件900為一線圈,設有一鐵芯 910及一蓋板 920,該鐵芯910設有一第一凸緣部911及一第二凸緣部 912,該第一凸緣部911與該第二凸緣部912間相隔間距並設一X軸向的捲芯部913;其中,該捲芯部913捲繞有線材930(一般為漆包線),該蓋板920覆蓋固設於該已捲繞有線材930的鐵芯910的該第一凸緣部 911與該第二凸緣部912上。
參閱圖2、3、8,本發明電子元件搬送設備200的實施例,適用於進行多個電子元件900的檢測與搬送。該電子元件搬送設備200設有一個用以檢測電子元件900的檢測裝置3,及一個用以承載並搬送該檢測裝置3檢測後之電子元件900的電子元件搬送裝置4。
該檢測裝置3會用以連結一個給料設備800,可承接該給料設備800逐一釋出的電子元件900。該檢測裝置3設有一個台座31、一個設於該台座31上且設有一個圓形區間320的第一環形限制片32、一個可被驅轉地設置在該圓形區間320中的轉盤33、一個局部遮蓋該轉盤33周緣地疊設在該第一環形限制片32上的第二環形限制片34、多個沿該圓形區間320周緣間隔分布設置於該台座31而外露於該台座31頂部的檢測器35、分別安裝在該台座31與該第二環形限制片34的一個第一吹氣單元36與一個第二吹氣單元37,及一個設置在該第二吹氣單元37的感測計數器38。該第一環形限制片32還設置有一個徑向延伸且些微弧彎貫穿連通該圓形區間320與該電子元件搬送裝置4的輸出槽道321。
該轉盤33設有多個間隔凹設於其周緣且上下貫穿的容槽330,每一容槽330可用以容裝一個電子元件900。該轉盤33可被間歇旋轉,而以該等容槽330相配合界定出一個用以旋轉搬送電子元件900的旋轉搬送流路30(示於圖4),該旋轉搬送流路30設有一個用以承接該給料設備800釋出的電子元件900的入料位置301,及一個連通該輸出槽道321的出料位置302。該轉盤33會以旋轉位移至該入料位置301的每一容槽330承接搬送一個電子元件900,並接續將所容裝的每一個電子元件900依序搬送通過該等檢測器35,然後再搬送到該出料位置302,使得該容槽330容裝的該電子元件900可被驅動進入該輸出槽道321。
每一檢測器35可對位移通過的每一個電子元件900之結構或特定功能進行檢測,並將被檢測的該電子元件900識別為良品或不良品。由於可用以檢測電子元件900之結構或特定功能的檢測器35類型眾多,且非本發明之創作重點,因此不再詳述。
該第一吹氣單元36是安裝在該台座31底部,可用以連通組接於一個正壓氣源(圖未示),且設有一個斜上延伸穿設於該台座31並連通該出料位置302的第一吹氣孔道361,該第一吹氣單元36可被控制啟動,而經由該第一吹氣孔道361斜上朝位於該出料位置302的該容槽330噴出正壓氣體,藉以將該容槽330中的該電子元件900吹移進入相連通的該輸出槽道321。
該第二吹氣單元37是安裝在該第二環形限制片34頂側,且位於該輸出槽道321上方,可用以連通組接於一個正壓氣源(圖未示)。該第二吹氣單元37設有一個斜下延伸的第二吹氣孔道371,可被控制啟動而斜下朝該電子元件搬送裝置4方向噴出正壓氣體,藉以吹動經由該輸出槽道321進入該電子元件搬送裝置4的電子元件900。該感測計數器38可透過光學檢測技術感測並計數移出該輸出槽道321的電子元件900數量,由於感測並計數一物件的通過數量的方式眾多,因此實施時,該感測計數器38感測電子元件900的方式不以此為限。
參閱圖2、5,該電子元件搬送裝置4 設有一個安裝在該台座31旁側的輸送機構5、一個連結於該輸送機構5的承載搬送機構6,及一個安裝在該承載搬送機構6的撥推機構7。
參閱圖5、6、7、8,該輸送機構5設有一個連結該台座31且沿一個X軸向水平延伸的輸送槽體51、一個設置在該輸送槽體51頂側的固定擋件52,及安裝在該輸送槽體51且鄰近該承載搬送機構6的一個第一止擋單元53與一個第二止擋單元54。
該輸送槽體51設有一個連接該台座31的第一端部512,及一個連接該承載搬送機構6的第二端部513,且頂面凹設有一個沿該X軸向延伸貫穿並連通該輸出槽道321的排列搬送流路510,該排列搬送流路510可承接該輸出槽道321送出的電子元件900。該固定擋件52是沿該排列搬送流路510長向延伸,並局部遮蔽該排列搬送流路510的頂側開口511,可用以將電子元件900限位於該排列搬送流路510中,使電子元件900無法從該頂側開口511脫離。該第二吹氣單元37是朝該頂側開口511鄰近該第一端部512區域的噴出正壓氣體,藉以推動電子元件900往該承載搬送機構6方向位移。
該第一止擋單元53設有一個可脫離地安裝在該輸送槽體51的該第二端部513而位於該排列搬送流路510旁側的固定件531,及一個安裝在該固定件531且用以和一個抽氣設備(圖未示)連通組接的抽氣接頭533。該固定件531穿設有一個連通該抽氣接頭533且側向連通該排列搬送流路510的第一氣孔532。該第二止擋單元54是安裝在該輸送槽體51底部,且設有一個連通該排列搬送流路510底緣的第二氣孔541。
該第一止擋單元53可被控制啟動,而經由該第一氣孔532對該排列搬送流路510側向施加一個負壓吸力,該第二止擋單元54可被控制啟動,而經由該第二氣孔541對該排列搬送流路510底側施加一個負壓吸力,可藉由該第一氣孔532與該第二氣孔541於該排列搬送流路510中產生的負壓吸力作用,將位移至該輸送槽體51的該第二端部513的一個電子元件900擋止定位。實施時,在本發明之另一實施態樣中,可選擇僅設置該第一止擋單元53或該第二止擋單元54。
參閱圖2,該承載搬送機構6設有一個軌座61、一個沿一個正交於該X軸向之Y軸向水平延伸設置於該軌座61上的軌道單元62、一個安裝在該軌道單元62上的載盤63,及一個安裝在該軌座61且連結該載盤63的傳動單元64。
該軌道單元62設有兩個沿該Y軸向延伸且沿該X軸向間隔平行的軌道621。該載盤63是可沿該Y軸向位移地跨設在該等軌道621上,該載盤63頂面凹設有多個沿該X軸向延伸,且沿該Y軸向間隔平行排列之直線狀的置槽630,每一置槽630提供一承載搬送流路631,每一承載搬送流路631可用以排列設置多個電子元件900。
該傳動單元64是透過傳動皮帶641連結並傳動該載盤63沿該等軌道621位移定位,可傳動該載盤63位移到以其中一個承載搬送流路631沿X軸向直線延伸對接該排列搬送流路510,使該承載搬送流路631可承接來自該排列搬送流路510的電子元件900。實施時,在本發明之另一個實施態樣中,該傳動單元64也可透過螺桿來傳動該載盤63沿該等軌道621位移定位,但因為傳動該載盤63沿該等軌道621位移定位的傳動單元64類型眾多,且非本發明創作重點,因此不再詳述,實施時也不以上述態樣為限。
參閱圖2、5,該撥推機構7設有一個跨設在該軌座61上方的龍門單元71、一個安裝在該龍門單元71的撥推單元72,及一個擺動感測單元73。該龍門單元71設有一個沿該X軸向跨設在該軌座61上方的支架711、一個沿該X軸向延伸設置在該支架711的滑軌712、一個安裝在該滑軌712且可被控制沿該滑軌712長向滑移定位的滑座713,及一個安裝在該滑座713且可被控制上下伸縮位移的伸縮座模組714。
該撥推單元72設有一個以其頂端部沿該Y軸向樞設於該伸縮座模組714的撥推件721、一個安裝在該伸縮座模組714底端旁側的移動擋件722,及一個以其兩端分別連結於該伸縮座模組714與該撥推件721的彈性件723。該撥推件721可以其樞接點為支點相對該伸縮座模組714擺動,該彈性件723為彈簧,恆設有將該撥推件721彈性拉引擺靠向該移動擋件722的彈力。
參閱圖5、9,該撥推件721可被該龍門單元71傳動上下位移,可以其底端部往下***該輸送槽體51之該排列搬送流路510中,並被該龍門單元71傳動沿該X軸向位移,將該排列搬送流路510中的電子元件900推移進入對應連通的一個承載搬送流路631中,並自該承載搬送流路631的一端往另一端推移電子元件900。
此外,在該伸縮座模組714帶動該撥推件721撥移電子元件900過程中,當被撥移的電子元件900與槽道間產生卡料阻塞情況時,該撥推件721會被阻塞於槽道中的該等電子元件900擋阻停止位移,進而往背離該伸縮座模組714位移方向樞擺並彈性拉伸該彈性件723。
參閱圖11、12,該移動擋件722會於該撥推件721被該伸縮座模組714傳動往下***該排列搬送流路510時,同時被伸縮座模組714傳動下移遮擋於該排列搬送流路510之該頂側開口511,且會於該撥推件721被傳動位移進入一個承載搬送流路631時,也被傳動位移至該承載搬送流路631上方,而局部遮擋在被推送之該等電子元件900上方,可避免被推送的電子元件900往上脫離該承載搬送流路631。
參閱圖9、10,該擺動感測單元73設有一個可被連動位移地安裝在該撥推件721的第一感測件731,及一個安裝在該伸縮座模組714的第二感測件732。該第二感測件732可感測該第一感測件731是否擺離,並對應感測結果產生一個感測訊號。藉此設計,可利用該擺動感測單元73感測該撥推件721是否相對該伸縮座模組714樞擺,來供判斷被撥移的電子元件900是否產生卡料阻塞現象。在本實施例中,該第一感測件731與該第二感測件732是透過光學感應技術來感測彼此的相對位移,但因為感應該撥推件721是否相對該伸縮座模組714偏擺的該擺動感測單元73類型眾多,例如可採用磁感應方式,將該第一感測件731設計為可產生磁場的磁性件,該第二感測件732設計為可感應該第一感測件731產生之磁場變化的霍爾元件,同樣可用以感測撥推件721是否相對該伸縮座模組714偏擺,所以實施時,該該擺動感測單元73不以上述實施態樣為限。
參閱圖2、8、10,本發明電子元件搬送設備200用以搬送電子元件900的搬送方法說明如下:
使該檢測裝置3之該轉盤33間歇旋轉,使構成該旋轉搬送流路30(示於圖4)的該等容槽330依序承接該給料設備800釋出的電子元件900。使該轉盤33將每一容槽330容置的該電子元件900依序移送通過該等檢測器35,藉以將被移送通過之每一電子元件900識別為良品與不良品。然後,將檢測後的每一電子元件900依序輸送至該旋轉搬送流路30的該出料位置302。
接著,使該第一吹氣單元36將位於該出料位置302的該容槽330內的該電子元件900吹離,將該電子元件900吹入該輸出槽道321而進入該排列搬送流路510,並使該第二吹氣單元37對該排列搬送流路510吹氣,接續將該電子元件900往該承載搬送機構6方向推移。於此同時,使該感測計數器38感測並計數移出該輸出槽道321的電子元件900數量。
實施時,可使該等檢測器35與該感測計數器38分別將檢測結果與感測計數結果輸送至一個後端監控系統(圖未示),使該後端監控系統可根據該等電子元件900檢測結果與電子元件900數量資料,對應管控的該檢測裝置3與該電子元件搬送裝置4的後續動作。
當已排空的該排列搬送流路510進入第一個電子元件900時,使該第一止擋單元53與該第二止擋單元54對該排列搬送流路510施加負壓吸力形式的非接觸式止擋作用,將位移至該輸送槽體51之該第二端部513的該電子元件900吸住而止擋定位,藉以將後續進入該排列搬送流路510的其它電子元件900擋阻排列於該電子元件900後方。
當該排列搬送流路510中排列累積預定數量的電子元件900時,使該龍門單元71傳動該撥推件721沿該X軸向懸空位移至該輸送槽體51的該第一端部512,並往下***該排列搬送流路510,再傳動該撥推件721沿該X軸向往該載盤63方向位移,將該排列搬送流路510中的該等電子元件900推移至該載盤63的一個承載搬送流路631的預定位置。然後,使該龍門單元71傳動該撥推件721往上移離該承載搬送流路631,並後移靠向該輸送槽體51,等待下一次再被控制作動。
當該載盤63目前用以對準該排列搬送流路510的該承載搬送流路631已累積預定數量的電子元件900時,使該傳動單元64傳動該載盤63沿該Y軸向位移,使另一個承載搬送流路631對應該排列搬送流路510,以便繼續承接其它電子元件900。
必須說明的是,在本發明之另一實施態樣中,並不以該排列搬送流路510中累積預定數量的電子元件900後,才使該撥推件721將該等電子元件900進入該載盤63為限。實施時,也可根據每一電子元件900被檢測為良品或不良品的結果,選擇性控制該撥推件721推移該排列搬送流路510中的電子元件900。例如當目前該排列搬送流路510中的電子元件900為良品,而位於該旋轉搬送流路30的該出料位置302的另一個電子元件900為不良品時,可先使該撥推件721將該排列搬送流路510中的該等電子元件900先撥移進入該載排的一個承載搬送流路631,然後再驅使位於該出料位置302且為不良品的該電子元件900進入該排列搬送流路510,並使該傳動單元64傳動該載盤63位移,使一個預定用以承載不良品的電子元件900的承載搬送流路631對準該排列搬送流路510。如果接續要再進入該排列搬送流路510的另一個電子元件900被檢測識別為良品,則先並使該撥推件721將當前停留在該排列搬送流路510中且為不良品的該電子元件900推移入該承載搬送流路631,以便繼續承接被識別為良品的電子元件900。藉此設計,可以該載盤63之不同的承載搬送流路631來分別承載良品與不良品的電子元件900。
綜上所述,透過該電子元件搬送裝置4之該輸送機構5、該承載搬送機構6與該撥推機構7的結構設計,該輸送機構5可以非振動方式整列集中多個電子元件900,該撥推機構7可以一個撥推件721將該輸送機構5集中的該等電子元件900整齊撥移進入該承載搬送機構6的該載盤63,且可在該撥推件721推移電子元件900的過程中,以一個移動擋件722遮擋於該載盤63的承載搬送流路631頂側,避免被推移的電子元件900被擠推彈出該載盤63,所以可大幅將低被搬送之電子元件900的碰撞損壞率。此外,在該撥推機構7以該撥推件721整齊撥移一個置槽630中的電子元件900時,同時以一個移動擋件722擋阻在電子元件900上方的設計,可防止電子元件900在推送過程中被擠壓往上脫離置槽630。因此,本發明確實是一種相當創新且方便實用的設計,而確實能達成本發明的目的。
惟以上所述者,僅為本發明的實施例而已,當不能以此限定本發明實施的範圍,凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本發明專利涵蓋的範圍內。
200:電子元件搬送設備
3:檢測裝置
30:旋轉搬送流路
301:入料位置
302:出料位置
31:台座
32:第一環形限制片
320:圓形區間
321:輸出槽道
33:轉盤
330:容槽
34:第二環形限制片
35:檢測器
36:第一吹氣單元
361:第一吹氣孔道
37:第二吹氣單元
371:第二吹氣孔道
38:感測計數器
4:電子元件搬送裝置
5:輸送機構
51:輸送槽體
510:排列搬送流路
511:頂側開口
512:第一端
513:第二端
52:固定擋件
53:第一止擋單元
531:固定件
532:第一氣孔
533:抽氣接頭
54:第二止擋單元
541:第二氣孔
6:承載搬送機構
61:軌座
62:軌道單元
621:軌道
63:載盤
630:置槽
631:承載搬送流路
64:傳動單元
641:傳動皮帶
7:撥推機構
71:龍門單元
711:支架
712:滑軌
713:滑座
714:伸縮座模組
72:撥推單元
721:撥推件
722:移動擋件
723:彈性件
73:擺動感測單元
731:第一感測件
732:第二感測件
800:給料設備
900:電子元件
910:鐵芯
911:第一凸緣部
912:第二凸緣部
913:捲芯部
920:蓋板
930:線材
本發明的其他的特徵及功效,將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現,其中:
圖1是本發明電子元件搬送設備的一個實施例用以搬送的一個電子元件的立體圖;
圖2是該實施例的立體圖;
圖3是該實施例的一個檢測裝置的不完整的立體分解圖;
圖4是該實施例之該檢測裝置的不完整的平面分解圖;
圖5該實施例之不完整的立體圖;
圖6是該實施例的一個輸送機構的立體分解圖;
圖7是該實施例的該輸送機構沿一個X軸向觀視的視圖;
圖8是該實施例之不完整的側剖圖,示意說明一個電子元件自一個輸出槽道位移進入一個排列搬送流路的情況;
圖9是該實施例的一個不完整的側剖圖,說明一個撥推件***該排列搬送流路準備推移電子元件的情況;
圖10是類似圖9之視圖,說明該撥推件於被推動之電子元件卡料阻塞時擺離一個移動擋件的情況;
圖11是該實施例沿該X軸向觀視的不完整視圖,說明該撥推件***該排列搬送流路準備推移電子元件的情況;及
圖12是該實施例沿該X軸向觀視的不完整視圖,說明該撥推件將電子元件推移至一個承載搬送流路的情況。
5:輸送機構
51:輸送槽體
510:排列搬送流路
512:第一端
513:第二端
52:固定擋件
54:第二止擋單元
63:載盤
630:置槽
631:承載搬送流路
71:龍門單元
714:伸縮座模組
72:撥推單元
721:撥推件
722:移動擋件
723:彈性件
73:擺動感測單元
731:第一感測件
732:第二感測件
900:電子元件
Claims (16)
- 一種電子元件搬送方法,包含:使一個承載搬送機構以一個載盤上的至少一承載搬送流路承接電子元件;及使一個撥推機構以一個置入該至少一承載搬送流路的撥推件沿該至少一承載搬送流路長向位移推送電子元件,並以一個遮擋於電子元件上方的移動擋件沿該至少一承載搬送流路長向位移,將被推送的電子元件限位於該至少一承載搬送流路中。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,其中,是使該移動擋件與被推移的電子元件同步位移。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,其中,是使該移動擋件可與該撥推件同步位移。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,其中,是使該撥推件於推送電子元件時可以一個支點擺離該移動擋件。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,其中,是使該撥推件自該至少一承載搬送流路的一端移入該至少一承載搬送流路,然後往上移出該至少一承載搬送流路。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,其中,是使該移動擋件局部遮擋於被推送之電子元件上方。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,其中,該載盤設置有多個沿一個X軸向延伸且沿一個Y軸向間隔平行排列的該承載搬送流路,且該承載搬送機構會以一個傳動單元傳動該載盤沿該Y軸向位移,該撥推機構是以該撥推件沿該 X軸向位移,而對沿該X軸向對準的每一承載搬送流路中的電子元件進行推送。
- 如請求項1所述的電子元件搬送方法,還使一個檢測裝置以一個間歇旋轉的旋轉搬送流路將多個電子元件逐一朝該載盤輸送。
- 如請求項8所述的電子元件搬送方法,其中,還使一個輸送機構以一個排列搬送流路直向連通該旋轉搬送流路與該至少一承載搬送流路,並以該排列搬送流路將該旋轉搬送流路逐一輸出的電子元件輸送至該至少一承載搬送流路。
- 一種電子元件搬送方法,包含:提供一載盤,該載盤上設有置槽;提供一撥推機構,該撥推機構設有一撥推件;以該撥推件推移電子元件在該置槽中位移時,提供一與載盤分離,並可在電子元件上方位移之移動擋件,阻擋該電子元件脫離該置槽。
- 一種電子元件搬送裝置,適用於搬送電子元件,並包含:一個承載搬送機構,包括一個載盤,該載盤具有至少一個用以承接電子元件的承載搬送流路;及一個撥推機構,包括一個可被驅動而於該承載搬送流路中移動以推送電子元件的撥推件,及一個可被驅動沿該承載搬送流路位移地遮擋於被推送之電子元件上方的移動擋件。
- 如請求項11所述的電子元件搬送裝置,其中,該承載搬送 機構還包括一個軌座,及設置於該軌座的一個軌道單元與一個傳動單元,該載盤是安裝在該軌道單元並與該傳動單元連結,該傳動單元可傳動該載盤沿該軌道單元長向位移。
- 如請求項11所述的電子元件搬送裝置,其中,該撥推機構包括一個架設在該承載搬送機構上的龍門單元,及一個安裝在該龍門單元且設置有該撥推件與該移動擋件的撥推單元,該龍門單元具有一個沿該至少一承載搬送流路長向延伸的滑軌、一個安裝在該滑軌且可被驅動沿該滑軌滑移的滑座,及一個安裝在該滑座且可被驅動相對該滑座上下位移的伸縮座模組,撥推單元安裝在該伸縮座模組。
- 一種電子元件搬送設備,包含用以執行請求項1~10任一項所述之電子元件搬送方法的裝置。
- 一種電子元件搬送設備,包含:請求項11~13任一項所述的電子元件搬送裝置;及一個檢測裝置,可被控制啟動而以一個間歇旋轉的旋轉搬送流路將多個電子元件逐一朝該載盤輸送。
- 如請求項15所述的電子元件搬送設備,該電子元件搬送裝置還包括一個設置於該承載搬送機構與該檢測裝置間的輸送機構,該輸送機構具有一個用以將該旋轉搬送流路逐一輸出的電子元件輸送至對應的承載搬送流路的排列搬送流路。
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