TW201423120A - 電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備 - Google Patents

Abstract

一種電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備，該作業單元係於機台上設有至少一移載取放裝置、至少一作業區、至少一取像裝置及取樣比對裝置；該移載取放裝置係可移動而將待執行作業之電子元件移載至作業區位置，該作業區係設有供電子元件對位置放之承置座，以對電子元件執行預設的作業，該取像裝置係於移載取放裝置移動的路徑中或移動對應於作業區之承置座上方位置時，對該移載取放裝置上之電子元件取像，並將取像所得之即時影像資料傳輸至取樣比對裝置，而由取樣比對裝置將該即時影像資料與儲存於資料庫之樣本影像資料進行比對，並進一步執行對位調整作業；藉此，利用取像裝置於承置座上方位置取得電子元件的即時影像資料，並經由取樣比對裝置的比對，於執行對位調整作業後，即可使移載取放裝置上之電子元件精準對位放置於作業區之承置座內，進而達到有效執行作業之實用效益。

Description

電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備

本發明尤指其提供一種可使移載取放裝置上之電子元件精準對位放置於作業區之承置座內，進而有效執行作業之電子元件作業單元、作業方法及其應用之作業設備。

現今電子元件正積極朝向小巧輕薄的小體積微接點發展，因此小體積微接點的電子元件置入於作業區之承置件內之精準度要求相當高，若精準度稍有偏差，即使得電子元件無法在承置件內有效的執行作業，而降低作業的品質。

以電子元件的測試分類機為例，請參閱第1圖，其係為本申請人所申請之台灣專利申請第96149417號『可使電子元件精準對位之移載裝置』專利案，該測試分類機之機台上係包括有供料裝置10、輸入端輸送裝置11、作業區12、輸出端輸送裝置13及收料裝置14；輸入端輸送裝置11係將供料裝置10上待測之電子元件分別輸送至作業區12內之供料載具121，作業區12內之第一、第二收料載具122、123上完測之電子元件，則依據檢測結果由輸出端輸送裝置13輸送至收料裝置14分類放置。請參閱第2圖，作業區12包括有測試站124、取像機構125、位於測試站124一側之第一收料載具122、位於測試站124另側之供料載具121及第二收料載具123、第一移載取放器126及第二移載取放器127；其中，該供料載具121之上方係設有複數個底面具鏤空孔且用以承置待測電子元件之承座1211，各承座1211係配置有複數個可為伺服馬達且呈不同軸向設置之調整件1212、1213、1214，而可利用調整件1212、1213、1214驅動承座1211作X-Y兩軸向及θ角之位移，而供料載具121之下方則設有滑軌組1215，而可於作業區12之供料處供輸入端輸送裝置將待測電子元件置入於各承座1211上後，利用滑軌組1215將待測電子元件移載至取像機構125處取像， 並以各調整件1212、1213、1214驅動承座1211作X-Y兩軸向及θ角之補償校正，而可精確調整待測電子元件之擺置，另該第一、二收料載具122、123則供承置完測之電子元件，該第一、二收料載具122、123係以固定的方式定位於相對測試站124的相關位置，以供第一、二移載取放器126、127及輸出端輸送裝置進行收料作業，該平行位於供料載具121側方之取像機構125，係為CCD取像器，並設置於機台之透明台板下方，且以線路連接訊號至中央控制器，於供料載具121移載電子元件至取像機構125處取像後，將取像訊號傳輸至中央控制器，且經由中央控制器之比對，而運算出其偏差量，進而命令供料載具121之各承座1211作位置或角度之補償校正，使電子元件精準正確擺置，以供第一移載取放器126取出並移載置入於測試站124上執行檢測作業。

該設計雖然於機台之透明台板下方設有為CCD取像器之取像機構125，以供供料載具121移載電子元件至該處取像，並令供料載具121之各承座1211作位置或角度之補償校正，使電子元件精準正確擺置，供第一移載取放器126取出並移載置入於測試站124上執行檢測作業；惟，第一移載取放器126在供料載具121上取出並移載電子元件的過程中，第一移載取放器126將會因本身結構上的誤差或組裝間隙或移動上的定位問題，使得在移動至測試站124時，可能造成電子元件微幅偏移的現象，而無法準確置入於測試站124，亦即該設計可使電子元件精準正確擺置於供料載具121，但在第一移載取放器126移載置入於測試站124的重要階段中，卻可能造成電子元件微幅偏移的現象，這種情形對於現今講求小體積微接點的電子元件而言，精準度稍有偏差，即可能導致無法有效的執行作業，而降低作業的品質。

有鑑於此，本發明人為因應小體積電子元件的發展趨勢，係研創出一種可精準將電子元件置入作業區執行作業而提升品質之作業單元，此即為本發明之設計宗旨。

本發明之目的一，係提供一種電子元件作業單元及作業方法，該作業單元係於機台上設有至少一移載取放裝置、至少一作業區、至少一取像裝置及取樣比對裝置；該移載取放裝置係可移動而將待執行作業之電子元件移載至作業區位置，該作業區係設有供電子元件對位置放之承置座，以對電子元件執行預設的作業，該取像裝置係於移載取放裝置移動的路徑中或移動對應於作業區之承置座上方位置時，對該移載取放裝置上之電子元件取像，並將取像所得之即時影像資料傳輸至取樣比對裝置，而由取樣比對裝置將該即時影像資料與儲存於資料庫之樣本影像資料進行比對，並進一步執行對位調整作業；藉此，利用移載取放裝置移動對應於作業區之承置座時，再由取像裝置進行取像，即可大幅排除移載取放裝置本身結構上的誤差或組裝間隙或移動定位等問題所造成的偏移誤差，進而獲致正確的即時影像資料，並經由取樣比對裝置的比對，於執行對位調整作業後，即可使移載取放裝置上之電子元件精準對位放置於作業區之承置座內，進而達到有效執行作業之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件作業單元應用之作業設備，該作業設備包含有供料裝置、收料裝置、作業單元、輸入端輸送裝置、輸出端輸送裝置及中央控制單元，供料裝置係配置於機台上，用以容納至少一待執行作業之電子元件，收料裝置係配置於機台上，用以容納至少一完成作業之電子元件，作業單元係配置於機台上，並設有至少一移載取放裝置、至少一作業區及至少一對位檢查裝置，用以對電子元件執行預設的作業，輸入端輸送裝置及輸出端輸送裝置係配置於機台上，用以將供料裝置上之電子元件輸入作業單元及自作業單元輸出電子元件至收料裝置，中央控制單元係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳 實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第3、4圖，本發明之作業單元20係於機台上設有至少一移載取放裝置21、至少一作業區22、至少一取像裝置23及取樣比對裝置24；該移載取放裝置21係可移動而將待執行作業之電子元件移載至作業區22位置，於本實施例中，該移載取放裝置21係包括有位於作業區22第一側之第一供料載台211及第一收料載台212、位於作業區22第二側之第二供料載台213及第二收料載台214、移動於作業區22與第一供料載台211及第一收料載台212間之第一移載取放器215以及移動於作業區22與第二供料載台213及第二收料載台214間之第二移載取放器216；位於作業區22第一側之第一供料載台211上係具有至少一第一供料承座2111，以於供料位置承置待執行作業之電子元件，並可移動至對應作業區22的側方位置，第一收料載台212上係具有至少一第一收料承座2121，並可移動至對應作業區22的側方位置，以承置完成作業之電子元件並移動至收料位置，位於作業區22第二側之第二供料載台213上係具有至少一第二供料承座2131，以於供料位置承置待執行作業之電子元件，並可移動至對應作業區22的側方位置，第二收料載台214上係具有至少一第二收料承座2141，並可移動至對應作業區22的側方位置，以承置完成作業之電子元件並移動至收料位置，第一移載取放器215係可移動至第一側之第一供料載台211位置，以將第一供料載台211上待執行作業之電子元件移載至作業區22位置，或將作業區22完成作業之電子元件移載至第一收料載台212上，第二移載取放器216係可移動至第二側之第二供料載台213位置，以將第二供料載台213上待執行作業之電子元件移載至作業區22位置，或將作業區22完成作業之電子元件移載至第二收料載台214上；至少一作業區22，作業區22係可供置入待執行作業之電子元件，以對該電子元件執行預設的作業，該預設的作業可以為印刷、模壓、外觀檢測或電性測試等， 於本實施例中該作業區22係執行電性測試作業，而於作業區22內設有測試電路板221，以及於測試電路板221上設有供電子元件對位置放之承置座222，由於本實施例為執行電性測試作業，承置座222內並設有複數個連接至電路板221之電性接點223，以供電子元件之接腳或錫球電性接觸該電性接點223；為了使第一移載取放器215或第二移載取放器216可以準確的將電子元件置放於承置座222內，並使電子元件之接腳或錫球可以精準的電性接觸承置座222內之電性接點223，本發明係設有取像裝置23、取樣比對裝置24及對位調整裝置25，該取像裝置23係為CCD取像器231，並可在第一移載取放器215或第二移載取放器216移動的路徑中，對該第一移載取放器215或第二移載取放器216上之電子元件取像，並將取像所得之即時影像資料傳輸至取樣比對裝置24；請參閱第5圖，或者取像裝置23亦可於第一移載取放器215或第二移載取放器216移動對應於作業區22之承置座222上方位置時，對該第一移載取放器215或第二移載取放器216上之電子元件取像，並將取像所得之即時影像資料傳輸至取樣比對裝置24；請參閱第3、5圖，該取樣比對裝置24係設有儲存樣本影像資料之資料庫(圖式未示)及執行比對之控制器(圖式未示)，而可將即時影像資料與樣本影像資料進行比對，如超出誤差範圍時，則以對位調整裝置25進行對位調整；於本實施例中，該對位調整裝置25係於第一移載取放器215或第二移載取放器216上架置多層式的調整平台，以第一移載取放器215為例，該調整平台上方為固定座251，固定座251下方架設有一可由X軸向調整件252驅動作X軸向滑移之第一滑動座253，第一滑動座253下方再架設有一可由Y軸向調整件254驅動作Y軸向滑移及可由角度調整件255驅動作角度調整之第二滑動座256，第一移載取放器215取放電子元件之吸嘴2151則固定於第二滑動座256下方；由於多層式的調整平台已為習知的技術，因此其動作不再贅述，進而使得電子元 件可於第一移載取放器215或第二移載取放器216上進行對位調整；經由取樣比對裝置24進行比對，如未超出誤差範圍或超出誤差範圍而完成對位調整後之電子元件，則再由第一移載取放器215或第二移載取放器216直接下降移入承置座222，進而使電子元件之接腳或錫球可以精準的電性接觸承置座222內之電性接點223。

請參閱第6圖，為了建立取樣比對裝置24之樣本影像資料，於本實施例中，該取樣比對裝置24更包含設有移動式取像器241，該移動式取像器241係為菱鏡組及CCD取像器，並可移動至作業區22之承置座222與第一移載取放器215或與第二移載取放器216間的位置，移動式取像器241由於裝設有菱鏡組，因此可透過菱鏡組同時對第一移載取放器215或第二移載取放器216上之電子元件及作業區22之承置座222進行雙向的位置取像，再由CCD取像器攝取菱鏡組的影像，而獲致電子元件及承置座222間相對位置的取像資料，最後再將該取像資料傳輸至控制器進行比對，若比對結果超出誤差值，則進一步由對位調整裝置25執行對位調整，完成對位調整後再由取像裝置23之CCD取像器231取像，而獲得正確的樣本影像資料，並進一步儲存於資料庫，從而於資料庫中建立樣本影像資料。

請參閱第7圖，本發明於執行作業前，係先進行建立樣本影像資料程序，其係由第一移載取放器215移載電子元件26至作業區22之承置座222的上方位置，取樣比對裝置24之移動式取像器241並移動至作業區22之承置座222與第一移載取放器215上之電子元件26間的位置，而由移動式取像器241進行雙向的位置取像，並將該取像資料傳輸至取樣比對裝置24之控制器進行比對，若比對結果超出誤差值，則進一步由對位調整裝置25執行對位調整程序，如無超出誤差值或完成對位調整程序後，再由取像裝置23之CCD取像器231取像，於本實施例中，該CCD取像器231係對電子元件26的接腳或錫 球進行取像，並進一步儲存於資料庫，從而於資料庫中建立樣本影像資料。

請參閱第8圖，本發明於執行作業時係先進行移入料程序，其係由移載取放裝置21將待執行作業之電子元件移載至對應作業區22位置，於本實施例中，移載取放裝置21之第一供料載台211係將第一供料承座2111內待執行作業之電子元件26a移載至對應作業區22的側方位置，第一移載取放器215並移動至第一供料載台211上方位置，以吸取待執行作業之電子元件26a。請參閱第9圖，接著第一移載取放器215移載待執行作業之電子元件26a，第一移載取放器215係可於移動的路徑中移動至如第4圖所示位置，於本實施例中，第一移載取放器215係移動至對應於作業區22之承置座222的上方位置。

請參閱第10圖，本發明為了使待執行作業之電子元件26a可以精準對位放置於作業區22之承置座222內，接著進行取像比對程序，其係由取像裝置23之CCD取像器231對第一移載取放器215上待執行作業之電子元件26a進行取像，於本實施例中，該CCD取像器231係對待執行作業之電子元件26a的接腳或錫球進行即時影像資料的取像，再將該即時影像資料傳輸至取樣比對裝置24，該取樣比對裝置24即與資料庫中建立的樣本影像資料進行比對，如果比對結果在誤差值內，即可進行下一作業程序，若比對結果超出誤差值，則進一步執行對位調整程序，本實施例中，由於係在第一移載取放器215移載待執行作業之電子元件26a至對應於作業區22之承置座222的上方位置後才進行即時影像資料的取像，亦即以對位前的最終位置進行取像，而可以排除第一移載取放器215本身結構上的誤差或組裝間隙或移動定位等問題所造成的偏移誤差，進而獲致正確的即時影像資料。在完成取像比對程序後，若取像比對程序之比對結果超出誤差值時，則需進一步執行對位調整程序，於本實施例中，對位調整程序係由第一移載取放器215上多層式的 調整平台之X軸向調整件252、Y軸向調整件254及角度調整件255，使電子元件26a可於第一移載取放器215上進行對位調整程序。

請參閱第11、12圖，完成取像比對程序後，若比對結果在誤差值內或超出誤差值但完成對位調整程序，則接著進行置料執行作業程序，其係使第一移載取放器215下降，將待執行作業之電子元件26a置入作業區22之承置座222內執行作業，本實施例中，由於在第一移載取放器215將待執行作業之電子元件26a移載至承置座222上方後，先以取像裝置23及取樣比對裝置24進行即時影像資料的取像比對程序，而可有效改善第一移載取放器215因本身結構上的誤差或組裝間隙或移動定位等問題所造成的偏移誤差，使得待執行作業之電子元件26a的接腳或錫球可準確電性接觸承置座222內之電性接點223，以有效的執行電性測試作業，並獲致正確的測試結果，於本實施例中，該電性測試作業係採壓測的方式進行，其第一移載取放器215上將待執行作業之電子元件26a置入作業區22之承置座222內後，係以第一移載取放器215保持壓抵於待執行作業之電子元件26a的上方，以確保待執行作業之電子元件26a的接腳或錫球可保持電性接觸承置座222內之電性接點223。此外，在第一移載取放器215壓抵待執行作業之電子元件26a執行電性測試作業時，第二移載取放器216係移動至第二供料載台213位置，並準備進行移入料程序，而吸取第二供料載台213內另一待執行作業之電子元件26b。

請參閱第13圖，作業區22完成電子元件26a的電性測試作業後，接著進行移出料程序，其係由移載取放裝置21將完成作業之電子元件移出作業區22，於本實施例中，其係以第一移載取放器215將電子元件26a移出作業區22之承置座222，並將電子元件26a移載放置於第一收料載台212上，第一收料載台212再將完成作業之電子元件26a移載至收料位置；此時由於第一移載取放器215已經移出作業區22，而 由第二移載取放器216接替將待執行作業之電子元件26b移載至作業區22位置，以進行相同的移入料程序、取像比對程序、置料執行作業程序以及移出料程序。

請參閱第14圖，本發明之作業單元20應用於作業設備時，以測試分類機為例，其係於機台上設有供料裝置30、輸入端輸送裝置40、作業單元20、輸出端輸送裝置50及收料裝置60；輸入端輸送裝置40係將供料裝置30上待執行測試作業之電子元件分別輸送至作業單元20之第一供料載台211及第二供料載台213，作業單元20之第一收料載台212及第二收料載台214上完成測試作業之電子元件，則依據測試結果由輸出端輸送裝置50輸送至收料裝置60分類放置，中央控制單元係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

習知部分：

10‧‧‧供料裝置

11‧‧‧輸入端輸送裝置

12‧‧‧作業區

121‧‧‧供料載具

1211‧‧‧承座

1212‧‧‧調整件

1213‧‧‧調整件

1214‧‧‧調整件

1215‧‧‧滑軌組

121‧‧‧第一收料載具

123‧‧‧第二收料載具

124‧‧‧測試站

125‧‧‧取像機構

126‧‧‧第一移載取放器

127‧‧‧第二移載取放器

13‧‧‧輸出端輸送裝置

14‧‧‧收料裝置

本發明部分：

20‧‧‧作業單元

21‧‧‧移載取放裝置

211‧‧‧第一供料載台

2111‧‧‧第一供料承座

212‧‧‧第一收料載台

2121‧‧‧第一收料承座

213‧‧‧第二供料載台

2131‧‧‧第二供料承座

214‧‧‧第二收料載台

2141‧‧‧第二收料承座

215‧‧‧第一移載取放器

2151‧‧‧吸嘴

216‧‧‧第二移載取放器

22‧‧‧作業區

221‧‧‧測試電路板

222‧‧‧承置座

223‧‧‧電性接點

23‧‧‧取像裝置

231‧‧‧CCD取像器

24‧‧‧取樣比對裝置

241‧‧‧移動式取像器

25‧‧‧對位調整裝置

251‧‧‧固定座

252‧‧‧X軸向調整件

253‧‧‧第一滑動座

254‧‧‧Y軸向調整件

255‧‧‧角度調整件

256‧‧‧第二滑動座

26a‧‧‧電子元件

26b‧‧‧電子元件

30‧‧‧供料裝置

40‧‧‧輸入端輸送裝置

50‧‧‧輸出端輸送裝置

60‧‧‧收料裝置

第1圖：台灣申請第96149417號專利案於測試分類機之配置示意圖。

第2圖：台灣申請第96149417號專利案作業區之配置示意圖。

第3圖：本發明作業單元之配置示意圖(一)。

第4圖：本發明作業單元之配置示意圖(二)。

第5圖：本發明作業單元取像裝置之另一實施例圖。

第6圖：本發明作業單元取樣比對裝置之示意圖。

第7圖：本發明作業單元之動作示意圖(一)。

第8圖：本發明作業單元之動作示意圖(二)。

第9圖：本發明作業單元之動作示意圖(三)。

第10圖：本發明作業單元之動作示意圖(四)。

第11圖：本發明作業單元之動作示意圖(五)。

第12圖：本發明作業單元之動作示意圖(六)。

第13圖：本發明作業單元之動作示意圖(七)。

第14圖：本發明作業單元應用於作業設備之配置示意圖。

20‧‧‧作業單元

21‧‧‧移載取放裝置

211‧‧‧第一供料載台

2111‧‧‧第一供料承座

212‧‧‧第一收料載台

2121‧‧‧第一收料承座

213‧‧‧第二供料載台

2131‧‧‧第二供料承座

214‧‧‧第二收料載台

2141‧‧‧第二收料承座

215‧‧‧第一移載取放器

216‧‧‧第二移載取放器

22‧‧‧作業區

221‧‧‧測試電路板

222‧‧‧承置座

223‧‧‧電性接點

23‧‧‧取像裝置

231‧‧‧CCD取像器

24‧‧‧取樣比對裝置

241‧‧‧移動式取像器

Claims (10)

1. 一種電子元件作業單元，係包含有：作業區：係設有供待執行作業之電子元件對位置放的承置座，以對該電子元件執行預設的作業；移載取放裝置：係設有至少一移載取放器，以將待執行作業之電子元件移載至作業區之承置座，以及將作業區承置座內完成作業之電子元件移出承置座；取像裝置：係於移載取放裝置之移載取放器移動的路徑中或移載取放器移動對應於作業區之承置座位置時，對該移載取放器上之電子元件取像，而獲得電子元件之即時影像資料；取樣比對裝置：係設有儲存樣本影像資料之資料庫及執行比對之控制器，以將取像裝置傳輸之即時影像資料與資料庫之樣本影像資料進行比對。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業單元，其中，該作業區係設有測試電路板，以及於測試電路板上設有供電子元件對位置放之承置座，承置座內並設有複數個連接至電路板之電性接點，以供電子元件對位置放並執行電性測試作業。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業單元，其中，該移載取放裝置係於作業區設有至少一供料載台、收料載台及至少一移動於供料載台、作業區與收料載台間之移載取放器。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業單元，其中，該取樣比對裝置更包含設有移動式取像器，該移動式取像器係為菱鏡組及CCD取像器，並可移動至作業區之承置座與移載取放器間的位置，以同時對移載取放器上之電子元件及作業區之承置座進行雙向的位置取像，而獲致電子元件及承置座間相對位置的取像資料，並傳輸至控制器進行比對，再由取像裝置取像，而獲得正確的樣本影像資料，並儲存於資料 庫。
5. 依申請專利範圍第1或4項所述之電子元件作業單元，更包含設有對位調整裝置，於取樣比對裝置將即時影像資料與樣本影像資料進行比對而有誤差時，或移動式取像器將電子元件及承置座間相對位置的取像資料傳輸至控制器進行比對而有誤差時，對電子元件可進行對位調整。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件作業單元，其中，該對位調整裝置係於移載取放器上架置多層式的調整平台，該調整平台上方為固定座，固定座下方架設有一可由X軸向調整件驅動作X軸向滑移之第一滑動座，第一滑動座下方再架設有一可由Y軸向調整件驅動作Y軸向滑移及可由角度調整件驅動作角度調整之第二滑動座，移載取放器取放電子元件之吸嘴則固定於第二滑動座下方，而直接於移載取放器上對電子元件進行對位調整。
7. 一種電子元件作業方法，係包含有：建立樣本影像資料程序：係由移載取放裝置之移載取放器將待執行作業之電子元件移載至對應作業區之承置座位置，接著取樣比對裝置之移動式取像器移動至作業區之承置座與移載取放器上之電子元件間的位置進行雙向的位置取像，並將該取像資料傳輸至控制器進行比對，再由取像裝置取像並儲存於資料庫，而於資料庫中建立樣本影像資料；移入料程序：待執行作業之電子元件由移載取放裝置之移載取放器移載至對應作業區之承置座位置；取像比對程序：係於移載取放器移動的路徑中或移載取放器移動對應於作業區之承置座位置時，由取像裝置對移載取放器上待執行作業之電子元件進行即時影像資料的取像，再將該即時影像資料傳輸至取樣比對裝置，該取樣比對裝置即對該即 時影像資料與資料庫中的樣本影像資料進行比對；置料執行作業程序：完成取像比對程序後，由移載取放器將待執行作業之電子元件置入作業區之承置座內執行作業。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件作業方法，其中，該建立樣本影像資料程序於取像資料傳輸至控制器進行比對後，若比對結果超出誤差值，則進一步執行對位調整程序，完成對位調整程序後，再由取像裝置取像並儲存於資料庫，而於資料庫中建立樣本影像資料。
9. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件作業方法，其中，該取像比對程序若比對結果超出誤差值，則進一步執行對位調整程序，完成對位調整程序後，再進行置料執行作業程序。
10. 一種應用電子元件作業單元之作業設備，係包含有：供料裝置：係設於機台上，用以承置待執行作業之電子元件；收料裝置：係設於機台上，用以承置完成作業之電子元件；作業單元：係設於機台上，並設有至少一依申請專利範圍第1項所述之作業區、移載取放裝置、取像裝置及取樣比對裝置，用以對電子元件執行預設的作業；輸入端輸送裝置：係將供料裝置上待執行作業之電子元件輸送至作業單元；輸出端輸送裝置：係將作業單元上完成測試作業之電子元件依據作業結果分類放置於收料裝置。中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。