TWI545329B - An electronic component operating device, a working method, and a working device for its application - Google Patents

Description

電子元件作業裝置、作業方法及其應用之作業設備

本發明係提供一種利用移載機構於作業區之承置座內取出正確擺置之樣本件，以反向推知移載機構將樣本件置入於承置座前的樣本影像資料，並經比對機構進行比對作業後，即可使移載機構帶動電子元件之電性接點精準對位接觸承置座之電性傳輸件，而有效執行預設作業之電子元件作業裝置。

在現今，電子元件積之尺寸日趨微小，其複數個電性接點之排列也相對密集，因此電子元件置入於作業區之承置座內的精準度要求相當高，若精準度稍有偏差，即使得電子元件無法在承置座內有效的執行作業，而降低作業的品質。

以電子元件的測試分類機為例，請參閱第1圖，係為本申請人所申請之台灣專利第96149417號『可使電子元件精準對位之移載裝置』專利案，該測試分類機之機台上係配置有供料裝置10、輸入端輸送裝置11、作業區12、輸出端輸送裝置13及收料裝置14；該輸入端輸送裝置11係將供料裝置10上待測之電子元件分別輸送至作業區12內之供料載具121，該作業區12內之第一、二收料載具122、123上完測之電子元件，則依據檢測結果，由輸出端輸送裝置13輸送至收料裝置14分類放置；請參閱第2圖，該作業區12包含測試站124、取像機構125、位於測試站124一側之第一收料載具122、位於測試站124另一側之供料載具121及第二收料載具123、第一移載器126及第二移載器127；其中，該供料載具121之上方係設有複數個底面具鏤空孔且用以承置待測電子元件之承座1211，各承座1211係配置有複數個可為伺服馬達且呈不同軸向設置之調整件1212、1213、1214，而可利用調整件1212、1213、1214驅動承座 1211作X-Y兩軸向及θ角之位移，另於供料載具121之下方設有滑軌組1215，而可於輸入端輸送裝置將待測之電子元件置入各承座1211上後，利用滑軌組1215將待測之電子元件載送至取像機構125處取像，並以各調整件1212、1213、1214驅動承座1211作X-Y兩軸向及θ角之補償校正，而精確調整待測電子元件之擺置，該第一、二收料載具122、123則供承置完測之電子元件，該第一、二收料載具122、123係以固定的方式定位於相對測試站124的相關位置，以供第一、二移載器126、127及輸出端輸送裝置進行收料作業，該平行位於供料載具121側方之取像機構125，係為CCD取像器，並設置於機台之透明台板下方，且以線路連接至中央控制裝置，於供料載具121移載電子元件至取像機構125處取像後，將取像訊號傳輸至中央控制裝置，且經由中央控制裝置之比對，而運算出其偏差量，進而命令供料載具121之各承座1211作位置或角度之補償校正，使電子元件精準正確擺置，以供第一移載器126取出並移載置入於測試站124上執行檢測作業；惟，第一移載器126在供料載具121上取出並移載電子元件的過程中，第一移載器126將會因本身結構上的誤差或組裝間隙或移動上的定位問題，使得在移動至測試站124時，可能造成電子元件微幅偏移的現象，而無法準確置入於測試站124，亦即該設計雖可使電子元件精準正確擺置於供料載具121，但在第一移載器126移載置入於測試站124的重要階段中，卻可能造成電子元件微幅偏移的現象，這種情形對於現今講求小體積微電性接點的電子元件而言，精準度稍有偏差，即可能導致無法有效的執行作業，而降低作業的品質。

因此，請參閱第3、4、5圖，係為本申請人所申請之台灣專利第101146714號『電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備』專利申請案，該作業單元20係於機台上設有移載取放裝置21、作業區22、取像裝置23、取樣比對裝置24及對位調整裝置25；該移載取放裝置21之第一移載取放器215的吸嘴2151係將電子元件26移載至作業區22之承置座222上方位置，該取樣比對裝置24之移動式取像器241係設有菱鏡組及CCD取像器，並可移動至作業區22之承置座222與第一移載取放器215間的位置，而透過菱鏡組同時對第一移 載取放器215上之電子元件26及作業區22之承置座222進行雙向的位置取像，再由CCD取像器攝取菱鏡組的影像，而獲致電子元件26及承置座222間相對位置的取像資料，最後再將該取像資料傳輸至取樣比對裝置24之控制器進行比對，若比對結果超出誤差值，則進一步由對位調整裝置25執行對位調整，完成對位調整後，再由取像裝置23之CCD取像器231取像，而獲得正確的樣本影像資料，並儲存於取樣比對裝置24之資料庫，從而於取樣比對裝置24建立樣本影像資料；當第一移載取放器215將待作業之電子元件26a移載至作業區22之承置座222的上方時，取像裝置23之CCD取像器231對第一移載取放器215上待作業之電子元件26a進行取像，並將該即時影像資料傳輸至取樣比對裝置24，該取樣比對裝置24即與資料庫中建立的樣本影像資料進行比對，若取像比對程序之比對結果超出誤差值時，第一移載取放器215上多層式調整平台之X軸向調整件252、Y軸向調整件254及角度調整件255可使電子元件26a於第一移載取放器215上進行水平位置之對位調整，完成對位調整程序後，該移載取放裝置21之Z軸向移動件2152係帶動第一移載取放器215將待作業之電子元件26a置入作業區22之承置座222內，使待作業電子元件26a的錫球電性接觸承置座222內之電性傳輸件223而執行電性測試作業；惟，該作業單元20雖於第一移載取放器215移載待作業電子元件26a至作業區22之承置座222上方位置後才進行即時影像資料的取像，亦即以對位前的最終位置進行取像，而可排除第一移載取放器215本身結構上的組裝誤差或移動定位等問題所造成的X-Y兩軸向及θ角之偏斜，但該第一移載取放器215作Z軸向位移將待作業電子元件26a移入作業區22之承置座222內的行程中，易因Z軸向移動件2152之組裝誤差或移動定位等問題，而導致待作業電子元件26a發生偏斜之情況，造成待作業電子元件26a的錫球仍無法準確對位承置座222內之電性傳輸件223，而影響測試品質之缺失；再者，該取樣比對裝置24之移動式取像器241於作水平向伸出取像時，易因本身結構上的組裝誤差或移動定位等問題，導致移動式取像器241發生偏斜擺置之情況，而無法準確取像，此易造成待作業電子元件26a的錫球無法準確對位承置座222內之電性傳輸件22 3，而影響測試品質之缺失。

本發明之目的一，係提供一種電子元件作業裝置及作業方法，該作業裝置包含作業區、樣本單元、移載機構、取像機構及比對機構；該作業區之承置座係承置該樣本單元之樣本件，該樣本件之取樣點與承置座之電性傳輸件準確對位，該移載機構之取放器係於承置座取出正確擺置之樣本件，並移載至取像機構之預設取像位置進行取像作業，該取像機構係將取像之樣本影像資料傳輸至比對機構，該移載機構之取放器係將待作業之電子元件移載至取像機構之預設取像位置進行取像作業，並將取像之實際影像資料傳輸至比對機構，該比對機構係將實際影像資料與樣本影像資料進行比對，令移載機構上之待作業電子元件進行調整校正作業；藉此，利用移載機構於作業區之承置座內取出正確擺置之樣本件，並移載至預設取像位置取像，以反向推知樣本件移入承置座前之擺放位置及角度，作為日後移載電子元件之基準，即可使電子元件之電性接點精準對位接觸承置座之電性傳輸件，而有效執行預設作業，達到提升作業品質之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件作業裝置及作業方法，該作業裝置之取像機構係以一為CCD之取像器於預設取像位置對樣本件進行取像，毋須搭配菱鏡組作雙向取像，達到節省成本之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種應用電子元件作業裝置之作業設備，該作業設備包含供料裝置、收料裝置、作業裝置、輸入端輸送裝置、輸出端輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，用以容納至少一待作業之電子元件，該收料裝置係配置於機台上，用以容納至少一已作業之電子元件，該作業裝置係配置於機台上，並設有移載機構、作業區、取像機構及比對機構，用以對電子元件執行預設作業，該輸入端輸送裝置及輸出端輸送裝置係配置於機台上，用以將供料裝置上之電子元件輸入作業裝置，以及自作業裝置輸出電子元件至收料裝置，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧供料裝置

11‧‧‧輸入端輸送裝置

12‧‧‧作業區

121‧‧‧供料載具

1211‧‧‧承座

1212‧‧‧調整件

1213‧‧‧調整件

1214‧‧‧調整件

1215‧‧‧滑軌組

122‧‧‧第一收料載具

123‧‧‧第二收料載具

124‧‧‧測試站

125‧‧‧取像機構

126‧‧‧第一移載器

127‧‧‧第二移載器

13‧‧‧輸出端輸送裝置

14‧‧‧收料裝置

20‧‧‧作業單元

21‧‧‧移載取放裝置

215‧‧‧第一移載取放器

2151‧‧‧吸嘴

2152‧‧‧Z軸向移動件

22‧‧‧作業區

222‧‧‧承置座

223‧‧‧電性傳輸件

23‧‧‧取像裝置

231‧‧‧CCD取像器

24‧‧‧取樣比對裝置

241‧‧‧移動式取像器

25‧‧‧對位調整裝置

252‧‧‧X軸向調整件

254‧‧‧Y軸向調整件

255‧‧‧角度調整件

26、26a‧‧‧電子元件

〔本發明〕

30‧‧‧作業裝置

31‧‧‧作業區

311‧‧‧測試電路板

312‧‧‧承置座

3121‧‧‧電性傳輸件

32‧‧‧樣本單元

321‧‧‧樣本件

3211‧‧‧取樣點

322‧‧‧定位件

33‧‧‧移載機構

331‧‧‧第一供料載台

3311‧‧‧第一供料承座

332‧‧‧第一收料載台

3321‧‧‧第一收料承座

333‧‧‧第一驅動源

3331‧‧‧Z軸向作動件

334‧‧‧第一取放器

3341‧‧‧吸嘴

335‧‧‧第二供料載台

336‧‧‧第二取放器

337‧‧‧第二收料載台

34‧‧‧取像機構

341‧‧‧第一取像器

342‧‧‧第二取像器

343‧‧‧第三取像器

35‧‧‧比對機構

351‧‧‧資料庫

352‧‧‧控制器

36‧‧‧調整機構

361‧‧‧固定座

362‧‧‧X軸向調整件

363‧‧‧第一滑動座

364‧‧‧Y軸向調整件

365‧‧‧角度調整件

366‧‧‧第二滑動座

37‧‧‧電子元件

40‧‧‧機台

50‧‧‧供料裝置

51‧‧‧供料承置器

60‧‧‧收料裝置

61‧‧‧收料承置器

70‧‧‧輸入端輸送裝置

71‧‧‧輸入端移料器

80‧‧‧輸出端輸送裝置

81‧‧‧輸出端移料器

第1圖：習知台灣第96149417號專利案於測試分類機之配置示意圖。

第2圖：習知台灣第96149417號專利案作業區之配置示意圖。

第3圖：習知台灣第101146714號專利申請案之作業單元示意圖。

第4圖：習知台灣第101146714號專利申請案之使用示意圖(一)。

第5圖：習知台灣第101146714號專利申請案之使用示意圖(二)。

第6圖：本發明作業裝置之各機構配置示意圖。

第7圖：本發明作業裝置之局部示意圖。

第8圖：本發明作業裝置之使用示意圖(一)。

第9圖：本發明作業裝置之使用示意圖(二)。

第10圖：本發明作業裝置之使用示意圖(三)。

第11圖：本發明作業裝置之使用示意圖(四)。

第12圖：本發明作業裝置之使用示意圖(五)。

第13圖：本發明作業裝置之使用示意圖(六)。

第14圖：本發明作業裝置之使用示意圖(七)。

第15圖：本發明作業裝置應用於測試分類機之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第6、7圖，本發明之作業裝置30包含作業區31、樣本單元32、移載機構33、取像機構34及比對機構35；該作業區31係設有至少一作業器，供置入待作業之電子元件，以對該電子元件執行預設作業，該預設作業可為印刷、模壓、外觀檢測或電性測試等，於本實施例中，該作業區31係執行電性測試作業，該作業器係設有測試電路板311，以及於測試電路板311上設有供電子元件對位置放之承置座312，該承置座312內並設有複數個連接至測試電路板311之電性傳輸件3121，電性傳輸件3121係與電子元件之電性接點相接觸而可執行電性測試作業；該樣本單元32係設有至少一樣本件321，並移入或移出作業區31之作業器，該樣本件321可為樣本治具或電子元件，並依據日後實際作業之電子元件的電性接點位置，而於樣本件321之相同位置精準設有取樣點3211，該取樣點3211可為記號點或 接腳或錫球等，於本實施例中，該樣本件321之取樣點3211係為記號點，並令取樣點3211之上方位置呈透明狀，以便由樣本件321之上方觀看或取像該取樣點3211，更進一步，為使樣本件321之取樣點3211準確對位承置座312之電性傳輸件3121，係於承置座312處裝配有至少一定位件322，該定位件322之內徑尺寸係配合樣本件321之外徑尺寸，當定位件322裝配在承置座312上時，係用以定位該樣本件321，使樣本件321之取樣點3211準確對位承置座312之電性傳輸件3121，於取樣作業完畢後，則可由承置座312上卸除定位件322；該移載機構33係設有至少一取放器，用以將作業區31內之樣本件321取出移載至取像機構34之預設取像位置，以及將待作業之電子元件移載至作業區32與取像機構34之預設取像位置，於本實施例中，該移載機構33係於作業區31之一側設有第一供料載台331及第一收料載台332，該第一供料載台331係設有至少一第一供料承座3311，以於供料位置承置待作業之電子元件，並移動至對應作業區31的側方，該第一收料載台332上係設有至少一第一收料承座3321，於對應作業區31的側方承置已作業之電子元件，並移動至收料位置，另該移載機構33係設有第一驅動源333，第一驅動源333係以Z軸向作動件3331裝配第一取放器334，並帶動第一取放器334作Y-Z軸向位移，使第一取放器334可於作業區31之承置座312內取出正確擺置的樣本件321，並移載至取像機構34之預設取像位置，又該第一取放器334係可移動至第一供料載台331，將第一供料載台331上之待作業電子元件移載至作業區31及取像機構34之預設取像位置，亦或將作業區31之已作業電子元件移載至第一收料載台332上；該取像機構34係設有至少一第一取像器341，用以對第一取放器334上之樣本件321或電子元件取像，並將取像資料傳輸至比對機構35，於本實施例中，該第一取像器341係為CCD，並對位於預設取像位置之樣本件321執行取像作業，並將樣本影像資料傳輸至比對機構35，亦或對位於預設取像位置之電子元件執行取像作業，並將該實際影像資料傳輸至比對機構35，更一步，可利用人工目視或取像作業，檢知樣本件321之取樣點3211是否準確對位於承置座312之 電性傳輸件3121，若以取像作業檢知樣本件321時，可於取像機構34設有第二取像器(圖未示出)，以取像承置座312內之樣本件321，並將取像之對位影像資料傳輸至比對機構35，該第二取像器可獨立配置於機台上，亦或裝配於其他機構上，以於樣本件321置入承置座312內時，對樣本件321進行取像作業；該比對機構35係設有儲存樣本影像資料之資料庫351及執行比對之控制器352，而可將實際影像資料與樣本影像資料進行比對作業，更進一步，該控制器352可依據該對位影像資料，以判別樣本件321之取樣點3211是否準確對位承置座312之電性傳輸件3121；另為了使第一取放器334可以準確將電子元件置放於承置座312內，並使電子元件之電性接點可以精準接觸承置座312之電性傳輸件3121，該作業裝置30係設有調整機構36，當比對機構35之控制器352將實際影像資料與樣本影像資料進行比對，如超出誤差範圍時，則以調整機構36進行對位調整，該調整機構36係於第一取放器334上架置多層式的調整平台，該調整平台上方為固定座361，固定座361下方架設有一可由X軸向調整件362驅動作X軸向滑移之第一滑動座363，第一滑動座363下方再架設有一可由Y軸向調整件364驅動作Y軸向滑移及可由角度調整件365驅動作角度調整之第二滑動座366，第一取放器334取放電子元件之吸嘴3341則固定於第二滑動座366下方；由於多層式的調整平台已為習知的技術，因此其動作不再贅述，進而使得電子元件可於第一取放器334上進行調整作業；經由比對機構35進行比對，如未超出誤差範圍或超出誤差範圍而完成調整後之電子元件，則由第一取放器334移入承置座312，進而使電子元件之電性接點可以精準接觸承置座312之電性傳輸件3121。

請參閱第8、9圖，本發明於執行作業前，係先進行樣本移入承置座程序，係將樣本單元32之樣本件321正確對位移入於作業區31之承置座312，於本實施例中，可以手動或取放器將樣本件321置入於定位件322，而利用定位件322使樣本件321正確擺置於承置座312內，使樣本件321之取樣點3211準確對位承置座312之電性傳輸件3121，更進一步，可利用取像機構34之一第二取像器 342對承置座312內之樣本件321進行取像動作，並將取像之對位影像資料傳輸至比對機構35，該比對機構35之控制器352依據該對位影像資料，以判別樣本件321之取樣點3211是否準確對位承置座312之電性傳輸件3121，若有準確對位，該移載機構33之第一取放器334係於承置座312內取出樣本件321，並移載至該取像機構34之預設取像位置，若無準確對位，則以手動或取放器調整樣本件321之擺放位置，以使樣本件321之取樣點3211準確對位承置座312之電性傳輸件3121；經由比對機構35判別樣本件321準確置入於承置座312後，該調整機構36係將X軸向調整件362、Y軸向調整件364及角度調整件365調整至預設之X-Y軸向位置及角度，於本實施例中，係進行將X軸向調整件362、Y軸向調整件364及角度調整件365調整歸零動作，於完成歸零動作後；接著執行樣本移出承置座程序，其移載機構33之取放器係於該作業區31之承置座312內取出正確擺置之樣本件321，並移載至預設取像位置，於本實施例中，該移載機構33之第一驅動源333係以Z軸向作動件3331帶動第一取放器334作Z軸向位移，使第一取放器334之吸嘴3341於承置座312內取出樣本件321，並將樣本件321移載至取像機構34之第一取像器341上方的預設取像位置，此時，該調整機構36之X軸向調整件362、Y軸向調整件364及角度調整件365仍保持歸零；樣本影像資料建構程序：該取像機構之取像器係對該預設取像位置處之樣本件取像，並將取像之樣本影像資料傳輸至該比對機構之資料庫，於該資料庫中建立樣本影像資料；於本實施例中，該取像機構34之第一取像器341即對位於預設取像位置之樣本件321執行取像作業，並將取像之樣本影像資料傳輸至比對機構35，以進一步儲存於比對機構35之資料庫351，從而於資料庫351中建立樣本影像資料，由於該移載機構33之第一取放器334係於承置座312內取出正確擺置之樣本件321，並將樣本件321移載至預設取像位置，換言之，當移載機構33之第一取放器334由預設取像位置處將樣本件321移載至承置座312內，即可使樣本件321正確擺置於承置座312內，因此，利用移載機構33於作業區31之承置座312內取出正確擺置之樣本件321，再由取像機 構34取像樣本件321，而可反向獲得移載機構33將樣本件321移入作業區31之承置座312前的樣本影像資料，以作為日後移載電子元件之擺放位置及角度的基準。

請參閱第10、11圖，由於取像機構34已完成取像樣本件之作業，即可於作業區31之承置座312卸除該樣本單元之定位件及樣本件，以便後續正式執行電子元件測試作業；於執行測試作業時，為了使待作業之電子元件37可以精準對位放置於作業區31之承置座312內，係先進行電子元件取像程序，其係由移載機構33之取放器將待作業之電子元件移載至取像機構34之預設取像位置，該取像機構34之取像器即對待作業之電子元件37執行取像作業，並將取像之實際影像資料傳輸至比對機構35，於本實施例中，該移載機構33係以第一供料載台331之第一供料承座3311承置待作業之電子元件37，並載送至取像機構34之側方，移載機構33之第一驅動源333係帶動第一取放器334作Y軸向位移至第一供料載台331之上方，並以Z軸向作動件3331帶動第一取放器334作Z軸向向下位移，使第一取放器334之吸嘴3341於第一供料載台331之第一供料承座3311上取出待作業之電子元件37，該Z軸向作動件3331再帶動第一取放器334反向位移復位，該移載機構33之第一驅動源333係帶動第一取放器334作Y軸向位移，將待作業之電子元件37移載至取像機構34之預設取像位置，該取像機構34之第一取像器341係對待作業之電子元件37的電性接點進行取像作業，再將取像之實際影像資料傳輸至比對機構35；由於待作業電子元件37與樣本件均於相同之預設取像位置進行取像作業，接著進行比對程序，該比對機構35係對該實際影像資料與該資料庫351中的樣本影像資料進行比對，於本實施例中，由於資料庫351已建立有樣本影像資料，該比對機構35之控制器352係將實際影像資料與資料庫351中建立的樣本影像資料進行比對，如果比對結果在誤差值內，即可進行下一作業程序，若比對結果超出誤差值，則進一步執行對位調整程序。

請參閱第12圖，當比對結果超出誤差值，該對位調整程序 係該調整機構36之X軸向調整件362、Y軸向調整件364及角度調整件365作X-Y軸向及角度之補償校正，使待作業之電子元件37於第一取放器334上進行對位調整程序，令待作業電子元件37之X-Y軸向位置及角度相同於取樣件之X-Y軸向位置及角度，以完成待作業之電子元件37之對位調整程序。

請參閱第13圖，完成比對程序後，若比對結果在誤差值內或超出誤差值但完成對位調整程序，則接著進行置料執行作業程序，其係由移載機構33之取放器由預設取像位置將待作業電子元件37移載置入於作業區31之承置座312而執行預設作業，於本實施例中，由於移載機構33之第一取放器334係於預設取像位置將該樣本件移入作業區31之承置座312，該移載機構33之第一取放器334亦相同於預設取像位置將待作業電子元件37移入作業區31之承置座312，使待作業電子元件37相同於樣本件而可正確擺置於承置座312，使得待作業之電子元件37的電性接點可準確接觸承置座312內之電性傳輸件3121，以有效的執行電性測試作業，並獲致正確的測試結果。

請參閱第14圖，作業區31完成電子元件37的電性測試作業後，接著進行出料程序，其係由移載機構33將完成作業之電子元件37移出作業區31，於本實施例中，移載機構33之第一驅動源333係帶動第一取放器334將已作業之電子元件37移出作業區31之承置座312，並將已作業之電子元件37移載放置於第一收料載台332之第一收料承座3321上，第一收料載台332再將已作業之電子元件37移載至收料位置。

請參閱第15圖，本發明之作業裝置30應用於作業設備時，以測試分類機為例，其係於機台40上設有供料裝置50、收料裝置60、作業裝置30、輸入端輸送裝置70及輸出端輸送裝置80；該供料裝置50係設有至少一供料承置器51，用以容納至少一待作業之電子元件；該收料裝置60係設有至少一收料承置器61，用以容納至少一已作業之電子元件；該輸入端輸送裝置70係設有至少一輸入端移料器71，用以將供料裝置50上待作業之電子元件分別輸送至作業裝置30之 第一供料載台331及第二供料載台335，第一供料載台331及第二供料載台335係將待作業之電子元件分別載送至作業裝置30之取像機構34的第一取像器341及第三取像器343側方，作業裝置30之移載機構33係以第一取放器334及第二取放器336分別於第一供料載台331及第二供料載台335取出待作業之電子元件，並移載至取像機構34的第一取像器341及第三取像器343取像，再移載至作業裝置30之作業區31執行測試作業，於完成測試作業後，移載機構33之第一取放器334及第二取放器336分別已作業之電子元件移載至第一收料載台332及第二收料載台337，第一收料載台332及第二收料載台337係將已作業之電子元件載出作業裝置30，輸出端輸送裝置80係設有至少一輸出端移料器81，用以於第一收料載台332及第二收料載台337取出已作業之電子元件，並依據測試結果，將已作業之電子元件輸送至收料裝置60分類放置，中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

31‧‧‧作業區

311‧‧‧測試電路板

312‧‧‧承置座

3121‧‧‧電性傳輸件

32‧‧‧樣本單元

321‧‧‧樣本件

3211‧‧‧取樣點

322‧‧‧定位件

33‧‧‧移載機構

331‧‧‧第一供料載台

3311‧‧‧第一供料承座

332‧‧‧第一收料載台

3321‧‧‧第一收料承座

333‧‧‧第一驅動源

3331‧‧‧Z軸向作動件

334‧‧‧第一取放器

3341‧‧‧吸嘴

34‧‧‧取像機構

341‧‧‧第一取像器

35‧‧‧比對機構

351‧‧‧資料庫

352‧‧‧控制器

36‧‧‧調整機構

361‧‧‧固定座

362‧‧‧X軸向調整件

363‧‧‧第一滑動座

364‧‧‧Y軸向調整件

365‧‧‧角度調整件

366‧‧‧第二滑動座

Claims (10)

1. 一種電子元件作業裝置，包含：作業區：係設有至少一承置座，以對待作業之電子元件執行預設的作業；樣本單元：係設有至少一樣本件，該樣本件係對位置入於該作業區之承置座；移載機構：係設有至少一取放器，以將該作業區之承置座內的樣本件移載至預設取像位置，以及將該待作業電子元件移載至該預設取像位置及該作業區之承置座；取像機構：係設有至少一取像器，以對該移載機構之取放器移載至該預設取像位置的該樣本件或該待作業電子元件取像，以獲得該樣本件之樣本影像資料或該待作業電子元件之實際影像資料；比對機構：係設有資料庫及控制器，該資料庫係儲存該樣本影像資料，該控制器係將該樣本影像資料與該取像機構傳輸之實際影像資料進行比對。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業裝置，其中，該樣本單元係設有至少一定位件，以使該樣本件正確對位置入於該作業區之承置座。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業裝置，其中，該取像機構係設有第一取像器及第二取像器，該第一取像器係對預設取像位置處之該樣本件及該電子元件取像，並將取像之樣本影像資料傳輸至該比對機構，該第二取像器係對該作業區之承置座內的該樣本件取像，並將取像之對位影像資料傳輸至該比對機構。
4. 依申請專利範圍第1或2項所述之電子元件作業裝置，其中，該作業區係設有具承置座之測試電路板，該承置座係供置入該樣本件或該具電性接點之電子元件，並設有至少一連接至該測試電路板之電性傳輸件，該樣本單元之樣本件係於相對應該待作業電子元件之電性接點位置設有取樣點。
5. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業裝置，更包含設有調整機構，於該比對機構將該電子元件之實際影像資料與該資料庫之樣本影像資料進行比對而有誤差時，對該電子元件可進行對位調整。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件作業裝置，其中，該調整機構係於該移載機構之取放器上架置多層式的調整平台，該調整平台上方為固定座，該固定座下方架設有一可由X軸向調整件驅動作X軸向滑移之第一滑動座，該第一滑動座下方再架設有一可由Y軸向調整件驅動作Y軸向滑移及可由角度調整件驅動作角度調整之第二滑動座，該取放器取放電子元件之吸嘴則固定於該第二滑動座下方，而直接於該取放器上對該電子元件進行對位調整。
7. 一種依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業裝置的作業方法，包含有：樣本移入承置座程序：係將該樣本單元之樣本件正確對位移入於該作業區之承置座；樣本移出承置座程序：該移載機構之取放器係於該作業區之承置座內取出正確擺置之該樣本件，並移載至預設取像位置；樣本影像資料建構程序：該取像機構之取像器係對該預設取像位置處之樣本件取像，並將取像之樣本影像資料傳輸至該比對機構之資料庫，於該資料庫中建立樣本影像資料；電子元件取像程序：該移載機構之取放器係將待作業之電子元件移載至預設取像位置，該取像機構之取像器係對待作業之電子元件取像，並將取像之實際影像資料傳輸至該比對機構；比對程序：該比對機構係對該實際影像資料與該資料庫中的樣本影像資料進行比對；置料執行作業程序：完成該比對程序後，該移載機構之取放器由預設取像位置將該待作業之電子元件移入該作業區之承置座內執行預設作業。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件作業方法，其中，該樣本移入承置座程序係該樣本機構利用定位件使該樣本件對位移入於該承置座，該取像機構係以至少一第二取像器取像該承置座內之樣本件，並將 取像之對位影像資料傳輸至該比對機構，由該比對機構判別該樣本件是否準確置放於該承置座，於完成該樣本影像資料建構程序後，係將該樣本機構卸除。
9. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件作業方法，其中，該比對程序若比對結果超出誤差值，則進一步執行對位調整程序，完成該調整程序後，再進行該置料執行作業程序。
10. 一種應用電子元件作業裝置之作業設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一供料承置器，用以承置待作業之電子元件；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一收料承置器，用以承置已作業之電子元件；至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業裝置；輸入端輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一輸入端移料器，以將該供料裝置上之待作業電子元件移載至該作業裝置；輸出端輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一輸出端移料器，以將該作業裝置上之已作業電子元件依據作業結果分類放置於該收料裝置；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。